JPH04102008A - 原子間力顕微鏡 - Google Patents

原子間力顕微鏡

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JPH04102008A
JPH04102008A JP2220903A JP22090390A JPH04102008A JP H04102008 A JPH04102008 A JP H04102008A JP 2220903 A JP2220903 A JP 2220903A JP 22090390 A JP22090390 A JP 22090390A JP H04102008 A JPH04102008 A JP H04102008A
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JP
Japan
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cantilever
probe
measured
vibration frequency
measurement
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JP2220903A
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English (en)
Inventor
Takuji Teramoto
寺本 卓司
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Brother Industries Ltd
Original Assignee
Brother Industries Ltd
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Publication date
Application filed by Brother Industries Ltd filed Critical Brother Industries Ltd
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
    • G01Q70/00General aspects of SPM probes, their manufacture or their related instrumentation, insofar as they are not specially adapted to a single SPM technique covered by group G01Q60/00
    • G01Q70/08Probe characteristics
    • G01Q70/14Particular materials
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
    • G01Q10/00Scanning or positioning arrangements, i.e. arrangements for actively controlling the movement or position of the probe
    • G01Q10/04Fine scanning or positioning
    • G01Q10/045Self-actuating probes, i.e. wherein the actuating means for driving are part of the probe itself, e.g. piezoelectric means on a cantilever probe

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、原子間力を利用して測定対象物の表面形状を
測定する原子間力顕微鏡の改良に関するものである。
従来の技術 原子間力を利用して表面形状を測定する原子間力顕微鏡
の一種に、例えば「日経メカニカル 19901−8J
(日経BP社刊)の第55頁乃至第56頁に記載されて
いるように、カンチレバーの先端部に設けられた探針を
測定対象物の表面に近接させた状態で、その探針がその
表面に対して接近離間するようにカンチレバーを振動す
せつつ、その探針が表面上を移動するようにカンチレバ
ーと測定対象物とを相対移動させるとともにカンチレバ
ーの振動周波数を測定し、その探針と表面との間の距離
変化に伴う原子間力変化に応じてカンチレバーの振動周
波数が変化することに基づいて、その表面の凹凸形状を
測定するようにしたものがある。
より具体的に説明すると、上記探針は直径数百μmの一
ッケル線を電解研磨したものであり、ニッケル箔で作製
した厚さ0.01mm、長さ1.4mm、幅0.9mm
のカンチレバーの先端に接着されている。また、そのカ
ンチレバーは、強度変調を加えたレーザダイオードの光
が照射されることにより、フォトサーマル振動させられ
るようになっている。そして、上記探針と測定対象物と
の間には、その離間距離に応じて最大lXl0−9N程
度の原子間力の引力が作用させられ、この原子間力が表
面の凹凸形状に応じて変化させられることにより、カン
チレバーの振動周波数も変化させられるため、この振動
周波数の変化から表面の凹凸形状を測定することができ
るのである。
発明が解決しようとする課題 しかしながら、上記電解研磨による探針の製造方法では
、その先端の曲率を大きくすること、すなわち尖鋭化す
ることが困難で、必ずしも充分に満足し得る分解能が得
られない一方、極小さな探針をカンチレバーに接着する
際に接着剤が探針の先端に付着することがあるなど、そ
の製作が面倒で製造効率が良くなかった。また、カンチ
レバーをフォトサーマル振動させるようになっているた
め、その振動周波数が不安定で必ずしも高い測定精度が
得られないという問題もあった。
本発明は以上の事情を背景として為されたもので、その
目的とするところは、探針およびカンチレバーの製作が
容易で且つ探針の先端を一層尖鋭化させることができ、
しかも安定した振動周波数特性が得られるようにするこ
とにある。
課題を解決するための手段 かかる目的を達成するために、本発明は、カンチレバー
の先端部に設けられた探針を測定対象物の表面に近接さ
せた状態で、その探針がその表面に対して接近離間する
ようにそのカンチレバーを振動させつつ、その探針がそ
の表面上を移動するようにそのカンチレバーと測定対象
物とを相対移動させるとともにそのカンチレバーの振動
周波数を測定し、その探針と表面との間の距離変化に伴
う原子間力変化に応じてそのカンチレバーの振動周波数
が変化することに基づいて、その表面の凹凸形状を測定
する原子間力顕微鏡において、前記カンチレバーと前記
探針とが、α水晶をエツチング加工した水晶振動子にて
一体に構成されていることを特徴とする。
作用および発明の効果 このような原子間力顕微鏡においては、カンチレバーと
探針とがα水晶をエツチング加工した水晶振動子にて一
体に構成されているため、それ等を別体に製作して接着
する場合に比較してその製作が容易になるとともに、α
水晶のエンチング異方性により探針の先端を一層尖鋭化
させることが可能で、測定分解能を大幅に向上させるこ
とができるのである。また、水晶振動子にてカンチレバ
ーが構成されているため、所定周波数の交番電圧を印加
することにより安定した振動周波数特性が得られるとと
もに経時変化も少なく、ニッケル箔等にて作製したカン
チレバーをフォトサーマル振動させる場合に比較して測
定精度が向上する。
実施例 以下、本発明の一実施例を図面に基づいて詳細に説明す
る。
第1図において、He−Neレーザ等のレーザ光源10
から出射された周波数がf。の直線偏光レーザ光りは、
戻り光がレーザ光a10に入らないようにするアイソレ
ータ12を通過したのちミラー14によって下方へ反射
され、偏光ビームスプリンタ16に入射させられる。レ
ーザ光源10の姿勢は、レーザ光りの偏波面(電気ヘク
トルの振動面)が紙面に対して45°の角度で傾斜する
ように設定されており、そのレーザ光りのうち偏波面が
紙面と平行なP偏光成分は計測ビームLHとして上記偏
光ビームスプリッタ16を通過させられ、偏波面が紙面
と垂直なS偏光成分は参照ビームL、として偏光ビーム
スプリッタ16により反射される。
偏光ビームスプリンタ16を透過した計測ビームL、は
、音響光学変調器18により十f1の周波数シフトを受
けて周波数がf0+f、とされた後、偏光ビームスプリ
ッタ20に入射させられる。
また、偏光ビームスプリッタ16で反射された参照ビー
ムL+tはミラー22によって更に反射され、音響光学
変調器24により十f2の周波数シフトを受けて周波数
がfo+fzとされた後、ミラー26で反射されて偏光
ビームスプリッタ20に入射させられる。
偏光ビームスプリッタ20により重ね合わされた計測ビ
ームLHおよび参照ビームLIlは、その後、偏光ビー
ムスプリンタ28により再び偏波面の向きによって分離
され、S偏光成分から成る参照ビームL7は偏光ビーム
スプリッタ28により反射される。偏光ビームスプリッ
タ28で反射された参照ビームL、lは、174波長板
30を介してミラー32に照射され、そのミラー32に
より反射されて再び174波長板30を透過させられる
ことによりP偏光とされる。そして、このP偏光とされ
た参照ビームLRは、上記偏光ビームスプリッタ28を
透過させられ、検光子34を通過した後光センサ36に
照射される。
また、P偏光成分から成る計測ビームL、は、上記偏光
ビームスプリッタ28を通過させられ、1ノ4波長板3
8を経て対物レンズ40により水晶振動子42のミラー
44に照射される。水晶振動子42は、α水晶をエツチ
ング加工することによって作製され、カンチレバー46
とそのカンチレバー46の先端下面に下方へ突き出して
設けられた探針48とを一体に備えている。カンチレバ
ー46の長さは2mm程度2幅は1.5mm程度、厚さ
は0.01mm程度であり、探針48の長さは0゜1μ
m程度、先端の曲率半径は0.01μm程度である。
上記カンチレバー46の上下両面には、蒸着後メツキを
施すことにより一対の電極50.52が設けられている
。かかる電極50.52には発振回路54が接続され、
水晶振動子42の共振周波数で交番電圧が印加されるよ
うになっており、これにより、カンチレバー46は図の
右端部を支持点として左端部が上下変位するように振動
させられ、重力以外の外力が作用していない状態におい
て、例えば周波数が1kHz程度、探針48が設けられ
た部位における振幅が10nm程度で振動させられる。
前記対物レンズ40は水晶振動子42に一体的に取り付
けられており、計測ビームトイは、水晶振動子42の振
動に拘らずその対物レンズ40によってミラー44に集
光させられるとともに、水晶振動子42の振動に対応し
て光路長が変化させられることにより周波数変調される
上記水晶振動子42の下方には、略水平なXY力方向よ
びそれ等と垂直で上記水晶振動子42に照射される計測
ビームL、と平行なZ方向の移動可能に載置台56が配
設され、表面形状を測定すべき測定対象物58が位置固
定に載置されるようになっている。載置台56は、昇降
信号ZSに従ってPZT圧電変位素子60により上下方
向(Z方向)へ微動させられるとともに、走査信号SS
に従ってPZT圧電変位素子62により水平面(X−Y
平面)内を微動させられるようになっている。また、か
かる載置台56は、測定対象物58の着脱に際して図示
しないDCモータにより上下移動させられるようになっ
ている。
そして、前記ミラー44で反射された計測ビームL1.
lは、対物レンズ40を経て再び174波長板38を通
過させられることにより、往路に対して偏波面が90°
回転した直線偏光すなわちS偏光とされ、偏光ビームス
プリンタ28によって反射されるとともに、検光子34
により前記参照ビームL、lと干渉させられた後光セン
サ36に照射される。光センサ36においては、周波数
変調された計測ビームL、と参照ビームL、との干渉に
より、搬送波周波数がそれ等の周波数の差すなわち(r
o十f、 )−Cro +fz ) l=l rfZ 
 lで、変調周波数が水晶振動子42の振動周波数であ
るビート信号BSが出力される。前記周波数シフ)+f
lが例えば80MHzで周波数シフト+f2が80.1
MHzの場合には、上記搬送波周波数は100kHzと
なる。
上記ビート信号BSは測定制御装置64に供給される。
測定制御装置64は、バンドパスフィルタにより振動や
大気のゆらぎ等による低周波数のノイズをビート信号B
Sから除去した後、周波数復調器により変調波すなわち
水晶振動子42の振動に対応する成分を取り出すととも
に、前記昇降信号ZSおよび走査信号ssを出方して測
定対象物58を移動させることにより、その測定対象物
58の表面66の凹凸形状を測定して表示器68に表示
する。
この凹凸形状測定の作動を具体的に説明すると、先ず、
図示しないDCモータにより載置台56を下降させた状
態において測定対象物58を載置し、その後、探針48
と表面66とが干渉しない予め定められた初期位置まで
上昇させる。その状態で発振回路54により交番電圧を
水晶振動子42に印加して振動させるとともに、レーザ
光源10からレーザ光りを出射させてビート信号BSを
取り込み、そのビート信号BSに基づいて水晶振動子4
2の振動を検出する。そして、その水晶振動子42の振
動周波数が予め定められた一定値faとなるように、昇
降信号ZSを出力してPZT圧電変位素子60により載
置台56の高さを調整する。
すなわち、載置台56に載置された測定対象物58が探
針48に接近させられると、それ等の間に原子間力によ
る引力が作用させられ、その原子間力は測定対象物58
の表面66と探針48との距離に応じて変化させられる
一方、水晶振動子42の振動周波数はこの原子間力に応
じて変化させられるため、ビート信号BSから検出され
る水晶振動子42の振動周波数に基づいて、所定の原子
間力が作用する高さ位置に測定対象物58を位置させる
のである。
次に、上記原子間力が作用している状態において走査信
号SSを出力し、水平なχ−Y千面内において予め定め
られた軌跡に従ってPZT圧電変位素子62により測定
対象物58を移動させるとともに、ビート信号BSから
検出される水晶振動子42の振動周波数が前記一定値f
Aに維持されるように、昇降信号ZSを出力してPZT
圧電変位素子60により測定対象物58の高さを調整す
る。すなわち、測定対象物58を水平移動させると、そ
の表面66の凹凸形状に応して探針48との距離が変化
し、それに伴って原子間力、更には水晶振動子42の振
動周波数が変化させられるが、この振動周波数が変化し
ないように、換言すれば表面66と探針48との距離が
変化しないように測定対象物58を昇降させるのである
。この時の測定対象物58の上下移動量は表面66の凹
凸形状に対応するため、PZT圧電変位素子60に出力
される昇降信号ZSの電圧変化から測定対象物58の上
下移動量、すなわち表面66の凹凸形状が求められて表
示器68に表示される。
ここで、このような本実施例の原子間力顕微鏡において
は、前記カンチレバー46と探針48とがα水晶をエツ
チング加工した水晶振動子42にて一体に構成されてい
るため、それ等を別体に製作して接着する場合に比較し
てその製作が容易になるとともに、α水晶のエツチング
異方性により探針48の先端を一層尖鋭化させることが
可能で、測定分解能が大幅に向上させられる。
また、水晶振動子42によってカンナレバー46が構成
されているため、発振回路54から所定周波数の交番電
圧が印加されることにより安定した振動周波数特性が得
られるとともに経時変化も少なく、ニッケル箔等にて作
製したカンチレバーをフォトサーマル振動させる場合に
比較して測定精度が向上する。
更に、本実施例では光ヘテロダイン干渉を利用して水晶
振動子42の振動を検出するようになっているため、水
晶振動子42の振幅が小さい場合でも優れた怒度でその
振動周波数を高分解能、高精度測定することができる。
これにより、水晶振動子42の使用による分解能や測定
精度の向上と相俟って原子間力顕微鏡全体としての測定
分解能や測定精度が高められ、表面66の一層微細な凹
凸形状がより高い精度で測定されるようになるのである
以上、本発明の一実施例を図面に基づいて詳細に説明し
たが、本発明は他の態様で実施することもできる。
例えば、前記実施例では音響光学変調器18により計測
ビームLxを+f1だけ周波数シフトさせるとともに、
音響光学変調器24により参照ビームL、lを+f2だ
け周波数シフトさせるようになっているが、第2図に示
されているように音響光学変調器24を音響光学変調器
18と偏光ビームスプリンタ20との間に配設し、計測
ビームし、のみを+fI  fzだけ周波数シフトさせ
るようにしても、前記実施例と実質的に同じである。
なお、逆に参照ビームLRのみを周波数シフトさせたり
、横ゼーマンレーザを用いて周波数が異なる計測ビーム
および参照ビームを直接取り出すようにしたりしても差
支えない。
また、前記実施例では光ヘテロダイン干渉によって水晶
振動子42の振動を検出するようになっているが、光ホ
モダイン干渉を用いたり、ミラー44に対して光を斜め
に照射してその反射光を検出し、ミラーの振動に伴う反
射光の変位から振動周波数を測定したりするなど、他の
振動検出手段を採用することも可能である。
また、前記実施例では水晶振動子42に対物レンズ40
およびミラー44が設けられていたが、コーナキューブ
プリズムを用いたり、対物レンズ40を省略してミラー
44のみとしたりすることもできる。
また、前記実施例では水晶振動子42の振動周波数が一
定値fAとなるように測定対象物58を上下移動させる
ようになっているが、水晶振動子42の振動周波数から
予め定められたデータマツプや演算式等を用いて表面6
6の凹凸寸法を求めることも可能である。
その他−々例示はしないが、本発明は当業者の知識に基
づいて種々の変更、改良を加えた態様で実施することが
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例である原子間力顕微鏡の基本
的構成を説明する図である。第2回は本発明の他の実施
例を説明する構成図で、第1図に相当する図である。 42:水晶振動子   46:カンチレハー48:探針
      58:測定対象物66:表面

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 カンチレバーの先端部に設けられた探針を測定対象物の
    表面に近接させた状態で、該探針が該表面に対して接近
    離間するように該カンチレバーを振動させつつ、該探針
    が該表面上を移動するように該カンチレバーと該測定対
    象物とを相対移動させるとともに該カンチレバーの振動
    周波数を測定し、該探針と該表面との間の距離変化に伴
    う原子間力変化に応じて該カンチレバーの振動周波数が
    変化することに基づいて、該表面の凹凸形状を測定する
    原子間力顕微鏡において、 前記カンチレバーと前記探針とが、α水晶をエッチング
    加工した水晶振動子にて一体に構成されていることを特
    徴とする原子間力顕微鏡。
JP2220903A 1990-08-21 1990-08-21 原子間力顕微鏡 Pending JPH04102008A (ja)

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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06194154A (ja) * 1992-09-22 1994-07-15 Internatl Business Mach Corp <Ibm> 接触フォース原子フォース顕微鏡による2次元輪郭描写の方法と装置
EP0791802A1 (en) 1996-02-20 1997-08-27 Seiko Instruments Inc. Scanning type near field interatomic force microscope
EP0896201A1 (en) * 1997-08-04 1999-02-10 Seiko Instruments Inc. Scanning probe microscope
WO2002103328A1 (en) * 2001-06-19 2002-12-27 Japan Science And Technology Agency Cantilever array, method of manufacturing the array, and scanning probe microscope, sliding device of guide and rotating mechanism, sensor, homodyne laser interferometer, and laser doppler interferometer with specimen light excitation function, using the array, and cantilever
WO2006093209A1 (ja) * 2005-03-02 2006-09-08 Japan Science And Technology Agency ヘテロダインレーザドップラープローブ及びそれを用いた測定システム
JP2006281437A (ja) * 2005-03-08 2006-10-19 Sii Nanotechnology Inc 走査型プローブによる加工方法
US7621370B2 (en) 2005-06-20 2009-11-24 Nissan Motor Co., Ltd. Sound increase apparatus

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06194154A (ja) * 1992-09-22 1994-07-15 Internatl Business Mach Corp <Ibm> 接触フォース原子フォース顕微鏡による2次元輪郭描写の方法と装置
EP0791802A1 (en) 1996-02-20 1997-08-27 Seiko Instruments Inc. Scanning type near field interatomic force microscope
EP0896201A1 (en) * 1997-08-04 1999-02-10 Seiko Instruments Inc. Scanning probe microscope
US7411189B2 (en) 2001-06-19 2008-08-12 The Foundation For The Promotion Of Industrial Science Cantilever array, method for fabricating the same, scanning probe microscope, sliding apparatus of guiding and rotating mechanism, sensor, homodyne laser interferometer, laser doppler interferometer having optically exciting function for exciting sample, each using the same, and method for exciting cantilevers
WO2002103328A1 (en) * 2001-06-19 2002-12-27 Japan Science And Technology Agency Cantilever array, method of manufacturing the array, and scanning probe microscope, sliding device of guide and rotating mechanism, sensor, homodyne laser interferometer, and laser doppler interferometer with specimen light excitation function, using the array, and cantilever
US7545508B2 (en) 2001-06-19 2009-06-09 The Foundation For The Promotion Of Industrial Science Interferometric apparatus utilizing a cantilever array to measure a surface
EP1775570A2 (en) * 2001-06-19 2007-04-18 Japan Science and Technology Agency Cantilever array, method of manufacturing the array, and scanning probe microscope, sliding device of guide and rotating mechanism, sensor, homodyne laser interferometer, and laser Doppler interferometer with specimen light excitation function, using the array and cantilever
US7220962B2 (en) 2001-06-19 2007-05-22 Japan Science And Technology Agency Cantilever array and scanning probe microscope including a sliding, guiding, and rotating mechanism
EP1804050A2 (en) * 2001-06-19 2007-07-04 Japan Science and Technology Agency Cantilever array, method of manufacturing the array, and scanning probe microscope, sliding device of guide and rotating mechanism, sensor, homodyne laser interferometer, and laser doppler interferometer with specimen light excitation function, using the array, and cantilever
EP1775570A3 (en) * 2001-06-19 2007-08-29 Japan Science and Technology Agency Cantilever array, method of manufacturing the array, and scanning probe microscope, sliding device of guide and rotating mechanism, sensor, homodyne laser interferometer, and laser Doppler interferometer with specimen light excitation function, using the array and cantilever
EP1804050A3 (en) * 2001-06-19 2007-11-21 Japan Science and Technology Agency Cantilever array, method of manufacturing the array, and scanning probe microscope, sliding device of guide and rotating mechanism, sensor, homodyne laser interferometer, and laser doppler interferometer with specimen light excitation function, using the array, and cantilever
US7309863B2 (en) 2001-06-19 2007-12-18 Japan Science And Technology Agency Cantilever array, method for fabricating the same, scanning probe microscope, sliding apparatus of guiding and rotating mechanism, sensor, homodyne laser interferometer, laser doppler interferometer having optically exciting function for exciting sample, each using the same, and method for exciting cantilevers
WO2006093209A1 (ja) * 2005-03-02 2006-09-08 Japan Science And Technology Agency ヘテロダインレーザドップラープローブ及びそれを用いた測定システム
JPWO2006093209A1 (ja) * 2005-03-02 2008-08-07 独立行政法人科学技術振興機構 ヘテロダインレーザドップラープローブ及びそれを用いた測定システム
US7719663B2 (en) 2005-03-02 2010-05-18 Japan Science And Technology Agency Heterodyne laser doppler probe and measurement system using the same
JP4485571B2 (ja) * 2005-03-02 2010-06-23 独立行政法人科学技術振興機構 ヘテロダインレーザドップラープローブ及びそれを用いた測定システム
JP2006281437A (ja) * 2005-03-08 2006-10-19 Sii Nanotechnology Inc 走査型プローブによる加工方法
US7621370B2 (en) 2005-06-20 2009-11-24 Nissan Motor Co., Ltd. Sound increase apparatus

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