JPH0394169A - 半導体容量式加速度センサとその製造方法 - Google Patents

半導体容量式加速度センサとその製造方法

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JPH0394169A
JPH0394169A JP1230372A JP23037289A JPH0394169A JP H0394169 A JPH0394169 A JP H0394169A JP 1230372 A JP1230372 A JP 1230372A JP 23037289 A JP23037289 A JP 23037289A JP H0394169 A JPH0394169 A JP H0394169A
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三木 政之
Masahiro Matsumoto
昌大 松本
Yoshihiro Yokota
横田 吉弘
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    • G01P2015/0828Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass for one single degree of freedom of movement of the mass the mass being of the paddle type being suspended at one of its longitudinal ends

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は半導体容量式の加速度センサに係り、特に、低
レベル(○〜±IG)低周波(O〜1o1{z)の加速
度を高精度に検出するに好適な加速度センサとこれを使
用した制御装置等に関する。
[従来の技術] 加速度センサは、加速度の検出部と、該検出部で検出し
た信号を処理する信号処理部とを近在あるいは一体化さ
せて構成するのが好ましい。従来の加速度センサとして
、例えば特開昭63−81274号公報記載のものは、
絶縁基板の一端側に加速度に応動するウェート部をエッ
チング加工し、該絶縁基板の他端側表面に信号処理用の
回路パターンを印刷技術で形成すると共に、一緒に歪ゲ
ージをウェート部を支えるビーム部分に形成し、前記回
路パターンに電子部品を搭載するようにしている。
[発明が解決しようとする課題] 上述した従来の加速度センサは、歪ゲージ式というもの
で、ウェート部の移動によりビーム部の受ける歪に応じ
た信号(圧電効果により表れる電圧信号)を歪ゲージで
検出し、これを電子回路で処理するものである。この歪
ゲージ式は、あまり高感度ではなく、低レベル(0〜±
1G),低周波数(O〜10Hz)の加速度を高精度に
検出することはできない。尚、1Gは、9.8m/s2
である。
低レベル低周波の加速度を高精度に検出できる加速度セ
ンサとして、半導体容量式の加速度センサがある。この
半導体容量式の加速度センサでは、半導体基板をエッチ
ング加工してウェート部を造り、該ウェート部を電極板
間に介在させ、ウェート部の移動によって生じる電極一
ウェート部間の静電容量の変化を検出する方式を採用し
ている。
しかし、この半導体容量式加速度センサは、加速度によ
る微小な静電容量の変化を測定するため、検出部と信号
処理部との間の配線長や、信号処理部内の回路配線の持
つ寄生容量や、この寄生容量の変動等の影響を受け易く
、加速度の大きさにょって静電容量の測定精度が変動し
たり、外来雑音が配線にのって信頼性を低下させるとい
う問題がある。そこで、検出部一信号処理部間の配線長
を短くしたり信号処理部回路内部の配線長を短くしなけ
ればならない要請が上記の従来技術より高い。
しかし、上記従来技術のように、基板の一端側表面に回
路パターンを印刷し此処に電子部品を搭載する構成だけ
では、歪ゲージ式加速度センサには有効であるが、半導
体容量式加速度センサではまだ不十分である。しかも、
搭載電子部品の質量が大きいと、この電子部品により構
成される信号処理部の固有の機械的振動が検出部の方に
伝播し易く、真の加速度の検出を妨げるという問題もあ
る。
本発明の目的は、低レベル低周波の加速度でも信頼性良
くしかも高精度に検出することができる半導体容量式加
速度センサとその製造方法を提供し、併せて、この半導
体容量式加速度センサを使用した制御装置を提供するこ
とにある。
[課題を解決するための手段コ 上記目的のうち、半導体容量式加速度センサは、信号処
理部を半導体集積回路で構成し、該半導体集積回路を搭
載した半導体基板を、加速度センサを構成する基板のl
っとすることで、あるいは、センサの検出部と半導体集
積回路製信号処理部とを別体とするもこれを同一ステム
上に近接配置することで、達威される。
上記目的のうち、制御装置は、加速度センサとして上記
半導体容量式加速度センサを用い、該センサの検出した
加速度の大きさや加速度の有無により、各制御を行わせ
る構成とすることで、達威される。
[作用] 本発明の半導体容量式加速度センサは、該加速度センサ
を構戒する半導体基板の一部に半導体集積回路として信
号処理部が形成されているので、該信号処理部の質量の
移動による機械的振動が生じることがなく、また、寄生
容量も低減でき、更にコンパクトなのでシールド効果の
高い金属容器内に納めることが容易となり、外来雑音に
強い構造とすることができる。従って、エンジンのよう
11 に雑音を発する機器の制御装置として使用しても良好に
加速度を検出でき、また、センサ全体もコンパクトなた
め、小さい機器の制御装置に組み込むことも容易となる
[実施例] 以下、本発明の一実施例を図面を参照して説明する。
第1図は、本発明の第1実施例に係る半導体容量式加速
度センサの断面図である。本実施例に係る半導体容量式
加速度センサは、三枚のシリコン基板1,2.3を積層
してなる。真中のシリコン基板2は、異方性エッチング
により、ビーム4で支持された質量mの可動電極部5が
形成されている。この可動電極部5の厚さは、該シリコ
ン基板2の厚さより薄くされ、固定電極板となる基板1
あるいは基板3方向に変位可能になっている。
シリコン基板1,3は固定電極とするため、例えば可動
電極部5に対向する面側の不純物濃度を高めてある。そ
して、三枚のシリコン基板1,2,3を積層する場合、
可動電極部5と固定電極とが12− 短絡しない様に、各シリコン基板1,2.3の接合箇所
表面を酸化してから積層してある。
本実施例では、更に、シリコン基板工の可動電極部5と
反対側表面に、信号処理回路6を半導体微細加工技術に
より集積回路として形或してある。
そして、シリコン基板2とシリコン基板1,2の固定電
極との間に現われる信号をこの信号処理回路6に入力さ
せる配線用の導電性膜が蒸着などで形成されている(図
示せず)。
斯かる半導体容量式加速度センサを制御対象物に搭載し
、該制御対象物が移動し、その移動方向(第工図の上下
方向とする。)に加速度(マイナスの加速度つまり減速
度も含む。)が加わった場合、可動電極部5に働く慣性
力とシリコンビーム4よる復元力との釣合いから、その
加速度の大きさに応じて、可動電極部5と固定電極とし
てのシリコン基板1.3との間の空隙の寸法が変化する
固定電極は、可動電極5に対向した面が加速に対して全
く移動しないので、上記空隙間の静電容量から変化する
。この静電容量に応じた信号は、信号処理回路6に入力
されて処理され、加速度に対応じた信号として信号処理
回路6から図示しない他の制御回路へ出力される。信号
処理回路としては、特に限定するものではなく、可動電
極部と固定電極との間の容量変化に応じた信号を生或し
て出力するものであっても、また、加速度が変化しても
可動電極部が両固定電極間で移動しないように可動電極
部と固定電極との間に印加する静電気力を電子的に追従
させこの電子的に追従する静電気力に応じた信号を出力
させるものでもよい。尚、固定電極として両方ともシリ
コン基板を使用したが、一方を導体板としてもよい。
第2図は、本発明の第2実施例に係る半導体容量式加速
度センサの断面図である。本実施例に係る半導体容量式
加速度センサは、第工実施例に係る半導体容量式加速度
センサと基本的に同じであるが、異なる点は、シリコン
基板1,2.3を低融点ガラス7,8で接合して各基板
1,2、1,3間の絶縁を図り、信号処理回路6(シリ
コン基板工〜3を積層する前に製造しておく。)の表面
側をパシベーション膜9で覆い、このパシベーション膜
9の所要位置に窓を明けてポリシリコンやAQ等の配線
膜10を蒸着し、更に、該配線膜工O,シリコン基板(
可動電極部)2,固定電極用のシリコン基板3に夫々A
Q膜11,12.13を蒸着してボンディングパッドと
する。
尚、本実施例では、低融点ガラス7,8でシリコン基板
を接合したが、高温度雰囲気中で接合することで、接合
表面に酸化シリコン膜を形或し、これでsuitを図る
ことでもよいことは勿論である。
このように、あるいは第工実施例でも同様であるが、3
枚の同一基材のシリコン基板1.,2.3を積層する構
戒のため、基板間での熱膨張率のミスマッ゛チのない温
度特性の優れた加速度センサが得られる。
尚、本実施例では、シリコン基板1の可動電極部5と反
対側に信号処理用集積回路6を設けたが、集積回路6の
製造位置は此処に限定されるものではなく、例えばシリ
コン基板1の裏側や、シリコン基板2,シリコン基板3
のいずれにも形或でき一15ー 16 るものである。
第3図は、本発明の第3実施例に係る半導体容量式加速
度センサの断面図である。本実施例は、第2実施例とそ
の基本構戊は同じであるが、第2実施例では、ボンディ
ングパッドを利用して配線接続したが、本実施例では、
一部の配線をシリコン基板自体に設けた高濃度拡散層を
利用して行う。
まず、シリコン基板1にアルカリエッチングによる上面
から下面に至る穴を明け、更に、一方の基板表面に信号
処理用の集積回路6を製造する。また、集積回路6と反
対側表面及び前記穴の内周面とに不純物を高濃度に拡散
して固定電極工4とする。そして、集積回路6を設けた
側の表面をパシベーション膜9で被覆し、集積回路6の
信号入力部と固定電極の当該表面側にまで延在する箇所
とに該当するパシベーション膜9に窓を明け、その上か
ら配線膜工0を蒸着する。斯かる構成のシリコン基板1
と、可動電極部5を異方性エッチングで製造したシリコ
ン基板2と、他方の固定電極部となるシリコン基板3と
を酸化シリコン膜あるいは低融点ガラス7,8を介して
接合し、シリコン基板2,3に夫々ボンディグパッド1
2.13を蒸着している。
本実施例によれば、上側の固定電極から集積回路6への
電気的接続をシリコン基板内で行うので、実装がより簡
単になる。
第4図は、本発明の第4実施例に係る半導体容量式加速
度センサの断面図である。本実施例では、シリコン基板
1の一面に酸化膜8で基板本体と絶縁した固定電極膜1
5を形成し、基板1の反対側に信号処理用の集積回路6
を製造し、この集積回路6側をパシベーション膜9で被
覆し、該当箇所に窓を明け、その上から配線膜10を蒸
着し、配線膜10の所要箇所にボンディグパッドエ1を
蒸着する。シリコン基板3の片面は、これも酸化膜7で
基板本体から絶縁した固定電極膜16を形或する。また
、シリコン基板2は異方性エッチングによりビーム4に
支持された可動電極部5を製造するが、本実施例では,
固定電極側の電極膜15,l6が可動電極側に若干出っ
張るので(第1〜第3実施例に比較して)、可動電極部
5の厚さをそれだけ薄くなるようにする。そして、シリ
コン基板1,2.3を積層して加速度センサを構戒する
本実施例によれば、第2実施例と同様に、信号処理方式
に広範な選択の余地があり、更に、デバイス構造が単純
になるという効果がある。
上述した各実施例は、基板自体が半導体であるため、基
板中に信号処理用の集積回路6を形或し、また、同一基
材の基板1,2.3を積層して熱膨張によるミスマッチ
を回避する構成としたが、本発明の半導体容量式加速度
センサは斯かる構造に限定されるものではない。以下、
基本構造が第1〜第4実施例とは異なる半導体容量式加
速度センサについて説明する。
第5図は、本発明の第5実施例に係る半導体容量式加速
度センサの断面図である。本実施例の半導体容量式加速
度センサは、シリコンと熱膨張係数が近いホウケイ酸系
のガラス基板18.19と、可動電極部5を形成したシ
リコン基板2と、集積回路でなる信号処理部6を製造す
る新婚基板工7で構成する。ガラス基板18,↓9の夫
々の片面に固定電極膜15.16を蒸着等で形成したあ
と、該ガラス基板王8,19の夫々の固定電極膜15,
16を対向させてシリコン基板2を挾持し、ガラス基板
17の他の面に、シリコン基板工7を陽極接合する。こ
の陽極接合は、300℃〜400℃の比較的低温で可能
なため、固定電極膜l5の材料として、アルミニウムを
使用することが可能となる。尚、固定電極15,16、
可動電極部5と、集積回路6との電気的接続は、ワイヤ
ボンディグ等でセンサ外部を通じて行う。
本実施例は、比較的低温で加速度センサを製造できると
いう効果がある。
第6図は、本発明の第6実施例に係る半導体容量式加速
度センサの断面図である。本実施例の加速度センサは、
第5実施例の加速度センサがシリコン基板17に信号処
理部6を形成しこのシリコン基板17をガラス基板1−
8に陽極接合したのに対し、信号処理部6を薄膜集積回
路としてガラス基板18表面上に形或したことが異なる
。本実施ー19− 20 例によれば、第6実施例に較べ、シリコン基板17を使
用しないだけ小型化できるという効果がある。
第7図は、本発明の第7実施例に係る半導体容量式加速
度センサの断面図である。本実施例の加速度センサは、
シリコン基板17/ガラス基板18/可動電極部用シリ
コン基板2/ガラス基板19/シリコン基板21の五層
構造であり、各接合は陽極接合で行っている。シリコン
基板17には信号処理用の集積回路6が形成され、ガラ
ス基板18.19には固定電極膜15.16が形成され
ている。ガラス基板18には超音波加工等で貫通孔が形
或され、該貫通孔には導電性材料22が埋め込まれる。
シリコン基板17には前記ガラス基板l8の貫通孔に対
応する位置に貫通孔がアルカリエッチングで形或され、
該貫通孔及び集積回路6を形成した表面を酸化膜9で覆
い、集積回路6の所要位置の酸化膜9に窓をあける。そ
して、ガラス基板18とシリコン基板17とを整合させ
て陽極接合し、その後に電極膜10をマス蒸着すること
で、固定電極膜15と集積回路6とを内部で電気的に接
続する。ガラス基板19にも超音波加工等で貫通孔をあ
け此処に導電性材料23を埋め込んでおき、シリコン基
板21とガラス基板19とを陽極接合したとき、固定電
極膜16とシリコン基板21とが電気的に接続されるよ
うにする。
そして、シリコン基板2,2工にボンデイグパッド12
.13を蒸着し、該パッド12.13と集積回路6とを
センサ外部を通して接続する。
本実施例によれば、配線の一部をセンサの内部接続でで
きるので、構造が簡易になるという効果がある。
以上の第5〜第7実施例では、集積回路6と固定電極と
は電気的に絶縁されているため、#1縁のための他の処
理を必要としない。
上述した第1〜第7実施例に係る半導体容量式加速度セ
ンサは、全てセンサ部(可動電極部及び固定電極部)と
信号処理部とがワンチップ化され、これを金属パッケー
ジ内に収納することで、外来雑音から保護され、且つ振
動にも強くなる。
上述した各実施例は,ワンチップ化した加速度センサで
あったが、本発明はワンチップであることに限定される
ものではない。第8図は、本発明の第8実施例に係る半
導体容量式加速度センサの平面図である。本実施例では
、センサ部24(可動電極部を形成したシリコン基板を
固定電極間に介在させた物)と信号処理回路を集積回路
として形成した半導体チップ(信号処理部)25とを同
一ステム27上に隣接して搭載し、両者をワイヤボンデ
ィグで接続し、且つ集積回路の出力信号をステムの図示
しないリード線に接続(26)する構成としている。ま
た,半導体チップ25には、オンチップ調整部30が設
けられている。
第9図は、本発明の第9実施例に係る半導体容量式加速
度センサの平面図である。本実施例では、第8実施例が
センサ部24と半導体チツプ25とをワイヤボンデイグ
で接続したのに対し、センサ部24と半導体チップ25
の夫々の出力,入力端子に接続するパッド部を設け、ス
テム27上に設けた#I縁基板28に印刷した厚膜配線
29に接着することで接続している。
上述した第8,第9実施例は、センサ部24と信号処理
部25とを別々に製造するため、夫々の素子の製造工程
で最適な工程を選べるという効果がある。更に、パッケ
ージ内には、センサ部24と信号処理部25以外には何
も設ける必要がないので、両者を別体に設けたと言って
も小型化を阻害する要因とはならない。また、オンチッ
プ調整部30を設けてあるので、外付け抵抗やレーザ光
線でトリミングする印刷抵抗とかが不要となり、その分
だけ小型化を図ることが可能となり、しかも係る抵抗等
の振動からも開放される。オンチップ調整部30は、具
体的には、集積回路チップ内に抵抗アレイ群を設け、特
性調整時にボンデイグ等により選択するようにする。尚
、ROMチップをアレイ化してツェナーザッピング法に
より選択調整する構成とすることもできる。
尚、第1〜第7実施例では、オンチップ調整部は設けて
いないが、勿論、集積回路を製造したシリコン基板に設
けることもできることはいうまで−23ー −24− もない。
次に、上述した半導体容量式加速度センサを使用する制
御システムについて説明する。
例えば、自動車の制御装置に半導体容量式加速度センサ
を使用する場合、自動車のエンジンは、スパークプラグ
による点火を繰り返すため、外来雑音に強いセンサが要
求される。また、常時振動する車に設けるため、センサ
部やこれに付随する信号処理部の共振振動が無いあるい
は少ない加速度センサである必要があり、更にまた、そ
の加速度のレベル,周波数も低レベル,低周波ψため、
従来の歪ゲージ式では有効でない。従って、従来の自動
車制御には加速度センサは実際に使用されることはなか
った。しかし、本発明の半導体容量式加速度センサは、
外来雑音や振動に対して強く、しかも、高感度高精度な
ため、制御に使用することが可能である。
第10図は、自動車の車両制御システムの構成図である
。自動車のエンジン31の出力軸は、ミッション32と
プロペラシャフト33を介して後@34.35を駆動す
る様になっている。また、前輪36.37は図示しない
車体に軸支され、該車体力刊区動輪34.35の回転に
よって移動したとき、従動するようになっている。エン
ジン3lの図示しない点火装置の点火時期、燃料噴射ポ
ンプによる供給燃料量等は、エンジンコントロールユニ
ット50により制御され、エンジンコントロールユニッ
ト50は、これらの制御量を、各種センサの検出した、
アクセル踏み込み量、エンジン冷却水温度、排気ガス中
の酸素濃度、バッテリ電圧値等から所定の演算式に基づ
いて決定する。
本発明実施例に係る車両制御システムは、上述した各種
センサの他に、車体の上下方向,前後方向及び横方向の
加速度を夫々検出する半導体容量式加速度センサであっ
て、上述した第1〜第9実施例に係る加速度センサ5工
a,5lb,51cが車体の所定位置に固定されている
。そして、各車輪34,35,36.37には車輪回転
速度を検出する車輪速度センサ38,39,40.4上
が設けられ、これらの車輪速度センサ38〜4〕−と前
記の加速度センサ51a,5lb,5Lcの検出信号は
、車体制御装置52に入力され、該車体制御装置52は
、入力信号に基づき、各車輪のブレーキアクチュエータ
53に制御信号を送出して各車輪毎にそのブレーキ力を
制御し、各車輪のショックアブソーバアクチュエータ5
4に制御信号を送出して各ショックアブソーバの減衰力
を制御する構戒になっている。また車体制御装置52は
、スリップ状態を示す信号をエンジンコントロールユニ
ット50にも送出し、エンジン出力も加速状態に応じて
制御するようになっている。尚、第10図に示す自動車
は、FR方式であるが、本発明は、FF方式でも四輪駆
動方式でも適用できるのはいうまでもない。
例えば低μ路を走行中に急制動をかけた場合、車輪がロ
ックされやすい。車輪がロックされると、横からの力に
対し不安定になって横滑りしやすくなり、ステアリング
操作が不可能な状態になる。
従って、車輪がロックされそうになったときは、ブレー
キアクチュエー夕を制御してブレーキカを弱め、車輪が
回転するように制御する必要がある。
また、これとは別に、低μ路を走行する場合や急発進す
る場合、郵動トルクが大きいので、車輪が路面に対して
スリップし、無駄なトルクを使用することになる。斯か
る場合には、エンジン出力を低下させ、車輪のスリップ
率が低下する方向に制御を進める必要がある。
」二述した各場合において、つまり、急制動をかけた場
合や駆動トルクが大きい場合は、車体に加速度が加わる
。この加速度の方向及び大きさを半導体容量式加速度セ
ンサ51a,5lb,51cで検出して、これと、各車
輪速度センサ38〜41までの検出信号及びエンジンの
運転状態とから車両の状態が急制動状態にあるのか、急
発進状態にあるのか、低μ路の走行状態にあるのか等を
判定し、それに応じて各車輪のブレーキカを制御し、シ
ョックアブソーバの減衰力を制御し、エンジンに供給す
る燃料量等を制御し邸動トルクを制御する。
本発明に係る半導体容量式加速度センサをカメ27ー ラに搭載することで、次の様な制御も可能となる。
例えば、カメラで被写体を撮る場合、先ず、カメラの絞
り,焦点距離,シャッタースピード等をセットしてから
、あるいは自動的にこれらがセットされてから、レリー
ズするのであるが、このレリーズ時にカメラが動き、ピ
ンボケになってしまうことがある。そこで、本発明では
、前述した半導体容量式加速度センサをカメラに内蔵し
、該加速度センサが加速度を検出したとき、つまり、レ
リーズ時にカメラが動きこれが加速度としてセンサに検
出されたとき、カメラ内蔵のCPUがシャッタースピー
ドをセット値より早めることで、手振れによるピンボケ
が回避される。また、この時、シャッタースピードの早
めた分だけ絞り明けることで、画像がくらくなるのを回
避できる。
[発明の効果] 本発明の半導体容量式加速度センサによれば、コンパク
トで信頼性が高くしかも高精度に加速度を検出すること
ができるという効果がある。また、本発明の制御装置に
よれば,微小な加速度が被制28一 御装置に加わった場合でも、この加速度に応じて適切な
制御ができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図,第2図,第3図,第4図,第5図,第6図,第
7図,第8図,第9図は夫々本発明の第工,第2,第3
,第4,第5,第6,第7,第8,第9実施例に係る半
導体容量式加速度センサの断面図、第10図は半導体容
量式加速度センサを搭載した制御装置の一例である車両
制御システムの構成図である。 1,2.3・・・シリコン基板、4・・・ビーム、5・
・・可動電極部、6・・・信号処理部(集積回路)、1
5,工6・・・固定電極膜、27・・・ステム、38〜
4l・・・車輪速度センサ、5 1 a , 5 l 
b , 5 1 c =・半導体容量式加速度センサ、
52・・・車体制御装置、53・・・ブレーキ制御用ア
クチュエータ、54・・・ショックアブソーバ用アクチ
ュエータ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、ビームで支持された可動電極部がエッチングにて製
    造された半導体基板Bを、固定電極となるあるいは固定
    電極が前記可動電極部の対向面に形成された2枚の半導
    体基板A、C間に介挿して構成される加速度センサであ
    って、該加速度センサの受ける加速度の大きさに応じて
    両固定電極間で変位する前記可動電極部と固定電極との
    間の静電容量に応じた信号を出力する半導体容量式加速
    度センサにおいて、前記半導体基板A、B、Cの少なく
    とも一つに、前記信号の信号処理用集積回路を製造した
    ことを特徴とする半導体容量式加速度センサ。 2、三枚の半導体基板A、B、Cをこの順に積層して成
    り、中の半導体基板Bはエッチングによりビームに支持
    された可動電極部が形成され該可動電極部は半導体基板
    A、C方向に変位可能なっている加速度センサであって
    、前記半導体基板Bと前記半導体基板A、Cとの間の静
    電容量の変化により該加速度センサの受けた加速度の大
    きさを検出する半導体容量式加速度センサにおいて、前
    記静電容量の変化を示す信号を処理する信号処理回路を
    前記半導体基板A、B、Cの少なくとも1つに集積回路
    として製造してあることを特徴とする半導体容量式加速
    度センサ。 3、加速度の変化を固定電極に対する質量体の相対位置
    変位として検出するにあたり前記固定電極と前記質量体
    との間の静電容量の変化で検出するセンサ部と、該セン
    サ部が検出した静電容量に応じた信号を処理する信号処
    理回路とを備えて成る容量式加速度センサにおいて、前
    記センサ部の全部あるいは一部を半導体製とし前記信号
    処理回路を該半導体部分に製造した半導体集積回路とし
    たことを特徴とする半導体容量式加速度センサ。 4、加速度の変化を固定電極に対する質量体の相対位置
    変位として検出するにあたり前記固定電極と前記質量体
    との間の静電容量の変化で検出するセンサ部と、該セン
    サ部が検出した静電容量に応じた信号を処理する信号処
    理回路とを備えて成る容量式加速度センサにおいて、前
    記センサ部を構成するチップと、該チップとは別体の半
    導体集積回路で成る前記信号処理回路のチップとを同一
    ステム上に搭載したことを特徴とする半導体容量式加速
    度センサ。 5、請求項4において、信号処理回路は、オンチップ調
    整部を備えることを特徴とする半導体容量式加速度セン
    サ。 6、電極が一面に形成された2枚の絶縁基板の前記両電
    極間に介挿支持される半導体基板であってエッチングに
    てビームで支持された可動電極部が形成された半導体基
    板を備え、加速度の大きさに応じた前記可動電極部の前
    記電極方向への相対位置変位の大きさを前記可動電極部
    と前記電極との間の静電容量にて検出する容量式加速度
    センサにおいて、前記絶縁基板の少なくとも一方の前記
    電極とは反対側に、該電極と電気的に接続され該電極に
    現われる信号を処理する半導体集積回路を一体に備える
    ことを特徴とする半導体容量式加速度センサ。 7、半導体基板Bをエッチングしてビームに支持された
    可動電極部を製造し、半導体基板Aに信号処理用の集積
    回路を作成し、該半導体基板Aと別の半導体基板Cとの
    間に前記可動電極部を製造した半導体基板Bを介挿し、
    前記半導体基板Aと前記可動電極部間あるいは前記半導
    体基板Cと前記可動電極部間に現われる静電容量の変化
    に応じた信号を前記信号処理回路に入力するようにした
    ことを特徴とする半導体容量式加速度センサの製造方法
    。 8、半導体基板Bをエッチングしてビームに支持された
    可動電極部を製造し、信号処理用の半導体集積回路を半
    導体基板Aに製造すると共に該半導体基板の片面に絶縁
    膜を介して電極膜を形成し、半導体基板Cの片面に絶縁
    膜を介して電極膜を形成し、前記半導体基板A、Cの電
    極膜を対面させ間に可動電極部を製造した半導体基板B
    を絶縁物を介して介挿し、可動電極部と電極膜との間に
    現われる静電容量の変化に応じた信号を前記半導体集積
    回路に入力させるようにしたことを特徴と半導体容量式
    加速度センサの製造方法。 9、半導体基板Bをエッチングしてビームに支持された
    可動電極部を製造し、2枚の絶縁基板の夫々の片面の前
    記可動電極部に対面する領域に電極膜を形成し、半導体
    基板Aに信号処理用の半導体集積回路を製造し、前記両
    絶縁基板間に前記半導体基板Bを介挿して両電極膜に前
    記可動電極部を対面させると共にいずれか一方の絶縁基
    板の外側に前記半導体基板Aを配置して該半導体基板A
    、Bと前記両絶縁基板を一体化し、前記可動電極部と電
    極膜間に現われる静電容量の変化に応じた信号を前記半
    導体集積回路に入力するようにしたことを特徴とする半
    導体容量式加速度センサの製造方法。 10、半導体基板をエッチングしてビームに支持された
    可動電極部を製造し、2枚の絶縁基板の夫々の片面に前
    記可動電極部に対面する電極膜を形成し、前記絶縁基板
    の少なくとも一方の電極膜とは反対側に信号処理用の薄
    膜半導体集積回路を製造し、前記両絶縁基板の電極膜間
    に前記可動電極部を製造した半導体基板を介挿して一体
    化し、前記可動電極部と電極膜間に現われる静電容量の
    変化に応じた信号を前記薄膜半導体集積回路に入力する
    ようにしたことを特徴とする半導体容量式加速度センサ
    の製造方法。 11、ブレーキ機構が設けられた車輪のスリップ状態を
    検出し該スリップ状態に応じて前記ブレーキ機構を制御
    し車輪に加わるブレーキ力を制御する車両制御装置にお
    いて、車輪の実際の回転速度を検出する車輪速度センサ
    と、請求項1乃至請求項6のいずれかに記載の半導体容
    量式加速度センサと、該半導体容量式加速度センサが検
    出した車両のマイナス方向の加速度の大きさと前記車輪
    速度センサが検出した車輪の回転速度とに応じて前記ブ
    レーキ機構を制御して車輪の地面に対するスリップ率を
    低減させる方向に制御を進める制御手段とを設けたこと
    を特徴とする車両制御装置。 12、エンジンの駆動力が伝達して回転する車輪を備え
    る車両の制御装置において、車両の加速度あるいは減速
    度の大きさを検出する請求項1乃至請求項6のいずれか
    に記載の半導体容量式加速度センサと、車輪の回転速度
    を検出する車輪速度センサと、前記半導体容量式加速度
    センサの検出値と前記車輪速度センサの検出値とに応じ
    て車輪の回転速度がエンジンの駆動トルクに対応する値
    となる方向にエンジンの駆動トルク制御を進め車輪の地
    面に対するスリップ率を低減させる制御手段とを備える
    ことを特徴とする車両制御装置。 13、使用するフィルム感度と露出計の出力信号とに応
    じてセットされたシャッタスピードで写真をとるカメラ
    において、請求項1乃至請求項6のいずれかに記載の半
    導体容量式加速度センサと、該半導体容量式加速度セン
    サがシャッタレリーズ時に加速度を検出したとき前記の
    シャッタスピードのセット値を早める手振れ防止制御手
    段とを内蔵することを特徴とするカメラ。 14、使用するフィルム感度と露出計の出力信号とに応
    じてセットされた絞りとシャッタスピードで写真をとる
    カメラにおいて、請求項1乃至請求項6のいずれかに記
    載の半導体容量式加速度センサと、該半導体容量式加速
    度センサがシャッタレリーズ時に加速度を検出したとき
    前記シャッタスピードのセット値を早めると共にそれに
    応じて絞りセット値を変える手振れ防止制御手段とを内
    蔵することを特徴とするカメラ。 15、車体に取り付けられた車輪を弾性支持するショッ
    クアブソーバの減衰力を制御する車体制御装置において
    、車体に加わる加速度を検出する請求項1乃至請求項6
    のいずれかに記載の半導体容量式加速度センサと、該半
    導体容量式加速度センサの検出値に応じてショックアブ
    ソーバの減衰力を制御する制御手段とを備えることを特
    徴とする車体制御装置。
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