JPH0394070A - Cvd装置 - Google Patents

Cvd装置

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Publication number
JPH0394070A
JPH0394070A JP22984489A JP22984489A JPH0394070A JP H0394070 A JPH0394070 A JP H0394070A JP 22984489 A JP22984489 A JP 22984489A JP 22984489 A JP22984489 A JP 22984489A JP H0394070 A JPH0394070 A JP H0394070A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chamber
cassette
load
wafer
lock
Prior art date
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Pending
Application number
JP22984489A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideo Ishizu
秀雄 石津
Fumihide Ikeda
文秀 池田
Shuichi Nakamura
修一 中村
Hideo Kobayashi
秀夫 小林
Osamu Kasahara
修 笠原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kokusai Electric Corp
Original Assignee
Kokusai Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Kokusai Electric Corp filed Critical Kokusai Electric Corp
Priority to JP22984489A priority Critical patent/JPH0394070A/ja
Publication of JPH0394070A publication Critical patent/JPH0394070A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、シリコンウェーハより半導体素子を製造する
装置の1つであるCVD (化学蒸着法)装置に関する
ものである。
[従来の技術] シリコンウェーハより半導体素子を製造する装置の1つ
として、高温、希薄反応カス雰囲気中にウェーハを保持
して化学蒸着法(CVD)でウェーハ表面に半導体薄膜
又は絶縁保護膜を生成するCVD装置がある。
従来のCVD装置、特に縦型CVD装置を第2図に於い
て略述する。
図中、1は直立した反応室であり、該反応室1はゲート
バルブ2により気密に閉塞され、又反応室1は排気ボン
プ3によって真空引される様になっている。又、反応室
1を囲む様にヒータ4か設けられ、反応室1は所定の温
度に加熱される。
該反応室1の下方にはエレベータ機構5か設けられてお
り、受台6に乗置されたボート7を反応室1に装入、或
は反応室1から取出し得る様になっている。
又、8はウエーハが装填されるカセット、9はウェーハ
移載機、10はボート移載機であり、ウェーハ移載機9
はカセット8からボート移載11l10に載置されたボ
ート7へ、或はボート7がらカセット8ヘウェーハを移
載し、ボート移載I!10は前記エレベータ機構5の受
台6ヘボート7を移載し、更に受台6からボート7を受
取る6ゲートバルプ2が開いた状態で、前記エレベータ
機構5によってウェーハか装填されたボート7が反応室
1に装入され、気密状態とされる。
排気ボンプ3で真空にされた後、反応ガスが供給され、
ヒータ4で加熱され、ウェーハに薄膜が蒸着される。
蒸着処理か完了すると、反応室1内でウェーハが冷却さ
れ、冷却後エレベータ機構5によってボ゛一ト7か取出
される。
該ボート7はボート移載機10に移載され、更にボート
7のウェーハはウェーハ移載機9でカセット8に移載さ
れる。
[発明が解決しようとする課題] ーハの移載を行うウェーハ移載を設けたことを特徴とす
るものである。
[作  用] ボートとカセット間のウェーハの移載はゲートバルブが
開かれた状態で且ロードロック室、ロードロック予備室
、カセット室か密閉された状態で行われ、CVD処理は
ゲートバルブが閉しられた状態でエレベータ機構により
ウェーハが装填されたボートを反応室に装入することで
行われる。
従って、CVD処理、ウェーハの移載の過程でウェーハ
が大気に晒されることかない。
[実 跪 例] 以下、図面を参照しつつ本発明の一実施例を説明する。
尚、第1図中、第2図中で示したものと同一のらのには
同符号を付してある。
反応室1に炉口部11を介して気密なロード口ツタ室1
2を取付け、該ロードロック室12にエレベータ機s5
を収納せしめ、前記炉口部11には5 上記した従来の縦型CVD装置に於いて、密閉されるの
は反応室のみであり、CVD処理後比較的高い温度で反
応室より取出されるのでウェーハの自然酸化があり、或
はエレベータ機構からカセッ1・迄のウェーハの移載中
に塵による汚染かあり、品質の低下を招いていた。
本発明は上記した不具合を解消することを目的としてな
したものである, [課題を解決するための千段] 本発明は、直立型反応室の下方にロードロック室を気室
に設けると共に該ロードロック室にロードロック予備室
、カセット室を気密に連設し、ロードロック室とロード
ロック予備室との間、ロードロック予備室とカセット室
との間の少なくとも111ff所にゲートバルブを設け
、該ゲートバルブの反ロードロック室側の室と排気系と
を連通し、前記ロードロック室内にボートを反応室に装
入するエレベータ機構を、前記カセット室にカセット受
台を設c−t、前記ロードロック予備室に前記ボートと
カセットとの間でウェ排気ポンプ(図示せず)を連通ず
る。該ロードロック室12にゲートバルブ13を介して
ロードロック予備室14、該ロードロック予備室14に
カセット室15を順次気密に連設する。
前記ロードロック予備室14の内部には、ウェーハ移載
機16のハンドラ部17を収納させ、又ロードロック予
備室14は排気ボンプ〈図示せず)に連通ずる。前記カ
セット室15の内部にはカセットエレベータ18のカセ
ット受台19か収納され、該カセット室15の上部は開
閉可能な蓋20となっている。又、前記ロードロック室
12、ロードロック予備室14にはそれぞれ窒素ガス供
給ライン21が連通している。
前記カセットエレベータ18は、少なくともカセット8
のウェーハ収納ピッチずつカセット受台19をステップ
送り可能となっており、又ウェーハ移載11!116は
ハンドラ部17を鉛直な軸心を中心に回転させ得ると共
にハンドラ部17に設けたウェーハチャック部22を水
平方向に移動可能な構成を有している。
6 ウェーハ23を反応室1に装入する作業はゲートバルブ
13を閉塞し、反応室1、ロードロック12を気密に密
閉しておき、カセットエレベータ18のカセッl一受台
19を上昇させた状態でW20を開け、ウエーハ23か
装填されたカセット8を蓋カセッ1へ受台19に乗置ず
る。
カセット受台19を下降させると共にM20を密閉し、
排気ボンプ3でロードロック予備室14、カセット室1
5を真空とする。
次に、ケー1へパルブ13を開き、ウエーハ移裁機16
によりカセット8のウェーハ23を下測より一枚或は数
枚単位でエレベータ機′!II15に移載ずる。
ウェーハ移載の過程で、ウェーハの移載毎にカセットエ
レベータ18はカセット8を下降させ、エレベータ機梢
5はボー1・7を上昇させる。
ウェーハ23の移栽か完了ずるとケー1〜バルブ13を
閉し、反応室1、ロードロック室12に反応カスを供給
し、エレベータ機′!I45で反応室1にボート7を装
入してCVD処理を行う。
[発明の効果] 以上述べた如く本発明によれば、カセッ1−から反応室
内迄のウェーハの搬送過程か気密の容器内で行われるの
で、CVD処理後の酸化が防止されると共に塵による汚
染を防止し得、製品品質の向上、歩留り向上を図ること
かできる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例を示す概略図、第2図は従来例
の概略図である。 1は反応室、5はエレベータI構、12はロードロック
室、13はゲートバルブ、14はロードロック予備室、
15はカセット室、16はウェーハ移a機、19はカセ
ット受台、22はウェーハを示ず。 特  許  出  頭  人 国際電気株式会社

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1) 直立型反応室の下方にロードロック室を気室に設
    けると共に該ロードロック室にロードロック予備室、カ
    セット室を気密に連設し、ロードロック室とロードロッ
    ク予備室との間、ロードロック予備室とカセット室との
    間の少なくとも1箇所にゲートバルブを設け、該ゲート
    バルブの反ロードロック室側の室と排気系とを連通し、
    前記ロードロック室内にボートを反応室に装入するエレ
    ベータ機構を、前記カセット室にカセット受台を設け、
    前記ロードロック予備室に前記ボートとカセットとの間
    でウェーハの移載を行うウェーハ移載を設けたことを特
    徴とするCVD装置。
JP22984489A 1989-09-05 1989-09-05 Cvd装置 Pending JPH0394070A (ja)

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JP22984489A JPH0394070A (ja) 1989-09-05 1989-09-05 Cvd装置

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JP22984489A JPH0394070A (ja) 1989-09-05 1989-09-05 Cvd装置

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JPH0394070A true JPH0394070A (ja) 1991-04-18

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ID=16898569

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JP22984489A Pending JPH0394070A (ja) 1989-09-05 1989-09-05 Cvd装置

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0555550U (ja) * 1991-12-20 1993-07-23 光洋リンドバーグ株式会社 半導体熱処理装置
WO2000018980A1 (en) * 1998-10-01 2000-04-06 Applied Science And Technology, Inc. An in-line sputter deposition system

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6299471A (ja) * 1985-10-26 1987-05-08 Hitachi Electronics Eng Co Ltd Cvd薄膜形成装置
JPS62142791A (ja) * 1985-12-18 1987-06-26 Anelva Corp 真空処理装置

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