JPH0555550U - 半導体熱処理装置 - Google Patents

半導体熱処理装置

Info

Publication number
JPH0555550U
JPH0555550U JP10547391U JP10547391U JPH0555550U JP H0555550 U JPH0555550 U JP H0555550U JP 10547391 U JP10547391 U JP 10547391U JP 10547391 U JP10547391 U JP 10547391U JP H0555550 U JPH0555550 U JP H0555550U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
nitrogen gas
heat treatment
boat
wafer
closed chamber
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP10547391U
Other languages
English (en)
Other versions
JP2573429Y2 (ja
Inventor
智行 石橋
義治 福山
Original Assignee
光洋リンドバーグ株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 光洋リンドバーグ株式会社 filed Critical 光洋リンドバーグ株式会社
Priority to JP1991105473U priority Critical patent/JP2573429Y2/ja
Publication of JPH0555550U publication Critical patent/JPH0555550U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2573429Y2 publication Critical patent/JP2573429Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【目的】 熱処理によりウェハに形成された酸化膜の電
気特性を向上させるとともに、膜厚を均一にする。 【構成】 下端が開口しかつヒータ2を内蔵した炉体1
の下方に連なって密閉チャンバ15を設ける。密閉チャ
ンバ15に窒素ガス供給装置16を接続する。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
この考案は、半導体を製造するためのウェハを熱処理するのに用いられる半導 体熱処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
この種半導体熱処理装置として、下端が開口しかつヒータを内蔵した炉体と、 炉体内に配置されかつ下端が開口するとともに上端が閉鎖された石英製プロセス チューブと、上昇位置においてプロセスチューブの下端開口部内に位置させられ る昇降自在のボート載置台とを備えたものが知られている。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の半導体熱処理装置では、ウェハに熱処理を施すにあたっ て、下降位置に待機しているボート載置台上のボートへのウェハの移し換えを開 始してからボート載置台を上昇させてウェハの支持されているボートをプロセス チューブに挿入するまでの間に、プロセスチューブ内の熱の影響によりウェハに 自然酸化膜が生成し、熱処理により形成される酸化膜の電気特性が低下するとと もに、膜厚の均一性が損なわれるという問題がある。
【0004】 この考案の目的は、上記問題を解決した半導体熱処理装置を提供することにあ る。
【0005】
【課題を解決するための手段】
この考案による半導体熱処理装置は、 下端が開口しかつヒータを内蔵した炉体と、炉体内に配置されかつ下端が開口 するとともに上端が閉鎖された石英製プロセスチューブと、上昇位置においてプ ロセスチューブの下端開口部内に位置させられ、かつウェハを支持するボートを 載せる昇降自在のボート載置台とを備えた半導体熱処理装置において、 炉体の下方に連なって密閉チャンバが設けられ、密閉チャンバに窒素ガス供給 装置が接続されているものである。
【0006】
【作用】
ボート載置台上のボートにウェハを移し換える前に、窒素ガス供給装置によっ て密閉チャンバ内に窒素ガスを供給しておき、密閉チャンバ内を窒素ガス雰囲気 としておく。この状態でボートにウェハを移し換え、その後ボート載置台を上昇 させる。すると、プロセスチューブ内の熱の影響によるウェハへの自然酸化膜の 生成が防止される。
【0007】
【実施例】
以下、この考案の実施例を、図面を参照して説明する。なお、以下の説明にお いて、各図面の左右を左右というものとする。また、図2の上方を後、これと反 対側を前というものとする。
【0008】 半導体熱処理装置は、ヒータ(2) を内蔵する縦型炉体(1) と、炉体(1) 内に配 置されかつ下端が開口するとともに上端が閉鎖されている石英製垂直プロセスチ ューブ(3) と、多数のウェハ(4) が上下に所定間隔をおいて支持されたボート(5 ) をプロセスチューブ(3) 内にローディングするための昇降自在のボート載置台 (6) とを備えている。
【0009】 プロセスチューブ(3) の下端には、ボート載置台(6) が下降位置にある場合に プロセスチューブ(3) の下端開口を閉鎖するシャッタ(11)が設けられている。ボ ート載置台(6) の下端部には、プロセスチューブ(3) の下端開口よりも大径の蓋 (6a)が設けられており、ボート載置台(6) の上昇位置において、蓋(6a)の上面周 縁部がプロセスチューブ(3) の周壁下端に当接し、これによってプロセスチュー ブ(3) 内が密閉されるようになっている。
【0010】 炉体(1) の下方に連なってボート載置台(6) へのボート(5) の積み卸しを行う 密閉チャンバ(15)が設けられている。密閉チャンバ(15)の右側にその右側壁(15a ) を介して窒素ガス導入室(18)が設けられている。右側壁(17)には開口(19)が形 成され、開口(19)内にフィルタ(20)が嵌め止められている。窒素ガス導入室(18) の右側壁(18a) に窒素ガス供給装置(16)が接続されており、開口(19)を介して密 閉チャンバ(15)内に連通せしめられている。図示は省略したが、窒素ガス供給装 置(16)は、密閉チャンバ(15)内に供給する窒素ガス量を調整してチャンバ(15)内 の酸素濃度を適正な値にコントロールする制御装置を備えている。
【0011】 密閉チャンバ(15)の外方には、一端が密閉チャンバ(15)の左側壁(15b) の下端 部に接続されるとともに、他端が窒素ガス導入室(18)の右側壁(18a) の下端部に 接続された窒素ガス循環ダクト(21)が設けられている。窒素ガス循環ダクト(21) の窒素ガス導入室(18)側の端部にはクーラ(22)が設けられている。また、窒素ガ ス導入室(18)内の下端部には窒素ガス循環ファン(23)が配置されている。したが って、窒素ガス供給装置(16)から導入室(18)内に導入された窒素ガスは、フィル タ(20)を通過し、遺物が除去された後密閉チャンバ(15)内に入り、ファン(23)に よって循環ダクト(21)に吸込まれ、クーラ(22)を経て再度導入室(18)に入る。こ うして、密閉チャンバ(15)と窒素ガス導入室(18)との間で循環させられる。
【0012】 密閉チャンバ(15)の右側壁(15a) の上端部には、熱排気ダクト(7) が接続され ている。ダクト(7) には、電動ダンパ(8) および排気量調整ダンパ(9) を有する 熱排気管(10)が接続されている。なお、密閉チャンバ(15)にはメンテナンス用の ドア(図示略)が設けられるが、このようなドアとしては、酸欠による作業者の 事故を防止するために、キー付きシーリングドアや、電磁ロック付きシーリング ドアを用いるのが良い。
【0013】 密閉チャンバ(15)の後方にカセット待機室(25)が設けられている。待機室(25) と密閉チャンバ(15)との間には隔離ドア(26)が設けられている。待機室(25)内に おいて、多数のウェハ(4) を支持した複数のカセット(28)が回転自在のカセット 支持装置(27)に着脱自在に取り付けられている。
【0014】 このような構成において、ウェハ(4) に熱処理を施すさいには、まず窒素ガス 供給装置(16)によって密閉チャンバ(15)内に所定量の窒素ガスを供給して窒素ガ ス雰囲気とし、チャンバ(15)内の酸素濃度を適正な値にしておく。この状態で隔 離ドア(26)を開き、図示しない移し換え装置によって、ウェハ(4) を、カセット (28)から下降位置に待機しているボート載置台(6) 上のボート(5) に移し換える 。ついで、多数のウェハ(4) を支持したボート(5) が載せられているボート載置 台(6) を図示しない昇降装置により上昇させ、ボート(5) およびウェハ(4) の部 分を完全にプロセスチューブ(3) 内の中央均熱部に入れるとともに、蓋(6a)の上 面周縁部をプロセスチューブ(3) の周壁下端に接触させてプロセスチューブ(3) の下端開口を蓋(6a)により完全に閉鎖する。ボート載置台(6) の上昇速度は、ウ ェハ(4) に熱歪みが発生しないような速度にする。この状態で、プロセスチュー ブ(3) 内のウェハ(4) に熱処理が施されて酸化膜が形成される。熱処理中も密閉 チャンバ(15)内は窒素ガス雰囲気に保持しておく。
【0015】 熱処理が終了すると、ボート載置台(6) を下降させる。ボート載置台(6) の下 降速度は、ウェハ(4) に熱歪みが発生しないような速度にする。このとき、密閉 チャンバ(15)内が窒素ガス雰囲気に保持されているので、ウェハ(4) に自然酸化 膜が生成するのが防止される。その後、隔離ドア(26)を開き、熱処理の施された ウェハ(4) を、移し換え装置によってボート(5) から待機室(25)の支持装置(27) に支持されているカセット(28)に移し換える。そして、未処理のウェハ(4) がボ ート載置台(6) 上のボート(5) に移し換え、上記と同様にして熱処理を施す。
【0016】 上記において、ボート載置台(6) を下降させたさいのプロセスチューブ(3) 内 の高温の処理ガスおよび余剰の窒素ガスは、熱排気ガス(10)を通して排出される 。
【0017】 上記実施例においては、窒素ガス供給装置は、窒素ガス導入室(18)を介して密 閉チャンバ(15)に接続されているが、これに限るものではなく、密閉チャンバ(1 5)に直接接続されていても良い。
【0018】
【考案の効果】
この考案の半導体熱処理装置によれば、上述のように、熱処理を施す前のウェ ハに自然酸化膜が生成するのを防止することが可能となる。したがって、熱処理 によりウェハに形成された酸化膜の電気特性が向上するとともに、膜厚が均一と なる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この考案の半導体熱処理装置の実施例を示す垂
直断面図である。
【図2】同じく水平断面図である。
【符号の説明】
1 炉体 2 ヒータ 3 石英製プロセスチューブ 4 ウェハ 5 ボート 6 ボート載置台 15 密閉チャンバ 16 窒素ガス供給装置

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 下端が開口しかつヒータを内蔵した炉体
    と、炉体内に配置されかつ下端が開口するとともに上端
    が閉鎖された石英製プロセスチューブと、上昇位置にお
    いてプロセスチューブの下端開口部内に位置させられ、
    かつウェハを支持するボートを載せる昇降自在のボート
    載置台とを備えた半導体熱処理装置において、 炉体の下方に連なって密閉チャンバが設けられ、密閉チ
    ャンバに窒素ガス供給装置が接続されている半導体熱処
    理装置。
JP1991105473U 1991-12-20 1991-12-20 半導体熱処理装置 Expired - Lifetime JP2573429Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1991105473U JP2573429Y2 (ja) 1991-12-20 1991-12-20 半導体熱処理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1991105473U JP2573429Y2 (ja) 1991-12-20 1991-12-20 半導体熱処理装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0555550U true JPH0555550U (ja) 1993-07-23
JP2573429Y2 JP2573429Y2 (ja) 1998-05-28

Family

ID=14408568

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1991105473U Expired - Lifetime JP2573429Y2 (ja) 1991-12-20 1991-12-20 半導体熱処理装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2573429Y2 (ja)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0394070A (ja) * 1989-09-05 1991-04-18 Kokusai Electric Co Ltd Cvd装置
JPH03218017A (ja) * 1990-01-23 1991-09-25 Tokyo Electron Ltd 縦型熱処理装置
JPH04280626A (ja) * 1991-03-08 1992-10-06 Kokusai Electric Co Ltd 縦型拡散cvd装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0394070A (ja) * 1989-09-05 1991-04-18 Kokusai Electric Co Ltd Cvd装置
JPH03218017A (ja) * 1990-01-23 1991-09-25 Tokyo Electron Ltd 縦型熱処理装置
JPH04280626A (ja) * 1991-03-08 1992-10-06 Kokusai Electric Co Ltd 縦型拡散cvd装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2573429Y2 (ja) 1998-05-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3504784B2 (ja) 熱処理方法
JP3535457B2 (ja) 基板の熱処理装置
JPH04269824A (ja) 縦型熱処理装置
KR0165857B1 (ko) 종형 열처리 장치
US6524389B1 (en) Substrate processing apparatus
WO2006003805A1 (ja) 縦型熱処理装置及びその運用方法
JPS6250970B2 (ja)
JPH0555550U (ja) 半導体熱処理装置
JP3027019B2 (ja) 熱処理装置
JP4876322B2 (ja) ロードロック室、その排気方法及び熱処理装置
JP3670617B2 (ja) 熱処理装置および熱処理方法
JP2742572B2 (ja) 半導体ウェーハの縦型熱処理装置
JP5027430B2 (ja) 基板処理装置
KR100636714B1 (ko) 열처리 장치 및 열처리 방법
JP2691907B2 (ja) 加熱方法及び処理装置及び処理方法
JP2649568B2 (ja) 加熱装置
JPS6386812A (ja) 誘導加熱式型焼入設備
JP2001156011A (ja) 半導体ウェーハ熱処理装置
JP3138291B2 (ja) 半導体ウエハの熱処理方法
JPH08335575A (ja) 熱処理装置および方法
JPH0599572A (ja) 連続式真空炉
JPH10223722A (ja) 半導体処理装置
JPH058936U (ja) 半導体製造装置
JPH098049A (ja) 基板加熱装置
JPH01146324A (ja) 熱処理装置

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19980120

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term