JPH0391123A - 光ヘッド装置とこれに用いられる半導体レーザ駆動装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、光ディスク等の記録媒体に対して情報を記録
、再生、消去する光ヘッド装置に係り。

特に、光磁気ヘッドのように光ディスクからの反射光が
光源である半導体レーザに戻るような場合に、好適な光
ヘッド装置およびこれに用いる半導体レーザ駆動装置に
関するものである。

［従来の技術］ 第１４図は、従来からよく用いられている光ヘッド装置
の構成を示すブロック図である。

ｌは半導体レーザであり、前方光２および後方光１２を
出射するレーザチップ１ａと、後方光１２を受光する内
部光検出器１ｂが同一パッケージ内に収納されている。

レーザチップ１ａから前方に出射された前方光２は、コ
リメートレンズ３により平行光とされ、ビームスプリッ
タ４に入射される。ビームスプリッタ４は、入射された
光ビームのうち大部分を反射し、残部を透過させる。ビ
ームスプリッタ４を反射した光ビームは、全反射ミラー
５で反射され、対物レンズ６で収束され、光ディスク７
の記録膜７ａに微小スポットを形成し、情報の記録、再
生、消去がなされる。記録膜７ａで反射された光ビーム
は、対物レンズ６によって再び平行光とされ、全反射ミ
ラー５を経てビームスプリッタ４に入射する。ビームス
プリッタ４は、光ディスク７からの反射光のうち一部を
反射させ、残部を透過させる。ビームスプリッタ４を透
過した光ビームは。

検出レンズ８により光検出器９に収束される。光検出器
９は、周知のように受光面が複数の領域に分割されてお
り、各領域で光電変換された電気信号を演算することに
より、情報信号およびサーボ信号が得られる。ビームス
プリッタ４で反射された光ビームは、コリメートレンズ
３を経て、レーザチップ１ａに戻ることになる。

一方、レーザチップ１ａから後方に出射された後方光上
２は、内部光検出器１ｂへ入射され、光電変換がなされ
る。内部光検出器１ｂの出力は。

差動増幅器１４に入力されて、光出力設定信号ｅ工との
差分が演算されると共に増幅される。差動増幅器１４の
出力は、レーザチップｌａに供給される。これにより、
半導体レーザ１の光出力が一定となるように（正確には
内部光検出器１ｂの出力が一定となるように）制御がな
される。

また、従来の光ヘッド装置の他の例として、特開昭６２
−５７１４３号公報に開示された装置がある。

この装置は、半導体レーザと、コリメートレンズと、楕
円状ビームを円形状ビームに変換する整形プリズムを設
け、コリメートレンズを経て整形プリズムに入射する半
導体レーザの前方光の一部を表面反射させ、この表面反
射光を外部に設けた専用のモニタ用光検出器で受光して
光電変換し、この出力を半導体レーザにフィードバック
して、半導体レーザの光出力を一定値に制御するもので
ある。

さらに、他の従来例として、特開昭６３−５５９８８号
公報に開示された光ヘッド装置がある。

この光ヘッド装置は、半導体レーザの前方光をコリメー
トレンズを介してビームスプリッタに入射させ、光ビー
ムの一部を分岐させる。そして、この分岐された光ビー
ムを専用の収束レンズでモニタ用光検出器に収束させて
光電変換し、モニタ用光検出器の出力を半導体レーザに
フィードバックして、半導体レーザの光出力を一定値に
制御するようにしている。

［発明が解決しようとする課題］ 第１４図に示した光ヘッド装置においては、後方光１２
によって半導体レーザ１の光出力を制御している。ここ
で、情報の記録再生には前方光２が使用されているので
、前方光２と後方光１２の光出力が常に比例関係にあれ
ば、前方光２の出力は一定値に制御できる。しかし、比
例関係から変動する場合は、前方光２の光出力の正確な
制御は困難である。

一般に、光ディスク７からの反射光がレーザチップ１ａ
に戻る場合は、前方光２と後方光１２の光出力は、比例
関係から変動することが知られている。この変動は、前
方光２に対する戻り光の割合により決まり、この割合が
大きくなると、前方光出力に対して後方光出力が相対的
に大きくなる性質がある。ここで、レーザチップ１ａへ
の戻り光量は、記録膜の反射率によって変化し、反射率
が大きい場合は、戻り光量も増大する。

第１４図の光ヘッド装置においては、レーザチップｌａ
への戻り光があると、上記したように、前方光２よりも
後方光１２の光出力が大きくなり、内部光検出器１ｂの
出力は増大しようとする。これに対応して、差動増幅器
１４は、内部光検出器１ｂの出力を一定値に抑えるべく
、半導体レーザ１への供給電流を減少せしめる。その結
果、前方光２は、出力設定信号ｅ１による設定値を下回
る光出力で発光することになる。よって、記録、再生に
用いる前方光２の光出力の正確な制御は困難という問題
があった。

これに対し、特開昭６２−５７１４３号公報に開示され
た光ヘッド装置は、前方光の一部をモニタ光検出器で検
出し、この出力を半導体レーザにフィードバックしてい
るため、前方光の光出力を所定値に制御でき、上記の課
題を解決できる。

しかし、この従来のものは、前方光の検出方法として、
前方光の一部を整形プリズムで表面反射させる方式を採
用しており、第１４図に示したような整形プリズムを使
用しない装置には適用できないという問題があった。ま
た、モニタ用光検出器は、整形プリズムで表面反射した
平行光を検出するため、受光面積の大きなものが必要で
あるが。

受光面積の大きな光検出器は、一般に接合容量が大きく
時定数も大きいため、高速応答は困難であり、半導体レ
ーザの光出力の高速な制御は困難であるという問題があ
った。

特開昭６３−５５９８８号公報に開示された光ヘッド装
置は、前方光の検出方法としてビームスプリッタで分岐
された光ビームを使用しているため、ｌｌ形プリズムを
用いない装置にも適用できる。

また、収束レンズを用いてビームスプリッタで分岐した
光ビームを収束させ、この収束ビームをモニタ用光検出
器を入射させて、前方光の光出力を検出しているため、
モニタ用光検出器として受光面積の小さなものが使用で
き、その接合容量を小さくできるため、高速応答性の点
では問題ない。

しかし、この従来のものは、専用の収束レンズが必要で
あり、これを光ヘッド上に固定するための部品も新たに
必要となるという問題があった。

また、前方光をモニタ用光検出器で正しく検出するには
、上述したように、モニタ用光検出器の受光面を収束レ
ンズの光軸上に位置させる必要があるが、従来の受光面
積が小さいため、Ｉ／Ｉｉ立の際に位置調整が不可欠と
いう問題があった。

本発明の目的は、反射率の異なる記録媒体に対しても前
方光の光出力を所定値に制御でき、しかも、光学系の構
成を複雑にすることなく実現できる光ヘッド装置を提供
することにある。

また、本発明の他の目的は、前記光ヘッド装置に好適に
用いることができる半導体レーザ駆動装置を提供するこ
とにある。

［課題を解決するための手段］ 上記目的は、前方光および後方光を放射する半導体レー
ザと、前方光を記録媒体に照射する光学系と、前記後方
光を検出して、その検出値に基づいてレーザ出力を所定
値に制御する駆動回路とを備える光ヘッド装置において
、前記半導体レーザに、戻り光が実質的には入射してい
ない状態と。

入射している状態とについて、各々前方光の光出力を検
出する手段と、前記検出手段によって検出された前記前
状態についての検出値を用いて、光出力設定値に対する
補正値を求める手段とを備えることにより達成される。

補正値を求めるに際しては、好ましくは、前状態につい
ての検出値の比を用いる。

上記目的は、より具体的には、半導体レーザの前方光の
一部を受光して光出力を検出する光検出器と、半導体レ
ーザに戻り光が戻らない状態の光検出器の出力を保持す
る第１の保持手段と、記録媒体からの反射光が半導体レ
ーザに戻る状態の光検出器の出力を保持する第２の保持
手段とを設けると共に、この第１および第２の保持手段
の出力を用いて光出力設定信号に対して補正を行なう演
算手段を設けることにより、達成される。

また、上記目的は、上記光検出器に代えて、光位置検出
装置を用いることによっても達成される。

この光位置検出装置は、入射光の位置に応じて出力電流
が変化する光位置検出器と、この光検出器の出力電流か
ら入射光の位置に対応する電気信号を取り出す処理回路
とを有して構成される０本発明では、処理回路から、位
置に無関係で、入射光の強度に対応する出力信号を取り
出して、第１または第２の保持手段に送る。

前記演算手段は、後述するように、前記第１、第２の保
持手段の出力の比を求め、この比を用いて補正を行なう
構成とする。

前記第１の保持手段は、半導体レーザに戻り光がない状
態、すなわち、光記録媒体からの反射光が入射しない状
態における光検出器または光位置検出器の出力を保持す
る。ここで、戻り光がない状態には、戻り光が全くない
場合のほか、半導体レーザの出力に影響を与えない程度
の戻り光がある場合をも含むものである。

本発明は、光磁気ディスク、追記可能光ディスク、再生
専用光ディスク、光記録カード等の光磁気記録媒体、光
記録媒体などの光を用いる記録媒体に関する記録、再生
、消去などを行なう記録／再生装置のヘッドに広く用い
ることができる。

［作用］ 光検出器は、半導体レーザから放射された前方光のうち
光ディスク等の記録媒体に照射されない光ビームを受光
して、その光出力を検出する。

第１の保持手段は、記録媒体の装着前などのように半導
体レーザに戻り光が戻らない時の光検出器の出力Ｐ、を
保持する。この時、半導体レーザは、戻り光がないため
、前方光の光出力が低下することなく発光する。

第２の保持手段は、記録媒体が装着された後、この記録
媒体からの反射光が半導体レーザに戻る状態における、
光検出器の出力Ｐ２を保持する。

この時、半導体レーザは、戻り光があるため、前方光の
光出力が、ｐ　ｚ　／　ｐ　１倍（ここに、Ｐ　ｚ　／
　Ｐ　Ｌ＜１）低下して発光することになる。

そして、演算手段は、上記の第１の保持手段の出力Ｐ１
．第２の保持手段の出力Ｐ２をもとに、前方光の光出力
を設定するための光出力設定信号ｅ１に対して、 １ で表わされる演算を行ない、光出力補正信号ｅ２を出力
する。

光出力補正信号ｅ２は、光出力設定信号ｅ１をＰ　ｉ／
　Ｐ　＊倍した信号であり、上述の前方光の光出力低下
を補う、この光出力補正信号ｅ２を暇動回路に入力して
、半導体レーザを開動することにより、記録媒体からの
反射光が半導体レーザに戻るにもかかわらず、前方光の
光出力を光出力設定信号ｅ４で表わされる所定値に制御
できる。

本発明は、光検出器に代えて、光位置検出装置を用いる
ことができる。この場合の作用について。

光ディスクを例にして説明する。

光位置検出装置は、本来、入射された光ビームの位置を
検出する機能を有する。この光位置検出装置の検出器に
、半導体レーザから放射された前方光のうち光ディスク
に照射されない光ビームを入射させることにより、光学
系の光ディスク半径方向の位置を検出できる。そして光
位置検出装置から、光の位置にかかわらず、光の強度を
表わす出力を取り出すことにより、前方光の光出力を検
出できる。

以下の作用は、前述した光検出器の場合と同じであり、
同様の効果が得られる。なお、光位置検出装置を用いる
場合には、光検出器の機能を兼ねることができるので、
別途光検出器を設ける必要がない、従って、構成がより
簡単化できる。

（以下余白） ［実施例］ 以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。なお、以下の各実施例において、同一の構成要素には
同一符号を付することとし、特に必要でない限り、重複
した説明を省略する。

第１図は、本発明の第１の実施例の構成を示すブロック
図である。

本実施例は、図示しないローディング機構によって装着
された光ディスク７を、ディスクメモリ１１により回転
させ、この光ディスクに対し、情報の記録、再生、消去
等を行なう光ヘッド装置およびこれに用いる半導体レー
ザ開動装置の一例を示す、これに、書き込み、読み出し
信号の処理系等の構成を加えて、情報記録／再生装置を
構成することができる。なお、以下に述べる他の実施例
についても同様である。

本実施例は、前方光および後方光を放射する半導体レー
ザ１と、この前方光を光ディスク７に照射する光学系１
０と、半導体レーザ１を開動制御する制動＠路部とを備
えて構成される。

半導体レーザエは、前方光２および後方光１２を出射す
るレーザチップ１ａと、後方光１２を受光して光電変換
する内部光検出器１ｂとを、同一パッケージ内に収容し
て構成される。

光学系１０は、コリメートレンズ３．ビームスプリッタ
４、全反射ミラー５．対物レンズ６、収束レンズ８およ
び光検出器９を備えて構成される。

光検出器２１は、前方光２のうちビームスプリッタ４を
透過した光ビーム２２が入射され、これを光電変換する
。

前記開動回路部は、光出力設定信号ｅ工または光出力補
正信号と前記内部光検出器１ｂの出力とを差動増幅して
半導体レーザ１への供給電流を制御する差動増幅器１４
と、ビームスプリッタ４の透過光（前方光の一部）を検
出する光検出器２１と、この光検出器２１の出力を保持
する第１の保持回路２５および第２の保持回路２６と、
光検出器２１の出力を第１の保持回路２５および第２の
保持回路２６のいずれかに切り換えて入力させるスイッ
チ２３と、第１の保持回路２５および第２の保持回路２
６の出力ｐ１．ｐ２および光出力設定信号ｅ工を用いて
光出力補正信号ｅ２を算出する演算回路２７と、光出力
設定信号および光出力補正信号を切り換えて選択的に差
動増幅器１４に入力させるスイッチ２８と、前記スイッ
チ２３．２８゜第１の保持回路２５および第２の保持回
路２６の動作を制御するコントローラ２４とを備えて構
成される。

第１の保持回路２５および第２の保持回路２６は、例え
ば、Ａ／Ｄ変換器およびレジスタ（いずれも図示せず）
を有して構成される。第Ｉの保持回路２５は、半導体レ
ーザ１に戻り光がない状態における光検出器２１の出力
の保持に用いられ、第２の保持回路２６は、半導体レー
ザｌに戻り光がある状態における光検出器２１の出力の
保持に用いられる。

この第１の保持回路２５および第２の保持回路２６と、
スイッチ２３と、コントローラ２４におけるこのスイッ
チ２３の切り換え制御機能とを含んで、第１の保持手段
および第２の保持手段が構成される。

演算回路２７は、後述する演算を実行する演算部（図示
せず）および演算結果をＤ／Ａ変換するＤ／Ａ変換器（
図示せず）を有して構成される。

演算部は、例えば、論理回路により構成することができ
る。また、後述する他の実施例のように、マイクロプロ
セッサを用いて構成してもよい。

さらに、演算部は、アナログ演算回路により構成しても
よい。この場合には、出力信号Ｄ／Ａ変換を行なわず出
力できる一方、入力信号をアナログとしておく必要があ
る。

コントローラ２４は、例えば、マイクロコンピュータに
より構成され、マイクロプロセッサ、メモリ、インタフ
ェース等を備えている。このコントローラ２４は、半導
体レーザ１の駆動回路の制御の他、情報記ｆｉ／再生装
置の駆動制御を行なう。

半導体レーザ１の駆動制御としては、前記スイッチ２３
および２４の切り換え制御機能と、第１の保持回路２５
および第２の保持回路２６の動作制御機能を有している
。

次に、本実施例の作用について、第１〜第３＠を用いて
説明する。

第２図および第３図は第Ｉの実施例の動作を説明する動
作説明図であり、第２図は光ディスクが装着される前の
状態を示し、第３図は光ディスクが装着された直後の状
態を示す。

第２図に示すように、光ディスクの装着前においては、
スイッチ２８は、コントローラ２４の指令により２８ａ
の方に切り換えられる。先出カ設定信号ｅ工は、差動増
幅器１４に直接的に入力される。レーザチップｌａは、
内部光検出器１ｂの出力信号と光出力設定信号ｅ□が等
しくなるように差動増幅器１４により開動される。これ
により、レーザチップ１ａは、光出力設定信号ｅ□で表
わされる光出力で発光する。

レーザチップ１ａから前方に出射された前方光２は、コ
リメートレンズ３により平行光とされ、ビームスプリッ
タ４に入射される。ビームスプリッタ４は、入射された
光ビームのうち一部を透過させ、残部を反射させる。こ
こで、ビームスプリツタ４で透過される光量と反射され
る光量との比率は、入射光量にかかわらず一定である。

この時、前方光２のうちビームスプリッタ４で反射され
た光ビームは、全反射ミラー５．対物レンズ６を経て収
束されるが、光ディスクが装着されていないため拡散光
となって直進し、光ディスク装置内で乱反射または吸収
される。このため、レーザチップ１ａに光ビームは戻ら
ない。従って前方光２は、従来技術で述べたような光出
力の低下なしに、光出力設定信号ｅ１で表わされる光出
力に保たれる。

一方、前方光２のうちビームスプリッタ４を透過した光
ビーム２２は、光検出器２１に入射し、光電変換され、
電気信号となる。ビームスプリッタ４は、前方光２のう
ち一定の割合だけ透過させるのであるから、光検出器２
１の出力信号は前方光２の光出力を表わしている。

スイッチ２３は、光ディスクの装着前においては、コン
トローラ２４の指令により端子２３ａの方に切り換えら
れ、光検出ｌｌ！２１の出力は、第１の保持回路２５に
入力される。第１の保持回路２５は、光検出器２１の出
力ＰＬを記憶保持する。

この記憶保持動作は、コントローラ２４からリセット信
号が送られるまで続けられる。

以上の動作が終了すると、第３図に示すように、光ディ
スク７が装着されて、ディスクモータ１１により回転さ
れると共に、対物レンズ６の焦点が記録膜７ａに位置す
るように周知のフォーカシング制御がなされる。

この状態で、半導体レーザ１から放射された前方光２の
うち、ビームスプリッタ４で反射された光ビームは、全
反射ミラー５で反射され、対物レンズ６で収束光となり
、光ディスク７の記録膜７ａに微小スポットを形威し、
情報の記録／再生がなされる。

そして、記録膜７ａで反射された光ビームは、対物レン
ズ６によって再び平行光とされ、全反射ミラー５を経て
ビームスプリッタに入射する。ビームスプリッタ４は、
光ディスク７からの反射光のうち一部を反射させ、残部
を透過させる。

ビームスプリッタ４を透過した光ビームは、検出レンズ
８により光検出器９に収束される。光検出器９は、周知
のように、受光面が複数の領域に分割されており、各領
域で光電変換された電気信号を演算することにより、情
報信号およびサーボ信号が得られる。

光ディスク７からの反射光のうちビームスプリッタ４で
反射された光ビームは、コリメートレンズ３を経て、レ
ーザチップ１ａに戻る。

なお、光ディスク７の装着は、図示しない検出素子によ
り検知され、その検知信号は、コントローラ２４に入力
される。これは、以下の他の実施例においても同様であ
る。

これにより、記録膜７ａで反射された光ビームの一部が
レーザチップｌａに戻るようになり、前述したように、
前方光２に比較して後方光１２の光出力が大きくなるた
め、内部光検出器１ｂの出力が増大しようとする。差動
増幅器１４は、内部光検出器１ｂの出力の増大を抑圧す
べく、レーザチップ１ａへの供給電流を減少させる。従
って。

第３図の状態における前方光２の光出力は、第２図に示
した光ディスク装着前と比較して低下する。

これに応じて、光検出器２工の出力も低下する。

この時の、光検出器２１の出力をＰ２とすると、第３図
における前方光２の光出力は、第２図の状態のＰ、／Ｐ
１倍に低下する。

スイッチ２３は、コントローラ２４の指令により端子２
３ｂ側に切り換えられ、光検出器２工の出力は第２の保
持回路２６に入力される。第２の保持回路２６は、この
ときの光検出器２１の出力Ｐ２を記憶保持する。この記
憶保持動作は、コントローラ２４からリセット信号が送
られるまで続けられる。

演算回路２７は、光出力設定信号ｅ工、第１の保持回路
２５の出力Ｐ□、第２の保持回路２６の出力Ｐ２をもと
に。

で表わされる演算を行ない、光出力補正信号ｅ８を出力
する。

ここで、光ディスク７の装着後は、装着前に比較して前
方光２の光出力が低下するのであるから、Ｐ工＞ｐ、で
あり。

２ なる関係が成立している。よって、光出力補正信号ｅ２
は、光出力設定信号ｅユをＰ工／Ｐ、倍に増大させた信
号となり、前方光２の光出力の低下分を補正する。

以上の動作が終了すると、第３図の状態から第１図の状
態となり、光ディスク７に対して情報の記録、再生、消
去を行なう状態となる。

スイッチ２８は、コントローラ２４の指令により２８ｂ
側に切り換えられ、差動増幅器１４の基準入力端子（＋
端子）１４ａには、光出力設定信号ｅ□に代えて光出力
補正信号ｅ、が入力される。

この結果、前方光２の光出力は、第３図の状態に比較し
て、ｆ３　＠　／　ｅ　１倍に増大する。ここで、８　
ｚ　／　ｅ工は（１）式より。

と表わされる。

従って、前方光２の光出力は、第２図に示す状態から第
３図に示す状態への変化でｐ　ｚ　／　ｐ　ｚ倍に低下
し、第３図に示す状態から第１図に示す状態への変化で
Ｐ１／Ｐ、倍に増大することになる１両者の倍率を掛は
合わせると、 となり、第１図における前方光２の光出力を、第２図の
光出力と同じにできることを表わしている。

すなわち、光ディスク７で反射された光ビームがレーザ
チップ１ａに戻るにもかかわらず、前方光２の光出力を
光出力設定信号ｅ１で設定された値に制御できる。

ここで、第３図において、光検出器２１の出力Ｐ、を第
２の保持回路２６で保持する動作は、光ディスク７の記
録膜７ａにおいてトラック番号、セクタ番号等を表わす
凹凸ビットが無い平坦な部分（以降、ミラー部と称す）
で行なわれるのが望ましい。凹凸ビットが有る部分では
、照射されたレーザスポットが凹凸ビットにより回折さ
れるため、光ディスク７からの反射光量が一定とならず
、レーザチップ１ａへの戻り光量が変化するためである
。これに対し凹凸ビットが無いミラー部では。

回折の影響を受けないため、光ディスク７からの反射光
量は一定となり、レーザチップ１ａへの戻り光量も一定
となるので、光検出器２１の出力Ｐ８の検出を精度よく
確実に行なうことができる。

第４図は、光ディスク７において設けられるミラー部の
位置を示した図である。

光ディスク７の記録膜７ａにおいては、第４図に示すよ
うに、データ記録エリア７ｂの内周側に内周ミラー部７
ｃまたは外周側に外周ミラー部７ｄが設けられるのが通
例である。この内周ミラー部７ｃまたは外周ミラー部７
ｄに光学系１０によりレーザ光を照射し、このときの光
検出器２１の出力Ｐ２を第２の保持回路２６で保持すれ
ばよい。

また、ミラー部として、データ記録エリア７ｂの中に存
在する凹凸ビットの無い平坦な部分を利用してもよい。

第５図は、周知のサンプルサーボ方式光ディスクにおけ
るデータ記録エリアを拡大して示した図である。

サンプルサーボ方式光ディスクには、第５図に示すよう
に、ウォブルピット３１ａ、３１ｂとクロックビット３
２が、光ディスク製造時に予め凹凸ビットとして形成さ
れている。ウォブルピット３１ａ、３１ｂは、破線で示
すトラック中心に対して偏位して設けられており、トラ
ッキング制御のために用いられる。クロックビット３２
は、トラック中心に設けられており、データの記録再生
時に同期をとるために用いられる。

ウォブルピット３１ｂとクロックピット３２との間のＡ
部は、ミラー部となっており、フォーカシング制御のた
めに用いられる。クロックピット３２と次のウォブルピ
ット３１ａの間のＢ部に。

データが記録される。

このようなサンプルサーボ方式ディスクに対しては、光
学系１０からのレーザ光がＡ部に照射された時の光検出
器２１の出力Ｐ２を、第２の保持回路２６で保持すれば
よい６ また、光ディスクが光磁気ディスクの場合は、データは
Ｂ部の磁化方向を局部的に変化させることによって記録
されるため、Ｂ部にピットが形成されたり、Ｇ部の反射
率が変わることはない。従って、光磁気ディスクの場合
は、Ｂ部も、Ａ部と同様にミラー部として利用できる。

第６図は１周知の案内溝サーボ方式光ディスクにおける
データ記録エリアを拡大して示した図であり、（ａ）は
案内溝３４の上にデータを記録する溝上記録の場合を示
し、（ｂ）は案内溝の間にデータを記録する溝間記録の
場合を示す。

溝上記録の場合は、トラック番号、セクタ番号等を表わ
すプリピット部３３と、トラッキング制御のための案内
＄３４とが、第６図（ａ）に示すように同一トラック上
に交互に形成されている。そして、データは、案内溝３
４に記録される。

このような溝上記録の光ディスクにおいては、プリピッ
ト部３３と案内溝３４との間の０部およびＤ部がミラー
部となっている。従って、光学系１０からのレーザ光が
、０部あるいはＤ部に照射されたときの光検出器２１の
出力Ｐ２を、第２の保持回路２６で保持すればよい。

溝間記録の場合は、第６図（ｂ）に示すように、案内溝
３５は連続的に形成されており、トラック番号、セクタ
番号を表わすブリット部３３は、隣接する案内７１１３
５の溝間に形成されている。データは、ブリット部３３
の間のＧ部に記録される。

そして、Ｅ部およびＦ部はミラー部となっている。

従って、光学系１０からのレーザ光が、Ｅ部あるいはＦ
部に照射されたときの光検出器２１の出力Ｐ２を、第２
の保持回路２６で保持すればよい。

また、光ディスクが光磁気ディスクの場合は。

データは、Ｇ部の磁化方向を局部的に変化させることに
よって記録されるため、Ｇ部にビットが形成されたり、
Ｇの反射率が変わることはない、従って光磁気ディスク
の場合は、Ｇ部を、Ｅ部およびＦ部と同様にミラー部と
して利用できる。

なお、以上説明した光検出器２１の出力を第２の保持回
路２６で保持する動作は、１枚の光ディスクに対しては
装着時に最低１回行なえばよい。

というのは、光ディスク７の記録膜７ａは、均一に形成
されており、同一の光ディスク内における反射率の変動
は小さいため、レーザチップｌａへの戻り光はほぼ一定
となるからである。

そして、光ディスク７を交換する場合は、第２図および
第３図を用いて説明した動作を繰り返せばよい、この時
、新たに装着する光ディスク７の反射率が、それまで装
着されていた光ディスク７の反射率と異なっていてもよ
い、すなわち、光ディスク７の反射率の相違により光検
出器２１の出力Ｐ２が変化しても、（４）式において、
右辺は常に１となることから、前方光２の光出力を光出
力設定信号ｅｉで設定された値に制御できる。

ところで、光ディスク装置においては、光ディスク７が
装着されたまま電源がＯＦＦされ、後に、！源が再びＯ
Ｎされ、光ディスク７を交換することなく記録再生動作
を再開するような場合があり得る。このような場合は、
そのままでは、第２図で示した光検出器２１の出カＰ工
を第１の保持回路２５で保持する動作が行なえないため
、以下のようにする。

すなわち、第１の保持回路２５を、電源がＯＦＦされて
も保持内容を保持し続ける不揮発性メモリ（例えばスタ
ティックＲＡＭ）を用いて構成し、電源をＯＦＦする前
に保持した値を、記録再生動作の再開時に用いるように
すればよい。

また、他の方法として、再び電源がＯＮされたときに、
光学系１０を図示しない送り機構により光ディスク７の
外周側に送り、光学系１ｏからの光ビームを記録膜７ａ
より外側に照射することにより、レーザチップ１ａに光
ビームが戻らないようにし、この時の光検出器２１の出
力Ｐ１を第１の保持回路２５で保持してもよい。

さらに他の方法としては、再び電源がＯＮされた後に、
対物レンズ６にフォーカシング動作を行なわせないデフ
ォーカス状態で光学系１ｏがら光ディスク７に光ビーム
を照射し、この時の光検出器２１の出力Ｐ１を、第１の
保持回路２５で保持してもよい。

デフォーカス状態においては、対物レンズ６の焦点は記
録膜７ａ上に位置しないため、光ビームは記録膜７ａに
拡がりをもって入射することになる。そして、記録膜７
ａで反射された光ビームは、前述と同じ経路を経てレー
ザチップ１ａに戻るが、この場合、レーザチップｌａの
位置では拡がりをもった光ビームとなるため、レーザチ
ップ１ａ自身に入射する戻り光量は、合焦時と比較して
著しく減少する。従って、光ディスク７が装着されてい
てもデフォーカス状態で光ビームを照射すれば、光検出
器２工の出力は、第２図に示す状態で得られる値にほぼ
一致する。

以上説明したように、本実施例によれば、光ディスク７
からの反射光が半導体レーザ１に戻るにもかかわらず、
前方光２の光出力を低下させることなく、光出力設定信
号ｅ１で設定された所定値に制御できる。また、記録膜
７ａの反射率が異なる光ディスク７に対しても前方光２
の光出力を所定値に制御できる。さらに、従来技術で用
いていた整形プリズム、前方光の一部を収束させる収束
レンズが不要となるため、適用する光学系１ｏの構成を
簡単にできる。

なお、本実施例を適用する光学系１０は、第１図に示し
たものに限らず、光ビーム２２を出射するものであれば
よく、その構成は問わない。

次に、本発明による第２の実施例について説明する。

第７図は、第２の実施例の構成を示すブロック図であり
、光ディスクの装着後の状態を示す。第８図は、同実施
例の動作を説明する説明図であり、光ディスクが装着さ
れる前の状態を示す。

本実施例は、半導体レーザ１．光学系１０および駆動回
路を備えて構成される。

駆動回路は、差動増幅器１４と、光検出器２１と、コン
トローラ２４と、Ａ／Ｄ変換器４１と。

ＭＰＵ　（マイクロ・プロセッシング・ユニット）４２
と、メモリ４３と、Ｄ／Ａ変換器４４とを備えて構成さ
れる。

なお、第７図において、半導体レーザ１、光学系１０．
差動増幅器１４、光検出器２１およびコントローラ２４
は、各々第１の実施例と同様であり、説明は省略する。

Ａ／Ｄ変換器４１は、光検出器２１の出力（アナログ信
号）をデジタル信号に変換する。ＭＰＵ（マイクロ・プ
ロセッシング・ユニット）４２は。

デジタル信号として与えられる光出力設定信号ｅ□に対
して前述の（１）式で表わされる演算処理を行なうと共
に、Ａ／Ｄ変換器４１の出力をメモリ４３に格納したり
、メモリ４３に格納されたデータを読み出したりする。

Ｄ／Ａ変換器４４は。

ＭＰＵ４２の出力をアナログ信号に変換する。

本実施例では、Ａ／Ｄ変換器４１、コントローラ２４．
ＭＰＵ４２およびメモリ４３により、第１の保持手段お
よび第２の保持手段が構成される。

また、ＭＰＵ４２により、演算手段が構成される。

（以下余白） 次に１本実施例の動作について、第７図および第８図を
用いて説明する。

第８図において、光出力設定信号ｅ工は、ＭＰＵ４２に
入力される。光ディスク装着前においては、ＭＰＵ４２
は、コントローラ２４の指令により、光出力設定信号ｅ
１をそのままＤ／Ａ変換器４４に出力する。Ｄ／Ａ変換
器４４は、デジタル信号である光出力設定信号ｅ□をア
ナログ信号に変換し、差動増幅器１４へ出力する。

レーザチップ１ａは、内部光検出器１ｂの出力信号と光
出力設定信号ｅ１が等しくなるように。

差動増幅器１４により駆動される。これによりレーザチ
ップ１ａは、光出力設定信号ｅ□で表わされる光出力で
発光する。

この時、前方光２のうち、ビームスプリッタ４で反射さ
れた光ビームは、全反射ミラー５および対物レンズ６を
経て収束されるが、光ディスクが装着されていないため
、拡散光となって直進し、光ディスク装置内で乱反射ま
たは吸収される。このため、レーザチップ１ａに光ビー
ムは戻らない。

従って、前方光２は、従来技術で述べた光出力の低下な
しに、光出力設定信号ｅ１で表わされる光出力に保たれ
る。

一方、前方光２のうち、ビームスプリッタ４を透過した
光ビーム２２は、光検出器２１に入射し、光電変換され
、電気信号となる。ここで、ビームスプリッタ４は、前
方光２のうち一定の割合だけ透過させるのであるから、
光検出器２１の出力信号は、前方光２の光出力と比例関
係にあり、前方光２の光出力を検知できる。

光ディスク装着前の光検出器２１の出力Ｐ工は、Ａ／Ｄ
変換器４１によりデジタル信号に変換され、ＭＰＵ４２
へ入力される。ＭＰＵ４２は、光検出器２１の出力Ｐ工
をメモリ４３の第１の領域４３ａに格納する。

以上の動作が終了すると、第７図に示すように光ディス
ク７が装着され、対物レンズ６の焦点が記録膜７ａに位
置するように１周知のフォーカシング制御がなされる。

これにより、記録膜７ａで反射された光ビームの一部が
レーザチップ１ａに戻るようになり、前述の第１の実施
例と同様に、前方光２の光出力は、第８図に示した、光
ディスク装着前の状態と比較して低下する。これに応じ
て、光検出器２工の出力も低下する。この時の光検出器
２１の出力をＰ２と表わすと、第７図における前方光２
の光出力は、第８図の状態のＰ、／　Ｐ８倍に低下する
。

光検出器２１の出力Ｐ２は、Ａ／Ｄ変換器４１によりデ
ジタル信号に変換され、ＭＰＵ４２へ入力される。ＭＰ
Ｕ４２は、光検出器２１の出力Ｐ２をメモリ４３の第２
の領域４３ｂに格納する。

ＭＰＵ４２は、光出力設定信号ｅ工、メモリ４３の第１
の領域４３ａに格納された値Ｐ工、および、第２の領域
４３ｂに格納された値Ｐ２をもとに、前述の（１）式で
表わされる演算を行ない、コントローラ２４の指令によ
り、光出力補正信号ｅ２を出力する。光出力補正信号ｅ
２は、Ｄ／Ａ変換器４４でアナログ信号に変換され、差
動増幅器１４に入力される。この結果、前方光２の光出
力は、ｅ２　／　ｅ　１倍、すなわち、（３）式より、
２１７２２倍に増大する。

従って、前方光２の光出力は、光ディスク７を装着する
ことによってｐ　ｚ　／　Ｐ　１倍に低下し、光出力設
定信号ｅ工に代えて光出力補正信号ｅ２を差動増幅器１
４に入力することにより−Ｐｉ／Ｐｇ倍に増大すること
になる。両者の倍率を掛は合わせると、前述の（４）式
のようになり、光ディスク７で反射された光ビームがレ
ーザチップｌａに戻るにもかかわらず、前方光２の光出
力を光出力設定信号ｅ１で設定される一定値に制御でき
る。

なお、光ディスク装着後に光検出器２１の出力Ｐ２をメ
モリ４３の第２の領域４３ｂに格納する動作は、第１の
実施例と同様に、記録膜７ａにおいて凹凸ピットが存在
しない平坦な部分に、光学系１０から光ビームを照射し
て行なえばよい。

また、光ディスク７が装着されたまま電源ＯＦＦされ、
後に１！源がＯＮされ、光ディスク７を交換することな
く記録再生動作を再開する場合は、メモリ４３をスタテ
ィックＲＡＭ等の不揮発性メモリで構成し、電源をＯＦ
Ｆする前に格納された値を、記録再生動作の再開時に用
いるようにすればよい。

または、第１の実施例と同様に、光学系１０からの光ビ
ームを記録膜７ａより外側に照射することにより、レー
ザチップ１ａに光ビームが戻らないようにし、この時の
光検出器２１の出力Ｐ１をメモリ４３の第１の領域４３
ａに格納するようにしてもよい。

さらに、第１の実施例と同様に、再び電源がＯＮされた
後に、デフォーカス状態で光学系１０から光ディスク７
に光ビームを照射し、この時の光検出器２１の出力Ｐ□
を、メモリ４３の第１の領域４３ａに格納するようにし
てもよい。

以上説明したように１本実施例によっても、第１の実施
例と同様な効果が得られる。

本実施例の場合、さらにＭＰＵ４２を用いることで、ス
イッチ等の切り換え手段が不要となり、構成の簡単化が
図れる。

なお、本実施例および以下の他の実施例において、ＭＰ
Ｕ４２は、コントローラ２４を構成するマイクロコンピ
ュータを用いてもよい。また、メモリ４３も同様である
。

次に、本発明による第３の実施例について説明する。

第９図は、第３の実施例の構成を示すブロック図である
。なお、第９図においては、光学系１０は光ディスク７
を取り除いた状態の平面図で示しである。

第９図に示すように、本実施例は、半導体レーザエ、光
学系１０および開動回路を備えて構成されるが、開動回
路の光検出器に代えて光位置検出装置を用いた点を除い
ては、第２実施例と同一である。

光位置検出装置は、光位置検出器５１と、その出力信号
を処理する回路とを有して構成される。

光位置検出器５１は、帯状の受光部を有する光電変換素
子で、中央に共通電極５１ｃ、両端に各々独立の電極５
１ａおよび５１ｂを設けである。

この光位置検出器５１は、光ビームの入射位置に応じて
両端の電極５１ａ、５１ｂに出力される電流が変化する
ものであり、固定体５２に固定されている。これに対し
半導体レーザ１および光学系１０からなる光ヘッド５０
は１図示していない送り機構により光ディスクの半径方
向（矢印Ｒ方向）に駆動される。

処理回路は、減算器５３、加算器５４および割算器５５
を備えている。減算器５３は、光位置検出器５１の一方
の電極５１　ａの電流を工、とし、他方の電極５１ｂの
電流工２としたとき、差（ｉ号（Ｌ−１，）を出力する
。加算器５４は、和信号（Ｉ　ｚ　＋　Ｉ　２　）を出
力する０割算器５５は、（Ｉｔ−Ｉｔ）／（＋、＋Ｌ）
の演算を行なう。

次に、本実施例の動作について、引き続き第９図を用い
て説明する。

半導体レーザ１のレーザチップ１ａを出射した前方光２
のうち、ビームスプリッタ４を透過した光ビーム２２は
、光位置検出器５１に照射される。

この時、光位置検出器５工には、照射された光ビーム２
２の光出力に比例した光電流工。が発生し、この光電流
１．が光ビーム入射位置と電極５１ａ。

５１ｂとの各々の距離に逆比例して分流され、電極５１
ａ、５１ｂに電流Ｉ８，１．とじて出方される。

ここで、第１０図に示すように、光位置検出器５１の中
心と電極５１ａ、５１ｂとの距離を息としく電極間の間
隔は２Ｑと表わされる）、光位置検出器５１の中心に対
する光ビーム入射位置をＸとすると、電極５１ａ、５１
ｂに出力される電流Ｉ４．　Ｉ、は。

ここに、工。＝Ｉ、＋Ｉ、　　・・・・・・・・・（７
）と表わされる。さらに、（５）式、（６）式をまとめ
ると、 となる。

従って、第９図において、減算器５３で差信号（ｒｉ−
工ｚ）を演算し、加算器５４で和信号（工、＋工２）を
演算し、＊算器５５で（８）式の右辺に示されるように
（ｒ　Ｚ　　Ｉ　ｔ　）　／　（Ｉ　、＋　１２　）を
演算することにより、光ビーム２２の入射位置Ｘ、すな
わち、光ヘッド５０のＲ方向の位置が検出できる。

ところで、和信号（Ｉ、＋Ｉ２）は、（７）式より、光
電流１．と等価であり、照射された光ビーム２２の光出
力と比例関係にある。また、光ビーム２２は、前方光２
のうち一定の割合でビームスプリッタ４を透過したもの
であるため、和信号（Ｘｔ＋工、）により、前方光２の
光出力を検出できる。

本実施例は、加算器５４の出方である和信号（工□十エ
バを、Ａ／Ｄ変換器４１へ入力し、コントローラ２４．
ＭＰＵ４２、メモリ４３およびＤ／Ａ変換器４４を、第
２実施例と同様に動作させることによって、前方光２の
補正制御を行なうものである。

すなわち、光ディスク装着前においては、光出力設定信
号ｅ工を、ＭＰＵ４２およびＤ／Ａ変換器４４を介して
、そのまま差動増幅器上４に入力し、半導体レーザ１を
ｅｌで表わされる光出力で発光させ、この時の加算器５
４の出力（工□＋Ｉ、）を、Ａ／Ｄ変換器４１１ＭＰＵ
４２を介してメモリ４３の第１の領域４３ａにＰｌとし
て格納する。

そして、光ディスク装着直後の加算器５４の出力（１１
＋Ｌ）を、メモリ４３の第２領域４３ｂにＰ２として格
納する。

これらの動作が終了すると、ＭＰＵ４２は。

ｐ、、ｐ２をもとに（１）式で表わされる演算を行ない
、光出力補正信号ｅ２を出力し、Ｄ／Ａ変換器４４を介
して差動増幅器１４に入力させる。これにより、前方光
２の光出力を補正制御できる。

以上説明したように１本実施例によれば、第１の実施例
および第２の実施例と同様に、光ディスクからの反射光
が半導体レーザｌに戻るにもかかわらず、前方光２の光
出力を光出力設定信号ｅ。

で設定される所定値に制御できる。また、従来技術で用
いていた整形プリズム、前方光の一部を収束させる収束
レンズが不要となるため、光学系の構成を簡単化できる
。また、前述の第１および第２の実施例で用いた光検出
器２１の機能を光位置検出器５１に兼用させることがで
きるため、構成を簡単にできる。

次に、本発明による第４の実施例について説明する。

第１１図は第４の実施例の構成を示すブロック図であり
、第１２図は第１１図の要部を拡大して示した拡大斜視
図である。

本実施例は、光学系と光位置検出器に相違がある他は、
第３実施例と同様に構成される。

第１１図に示すように、本実施例を適用する光学系は、
全反射ミラー５および対物レンズ６のみが可動光学系６
０として、光ディスクの半径方向（矢印Ｒ方向）に、図
示しない送り機構により送られ、コリメータレンズ３、
ビームスプリッタ４、検出レンズ８および光検出器９は
、固定光学系６１として固定部に半導体レーザ１と共に
固定されている。すなわち、前述の光学系１０を、ビー
ムスプリンタ４と全反射ミラー５との間で可動光学系６
０と固定光学系６１とに分離した分離型光学系にしたも
のであり、それらの各部の機能は同様である。

６２は、可動光学系６０と一体に設けられた遮蔽板であ
り、第１２図に示すように矢印Ｒ方向に対して傾斜した
直線状のスリット６２ａを有している。遮蔽板６２には
、ビームスプリッタ４を透過した光ビーム２２が照射さ
れ、その一部がスリット６２ａにより通過される。

６３は、スリット６２ａを通過した光ビーム２２ａの入
射位置を検出する光位置検出器であり。

その検出ＪＭ理は、前述の第３の実施例で用いた光位置
検出器５１と同様である。ここで光位置検出器６３は、
第１２＠におけるＦ方向の光ビーム２２ａの入射位置を
検出する。

上記以外の構成は、前述の第３の実施例と同様であるの
で、説明は省略する。

次に、本実施例の動作について説明する。第１１図にお
いて、可動光学系６０がＲ方向に移動すると、遮蔽板６
２は、可動光学系６ｏと一体になって動く。そして、こ
の移動に伴い、光位置検出器６３に入射する光ビーム２
２ａのＦ方向の位置が変化する。

この入射位置の変化について、第１３図を用いて説明す
る。

第１３図は、本実施例における位置検出動作を説明する
動作説明図である。

第１３図（ａ）に示すように、ビームスプリッタ４を透
過した光ビーム２２は、遮蔽板６２に照射される。この
うち、スリット６２ａを通過した光ビーム２２ａ（ハツ
チングにより示す）は、光位置検出器６３の受光部６３
ｃに入射する。ここで、受光部６３ｃは、図示のように
Ｆ方向に細長いため、光ビーム２２ａのうち中央部分の
みが受光部６３ｃで検出されることになる６ そこで、可動光学系６０がＲ方向に距離りだけ移動した
とすると、遮蔽板６２も同量移動し、第１３図（ａ）の
状態から同図（ｂ）の状態となる。すなわち、スリット
６２ａを通過した光ビーム２２ａは、Ｆ（−）方向に移
動し、光位置検出器６３の受光部６３ｃへの入射位置も
、図中に示す距離ｄだけ移動する。従って、光ビーム２
２ａの入射位置を光位置検出器６３で検出すれば、可動
光学系６０のＲ方向の位置を検出できる。

光位置検出器６３に対する光ビーム２２ａの入射位置は
、第１１図に示すように、電極６３ａに出力される電流
工、および電極６３ｂに出力される電流工２を、前述の
第３の実施例と同様にして、減算器５３、加算器５４お
よび割算器５５により（８〉式の演算を行なえば、検出
できる。

また、加算器５４の出力である和信号（工、＋Ｉ２）は
、前述の第３の実施例と同様に、前方光２の光出力と比
例関係にある。従って、加算器５４の出力（Ｉｉ＋Ｉり
をＡ／Ｄ変換器４１へ入力し、コントローラ２４、ＭＰ
Ｕ４２、メモリ４３およびＤ／Ａ変換器４４を、第３の
実施例と同様に動作させることにより、光ディスクから
の反射光がレーザチップｌａに戻るにもかかわらず、前
方光２の光出力を光出力設定信号ｅ１で設定される所定
値に制御できる。

以上説明したように本実施例によれば、前述の第３の実
施例と同様の効果がある。また、本実施例によれば、光
学系を可動光学系６０と固定光学系６１に分離した分離
型光学系に対しても、前方光２の補正制御が可能となる
。

以上述べた各実施例では、記録媒体として光ディスクを
示し、特に種類を限定していない。従って、上記各実施
例は、前述したように１種々の形式の記録媒体に適用す
ることができる。例えば。

好ましくは、光磁気ディスク、追記型光ディスク、再生
専用型光ディスクが挙げられる。

上記各実施例によれば、反射率が異なる光ディスクを装
着して、情報の記ａ／再生が安定に行なえるのみならず
１例えば、光磁気ディスクの記録／再生を行なうことが
できる情報記録／再生装置において、他の種類１例えば
、再生専用型ディスクの再生を可能とする。

［発明の効果］ 本発明によれば、光ディスクからの反射光が半導体レー
ザに戻るにもかかわらず、前方光の光出力を所定値に制
御できるため、光ディスクへの記録、再生および消去動
作を安定化することができる。また、記録膜の反射率が
異なる光ディスクに対しても、前方光の光出力を所定値
に制御できるため、光ディスクの互換化を図ることがで
きる。

また、従来用いていた整形プリズム、収束レンズが不要
となるため、本発明を適用する光学系の構成を簡単にで
きる。

さらに、前方光の光出力を検出する光検出器の機能を、
光ディスク半径方向の光ヘッドの位置を検出する光位置
検出器に兼用させることができる。

このようにすれば、構成をより簡単にできる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による第１の実施例の構成を示すブロッ
ク図、第２図および第３図は同実施例の動作を説明する
ためのブロック図、第４図は光ディスクにおけるミラー
部の位置を示す説明図、第５図および第６図は光ディス
クにおけるデータ記録エリアの拡大図、第７図は第２の
実施例の構成を示すブロック図、第８図は同実施例の動
作を説明するためのブロック図、第９図は第３の実施例
の構成を示すブロック図、第１０図は同実施例に用いる
光位置検出器の構成および機能を示す説明図、第１１図
は第４の実施例の構成を示すブロック図、第１２図は同
実施例に用いる光位置検出器および遮蔽板を拡大して示
す拡大斜視図、第１３図は同実施例における位置検出動
作を説明する動作説明図、第１４図は従来の半導体レー
ザ駆動装置の構成を示すブロック図である。 １・・・半導体レーザ、７・・・光ディスク、１０・・
・光学系、２１・・・光検出器、２５・・・第１の保持
回路、２６・・・第２の保持回路、２７・・・演算回路
、４２・・・ＭＰＵ、４３・・・メモリ、５１・・・光
位置検出器。 ５３・・・加算器、６０・・・可動光学系、６１・・・
固定光学系、６２・・・遮蔽板、６２ａ・・・スリット
、６３・・・光位置検出器、ｅｉ・・・光出力設定信号
、ｅ２・・・光出力補正信号。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、前方光および後方光を放射する半導体レーザと、前
   方光を記録媒体に集光照射する光学系と、後方光の光出
   力を検出する内部光検出器と、該内部光検出器の出力が
   所定値となるように前記半導体レーザへの供給電流を制
   御する駆動回路と、を備えた光ヘッド装置において、 前記前方光の一部を受光して光出力を検出する光検出器
   と、前記半導体レーザに戻り光がない状態における前記
   光検出器の出力を保持する第１の保持手段と、前記記録
   媒体からの反射光が前記半導体レーザに戻る状態におけ
   る前記光検出器の出力を保持する第２の保持手段とを設
   けると共に、該第１および第２の保持手段の出力を用い
   て光出力設定信号に対しての補正を行なう演算手段とを
   備えることを特徴とする光ヘッド装置。 ２、前方光および後方光を放射する半導体レーザと、後
   方光の光出力を検出する内部光検出器と、該内部光検出
   器の出力が所定値となるように前記半導体レーザへの供
   給電流を制御する駆動回路と、を備えた半導体レーザ駆
   動装置において、前記前方光の一部を受光して光出力を
   検出する光検出器と、前記半導体レーザに戻り光がない
   状態における前記光検出器の出力を保持する第１の保持
   手段と、前記記録媒体からの反射光が前記半導体レーザ
   に戻る状態における前記光検出器の出力を保持する第２
   の保持手段とを設けると共に、該第１および第２の保持
   手段の出力を用いて光出力設定信号に対しての補正を行
   なう演算手段とを備えることを特徴とする半導体レーザ
   駆動装置。 ３、前記第１の保持手段は、前記光検出器の出力を保持
   する動作を、前記記録媒体が装着される前に行なうこと
   を特徴とする請求項１記載の光ヘッド装置、または、請
   求項２記載の半導体レーザ駆動装置。 ４、前記第１の保持手段は、前記光検出器の出力を保持
   する動作を、前記光学系からの光ビームを前記記録媒体
   の記録膜が存在しない箇所に照射しているときに行なう
   ことを特徴とする請求項１記載の光ヘッド装置、または
   、請求項２記載の半導体レーザ駆動装置。 ５、前記第１の保持手段は、前記光検出器の出力を保持
   する動作を、前記光学系から前記記録媒体に照射する光
   ビームをデフォーカス状態にして行なうことを特徴とす
   る請求項１記載の光ヘッド装置、または、請求項２記載
   の半導体レーザ駆動装置。 ６、前記第１の保持手段を、記憶要素として、電源が切
   断されても記憶内容を保持し続ける不揮発性メモリを用
   いて構成したことを特徴とする請求項１、３、４もしく
   は５記載の光ヘッド装置、または、請求項２、３、４も
   しくは５記載の半導体レーザ駆動装置。 ７、前記第２の保持手段は、前記光検出器の出力を保持
   する動作を、前記光学系からの光ビームが前記記録媒体
   のミラー部に照射されたときに、行なうことを特徴とす
   る請求項１、３、４、５もしくは６記載の光ヘッド装置
   、または、請求項２、３、４、５もしくは６記載の半導
   体レーザ駆動装置。 ８、前記演算手段は、前記第１および第２の保持手段の
   出力Ｐ＿１、Ｐ＿２と、前記前方光の光出力を設定する
   ための光出力設定信号ｅ＿１とが入力されることにより
   、 ｅ＿２＝ｅ＿１・Ｐ＿１／Ｐ＿２ で表わされる光出力補正信号ｅ＿２を演算する機能を有
   するものであ一る請求項１、３、４、５、６もしくは７
   記載の光ヘッド装置、または、請求項２、３、４、５、
   ６もしくは７記載の半導体レーザ駆動装置。 ９、前記光検出器に代えて、前記前方光の一部を受光し
   て前記光学系の光ディスク半径方向の位置を検出する光
   位置検出装置を用い、該光位置検出装置により前記前方
   光の光出力を検出することを特徴とする請求項１、３、
   ４、６、７もしくは８記載の光ヘッド装置、または、請
   求項２、３、４、５、６、７もしくは８記載の半導体レ
   ーザ駆動装置。 １０、前方光および後方光を放射する半導体レーザと、
   前方光を記録媒体に照射する光学系と、前記後方光を検
   出して、その検出値に基づいてレーザ出力を所定値に制
   御する駆動回路とを備える光ヘッド装置において、 前記半導体レーザに、戻り光が実質的には入射していな
   い状態と、入射している状態とについて、各々前方光の
   光出力を検出する手段と、前記検出手段によって検出さ
   れた前記両状態についての検出値を用いて、光出力設定
   値に対する補正値を求める手段とを備え、前記補正値を
   用いてレーザ出力を制御することを特徴とする光ヘッド
   装置。