JPH0388258U - - Google Patents

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JPH0388258U
JPH0388258U JP14903989U JP14903989U JPH0388258U JP H0388258 U JPH0388258 U JP H0388258U JP 14903989 U JP14903989 U JP 14903989U JP 14903989 U JP14903989 U JP 14903989U JP H0388258 U JPH0388258 U JP H0388258U
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ion mass
chamber
sample surface
ion
secondary ion
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JP14903989U
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の実施例1を示す概略図、第2
図は本考案の実施例2を示す概略図である。 1……二次イオン質量分析用主イオン源、2…
…試料表面クリーニング用イオン源、3……試料
、4……測定用チヤンバー、5……予備排気室、
6……質量分析器、7……二次イオン検出器、8
……クリーニング用チヤンバー。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 予備排気室に通して測定用チヤンバー内に
    搬入された試料に二次イオン質量分析用主イオン
    源によるイオン照射を行い、二次イオン質量分析
    を行う二次イオン質量分析装置であつて、 試料表面をクリーニングするイオン照射を行う
    試料表面クリーニング用イオン源を有し、 該試料表面クリーニング用イオン源を前記測定
    用チヤンバー内に装備したことを特徴とする二次
    イオン質量分析装置。 (2) 予備排気室に通して測定用チヤンバー内に
    搬入された試料に二次イオン質量分析用主イオン
    源によるイオン照射を行い、二次イオン質量分析
    を行う二次イオン質量分析装置であつて、 前記予備排気室と前記測定用チヤンバー間に設
    けられ、予備排気室よりの試料を測定用チヤンバ
    ー内に向けて通過させるクリーニング用チヤンバ
    ーと、 試料表面をクリーニングするイオン照射を行う
    試料表面クリーニング用イオン源とを有し、 前記試料表面クリーニング用イオン源を前記ク
    リーニング用チヤンバー内に装備したことを特徴
    とする二次イオン質量分析装置。
JP14903989U 1989-12-25 1989-12-25 Pending JPH0388258U (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101496908B1 (ko) * 2013-10-02 2015-03-02 주식회사 필룩스 다기능 의류

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