JPH038796A - ダイヤモンドの作製方法 - Google Patents
ダイヤモンドの作製方法Info
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- JPH038796A JPH038796A JP14355589A JP14355589A JPH038796A JP H038796 A JPH038796 A JP H038796A JP 14355589 A JP14355589 A JP 14355589A JP 14355589 A JP14355589 A JP 14355589A JP H038796 A JPH038796 A JP H038796A
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- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「発明の利用分野」、
本発明は、大面積の基板上にダイヤモンドを均一な厚さ
に形成し、可視光発光装置その他の電子装置を製造する
ためのダイヤモンドの作製方法に関するものである。
に形成し、可視光発光装置その他の電子装置を製造する
ためのダイヤモンドの作製方法に関するものである。
「従来の技術」
ダイヤモンドを有磁場マイクロ波プラズマ気相反応で形
成する方法は、これまで多く試みられている。しかし特
にその応用として、発光素子を考慮し、成長速度を大き
くし、ダイヤモンド中にグラファイト成分をきわめて少
なくした例は知られていない。
成する方法は、これまで多く試みられている。しかし特
にその応用として、発光素子を考慮し、成長速度を大き
くし、ダイヤモンド中にグラファイト成分をきわめて少
なくした例は知られていない。
即ち、これまではCH、+ 112系、COまたはCO
2+)+2系またはこれらを組み合わせた方法が知られ
ている。
2+)+2系またはこれらを組み合わせた方法が知られ
ている。
しかし、このダイヤモンドを用いて発光素子とするため
に大面積かつ均一な良質のダイヤモンドを膜状に基板上
に安定に、かつ高い歩留まりで作る方法はこれまでまっ
たく示されていない。
に大面積かつ均一な良質のダイヤモンドを膜状に基板上
に安定に、かつ高い歩留まりで作る方法はこれまでまっ
たく示されていない。
「従来の欠点」
電子装置の応用として、ダイヤモンドを用いんとするた
めには、大面積に均一な厚さを有しかつ均質なダイヤモ
ンドが形成されることが必要な条件である。
めには、大面積に均一な厚さを有しかつ均質なダイヤモ
ンドが形成されることが必要な条件である。
従来公知の方法としては、有磁場マイクロ波CvD装置
を用いる方法において、メタンと水素との混合気体を用
いているため、酸素の添加を行うことができない。C)
1./l+2= 1〜5体積%、反応圧力5〜20to
rr、マイクロ波出力1〜5KWと磁場強さ2KGをを
せしめていた。しかし、その成膜速度は、1μm715
時間(667人/時間相当)ときわめて遅い。またダイ
ヤモンドの自形面(ダイヤモンド結晶が顕微鏡で観察で
きる面)が観察でき、かつ厚さの均一性が±10%でダ
イヤモンドが成長できる範囲が3cmφ程度であった。
を用いる方法において、メタンと水素との混合気体を用
いているため、酸素の添加を行うことができない。C)
1./l+2= 1〜5体積%、反応圧力5〜20to
rr、マイクロ波出力1〜5KWと磁場強さ2KGをを
せしめていた。しかし、その成膜速度は、1μm715
時間(667人/時間相当)ときわめて遅い。またダイ
ヤモンドの自形面(ダイヤモンド結晶が顕微鏡で観察で
きる面)が観察でき、かつ厚さの均一性が±10%でダ
イヤモンドが成長できる範囲が3cmφ程度であった。
他方、CO/)1.を用いる方法が知られている。
これはCO/)I2= 1〜5体積%、圧力は0.1〜
1torrであるが、成膜速度は1μm作るのにマイク
ロ波の出力3〜5KWを加えてもやはり10時間以上を
必要としていた。膜厚の均一性が±10%の範囲で得ら
れる成膜領域の大きさは5cmφ程度である。さらに他
の欠点として、このCOガスを用いると、反応容器の内
壁の一部がエツチングされ、このダイヤモンド中に反応
容器構成物の鉄分が混入してしまう。さらにマイクロ波
の導入窓にステンレス成分が付着し、マイクロ波の導入
が不可能になり、装置の破壊に繋がる。
1torrであるが、成膜速度は1μm作るのにマイク
ロ波の出力3〜5KWを加えてもやはり10時間以上を
必要としていた。膜厚の均一性が±10%の範囲で得ら
れる成膜領域の大きさは5cmφ程度である。さらに他
の欠点として、このCOガスを用いると、反応容器の内
壁の一部がエツチングされ、このダイヤモンド中に反応
容器構成物の鉄分が混入してしまう。さらにマイクロ波
の導入窓にステンレス成分が付着し、マイクロ波の導入
が不可能になり、装置の破壊に繋がる。
「発明の目的」
本発明は、かかる欠点を除去するために成されたもので
ある。即ち、有磁場マイクロ波CVD法を用い、大面積
に高い成膜速度でダイヤモンド膜を形成させたものであ
る。そしてこのダイヤモンドを用い、ショットキ接合、
PN接合またはPIN接合を作り、効率よく電荷をダイ
ヤモンド内に注入し、再結合を発光中心間、バンド(価
電子帯−価電子帯間)間または発光中心−バンド(伝導
帯または価電子帯)間で行う発光装置への応用が大いに
期待できる。
ある。即ち、有磁場マイクロ波CVD法を用い、大面積
に高い成膜速度でダイヤモンド膜を形成させたものであ
る。そしてこのダイヤモンドを用い、ショットキ接合、
PN接合またはPIN接合を作り、効率よく電荷をダイ
ヤモンド内に注入し、再結合を発光中心間、バンド(価
電子帯−価電子帯間)間または発光中心−バンド(伝導
帯または価電子帯)間で行う発光装置への応用が大いに
期待できる。
「発明の構成」
本発明は、有磁場マイクロ波CVD法を用いてダイヤモ
ンド膜を形成せんとするものである。
ンド膜を形成せんとするものである。
反応気体としてC−0f!基を有する気体を用いた。
代表的にはアルコール、特にメチルアルコール(CII
sOtl) 、エチルアルコール(C2ISO11)を
水素に対し40〜200体積%(100体積χにすると
CHa011/1b=1/1となる)の程度に加えた混
合気体を用いた。
sOtl) 、エチルアルコール(C2ISO11)を
水素に対し40〜200体積%(100体積χにすると
CHa011/1b=1/1となる)の程度に加えた混
合気体を用いた。
反応圧力は均一性を向上させるため、0.03〜3 t
orr、代表的には0.1〜1 torrとした。
orr、代表的には0.1〜1 torrとした。
本発明はこの炭素化物気体の水素に対する割合がきわめ
て大きく、かつプラズマを発光させる圧力が比較的低い
ことが特長である。
て大きく、かつプラズマを発光させる圧力が比較的低い
ことが特長である。
さらにこの自形面は200°Cであっても、部分適に観
察された。300°Cでは前面にわたって観察され、か
かる低い温度でのダイヤモンドの形成はこれまでまった
く知られていない。
察された。300°Cでは前面にわたって観察され、か
かる低い温度でのダイヤモンドの形成はこれまでまった
く知られていない。
またマイクロ波の出力は2〜l0KWを導入し、磁場は
875Gの共鳴面を有すべく、最大2.2KGが印加で
きるようにした。共鳴面またはその近傍に配設された基
板の温度は200〜1000°Cであり、代表的には3
00〜900°Cでダイヤモンドの自形面を有せしめる
ことができた。
875Gの共鳴面を有すべく、最大2.2KGが印加で
きるようにした。共鳴面またはその近傍に配設された基
板の温度は200〜1000°Cであり、代表的には3
00〜900°Cでダイヤモンドの自形面を有せしめる
ことができた。
さらにP型のダイヤモンドとするため、これに加えて(
CH3)3BをC−011化合物に対し0.1〜5体積
%添加することを他の特長としている。
CH3)3BをC−011化合物に対し0.1〜5体積
%添加することを他の特長としている。
本発明を用いてダイヤモンドの発光素子を作製する際に
は、青色発光をより有効に発生させるため、このダイヤ
モンド中に■b族の不純物を添加物として加えた。即ち
、S(イオウ)、Se(セレン)、Te(テルル)より
選ばれた元素を添加した。また、ダイヤモンド合成には
、メタノール(CIIzOH)等のC−OH化合物を用
いた。具体的には1IzS、HzSe、 HzTe、
(Ctl a) 2SI (c)l:l) zSe、
(CII3) 2Teをダイヤモンド成膜中にアルコー
ル気体に対して0.1〜5体積%添加してS、 Se、
Teを気体中に加えた。
は、青色発光をより有効に発生させるため、このダイヤ
モンド中に■b族の不純物を添加物として加えた。即ち
、S(イオウ)、Se(セレン)、Te(テルル)より
選ばれた元素を添加した。また、ダイヤモンド合成には
、メタノール(CIIzOH)等のC−OH化合物を用
いた。具体的には1IzS、HzSe、 HzTe、
(Ctl a) 2SI (c)l:l) zSe、
(CII3) 2Teをダイヤモンド成膜中にアルコー
ル気体に対して0.1〜5体積%添加してS、 Se、
Teを気体中に加えた。
本発明の応用として、可視光発光装置があげられる。こ
れは半導体または導体等の基板上または絶縁物表面を有
する基板上に、ダイヤモンドを形成する。この上に1つ
または複数の電極を設ける。1つの電極の場合は基板を
導体とし、この基板と電極との間にパルスまたは直流、
交流電流を流すことにより可視光を発生させる。
れは半導体または導体等の基板上または絶縁物表面を有
する基板上に、ダイヤモンドを形成する。この上に1つ
または複数の電極を設ける。1つの電極の場合は基板を
導体とし、この基板と電極との間にパルスまたは直流、
交流電流を流すことにより可視光を発生させる。
また複数の電極を形成する場合は、絶縁表面を有する基
板上にダイヤモンドを設けて、その上の複数の電極間に
同様の電流を流して電子装置、例えば可視光発光装置を
設けたものである。
板上にダイヤモンドを設けて、その上の複数の電極間に
同様の電流を流して電子装置、例えば可視光発光装置を
設けたものである。
これらの結果、ダイヤモンド中を電流が流れて、バンド
間遷移、バンド−再結合中心または発光中心間の遷移、
または再結合中心同士または発光中心同土間での遷移に
よるキャリアの再結合が起き、その再結合のエネルギバ
ンド間隔(ギャップ)に従って可視光発光をなさしめん
としたものである。特にその可視光は、この遷移バンド
間に従って青色、緑を出すことができる。さらに複数の
バンド間の再結合中心のエネルギレベルを作ることによ
り、白色光等の連続光をも作ることが可能である。
間遷移、バンド−再結合中心または発光中心間の遷移、
または再結合中心同士または発光中心同土間での遷移に
よるキャリアの再結合が起き、その再結合のエネルギバ
ンド間隔(ギャップ)に従って可視光発光をなさしめん
としたものである。特にその可視光は、この遷移バンド
間に従って青色、緑を出すことができる。さらに複数の
バンド間の再結合中心のエネルギレベルを作ることによ
り、白色光等の連続光をも作ることが可能である。
以下に本発明を実施例に従って記す。
「実施例」
本発明において、ダイヤモンドはシリコン半導体または
金属導体等の基体上に第1図に示す有磁場マイクロ波C
VO装置を用いて作製した。
金属導体等の基体上に第1図に示す有磁場マイクロ波C
VO装置を用いて作製した。
その概要を以下に示す。
P型に高濃度に添加された半導体基板を、ダイヤモンド
粒を混合したアルコールを用いた混合液中に浸し、超音
波を1分〜1時間加えた。
粒を混合したアルコールを用いた混合液中に浸し、超音
波を1分〜1時間加えた。
するとこの半導体基板上に微小な損傷を多数形成させる
ことができる。この損傷は、その後のダイヤモンド形成
用の核となり、この核よりダイヤモンドが成長してゆく
。この基板(1)を有磁場マイクロ波プラズマCVD装
置(以下単にプラズマCVD装置ともいう)内に配設し
た。このプラズマCVD装置は、2.45GHzの周波
数のマイクロ波エネルギを最大10KWまでマイクロ波
発振器(18) 、アテニュエイタ(16)、石英窓(
15)より反応室(19)に加えることができる。また
磁場(17)、(17’)でヘルムホルツコイルを用い
、875ガウスの共鳴面を基板またはその近傍に構成せ
しめるため2に一以上、最大2.2KGにまで加えた。
ことができる。この損傷は、その後のダイヤモンド形成
用の核となり、この核よりダイヤモンドが成長してゆく
。この基板(1)を有磁場マイクロ波プラズマCVD装
置(以下単にプラズマCVD装置ともいう)内に配設し
た。このプラズマCVD装置は、2.45GHzの周波
数のマイクロ波エネルギを最大10KWまでマイクロ波
発振器(18) 、アテニュエイタ(16)、石英窓(
15)より反応室(19)に加えることができる。また
磁場(17)、(17’)でヘルムホルツコイルを用い
、875ガウスの共鳴面を基板またはその近傍に構成せ
しめるため2に一以上、最大2.2KGにまで加えた。
この反応室(19)内部の基板(1)をホルダ(13)
に基板おさえ(14)で配設させた。また基板位置移動
機構(12)で反応炉内での位置を調節した。
に基板おさえ(14)で配設させた。また基板位置移動
機構(12)で反応炉内での位置を調節した。
さらに10−”〜10− torrまで広域ターボ真空
ポンプを用いて真空引きをした。この後これらに対し、
メチルアルコール(CII30B)またはエチルアルコ
ール(C2H8OH)等のアルコール(22)を水素(
21)で40〜200体積χに希釈して導入した。例え
ば水素11005CC,C)130870SCCMとし
た。珪素基板は4インチウェハを用いた。この反応室の
寸法は直径170mであり、4ブンウエハを設置した際
のサンプルホルダーと反応室との間のすきまは15mm
程度で効率よくマイクロ波出力を基板上に導くことがで
きた。
ポンプを用いて真空引きをした。この後これらに対し、
メチルアルコール(CII30B)またはエチルアルコ
ール(C2H8OH)等のアルコール(22)を水素(
21)で40〜200体積χに希釈して導入した。例え
ば水素11005CC,C)130870SCCMとし
た。珪素基板は4インチウェハを用いた。この反応室の
寸法は直径170mであり、4ブンウエハを設置した際
のサンプルホルダーと反応室との間のすきまは15mm
程度で効率よくマイクロ波出力を基板上に導くことがで
きた。
必要に応じ、P型不純物としてトリメチルボロン(B
(CH3) 3)を系(23)よりB(Cfl+) a
/Ctl+011 =0.5〜3χ導入し、ダイヤモン
ドをP型化した。
(CH3) 3)を系(23)よりB(Cfl+) a
/Ctl+011 =0.5〜3χ導入し、ダイヤモン
ドをP型化した。
ドーパントとしてS、Se、Teを添加する場合、系(
24)より、例えば01zSまたは(CH3) zs)
/C1hOH=0.1〜3χ添加した。圧力は、0.0
3〜3 torr例えば0 、26 torrとした。
24)より、例えば01zSまたは(CH3) zs)
/C1hOH=0.1〜3χ添加した。圧力は、0.0
3〜3 torr例えば0 、26 torrとした。
2.2KG(キロガウス)の磁場を加え、基板の位置ま
たはその近傍が875ガウスとなるようにした。マイク
ロ波は2.45GHzの周波数を用い、2〜l0KW、
例えば4KWを加え、このマイクロ波の電磁エネルギで
基板の温度を200〜1000°C1例えば800°C
とした。
たはその近傍が875ガウスとなるようにした。マイク
ロ波は2.45GHzの周波数を用い、2〜l0KW、
例えば4KWを加え、このマイクロ波の電磁エネルギで
基板の温度を200〜1000°C1例えば800°C
とした。
するとこのマイクロ波エネルギで分解されプラズマ化し
たアルコール中の炭素は、基板上に成長して、単結晶の
ダイヤモンド(ダイヤモンドの自形面を有する)を成長
させることができる。同時にこのダイヤモンド以外にグ
ラファイト成分も形成されやすいが、これはOH基と反
応して、炭酸ガスまたはメタンガスとして再気化し、結
果として結晶化した炭素即ちダイヤモンドを0.5〜5
μm例えば平均厚さ1.3 μm(成膜時間2時間)の
従来公知の方法に比べて10〜30倍の速度で成長をさ
せることができた。
たアルコール中の炭素は、基板上に成長して、単結晶の
ダイヤモンド(ダイヤモンドの自形面を有する)を成長
させることができる。同時にこのダイヤモンド以外にグ
ラファイト成分も形成されやすいが、これはOH基と反
応して、炭酸ガスまたはメタンガスとして再気化し、結
果として結晶化した炭素即ちダイヤモンドを0.5〜5
μm例えば平均厚さ1.3 μm(成膜時間2時間)の
従来公知の方法に比べて10〜30倍の速度で成長をさ
せることができた。
その成膜したダイヤモンド成分、結晶性をレーザラマン
分光で調べたところ、第2図に示す如< 1336cm
−’の波数の位置にするどいピークが観察され、グラフ
ァイト成分の1490cm−’の波数はほとんど検出さ
れなかった。メタンと水素とを用いる方法では、グラフ
ァイトの存在によって、ピークとされる1490cm−
’の波数のブロードなピークが大きすぎて、1336c
m−’のピークが隠れてしまう。またCOと水素とを用
いる方法でも、第2図に示した如ききれいなピークが観
察されない。これらのことを考えると、きわめて高品質
な(SP3結合のみという)ダイヤモンドを初めて形成
させ得ることがわかった。また4インチウェハ全体の膜
厚も平均±10%に入り、特に均一性に優れたものであ
った。
分光で調べたところ、第2図に示す如< 1336cm
−’の波数の位置にするどいピークが観察され、グラフ
ァイト成分の1490cm−’の波数はほとんど検出さ
れなかった。メタンと水素とを用いる方法では、グラフ
ァイトの存在によって、ピークとされる1490cm−
’の波数のブロードなピークが大きすぎて、1336c
m−’のピークが隠れてしまう。またCOと水素とを用
いる方法でも、第2図に示した如ききれいなピークが観
察されない。これらのことを考えると、きわめて高品質
な(SP3結合のみという)ダイヤモンドを初めて形成
させ得ることがわかった。また4インチウェハ全体の膜
厚も平均±10%に入り、特に均一性に優れたものであ
った。
加えて成膜スピードが1時間あたり0.5μm以下を有
し、GO+tb、CH30H/、C114+(COまた
はCO□)+H2といった気体を用いた場合に比べ、1
0〜30倍の成長スピードを有していた。またCO+l
I□等で観察される鉄分またはステンレス成分が不純物
として混入していることもオージェ分光ではまったく観
察されなかった。
し、GO+tb、CH30H/、C114+(COまた
はCO□)+H2といった気体を用いた場合に比べ、1
0〜30倍の成長スピードを有していた。またCO+l
I□等で観察される鉄分またはステンレス成分が不純物
として混入していることもオージェ分光ではまったく観
察されなかった。
本実施例において、ダイヤモンドの成膜条件を種々に変
化させた場合に得られたダイヤモンド膜の自形面の様子
を以下の表にまとめる。この際使用した気体はメタノー
ル水素であった。
化させた場合に得られたダイヤモンド膜の自形面の様子
を以下の表にまとめる。この際使用した気体はメタノー
ル水素であった。
又、加えたマイクロ波電力は2に別とした。
表 1
上記の表において自形面の様子にて、○印また◎印のも
のは成長された膜をSEM写真でその結晶構造を観察し
たところ四角形、三角形等、角ばったダイヤモンドの自
形面が得られたもので×印は自形面が得られなかった。
のは成長された膜をSEM写真でその結晶構造を観察し
たところ四角形、三角形等、角ばったダイヤモンドの自
形面が得られたもので×印は自形面が得られなかった。
またO印は4インチの成膜面に対し、部分的に自形面を
有するダイヤモンドが得られたものであり、◎印はほぼ
前面に渡ってダイヤモンドの自形面が得られたものであ
ります。
有するダイヤモンドが得られたものであり、◎印はほぼ
前面に渡ってダイヤモンドの自形面が得られたものであ
ります。
その−例として、Nα1のサンプルのダイヤモンドの結
晶構造を示す写真を第4図に示す。
晶構造を示す写真を第4図に示す。
このように、膜全体にわたってきれいな自形面を持つダ
イヤモンド膜であった。
イヤモンド膜であった。
このサンプルのXRDのスペクトルを第5図に示す。
「応用例」
第3図は前述の実施例に示した本発明方法を用いてダイ
ヤモンド発光装置を作った1例である。 即ち、第3図
に示す如く、P型シリコン基板(1)上にポロンの原料
気体として、B(CH*)zを用いその割合はB(C8
:+)z/CIt30H= 3体積%とし、CH30H
/)1! = 80体積%として第1のダイヤモンド(
2)を1.3μmの厚さに形成している。基板は4イン
チウェハである。
ヤモンド発光装置を作った1例である。 即ち、第3図
に示す如く、P型シリコン基板(1)上にポロンの原料
気体として、B(CH*)zを用いその割合はB(C8
:+)z/CIt30H= 3体積%とし、CH30H
/)1! = 80体積%として第1のダイヤモンド(
2)を1.3μmの厚さに形成している。基板は4イン
チウェハである。
その上に第3図(B)に示す如く、損傷層(10)をダ
イヤモンドパウダを機械的に損傷させて形成した。さら
にその上に、第2のダイヤモンド(3)を(CHz)z
s/CI(30tl = 3体積%、CH301/Hz
=70体積%として0.5 μmの厚さに形成した。
イヤモンドパウダを機械的に損傷させて形成した。さら
にその上に、第2のダイヤモンド(3)を(CHz)z
s/CI(30tl = 3体積%、CH301/Hz
=70体積%として0.5 μmの厚さに形成した。
この上側に電極部材(4) 、 (5)を真空蒸着法、
スパッタ法で形成した。この電極としては透光性のIT
O(酸化インジューム・スズ)とその上にアルミニウム
、銀、クロム、モリブデン等の金属を多層に形成した。
スパッタ法で形成した。この電極としては透光性のIT
O(酸化インジューム・スズ)とその上にアルミニウム
、銀、クロム、モリブデン等の金属を多層に形成した。
この電極は青色発光の大きさが1mm X fmである
とすると、その中に電極(4)を0.6mm Xo。
とすると、その中に電極(4)を0.6mm Xo。
6mm 、アルミニウムを0.15mmφの大きさに形
成した。スクライブライン巾を100 amとした。
成した。スクライブライン巾を100 amとした。
すると4インチウェハでは周辺部の4mmを除去し、5
000ケの発光素子を1枚のウェハから作ることができ
る。
000ケの発光素子を1枚のウェハから作ることができ
る。
二の第3図(C)の構造において、一対をなす電極即ち
基板(1)と透光性電極(4)、外部連続用電極(5)
との間に10〜200v(直流〜100flzデューイ
比1)例えば60Vの電圧で印加した。するとこのダイ
ヤモンドの部分に電流を流した後、ここから可視光発光
特に青色の発光をさせることが可能となった。最大発光
強度として、16カンデラ/112を有していた。
基板(1)と透光性電極(4)、外部連続用電極(5)
との間に10〜200v(直流〜100flzデューイ
比1)例えば60Vの電圧で印加した。するとこのダイ
ヤモンドの部分に電流を流した後、ここから可視光発光
特に青色の発光をさせることが可能となった。最大発光
強度として、16カンデラ/112を有していた。
発光強度5力ンデラ以上/ m tを良品とすると、8
5%以上を良品として出すことができた。チップ化する
スクライブブレイクは、基板の裏側面より行った。
5%以上を良品として出すことができた。チップ化する
スクライブブレイクは、基板の裏側面より行った。
「効果」
これまで、4インチもの大面積に均一でかつ均質なダイ
ヤモンドを膜状に作ることは不可能であったことを考え
ると、その工業的応用である電子装置を多量に作ること
ができる、゛生産スピードも膜形成スピードが大である
ことより、大きくすることができる等の多くの特長を有
する。
ヤモンドを膜状に作ることは不可能であったことを考え
ると、その工業的応用である電子装置を多量に作ること
ができる、゛生産スピードも膜形成スピードが大である
ことより、大きくすることができる等の多くの特長を有
する。
本発明の応用としては1つの発光素子を作る場合を主と
して示した。しかし同一基板上に複数のダイヤモンドを
用いた電子装置を作り、電極を形成した後適当な大きさ
にスクライブ、ブレイクをし、1つづつ単体または集積
化した電子装置とすることは有効である。さらにかかる
電子装置の一部を発光装置とし、同じダイヤモンドを用
いてまたこの上または下側のシリコン半導体を用いてダ
イオード、トランジスタ、抵抗、コンデンサを一体化し
て作り、複合化した集積化電子装置を構成せしめること
は有効である。
して示した。しかし同一基板上に複数のダイヤモンドを
用いた電子装置を作り、電極を形成した後適当な大きさ
にスクライブ、ブレイクをし、1つづつ単体または集積
化した電子装置とすることは有効である。さらにかかる
電子装置の一部を発光装置とし、同じダイヤモンドを用
いてまたこの上または下側のシリコン半導体を用いてダ
イオード、トランジスタ、抵抗、コンデンサを一体化し
て作り、複合化した集積化電子装置を構成せしめること
は有効である。
本発明において、ダイヤモンドを作るためにC−OH結
合を有せしめることが有効であり、CH3011CJs
O11のみでなく、その変形としてC6(0)1) b
。
合を有せしめることが有効であり、CH3011CJs
O11のみでなく、その変形としてC6(0)1) b
。
CJ*(OH)s等のC=C結合とC−OH結合とを有
するベンゼン環をもっているもの、またCToollと
CtHaとの混合気体、即ちC=C結合とC−011結
合とを有する気体を混合して用い、これらと水素とを混
合して用いてもよい。するとさらに成膜速度を2〜5倍
とすることができる。しかし使用気体の価格が高価にな
るという欠点を有する。
するベンゼン環をもっているもの、またCToollと
CtHaとの混合気体、即ちC=C結合とC−011結
合とを有する気体を混合して用い、これらと水素とを混
合して用いてもよい。するとさらに成膜速度を2〜5倍
とすることができる。しかし使用気体の価格が高価にな
るという欠点を有する。
本発明において、C−OH結合を有することはきわめて
実験的には重要であった。即ち、従来公知のCH4とC
OまたはCO□とを混合し、さらにそれと水素を混合し
た場合、見掛は上C50,■を有しあたかもC−0■結
合があるようにみえる。しかしプラズマ中ではこのよう
にしていれるとそれぞれのC,0,Hが原子単体として
存在しやすく、011、C−OH基としては存在しに(
いらしい。そのため、0のエツチング効果がきわめて敏
感かつ強く作用し、やはり成膜されたダイヤモンド中に
鉄分が入ってしまう。本発明は、ダイヤモンド結晶の自
形面を作る成膜時間が従来の方法に比べてきわめて小さ
く、量産性が大変価れている。本発明方法においては、
プラズマ中で00基またはH!0のラジカルが生まれて
おり、反応容器をエツチングするほどは強くなく、かつ
グラファイト成分をエツチング除去するのには最適であ
るためかもしれない。
実験的には重要であった。即ち、従来公知のCH4とC
OまたはCO□とを混合し、さらにそれと水素を混合し
た場合、見掛は上C50,■を有しあたかもC−0■結
合があるようにみえる。しかしプラズマ中ではこのよう
にしていれるとそれぞれのC,0,Hが原子単体として
存在しやすく、011、C−OH基としては存在しに(
いらしい。そのため、0のエツチング効果がきわめて敏
感かつ強く作用し、やはり成膜されたダイヤモンド中に
鉄分が入ってしまう。本発明は、ダイヤモンド結晶の自
形面を作る成膜時間が従来の方法に比べてきわめて小さ
く、量産性が大変価れている。本発明方法においては、
プラズマ中で00基またはH!0のラジカルが生まれて
おり、反応容器をエツチングするほどは強くなく、かつ
グラファイト成分をエツチング除去するのには最適であ
るためかもしれない。
第1図は本発明のダイヤモンドを形成するための有磁場
マイクロ波装置の1例を示す。 第2図は本発明により作られるダイヤモンドのレーザラ
マン分光データを示す。 第3図は本発明方法を用いたダイヤモンド発光素子の作
製工程およびその縦断面図を示す。 第4図は本発明で得られるダイヤモンドの結晶構造を示
す。 第5図は本発明で得られるダイヤモンドのXRDのチャ
ートを示す。 1・・・基板 17.17″ ・・・外部磁界 18・・・マイクロ波電源 19・・・反応室 第 1 図
マイクロ波装置の1例を示す。 第2図は本発明により作られるダイヤモンドのレーザラ
マン分光データを示す。 第3図は本発明方法を用いたダイヤモンド発光素子の作
製工程およびその縦断面図を示す。 第4図は本発明で得られるダイヤモンドの結晶構造を示
す。 第5図は本発明で得られるダイヤモンドのXRDのチャ
ートを示す。 1・・・基板 17.17″ ・・・外部磁界 18・・・マイクロ波電源 19・・・反応室 第 1 図
Claims (1)
- 1、反応室にマイクロ波エネルギを供給する手段と前記
反応室に外側より磁場を供給する手段とにより共鳴領域
を前記反応室に有せしめ、前記反応室にC−OH基を有
する炭化物気体と水素とをC−OH基を有する気体/水
素=40〜200体積%で混入し、かつ反応圧力0.0
3〜3torr、基板温度は200〜1000℃、マイ
クロ波を2KW以上の出力で供給して、基板上にダイヤ
モンドを形成することを特徴とするダイヤモンドの作製
方法。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14355589A JP2761756B2 (ja) | 1989-06-05 | 1989-06-05 | ダイヤモンドの作製方法 |
US07/523,408 US5106452A (en) | 1989-06-05 | 1990-05-15 | Method of depositing diamond and diamond light emitting device |
EP90305919A EP0402039B1 (en) | 1989-06-05 | 1990-05-31 | Method of depositing diamond and diamond light emitting device |
DE69024705T DE69024705T2 (de) | 1989-06-05 | 1990-05-31 | Verfahren zur Ablagerung von Diamant und Vorrichtung aus Diamant zur Lichtemission |
US08/322,379 US5500539A (en) | 1989-06-05 | 1994-10-13 | Method of depositing diamond and diamond light emitting device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14355589A JP2761756B2 (ja) | 1989-06-05 | 1989-06-05 | ダイヤモンドの作製方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH038796A true JPH038796A (ja) | 1991-01-16 |
JP2761756B2 JP2761756B2 (ja) | 1998-06-04 |
Family
ID=15341466
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14355589A Expired - Fee Related JP2761756B2 (ja) | 1989-06-05 | 1989-06-05 | ダイヤモンドの作製方法 |
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Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2761756B2 (ja) |
-
1989
- 1989-06-05 JP JP14355589A patent/JP2761756B2/ja not_active Expired - Fee Related
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---|---|
JP2761756B2 (ja) | 1998-06-04 |
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