JPH0377738B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、反転回復法のパルスシーケンスによ
り断層撮像を行う核磁気共鳴断層撮像装置の画像
の位相補正方法に関する。

（従来の技術） 核磁気共鳴（以下NMRという）現象を用いて
特定原子核に注目した被検体の断層像を得る核磁
気共鳴断層撮像装置（以下MRIという）は従来
から知られている。このMRIの原理の概要を簡
単に説明する。

原子核は磁気を帯びた回転している独楽と見る
ことができるが、それを例えばｚ軸方向の静磁場
H₀の中におくと、前記の原子核は次式で示す角
速度ω₀で歳差運動をする。これをラーモアの歳
差運動という。

ω₀＝γH₀ 但し、γ：核磁気回転比 今、静磁場のあるｚ軸に垂直な軸、例えばｘ軸
に高周波コイルを配置し、xy面内で回転する前
記の角周波数ω₀の高周波回転磁場を印加すると
磁気共鳴が起り、静磁場H₀のもとでゼーマン分
裂をしていた原子核の集団は共鳴条件を満足する
高周波磁場によつて準位間の遷移を生じ、エネル
ギー準位の高い方の準位に遷移する。ここで、核
磁気回転比γは原子核の種類によつて異なるので
共鳴周波数によつて当該原子核を特定することが
できる。更にその共鳴の強さを測定すれば、その
原子核の存在量を知ることができる。共鳴後緩和
時間と呼ばれる時定数で定まる時間の間に高い準
位へ励起された原子核は低い準位へ戻つてエネル
ギーの放射を行う。

このNMRの現象の観測方法の中パルス法につ
いて第３図を参照しながら説明する。

前述のように共鳴条件を満足する高周波パルス
（H₁）を静磁場（ｚ軸）に垂直な（ｘ軸）方向に
印加すると、第３図イに示すように磁化ベクトル
Ｍは回転座標系でω′＝γH₁の角周波数でzy面内で
回転を始める。今パルス幅をt_Dとすると、H₀か
らの回転角θは次式で表わされる。

θ＝γH₁t_D …(1) (1)式においてθ＝90°となるようなt_Dをもつパ
ルスを90°パルスと呼ぶ。こ90°パルス直後では磁
化ベクトルＭは第３図ロのようにxy面をω₀で回
転していることになり、例えばｘ軸においたコイ
ルに誘導起電力を生じる。しかし、この信号は時
間と共に減衰していくので、この信号を自由誘導
減衰信号（以下FID信号という）と呼ぶ。FID信
号をフーリエ変換すれば周波数領域での信号が得
られる。次に第３図ハに示すように90°パルスか
らτ時間後θ＝180°になるようなパルス幅の第２
のパルス（180°パルス）を加えるとばらばらにな
つていた磁気モーメントがτ時間後−ｙ方向で再
び焦点を合せて信号が観測される。この信号をス
ピンエコー（以下SE信号という）と呼んでいる。
このSE信号の強度を測定して所望の像を得るこ
とができる。NMRの共鳴条件は ν＝γH₀／2π で与えられる。ここで、νは共鳴周波数，H₀は
静磁場の強さである。従つて共鳴周波数は磁場の
強さに比例することが分る。このため静磁場に線
形の磁場勾配を重畳させて、位置によつて異なる
強さの磁場を与え、共鳴周波数を変化させて位置
情報を得るNMRイメージングの方法がある。こ
の内フーリエ変換法について説明する。この手法
に用いる高周波磁場及び勾配磁場印加のパルスシ
ーケンスを第４図に示す。イ図において、ｘ，
ｙ，ｚ軸に夫々Gx，Gy，Gzの勾配磁場を与え、
高周波磁場をｘ軸に印加する状態を示している。
ロ図は夫々の磁場を印加するタイミングを示す図
である。図においてRFは高周波の回転磁場で90°
パルスと180°パルスをｘ軸に印加する。Gxはｘ
軸に印加する固定の勾配磁場、Gyはｙ軸に印加
する時間によつて振幅を変化させる勾配磁場、
Gzはｚ軸に印加する固定の勾配磁場である。信
号は180°パルス後のSE信号を示している。期間
は各軸に与える勾配磁場の信号の時期を示すため
に設けてある。期間１において90°パルスと勾配
磁場Gz⁺によつてｚ＝０を中心とするｚ軸に垂直
な断層撮影におけるスライス面内のスピンが選択
的に励起される。期間２のGx⁺はスピンの位相を
乱れさせて180°パルスで反転させるためのもの
で、デイフエーズ勾配と呼ばれる。Gz^-はGz⁺に
よつて乱れたスピンの位相を元に戻すためのもの
である。期間２では位相エンコード勾配Gynも印
加する。これはｙ方向の位置に比例してスピンの
位相をずらしてやるためのもので、その強度は毎
周期異なるように制御される。期間３において
180°パルスを与えて再び磁気モーメントを揃え、
その後に現われるSE信号を観察する。期間４の
Gx⁺は乱れた位相を揃え、SE信号を生じさせる
ための勾配磁場でリフエーズ勾配といい、リフエ
ーズ勾配とデイフエーズ勾配の面積が等しくなつ
たところにSE信号が現われる。

このシーケンスをビユーといい、パルス繰り返
し周期TR後に再び90°パルスを加え、次のビユー
を開始する。

次に、反転回復法（以下IR法という）につい
て説明する。第５図はIR法において、SE信号を
用いる場合のパルスシーケンスの図である。この
IR法では180°パルス（１）をかけて被写体全体の
スピンを反転させ、回復時間TI経過させる。そ
して、スライスを選択する90°パルスをかけた後、
エコー時間τだけ経過した時に180°パルス（２）
をかける。すると、更にτ経過した時を最大振幅
とするSE信号が得られる。90°パルス印加時点か
らSE信号のピーク迄の時間をTEとすれば、TE
は2τに等しい。

180°パルス（１）印加後、繰り返し時間TR経
過した時次の180°パルス（１）かけて次のビユー
が開始される。このIR法の画像強度のグラフを
第６図に示す。図はTR＝1000msにしたときの
IR法における画像強度を、ある組織に対して回
復時間TIの関数として表したものである。図に
おいて、T₁は縦磁気緩和時間である。図で明ら
かなようにIR法では画像強度に負の値が存在す
る。

（発明が解決しようとする問題点） 通常のMRIにおいては、スキヤンは第４図の
フーリエ法のパルスシーケンスを用いて行われ、
画像再構成は複素FFTを用いて行われている。
本来、MR画像は実数なので、複素FFT後の実数
部は求める画像データとなり、虚数部は零となる
べきであるが、実際には、種々の原因に基づいて
生ずる位相歪により画像データが実数部，虚数部
それぞれに分散した形となつている。このため、
一般的には画像データはベクトルの大きさで表さ
れるので、絶対値処理を行つて画像データを求め
ている。従つて、このような処理法では前記の
IR法のように負の値も取り得る画像では、負の
部分が正に折り返してしまい、正しい画像が得ら
れないという欠点があつた。従つて、IR法にお
いて負の値をも正しく表示しようとすれば、位相
歪をなくしておく必要がある。これに対して、予
め位相歪の大きさを測定しておき、そのデータを
用いて位相補正を行う方法が提案されている。こ
の方法は例えば水フアントムについての断層像を
作り、各ピクセルにおける位相歪を測定してお
き、この測定値に基づき被検体の断層像の各ピク
セルの位相を補正するという方法であるが、この
方法では撮像の度毎に２度スキヤンする必要があ
り、スキヤン時間が延びてしまう。そのため予め
撮像前にスキヤン領域全体に亘る位相歪データを
計測しておく方法も考えられるが、MRIは座標
軸に直交又は平行な面の断層像に限らず、任意の
如何なる角度においても撮像できるため、あらゆ
る角度のあらゆる位置を各ピクセル補正のデータ
を採取することは、膨大なデータを保存すること
が必要で、事実上実行は不可能である。又、この
方法は表面コイル法を用いた場合には適用が不可
能である。

本発明は上記の点に鑑みてなされたもので、そ
の目的は、スキヤン時間を殆ど延長することな
く、又、予め位相歪を測定しておく必要もなく、
負の値まで正しく表現される再構成画像を得るこ
とのできるMR画像の位相補正方法を実現するこ
とにある。

（問題点を解決するための手段） 前記の問題点を解決する本発明は、反転回復法
のパルスシーケンスにより断層撮像を行う核磁気
共鳴断層撮像装置の画像の位相補正方法におい
て、低域濾波をしないイメージ用生データ及び低
域濾波をしたイメージ用生データを、それぞれ、
複素画像再構成処理により、補正前イメージデー
タ（複素数）及び低域濾波イメージデータ（複素
数）に変換し、一方、前記イメージ用生データの
採取毎に水フアントムをスキヤンすることによ
り、イメージング領域中の任意の小領域の座標に
ついて採取した位相歪補正用生データを、複素画
像再構成処理により、位相歪測定用イメージ（複
素数）に変換する第１のステツプと、前記第１の
ステツプで求めた位相歪測定用イメージのデータ
を用いて、前記小領域の座標についての位相歪量
を求める第２のステツプと、該第２のステツプで
求めた位相歪量により、前記小領域に隣接する近
傍領域の座標についての前記低域濾波イメージデ
ータの位相補正を行う第３のステツプと、該第３
のステツプでの位相補正により補正された前記低
域濾波イメージデータの虚数部を取り出し、該虚
数部が零でない場合には、該虚数部が零となるよ
うに位相補正量を修正して、該虚数部が零となる
ような最終的な位相補正量を決定する第４のステ
ツプと、該第４のステツプで最終的な位相補正量
が前記近傍領域について決定すると、該補正量決
定済みの近傍領域に隣接する補正量未決定の近傍
領域の座標についての前記低域濾波イメージデー
タの位相補正を、前記補正量決定済みの近傍領域
の位相補正量を用いて行う第５のステツプと、該
第５のステツプでの位相補正により補正された前
記低域濾波イメージデータの虚数部を取り出し、
該虚数部が零でない場合には、該虚数部が零とな
るように位相補正量を修正して、該虚数部が零と
なるような最終的な位相補正量を決定する第６の
ステツプと、補正量未決定の近傍領域の座標につ
いて前記第５〜第６のステツプと同様なステツプ
を繰り返し、前記補正量決定済みの近傍領域を逐
次拡大する第７のステツプと、該第７のステツプ
を終了することにより決定された各領域での最終
的な位相補正量を用いて、前記補正前イメージデ
ータを位相補正し、虚数部のない補正済みのイメ
ージを得る第８のステツプと、を有することを特
徴とするものである。

（作用） 低域濾波をしないイメージ用生データ及び低域
濾波をしたイメージ用生データを、それぞれ、複
素画像再構成処理により、補正前イメージデータ
及び低域濾波イメージデータに変換し、一方、前
記イメージ用生データの採取毎に水フアントムを
スキヤンすることにより、イメージング領域中の
任意の小領域の座標について採取した位相歪補正
用生データを、複素画像再構成処理により、位相
歪測定用イメージに変換し、位相歪測定用イメー
ジのデータを用いて、前記小領域の座標について
の位相歪量を求め、この位相歪量により、前記小
領域に隣接する近傍領域の座標についての低域濾
波イメージデータの位相補正を行う。次にこれに
より補正された低域濾波イメージデータの虚数部
を取り出し、該虚数部が零でない場合には、該虚
数部が零となるように位相補正量を修正して、該
虚数部が零となるような最終的な位相補正量を決
定する。最終的な位相補正量が前記近傍領域につ
いて決定すると、該補正量決定済みの近傍領域に
隣接する補正量未決定の近傍領域の座標について
の低域濾波イメージデータの位相補正を、前記補
正量決定済みの近傍領域の位相補正量を用いて行
う。この位相補正により補正された低域濾波イメ
ージデータの虚数部を取り出し、該虚数部が零で
ない場合には、該虚数部が零となるように位相補
正量を修正して、該虚数部が零となるような最終
的な位相補正量を決定する。以後、補正量未決定
の近傍領域の座標について同様な操作を繰り返
し、前記補正量決定済みの近傍領域を逐次拡大し
ていき、これにより得られた各領域での最終的な
位相補正量を用いて、前記補正前イメージデータ
を位相補正し、虚数部のない補正済みのイメージ
を得る。

（実施例） 以下、図面を参照して本発明の方法の実施例を
詳細に説明する。

第７図は本発明の方法を実施する装置の一例の
構成ブロツク図である。図において、１は内部に
被検体を挿入するための空間部分（孔）を有し、
この空間部分を取巻くようにして、被検体に一定
の静磁場を印加する静磁場コイルと勾配磁場を発
生する勾配磁場コイル（勾配磁場コイルはＸ，
Ｙ，Ｚの３軸のコイルを備えている。）と被検体
内の原子核のスピンを励起するためのRFパルス
を与えるRF送信コイルと被検体からのNMR信
号を検出する受信コイル等が配置されているマグ
ネツトアセンブリである。静磁場コイル、勾配磁
場コイル、RF送信コイル、及び受信コイルは、
それぞれ静磁場電源２、勾配磁場駆動回路３、
RF電力増幅器４及び前置増幅器５に接続されて
いる。シーケンス記憶回路６は計算機７からの指
令に従つて任意のビユーで、ゲート変調回路８を
操作（所定のタイミングによつてRF発振回路９
のRF出力信号を変調）し、スピン・ワープ法に
基づくRFパルス信号をRF電力増幅器４からRF
送信コイルに印加する。又、シーケンス記憶回路
６は、同じくスピン・ワープ法に基づくシーケン
ス信号によつて勾配磁場駆動回路３を操作して、
第４図に示すようにｘ，ｙ，ｚの３軸にそれぞれ
勾配磁場を供給する。１０はRF発振回路９の出
力を参照信号として、前置増幅器５の受信信号出
力を位相検波する位相検波器である。この出力信
号はAD変換器１１においてデイジタル信号に変
換され、計算機７に入力される。１２は計算機７
に種々のパルス・シーケンスの実現のための指示
及び種々の設定値などの入力をするための操作コ
ンソール、１３は計算機７で再構成された画像を
表示する表示装置である。

次に、上記のように構成された装置の動作を説
明しながら実施例の方法を説明する。

操作コンソール１２を操作してパルス・シーケ
ンスのタイミング、RFパルスの振幅、パルス幅
等の設定を行い、計算機７に前記設定値に基づく
信号を入力する。計算機７は前記設定値に基づい
て制御信号を発生し、シーケンス記憶回路６に送
る。シーケンス記憶回路６は前記制御信号に基づ
き勾配磁場駆動回路３を制御して所定のパルスシ
ーケンスの勾配磁場を作らせ、又、ゲート変調回
路８を制御する。ゲート変調回路８は、RF発振
回路９で発振し出力されたRF信号を設定された
パルス幅、振幅を有する信号に変調し、変調RF
パルスをRF電力増幅器４に供給する。この変調
RFパルスはRF電力増幅器４において増幅され、
マグネツトアセンブリ１の静磁場電源２によつて
生ずる静磁場中において、勾配磁場駆動回路３に
よつて各軸に与えられた勾配磁場と相俟つて励起
したスピンを共鳴させる。共鳴により生じたSE
信号は、受信され、前置増幅器５によつて増幅さ
れ、位相検波器１０に入力される。位相検波器１
０は、RF発振回路９の出力を参照信号として入
力NMR信号を位相検波し、その出力信号をAD
変換回路１１に送る。AD変換器１１においてデ
イジタル信号に変換されたNMR信号は、計算機
７においてスキヤンシーケンスに応じた所定の処
理により、画像再構成されて表示装置１３により
表示される。計算機７はシーケンス記憶回路６の
内容を書き換えることができ、これによつて種々
のスキヤンシーケンスを実現できる。

次に、前記の装置を用いて行う位相歪の補正方
法の原理を説明する。スキヤンして撮像される画
像の各領域には必ず、次の条件が成立していて、
この補正方法はその条件を前提としている。

(1) 位相歪の空間的変化が緩やかである。

(2) 位相補正が正しく行われた場合は虚数部は零
になる。

そして、この補正方法は以上の条件から任意の
１領域の位相歪θ₁を測定してその正量を求め、そ
の補正を逐次近傍に及ぼすことにより、位相歪測
定のためのスキヤンを１領域分に止めることを特
徴としている。

第８図はIR法による１断面の撮像の度毎に行
う位相歪測定のためのパルスシーケンスの例で、
単純なスピンエコー法（以下SE法という）のパ
ルスシーケンスにワープ勾配の後の180°パルスの
期間に勾配を与えてワープ方向に領域限定を行
い、又、分解能を下げることで、位相歪測定のた
めのビユー数を減らしてスキヤン時間の増加を極
力抑えている。例えば、SE法の位相歪測定のた
めのスキヤンを４ビユー行うことにより増加する
所要時間は、本スキヤン256ビユーに対する４ビ
ユーであつて僅かに1.6％の増加にすぎない。

先ず、水フアントムに対して例えば４ビユーの
スキヤンを行い、或る任意の領域（前記のワープ
勾配の設定領域により定まる領域）の位相歪量θ₁
を測定する。次に被検体に対し正規のIR法によ
るスキヤンを256ビユー行つてデータを取る。こ
れらのデータはすべて計算機７に送り込まれ、計
算機７で処理される。従つて、以下に述べる位相
歪補正はすべて計算機７内における演算処理であ
る。先ず、先に求めたθ₁でその領域の近傍のデー
タを補正して見る。そして、虚数部を調べて零で
なければ、零になるまで補正する。前記の条件に
より位相歪の変化は緩やかなので追加補正量は極
めて小さい。

第９図は補正の手順の説明図である。イの Q₁
はSE法で測定した既知のデータで、その隣接
の８領域をそれぞれθ₁で補正する。（それぞれの
θ₁を加えるか、又は減ずるかは誤差の少なくなる
方を選んで演算を行う。）図において、右隣を補
正して補正値 Q₂ を得たのでその近傍（先にθ₁
が書き込まれている領域を除く）の３領域をθ₂で
補正して見る。このようにして虚数部が零になる
まで補正して逐次領域を拡大して全領域について
行う。

次に、計算機７が位相歪補正シーケンスと
NMR像用のシーケンスを終えて、AD変換器１
１からデータを受けて画像を表示するまでの位相
歪補正の処理を第１図，第２図のフローチヤート
の図により説明する。第１図は位相補正のための
全体のフローとデータのフローを示すフローチヤ
ートで、第２図は第１図中位相歪マツプ生成のた
めのフローチヤートである。図において、左側に
示すステツプの記号を追つてフローチヤートを説
明する。

ステツプ ａ 複素画像の再構成を行う。

イメージ用の生データと位相歪補正用生データ
（水フアントムによる）が入力されて画像再構成
処理を受け、イメージ用の生データは補正前イメ
ージデータ（複素数）Ａ（ｘ，ｙ）と２次元FFT
の前に生データのうち高い空間周波数に対応する
部分をカツトされた低域濾波イメージデータ（複
素数）Ｄ（ｘ，ｙ）に変換される。低域濾波イメ
ージデータは位相歪補正時に用いられるので、ノ
イズによつて位相の推定値算出に誤差が出るのを
防ぐために高周波数部をカツトされたものであ
る。位相歪補正用生データは画像再構成を受けて
位相歪測定用イメージ（複素数）Ｐ（ｘ，ｙ）に
変換される。ここに、Ａ（ｘ，ｙ）は座標（ｘ，
ｙ）の領域における補正前イメージデータを意味
する。その他の記号も同様にそれぞれの座標
（ｘ，ｙ）におけるデータを意味している。

ステツプ ｂ 位相歪マツプを生成する。

低域濾波イメージデータ（複素数）Ｄ（ｘ，ｙ）
と位相歪測定用イメージ（複素数）Ｐ（ｘ，ｙ）
が入力されて処理される。処理は第２図の位相歪
マツプ生成フローチヤートに従つて行われる。

ステツプ ｃ 位相歪測定用イメージから或る場所の位相歪量
を求める。

水フアントムで位相歪を測定した或る場所のデ
ータの位相歪量を求める。

θ（x₀，y₀）＝arg［Ｐ（x₀，y₀）］Ｐ（x₀，y₀）は
予め位相歪量の測定を水フアントムで行つた点
（x₀，y₀）における位相歪測定用イメージのデー
タで、この点の複素数の偏角を求めて点（x₀，
y₀）における位相歪量θ（x₀，y₀）を得る。

ステツプ ｄ ｜Ｄ（x_o，y_o）｜＞D_LIM？ 点（x_o，y_o）における低域濾波イメージデータ
Ｄ（x_o，y_o）の絶対値が或る設定値D_LIMより大き
いかどうかのチエツクである。若し、小さい時は
ノイズの影響を大きく受けて位相の推定値が不安
定になるため、リミツトを設けてそれ以下のデー
タは補正しない。しかし、データの値そのものが
小さいので影響は無視し得る。YESの場合はス
テツプｅに、NOの場合はステツプｇに進む。

ステツプ ６ 低域濾波されたイメージの対応する場所の領域
を補正する。

Ｂ（x_o，y_o）＝Ｄ（x_o，y_o） ・exp｛−jθ（x_o，y_o）｝ ここで、ｎは０から始まる整数である。尚、最
初の補正ではステツプｃで求めた位相歪量θ（x₀，
y₀）を位相補正量とし、この位相補正量だけ回転
させて補正し、補正されたイメージのデータＢ
（x₀，y₀）を得る。そして逐次範囲を拡げ、点
（x_o，y_o）における補正されたイメージデータＢ
（x_o，y_o）を得る。

ステツプ ｆ 位相補正量のずれを修正する。

θ′（x_o，y_o）＝θ（x_o，y_o） ＋Δθ（x_o，y_o） ステツプｅで、θ（x_o，y_o）により補正して得
たイメージデータＢ（x_o，y_o）の虚数部が零にな
つていない時、零になるまでΔθ（x_o，y_o）により
位相補正量のずれを修正する。ここで、θ′（x_o，
y_o）は点（x_o，y_o）における最終的な位相補正量
である。

ステツプ ｇ ステツプｄにおいて、低域濾波イメージデータ
の絶対値｜Ｄ（x_o，y_o）｜がD_LIMより小さい時、補
正しないで位相補正量θ′（x_o，y_o）を前の補正量
θ（x_o，y_o）のままステツプｈに進む。

ステツプ ｈ 位相歪テーブル中の点（x_o，y_o）及びその８近
傍で値の入つていない所にθ′（x_o，y_o）の値を入
れる。

補正量θ′（x_o，y_o）が求まつたので、第９図に
おいて、イ図の Q₁ の隣のθ₁に Q₂ であるθ′（x_o，
y_o）を入れ、θ₁の入つていない８近傍の３点にθ₂
であるθ′（x_o，y_o）を入れる。

ステツプ ｉ 全領域終了か 終つていない時はステツプｃの後に戻る。終つ
ている時は第１図のステツプｊに進む。

ステツプ ｊ ステツプｉ迄で生成された位相歪マツプにより
全画像の位相補正を行う。

ステツプｉで位相補正量θ′（x_o，y_o）によつて
生成される位相歪マツプと、補正前イメージ（複
素数）Ａ（ｘ，ｙ）が入力されて、Ａ（ｘ，ｙ）が
θ′（ｘ，ｙ）により補正され、虚数部のない補正
済みイメージＣ（ｘ，ｙ）が得られる。

以上詳細に説明したように、１領域の位相歪を
測定し、その位相歪量で近傍８点を補正し虚数部
の残留値をチエツクしながら虚数部が零になるま
で補正することにより、断層像撮影の都度、スキ
ヤン時間を殆ど増加させずに、又、予めキヤリブ
レーシヨンスキヤンを行うことも無く任意断面で
撮られたIR法による画像の補正が可能になり、
負の値も正しく再現できるようになつた。

尚、本発明は上記実施例に限定されるものでは
ない。本実施例では２次元フーリエ法の場合につ
き説明したが、３次元フーリエ法の場合にも適用
できる。その場合、測定値その他のデータはすべ
て３次元データとなる。又、８近傍の点は26近傍
になる。

又、位相歪測定用スキヤンに変更を加え領域限
定の方法に工夫をすれば、マルチスライスにも適
用できる。位相歪測定のシーケンスは、イメージ
ングデータ採取前でも採取後でも差支えない。

（発明の効果） 以上詳細に説明したように、本発明によれば、
予めキヤリブレーシヨンのためのフルスキヤンを
行うことなく、スキヤン時間も殆ど増加させず
に、任意の断面で撮られたIR法による画像の位
相補正が可能になり、又、データの負の値も正し
く再現できるようになつて実用上の効果は大き
い。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の方法の一実施例の全体の処理
のフローチヤートの図、第２図は位相歪マツプ生
成手順のフローチヤートの図、第３図はMRIの
パルス法の原理の説明図、第４図はMRIの磁場
のパルスシーケンスを示す図、第５図はIR法に
おける磁場のパルスシーケンスの図、第６図は
IR法によつて得られた或る組織の回復時間と画
像強度の関係を示す曲線の一例の図、第７図は本
発明の方法を実施するMRI装置の構成ブロツク
図、第８図は位相歪測定のためのパルスシーケン
スの図、第９図は測定された位相歪により画像の
位相歪を補正する手順を示す図である。 １……マグネツトアセンブリ、２……静磁場電
源、３……勾配磁場駆動回路、４……RF電力増
幅器、５……前置増幅器、６……シーケンス記憶
回路、７……計算機、８……ゲート変調回路、９
……RF発振回路、１０……位相検波器、１１…
…AD変換器、１２……操作コンソール、１３…
…表示装置。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 反転回復法のパルスシーケンスにより断層撮
   像を行う核磁気共鳴断層撮像装置の画像の位相補
   正方法において、 低域濾波をしないイメージ用生データ及び低域
   濾波をしたイメージ用生データを、それぞれ、複
   素画像再構成処理により、補正前イメージデータ
   （複素数）及び低域濾波イメージデータ（複素数）
   に変換し、一方、前記イメージ用生データの採取
   毎に水フアントムをスキヤンすることにより、イ
   メージング領域中の任意の小領域の座標について
   採取した位相歪補正用生データを、複素画像再構
   成処理により、位相歪測定用イメージ（複素数）
   に変換する第１のステツプと、 前記第１のステツプで求めた位相歪測定用イメ
   ージのデータを用いて、前記小領域の座標につい
   ての位相歪量を求める第２のステツプと、 該第２のステツプで求めた位相歪量により、前
   記小領域に隣接する近傍領域の座標についての前
   記低域濾波イメージデータの位相補正を行う第３
   のステツプと、 該第３のステツプでの位相補正により補正され
   た前記低域濾波イメージデータの虚数部を取り出
   し、該虚数部が零でない場合には、該虚数部が零
   となるように位相補正量を修正して、該虚数部が
   零となるような最終的な位相補正量を決定する第
   ４のステツプと、 該第４のステツプで最終的な位相補正量が前記
   近傍領域について決定すると、該補正量決定済み
   の近傍領域に隣接する補正量未決定の近傍領域の
   座標についての前記低域濾波イメージデータの位
   相補正を、前記補正量決定済みの近傍領域の位相
   補正量を用いて行う第５のステツプと、 該第５のステツプでの位相補正により補正され
   た前記低域濾波イメージデータの虚数部を取り出
   し、該虚数部が零でない場合には、該虚数部が零
   となるように位相補正量を修正して、該虚数部が
   零となるような最終的な位相補正量を決定する第
   ６のステツプと、 補正量未決定の近傍領域の座標について前記第
   ５〜第６のステツプと同様なステツプを繰り返
   し、前記補正量決定済みの近傍領域を逐次拡大す
   る第７のステツプと、 該第７のステツプを終了することにより決定さ
   れた各領域での最終的な位相補正量を用いて、前
   記補正前イメージデータを位相補正し、虚数部の
   ない補正済みのイメージを得る第８のステツプ
   と、 を有することを特徴とする核磁気共鳴断層撮像装
   置の画像の位相補正方法。