JPH0375532A - 温度計測データ変換装置 - Google Patents

温度計測データ変換装置

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JPH0375532A
JPH0375532A JP21075389A JP21075389A JPH0375532A JP H0375532 A JPH0375532 A JP H0375532A JP 21075389 A JP21075389 A JP 21075389A JP 21075389 A JP21075389 A JP 21075389A JP H0375532 A JPH0375532 A JP H0375532A
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Japan
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temperature
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temperature measurement
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JP21075389A
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Keiko Oguro
小黒 恵子
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は温度計測データ変換装置に係わり、特に異なる
レンジ幅の温度センサを多数使用したビル中央監視シス
テムにおいて、温度センサからの入力値から温度計測値
を算出する温度計測データ変換装置に関する。
〔従来の技術〕
通常、例えばビルの受変電設備や空調設備などのビル付
帯設備の監視を行うビル中央監視装置では、これらの付
帯設備が正常に運転されるように種々の制御を行ってい
る。その1つとして、設備の環境温度あるいはそれ自体
の温度を適正に維持するための制御が行われている。こ
のような温度制御においては、温度センサの測定レンジ
に制限があることから、計測すべき温度帯を複数に区分
してそれぞれの温度帯に見合った測定レンジの温度セン
サを用いることが多い。これにより、測定精度を上げる
こともできる。こうした温度センサとしては、例えば抵
抗センサが用いられる。そして、これら複数の温度セン
サからのアナログ値をディジタル値に変換したのち、所
定の変換装置により温度計測データへと変換するように
なっている。この場合、温度センサからのアナログ値か
ら得られたディジタル値と実測値との関係は通常非線型
となっているが、従来の温度計測データ変換装置では次
のようなりニアライズ変換方式を用いて温度計測データ
の変換を行っていた。
第3図は、従来の温度計測データ変換装置における温度
計測データ変換方法の一例を説明するためのものである
。この図で、実線11は温度計測データの実測値、破線
12は近似値を表わす。
この例では、互いに異なる測定レンジをもつ6個の温度
センサからのアナログ入力値から得られるOから409
5までのディジタル値を、それぞれの区画ごとに設定さ
れた別々の1次式により温度計測データに変換する。す
なわち、それぞれの温度センサからのアナログ値をディ
ジタル値に変換したのち、それぞれの区画ごとに異なる
1次式に別々に代入することにより温度計測データを算
出する。次の(1)式は、この1次式を表わしたもので
ある。
Y=aX−b  ・・・・・・ (1)ただし、ここで
Yは求める温度計測データ、Xはディジタル値、aおよ
びbは変換定数を表わす。
この変換定数aSbは前記した6区画のそれぞれの温度
センサごとに設定された値で、通常互いに異なる値であ
る。
このようにして算出された値Yをもって温度計測データ
の実測値を近似していた。
〔発明が解決しようとする課題〕
このように、従来の温度計測データ変換装置では、複数
に区分された温度帯ごとに得られたディジタル値をそれ
ぞれの区間ごとに異なった定数をもつ1次式を用いて求
めていたので、各区間ごとの変換定数を端末装置のメモ
リへ設定する必要があった。例えば前記した例では、各
区間につき2個ずつ6区間分必要なので、計12個の定
数を求めてメモリへ設定しなければならなかった。
このように、異なる測定レンジの温度センサを多数使用
するシステムでは、多大な手間と処理時間がかかるとい
う欠点があった。
〔課題を解決するための手段〕
本発明では、(i)温度センサの特性に合うような形の
2次式を構成するパラメータを記憶する記憶手段と、(
ii )この記憶手段に記憶されたパラメータをもつ2
次式を基に、温度センサからの人力値から温度計測デー
タを算出する温度計測データ算出手段とを温度計測デー
タ変換装置に具備させる。
そして本発明では、それぞれの温度センサからの入力を
、あらかじめ近似的に設定された単一の2次式に代入す
ることにより温度計測データを求める。
〔実施例〕
以下、実施例につき本発明の詳細な説明する。
第1図は、本発明の一実施例における温度計測データ変
換装置とその周辺部を表わしたものである。
この温度計測データ変換装fillには、温度計測デー
タを求める演算に必要なパラメータを格納するメモリ1
2が備えられ、アナログ・ディジタル変換器13および
演算処理部14と接続されている。アナログ・ディジタ
ル変換器13は、演算処理部14と接続されるとともに
、変換器15を介してそれぞれ異なる測定レンジをもつ
6個の温度検出用の抵抗センサ16に接続されている。
演算処理部14はアナログ・ディジタル変換器13から
の入力データとメモリ12に格納されたパラメータを基
に温度計測データを算出するようになっている。また、
メモリ12には、算出された温度計測データを図示しな
いビル中央監視装置に送信するためのデータ通信装置1
7が接続されている。
次に、以上のような構成の温度計測データ変換装置の動
作を説明する。
本実施例では、計測すべき温度帯を複数の区画に分け、
それぞれの区画ごとに対応する測定レンジをもつ抵抗セ
ンサ16を配する。これらの抵抗センサ16では、それ
ぞれの温度に応じた大きさの電流が生じるが、これらは
変換器15により各々電圧値に変換される。アナログ値
であるこれらの電圧値は、アナログ・ディジタル変換器
13によりディジタル値に変換されて演算処理部14に
入力される。
演算処理部14では、入力されたディジタル値を次の(
2)式に示すような2次式に代入することにより温度計
測データを算出する。
Y=AX2 +BX+1・・・・・・ (2)ただし、
Yは求める温度計測データ、Xは入力されたディジタル
値、ASBSCは変換定数である。これらの変換定数A
SB、Cは、それぞれの抵抗センサ16の特性が例えば
他の方法により計測された実測値にできるだけ一致する
ように実験的に設定され、あらかじめメモリ12に格納
されている。
算出された温度計測データは一旦メモリ12に格納され
たのち、データ通信装置17を介して図示しないビル中
央監視装置の中央処理装置へ送信される。
第2図は、入力されるディジタル値と温度計測データの
関係を表わしたものである。
この例では、入力されるディジタル値の最大値を409
5に割り当てている。この図で、実線21は実測値を表
わし、破線22は算出された値、すなわち(2)式を表
わす曲線である。
このように本実施例では、3個の変換定数A1B、Cに
より一義的に定まる2次式をもって近似を行うので、例
えば計測する温度帯をさらに多くの抵抗センサに分担さ
せる場合でも、あらかじめ3個の変換定数を設定するだ
けで温度計測データを求めることができる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、温度センサからの
入力値を単一の2次式によって変換することで温度計測
データを求めることとしたので、端末装置のメモリには
3個の定数を設定するだけでよく、これを参照して演算
を行うことができる。
従って、変換定数を設定する手間を大幅に削減すること
ができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は本発明の一実施例を説明するため
のもので、このうち’iJ1図は温度計測データ変換装
置を表わすブロック図、第2図はこの温度計測データ変
換装置により算出された値と実測値との比較図、第3図
は従来の温度計測データ変換装置により算出された値と
実測値との比較図である。 1・・・・・・温度計測データ変換装置、2・・・・・
・メモリ、 3・・・・・・アナログ・ディジタル変換器、4・・・
・・・演算処理部。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 温度センサの特性に合うような形の2次式を構成するパ
    ラメータを記憶する記憶手段と、この記憶手段に記憶さ
    れたパラメータをもつ前記2次式を基に、前記温度セン
    サからの入力値から温度計測データを算出する温度計測
    データ算出手段 とを具備することを特徴とする温度計測データ変換装置
JP1210753A 1989-08-17 1989-08-17 温度計測デ―タ変換装置 Expired - Lifetime JP2503676B2 (ja)

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JP1210753A JP2503676B2 (ja) 1989-08-17 1989-08-17 温度計測デ―タ変換装置

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JP1210753A JP2503676B2 (ja) 1989-08-17 1989-08-17 温度計測デ―タ変換装置

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JPH0375532A true JPH0375532A (ja) 1991-03-29
JP2503676B2 JP2503676B2 (ja) 1996-06-05

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06331647A (ja) * 1993-05-25 1994-12-02 Nec Corp 半導体加速度センサおよび製造方法
JP2005140629A (ja) * 2003-11-06 2005-06-02 Sanyo Electric Co Ltd 温度測定装置及び、温度測定送信装置

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