JP3073536B2 - 中性子束計測装置 - Google Patents
中性子束計測装置Info
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- JP3073536B2 JP3073536B2 JP2116291A JP2116291A JP3073536B2 JP 3073536 B2 JP3073536 B2 JP 3073536B2 JP 2116291 A JP2116291 A JP 2116291A JP 2116291 A JP2116291 A JP 2116291A JP 3073536 B2 JP3073536 B2 JP 3073536B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、原子力発電プラント等
において、定格出力運転状態での原子炉内中性子束を監
視／計測するのに用いられる中性子束計測装置に関す
る。
において、定格出力運転状態での原子炉内中性子束を監
視／計測するのに用いられる中性子束計測装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来の出力領域中性子束計測は、原子炉
内に設置した中性子検出器に高電圧を印加しておき、こ
の中性子検出器に入射する中性子束強度に比例して出力
される電流信号を検出して、この検出データをマイクロ
プロセッサ等の演算装置に取込んで監視していた。ま
た、そのマイクロプロセッサ等によって計測装置の動作
制御も行われていた。図２に従来よりある中性子束計測
装置の構成例を示す。
内に設置した中性子検出器に高電圧を印加しておき、こ
の中性子検出器に入射する中性子束強度に比例して出力
される電流信号を検出して、この検出データをマイクロ
プロセッサ等の演算装置に取込んで監視していた。ま
た、そのマイクロプロセッサ等によって計測装置の動作
制御も行われていた。図２に従来よりある中性子束計測
装置の構成例を示す。
【０００３】この中性子束計測装置は、原子炉内に設置
された多数の中性子検出器１−１〜１−ｎに演算増幅器
２−１〜２−ｎがそれぞれ接続され、その各出力側がそ
れぞれ絶縁アンプ３−１〜３−ｎを介して信号選択回路
４に接続されている。この信号選択回路３はＡ／Ｄ変換
器５を介して演算装置６に接続される。この演算装置６
は中性子束の監視と共に信号切換回路４の切換えも行
う。
された多数の中性子検出器１−１〜１−ｎに演算増幅器
２−１〜２−ｎがそれぞれ接続され、その各出力側がそ
れぞれ絶縁アンプ３−１〜３−ｎを介して信号選択回路
４に接続されている。この信号選択回路３はＡ／Ｄ変換
器５を介して演算装置６に接続される。この演算装置６
は中性子束の監視と共に信号切換回路４の切換えも行
う。
【０００４】以上のように構成された中性子束計測装置
においては、中性子検出器１および演算増幅器２に高電
圧電源７から高電圧が印加され、中性子検出器１から出
力された検出電流が演算増幅器２および抵抗器８によっ
て電圧信号に変換される。この電圧信号は絶縁アンプ３
を介してそれぞれ演算装置側へ送られる。
においては、中性子検出器１および演算増幅器２に高電
圧電源７から高電圧が印加され、中性子検出器１から出
力された検出電流が演算増幅器２および抵抗器８によっ
て電圧信号に変換される。この電圧信号は絶縁アンプ３
を介してそれぞれ演算装置側へ送られる。
【０００５】上述した中性子束計測装置は、中性子検出
器１および演算増幅器２は、高電圧電源４（通常、直流
１００Ｖ以上）を基準にして動作し、Ａ／Ｄ変換器５、
演算装置６は接地電位を基準として動作する。そのた
め、信号選択回路４に接続された測定チャンネル毎に絶
縁アンプ３−１〜３−ｎを設ける必要があった。しか
し、絶縁アンプは他の電子回路に比べて大型かつ高価格
であり、装置が大型化すると共にコストアップにもなる
といった不具合があった。
器１および演算増幅器２は、高電圧電源４（通常、直流
１００Ｖ以上）を基準にして動作し、Ａ／Ｄ変換器５、
演算装置６は接地電位を基準として動作する。そのた
め、信号選択回路４に接続された測定チャンネル毎に絶
縁アンプ３−１〜３−ｎを設ける必要があった。しか
し、絶縁アンプは他の電子回路に比べて大型かつ高価格
であり、装置が大型化すると共にコストアップにもなる
といった不具合があった。
【０００６】そこで、この様な不具合を解消するため
に、中性子束計測装置を図３に示すように構成し、多数
の中性子検出器１−１〜１−ｎの出力を高電圧電源７で
動作する信号選択回路１０で直接スイッチングして、後
段の信号処理ラインを一線にし、最小個数となる一つの
演算増幅器２、絶縁アンプ３を介して演算装置側と接続
を行い、コストアップ、大型化の原因となる絶縁アンプ
の削減を図っている。なお、この構成では、信号選択回
路１０は高圧側となるため、フォトカプラ等からなる絶
縁回路１１を介して演算装置６に接続される。
に、中性子束計測装置を図３に示すように構成し、多数
の中性子検出器１−１〜１−ｎの出力を高電圧電源７で
動作する信号選択回路１０で直接スイッチングして、後
段の信号処理ラインを一線にし、最小個数となる一つの
演算増幅器２、絶縁アンプ３を介して演算装置側と接続
を行い、コストアップ、大型化の原因となる絶縁アンプ
の削減を図っている。なお、この構成では、信号選択回
路１０は高圧側となるため、フォトカプラ等からなる絶
縁回路１１を介して演算装置６に接続される。
【０００７】ところで、上述した中性子束計測装置は、
中性子検出器１−１〜１−ｎと信号選択回路１０とがケ
ーブルＬによってそれぞれ接続されている。これらのケ
ーブルＬはそれぞれケーブル容量Ｃを持っており、この
ケーブル容量ＣはケーブルＬの長さによって異なる。中
性子検出器１−１〜１−ｎは原子炉内の各所に分散配置
されるため、各々のケーブル容量Ｃも異なっている。
中性子検出器１−１〜１−ｎと信号選択回路１０とがケ
ーブルＬによってそれぞれ接続されている。これらのケ
ーブルＬはそれぞれケーブル容量Ｃを持っており、この
ケーブル容量ＣはケーブルＬの長さによって異なる。中
性子検出器１−１〜１−ｎは原子炉内の各所に分散配置
されるため、各々のケーブル容量Ｃも異なっている。
【０００８】一方、図３に示した中性子束計測装置は、
各ケーブルＬのケーブル容量Ｃを信号選択回路１０で直
接スイッチングするため、ケーブル容量Ｃの放電により
スイッチング時間が遅れたり、各信号ライン間でケーブ
ル容量Ｃの違いによりスイッチング時間にバラツキが生
じる。
各ケーブルＬのケーブル容量Ｃを信号選択回路１０で直
接スイッチングするため、ケーブル容量Ｃの放電により
スイッチング時間が遅れたり、各信号ライン間でケーブ
ル容量Ｃの違いによりスイッチング時間にバラツキが生
じる。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】従って、従来の中性子
束計測装置は、装置の小型化および低価格化が難しく、
またケーブル容量による信号選択回路でのスイッチング
時間の遅れや、スイッチング時間のバラツキにより高
速、高精度な計測が阻害される可能性があった。
束計測装置は、装置の小型化および低価格化が難しく、
またケーブル容量による信号選択回路でのスイッチング
時間の遅れや、スイッチング時間のバラツキにより高
速、高精度な計測が阻害される可能性があった。
【００１０】本発明は以上のような実情に鑑みてなされ
たもので、中性子計測の高速、高精度化を実現できると
共に、小型でしかも安価な中性子束計測装置を提供する
ことを目的とする。
たもので、中性子計測の高速、高精度化を実現できると
共に、小型でしかも安価な中性子束計測装置を提供する
ことを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明に係る中性子束計測装置は、計測領域内の各
所に設置され入射する中性子束強度に比例した検出電流
を出力する複数の中性子検出器と、これら複数の中性子
検出器からの各検出電流をそれぞれ電圧信号に変換する
複数の演算増幅器と、これら複数の演算増幅器で変換さ
れた電圧信号を選択的に取込む信号選択回路と、この信
号選択回路と絶縁手段を介して接続され該信号選択回路
を介して取込まれた電圧信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変
換器と、このＡ／Ｄ変換器出力を取込んで所定の演算処
理を行う演算手段とを具備してなるものとした。
に、本発明に係る中性子束計測装置は、計測領域内の各
所に設置され入射する中性子束強度に比例した検出電流
を出力する複数の中性子検出器と、これら複数の中性子
検出器からの各検出電流をそれぞれ電圧信号に変換する
複数の演算増幅器と、これら複数の演算増幅器で変換さ
れた電圧信号を選択的に取込む信号選択回路と、この信
号選択回路と絶縁手段を介して接続され該信号選択回路
を介して取込まれた電圧信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変
換器と、このＡ／Ｄ変換器出力を取込んで所定の演算処
理を行う演算手段とを具備してなるものとした。
【００１２】
【作用】本発明によれば、複数の中性子検出器からの検
出電流がそれぞれ演算増幅器で電圧信号に変換された後
に信号選択回路でスイッチングされ、選択された一つの
電圧信号が絶縁手段を介してＡ／Ｄ変換器へ送られる。
従って、信号選択回路は複数の中性子検出器の電流信号
を直接スイッチングしないため、信号選択回路における
各信号ライン間のスイッチング時間のバラツキの発生を
防止でき、しかも信号選択回路で選択された一つの電圧
信号のみが絶縁手段を介してＡ／Ｄ変換器へ送られるの
で、絶縁手段は一系統のみで構成することができる。
出電流がそれぞれ演算増幅器で電圧信号に変換された後
に信号選択回路でスイッチングされ、選択された一つの
電圧信号が絶縁手段を介してＡ／Ｄ変換器へ送られる。
従って、信号選択回路は複数の中性子検出器の電流信号
を直接スイッチングしないため、信号選択回路における
各信号ライン間のスイッチング時間のバラツキの発生を
防止でき、しかも信号選択回路で選択された一つの電圧
信号のみが絶縁手段を介してＡ／Ｄ変換器へ送られるの
で、絶縁手段は一系統のみで構成することができる。
【００１３】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図１を参照しなが
ら説明する。
ら説明する。
【００１４】本実施例は、複数の中性子検出器１−１〜
１−ｎが、それぞれ対応する複数の演算増幅器２−１〜
２−ｎにそれぞれ接続され、これら演算増幅器２−１〜
２−ｎの出力側に信号選択回路２０が接続されている。
この信号選択回路２０の出力端子は、絶縁手段となる一
つの絶縁アンプ３を介してＡ／Ｄ変換器５に接続され、
さらにこのＡ／Ｄ変換器５が演算装置６に接続されてい
る。この演算装置６は、中性子束計測データを演算処理
して中性子束監視を行うと共に、フォトカプラ１１を介
して信号選択回路２０に接続され、信号選択回路２０に
切換制御信号を送信するように構成されている。次に、
以上のように構成された本実施例の動作について説明す
る。
１−ｎが、それぞれ対応する複数の演算増幅器２−１〜
２−ｎにそれぞれ接続され、これら演算増幅器２−１〜
２−ｎの出力側に信号選択回路２０が接続されている。
この信号選択回路２０の出力端子は、絶縁手段となる一
つの絶縁アンプ３を介してＡ／Ｄ変換器５に接続され、
さらにこのＡ／Ｄ変換器５が演算装置６に接続されてい
る。この演算装置６は、中性子束計測データを演算処理
して中性子束監視を行うと共に、フォトカプラ１１を介
して信号選択回路２０に接続され、信号選択回路２０に
切換制御信号を送信するように構成されている。次に、
以上のように構成された本実施例の動作について説明す
る。
【００１５】中性子検出器１−１に中性子が入射する
と、入射した中性子束強度に比例した検出電流が対応す
る演算増幅器２−１の（−）側入力端子に流れ、演算増
幅器２−１の出力に、検出電流と抵抗器８の抵抗値との
積が電圧となって現れる。同様に、他の演算増幅器２−
２〜２−ｎの出力にも、対応する中性子検出器１−２〜
１−ｎで検出された検出電流が電圧信号に変換されて現
れる。
と、入射した中性子束強度に比例した検出電流が対応す
る演算増幅器２−１の（−）側入力端子に流れ、演算増
幅器２−１の出力に、検出電流と抵抗器８の抵抗値との
積が電圧となって現れる。同様に、他の演算増幅器２−
２〜２−ｎの出力にも、対応する中性子検出器１−２〜
１−ｎで検出された検出電流が電圧信号に変換されて現
れる。
【００１６】例えば、中性子検出器１側に１ｍＡの検出
電流が流れ、抵抗器８の抵抗値が１ＫΩの場合には、演
算増幅器２の出力は仮想マイナス１Ｖとなり、高電圧電
源７による基準動作電圧が１００Ｖであれば、９９Ｖの
電圧が現れる。
電流が流れ、抵抗器８の抵抗値が１ＫΩの場合には、演
算増幅器２の出力は仮想マイナス１Ｖとなり、高電圧電
源７による基準動作電圧が１００Ｖであれば、９９Ｖの
電圧が現れる。
【００１７】これら演算増幅器２−１〜２−ｎの出力に
現れた電圧信号は、演算装置６からの切換制御信号を受
けた信号選択回路２０によって順次スイッチングされ
て、絶縁アンプ３に入力する。この絶縁アンプ３の出力
は接地電位を基準としているためマイナス１Ｖが現れ、
この電圧信号がＡ／Ｄ変換器５でデジタル信号に変換さ
れた後、このデジタル値が入射中性子束強度として演算
装置６に取込まれる。
現れた電圧信号は、演算装置６からの切換制御信号を受
けた信号選択回路２０によって順次スイッチングされ
て、絶縁アンプ３に入力する。この絶縁アンプ３の出力
は接地電位を基準としているためマイナス１Ｖが現れ、
この電圧信号がＡ／Ｄ変換器５でデジタル信号に変換さ
れた後、このデジタル値が入射中性子束強度として演算
装置６に取込まれる。
【００１８】演算装置６は、フォトカプラ１１を介して
信号選択回路２０に切換制御信号を出力して、演算増幅
器２出力を順次スイッチングして、他の計測チャンネル
の計測データを取込むと共に、これら計測データに基づ
く監視を行う。
信号選択回路２０に切換制御信号を出力して、演算増幅
器２出力を順次スイッチングして、他の計測チャンネル
の計測データを取込むと共に、これら計測データに基づ
く監視を行う。
【００１９】この様に本実施例によれば、各中性子検出
器１−１〜１−ｎへの入射中性子束強度に応じた検出電
流を各々対応する演算増幅器２−１〜２−ｎで電圧信号
に変換し、これら電圧信号を信号選択回路２０でスイッ
チングして一つの絶縁アンプ３を介して演算装置側へ取
込むようにしたので、従来のようにケーブル容量を直接
スイッチングせずに、これを電圧値に変換した電圧信号
をスイッチングしているため、スイッチングに要する時
間が極めて短縮化され、しかもスイッチング時間のバラ
ツキも発生しないことから、中性子計測の高速化および
高精度かを図ることができる。
器１−１〜１−ｎへの入射中性子束強度に応じた検出電
流を各々対応する演算増幅器２−１〜２−ｎで電圧信号
に変換し、これら電圧信号を信号選択回路２０でスイッ
チングして一つの絶縁アンプ３を介して演算装置側へ取
込むようにしたので、従来のようにケーブル容量を直接
スイッチングせずに、これを電圧値に変換した電圧信号
をスイッチングしているため、スイッチングに要する時
間が極めて短縮化され、しかもスイッチング時間のバラ
ツキも発生しないことから、中性子計測の高速化および
高精度かを図ることができる。
【００２０】また、中性子計測データを取込むのに使う
絶縁アンプ３は一つでよいことから、従来のように各測
定チャネル毎に絶縁アンプを設ける場合に比べて、絶縁
アンプを大幅に削減できて装置の小型化を図れると共に
コストダウンを図ることもできる。
絶縁アンプ３は一つでよいことから、従来のように各測
定チャネル毎に絶縁アンプを設ける場合に比べて、絶縁
アンプを大幅に削減できて装置の小型化を図れると共に
コストダウンを図ることもできる。
【００２１】
【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、中
性子計測の高速、高精度化を実現できると共に、小型で
しかも安価な中性子束計測装置を提供できる。
性子計測の高速、高精度化を実現できると共に、小型で
しかも安価な中性子束計測装置を提供できる。
【図１】本発明の一実施例に係る中性子束計測装置の構
成図。
成図。
【図２】従来の中性子束計測装置の構成図。
【図３】従来の他の中性子束計測装置の構成図。
１…中性子検出器、２…演算増幅器、３…絶縁アンプ、
５…Ａ／Ｄ変換器、６…演算装置、７…高電圧電源、８
…抵抗器、１１…フォトカプラ、２０…信号選択回路。
５…Ａ／Ｄ変換器、６…演算装置、７…高電圧電源、８
…抵抗器、１１…フォトカプラ、２０…信号選択回路。
Claims (1)
- 【請求項１】計測領域内の各所に設置され入射する中性
子束強度に比例した検出電流を出力する複数の中性子検
出器と、これら複数の中性子検出器からの各検出電流を
それぞれ電圧信号に変換する複数の演算増幅器と、これ
ら複数の演算増幅器で変換された電圧信号を選択的に取
込む信号選択回路と、この信号選択回路に絶縁手段を介
して接続され該信号選択回路を介して取込まれた電圧信
号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器と、このＡ／Ｄ変換器
出力を取込んで所定の演算処理を行う演算手段とを具備
したことを特徴とする中性子束計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2116291A JP3073536B2 (ja) | 1991-02-14 | 1991-02-14 | 中性子束計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2116291A JP3073536B2 (ja) | 1991-02-14 | 1991-02-14 | 中性子束計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04259888A JPH04259888A (ja) | 1992-09-16 |
| JP3073536B2 true JP3073536B2 (ja) | 2000-08-07 |
Family
ID=12047221
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2116291A Expired - Fee Related JP3073536B2 (ja) | 1991-02-14 | 1991-02-14 | 中性子束計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3073536B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013057676A (ja) * | 2006-10-27 | 2013-03-28 | Ut Battelle Llc | 高速プリアンプ回路、検出電子機器、および放射線検出システム |
| KR101814092B1 (ko) * | 2016-04-28 | 2018-01-30 | 한국천문연구원 | 광대역 조직등가비례계수기 및 이를 이용한 계수방법 |
-
1991
- 1991-02-14 JP JP2116291A patent/JP3073536B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013057676A (ja) * | 2006-10-27 | 2013-03-28 | Ut Battelle Llc | 高速プリアンプ回路、検出電子機器、および放射線検出システム |
| KR101814092B1 (ko) * | 2016-04-28 | 2018-01-30 | 한국천문연구원 | 광대역 조직등가비례계수기 및 이를 이용한 계수방법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04259888A (ja) | 1992-09-16 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |