JPH04113274A - 電圧検出装置 - Google Patents
電圧検出装置Info
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- JPH04113274A JPH04113274A JP2232412A JP23241290A JPH04113274A JP H04113274 A JPH04113274 A JP H04113274A JP 2232412 A JP2232412 A JP 2232412A JP 23241290 A JP23241290 A JP 23241290A JP H04113274 A JPH04113274 A JP H04113274A
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- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 39
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 32
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 31
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 15
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 229910017489 Cu I Inorganic materials 0.000 description 1
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
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- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
この発明は、送電線、配電線等の電力系統における主回
路導体の電位を検出する電圧検出装置に関する。
路導体の電位を検出する電圧検出装置に関する。
(従来の技術)
送電線、配電線等の電力系統には、系統の監視、保護の
ため、主回路導体と電気的に絶縁した状態でその電位検
出が行われる。このような電位検出を行う従来の電圧検
出装置としては、主に計器用変圧器(PT)が用いられ
ている。
ため、主回路導体と電気的に絶縁した状態でその電位検
出が行われる。このような電位検出を行う従来の電圧検
出装置としては、主に計器用変圧器(PT)が用いられ
ている。
(発明が解決しようとする課題)
従来の電圧検出装置として用いられている計器用変圧器
は、比較的大型であるため、スイッチギヤ等に収納した
場合、スイッチギヤの1ユニツトを専有することになり
、スイッチギヤ全体が大きくなり、ひいては設置スペー
スが大きくなるという問題があった。
は、比較的大型であるため、スイッチギヤ等に収納した
場合、スイッチギヤの1ユニツトを専有することになり
、スイッチギヤ全体が大きくなり、ひいては設置スペー
スが大きくなるという問題があった。
そこで、この発明は、小型で軽量な電圧検出装置を提供
することを目的とする。
することを目的とする。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
この発明は上記課題を解決するために、検出対象である
主回路導体にそれぞれ一方の電極が密着され且つそれぞ
れの他方の電極と大地との間の浮遊容量が等しくなるよ
うに配置された異なる容量値をもつ2個のコンデンサと
、前記主回路導体と前記2個のコンデンサの他方の電極
との間の各電位差及び当該2個のコンデンサの他方の電
極間の電位差を検知する電位差検知手段と、該電位差検
知手段で検知された各電位差及び前記2個のコンデンサ
の各容量値に基づいて前記主回路導体の電位を演算する
演算手段とを有することを要旨とする。
主回路導体にそれぞれ一方の電極が密着され且つそれぞ
れの他方の電極と大地との間の浮遊容量が等しくなるよ
うに配置された異なる容量値をもつ2個のコンデンサと
、前記主回路導体と前記2個のコンデンサの他方の電極
との間の各電位差及び当該2個のコンデンサの他方の電
極間の電位差を検知する電位差検知手段と、該電位差検
知手段で検知された各電位差及び前記2個のコンデンサ
の各容量値に基づいて前記主回路導体の電位を演算する
演算手段とを有することを要旨とする。
(作用)
主回路導体の電位をV、2個のコンデンサにおける他方
の電極側の電位(大地側電位)をそれぞれv、、v2(
これらの電位は何れもベクトル量)とすると、主回路導
体の電位Vと2個のコンデンサにおける各大地側電位v
1、Vlとの電位差(V−Vl)、(V−Vl)及び当
該両人地側電位V、、v2間の電位差(VI Vl)
が電位差検知手段で検知される。これにより、2個のコ
ンデンサの各容量値をc、 C2とすると、5つの
既知量、c、 C2、(VV+)、(VV2)、(
VI Vl)が得られる。これらの既知量から演算
手段で次のような演算か実行され、主回路導体の電位V
が検出される。
の電極側の電位(大地側電位)をそれぞれv、、v2(
これらの電位は何れもベクトル量)とすると、主回路導
体の電位Vと2個のコンデンサにおける各大地側電位v
1、Vlとの電位差(V−Vl)、(V−Vl)及び当
該両人地側電位V、、v2間の電位差(VI Vl)
が電位差検知手段で検知される。これにより、2個のコ
ンデンサの各容量値をc、 C2とすると、5つの
既知量、c、 C2、(VV+)、(VV2)、(
VI Vl)が得られる。これらの既知量から演算
手段で次のような演算か実行され、主回路導体の電位V
が検出される。
2個のコンデンサにおける他方の電極(大地側電極)と
大地との間の浮遊容量をCUとすると、次の(1)、(
2)式が成立つ。
大地との間の浮遊容量をCUとすると、次の(1)、(
2)式が成立つ。
C1(V Vl )−cu @ v、
・−(+)C2(V Vl ) = c
u * Vl −(2)(
1)式−(2)式より Cu−[CI (V−V 電 ) −
02(V−Vl) コ /(VI Vl)・
・・(3) (1)式より VI −CH(V−Vl )/Cu ・・・(
4)(4)式に(3)式を代入して Vl −[CI (V−Vl ) (Vl −
Vl )コ/[C丁 (V Vl )
−C2(v−Vl)E ・・・(5〉 また、(1)式より V−Vl(CLI +CI ) /C+
=16)(6)式に(3)式と(5)式を代入して
整理するとV−(V−Vl )+ f [CI (
V−Vl )(Vl −Vl )コ / [CI (V−Vl ) C2(V−Vl)
]) ・・・(7) となり、主回路導体の電位Vが求められる。
・−(+)C2(V Vl ) = c
u * Vl −(2)(
1)式−(2)式より Cu−[CI (V−V 電 ) −
02(V−Vl) コ /(VI Vl)・
・・(3) (1)式より VI −CH(V−Vl )/Cu ・・・(
4)(4)式に(3)式を代入して Vl −[CI (V−Vl ) (Vl −
Vl )コ/[C丁 (V Vl )
−C2(v−Vl)E ・・・(5〉 また、(1)式より V−Vl(CLI +CI ) /C+
=16)(6)式に(3)式と(5)式を代入して
整理するとV−(V−Vl )+ f [CI (
V−Vl )(Vl −Vl )コ / [CI (V−Vl ) C2(V−Vl)
]) ・・・(7) となり、主回路導体の電位Vが求められる。
演算手段は電位差検知手段とともに主回路導体側に設置
し、求められた主回路導体の電位Vは、その電位Vに対
応した強度の光信号に変換して大地側の計測部等で受け
てもよく、また、演算手段は大地側の計測部等に設置し
、電位差検知手段で検知された(v−Vl)、(V−V
l)、(Vl−Vl)の各電位差に対応した強度の光信
号を演算手段に送り、この大地側の演算手段で上述の(
7)式に至る演算を行なって主回路導体の電位Vを求め
てもよい。このように光信号の利用により、主回路電圧
が高圧であっち主回路導体とは電気的に絶縁された状態
でその電位Vを検出することが可能となる。
し、求められた主回路導体の電位Vは、その電位Vに対
応した強度の光信号に変換して大地側の計測部等で受け
てもよく、また、演算手段は大地側の計測部等に設置し
、電位差検知手段で検知された(v−Vl)、(V−V
l)、(Vl−Vl)の各電位差に対応した強度の光信
号を演算手段に送り、この大地側の演算手段で上述の(
7)式に至る演算を行なって主回路導体の電位Vを求め
てもよい。このように光信号の利用により、主回路電圧
が高圧であっち主回路導体とは電気的に絶縁された状態
でその電位Vを検出することが可能となる。
(実施例)
以下、この発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第1図は、この発明の第1実施例を示す図である。この
実施例は高圧用として構成されている。
実施例は高圧用として構成されている。
まず、電圧検出装置の構成を説明すると、第1図におい
て、lは検出対象である主回路導体であり、主回路導体
1には異なる既知の容量値C1、C2をもつ2個のコン
デンサ2.3の一方の電極が密着されている。この2個
のコンデンサ2.3は、それぞれの他方の電極(大地側
電極)と大地との間の浮遊容量CUが等しくなるように
配置されている。5は増幅機能を有する電位差検知手段
としての電位差検知回路であり、この電位差検知回路5
で主回路導体1の電位Vと2個のコンデンサ2.3にお
ける各大地側電極の電位■1、Vlとの電位差(V−V
l)、(V−Vl)及び当該両人地側電位V + 、V
2間の電位差(Vl −Vl )の3つの電位差が検
知され、且つこの3つの電位差が増幅されるようになっ
ている。7はV/F変換回路、8は電気/光変換回路で
あり、V/F変換回路7て3つの電位差がそれぞれに対
応した周波数の電圧パルスに変換され、この電圧パルス
が電気/光変換回路8て光信号に変換され、光ケルプル
9を介して大地側の図示省略の保護・計測装置に設置さ
れた演算手段としての演算回路に送られるようになって
いる。
て、lは検出対象である主回路導体であり、主回路導体
1には異なる既知の容量値C1、C2をもつ2個のコン
デンサ2.3の一方の電極が密着されている。この2個
のコンデンサ2.3は、それぞれの他方の電極(大地側
電極)と大地との間の浮遊容量CUが等しくなるように
配置されている。5は増幅機能を有する電位差検知手段
としての電位差検知回路であり、この電位差検知回路5
で主回路導体1の電位Vと2個のコンデンサ2.3にお
ける各大地側電極の電位■1、Vlとの電位差(V−V
l)、(V−Vl)及び当該両人地側電位V + 、V
2間の電位差(Vl −Vl )の3つの電位差が検
知され、且つこの3つの電位差が増幅されるようになっ
ている。7はV/F変換回路、8は電気/光変換回路で
あり、V/F変換回路7て3つの電位差がそれぞれに対
応した周波数の電圧パルスに変換され、この電圧パルス
が電気/光変換回路8て光信号に変換され、光ケルプル
9を介して大地側の図示省略の保護・計測装置に設置さ
れた演算手段としての演算回路に送られるようになって
いる。
また、上述の電位差検知回路5、V/F変換回路7及び
電気/光変換回路8は、大地から浮いた主回路導体1側
に設置され、光信号手段により絶縁されているため、こ
れらの回路を駆動するエネルギー源を得るため、主回路
導体1に密着されたコンデンサ4と電源回路11とが設
置されている。
電気/光変換回路8は、大地から浮いた主回路導体1側
に設置され、光信号手段により絶縁されているため、こ
れらの回路を駆動するエネルギー源を得るため、主回路
導体1に密着されたコンデンサ4と電源回路11とが設
置されている。
コンデンサ4の容量値を03、その大地側電極と大地と
の間の浮遊容量をCUI とすると、電源回路11に蓄
えられる電圧VPは次式で与えられる。
の間の浮遊容量をCUI とすると、電源回路11に蓄
えられる電圧VPは次式で与えられる。
vp −[Cu I / (C3+CU
盲 ) コ ・ V ・・・ (8)なお、主回路
導体1側に設置する電源としては、バッテリを用いても
よい。
盲 ) コ ・ V ・・・ (8)なお、主回路
導体1側に設置する電源としては、バッテリを用いても
よい。
この実施例の電圧検出装置は上述のように構成されてお
り、主回路導体1に密着して配置した既知の容量値をも
つ2個のコンデンサ2.3と電位差検知回路5により、
3量の電位差(■−V1)、(VV2)及び(VI−v
2)が得られる。この3量の電位差か、V/F変換回路
7及び電気/光変換回路8て、それぞれに対応した強度
の光信号に変換され、大地側の演算回路に送られる。そ
して、演算回路で、2つのコンデンサ2.3の既知の容
量値C+ c2を含めた5つの既知量、c、 c2
、(VV+)、(V−V2)、(VI −V2 )から
、前記(1)式ないしく7)式に至る演算が実行されて
、主回路導体1の電位Vが求められる。
り、主回路導体1に密着して配置した既知の容量値をも
つ2個のコンデンサ2.3と電位差検知回路5により、
3量の電位差(■−V1)、(VV2)及び(VI−v
2)が得られる。この3量の電位差か、V/F変換回路
7及び電気/光変換回路8て、それぞれに対応した強度
の光信号に変換され、大地側の演算回路に送られる。そ
して、演算回路で、2つのコンデンサ2.3の既知の容
量値C+ c2を含めた5つの既知量、c、 c2
、(VV+)、(V−V2)、(VI −V2 )から
、前記(1)式ないしく7)式に至る演算が実行されて
、主回路導体1の電位Vが求められる。
この実施例によれば、主回路導体1に密着して配設した
既知の容量値をもつ2つのコンデンサ2.3を用いて3
Jiの電位差を検知することができ、また、電位差検知
回路5、V/F変換回路7及び電気/光変換回路8の駆
動電源を検出対象である主回路導体1側で得るため、主
回路導体1が高圧であっても、大地と絶縁された完全に
浮いた状態で、演算に必要な検知データを光信号により
大地側の演算回路に送ることができる。したがって、こ
の実施例の電圧検出装置は、非常に小型、コンパクトに
構成することができ、従来、スイッチギヤて一般に使用
されている計器用変圧器(PT)が、スイッチギヤの1
ユニツトを専有していたものが、この実施例ではその必
要がない。
既知の容量値をもつ2つのコンデンサ2.3を用いて3
Jiの電位差を検知することができ、また、電位差検知
回路5、V/F変換回路7及び電気/光変換回路8の駆
動電源を検出対象である主回路導体1側で得るため、主
回路導体1が高圧であっても、大地と絶縁された完全に
浮いた状態で、演算に必要な検知データを光信号により
大地側の演算回路に送ることができる。したがって、こ
の実施例の電圧検出装置は、非常に小型、コンパクトに
構成することができ、従来、スイッチギヤて一般に使用
されている計器用変圧器(PT)が、スイッチギヤの1
ユニツトを専有していたものが、この実施例ではその必
要がない。
次いて、第2図には、この発明の第2実施例を示す。
なお、第2図及び後述の第3図において前記第1図にお
ける機器及び素子等と同一ないし均等のものは、前記と
同一符号を以って示し、重複した説明を省略する。
ける機器及び素子等と同一ないし均等のものは、前記と
同一符号を以って示し、重複した説明を省略する。
この実施例では、演算手段としての演算回路6が電位差
検知回路5とV/F変換回路7との間に設けられ、演算
回路6も大地から浮いた主回路導体1側に設置されてい
る。そして、演算回路6で前記(1)式ないしく7)式
に至る演算が実行され、求められた主回路導体1の電位
Vが、その電位Vに対応した強度の光信号に変換されて
大地側の保護・計測装置に送られるようになっている。
検知回路5とV/F変換回路7との間に設けられ、演算
回路6も大地から浮いた主回路導体1側に設置されてい
る。そして、演算回路6で前記(1)式ないしく7)式
に至る演算が実行され、求められた主回路導体1の電位
Vが、その電位Vに対応した強度の光信号に変換されて
大地側の保護・計測装置に送られるようになっている。
第3図には、この発明の第3実施例を示す。この実施例
は低圧用として構成されている。
は低圧用として構成されている。
この実施例は、前述した3量の電位差検知用の既知の容
量値c、 c2をもつ2つのコンデンサとして、碍子
形コンデンサ12.13が用いられ、その各コンデンサ
12.13への分圧が、主回路導体1の電位V演算用の
データとして用いられている。また、電源用のコンデン
サとしても碍子形コンデンサ14が用いられている。
量値c、 c2をもつ2つのコンデンサとして、碍子
形コンデンサ12.13が用いられ、その各コンデンサ
12.13への分圧が、主回路導体1の電位V演算用の
データとして用いられている。また、電源用のコンデン
サとしても碍子形コンデンサ14が用いられている。
主回路導体1の電位Vを求める演算の過程は、前記第1
実施例のもの等とほぼ同様にして行われる。この実施例
は、前記第1実施例等のように浮遊容量の利用はないが
、主回路導体1が低圧の場合に、その電位検出用として
、小型、コンパクトに構成できて有効である。
実施例のもの等とほぼ同様にして行われる。この実施例
は、前記第1実施例等のように浮遊容量の利用はないが
、主回路導体1が低圧の場合に、その電位検出用として
、小型、コンパクトに構成できて有効である。
[発明の効果]
以上説明したように、この発明によれば、検出対象であ
る主回路導体に密着して配置した異なる容量値をもつ2
個のコンデンサと電位差検知手段とにより、所要の3量
の電位差を検知し、この3量の電位差と・2個のコンデ
ンサの各容量値に基づいて演算手段で主回路導体の電位
を演算するようにしたため、小型、コンパクトで軽量化
を図ることができて収納装置であるスイッチギヤ等も小
型化を図ることができるという利点がある。
る主回路導体に密着して配置した異なる容量値をもつ2
個のコンデンサと電位差検知手段とにより、所要の3量
の電位差を検知し、この3量の電位差と・2個のコンデ
ンサの各容量値に基づいて演算手段で主回路導体の電位
を演算するようにしたため、小型、コンパクトで軽量化
を図ることができて収納装置であるスイッチギヤ等も小
型化を図ることができるという利点がある。
第1図はこの発明に係る電圧検出装置の第1実施例を示
すブロック構成図、第2図はこの発明の第2実施例を示
すブロック構成図、第3図はこの発明の第3実施例を示
すブロック構成図である。 1:主回路導体、 2.3:コンデンサ、5:電位差
検知回路(電位差検知手段)、6:演算回路(演算手段
)、 8、電気/光変換回路。
すブロック構成図、第2図はこの発明の第2実施例を示
すブロック構成図、第3図はこの発明の第3実施例を示
すブロック構成図である。 1:主回路導体、 2.3:コンデンサ、5:電位差
検知回路(電位差検知手段)、6:演算回路(演算手段
)、 8、電気/光変換回路。
Claims (1)
- 検出対象である主回路導体にそれぞれ一方の電極が密着
され且つそれぞれの他方の電極と大地との間の浮遊容量
が等しくなるように配置された異なる容量値をもつ2個
のコンデンサと、前記主回路導体と前記2個のコンデン
サの他方の電極との間の各電位差及び当該2個のコンデ
ンサの他方の電極間の電位差を検知する電位差検知手段
と、該電位差検知手段で検知された各電位差及び前記2
個のコンデンサの各容量値に基づいて前記主回路導体の
電位を演算する演算手段とを有することを特徴とする電
圧検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2232412A JP2856523B2 (ja) | 1990-09-04 | 1990-09-04 | 電圧検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2232412A JP2856523B2 (ja) | 1990-09-04 | 1990-09-04 | 電圧検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04113274A true JPH04113274A (ja) | 1992-04-14 |
JP2856523B2 JP2856523B2 (ja) | 1999-02-10 |
Family
ID=16938849
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2232412A Expired - Fee Related JP2856523B2 (ja) | 1990-09-04 | 1990-09-04 | 電圧検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2856523B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006242855A (ja) * | 2005-03-04 | 2006-09-14 | Nippon Telegraph & Telephone East Corp | 非接触型電圧検出方法及び非接触型電圧検出装置 |
WO2016139924A1 (ja) * | 2015-03-03 | 2016-09-09 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 電圧測定装置 |
WO2017168608A1 (ja) * | 2016-03-30 | 2017-10-05 | 株式会社日立システムズ | 非接触電圧測定装置および非接触電圧測定方法 |
-
1990
- 1990-09-04 JP JP2232412A patent/JP2856523B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006242855A (ja) * | 2005-03-04 | 2006-09-14 | Nippon Telegraph & Telephone East Corp | 非接触型電圧検出方法及び非接触型電圧検出装置 |
JP4611774B2 (ja) * | 2005-03-04 | 2011-01-12 | 東日本電信電話株式会社 | 非接触型電圧検出方法及び非接触型電圧検出装置 |
WO2016139924A1 (ja) * | 2015-03-03 | 2016-09-09 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 電圧測定装置 |
WO2017168608A1 (ja) * | 2016-03-30 | 2017-10-05 | 株式会社日立システムズ | 非接触電圧測定装置および非接触電圧測定方法 |
JPWO2017168608A1 (ja) * | 2016-03-30 | 2018-12-27 | 株式会社日立システムズ | 非接触電圧測定装置および非接触電圧測定方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2856523B2 (ja) | 1999-02-10 |
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