SU1200182A1 - Способ измерени электрических и неэлектрических параметров - Google Patents

Способ измерени электрических и неэлектрических параметров Download PDF

Info

Publication number
SU1200182A1
SU1200182A1 SU843698741A SU3698741A SU1200182A1 SU 1200182 A1 SU1200182 A1 SU 1200182A1 SU 843698741 A SU843698741 A SU 843698741A SU 3698741 A SU3698741 A SU 3698741A SU 1200182 A1 SU1200182 A1 SU 1200182A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
measure
measurement
measuring
electric
value
Prior art date
Application number
SU843698741A
Other languages
English (en)
Inventor
Александр Геннадьевич Струнин
Александр Львович Кочергин
Богдан Дмитриевич Колпак
Лариса Ивановна Дегтярева
Станислав Анатольевич Шурпач
Владимир Леонидович Радионов
Original Assignee
Киевский Ордена Ленина Политехнический Институт Им.50-Летия Великой Октябрьской Социалистической Революции
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Киевский Ордена Ленина Политехнический Институт Им.50-Летия Великой Октябрьской Социалистической Революции filed Critical Киевский Ордена Ленина Политехнический Институт Им.50-Летия Великой Октябрьской Социалистической Революции
Priority to SU843698741A priority Critical patent/SU1200182A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1200182A1 publication Critical patent/SU1200182A1/ru

Links

Landscapes

  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ И НЕЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ, основанный на проведении измерений в несколько тактов,в одном из которых фиксируют исследуемый параметр, в двух других формируют значени  образцовой меры М и М- , отличные друг от друга, отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности измерени  и расширени  функциональных возможностей за счет расширени  класса исследуемых параметров, во втором и третьем тактах измерени  измен ют значени  соответственно М и М- образцовой Меры до равенства результатов измерений во всех трех тактах, а искомую величину X исследуемого параметра определ ют из соотношени  i Ki KZ (м, - м. ), X KI К . (Л где К и К - коэффициенты мас.штабировани  значени  меры М и М, во втором и третьем тактах измерени  в момент установлени  указанного равенства .

Description

. Изобретение относитс  к области электрических измерений и предназначено дл  использовани  преимущест венно в измерительно-вычислительных комплексах, например в микропроцессорных системах измерени  мощности несинусоидзльньйс на пр жений, Целью изобретени   вл етс  повышение точности изменени  и расширение функциональнь ;возможностей за счет расширени  класса исследуемых параметров. Общий принцип осуществлени  способа заключаетс  в следующем. В первом такте фиксируют 1 езультат измерени  N величины X исследуемого параметра ; N f (X) измерительным преобразователем с произвольной неизвестной функцией преобразовани  f(X). Во втором такте измер ют значени образцовой меры М , формируемое с погрешностью лМ, до равенства результата измерени  N2 результату N N2. f К (М + ЛМ) N, и фиксируют значение масштабного коэффициента К в момент установлени  равенства N Н„ . В третьем такте измер ют значение образцовой меры М. , отличное от значени  М, и формируемое с пог решностью дМ, до равенства результ та измерени  N результату N, : N3 f К,,(М,, + йМ) NI и фиксируют значение масштабного к фициента К в момент установлени  равенства N j N . Реша  совместно полученные уравнени  f(X) f К (М + лм)3 f(X) f Ki (М2.+ 4M)J или эквивалентную им систему ГХ (М +ЛМ) Х К ( /SM) относительно X, получают / (М.-М,). К - Kj, 2 На чертеже представлена структур на  схема устройства, реализующего данньм способ. 82 . Устройство содержит микропроцессор 1, аттенюатор (цифроаналоговьй преобразователь) 2, двузначную меру 3, переключатель 4, блок 5 индикации и аналого-цифровой преобразователь 6, вход которого подключен к выходу переключател  4, первый вход которого  вл етс  входом устройства, второй вход подключен к выходу аттенюатора 2, вход которого подключен к выходу двузначной меры 3, первый выход микропроцессора 1 подключен к управл ющему входу переключател  4, второй выход - к управл ющему входу двузначной меры 3, третий выход - к управл ющему входу аттенюатора 2, четвертьй выход - к блоку 5 индикации , выход аналого-цифрового преобразовател : 6 подключен к входу микропроцессора 1. I Устройство работает следующим образом.В первом такте измерени  переключатель 4 перевод т в положение а. Мощность несйнусоидального напр жени  Ux пр еобразуют в код стробоскопическим аналого-цифровым преобразователем 6 и подают на микропроцессор ,1, где фиксируют результат измерени  N . Далее переключатель 4 перевод т в положение б, а мера 3 формирует значение И в виде посто нного , напр жени , которое масштаби- . руют цифроаналоговым преобразователем 2 по командам, с микропроцессора 1 до тех пор, пока результат измерени  Nj значени  промасштабированной мерЫ|М К не станет равным результату измерени  N., исследуемого параметра X . В момент равенства N,N код управлени  цифроаналоговым преобразователем 2, которьй и  вл етс  его коэффициентом передачи К , фиксируетс  микропроцессором 1. В третьем такте измерени  переключатель 4 остаетс  в положении б, мера 3 формирует значение М2 в виде посто нного напр жени , отличное от значени  М , и вновь микропроцессор 1 измен ет код управлени  цифроаналоговым преобразователем 2 до установлени  равенства результата измерени  N-, промасштабированного значени  меры К, М„ результату измерени  N мощности исследуемого несинусоидального сигнала . В момент равенства Nj N в микропроцессоре 1 фиксируетс  код
управлени  цифроаналоговым преобразователем 2, которьй и  вл етс  коэффициентом передачи К2.
Полученные значени  К и К , а также известные с погрешностью/j М значени  меры 3 М и М обрабатываютс  по указанному алгоритму микропроцессором 1, а полученна  величина X (мощность несинусоидального сигнала U. индицируетс  в блоке 5 индикации.
Анализ соотношени , из которого определ ют искомую величину X иссдедуемого параметра, показывает, что итоговый результат измерени  совершенно не зависит от вида, неизвестной деформации и нестабильное
200182. 4 .
ти функции преобразовани  измерительного преобразовател , как -и от систематической погрешности меры, что .обеСТ1ечивае.т, нар ду с повьш1е 5 нием точности за счет полного исключени  систематической погрешности меры из результата измерени , также существенное расширение класса исследуемых параметров путем введени 
10 в него таких параметров физических величин, дл  измерени  которых необходимы функциональные преобразователи , передаточна  функци  которых описываетс  полиномами п -и степени, функционалами и даже может иметь точки разрьша первого или второго рода..

Claims (1)

  1. СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ИНЕЭЛЕКГРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ,основанный на проведении измерений в несколько тактов,в одном из которых фиксируют исследуемый параметр, в двух других формируют значения образцовой меры М1 и , отличные друг от друга, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения и расширения функциональных возможностей за счет расширения класса исследуемых параметров, во втором и третьем тактах измерения изменяют значения соответственно М5 и Мг образцовой меры до равенства результатов измерений во всех трех тактах, а искомую величину X исследуемого параметра определяют из соотношения
    -м.), где К^ и К2 - коэффициенты масштабирования значения меры М1 и М2 во втором и третьем тактах измерения в момент установления указанного равенства.
SU843698741A 1984-02-06 1984-02-06 Способ измерени электрических и неэлектрических параметров SU1200182A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843698741A SU1200182A1 (ru) 1984-02-06 1984-02-06 Способ измерени электрических и неэлектрических параметров

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843698741A SU1200182A1 (ru) 1984-02-06 1984-02-06 Способ измерени электрических и неэлектрических параметров

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1200182A1 true SU1200182A1 (ru) 1985-12-23

Family

ID=21102806

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU843698741A SU1200182A1 (ru) 1984-02-06 1984-02-06 Способ измерени электрических и неэлектрических параметров

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1200182A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР №331321, кл. G 01 R 19/00, 15.06.70. Авторское свидетельство СССР № 1041942, кл. G 01 R 19/00,26.04.82. Авторское свидетельство СССР № 1101748, кл. G 01 R .19/00,20.10.83. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR970702476A (ko) 선운동 또는 각운동의 측정시스템(system for measuring linear or angular movement)
SU1200182A1 (ru) Способ измерени электрических и неэлектрических параметров
SU1267264A1 (ru) Способ измерени электрических и неэлектрических величин
SU1137412A2 (ru) Устройство дл измерени амплитудно-частотной характеристики усилителей
RU2009448C1 (ru) Тензометрическое устройство
SU1273739A1 (ru) Многоканальна измерительна система с устройством коррекции измерительной характеристики
SU1101748A1 (ru) Способ измерени электрических и неэлектрических параметров
SU1179230A1 (ru) Устройство дл измерени параметров контролируемого объекта
JPS61125601A (ja) ポテンシオメ−タを有する制御装置
SU851117A1 (ru) Устройство дл измерени темпера-ТуРы
SU1147989A1 (ru) Способ измерени двух электрических или неэлектрических параметров
SU645092A1 (ru) Способ измерени физических величин
RU2025675C1 (ru) Устройство для измерения температуры и разности температур
SU798589A1 (ru) Устройство дл определени готов-НОСТи пОлуфАбРиКАТОВ ХлЕбОпЕКАРНОгОпРОизВОдСТВА K ВыпЕчКЕ
SU864145A1 (ru) Способ определени градуировочной характеристики стробоскопического измерительного преобразовател
SU711475A1 (ru) Устройство дл измерени скорости движени объекта на заданном участке перемещени
SU781575A1 (ru) Динамический способ линеаризации характеристик преобразовател
SU705380A1 (ru) Цифровой измеритель сопротивлени
SU1205033A1 (ru) Устройство дл измерени параметров комплексного двухполюсника
SU1357852A1 (ru) Способ определени физических величин
SU720371A1 (ru) Способ измерени фазовых характеристик аттенюатора
SU1693566A1 (ru) Устройство дл определени емкости и тангенса угла диэлектрических потерь конденсаторов
SU586390A1 (ru) Способ поверки потенциометров и устройство дл его реализации
SU1322157A1 (ru) Способ измерени электрических и неэлектрических величин
SU977931A1 (ru) Устройство дл измерени перемещений