SU1200182A1 - Способ измерени электрических и неэлектрических параметров - Google Patents
Способ измерени электрических и неэлектрических параметров Download PDFInfo
- Publication number
- SU1200182A1 SU1200182A1 SU843698741A SU3698741A SU1200182A1 SU 1200182 A1 SU1200182 A1 SU 1200182A1 SU 843698741 A SU843698741 A SU 843698741A SU 3698741 A SU3698741 A SU 3698741A SU 1200182 A1 SU1200182 A1 SU 1200182A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- measure
- measurement
- measuring
- electric
- value
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ И НЕЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ, основанный на проведении измерений в несколько тактов,в одном из которых фиксируют исследуемый параметр, в двух других формируют значени образцовой меры М и М- , отличные друг от друга, отличающийс тем, что, с целью повышени точности измерени и расширени функциональных возможностей за счет расширени класса исследуемых параметров, во втором и третьем тактах измерени измен ют значени соответственно М и М- образцовой Меры до равенства результатов измерений во всех трех тактах, а искомую величину X исследуемого параметра определ ют из соотношени i Ki KZ (м, - м. ), X KI К . (Л где К и К - коэффициенты мас.штабировани значени меры М и М, во втором и третьем тактах измерени в момент установлени указанного равенства .
Description
. Изобретение относитс к области электрических измерений и предназначено дл использовани преимущест венно в измерительно-вычислительных комплексах, например в микропроцессорных системах измерени мощности несинусоидзльньйс на пр жений, Целью изобретени вл етс повышение точности изменени и расширение функциональнь ;возможностей за счет расширени класса исследуемых параметров. Общий принцип осуществлени способа заключаетс в следующем. В первом такте фиксируют 1 езультат измерени N величины X исследуемого параметра ; N f (X) измерительным преобразователем с произвольной неизвестной функцией преобразовани f(X). Во втором такте измер ют значени образцовой меры М , формируемое с погрешностью лМ, до равенства результата измерени N2 результату N N2. f К (М + ЛМ) N, и фиксируют значение масштабного коэффициента К в момент установлени равенства N Н„ . В третьем такте измер ют значение образцовой меры М. , отличное от значени М, и формируемое с пог решностью дМ, до равенства результ та измерени N результату N, : N3 f К,,(М,, + йМ) NI и фиксируют значение масштабного к фициента К в момент установлени равенства N j N . Реша совместно полученные уравнени f(X) f К (М + лм)3 f(X) f Ki (М2.+ 4M)J или эквивалентную им систему ГХ (М +ЛМ) Х К ( /SM) относительно X, получают / (М.-М,). К - Kj, 2 На чертеже представлена структур на схема устройства, реализующего данньм способ. 82 . Устройство содержит микропроцессор 1, аттенюатор (цифроаналоговьй преобразователь) 2, двузначную меру 3, переключатель 4, блок 5 индикации и аналого-цифровой преобразователь 6, вход которого подключен к выходу переключател 4, первый вход которого вл етс входом устройства, второй вход подключен к выходу аттенюатора 2, вход которого подключен к выходу двузначной меры 3, первый выход микропроцессора 1 подключен к управл ющему входу переключател 4, второй выход - к управл ющему входу двузначной меры 3, третий выход - к управл ющему входу аттенюатора 2, четвертьй выход - к блоку 5 индикации , выход аналого-цифрового преобразовател : 6 подключен к входу микропроцессора 1. I Устройство работает следующим образом.В первом такте измерени переключатель 4 перевод т в положение а. Мощность несйнусоидального напр жени Ux пр еобразуют в код стробоскопическим аналого-цифровым преобразователем 6 и подают на микропроцессор ,1, где фиксируют результат измерени N . Далее переключатель 4 перевод т в положение б, а мера 3 формирует значение И в виде посто нного , напр жени , которое масштаби- . руют цифроаналоговым преобразователем 2 по командам, с микропроцессора 1 до тех пор, пока результат измерени Nj значени промасштабированной мерЫ|М К не станет равным результату измерени N., исследуемого параметра X . В момент равенства N,N код управлени цифроаналоговым преобразователем 2, которьй и вл етс его коэффициентом передачи К , фиксируетс микропроцессором 1. В третьем такте измерени переключатель 4 остаетс в положении б, мера 3 формирует значение М2 в виде посто нного напр жени , отличное от значени М , и вновь микропроцессор 1 измен ет код управлени цифроаналоговым преобразователем 2 до установлени равенства результата измерени N-, промасштабированного значени меры К, М„ результату измерени N мощности исследуемого несинусоидального сигнала . В момент равенства Nj N в микропроцессоре 1 фиксируетс код
управлени цифроаналоговым преобразователем 2, которьй и вл етс коэффициентом передачи К2.
Полученные значени К и К , а также известные с погрешностью/j М значени меры 3 М и М обрабатываютс по указанному алгоритму микропроцессором 1, а полученна величина X (мощность несинусоидального сигнала U. индицируетс в блоке 5 индикации.
Анализ соотношени , из которого определ ют искомую величину X иссдедуемого параметра, показывает, что итоговый результат измерени совершенно не зависит от вида, неизвестной деформации и нестабильное
200182. 4 .
ти функции преобразовани измерительного преобразовател , как -и от систематической погрешности меры, что .обеСТ1ечивае.т, нар ду с повьш1е 5 нием точности за счет полного исключени систематической погрешности меры из результата измерени , также существенное расширение класса исследуемых параметров путем введени
10 в него таких параметров физических величин, дл измерени которых необходимы функциональные преобразователи , передаточна функци которых описываетс полиномами п -и степени, функционалами и даже может иметь точки разрьша первого или второго рода..
Claims (1)
- СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ИНЕЭЛЕКГРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ,основанный на проведении измерений в несколько тактов,в одном из которых фиксируют исследуемый параметр, в двух других формируют значения образцовой меры М1 и , отличные друг от друга, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения и расширения функциональных возможностей за счет расширения класса исследуемых параметров, во втором и третьем тактах измерения изменяют значения соответственно М5 и Мг образцовой меры до равенства результатов измерений во всех трех тактах, а искомую величину X исследуемого параметра определяют из соотношения-м.), где К^ и К2 - коэффициенты масштабирования значения меры М1 и М2 во втором и третьем тактах измерения в момент установления указанного равенства.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843698741A SU1200182A1 (ru) | 1984-02-06 | 1984-02-06 | Способ измерени электрических и неэлектрических параметров |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843698741A SU1200182A1 (ru) | 1984-02-06 | 1984-02-06 | Способ измерени электрических и неэлектрических параметров |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1200182A1 true SU1200182A1 (ru) | 1985-12-23 |
Family
ID=21102806
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU843698741A SU1200182A1 (ru) | 1984-02-06 | 1984-02-06 | Способ измерени электрических и неэлектрических параметров |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1200182A1 (ru) |
-
1984
- 1984-02-06 SU SU843698741A patent/SU1200182A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР №331321, кл. G 01 R 19/00, 15.06.70. Авторское свидетельство СССР № 1041942, кл. G 01 R 19/00,26.04.82. Авторское свидетельство СССР № 1101748, кл. G 01 R .19/00,20.10.83. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR970702476A (ko) | 선운동 또는 각운동의 측정시스템(system for measuring linear or angular movement) | |
SU1200182A1 (ru) | Способ измерени электрических и неэлектрических параметров | |
SU1267264A1 (ru) | Способ измерени электрических и неэлектрических величин | |
SU1137412A2 (ru) | Устройство дл измерени амплитудно-частотной характеристики усилителей | |
RU2009448C1 (ru) | Тензометрическое устройство | |
SU1273739A1 (ru) | Многоканальна измерительна система с устройством коррекции измерительной характеристики | |
SU1101748A1 (ru) | Способ измерени электрических и неэлектрических параметров | |
SU1179230A1 (ru) | Устройство дл измерени параметров контролируемого объекта | |
JPS61125601A (ja) | ポテンシオメ−タを有する制御装置 | |
SU851117A1 (ru) | Устройство дл измерени темпера-ТуРы | |
SU1147989A1 (ru) | Способ измерени двух электрических или неэлектрических параметров | |
SU645092A1 (ru) | Способ измерени физических величин | |
RU2025675C1 (ru) | Устройство для измерения температуры и разности температур | |
SU798589A1 (ru) | Устройство дл определени готов-НОСТи пОлуфАбРиКАТОВ ХлЕбОпЕКАРНОгОпРОизВОдСТВА K ВыпЕчКЕ | |
SU864145A1 (ru) | Способ определени градуировочной характеристики стробоскопического измерительного преобразовател | |
SU711475A1 (ru) | Устройство дл измерени скорости движени объекта на заданном участке перемещени | |
SU781575A1 (ru) | Динамический способ линеаризации характеристик преобразовател | |
SU705380A1 (ru) | Цифровой измеритель сопротивлени | |
SU1205033A1 (ru) | Устройство дл измерени параметров комплексного двухполюсника | |
SU1357852A1 (ru) | Способ определени физических величин | |
SU720371A1 (ru) | Способ измерени фазовых характеристик аттенюатора | |
SU1693566A1 (ru) | Устройство дл определени емкости и тангенса угла диэлектрических потерь конденсаторов | |
SU586390A1 (ru) | Способ поверки потенциометров и устройство дл его реализации | |
SU1322157A1 (ru) | Способ измерени электрических и неэлектрических величин | |
SU977931A1 (ru) | Устройство дл измерени перемещений |