JPH0373445A - 情報記録媒体 - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の技術分野
本発明は、金属層を有する情報記録媒体に関し、さらに
詳しくは、耐腐食性あるいは安定性に優れ、しかも記録
パワーの線速依存性が小さい情報記録媒体に関する。
詳しくは、耐腐食性あるいは安定性に優れ、しかも記録
パワーの線速依存性が小さい情報記録媒体に関する。
発明の技術的背景
基板上に記録層と金属層とを有する書き換え可能な光磁
気ディスクなどの情報記録媒体では、該記録媒体に記録
するための記録パワーを内周部と外周部とで大きく異な
ることがないようにするため、記録パワーの線速依存性
を小さくすることが望まれている。
気ディスクなどの情報記録媒体では、該記録媒体に記録
するための記録パワーを内周部と外周部とで大きく異な
ることがないようにするため、記録パワーの線速依存性
を小さくすることが望まれている。
通常光磁気ディスクなどの情報記録媒体では、基板上に
光磁気記録層に加えて金属層が設けられているが、この
ような光磁気ディスクなどの情報記録媒体における金属
層としては、従来、ニッケル系合金、アルミニウム金属
あるいは0.1〜10重量%のチタンを含むアルミニウ
ム合金からなる金属層が用いられてきた。ところがアル
ミニウム金属またはアルミニウムーチタン合金からなる
金属層は、耐腐食性に劣り、長期間の使用に耐えないと
いう問題点があった。
光磁気記録層に加えて金属層が設けられているが、この
ような光磁気ディスクなどの情報記録媒体における金属
層としては、従来、ニッケル系合金、アルミニウム金属
あるいは0.1〜10重量%のチタンを含むアルミニウ
ム合金からなる金属層が用いられてきた。ところがアル
ミニウム金属またはアルミニウムーチタン合金からなる
金属層は、耐腐食性に劣り、長期間の使用に耐えないと
いう問題点があった。
またニッケル合金からなる金属層は、その合金の種類に
よっては記録書込み時にディスクの内周部と外周部とで
必要な記録パワーが大きく異なり、記録パワーの線速依
存性が依然として大きいという問題点があった。
よっては記録書込み時にディスクの内周部と外周部とで
必要な記録パワーが大きく異なり、記録パワーの線速依
存性が依然として大きいという問題点があった。
本発明者らは、耐腐食性あるいは長期安定性に優れ、し
かも記録パワーの線速依存性が小さいような情報記録媒
体を開発するため、鋭意検討したところ、チタンおよび
ニオブを少なくとも含むアルミニウム合金からなる金属
層を有する情報記録媒体は、耐腐食性に優れ、しかも記
録パワーの線速依存性が小さいことを見出して、本発明
を完成するに至った。
かも記録パワーの線速依存性が小さいような情報記録媒
体を開発するため、鋭意検討したところ、チタンおよび
ニオブを少なくとも含むアルミニウム合金からなる金属
層を有する情報記録媒体は、耐腐食性に優れ、しかも記
録パワーの線速依存性が小さいことを見出して、本発明
を完成するに至った。
発明の目的
本発明は、上記のような従来技術に伴う問題点を解決し
ようとするものであって、耐腐食性に優れ、しかも記録
パワーの線速依存性が小さい情報記録媒体を提供するこ
とを目的としている。
ようとするものであって、耐腐食性に優れ、しかも記録
パワーの線速依存性が小さい情報記録媒体を提供するこ
とを目的としている。
発明の概要
本発明に係る情報記録媒体は、基板上に記録層と金属層
とを有する情報記録媒体において、該金属層が、アルミ
ニウム合金を構成する全原子数を基準としてチタン0.
5〜5原子%とニオブ0.5〜5原子%とを含み、かつ
チタンとニオブとの合計含有量が1〜5.5原子%の範
囲にあるアルミニウム合金からなることを特徴としてい
る。
とを有する情報記録媒体において、該金属層が、アルミ
ニウム合金を構成する全原子数を基準としてチタン0.
5〜5原子%とニオブ0.5〜5原子%とを含み、かつ
チタンとニオブとの合計含有量が1〜5.5原子%の範
囲にあるアルミニウム合金からなることを特徴としてい
る。
このような本発明に係る情報記録媒体は、チタン0.5
〜5原子%とニオブ0.5〜5原子%とを含み、かつチ
タンとニオブとの合計含有量が1〜5.5原子%の範囲
にあるアルミニウム合金からなる金属層を有しているた
め、耐腐食性に優れ、しかも記録パワーの線速依存性が
小さく、かつ記録層の保護作用にも優れている。
〜5原子%とニオブ0.5〜5原子%とを含み、かつチ
タンとニオブとの合計含有量が1〜5.5原子%の範囲
にあるアルミニウム合金からなる金属層を有しているた
め、耐腐食性に優れ、しかも記録パワーの線速依存性が
小さく、かつ記録層の保護作用にも優れている。
発明の詳細な説明
以下本発明に係る情報記録媒体について、具体的に説明
する。
する。
第1図は本発明の一実施例に係る情報記録媒体の概略断
面図、第2図および第3図は本発明の他の実施例に係る
情報記録媒体の概略断面図である。
面図、第2図および第3図は本発明の他の実施例に係る
情報記録媒体の概略断面図である。
本発明に係る情報記録媒体では、レーザー光などの光に
よって、該記録媒体に書込まれた情報を読み出している
。このような情報記録媒体としては、具体的には、記録
されている情報の消去はできないが追加記録が可能な追
記型光ディスク、さらには記録されている情報の消去、
再生が可能であるとともに記録が可能な光磁気ディスク
、相変化ディスクなどの書換型光ディスクが挙げられる
。
よって、該記録媒体に書込まれた情報を読み出している
。このような情報記録媒体としては、具体的には、記録
されている情報の消去はできないが追加記録が可能な追
記型光ディスク、さらには記録されている情報の消去、
再生が可能であるとともに記録が可能な光磁気ディスク
、相変化ディスクなどの書換型光ディスクが挙げられる
。
本発明に係る情報記録媒体1は、たとえば第1図に示す
ように、基板2上に記録層3および金属層4とがこの順
序で設けられている。
ように、基板2上に記録層3および金属層4とがこの順
序で設けられている。
本発明では、上記のような基板2の材質は特に限定され
ないが、基板2側(矢印A)からレーザ光が入射する場
合には、透明基板であることが好ましく、具体的には、
ガラスやアルミニウム等の無機材料の他に、ポリメチル
メタクリレート、ポリカーボネート、ポリカーボネート
とポリスチレンのポリマーアロイ、米国特許第4.61
4.7Tl1号明細書に開示しであるような環状オレフ
ィンランダム共重合体、下記の環状オレフィンランダム
共重合体(A)、ポリ4−メチル−1−ペンテン、エポ
キシ樹脂、ポリエーテルサルフオン、ポリサルフオン、
ポリエーテルイミド等の有機材料を用いることができる
。この中では、ポリメチルメタクリレート、ポリカーボ
ネート、米国特許第4、614.08号明細書に記載の
ような共重合体および下記の環状オレフィンランダム共
重合体(A)が好ましい。
ないが、基板2側(矢印A)からレーザ光が入射する場
合には、透明基板であることが好ましく、具体的には、
ガラスやアルミニウム等の無機材料の他に、ポリメチル
メタクリレート、ポリカーボネート、ポリカーボネート
とポリスチレンのポリマーアロイ、米国特許第4.61
4.7Tl1号明細書に開示しであるような環状オレフ
ィンランダム共重合体、下記の環状オレフィンランダム
共重合体(A)、ポリ4−メチル−1−ペンテン、エポ
キシ樹脂、ポリエーテルサルフオン、ポリサルフオン、
ポリエーテルイミド等の有機材料を用いることができる
。この中では、ポリメチルメタクリレート、ポリカーボ
ネート、米国特許第4、614.08号明細書に記載の
ような共重合体および下記の環状オレフィンランダム共
重合体(A)が好ましい。
本発明において、基板として特に好ましい材料としては
、特に記録膜との密着性が良く、複屈折率が小さいとい
う観点から、エチレンと、下記−般式[I]または[■
°〕で表わされる環状オレフィンとの共重合体からなる
環状オレフィン系ランダム共重合体が挙げられる。
、特に記録膜との密着性が良く、複屈折率が小さいとい
う観点から、エチレンと、下記−般式[I]または[■
°〕で表わされる環状オレフィンとの共重合体からなる
環状オレフィン系ランダム共重合体が挙げられる。
(以下余白)
一般式[■コ
一般式[I°]
(式中、nはOまたは1であり、mは0または正の整数
であって、 R1,R口は、それぞれ独立に、水素原子、ハロゲン原
子および炭化水素基よりなる群から選ばれる原子もしく
は基を表し R+s〜R11は、互いに結合して単環または多環を形
成していてもよく、かつ該単環または多環が二重結合を
有していてもよく、 また、 RISとR+aとで、またはRI’FとRI8
とでアルキリデン基を形成していてもよい)。
であって、 R1,R口は、それぞれ独立に、水素原子、ハロゲン原
子および炭化水素基よりなる群から選ばれる原子もしく
は基を表し R+s〜R11は、互いに結合して単環または多環を形
成していてもよく、かつ該単環または多環が二重結合を
有していてもよく、 また、 RISとR+aとで、またはRI’FとRI8
とでアルキリデン基を形成していてもよい)。
・・ [1′]
(式[y’]中、p iioまたは1以上の整数であり
、qおよびrは、0、 lまたは2であり、R1〜Rt
sはそれぞれ独立に水素原子、ハロゲン原子、脂肪族炭
化水素基 芳香族炭化水素基 およびアルコキシ基より
なる群から原子もしくは基を表しR8(またはR6)と
R9(またはR〒)と+4 炭素数1〜3のアルキレ
ン基を介して結合していてもよく、また何の基も介さず
に直接結合していてもよい。 ) ただし 上記式[r]において、nはOまたは1であり
、好ましくはOである。また、mはOまたは正の整数で
あり、好ましくはO〜3である。
、qおよびrは、0、 lまたは2であり、R1〜Rt
sはそれぞれ独立に水素原子、ハロゲン原子、脂肪族炭
化水素基 芳香族炭化水素基 およびアルコキシ基より
なる群から原子もしくは基を表しR8(またはR6)と
R9(またはR〒)と+4 炭素数1〜3のアルキレ
ン基を介して結合していてもよく、また何の基も介さず
に直接結合していてもよい。 ) ただし 上記式[r]において、nはOまたは1であり
、好ましくはOである。また、mはOまたは正の整数で
あり、好ましくはO〜3である。
また上記式[I°]において、pはOまたは1以上の整
数であり、好ましくはO〜3の整数である。
数であり、好ましくはO〜3の整数である。
そして、R1,R11(式[I])、またハRl〜R1
5(式[+’l)は、それぞれ独立に 水素原子、ハロ
ゲン原子および炭化水素基よりなる群から選ばれる原子
もしくは基を表す。ここで、ハロゲン原子としては、た
とえ(!、フッ素原子、塩素原子、臭素原子およびヨウ
素原子をあげることができる。
5(式[+’l)は、それぞれ独立に 水素原子、ハロ
ゲン原子および炭化水素基よりなる群から選ばれる原子
もしくは基を表す。ここで、ハロゲン原子としては、た
とえ(!、フッ素原子、塩素原子、臭素原子およびヨウ
素原子をあげることができる。
また、炭化水素基として1丸 それぞれ独立眠 通常は
炭素原子数1〜6のアルキル基 炭素原子数3〜6のシ
クロアルキル基をあげることができ、アルキル基の具体
的な例として1転 メチル基 エチル基 イソプロピル
基 イソブチル基 アミル基をあげることができ、シク
ロアルキル基の具体的な例として1転 シクロヘキシル
基 シクロプロピル基 シクロブチル基 シクロペンチ
ル基を挙げることができる。
炭素原子数1〜6のアルキル基 炭素原子数3〜6のシ
クロアルキル基をあげることができ、アルキル基の具体
的な例として1転 メチル基 エチル基 イソプロピル
基 イソブチル基 アミル基をあげることができ、シク
ロアルキル基の具体的な例として1転 シクロヘキシル
基 シクロプロピル基 シクロブチル基 シクロペンチ
ル基を挙げることができる。
また上記式[I°]にわいて、R8(またはR6)とR
9(またはR丁)とは 炭素数l〜3のアルキレン基を
介して結合していてもよく、また何の基も介さずに直接
結合していてもよい。
9(またはR丁)とは 炭素数l〜3のアルキレン基を
介して結合していてもよく、また何の基も介さずに直接
結合していてもよい。
さら屯 上記式[1]において、R言5〜RI8は互い
に結合して(共同して)単環または多環を形成していて
もよく、かつ該単環または多環が二重結合を有していて
もよい。また、′R+%とRI6とで、またはR1?と
R1・とでアルキリデン基を形成していてもよい。この
ようなアルキリデン基1九 通常は炭素原子数2〜4の
アルキリデン基をあげることができ、その具体的な例と
して1転 エチリデン基 プロピリデン基 イソプロピ
リデン基およびインブチリデン基をあげることができる
。
に結合して(共同して)単環または多環を形成していて
もよく、かつ該単環または多環が二重結合を有していて
もよい。また、′R+%とRI6とで、またはR1?と
R1・とでアルキリデン基を形成していてもよい。この
ようなアルキリデン基1九 通常は炭素原子数2〜4の
アルキリデン基をあげることができ、その具体的な例と
して1転 エチリデン基 プロピリデン基 イソプロピ
リデン基およびインブチリデン基をあげることができる
。
前記式[1Fまたは[r’lで表される環状オレフィン
6九 シクロペンタジェン類と、相応するオレフィン類
あるいは環状オレフィン類とをディールス・アルダ−反
応により縮合させることにより容易に製造することがで
きる。
6九 シクロペンタジェン類と、相応するオレフィン類
あるいは環状オレフィン類とをディールス・アルダ−反
応により縮合させることにより容易に製造することがで
きる。
前記式[Iコ
または[I
]
で表される環状オレ
フィンとしては、
具体的に1転
たとえば下記のよ
うな化合物を挙げることができる。
(以下余白)
などのようなビシクロ[2,2,1]
ヘプト−2−
エン誘
導体;
ン
5.10−ジメチルテトラ
CH。
Hh
C)fネ
2.10−ジメチルテ
トラ
2、7.9− )リメチルテ
ン
9−イソブチル−2,7−
9,11,12−)リフチル
9−エチル−11,12−ジメ
9−イソブチル−11,12
8−メチルテトラシフ
8−エチルテトラシフ
+s]−3−ドデセン
8−へキシルテトラシ
ClsHmア
・目]−3−ドデセン
5、8.9.10−テトラメチ
・1・コー3−ドデセン
8−メチル−9−エチルテ
8−クロロテトラシフ
−3−ドデセン
8−プロモチトラシフ
−3−ドデセン
8−フルオロテトラシ
S・]−]3−ドデセ
ン]−3−ドデセン
5.1丁・目]−3−ドデセン
ン
8−エチリデン−9−イソ
7・I@]、、−3−ドデセン
一ドデセン
−3−ドデセン
12.5.1丁
+ @]−3−ドデセ
ン
+s]−3−ドデセン
5.1丁・同]−3−ドデセン
、12・5.17・目]−3−ドデセ
8−n−プロピリデン−9
ン
一ドデセン
8−n−プロピリデン−9
8−イソプロピリデン
[4,4,0,121,1丁口・]−]3−ドデセ
一ドデセン
+1]−3−ドデセン
」・コー3−ドデセン
8−n−プロピリデン−9
8−インプロピリデン
[4,4,O,lt、 s 、 1丁・目]−3−ドデ
セン ードデセン などのテトラシクロ[4,4,0,1”・5.1丁目]
−3−ドデセ ン誘導体; (以下余白) 8−イソブロビリデン +3.Q2.?、Q11.+43−4−ヘプタデセン などのへキサシクロ[6,5J、 13.g、lI@、
lff、Q2.?、Qllデセン ・目]−4−へブタデセン誘導体; デセン トコセン ヘプタデセン 11・1・、1目・目 Q3.I、Q12・I丁]−5
−トコセン 15−エチルオクタシフ CH。
セン ードデセン などのテトラシクロ[4,4,0,1”・5.1丁目]
−3−ドデセ ン誘導体; (以下余白) 8−イソブロビリデン +3.Q2.?、Q11.+43−4−ヘプタデセン などのへキサシクロ[6,5J、 13.g、lI@、
lff、Q2.?、Qllデセン ・目]−4−へブタデセン誘導体; デセン トコセン ヘプタデセン 11・1・、1目・目 Q3.I、Q12・I丁]−5
−トコセン 15−エチルオクタシフ CH。
セン
などのオクタシクロ[8,8,0,1t・・、14?
、 111 1・、1 −03 ・Q+2.+vl−5−トコセン誘導体;などのペンタ
シクロ[6,6,1,1”、02・7.o9・I ’
] −]4−ヘキサデセン誘導体 ;セン などのへブタシクロ−5−イコセン誘導体あるいはへブ
タシクロ−5−ヘンエイコセン誘導体;ト リシクロ[4,3,0,1 CH。
、 111 1・、1 −03 ・Q+2.+vl−5−トコセン誘導体;などのペンタ
シクロ[6,6,1,1”、02・7.o9・I ’
] −]4−ヘキサデセン誘導体 ;セン などのへブタシクロ−5−イコセン誘導体あるいはへブ
タシクロ−5−ヘンエイコセン誘導体;ト リシクロ[4,3,0,1 CH。
2−メチルトリシクロ
などのトリシクロ[4,4,0,12・5]−3−ウン
デセン誘導体; 5−メチル−トリシクロ などのトリシクロ[4,3,0,1” 、 Iコー3−
デセン誘導体;1.6−シメチルベンタ メチル置換ベンタシ CH。
デセン誘導体; 5−メチル−トリシクロ などのトリシクロ[4,3,0,1” 、 Iコー3−
デセン誘導体;1.6−シメチルベンタ メチル置換ベンタシ CH。
14、15−ジメチルベン
などのペンタシクロ
[47,0,12,s、(p、+3,1s、+2]−3
−ペンタデセン誘導体; などのペンタシクロU6,5.1.1’−@、Q2.y
、0*、+5)−4−ペンタデセン誘導体; コセン 2、IIIコ 一4−エイコセン などのジエン化合物; などのへブタシクロ [7,8,O,iff @、Q2.711@、17.0 嘗 1.1 @、 11 れ IS]−4−エイコセ
ン誘導体; そしてさらに(ム ・21,1112・、01′・i9.11L目]−5−
ベンタコセン −5−ベンタコセン などのノナシクロ[9,10,1,1’・7.Q3.@
、Qll・QI221、11.211.Q10.目、l
lS目] −5−ヘ:/ 9 コセ:/誘導体等を挙げ
ることができる。
−ペンタデセン誘導体; などのペンタシクロU6,5.1.1’−@、Q2.y
、0*、+5)−4−ペンタデセン誘導体; コセン 2、IIIコ 一4−エイコセン などのジエン化合物; などのへブタシクロ [7,8,O,iff @、Q2.711@、17.0 嘗 1.1 @、 11 れ IS]−4−エイコセ
ン誘導体; そしてさらに(ム ・21,1112・、01′・i9.11L目]−5−
ベンタコセン −5−ベンタコセン などのノナシクロ[9,10,1,1’・7.Q3.@
、Qll・QI221、11.211.Q10.目、l
lS目] −5−ヘ:/ 9 コセ:/誘導体等を挙げ
ることができる。
(以下余白)
を挙げることができる。
(以下余白)
)
上記のようなエチレンと、一般式[r]また(よ[I゛
]で表される環状オレフィンとの共重合体としてit、
135℃のデカリン中で測定した極限粘度[η]が
o、 os〜10a* / gの範囲にあり、軟化温度
(TMA)が70℃以上である環状オレフィン系ランダ
ム共重合体(以下環状オレフィン系ランダム共重合体[
A]という)が好ましく用いられる。また所望により、
環状オレフィン系ランダム共重合体[A]!、 エチ
レンと、下記式[r]または〔l°]で表される環状オ
レフィンとの共重合体であって、135℃のデカリン中
で測定した極限粘度[η]が0.05〜5.1R/ H
の範囲にあり、軟化温度(TMA)が70℃未満である
環状オレフィン系ランダム共重合体(以下環状オレフィ
ン系ランダム共重合体[B]という)を配合して用いて
もよ!、)。
]で表される環状オレフィンとの共重合体としてit、
135℃のデカリン中で測定した極限粘度[η]が
o、 os〜10a* / gの範囲にあり、軟化温度
(TMA)が70℃以上である環状オレフィン系ランダ
ム共重合体(以下環状オレフィン系ランダム共重合体[
A]という)が好ましく用いられる。また所望により、
環状オレフィン系ランダム共重合体[A]!、 エチ
レンと、下記式[r]または〔l°]で表される環状オ
レフィンとの共重合体であって、135℃のデカリン中
で測定した極限粘度[η]が0.05〜5.1R/ H
の範囲にあり、軟化温度(TMA)が70℃未満である
環状オレフィン系ランダム共重合体(以下環状オレフィ
ン系ランダム共重合体[B]という)を配合して用いて
もよ!、)。
この上記のような環状オレフィン類とエチレンとの共重
合体である環状オレフィン系ランダム共重合体[A]
#よび[B]臥 エチレンおよび前記環状オレフィンを
必須成分とするものであるが、該必須の二成分の他に本
発明の目的を損なわない範囲で、必要に応じて他の共重
合可能な不飽和単量体成分を含有していてもよい。任意
に共重合されていてもよい該不飽和単量体として、具体
的に14 たとえば生成するランダム共重合体中のエチ
レン成分単位と等モル未満の範囲のプロピレン、1−ブ
テン、4−メチル−1−ペンテン、1−ヘキセン、1−
オクテン、 1−デセン、 1−ドデセン、 1−テト
ラデセン、1−へキサデセン、l−オクタデセン、l−
エイコセンなどの炭素原子数が3〜20のα−オレフィ
ンなどを例示することができる。
合体である環状オレフィン系ランダム共重合体[A]
#よび[B]臥 エチレンおよび前記環状オレフィンを
必須成分とするものであるが、該必須の二成分の他に本
発明の目的を損なわない範囲で、必要に応じて他の共重
合可能な不飽和単量体成分を含有していてもよい。任意
に共重合されていてもよい該不飽和単量体として、具体
的に14 たとえば生成するランダム共重合体中のエチ
レン成分単位と等モル未満の範囲のプロピレン、1−ブ
テン、4−メチル−1−ペンテン、1−ヘキセン、1−
オクテン、 1−デセン、 1−ドデセン、 1−テト
ラデセン、1−へキサデセン、l−オクタデセン、l−
エイコセンなどの炭素原子数が3〜20のα−オレフィ
ンなどを例示することができる。
上記のような環状オレフィン系ランダム共重合体[A]
では、エチレンに由来する繰り返17単位(a)(戴
40〜85モル%、好ましくは50〜75モル%の範囲
で存在しており、また該環状オレフィンに由来する繰り
返し単位(b)は15〜60モル%、好ましくは25〜
50モル%の範囲で存在しており、エチレンに由来する
繰り返し単位(a)および該環状オレフィンに由来する
繰り返し単位(b) 11 ランダムに実質上線状に
配列している。なお、エチレン組成および環状オレフィ
ン組成は13cmNMRによって測定した この環状オ
レフィン系ランダム共重合体が実質上線状であり、ゲル
状架橋構造を有していないことは、該共重合体が135
℃のデカリン中に完全に溶解することによって確認でき
る。
では、エチレンに由来する繰り返17単位(a)(戴
40〜85モル%、好ましくは50〜75モル%の範囲
で存在しており、また該環状オレフィンに由来する繰り
返し単位(b)は15〜60モル%、好ましくは25〜
50モル%の範囲で存在しており、エチレンに由来する
繰り返し単位(a)および該環状オレフィンに由来する
繰り返し単位(b) 11 ランダムに実質上線状に
配列している。なお、エチレン組成および環状オレフィ
ン組成は13cmNMRによって測定した この環状オ
レフィン系ランダム共重合体が実質上線状であり、ゲル
状架橋構造を有していないことは、該共重合体が135
℃のデカリン中に完全に溶解することによって確認でき
る。
このような環状オレフィン系ランダム共重合体[A]の
135℃のデカリン中で測定した極限粘度[η]は、0
.05〜10am/g、 好ましくは0.08〜5a
n / Hの範囲にある。
135℃のデカリン中で測定した極限粘度[η]は、0
.05〜10am/g、 好ましくは0.08〜5a
n / Hの範囲にある。
また環状オレフィン系ランダム共重合体[A]のサーマ
ル・メカニカル・アナライザーで測定した軟化温度(T
MA) 14 70℃以上 好ましくは90〜250℃
、さらに好ましくは100〜200℃の範囲にある。な
お軟化温度(TMA)LL デュポン社製Therm
omechanieal Analyserを用いて厚
さ1mのシートの熱変形挙動により測定しら すなわち
シート上に石英製針をのせ、荷重49gをかけ、5℃/
分で昇温していき、針が0.635M侵入した温度をT
MAとし九 また、該環状オレフィン系ランダム共重合
体のガラス転移温度(Ts;l)は、通常50〜230
℃、好ましくは70〜210tの範囲にあることが望ま
しい。
ル・メカニカル・アナライザーで測定した軟化温度(T
MA) 14 70℃以上 好ましくは90〜250℃
、さらに好ましくは100〜200℃の範囲にある。な
お軟化温度(TMA)LL デュポン社製Therm
omechanieal Analyserを用いて厚
さ1mのシートの熱変形挙動により測定しら すなわち
シート上に石英製針をのせ、荷重49gをかけ、5℃/
分で昇温していき、針が0.635M侵入した温度をT
MAとし九 また、該環状オレフィン系ランダム共重合
体のガラス転移温度(Ts;l)は、通常50〜230
℃、好ましくは70〜210tの範囲にあることが望ま
しい。
また、この環状オレフィン系ランダム共重合体[A、]
のX線回折法によって測定した結晶化度1転0〜10%
好ましくは0〜7%、とくに好ましくは0〜5%の
範囲である。
のX線回折法によって測定した結晶化度1転0〜10%
好ましくは0〜7%、とくに好ましくは0〜5%の
範囲である。
本発明で+f、 また上記のような軟化温度(TMA
)が70℃以上である環状オレフィン系ランダム共重合
体[A]に、 エチレンと、上記式[I]または[I°]で表わされる
環状オレフィンとの共重合体であって、135℃のデカ
リン中で測定した極限粘度[7コが0.05〜5a/g
の範囲にあり、軟化温度(TMA)が70℃未満である
環状オレフィン系ランダム共重合体[B]を配合してな
る環状オレフィン系ランダム共重合体組成物から基板を
形成することが好ましい。
)が70℃以上である環状オレフィン系ランダム共重合
体[A]に、 エチレンと、上記式[I]または[I°]で表わされる
環状オレフィンとの共重合体であって、135℃のデカ
リン中で測定した極限粘度[7コが0.05〜5a/g
の範囲にあり、軟化温度(TMA)が70℃未満である
環状オレフィン系ランダム共重合体[B]を配合してな
る環状オレフィン系ランダム共重合体組成物から基板を
形成することが好ましい。
上記のような軟化点(TMA)が70℃未満である環状
オレフィン系ランダム共重合体CB]で1転エチレンに
由来する繰り返し単位(a)If、 60〜98モル
覧 好ましくは60〜98モル%の範囲で存在しており
、また該環状オレフィンに由来する繰り返し単位(b)
は2〜40モル%、好ましくは5〜40モル%の範囲で
存在しており、エチレンに由来する繰り返し単位(a)
および該環状オレフィンに由来する繰り返し単位(b)
IL ランダムに実質上線状に配列している。なお
、エチレン組成および環状オレフィン組成は13cmN
MRによって測定し九 この環状オレフィン系ランダム
共重合体[Bコが実質上線状であり、ゲル状架橋構造を
有していないことは、該共重合体が135℃のデカリン
中に完全に溶解することによって確認できる。
オレフィン系ランダム共重合体CB]で1転エチレンに
由来する繰り返し単位(a)If、 60〜98モル
覧 好ましくは60〜98モル%の範囲で存在しており
、また該環状オレフィンに由来する繰り返し単位(b)
は2〜40モル%、好ましくは5〜40モル%の範囲で
存在しており、エチレンに由来する繰り返し単位(a)
および該環状オレフィンに由来する繰り返し単位(b)
IL ランダムに実質上線状に配列している。なお
、エチレン組成および環状オレフィン組成は13cmN
MRによって測定し九 この環状オレフィン系ランダム
共重合体[Bコが実質上線状であり、ゲル状架橋構造を
有していないことは、該共重合体が135℃のデカリン
中に完全に溶解することによって確認できる。
このような環状オレフィン系ランダム共重合体[B]の
135℃のデカリン中で測定した極限粘度[V] は、
0.05〜5 ax / g、 好ましくは0.0
8〜3aQ/ gの範囲にある。
135℃のデカリン中で測定した極限粘度[V] は、
0.05〜5 ax / g、 好ましくは0.0
8〜3aQ/ gの範囲にある。
また環状オレフィン系ランダム共重合体[B]のサーマ
ル・メカニカル・アナライザーで測定した軟化温度(T
MA) let、 70℃未鳳 好ましくは一10=
60℃、さらに好ましくは10〜55℃の範囲にある。
ル・メカニカル・アナライザーで測定した軟化温度(T
MA) let、 70℃未鳳 好ましくは一10=
60℃、さらに好ましくは10〜55℃の範囲にある。
さらに、該環状オレフィン系ランダム共重合体[B]の
ガラス転移温度(Tg) l& 通常−30〜60℃
、好ましくは一20〜50℃の範囲にあることが望まし
い。
ガラス転移温度(Tg) l& 通常−30〜60℃
、好ましくは一20〜50℃の範囲にあることが望まし
い。
また、この環状オレフィン系ランダム共重合体[B]の
X線回折法によって測定した結晶化度140〜10%、
好ましくは0〜7%、とくに好ましくは0〜5%の範囲
である。
X線回折法によって測定した結晶化度140〜10%、
好ましくは0〜7%、とくに好ましくは0〜5%の範囲
である。
本発明において、基板として環状オレフィンランダム共
重合体[A]およびCB]を用いる場合に(九 該環状
オレフィン系ランダム共重合体[A]/該環状オレフィ
ン系ランダム共重合体[B]の重量比は10010.1
〜100/10、好ましくは10010.3〜100/
7、とくに好ましくは10010.5〜10015の範
囲であることが望ましい。 [B]酸成分この範囲で[
A]戊分に配合することによって基板自体の優れた透明
性と表面平滑性を維持したままで本発明で用いる反射膜
との苛酷な条件下での密着性が[A]酸成分みの場合に
比べさらに向上するという効果があり、 [A]と[B
]とのブレンドよりなるこの上記の環状オレフィンラン
ダム共重合体組成物を基板に用いれば本発明で用いる反
射膜との優れた密着性は高?L 高湿条件下放置後に
おいてさえも変化がないという特性を有している。
重合体[A]およびCB]を用いる場合に(九 該環状
オレフィン系ランダム共重合体[A]/該環状オレフィ
ン系ランダム共重合体[B]の重量比は10010.1
〜100/10、好ましくは10010.3〜100/
7、とくに好ましくは10010.5〜10015の範
囲であることが望ましい。 [B]酸成分この範囲で[
A]戊分に配合することによって基板自体の優れた透明
性と表面平滑性を維持したままで本発明で用いる反射膜
との苛酷な条件下での密着性が[A]酸成分みの場合に
比べさらに向上するという効果があり、 [A]と[B
]とのブレンドよりなるこの上記の環状オレフィンラン
ダム共重合体組成物を基板に用いれば本発明で用いる反
射膜との優れた密着性は高?L 高湿条件下放置後に
おいてさえも変化がないという特性を有している。
本発明における基板を構成する上記の環状オレフィン共
重合体[A]および[B11;L 特開昭60−16
8708号公抵 特開昭61−120816号公抵 特
開昭61−115912号公抵 特開昭61−1159
16号公楓 特開昭62−252406号公叛 特開昭
62−252407号公叛特開昭61−271308号
公楓 特開昭61−272216号公報などにおいて本
出願人が提案した方法に従い適宜条件を選択することに
より、製造することができる。
重合体[A]および[B11;L 特開昭60−16
8708号公抵 特開昭61−120816号公抵 特
開昭61−115912号公抵 特開昭61−1159
16号公楓 特開昭62−252406号公叛 特開昭
62−252407号公叛特開昭61−271308号
公楓 特開昭61−272216号公報などにおいて本
出願人が提案した方法に従い適宜条件を選択することに
より、製造することができる。
このような環状オレフィン系ランダム共重合体中におい
て、前記式[13または[l°]で表される環状オレフ
ィンから導がれる構成単位(b)は下記式[iまたは[
r1°]で表される構造の繰り返し単位を形成している
と考えられる力t 一部の構成単位(b)が開積重合に
よって結合している場合もあり、また必要に応じて水素
添加することも可能である。
て、前記式[13または[l°]で表される環状オレフ
ィンから導がれる構成単位(b)は下記式[iまたは[
r1°]で表される構造の繰り返し単位を形成している
と考えられる力t 一部の構成単位(b)が開積重合に
よって結合している場合もあり、また必要に応じて水素
添加することも可能である。
・・[n]
(式[n]中、m、nおよびR+ 〜R目If 前記式
[I]における定義と同様である。) ・ [n °コ (式[n ’]中、I)Sq、 rおよびR1=Ri
は前記式[I゛]における定義と同様である。)本発明
に係る光磁気記録媒体の基板としては、前述したとおり
、上記のエチレンと環状オレフィンとのランダム共重合
体のほかに、同種または異種の環状オレフィン単量体を
開環して得られる環状オレフィン開環型合本 開環共重
合体またはそれらの水素添加物を用いることもできる。
[I]における定義と同様である。) ・ [n °コ (式[n ’]中、I)Sq、 rおよびR1=Ri
は前記式[I゛]における定義と同様である。)本発明
に係る光磁気記録媒体の基板としては、前述したとおり
、上記のエチレンと環状オレフィンとのランダム共重合
体のほかに、同種または異種の環状オレフィン単量体を
開環して得られる環状オレフィン開環型合本 開環共重
合体またはそれらの水素添加物を用いることもできる。
このような環状オレフィン開環型合本 開環共重合体お
よびこれらの水素添加物について、前記式[11で表さ
れる環状オレフィンを例にして説明すると、以下に記載
するように反応して開環共重合体およびこれらの水素添
加物を構成していると考えられる。
よびこれらの水素添加物について、前記式[11で表さ
れる環状オレフィンを例にして説明すると、以下に記載
するように反応して開環共重合体およびこれらの水素添
加物を構成していると考えられる。
↓開環
↓水素添加
このような重合体の例として、テトラシクロドデセンと
ノルボルネン及びそれらの誘導体との開環共電合本 及
びその水素添加物をあげることができる。
ノルボルネン及びそれらの誘導体との開環共電合本 及
びその水素添加物をあげることができる。
なお、本発明においては上記のような開環重合像 開環
共重合像 これらの水素添加物および環状オレフィン系
ランダム共重合体の一部が無水マレイン酸等の不飽和カ
ルボン酸等で変性されていてもよい。このような変性物
は、上記のような環状オレフィン系樹脂と、不飽和カル
ボン酸、これらの無水物、および不飽和カルボン酸のア
ルキルニスデル等の誘導体とを反応させることにより製
造することができる。な駁 この場合の環状オレフィン
系樹脂の変性物中における変性剤から導かれる構成単位
の含有率は、通常は50〜(0モル%以下である。この
ような環状オレフィン系樹脂変性物は、所望の変性率に
なるように環状オレフィン系樹脂に変性剤を配合してグ
ラフト重合させて製造することもできるし 予め高変性
率の変性物を調製し 次いでこの変性物と未変性の環状
オレフィン系樹脂とを混合することによっても製造する
ことができる。
共重合像 これらの水素添加物および環状オレフィン系
ランダム共重合体の一部が無水マレイン酸等の不飽和カ
ルボン酸等で変性されていてもよい。このような変性物
は、上記のような環状オレフィン系樹脂と、不飽和カル
ボン酸、これらの無水物、および不飽和カルボン酸のア
ルキルニスデル等の誘導体とを反応させることにより製
造することができる。な駁 この場合の環状オレフィン
系樹脂の変性物中における変性剤から導かれる構成単位
の含有率は、通常は50〜(0モル%以下である。この
ような環状オレフィン系樹脂変性物は、所望の変性率に
なるように環状オレフィン系樹脂に変性剤を配合してグ
ラフト重合させて製造することもできるし 予め高変性
率の変性物を調製し 次いでこの変性物と未変性の環状
オレフィン系樹脂とを混合することによっても製造する
ことができる。
本発明において、上記の開環重合像 開環共重合像 こ
れらの水素添加物および環状オレフィン系ランダム共重
合体ならびにその変性物は、単独で、あるいは組み合わ
せて使用することができる。
れらの水素添加物および環状オレフィン系ランダム共重
合体ならびにその変性物は、単独で、あるいは組み合わ
せて使用することができる。
さらに 本発明において1転 上記のような環状オレフ
ィン系ランダム共重合体を製造するに際して、得られる
重合体等の物性を損なわない範囲で、前記式[I]また
は[I“]で表される環状オレフィン以外の環状オレフ
ィンを重合させることもできる。このような環状オレフ
ィンとしては、たとえば、 シクロブテン、 シクロペンテン、 シクロヘキセン、 3.4−ジメチルシクロヘキセン、 3−メチルシクロヘキセン、 2−(2−メチルブチル)−1−シクロヘキセン、2、
3.3a、 7a−テトラヒドロ−4,7−メタノ−I
H−インデン 3a、 5.6.7a−テトラヒドロ −4,7−メタ
ノ−1H−インデンなどをあげることができる。このよ
うなイ也の環状オレフィンは単独で、あるし)(よ組み
合わせて使用することができ、通常、O〜50モル%の
量で用いられる。
ィン系ランダム共重合体を製造するに際して、得られる
重合体等の物性を損なわない範囲で、前記式[I]また
は[I“]で表される環状オレフィン以外の環状オレフ
ィンを重合させることもできる。このような環状オレフ
ィンとしては、たとえば、 シクロブテン、 シクロペンテン、 シクロヘキセン、 3.4−ジメチルシクロヘキセン、 3−メチルシクロヘキセン、 2−(2−メチルブチル)−1−シクロヘキセン、2、
3.3a、 7a−テトラヒドロ−4,7−メタノ−I
H−インデン 3a、 5.6.7a−テトラヒドロ −4,7−メタ
ノ−1H−インデンなどをあげることができる。このよ
うなイ也の環状オレフィンは単独で、あるし)(よ組み
合わせて使用することができ、通常、O〜50モル%の
量で用いられる。
また本発明に係る光磁気記録媒体の基板番こ1よ、1−
、記[A]および[B]酸成分他を二、衝撃弓蛮度を向
上させるためのゴム成分を配合したり、耐熱安定却L
耐候安定斉L ¥f?!防止斉L スリップml ア
ンチブロッキング斉L 防i邦L 滑K 染料、顔料
、天然礁 合成法 ワックスなどを配合すること力Cで
き、その配合割合は適宜量である。たとえ(戴任意成分
として配合される安定剤として具体的には、テトラキス
〔メチレン−3(3,5−ジ−t−ブチル−4−ヒドロ
キシフェニル)プロピオネートコメタン、β−(3,5
−ジ−t−ブチル−4−ヒドロキシフェニル)プロピオ
ン酸アルキルエステル、2,2°−オキザミドビス[エ
チル−3(3,5−ジ−t−ブチル−4−ヒドロキシフ
ェニル)]プロピオネートなどのフェノール系酸化防止
K ステアリン酸亜鉛、ステアリン酸カルシウム、1
2−ヒドロキシステアリン酸カルシウムなどの脂肪酸金
属塩、グリセリンモノステアレート、グリセリンモノラ
ウレート、グリセリンジステアレート、ペンタエリスリ
トールモノステアレート、ペンタエリスリトールジステ
アレート、ペンタエリスリトールトリステアレート等の
多価アルコールの脂肪酸エステルなどを挙げることがで
きる。これらは単独で配合してもよいが、組み合わせで
配合してもよく、たとえば、テトラキス[メチレン−3
(3゜5−ジー七−ブチルー4−ヒドロキシフェニル)
プロピオネートコメタンとステアリン酸亜鉛およびグリ
セリンモノステアレートとの組合せ等を例示することが
できる。
、記[A]および[B]酸成分他を二、衝撃弓蛮度を向
上させるためのゴム成分を配合したり、耐熱安定却L
耐候安定斉L ¥f?!防止斉L スリップml ア
ンチブロッキング斉L 防i邦L 滑K 染料、顔料
、天然礁 合成法 ワックスなどを配合すること力Cで
き、その配合割合は適宜量である。たとえ(戴任意成分
として配合される安定剤として具体的には、テトラキス
〔メチレン−3(3,5−ジ−t−ブチル−4−ヒドロ
キシフェニル)プロピオネートコメタン、β−(3,5
−ジ−t−ブチル−4−ヒドロキシフェニル)プロピオ
ン酸アルキルエステル、2,2°−オキザミドビス[エ
チル−3(3,5−ジ−t−ブチル−4−ヒドロキシフ
ェニル)]プロピオネートなどのフェノール系酸化防止
K ステアリン酸亜鉛、ステアリン酸カルシウム、1
2−ヒドロキシステアリン酸カルシウムなどの脂肪酸金
属塩、グリセリンモノステアレート、グリセリンモノラ
ウレート、グリセリンジステアレート、ペンタエリスリ
トールモノステアレート、ペンタエリスリトールジステ
アレート、ペンタエリスリトールトリステアレート等の
多価アルコールの脂肪酸エステルなどを挙げることがで
きる。これらは単独で配合してもよいが、組み合わせで
配合してもよく、たとえば、テトラキス[メチレン−3
(3゜5−ジー七−ブチルー4−ヒドロキシフェニル)
プロピオネートコメタンとステアリン酸亜鉛およびグリ
セリンモノステアレートとの組合せ等を例示することが
できる。
本発明では特に、フェノール系酸化防止剤および多価ア
ルコールの脂肪酸エステルとを組み合わせて用いること
が好ましく、該多価アルコールの脂肪酸エステルは3価
以」二の多価アルコールのアルコール性水酸基の一部が
エステル化された多価アルコール脂肪酸エステルである
ことが好ましい。
ルコールの脂肪酸エステルとを組み合わせて用いること
が好ましく、該多価アルコールの脂肪酸エステルは3価
以」二の多価アルコールのアルコール性水酸基の一部が
エステル化された多価アルコール脂肪酸エステルである
ことが好ましい。
このような多価アルコールの脂肪酸エステルとしては、
具体的には、グリセリンモノステアレート、グリセリン
モノラウレート、グリセリンモノミリステート、 グリ
セリンモノパルミテート、グリセリンジステアレート、
グリセリンジラウレート等のグリセリン脂肪酸エステル
、ペンタエリスリトールモノステアレート、ペンタエリ
スリトールモノラウレート、ペンタエリスリトールジラ
ウレート、ペンタエリスリトールジステアレート、ペン
タエリスリトールトリステアレート等のペンタエリスリ
トールの脂肪酸エステルが用いられる。
具体的には、グリセリンモノステアレート、グリセリン
モノラウレート、グリセリンモノミリステート、 グリ
セリンモノパルミテート、グリセリンジステアレート、
グリセリンジラウレート等のグリセリン脂肪酸エステル
、ペンタエリスリトールモノステアレート、ペンタエリ
スリトールモノラウレート、ペンタエリスリトールジラ
ウレート、ペンタエリスリトールジステアレート、ペン
タエリスリトールトリステアレート等のペンタエリスリ
トールの脂肪酸エステルが用いられる。
このようなフェノール系酸化防止剤は、前記[A]酸成
分よび[B]酸成分合計重量100重量部に対して0〜
10重量部好ましくは0〜5重量部さらに好ましくは0
〜2重量部の量で用いら汎 また多価アルコールの脂肪
酸エステルは[A]酸成分よび[B]酸成分合計重量1
00ffi量部に対してO〜10重量脈 好ましくは0
〜5重量部の量で用いられる。
分よび[B]酸成分合計重量100重量部に対して0〜
10重量部好ましくは0〜5重量部さらに好ましくは0
〜2重量部の量で用いら汎 また多価アルコールの脂肪
酸エステルは[A]酸成分よび[B]酸成分合計重量1
00ffi量部に対してO〜10重量脈 好ましくは0
〜5重量部の量で用いられる。
本発明に係る光磁気記録媒体の基板に(入 必要により
本発明の目的および透明性を損なわない範囲で、シリカ
、ケイ藻土、アルミナ、酸化チタン、酸化マグネシウム
、軽石粒、軽石バルーン、水酸化アルミニウム、水酸化
マグネシウム、塩基性炭酸マグネシウム、 ドロマイト
、硫酸カルシウム、チタン酸カリウム、硫酸バリウム、
亜硫酸カルシウム、タルク、クレー マイカ、アスベス
ト、ガラスma ガラスフレーク、ガラスピーズ、ケ
イ酸カルシウム、モンモリロナ1′ト、ベントナイト、
グラフrイト、アルミニウム粉、硫化モリブデン、ボロ
ン織縁 炭化ケイ素織縁 ポリエチレン繊維、ポリプロ
ピレン繊機 ポリエステル繊紘 ポリアミド繊維等の充
填剤を配合してもよい。
本発明の目的および透明性を損なわない範囲で、シリカ
、ケイ藻土、アルミナ、酸化チタン、酸化マグネシウム
、軽石粒、軽石バルーン、水酸化アルミニウム、水酸化
マグネシウム、塩基性炭酸マグネシウム、 ドロマイト
、硫酸カルシウム、チタン酸カリウム、硫酸バリウム、
亜硫酸カルシウム、タルク、クレー マイカ、アスベス
ト、ガラスma ガラスフレーク、ガラスピーズ、ケ
イ酸カルシウム、モンモリロナ1′ト、ベントナイト、
グラフrイト、アルミニウム粉、硫化モリブデン、ボロ
ン織縁 炭化ケイ素織縁 ポリエチレン繊維、ポリプロ
ピレン繊機 ポリエステル繊紘 ポリアミド繊維等の充
填剤を配合してもよい。
本発明において、基板として上記のような環状オレフィ
ン系ランダム共重合体または環状オレフィン系ランダム
共重合体組成物を用いると、この環状オレフィン系ラン
ダム共重合体または該共重合体を含む組成物からなる基
板と記録層または保護層とが密着性に優れているために
、記録膜は長期安定性に優れるとともに記録膜の酸化が
効果的に防止される。したがってこの環状オレフィン系
ランダム共重合体からなる基板上に記録膜を積層してな
る光記録媒体は、耐久性および記録特性などの面におけ
る長期安定性にも優れている。
ン系ランダム共重合体または環状オレフィン系ランダム
共重合体組成物を用いると、この環状オレフィン系ラン
ダム共重合体または該共重合体を含む組成物からなる基
板と記録層または保護層とが密着性に優れているために
、記録膜は長期安定性に優れるとともに記録膜の酸化が
効果的に防止される。したがってこの環状オレフィン系
ランダム共重合体からなる基板上に記録膜を積層してな
る光記録媒体は、耐久性および記録特性などの面におけ
る長期安定性にも優れている。
このような基板2の厚みは特に限定されないが、好まし
くは0.5〜5N特に好ましくは1〜2鈴である。
くは0.5〜5N特に好ましくは1〜2鈴である。
(以下余白)
また本発明では、記録層3の材質も特に限定されないが
、たとえば記録層3が膜面に対して垂直な方向に一軸異
方性を有する光磁気記録層である場合には、記録層3は
、(i)3d遷移金属から選ばれる少なくとも1種と、
(i)希土類から選ばれる少なくとも1種の元素とから
なるか、あるいは(i)3djl移金属から選ばれる少
なくとも1種と、(木)耐腐食性金属と、(雨)希土類
力)ら選ばれる少なくとも1種の元素からなることが好
ましい。
、たとえば記録層3が膜面に対して垂直な方向に一軸異
方性を有する光磁気記録層である場合には、記録層3は
、(i)3d遷移金属から選ばれる少なくとも1種と、
(i)希土類から選ばれる少なくとも1種の元素とから
なるか、あるいは(i)3djl移金属から選ばれる少
なくとも1種と、(木)耐腐食性金属と、(雨)希土類
力)ら選ばれる少なくとも1種の元素からなることが好
ましい。
(i)3d遷移金属としては、Fe%Co、Ti。
■、Cr、Mn、、NlXCu、Znなどが用いられる
が、このうちFeまたはCoあるいはこの両者であるこ
とが好ましい。
が、このうちFeまたはCoあるいはこの両者であるこ
とが好ましい。
(i)耐腐食性金属は、記録層3に含ませることによっ
て、この光磁気記録層の耐酸化性を高めることができる
。このような耐腐食性金属としては、P t s P
d % T r s Z r s T a % M o
SN b sHfなどが用いられるが、このうちPt
、Pd。
て、この光磁気記録層の耐酸化性を高めることができる
。このような耐腐食性金属としては、P t s P
d % T r s Z r s T a % M o
SN b sHfなどが用いられるが、このうちPt
、Pd。
Tiが好ましく、特にptまたはPdあるいはこの両者
であることが好ましい。
であることが好ましい。
(i)希土類元素としては、たとえばGd、Tb。
Dy、Ha、E r % T m N Y b −、L
u −、L a −(:6.Pr、NdlPm5 S
m5Euなどが用いられる。
u −、L a −(:6.Pr、NdlPm5 S
m5Euなどが用いられる。
コノうちGd、Tb5Dy% HOlNd、Sm。
Prが好まり、 <用いられる。
このような光磁気記録層では、(i)3d遷移金属は、
30〜85原子%好ましくは40〜70原子%の置で、
(i)耐腐食性金属は30原子%まで好ましくは5〜2
5原子%までの景で、(i)希土類元素は5〜50原子
%好ましくは25〜45原子%の盪で存在していること
が望ましい。
30〜85原子%好ましくは40〜70原子%の置で、
(i)耐腐食性金属は30原子%まで好ましくは5〜2
5原子%までの景で、(i)希土類元素は5〜50原子
%好ましくは25〜45原子%の盪で存在していること
が望ましい。
記録層3が光磁気記録層以外の、たとえば相変化型記録
層である場合には、記録層3は、たとえば、Teを主成
分とした合金薄膜、Seを主成分とした合金薄膜、Te
−Ge−8b合金薄膜、In−3b−Te合金薄膜、T
e−Ge−Cr合合金N護膜Te−Ge−Zn合金薄膜
等で構成される。また追記型、相変化型の記録層として
ポリメチン系化合物、シアニン系化合物などの有機色素
膜を用いることもできる。
層である場合には、記録層3は、たとえば、Teを主成
分とした合金薄膜、Seを主成分とした合金薄膜、Te
−Ge−8b合金薄膜、In−3b−Te合金薄膜、T
e−Ge−Cr合合金N護膜Te−Ge−Zn合金薄膜
等で構成される。また追記型、相変化型の記録層として
ポリメチン系化合物、シアニン系化合物などの有機色素
膜を用いることもできる。
本発明では、記録層4の膜厚は、特に限定されないが、
50〜5000人、好ましくは100〜2000大であ
る。
50〜5000人、好ましくは100〜2000大であ
る。
本発明では、このような情報記録媒体における金属層4
は、アルミニウム合金を構成する全原子数を基準として
チタン0.5〜5原子%とニオブ0.5〜5原子%とを
含み、チタンとニオブとの合計含有量が1〜5原子%の
範囲にあるアルミニウム合金から形成されている。
は、アルミニウム合金を構成する全原子数を基準として
チタン0.5〜5原子%とニオブ0.5〜5原子%とを
含み、チタンとニオブとの合計含有量が1〜5原子%の
範囲にあるアルミニウム合金から形成されている。
チタンの含有量は0.5〜5原子%の範囲にあり、特に
l〜3原子原子箱囲にあることが好ましい。
l〜3原子原子箱囲にあることが好ましい。
また、ニオブの含有量は0.5〜5原子%の範囲にあり
、特に1〜3原子%の範囲にあることが好ましい。
、特に1〜3原子%の範囲にあることが好ましい。
また、チタンとニオブとの合計含有量が1〜5.5原子
%の範囲にあり、2〜4原子%の範囲にあることが特に
好ましい。本発明では、チタンの含n″眼が0.5〜5
原子%、ニオブの含有量が0.5〜5原子%の範囲にあ
り、かつチタンとニオブの合計含有量が■〜5原子%の
範囲にあるアルミニウム合金を合金層として用いること
により、金屑層および情報記録媒体が耐腐食性に優れ、
かつ、情報記録媒体の線速依存性が小さく、記録層の保
護作用にも優れるという効果を有する。
%の範囲にあり、2〜4原子%の範囲にあることが特に
好ましい。本発明では、チタンの含n″眼が0.5〜5
原子%、ニオブの含有量が0.5〜5原子%の範囲にあ
り、かつチタンとニオブの合計含有量が■〜5原子%の
範囲にあるアルミニウム合金を合金層として用いること
により、金屑層および情報記録媒体が耐腐食性に優れ、
かつ、情報記録媒体の線速依存性が小さく、記録層の保
護作用にも優れるという効果を有する。
また上記のような金属層4は、アルミニウム(AI)、
チタン(Ti) 、ニオブ(Nb)のみからなる合金か
らなっていてもよく、またアルミニウム、チタン、ニオ
ブに加えて、少頂の他の元素(金属)を1挿以上含むこ
ともできる。このような元素(金属)としては、たとえ
ば、シリコン(Si) 、タンタル(Tg) 、銅(C
0、タングステン(W)、ジルコニウム(z「)、マン
ガン(Mn)、マグネシウム(Mg) 、バナジウム(
V)、クロム(C「)などが挙げられ、このような他の
元素(金属)を含む場合、他の元素は、通常5原子%以
下好ましくは2原子%以下の量で含まれる。
チタン(Ti) 、ニオブ(Nb)のみからなる合金か
らなっていてもよく、またアルミニウム、チタン、ニオ
ブに加えて、少頂の他の元素(金属)を1挿以上含むこ
ともできる。このような元素(金属)としては、たとえ
ば、シリコン(Si) 、タンタル(Tg) 、銅(C
0、タングステン(W)、ジルコニウム(z「)、マン
ガン(Mn)、マグネシウム(Mg) 、バナジウム(
V)、クロム(C「)などが挙げられ、このような他の
元素(金属)を含む場合、他の元素は、通常5原子%以
下好ましくは2原子%以下の量で含まれる。
上述したような金属層の膜厚は、通常100λ〜500
0大、好ましくは500λ〜3000 A。
0大、好ましくは500λ〜3000 A。
特に好ましくは700ム〜2000大である。
本発明に係る金属層は熱良伝導体層としての機能を果し
ており、この金屑層が存在することによって記録層に記
録されたビットの中心部が記録レーザ光によって過度に
高温になることが防止され、その結果、記録パワーの線
速依存性が小さくなると考えられる。
ており、この金屑層が存在することによって記録層に記
録されたビットの中心部が記録レーザ光によって過度に
高温になることが防止され、その結果、記録パワーの線
速依存性が小さくなると考えられる。
また本発明における金属層は、耐腐食性に優れているた
め、長期間使用した後においても、記録媒体の線速依存
性が小さいという特徴を有しており、また記録層に対す
る保護作用にも優れている。
め、長期間使用した後においても、記録媒体の線速依存
性が小さいという特徴を有しており、また記録層に対す
る保護作用にも優れている。
本発明に係る情報記録媒体は、第1図に示す構成に限定
されず、たとえば第2図に示すように、上記のような基
板2上に保護膜(エンハンス膜)5を積層し、その上に
記録層3と金属層4とを積層させてもよい。また第3図
に示すように、基板2上に第1保護膜5を積層し、その
上に記録層3を積層し、さらにその上に第2保護膜5お
よび金属膜4を順次積層させてもよい。このような保護
膜(エンハンスM)5としては、たとえばSi N
、5tNx(0<x<4/3)4 A/ N、Zn5e、ZnS、S iまたはCdSから
形成されることが好ましいが、これらに限定されない。
されず、たとえば第2図に示すように、上記のような基
板2上に保護膜(エンハンス膜)5を積層し、その上に
記録層3と金属層4とを積層させてもよい。また第3図
に示すように、基板2上に第1保護膜5を積層し、その
上に記録層3を積層し、さらにその上に第2保護膜5お
よび金属膜4を順次積層させてもよい。このような保護
膜(エンハンスM)5としては、たとえばSi N
、5tNx(0<x<4/3)4 A/ N、Zn5e、ZnS、S iまたはCdSから
形成されることが好ましいが、これらに限定されない。
このような保護膜の膜厚は、100〜2000Å好まし
5くは300〜1500ム程度である。この中で耐クラ
ツク性および記録パワーの線速依存性の点から、特にS
i N 5SjNx4 (0<X<4/3)を用いることが好ましい。
5くは300〜1500ム程度である。この中で耐クラ
ツク性および記録パワーの線速依存性の点から、特にS
i N 5SjNx4 (0<X<4/3)を用いることが好ましい。
保護膜は、記録膜を保護する働きをするとともに、場合
によっては情報記録媒体の感度を高め、エンハンス膜と
しての働きをもしている。このような保護膜は、基板の
屈折率よりも大きな屈折率を有していることが好ましい
。
によっては情報記録媒体の感度を高め、エンハンス膜と
しての働きをもしている。このような保護膜は、基板の
屈折率よりも大きな屈折率を有していることが好ましい
。
本発明に係る情報記録媒体は、基板上に記録層および金
属層そして必要に応じて保護層を、たとえば真空蒸着法
、スパッタリング法あるいは電子ビーム蒸着法などの成
膜法を採用して成膜することによって製造することがで
きる。
属層そして必要に応じて保護層を、たとえば真空蒸着法
、スパッタリング法あるいは電子ビーム蒸着法などの成
膜法を採用して成膜することによって製造することがで
きる。
象些囚匁(
このように本発明に係る情報記録媒体は、チタンとハフ
ニウムとを特定量で含むアルミニウム合金からなる金属
層を有しているため、耐腐食性に優れ、しかも記録パワ
ーの線速依存性が小さく、かつ記録層の保護作用にも優
れている。
ニウムとを特定量で含むアルミニウム合金からなる金属
層を有しているため、耐腐食性に優れ、しかも記録パワ
ーの線速依存性が小さく、かつ記録層の保護作用にも優
れている。
以下本発明を実施例により説明するが、本発明はこれら
実施例に限定されるものではない。
実施例に限定されるものではない。
なお、本明細書において、最適記録パワーとはf=IM
Hx 、do17 50%の書込み信号に対して丙生信
号の2次高調波が最小となる記録パワーのことを表わし
、線速による最適記録パワーの差が小さい程線速依存性
が小さい。
Hx 、do17 50%の書込み信号に対して丙生信
号の2次高調波が最小となる記録パワーのことを表わし
、線速による最適記録パワーの差が小さい程線速依存性
が小さい。
実施例を
以下、まず金属層の耐腐食性を下記のようにして検討し
た。
た。
ガラス基板上に、アルミニウム(1)−チタン(Ti)
−ニオブ(Nb)の複合ターゲットを用いてスパッタリ
ングによって、厚さ1000入のアルミニウムーチタン
−ニオブ合金よりなる反射金属層を作製した。各元素の
含有量はT+が1.5原子%、N +)が1.5原子%
であった。
−ニオブ(Nb)の複合ターゲットを用いてスパッタリ
ングによって、厚さ1000入のアルミニウムーチタン
−ニオブ合金よりなる反射金属層を作製した。各元素の
含有量はT+が1.5原子%、N +)が1.5原子%
であった。
この金属層を、60℃の10重量%塩化ナトリウム水溶
液に4時間浸漬し、金属層の耐腐食性を反射率の変化を
測定することによって評価した。
液に4時間浸漬し、金属層の耐腐食性を反射率の変化を
測定することによって評価した。
金fi層の反射率は、塩化ナトリウム水溶液の浸漬前と
浸漬後で変化しなかった。また浸漬後の金属層の単位面
積当り(5cmX5cm)に発生したピンホール数は4
0個以下(38g)であった。
浸漬後で変化しなかった。また浸漬後の金属層の単位面
積当り(5cmX5cm)に発生したピンホール数は4
0個以下(38g)であった。
実施例2
非晶質ポリオレフィンからなる基板上に、Si3N、か
らなる保護膜(141000人)と、PtThFeCo
(I’t、oTb″29Fe55Co6)からなる記
録層(膜FX S 00ム)とを順次スパッタリング法
により積層し、この記録膜−ヒにAl−Ti−Nbの複
合ターゲットを用いてスパッタリング法によって、厚さ
700大のAI−T i −Nb合金からなる金属層を
積層した。得られた金属層を構成するA1合金(層)中
のTiの含有量は2原子%、Nb含有員は2原子%であ
った。
らなる保護膜(141000人)と、PtThFeCo
(I’t、oTb″29Fe55Co6)からなる記
録層(膜FX S 00ム)とを順次スパッタリング法
により積層し、この記録膜−ヒにAl−Ti−Nbの複
合ターゲットを用いてスパッタリング法によって、厚さ
700大のAI−T i −Nb合金からなる金属層を
積層した。得られた金属層を構成するA1合金(層)中
のTiの含有量は2原子%、Nb含有員は2原子%であ
った。
得られた情報記録媒体を、80℃、相対湿度85%の雰
囲気下に約720時間保持し、金属層の耐腐食性を情報
記録媒体の反射率の変化を測定することによって評価し
た。
囲気下に約720時間保持し、金属層の耐腐食性を情報
記録媒体の反射率の変化を測定することによって評価し
た。
情報記録媒体の反射率は、80℃、相対湿度85%の雰
囲気下に保持する前後で変化しなかった。
囲気下に保持する前後で変化しなかった。
またこの情報記録媒体の線速5.7 m / s e
cでの最適記録パワーは3.6mWであり、線速11、
.3m/setでの最適記録パワーは5.5mWであっ
た。
cでの最適記録パワーは3.6mWであり、線速11、
.3m/setでの最適記録パワーは5.5mWであっ
た。
実施例3
エチレンとI、 4.5. li−ジメタノ−1,2,
3,4,4g、 5.8以下DMONと略記する)の非
品性の共重合体(”C−NMR分析で測定したエチレン
食潰59モル%、DMON含量41モル%、135℃デ
カリン中で測定した極限粘度[η]が0.42617g
。
3,4,4g、 5.8以下DMONと略記する)の非
品性の共重合体(”C−NMR分析で測定したエチレン
食潰59モル%、DMON含量41モル%、135℃デ
カリン中で測定した極限粘度[η]が0.42617g
。
軟化温度(TM^)154℃)からなる基板上に、Si
3N、からなる保護膜(膜厚ll00ム)と、P L
IOT b 29F e ssCQ 6からなる記録層
(膜厚260入)とを順次スパッタリング法により積層
し、この記録膜上にAl−Ti−Nbの複合ターゲット
を用いてスパッタリング法によって、厚さ50〇六のA
1−Ti−Nb合金からなる金属層を積層した。得られ
た金属層を構成するA1合金(層)中のTiの含有量は
2原子%、Nb含有量は2原子%であった。
3N、からなる保護膜(膜厚ll00ム)と、P L
IOT b 29F e ssCQ 6からなる記録層
(膜厚260入)とを順次スパッタリング法により積層
し、この記録膜上にAl−Ti−Nbの複合ターゲット
を用いてスパッタリング法によって、厚さ50〇六のA
1−Ti−Nb合金からなる金属層を積層した。得られ
た金属層を構成するA1合金(層)中のTiの含有量は
2原子%、Nb含有量は2原子%であった。
(1られた情報記録媒体を、80℃、相対湿度85%の
雰囲気下に約720時間保持し、金属層の耐腐食性を情
報記録媒体の反射率の変化を測定することによって評価
した。
雰囲気下に約720時間保持し、金属層の耐腐食性を情
報記録媒体の反射率の変化を測定することによって評価
した。
tfl報記録媒体の反射率は、80℃、相対湿度85%
の雰囲気下に保持する前後で変化しなかった。
の雰囲気下に保持する前後で変化しなかった。
比−蚊瓢、」
ガラス基板上にAj!−Tiの複合ターゲットを用いて
、スパッタリングによって厚さ1000入のAN−Ti
合金よりなる金属層を作製した。
、スパッタリングによって厚さ1000入のAN−Ti
合金よりなる金属層を作製した。
Tiの含有量は4原子%とした。
この金属層をNaC1濃度が10重量%、温度が60℃
食塩水に浸漬し、4時間後の反射率の変化と膜状体の変
化を調べた。この結果、反射率は浸漬の前後では約2%
低下した。
食塩水に浸漬し、4時間後の反射率の変化と膜状体の変
化を調べた。この結果、反射率は浸漬の前後では約2%
低下した。
また浸漬後の金属層の単位面積(5am X 5 an
)当りに発生したピンホール数は極めて多数(115
個以上)であった。
)当りに発生したピンホール数は極めて多数(115
個以上)であった。
第1図は本発明の一実施例に係る情報記録媒体の概略断
面図、第2図および第3図は本発明の他の実施例に係る
情報記録媒体の概略断面図である。 1・・・情報記録媒体 2・・・基板3・・・記録
層 4・・・金属層5・・・保護膜
面図、第2図および第3図は本発明の他の実施例に係る
情報記録媒体の概略断面図である。 1・・・情報記録媒体 2・・・基板3・・・記録
層 4・・・金属層5・・・保護膜
Claims (1)
- 1、基板上に記録層と金属層とを有する情報記録媒体に
おいて、該金属層が、アルミニウム合金を構成する全原
子数を基準として、チタン0.5〜5原子%とニオブ0
.5〜5原子%とを含み、かつチタンとニオブとの合計
含有量が1〜5.5原子%の範囲にあるアルミニウム合
金からなることを特徴とする情報記録媒体。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12955589 | 1989-05-23 | ||
JP1-129555 | 1989-05-23 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0373445A true JPH0373445A (ja) | 1991-03-28 |
Family
ID=15012397
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13287690A Pending JPH0373445A (ja) | 1989-05-23 | 1990-05-23 | 情報記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0373445A (ja) |
-
1990
- 1990-05-23 JP JP13287690A patent/JPH0373445A/ja active Pending
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