JPH0373099B2 - - Google Patents
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- JPH0373099B2 JPH0373099B2 JP60057707A JP5770785A JPH0373099B2 JP H0373099 B2 JPH0373099 B2 JP H0373099B2 JP 60057707 A JP60057707 A JP 60057707A JP 5770785 A JP5770785 A JP 5770785A JP H0373099 B2 JPH0373099 B2 JP H0373099B2
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- cathode filament
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- X-Ray Techniques (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、被検体の種類、大きさに応じて必
要な任意の大きさの焦点を得ることができ、焦点
の大きさに応じた必要な任意の大きさの管電流を
得ることができるX線管装置に関する。
要な任意の大きさの焦点を得ることができ、焦点
の大きさに応じた必要な任意の大きさの管電流を
得ることができるX線管装置に関する。
一般にX線管装置は例えばX線診断として医療
用に利用されているが、胃の検診などの場合には
従来第8図に示すようなX線管が用いられてい
る。このX線管はいわゆる回転陽極型といわれる
もので、真空外囲器1内に陰極構体2と傘形陽極
ターゲツト3が管軸から偏心して対向配設されて
いる。そして陽極ターゲツト3は、ステータ4に
より電磁誘導で回転駆動されるロータ5により回
転するようになつている。
用に利用されているが、胃の検診などの場合には
従来第8図に示すようなX線管が用いられてい
る。このX線管はいわゆる回転陽極型といわれる
もので、真空外囲器1内に陰極構体2と傘形陽極
ターゲツト3が管軸から偏心して対向配設されて
いる。そして陽極ターゲツト3は、ステータ4に
より電磁誘導で回転駆動されるロータ5により回
転するようになつている。
従来一般のX線管の陰極構体2は第9図に示す
ように構成され、集束電極102の集束溝106
内に陰極フイラメント101が配設されている。
この陰極フイラメント101は熱電子を放出する
ためタングステンコイルからなり、熱電子を上記
集束電極102により集束させる。このためフイ
ラメント101と集束電極102は同電位とされ
る。尚、図中、点線103は集束電極102の近
傍の等電位曲線を表わし、104は陰極フイラメ
ント101のほぼ中央部から放出された電子の軌
跡を表わし、105は陰極フイラメント101の
側面に近い所から放出された電子の軌跡を表わし
ている。
ように構成され、集束電極102の集束溝106
内に陰極フイラメント101が配設されている。
この陰極フイラメント101は熱電子を放出する
ためタングステンコイルからなり、熱電子を上記
集束電極102により集束させる。このためフイ
ラメント101と集束電極102は同電位とされ
る。尚、図中、点線103は集束電極102の近
傍の等電位曲線を表わし、104は陰極フイラメ
ント101のほぼ中央部から放出された電子の軌
跡を表わし、105は陰極フイラメント101の
側面に近い所から放出された電子の軌跡を表わし
ている。
ところで上記従来の陰極構体2においては、陰
極フイラメント101をほぼ温度制限領域で使用
するため、陰極フイラメント101の近傍の電界
を強くする目的で陰極の一部を集束電極102の
中に突出させている。このため陰極フイラメント
101の近傍の等電位面は、点線103で示すよ
うに陰極フイラメント101の中央でふくらんだ
形となり、陰極フイラメント101の略側壁から
放出された電子105は側方に向うこととなる。
この電子105と、陰極フイラメント101の略
中央部から放出されて前方に向う電子104とを
同一方向に集束させることができなく、図示した
ようにこれらの軌跡は軸上で交差する。従つて、
およそ全ての電子をある程度集束させた位置で
は、図示したように双峰性の電子強度分布107
を示す。
極フイラメント101をほぼ温度制限領域で使用
するため、陰極フイラメント101の近傍の電界
を強くする目的で陰極の一部を集束電極102の
中に突出させている。このため陰極フイラメント
101の近傍の等電位面は、点線103で示すよ
うに陰極フイラメント101の中央でふくらんだ
形となり、陰極フイラメント101の略側壁から
放出された電子105は側方に向うこととなる。
この電子105と、陰極フイラメント101の略
中央部から放出されて前方に向う電子104とを
同一方向に集束させることができなく、図示した
ようにこれらの軌跡は軸上で交差する。従つて、
およそ全ての電子をある程度集束させた位置で
は、図示したように双峰性の電子強度分布107
を示す。
ところが上記のように、陰極フイラメント10
1から放出された電子を集束電極102によつて
十分小さく集束できないので、陽極ターゲツト3
の位置で小さな焦点を得るためには、小さな陰極
を用いる必要がある。従つて、陰極温度を高めな
いと十分な高密度の電子を得ることができず、陰
極フイラメント101の信頼性に問題があつた。
1から放出された電子を集束電極102によつて
十分小さく集束できないので、陽極ターゲツト3
の位置で小さな焦点を得るためには、小さな陰極
を用いる必要がある。従つて、陰極温度を高めな
いと十分な高密度の電子を得ることができず、陰
極フイラメント101の信頼性に問題があつた。
又、陽極ターゲツト3の位置での電子の進行方
向が揃わないため、微小焦点が得られず、また電
子分布にシヤープさがなく、所望した電子分布を
得ることができない。このために十分な高解像度
を得ることと、陽極ターゲツト3上での電子入射
による温度上昇の最高値を低下させて、入射電子
量を増大させることとを両立させることができな
い。これらは、陽極ターゲツト3から発生するX
線によつて投影画像を作る場合に、解像度の増大
とフオトンノイズの減少の防害となり、十分に鮮
明な画像を得ることができない。
向が揃わないため、微小焦点が得られず、また電
子分布にシヤープさがなく、所望した電子分布を
得ることができない。このために十分な高解像度
を得ることと、陽極ターゲツト3上での電子入射
による温度上昇の最高値を低下させて、入射電子
量を増大させることとを両立させることができな
い。これらは、陽極ターゲツト3から発生するX
線によつて投影画像を作る場合に、解像度の増大
とフオトンノイズの減少の防害となり、十分に鮮
明な画像を得ることができない。
この欠点を除去する方法としては、平板状の陰
極フイラメントを使用することが考えられる。
極フイラメントを使用することが考えられる。
この例として特開昭55−68056号公報に開示さ
れる提案がある。
れる提案がある。
このような帯状平板からなる陰極フイラメント
を有する第10図の従来例について述べる。同図
中の符号201は帯状平板からなり状に形成さ
れた陰極フイラメントで、フイラメント支柱(図
示せず)に取付けられており、通電により直熱さ
れ熱電子を放出する。202は集束溝の深さHが
浅い集束電極であり、上記陰極フイラメント20
1から出てきた電子を集束する。203は集束電
極202の近傍の等電位曲線である。208で示
す陽極ターゲツトは陰極フイラメント201及び
集束電極202に対して正の高電位に保たれ、そ
の位置は集束電極202の電子レンズの焦点距離
fと等しくしてある。
を有する第10図の従来例について述べる。同図
中の符号201は帯状平板からなり状に形成さ
れた陰極フイラメントで、フイラメント支柱(図
示せず)に取付けられており、通電により直熱さ
れ熱電子を放出する。202は集束溝の深さHが
浅い集束電極であり、上記陰極フイラメント20
1から出てきた電子を集束する。203は集束電
極202の近傍の等電位曲線である。208で示
す陽極ターゲツトは陰極フイラメント201及び
集束電極202に対して正の高電位に保たれ、そ
の位置は集束電極202の電子レンズの焦点距離
fと等しくしてある。
ところがこの従来例では、以下に述べる欠点を
有している。
有している。
即ち、陰極フイラメント201の側面から出た
電子205が中央から出た電子204とその軌道
が大きく異なり、陽極ターゲツト208上の電子
分布207は、図示したごとく副焦点を持つこと
になる。この原因は、第10図と同一箇所に同一
部号を付した第12図に示す如く、帯状平板から
なる陽極フイラメント201の端部より出た電子
の軌跡は線209の如くになる。なお点線210
はこの陽極フイラメント201の表面にごく近い
位置での等電位曲線を表わす。210は図示した
ように陰極フイラメント201の端部と集束電極
202との間〓211で凹形分布となり、局部的
な凹レンズを形成する。このために、陰極フイラ
メント201の端部近傍から発した電子の軌跡2
09は、等電位曲線210が一様な場合よりも集
束電極202の壁に近づく。一方、集束電極20
2内の等電位曲線203は集束電極202の壁に
近い部分において、集束電極202の中央部にお
けるよりも曲率が大きくなり、軌跡209は20
4よりも焦点距離が短くなり収差を生じる。この
ようにして十分な集束度を得ることができない。
電子205が中央から出た電子204とその軌道
が大きく異なり、陽極ターゲツト208上の電子
分布207は、図示したごとく副焦点を持つこと
になる。この原因は、第10図と同一箇所に同一
部号を付した第12図に示す如く、帯状平板から
なる陽極フイラメント201の端部より出た電子
の軌跡は線209の如くになる。なお点線210
はこの陽極フイラメント201の表面にごく近い
位置での等電位曲線を表わす。210は図示した
ように陰極フイラメント201の端部と集束電極
202との間〓211で凹形分布となり、局部的
な凹レンズを形成する。このために、陰極フイラ
メント201の端部近傍から発した電子の軌跡2
09は、等電位曲線210が一様な場合よりも集
束電極202の壁に近づく。一方、集束電極20
2内の等電位曲線203は集束電極202の壁に
近い部分において、集束電極202の中央部にお
けるよりも曲率が大きくなり、軌跡209は20
4よりも焦点距離が短くなり収差を生じる。この
ようにして十分な集束度を得ることができない。
又、集束電極をフイラメントと同電位とした上
で、より一層集束効果を持たせるために集束電極
202の深さHを大きくしてfを小さくする場合
には、陰極フイラメント201の近傍の電界が弱
くなり、空間電荷制限状態となつて陽極電位によ
つて電流値が変化する。又、陽極電圧Vaが30kV
程度では、電流値が10mA以上とれない場合があ
る。
で、より一層集束効果を持たせるために集束電極
202の深さHを大きくしてfを小さくする場合
には、陰極フイラメント201の近傍の電界が弱
くなり、空間電荷制限状態となつて陽極電位によ
つて電流値が変化する。又、陽極電圧Vaが30kV
程度では、電流値が10mA以上とれない場合があ
る。
なお、集束電極202又は少し前方に浅い集束
溝をもつ電極を置きこれに陰極フイラメント20
1に対して正のバイアス電圧を印加する例もある
が、この場合には、陰極フイラメントの長手方向
(第10図と直角の方向)における電子ビームの
集束性が悪くなることが考えられる。もつとも、
前記公開公報に示される技術は焦点形状の相似的
変化を得る目的での実現方策は何ら示されていな
い。
溝をもつ電極を置きこれに陰極フイラメント20
1に対して正のバイアス電圧を印加する例もある
が、この場合には、陰極フイラメントの長手方向
(第10図と直角の方向)における電子ビームの
集束性が悪くなることが考えられる。もつとも、
前記公開公報に示される技術は焦点形状の相似的
変化を得る目的での実現方策は何ら示されていな
い。
この例では、陰極フイラメントは特開昭55−
68056号公報の第9図乃至第11図に示されたよ
うに、実質的に細長い熱電子を放出面を有してお
り、この例では特開昭59−94348号公報に示され
るように、陰極フイラメントの長手方向と短手方
向に独立した別々のバイアス電圧を印加しない
と、X線焦点の大きさを変えた場合に、その形状
を相似的に保つことができないと考えられる。
68056号公報の第9図乃至第11図に示されたよ
うに、実質的に細長い熱電子を放出面を有してお
り、この例では特開昭59−94348号公報に示され
るように、陰極フイラメントの長手方向と短手方
向に独立した別々のバイアス電圧を印加しない
と、X線焦点の大きさを変えた場合に、その形状
を相似的に保つことができないと考えられる。
焦点形状を一定に保つて異なる大きさの焦点を
得るための従来例として、特開昭59−94348号公
報に記載された例がある。これは焦点の長さ方
向、幅方向に対応する直交した2方向に独立して
電圧を与えるもので、第11図a,bに示すよう
な構造となつている。この例では、希望する焦点
サイズを得るためには、長手方向と短手方向に
別々の電圧を印加する必要があり、X線管の構造
が複雑になるだけでなく、高電圧ケーブルの芯線
数を増す必要もあり、又、使用時に対応する電圧
を決めるのが困難である。而も、この例では既述
のように、陰極の側面からの電子によりシヤープ
なエツジを有する焦点が得られない。更に、電極
のコーナー部の電界により、焦点のコーナー部の
形状が、バイアス電圧と共に変化する。
得るための従来例として、特開昭59−94348号公
報に記載された例がある。これは焦点の長さ方
向、幅方向に対応する直交した2方向に独立して
電圧を与えるもので、第11図a,bに示すよう
な構造となつている。この例では、希望する焦点
サイズを得るためには、長手方向と短手方向に
別々の電圧を印加する必要があり、X線管の構造
が複雑になるだけでなく、高電圧ケーブルの芯線
数を増す必要もあり、又、使用時に対応する電圧
を決めるのが困難である。而も、この例では既述
のように、陰極の側面からの電子によりシヤープ
なエツジを有する焦点が得られない。更に、電極
のコーナー部の電界により、焦点のコーナー部の
形状が、バイアス電圧と共に変化する。
この発明の目的は、X線の照射方向から見たX
線焦点の形状が実質的に円形又は正方形、又は長
手方向の長さが短手方向の長さの1.4倍以下の長
方形又は楕円形又はこれらに近い形を保ち乍ら、
1つのバイアス電位を予め設定された焦点サイズ
に対応する値に可変、設定することにより、大き
な範囲例えば0.1mm以下から1.5mm以上で、X線焦
点のサイズを曝射条件に合う任意の大きさに変え
られ、而もその焦点サイズに対応して管電流を0
〜1000mA程度の大きな範囲に可変、設定できる
万能焦点を有するX線管装置を提供することであ
る。
線焦点の形状が実質的に円形又は正方形、又は長
手方向の長さが短手方向の長さの1.4倍以下の長
方形又は楕円形又はこれらに近い形を保ち乍ら、
1つのバイアス電位を予め設定された焦点サイズ
に対応する値に可変、設定することにより、大き
な範囲例えば0.1mm以下から1.5mm以上で、X線焦
点のサイズを曝射条件に合う任意の大きさに変え
られ、而もその焦点サイズに対応して管電流を0
〜1000mA程度の大きな範囲に可変、設定できる
万能焦点を有するX線管装置を提供することであ
る。
〔発明の概要〕
この発明は、真空外囲器内に陽極及び陰極構体
が相対向して設けられ、上記陰極構体は熱電子放
出用の平板状フイラメントからなる陰極及びその
前方に設けられた電子ビーム制限孔及びその前方
に設けられた集束溝を有する集束電極を有し、上
記電子ビーム制限孔は実質的に正方形又は円形で
あり、上記集束溝は長方形又は楕円形であり、そ
の長軸又は長径が陽極ターゲツトから照射される
X線錐の略中心線と上記陰極の中心を含む平面内
に実質的に含まれるように組込まれ、且つ上記陰
極に対して正のバイアス電圧を上記集束電極に印
加するバイアス電源及び上記陰極を加熱する陰極
加熱用電源が接続され、該バイアス電圧及び陰極
加熱電圧を運動して上昇又は下降させるように構
成されてなるX線管装置である。
が相対向して設けられ、上記陰極構体は熱電子放
出用の平板状フイラメントからなる陰極及びその
前方に設けられた電子ビーム制限孔及びその前方
に設けられた集束溝を有する集束電極を有し、上
記電子ビーム制限孔は実質的に正方形又は円形で
あり、上記集束溝は長方形又は楕円形であり、そ
の長軸又は長径が陽極ターゲツトから照射される
X線錐の略中心線と上記陰極の中心を含む平面内
に実質的に含まれるように組込まれ、且つ上記陰
極に対して正のバイアス電圧を上記集束電極に印
加するバイアス電源及び上記陰極を加熱する陰極
加熱用電源が接続され、該バイアス電圧及び陰極
加熱電圧を運動して上昇又は下降させるように構
成されてなるX線管装置である。
この発明を例えば陽極電圧120kV、陽極電流が
10mAから1000mAまで変えられ、X線焦点が
50μm乃至1mmの範囲を変えられるX線管に適用
した場合を例に示す。これは第1図a,b,c,
d,eに示すように構成され、X線管の図示しな
い真空外囲器内に陽極ターゲツト3及びこれに対
向して陰極構体300が設けられている。この陰
極構体は、直熱型陰極フイラメント301がフイ
ラメント支柱302,302に取付けられてい
る。この場合、陰極フイラメント301は第2図
aに示すように切欠きを有する帯状平板、例えば
幅Deが約10mmで、厚さが0.03mm程度のタングス
テン等の重金属の薄板からなり、中央部が電子放
射面301aとなるように平坦に形成され、その
両側は略直角に折曲げられて脚部となり、さらに
U字状に曲げられて折返し部301b,301b
が形成され、各端部301c,301cは外方へ
略直角に折曲げられ上記電子放射面301aに近
い高さのところでフイラメント支柱302,30
2に電子ビーム溶接等によつて取付けられ電気的
に接続されている。
10mAから1000mAまで変えられ、X線焦点が
50μm乃至1mmの範囲を変えられるX線管に適用
した場合を例に示す。これは第1図a,b,c,
d,eに示すように構成され、X線管の図示しな
い真空外囲器内に陽極ターゲツト3及びこれに対
向して陰極構体300が設けられている。この陰
極構体は、直熱型陰極フイラメント301がフイ
ラメント支柱302,302に取付けられてい
る。この場合、陰極フイラメント301は第2図
aに示すように切欠きを有する帯状平板、例えば
幅Deが約10mmで、厚さが0.03mm程度のタングス
テン等の重金属の薄板からなり、中央部が電子放
射面301aとなるように平坦に形成され、その
両側は略直角に折曲げられて脚部となり、さらに
U字状に曲げられて折返し部301b,301b
が形成され、各端部301c,301cは外方へ
略直角に折曲げられ上記電子放射面301aに近
い高さのところでフイラメント支柱302,30
2に電子ビーム溶接等によつて取付けられ電気的
に接続されている。
上記フイラメント支柱302,302には、絶
縁物302a,302aを介してフイラメント固
定用ブロツク302b,302bが機械的に強固
に取付けられてあり、上記陰極フイラメントの端
部301cが図示のように電子ビーム溶接等によ
つて取付けてある。従つて、陰極フイラメント加
熱時には、フイラメント支柱302,302と上
記したように切欠かれた各部は電気的に直列に接
続され、陰極フイラメントのインピーダンスは高
くなり、従来管と同程度のフイラメント電流及び
フイラメント電圧で動作させることができる。更
に、熱膨張等による変形も少なくできる。
縁物302a,302aを介してフイラメント固
定用ブロツク302b,302bが機械的に強固
に取付けられてあり、上記陰極フイラメントの端
部301cが図示のように電子ビーム溶接等によ
つて取付けてある。従つて、陰極フイラメント加
熱時には、フイラメント支柱302,302と上
記したように切欠かれた各部は電気的に直列に接
続され、陰極フイラメントのインピーダンスは高
くなり、従来管と同程度のフイラメント電流及び
フイラメント電圧で動作させることができる。更
に、熱膨張等による変形も少なくできる。
このような陰極フイラメント301を取囲むよ
うに、円形カツプ状の電子ビーム整形電極303
が配設され、この電子ビーム整形電極303に上
記フイラメント支柱302,302が絶縁性支持
体(図示せず)を介して固定されている。電子ビ
ーム整形電極303には、上記陰極フイラメント
301の電子放射面301aに対向して、電子ビ
ーム制限孔304が形成されている。この電子ビ
ーム制限孔304は、上記電子放射面301aの
面積より小さい面積の例えば正方形又はこれに近
い形にして、電子放射面301aの約0.7mm(寸
法d1)前方に位置しており、電子放射面301a
側の開口面は電子放射面301aと実質的に平行
となつている。このような電子ビーム制限孔30
4に沿つて、更に集束溝305が電子ビーム整形
電極303に連設されている。この集束溝305
は上記電子ビーム制限孔304より径大な例えば
長方形にして、電子ビーム制限孔304、電子放
射面301aと共に同軸的に形成され深さd2が十
分深い寸法に形成されている。そして集束溝30
5の底面は制限孔304にかけてテーパ状に形成
されている。このテーパ面の軸c方向に沿う寸法
は深さd2に対して数分の1以下のわずかな寸法と
なるように形成されている。
うに、円形カツプ状の電子ビーム整形電極303
が配設され、この電子ビーム整形電極303に上
記フイラメント支柱302,302が絶縁性支持
体(図示せず)を介して固定されている。電子ビ
ーム整形電極303には、上記陰極フイラメント
301の電子放射面301aに対向して、電子ビ
ーム制限孔304が形成されている。この電子ビ
ーム制限孔304は、上記電子放射面301aの
面積より小さい面積の例えば正方形又はこれに近
い形にして、電子放射面301aの約0.7mm(寸
法d1)前方に位置しており、電子放射面301a
側の開口面は電子放射面301aと実質的に平行
となつている。このような電子ビーム制限孔30
4に沿つて、更に集束溝305が電子ビーム整形
電極303に連設されている。この集束溝305
は上記電子ビーム制限孔304より径大な例えば
長方形にして、電子ビーム制限孔304、電子放
射面301aと共に同軸的に形成され深さd2が十
分深い寸法に形成されている。そして集束溝30
5の底面は制限孔304にかけてテーパ状に形成
されている。このテーパ面の軸c方向に沿う寸法
は深さd2に対して数分の1以下のわずかな寸法と
なるように形成されている。
又、上記陰極フイラメント301のうち、電子
放出面301a以外の部分から出て来る熱電子に
よる電子ビーム整形電極303の過熱を防止する
ために、陰極フイラメント301の周囲にシール
ド構体316,317,318が取付けられてい
る。尚、これらのうち、一部分は省略してもよ
い。これらのシールド構体316,317,31
8は、フイラメント支柱302の一方と同電位又
は近い電位に保たれており、他方のフイラメント
支柱302とから絶縁されている。尚、シールド
構体316,317,318は、フイラメント支
柱302の片方に機械的に固定すると都合がよ
い。
放出面301a以外の部分から出て来る熱電子に
よる電子ビーム整形電極303の過熱を防止する
ために、陰極フイラメント301の周囲にシール
ド構体316,317,318が取付けられてい
る。尚、これらのうち、一部分は省略してもよ
い。これらのシールド構体316,317,31
8は、フイラメント支柱302の一方と同電位又
は近い電位に保たれており、他方のフイラメント
支柱302とから絶縁されている。尚、シールド
構体316,317,318は、フイラメント支
柱302の片方に機械的に固定すると都合がよ
い。
又、第1図eに示すように、上記陰極フイラメ
ント301はフイラメント支柱302と他の例え
ばMoからなる金属片319とで挾み、この金属
片319の上方から電子ビーム溶接又はレーザビ
ーム溶接を行なつて製作すると、陰極フイラメン
ト301とフイラメント支柱302とが広い面積
で接合され、電気抵抗及び熱抵抗が小さくなり、
局部的な加熱が防止される。
ント301はフイラメント支柱302と他の例え
ばMoからなる金属片319とで挾み、この金属
片319の上方から電子ビーム溶接又はレーザビ
ーム溶接を行なつて製作すると、陰極フイラメン
ト301とフイラメント支柱302とが広い面積
で接合され、電気抵抗及び熱抵抗が小さくなり、
局部的な加熱が防止される。
さて、陽極ターゲツト3が、ターゲツト面とX
線を取り出す方向のX線放射軸Xとの交わる角度
をθとする(一般的にθは7゜〜20゜である)。又、
ターゲツト面上の電子ビーム断面形状e0の短辺を
lx、長辺をlyとする。そしてX線放射軸方向から
みた焦点形状X0が、当該分野で広く認められて
いるように長辺と短辺との比が1.4以上に保たれ
るようにする場合を考える。この比が1.0となれ
ば焦点形状が正方形であり、空間解像度を良くす
ると云う点では最も好ましい状態である。そのよ
うになるために、ターゲツト面上の電子ビーム射
突面形状が次の条件を満足するように設定され
る。
線を取り出す方向のX線放射軸Xとの交わる角度
をθとする(一般的にθは7゜〜20゜である)。又、
ターゲツト面上の電子ビーム断面形状e0の短辺を
lx、長辺をlyとする。そしてX線放射軸方向から
みた焦点形状X0が、当該分野で広く認められて
いるように長辺と短辺との比が1.4以上に保たれ
るようにする場合を考える。この比が1.0となれ
ば焦点形状が正方形であり、空間解像度を良くす
ると云う点では最も好ましい状態である。そのよ
うになるために、ターゲツト面上の電子ビーム射
突面形状が次の条件を満足するように設定され
る。
ly/lx=1/sinθ ……(1)
なお、上記のようにX線放射軸方向からみた焦
点形状は、短、長辺比が約1.4まで許容されるの
で、ビーム焦点e0の長、短辺比は次の範囲にあれ
ば十分である。
点形状は、短、長辺比が約1.4まで許容されるの
で、ビーム焦点e0の長、短辺比は次の範囲にあれ
ば十分である。
1/√2・1/sinθ≦ly/lx≦√2・1/sinθ
……(2) そして所定ビーム電流において最小の焦点(例
えば一辺が50μm)を得るとき、短辺又は短径方
向の電子ビームのビームウエストすなわち電子ビ
ームeの断面寸法が最小となる位置が丁度ターゲ
ツト面に一致するように形成されている。なお、
電子ビームeはビームウエストの下流では電子の
相互反発で次第に広がり、断面寸法が増大してゆ
く。なおビーム焦点形状の長手方向がX線方向が
Xと一致する方向にする。
……(2) そして所定ビーム電流において最小の焦点(例
えば一辺が50μm)を得るとき、短辺又は短径方
向の電子ビームのビームウエストすなわち電子ビ
ームeの断面寸法が最小となる位置が丁度ターゲ
ツト面に一致するように形成されている。なお、
電子ビームeはビームウエストの下流では電子の
相互反発で次第に広がり、断面寸法が増大してゆ
く。なおビーム焦点形状の長手方向がX線方向が
Xと一致する方向にする。
又、陰極フイラメント301に対して正のバイ
アス電圧を上記電子ビーム制限孔304に印加し
て、より大きな焦点を得る場合には、ビームウエ
ストの位置は上記ターゲツト3の後方に位置する
ようになる。そして、より大きなバイアス、電圧
に対して、より後方にビームウエストが移動し、
lx、lyが式(2)を保ち乍ら大きくなる。
アス電圧を上記電子ビーム制限孔304に印加し
て、より大きな焦点を得る場合には、ビームウエ
ストの位置は上記ターゲツト3の後方に位置する
ようになる。そして、より大きなバイアス、電圧
に対して、より後方にビームウエストが移動し、
lx、lyが式(2)を保ち乍ら大きくなる。
今、ly/lxが式(2)内のある値kが保たれて、そ
れぞれの大きさが変化する場合を考える。このと
き、kを定数として ly=k・lx ……(3) となる。
れぞれの大きさが変化する場合を考える。このと
き、kを定数として ly=k・lx ……(3) となる。
回転陽極型X線管の入力限界について考える。
よく知られたように、回転周波数f(1/S)で
回転しているターゲツトに入力可能なパワーP
(W)は次式で表わされる。
よく知られたように、回転周波数f(1/S)で
回転しているターゲツトに入力可能なパワーP
(W)は次式で表わされる。
P=π/√2√・・・・×ΔT×ly×lx 1/2
……(4)
ここで、ターゲツト上でのビームの形状は長さ
がlyで、ターゲツトの回転方向の幅がlxの長方形
であると考えた。又、ΔTは焦点近傍でのターゲ
ツト表面の温度上昇(deg)、ρ,C,λはター
ゲツト材の密度、比熱、熱電導率であり、Rは電
子ビームがターゲツトに入射する位置と回転中心
との距離である。式(3)を式(4)に代入することによ
り P=Klx 3/2 ……(5) を得る。但し、Kは式(4)に含まれる定数。
がlyで、ターゲツトの回転方向の幅がlxの長方形
であると考えた。又、ΔTは焦点近傍でのターゲ
ツト表面の温度上昇(deg)、ρ,C,λはター
ゲツト材の密度、比熱、熱電導率であり、Rは電
子ビームがターゲツトに入射する位置と回転中心
との距離である。式(3)を式(4)に代入することによ
り P=Klx 3/2 ……(5) を得る。但し、Kは式(4)に含まれる定数。
従つて、上記のようにバイアス電圧VBを高く
して、式(3)を保ち乍ら焦点サイズ(〜lx)を増し
た場合に、式(5)で示されるように入力パワーが増
大する。管電圧が一定の場合には、管電流が増せ
ることを意味する。このために、例えば陰極加熱
用電源の電圧を高めることにより、陰極温度を高
め、熱電子放出量を増大させることが必要であ
る。このとき、もしVBが低くなることにより、
焦点サイズ(−lx)が大きくなるように設計され
ておれば、電流が増大すること及びVBが低下す
ることにより、上記陰極301と上記電子ビーム
制限孔304とが空間電荷制限2極管となり、陰
極温度を上昇させても管電流が増大できない。
して、式(3)を保ち乍ら焦点サイズ(〜lx)を増し
た場合に、式(5)で示されるように入力パワーが増
大する。管電圧が一定の場合には、管電流が増せ
ることを意味する。このために、例えば陰極加熱
用電源の電圧を高めることにより、陰極温度を高
め、熱電子放出量を増大させることが必要であ
る。このとき、もしVBが低くなることにより、
焦点サイズ(−lx)が大きくなるように設計され
ておれば、電流が増大すること及びVBが低下す
ることにより、上記陰極301と上記電子ビーム
制限孔304とが空間電荷制限2極管となり、陰
極温度を上昇させても管電流が増大できない。
しかるに、この発明を採用すれば、焦点サイズ
(−lx)が大きい場合にはVBが高いので、陰極温
度を上昇することにより容易に管電流を増すこと
ができ、いつも式(5)の入力限度一杯の状態で使用
することができ、極めて有効である。
(−lx)が大きい場合にはVBが高いので、陰極温
度を上昇することにより容易に管電流を増すこと
ができ、いつも式(5)の入力限度一杯の状態で使用
することができ、極めて有効である。
この発明を採用するれば、第3図に示すX撮影
装置のように、被写体401の大きさ、材質に応
じたX線検出器402の出力を比較器403に入
力し、必要なX線出力が得られるようにバイアス
電源404の電圧VB及び陰極加熱用電源306
の電圧を予め設定された関係で自動的に決めるこ
とにより、どんな被写体であつても常に最適の条
件に自動的に設定することができる。
装置のように、被写体401の大きさ、材質に応
じたX線検出器402の出力を比較器403に入
力し、必要なX線出力が得られるようにバイアス
電源404の電圧VB及び陰極加熱用電源306
の電圧を予め設定された関係で自動的に決めるこ
とにより、どんな被写体であつても常に最適の条
件に自動的に設定することができる。
次に、どのような構造にすれば、式(3)を保ち乍
らその大きさが変えられるかについて述べる。
らその大きさが変えられるかについて述べる。
今、第4図に示すように陰極フイラメント30
1と電子ビーム制限孔304とで乍られる凹レン
ズの長手方向及び短手方向の焦点距離をそれぞれ
fy1,fx1とし、集束溝306の長手方向及び短手
方向の焦点距離をそれぞれfy2,fx2とする。Dy,
Dxは電子ビーム制限孔304の長手方向及び短
手方向の長さであり、dfはレンズ間の距離であ
る。
1と電子ビーム制限孔304とで乍られる凹レン
ズの長手方向及び短手方向の焦点距離をそれぞれ
fy1,fx1とし、集束溝306の長手方向及び短手
方向の焦点距離をそれぞれfy2,fx2とする。Dy,
Dxは電子ビーム制限孔304の長手方向及び短
手方向の長さであり、dfはレンズ間の距離であ
る。
第4図からly/lxを求め、これが、陰極フイラ
メント301と電子ビーム制限孔304との間に
印加されるバイアス電圧VBに関係せず、一定で
あることが好ましい。ly/lxをVBで徴分し、その
値がVB,fy1,fx1に関係せずに常に近似的に0に
なるためには、fy1,fx1≪fx2,fy2,fx2d3である
ことを考慮すると、 であればよい。
メント301と電子ビーム制限孔304との間に
印加されるバイアス電圧VBに関係せず、一定で
あることが好ましい。ly/lxをVBで徴分し、その
値がVB,fy1,fx1に関係せずに常に近似的に0に
なるためには、fy1,fx1≪fx2,fy2,fx2d3である
ことを考慮すると、 であればよい。
これが成立する場合は、電圧VBによる電界強
度分布が、電子ビーム制限孔304と陰極フイラ
メント301の間で、長手方向yと短手方向xと
で等しくなる場合である。換言すれば、上記した
構造でDx=Dyの場合となる。
度分布が、電子ビーム制限孔304と陰極フイラ
メント301の間で、長手方向yと短手方向xと
で等しくなる場合である。換言すれば、上記した
構造でDx=Dyの場合となる。
この場合、集束溝305の長手方向及び幅方向
の長さをそれぞれSy,Sxとすると、式(2)の関係を
満すSy,Sxの範囲を計算機により実験的に求める
と、 1<Sy/Sx≦2/sinθ ……(7) であることが判つた。
の長さをそれぞれSy,Sxとすると、式(2)の関係を
満すSy,Sxの範囲を計算機により実験的に求める
と、 1<Sy/Sx≦2/sinθ ……(7) であることが判つた。
第1図の実施例では集束溝305の深さ寸法d2
は、製作が容易となるようにx方向にもy方向に
も等しい寸法にしてあり、この電極303からタ
ーゲツト焦点位置までの距離d3に対して1/3.5
乃至1/0.5の範囲となるように構成する。すな
わち 0.5≦d3/d2≦3.5 を満足するようにしている。しかしながら、式(7)
が成立する範囲でd3をもつと大きくすることは、
差支えない。
は、製作が容易となるようにx方向にもy方向に
も等しい寸法にしてあり、この電極303からタ
ーゲツト焦点位置までの距離d3に対して1/3.5
乃至1/0.5の範囲となるように構成する。すな
わち 0.5≦d3/d2≦3.5 を満足するようにしている。しかしながら、式(7)
が成立する範囲でd3をもつと大きくすることは、
差支えない。
そしてフエラメント301にフイラメント電源
306から加熱電力を与え直熱する。またフイラ
メントに対してビーム整形電極303に正の50〜
1000Vの範囲を可変できるバイアス電源307か
らバイアス電位を与え、さらに陽極ターゲツト3
に正の120kV程度の陽極電圧を電源308から与
えて動作させる。これによつてバイアス電位が約
200V付近で電子ビームeの短手方向のビームウ
エストがターゲツト面に合致する。
306から加熱電力を与え直熱する。またフイラ
メントに対してビーム整形電極303に正の50〜
1000Vの範囲を可変できるバイアス電源307か
らバイアス電位を与え、さらに陽極ターゲツト3
に正の120kV程度の陽極電圧を電源308から与
えて動作させる。これによつてバイアス電位が約
200V付近で電子ビームeの短手方向のビームウ
エストがターゲツト面に合致する。
そしてターゲツト面上の電子ビーム焦点e0の最
小の大きさは、短辺lxが約50μm、長辺lyが約
180μmとなり、ターゲツト角度が16゜の場合にX
線放射線Xの方向からみた実効焦点X0は一辺が
約50μmのほぼ正方形となり、均等な電子密度分
布が得られた。
小の大きさは、短辺lxが約50μm、長辺lyが約
180μmとなり、ターゲツト角度が16゜の場合にX
線放射線Xの方向からみた実効焦点X0は一辺が
約50μmのほぼ正方形となり、均等な電子密度分
布が得られた。
また、バイアス電位を50Vから1000Vの範囲で
変化することにより焦点形状をほぼ相似的にして
大きさを一辺が約50μmから約1mmの寸法まで変
化させることができた。
変化することにより焦点形状をほぼ相似的にして
大きさを一辺が約50μmから約1mmの寸法まで変
化させることができた。
しかも陽極電圧を最大150kV、陽極電流を焦点
の大きさに応じてフイラメント電圧306を変える
ことにより最大1000mAまでの範囲で使用するX
線管に適用して、実効焦点を長、短辺比が約1.4
以下にとどめることができた。バイアス電位と電
子ビーム焦点の短辺lx、長辺lyの関係は第5図に
示すようになり、X線実効焦点X0の辺の比はお
よそ1.4以下にとどめることができる。
の大きさに応じてフイラメント電圧306を変える
ことにより最大1000mAまでの範囲で使用するX
線管に適用して、実効焦点を長、短辺比が約1.4
以下にとどめることができた。バイアス電位と電
子ビーム焦点の短辺lx、長辺lyの関係は第5図に
示すようになり、X線実効焦点X0の辺の比はお
よそ1.4以下にとどめることができる。
上記実施例の電子ビーム集束状態を電子計算機
によるシミユレーシヨンの結果を第6図に示して
説明する。即ち、第6図は最小焦点時の第1図b
に相当する断面図である。そして、既述のように
陰極フイラメント301は幅が略10mm程度で、厚
さが0.03mm程度のタングステン薄板からできてお
り、フイラメント支柱302を通して通電され加
熱される。陰極フイラメント301の表面から放
出された熱電子は、電子ビーム制限孔304と陰
極フイラメント301の間に印加されたバイアス
電圧によつてできる電界によつて加速され、電子
ビーム制限孔304に到達する。
によるシミユレーシヨンの結果を第6図に示して
説明する。即ち、第6図は最小焦点時の第1図b
に相当する断面図である。そして、既述のように
陰極フイラメント301は幅が略10mm程度で、厚
さが0.03mm程度のタングステン薄板からできてお
り、フイラメント支柱302を通して通電され加
熱される。陰極フイラメント301の表面から放
出された熱電子は、電子ビーム制限孔304と陰
極フイラメント301の間に印加されたバイアス
電圧によつてできる電界によつて加速され、電子
ビーム制限孔304に到達する。
この際、陰極フイラメント301の表面と電子
ビーム制限孔304の表面が略平行となつている
ため、その間の等電位曲線310は略平行とな
り、電子ビーム制限孔304の端部を通る電子軌
道をあまり乱さない。又、陰極フイラメント30
1の端部及び側面より出た電子312は電子ビー
ム制限孔304の壁に吸収され、集束溝305に
入らない。
ビーム制限孔304の表面が略平行となつている
ため、その間の等電位曲線310は略平行とな
り、電子ビーム制限孔304の端部を通る電子軌
道をあまり乱さない。又、陰極フイラメント30
1の端部及び側面より出た電子312は電子ビー
ム制限孔304の壁に吸収され、集束溝305に
入らない。
従つて、陰極フイラメント301の中央部より
出たフリンジング効果を含まない電子ビームのみ
陽極ターゲツト3に達することになる。電子ビー
ム制限孔304と陰極フイラメント301の距離
d1は、陰極フイラメント301の表面から出た電
子がバイアス電圧によつて温度制限領域で動作す
るように決められている。従つて、電子ビーム制
限孔304を通過する電子の量は、陰極フイラメ
ント301の温度のみによつて決まり、陽極ター
ゲツト3上での電子密度分布の大きさは、バイア
ス電圧によつて電流値と独立に可変できるように
なつている。電子ビーム制限孔304によつて制
限された電子312は内壁313を加熱するが、
内壁313は電子ビーム整形電極303の放射方
向にテーパ状に厚くなつており、十分熱伝導を良
くして局部過熱とならない。電子ビーム制限孔3
04を通過した電子は、距離d1を通過する間に、
その間の凹レンズ作用によつて拡散させられる
が、その電子ビーム密度は極めて均一となつてい
る。この電子ビームは、十分深くて強い凸レンズ
作用を有する集束溝305によつて強く集束さ
れ、短径、長径の両方の寸法が式(2)を満たすよう
になつている。
出たフリンジング効果を含まない電子ビームのみ
陽極ターゲツト3に達することになる。電子ビー
ム制限孔304と陰極フイラメント301の距離
d1は、陰極フイラメント301の表面から出た電
子がバイアス電圧によつて温度制限領域で動作す
るように決められている。従つて、電子ビーム制
限孔304を通過する電子の量は、陰極フイラメ
ント301の温度のみによつて決まり、陽極ター
ゲツト3上での電子密度分布の大きさは、バイア
ス電圧によつて電流値と独立に可変できるように
なつている。電子ビーム制限孔304によつて制
限された電子312は内壁313を加熱するが、
内壁313は電子ビーム整形電極303の放射方
向にテーパ状に厚くなつており、十分熱伝導を良
くして局部過熱とならない。電子ビーム制限孔3
04を通過した電子は、距離d1を通過する間に、
その間の凹レンズ作用によつて拡散させられる
が、その電子ビーム密度は極めて均一となつてい
る。この電子ビームは、十分深くて強い凸レンズ
作用を有する集束溝305によつて強く集束さ
れ、短径、長径の両方の寸法が式(2)を満たすよう
になつている。
又、集束溝305はその内部の等電位曲線31
4が中央部の電子軌跡315と端部の電子軌跡3
11で収差をほとんど生じない。
4が中央部の電子軌跡315と端部の電子軌跡3
11で収差をほとんど生じない。
以上、第1図bに示す短手方向について述べた
が、第1図aに示す長手方向でも同様の動作が得
られる。
が、第1図aに示す長手方向でも同様の動作が得
られる。
この発明によれば、次のような優れた効果が得
られる。
られる。
焦点サイズが被写体の大きさや材質に応じて
任意の大きさに可変でき、大きな焦点に対して
は十分大きな管電流を得ることができる。
任意の大きさに可変でき、大きな焦点に対して
は十分大きな管電流を得ることができる。
X線焦点の形状を常にほぼ一定に保ちなが
ら、その大きさをただ1つのバイアス電圧の制
御によつて制御できる。そして陽極電流を増大
しても焦点形状が悪化しない。
ら、その大きさをただ1つのバイアス電圧の制
御によつて制御できる。そして陽極電流を増大
しても焦点形状が悪化しない。
陰極フイラメント301の中央部からの電子
のみを加速するため、収差の少ないエツジがシ
ヤープな任意の大きさの焦点を得ることができ
る。又、陰極フイラメント301の側面から出
た電子ビームが、電子ビーム制限孔304にて
カツトされるため、副焦点を生じない。
のみを加速するため、収差の少ないエツジがシ
ヤープな任意の大きさの焦点を得ることができ
る。又、陰極フイラメント301の側面から出
た電子ビームが、電子ビーム制限孔304にて
カツトされるため、副焦点を生じない。
ところで上記実施例によれば、陰極フイラメン
ト301の熱変形が少なく、熱電子放出面301
aの温度が均一であるため、安定した動作を行な
う。即ち、第12図は従来の常状平板からなる陰
極フイラメント201であり、フイラメント支柱
206に取付けられているが、通電により陰極フ
イラメント201の温度が高くなると、その熱膨
張により破線201′で示すように、中央部(熱
電子放出面)が弯曲すると共に上方に大きくずれ
るため、上記特性の安定性が得られない。しか
し、この発明では第2図cに示すように、陰極フ
イラメント301の脚部の熱膨張は折返し部30
1b,301bによつて殆ど打ち消され、破線で
示すように熱電子放出面301aの移動が少な
い。又、熱電子放出面301aの膨張は脚部の折
返し部301b,301bで吸収されるため、弯
曲することはない。更に、脚部の強度が十分あ
り、自身の重量が少ないため、共振周波数が高く
なり外部振動によるゆれも少ない。このようにし
て、電子集束特性を常に良好に保つことができ
る。
ト301の熱変形が少なく、熱電子放出面301
aの温度が均一であるため、安定した動作を行な
う。即ち、第12図は従来の常状平板からなる陰
極フイラメント201であり、フイラメント支柱
206に取付けられているが、通電により陰極フ
イラメント201の温度が高くなると、その熱膨
張により破線201′で示すように、中央部(熱
電子放出面)が弯曲すると共に上方に大きくずれ
るため、上記特性の安定性が得られない。しか
し、この発明では第2図cに示すように、陰極フ
イラメント301の脚部の熱膨張は折返し部30
1b,301bによつて殆ど打ち消され、破線で
示すように熱電子放出面301aの移動が少な
い。又、熱電子放出面301aの膨張は脚部の折
返し部301b,301bで吸収されるため、弯
曲することはない。更に、脚部の強度が十分あ
り、自身の重量が少ないため、共振周波数が高く
なり外部振動によるゆれも少ない。このようにし
て、電子集束特性を常に良好に保つことができ
る。
上記実施例では、電子ビーム制限孔304及び
集束溝305はいずれも正方形に形成されていた
が、第7図に示すように、電子ビーム制限孔30
4を円形に集束溝305を楕円形に形成してもよ
い。そして集束溝305の短径Sx、長径Syを前述
の関係式の範囲を満足するように構成する。これ
により上記実施例と同様の効果が得られる。この
場合、陽極ターゲツト上での電子ビーム焦点は長
軸が短軸の1/sinθになる楕円形となる。従つ
て、X線管のX線放射口から見たX線焦点X0は
ほぼ真円形となる。又、バイアス電圧を変えた場
合は、X線焦点は常に略円形を保ちながらその大
きさを変えることになる。上記した関係はバイア
ス電圧等の設定条件を変えた場合にもほぼ円形に
保たれる。
集束溝305はいずれも正方形に形成されていた
が、第7図に示すように、電子ビーム制限孔30
4を円形に集束溝305を楕円形に形成してもよ
い。そして集束溝305の短径Sx、長径Syを前述
の関係式の範囲を満足するように構成する。これ
により上記実施例と同様の効果が得られる。この
場合、陽極ターゲツト上での電子ビーム焦点は長
軸が短軸の1/sinθになる楕円形となる。従つ
て、X線管のX線放射口から見たX線焦点X0は
ほぼ真円形となる。又、バイアス電圧を変えた場
合は、X線焦点は常に略円形を保ちながらその大
きさを変えることになる。上記した関係はバイア
ス電圧等の設定条件を変えた場合にもほぼ円形に
保たれる。
尚、上記実施例及び変形例において、陰極フイ
ラメント301の脚部の幅は、電子放出面301
aよりも広くてもよい。
ラメント301の脚部の幅は、電子放出面301
aよりも広くてもよい。
又、電子ビーム制限孔304,307と集束溝
305,308とは必ずしも一体構造である必要
はない。
305,308とは必ずしも一体構造である必要
はない。
又、陰極フイラメント301の電子放出面30
1aの幅は、電子ビーム制限孔304,307の
幅よりも狭くても、上記と同様の効果を持たせる
ことができる。
1aの幅は、電子ビーム制限孔304,307の
幅よりも狭くても、上記と同様の効果を持たせる
ことができる。
又、管電流が変化した場合に、それに対応して
バイアス電圧を変えることによつて、管電流の変
化にも拘らず、所望の焦点の大きさを得ることが
できる。
バイアス電圧を変えることによつて、管電流の変
化にも拘らず、所望の焦点の大きさを得ることが
できる。
又、この実施例では、電子ビーム制限孔304
と集束溝305を一体構造の電子ビーム整形電極
303内に設けているが、これらを機械的に分離
しても良いことは勿論であるし、これらの間に他
のバイアス電圧を印加しても良いことは勿論であ
る。
と集束溝305を一体構造の電子ビーム整形電極
303内に設けているが、これらを機械的に分離
しても良いことは勿論であるし、これらの間に他
のバイアス電圧を印加しても良いことは勿論であ
る。
又、陰極として、バリウム含浸カソード等の傍
熱形のものを使用しても良いことは勿論である。
熱形のものを使用しても良いことは勿論である。
又、陰極フイラメント301の表面を曲面にし
ても、同様の効果を持たせることはできる。
ても、同様の効果を持たせることはできる。
又、熱電子放出面301aを正方形あるいは円
形にしても良いことは勿論である。
形にしても良いことは勿論である。
又、陰極フイラメントは分割のない平板ででき
ていても良いことは勿論である。
ていても良いことは勿論である。
第1図a〜eはこの発明の一実施例に係るX線
管装置の要部(陰極構体)を示す断面図、平面
図、斜視図、断面図、第2図a,b,cはこの発
明で用いる陰極フイラメントを示す組立平面図、
斜視図、断面図、第3図はこの発明を利用したX
線撮影装置を示すブロツク線図、第4図a,bは
この発明のX線管装置における短手方向及び長手
方向の集束状態を示す説明図、第5図はこの発明
のX線管装置におけるバイアス電圧と陽極ターゲ
ツト上での電子ビーム焦点の辺と長さとの関係を
示す特性曲線図、第6図はこの発明のX線管装置
における動作モードを説明するために用いる断面
図、第7図はこの発明の変形例を示す平面図、第
8図は従来のX線管装置を示す概略構成図、第9
図乃至第11図は従来のX線管装置における陰極
構体の3例を示す断面図、第12図は第11図の
陰極構体における欠点を説明するために用いる断
面図、第13図は従来のX線管装置の陰極フイラ
メントを示す断面図である。 1……真空外囲器、2……陰極構体、3……陽
極ターゲツト、300……陰極構体、301……
陰極フイラメント、301a……電子放射面、3
01b……折返し部、302……フイラメント支
柱、303……電子ビーム整形電極、304……
電子ビーム制限孔、305……集束溝、306…
…陰極加熱用電源、307……バイアス制御電
源、401……被写体、402……X線検出器、
403……比較器、404……バイアス電源。
管装置の要部(陰極構体)を示す断面図、平面
図、斜視図、断面図、第2図a,b,cはこの発
明で用いる陰極フイラメントを示す組立平面図、
斜視図、断面図、第3図はこの発明を利用したX
線撮影装置を示すブロツク線図、第4図a,bは
この発明のX線管装置における短手方向及び長手
方向の集束状態を示す説明図、第5図はこの発明
のX線管装置におけるバイアス電圧と陽極ターゲ
ツト上での電子ビーム焦点の辺と長さとの関係を
示す特性曲線図、第6図はこの発明のX線管装置
における動作モードを説明するために用いる断面
図、第7図はこの発明の変形例を示す平面図、第
8図は従来のX線管装置を示す概略構成図、第9
図乃至第11図は従来のX線管装置における陰極
構体の3例を示す断面図、第12図は第11図の
陰極構体における欠点を説明するために用いる断
面図、第13図は従来のX線管装置の陰極フイラ
メントを示す断面図である。 1……真空外囲器、2……陰極構体、3……陽
極ターゲツト、300……陰極構体、301……
陰極フイラメント、301a……電子放射面、3
01b……折返し部、302……フイラメント支
柱、303……電子ビーム整形電極、304……
電子ビーム制限孔、305……集束溝、306…
…陰極加熱用電源、307……バイアス制御電
源、401……被写体、402……X線検出器、
403……比較器、404……バイアス電源。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 真空外囲器内に陽極及び陰極構体が相対向し
て設けられ、上記陰極構体は熱電子放出用の平板
状フイラメントからなる陰極及びその前方に設け
られた電子ビーム制限孔及びその前方に設けられ
た集束溝を有する集束電極を有し、 上記電子ビーム制限孔は実質的に正方形又は円
形であり、上記集束溝は長方形又は楕円形であ
り、その長軸又は長径が陽極ターゲツトから照射
されるX線錐の略中心線と上記陰極の中心を含む
平面内に実質的に含まれるように組込まれ、 且つ上記陰極に対して正のバイアス電圧を上記
集束電極に印加するバイアス電源及び上記陰極を
加熱する陰極加熱用電源が接続され、該バイアス
電圧及び陰極加熱電圧を連動して上昇又は下降さ
せるように構成されてなることを特徴とするX線
管装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5770785A JPS61218100A (ja) | 1985-03-22 | 1985-03-22 | X線管装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5770785A JPS61218100A (ja) | 1985-03-22 | 1985-03-22 | X線管装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61218100A JPS61218100A (ja) | 1986-09-27 |
JPH0373099B2 true JPH0373099B2 (ja) | 1991-11-20 |
Family
ID=13063413
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5770785A Granted JPS61218100A (ja) | 1985-03-22 | 1985-03-22 | X線管装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61218100A (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6391943A (ja) * | 1986-10-06 | 1988-04-22 | イメイトロン インコ−ポレ−テツド | 電子銃 |
GB2365304A (en) * | 2000-07-22 | 2002-02-13 | X Tek Systems Ltd | A compact X-ray source |
WO2003086028A1 (fr) * | 2002-04-05 | 2003-10-16 | Hamamatsu Photonics K.K. | Procede et appareil de controle de tube a rayons x |
CN100355323C (zh) | 2002-04-05 | 2007-12-12 | 浜松光子学株式会社 | X射线管调整装置、x射线管调整系统及x射线管调整方法 |
JP4774972B2 (ja) * | 2005-12-13 | 2011-09-21 | 株式会社島津製作所 | X線発生装置およびこれを備えたx線診断装置 |
KR100766907B1 (ko) * | 2006-04-05 | 2007-10-17 | 한국전기연구원 | 마이크로 집속 수준의 전자빔 발생용 탄소나노튜브 기판분리형 방사선관 시스템 |
JP5111788B2 (ja) * | 2006-06-05 | 2013-01-09 | 株式会社日立メディコ | X線発生用電源装置 |
JP5785156B2 (ja) * | 2009-05-05 | 2015-09-24 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | X線生成装置の焦点スポットの負荷依存サイズ変更のための方法および装置 |
CN104470179B (zh) * | 2013-09-23 | 2017-10-24 | 清华大学 | 一种产生均整x射线辐射场的装置以及方法 |
CN106206223B (zh) * | 2013-10-29 | 2019-06-14 | 万睿视影像有限公司 | 发射特点可调节以及磁性操控和聚焦的具有平面发射器的x射线管 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS586140U (ja) * | 1981-07-06 | 1983-01-14 | 株式会社ガスタ− | 壁掛型湯沸器の取付装置 |
JPS5994348A (ja) * | 1983-10-28 | 1984-05-31 | Hitachi Ltd | 可変焦点x線管 |
-
1985
- 1985-03-22 JP JP5770785A patent/JPS61218100A/ja active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS586140U (ja) * | 1981-07-06 | 1983-01-14 | 株式会社ガスタ− | 壁掛型湯沸器の取付装置 |
JPS5994348A (ja) * | 1983-10-28 | 1984-05-31 | Hitachi Ltd | 可変焦点x線管 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS61218100A (ja) | 1986-09-27 |
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