JPH0365842B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明はプレス加工におけるプレス型（ワー
ク）の曲面仕上げ技術、詳しくはワークの偏差の
測定装置に関する。

従来技術 従来のプレス型製作における曲面仕上げはマス
ター（原型）から複製したモデルをワークと合わ
せることで行われていた。即ちワークに面するモ
デルの面上に紅ガラが塗布され、モデルとワーク
とを圧着することにより、ワークの突出部分にの
み紅ガラが付着される。この紅ガラ付着部分は赤
当り部分と称され、モデルに対して研削代がある
部分と看做すことができる。熟練作業者はその赤
当り部分を研削工具を用いて少しづつ仕上げ、最
終的に研削代がない状態に追い込んでゆくことに
なる。

しかしながら、この従来の仕上げでは、赤当り
部分は他の部位に較べて相対的に突であることを
表示するにすぎず、その必要研削量が数値として
表われているわけではない。そのため、モデルの
形状やワーク全体の赤当り状態より、作業者の経
験や熟練にたよつた作業とならざるを得ない。そ
のため精度の良い仕上げをするのが困難であつ
た。また、合せモデルとワークとの赤当り部分を
作業者が目視チエツクし、研削工具による手仕上
げを行い、順次にワーク形状を基準であるモデル
形状に合せてゆく作業であるため、その作業完了
までに多くの工数を要した。

かかる従来技術の欠点を解決するため本出願人
はこの出願の先願となる出願において、ワークの
マスターとなる形状をプレス加工によつて製作す
べき目的物、例えば自動者の外観又はボデイの設
計よりコンピユータによつて計算し、計算された
データとワークより実施したデータと比較するこ
とにより両者の偏差を演算し、その偏差をデイス
プレイ又はワーク上に色表示し、その表面に従つ
てワークの仕上げを行うようにした技術を提案し
ている。この技術によればマスター形状に対する
偏差を具体的な数値として表わすことができる。
従つて作業者は熟練がなくても偏差を正確に知る
ことができ、迅速かつ確実な型仕上げを実行する
ことができる。

発明が解決しようとする問題点 本発明はかかつ先願技術において、ワーク上の
任意点の測定を精度良くかつ迅速に行うことがで
きる改良を目指すものである。従来技術での任意
点の測定は、作業者が測定希望点へ手動で三次元
測定機のセンサを移動させ、接触点の座標を読取
ることにより測定する方法、又は測定希望点の近
傍まで手動で移動させ、それから三次元測定機の
操作盤からアプローチ指示を行うことにより、測
定機内のコントローラをシーケンス処理作動させ
ることによりセンサを軸直方向にワークに接触す
るまで駆動し接触点の座標を読み取ることによる
方法があつた。ところがこのような従来の任意点
測定方法ではデータの採取は軸直方向に行われる
ため、ワークの測定希望点が傾斜面上にある場合
はセンサの滑りが避け得ず精度に悪影響を及ぼし
ていた。また従来方法では単にワークの測定希望
点の三次元座標値としての採取データが得られる
だけで、被測定物の理想形状であるマスターとの
偏差を評価する手段はなかつた。

本発明はかかる従来技術の欠点に鑑み、また前
述した先願において本出願人が提案した面直方向
の測定という考え方もとり入れることにより任意
点の測定を精度良くかつ迅速に行い得る方法及び
装置を提供することにある。

問題点を解決するための手段 本発明のワークの偏差測定装置は、第１図に示
すように、ワーク１４のマスター形状データを格
納しておく記憶手段１と、三次元測定機のフレー
ムに取付られる三次元方向に移動可能な移動手段
２と、該移動手段２上に設けられ移動手段２の座
標値信号を生ずる座標検出手段３と、前記移動手
段２上に設けられワーク１４との接触を検出する
接触検出手段９０と、ワーク１４上の任意に検出
される測定希望点９０を通過し、かつ座標軸のう
ち面直方向に最も近い座標軸に平行な第１の直線
９２を決定する手段４と、該第１の直線９２がマ
スター形状データが構成する曲面２００と交差す
る測定基準点９３を算出し、該測定基準点９３の
座標データ及び面直ベクトルデータを演算する手
段５と、演算された面直方向と方向が一致し、測
定基準点を通過する第２の直線９２′を決定する
手段６と、第２の直線９２′と交差する位置まで
接触検出手段２０を移動させ、その後、該第２の
直線９２′に沿つて接触検出手段２０ををワーク
に接触するまで駆動する手段７と、接触検出手段
２０がワーク１４に接触する測定点９４の座標デ
ータと測定基準点９３の座標データよりマスター
形状にするワークの偏差を演算する手段８とから
構成される。

作 用 記憶手段１はワーク１４のマスター形状データ
を格納している。

接触検出手段２０はワーク１４上の任意に選定
される測定希望点９０に近傍するように位置さ
れ、その時の座標位置が座標検出手段３により検
出され、第１の直線決定手段４は、この座標値よ
り前記測定希望点９０を通過し、かつ座標軸のう
ち面直方向に最も近い座標軸に平行な第１の直線
９２を決定する。

基準データ演算手段５は、第１の直線９２がマ
スター形状データが構成する曲面２００と交差す
る測定基準点９３を算出し、該測定基準点９３の
座標データ及び面直ベクトルデータを演算する。

第２の直線決定手段６は、演算された面直方向
と方向が一致し、測定基準点９３を通過する第２
の直線９２′を決定する。

駆動手段７は、移動手段２を介して、第２の直
線９２′と交差する位置まで接触検出手段２０を
移動させ、その後、該第２の直線９２′に沿つて
接触検出手段２０をワークに接触するまで移動さ
せる。

偏差演算手段８は接触検出手段２０がワーク１
４に接触する測定点９４の座標データと測定基準
点９３の座標データよりマスター形状に対するワ
ークの偏差を演算する。

実施例 本発明のシステム構成の全体を示す第２図にお
いて、１０は三次元測定機を全体として示すもの
で、ベース１２を有し、その上に測定すべきワー
クであるプレス型１４が設置される。キヤリツジ
１６上にキヤリヤ１８があり、アタツチメント１
９を介し、センサ２０が後述のように取付けられ
る。キヤリツジ１６は紙面垂直方向に、キヤリヤ
１８はキヤリツジ１６上を図の左右方向に、アタ
ツチメント１９はキヤリヤ１８に対して上下方向
に夫々独立して動くことができ、これによつて型
の三次元的な測定を行うことができる。

２２は、データの入力制御、三次元測定機１０
の作動制御、更にはデイスプレイ制御を行う主コ
ンピユータであつて、セントラルプロセシングユ
ニツト（CPU）２４、リードオンメモリ
（ROM）２６、ランダムアクセスメモリ
（RAM）２８を備えている。CPU２４は回線３
０を介しインタフエース３２に結線され、同イン
タフエース３２は三次元測定機１０の制御コンピ
ユータとCPU２４との間の信号のやり取りの制
御を行う。CPU２４はキーボード等の入力装置
３４並びにカラーデイスプレイ３６に結線され
る。CPU２４は更に磁気デイスク装置などの外
部記憶装置３８に接続される。CPU２４内には
後述のフローチヤートを実現するCPU２４の制
御プログラムが格納されており、同CPU２４は
この制御プログラムに従つて入力装置３４よりの
データの入力、三次元測定機１０による型測定、
カラーデイスプレイ３６による偏差の色表示を行
う。

三次元測定機１０は制御用の副コンピユータ４
０を有しており、主コンピユータ１０と前記イン
タフエース３２を介して結線される。副コンピユ
ータ４０も主コンピユータ２２と同様CPU４１、
ROM４２及びRAM４３より構成される。CPU
４１は回線４５、インタフエース４６を介して三
次元測定機１０の駆動回路である小型コンピユー
タ４７に結線される。インタフエース４６にはコ
ンピユータ４０からの三次元測定機１０の作動命
令が書き込まれ、またセンサ２０からの三次元測
定結果が書き込まれる。また三次元測定機１０は
操作盤４９を有しており、コンピユータ４０とは
独立してセンサ２０を所望位置まで手動で持つて
来ることができるようになつている。操作盤４９
上に任意点測定開始キーがあり、任意点の測定開
始時のコマンドが与えられる。更に、操作盤４９
上に後述の計算軸の入力キーがあり、ｘ，ｙ，ｚ
のうちの一つの計算軸情報の入力を行うことがで
きる。

５０はデータベース管理用のコンピユータであ
り、同様にCPU５１、ROM５２、RAM５３よ
り成り、CPU５１はインタフエース５４、回線
５５を介して主コンピユータ２２のCPU２４に
結線される。５６は磁気デイスク等の外部記憶装
置を備えている。このコンピユータ５０は後述の
ワークのマスター形状データ等より成るデータベ
ースを管理するものであり、実施例では任意点に
おける基準データの創成を行うための割込プログ
ラムを有している。このコンピユータ５０は他の
仕事も行うが、本発明と直接的に関連はないの
で、その説明は省略する。

次に本発明における任意点の偏差の測定の原理
を説明する。第３図において、２００をワークの
原型となるマスター形状の曲面とする。その曲面
の点ｐは座標（ｘ，ｙ，ｚ）及び面直ベクトルＮ
（ｉ，ｊ，ｋ）によつて形状を特定することがで
きる（ここに面直ベクトルとはその点ｐの法線方
向の単位ベクトルのことをいう。）。このようなマ
スター形状は、プレスすべき物品が自動車とすれ
ばその外観又はボデイの設計から決まるものであ
る。コンピユータ中には所定間隔の点ｐ毎に座標
値及び面直ベクトルより成るマスター形状データ
が格納されている。ところが任意点を測定する場
合はその測定の基準点となる座標値及び面直ベク
トル値が不明ある。本発明では次のような手法で
任意点に対応するマスター形状曲面２００上の測
定基準点のデータを演算創成しようとするもので
ある。即ち第４図において、２００′をワークの
形状、２００は第３図で述べたようなマスターデ
ータ上の各点ｐの集まりによつて構成されるマス
ター形状曲面とする。今点９０を測定を希望する
任意点（測定希望点）とする。次にこの測定希望
点９０の極めて近傍の点（接続点）９９１まで三
次元測定機１０のセンサ２０の先端が手動で持つ
て来られる。この場合、近傍点９１は次のように
決められる。即ち、近傍点９１からｘ，ｙ，ｚ軸
のうちのいずれか一つと平行な線９２が丁度測定
希望点９０と交差するように決められる。これは
次のような意味を持つ。即ちマスター形状２００
に対するワーク形状２００′の偏差を測定するた
めにはワーク形状上の測定希望点９０に対応する
マスター形状上の点９３である測定基準点を知ら
なければならない。この場合本当の測定基準点は
測定希望点９０から面直方向にある筈である。し
かしながら、この場合面直方向を決めることは困
難である。そこで、ｘ，ｙ，ｚのうちの一つの任
意の軸を決め（これを計算軸と称する）、これと
平行でかつ近傍点９１を通る直線９２を設定しこ
れがマスター形状曲面２００と交差する点９３を
もつて測定基準点とするのである。なお、計算軸
９２はワークの形状によつては２本以上引き得る
がこの場合、より面直方向に近い方を選択するこ
とになる。面直方向にない計算軸９２によつて測
定基準点９３を計算しているから、後述の面直測
定によつて実際に測定される点（第６図の９４）
は測定希望点９０とは必ずしも一致しない。しか
しながら、ワーク曲面２００′とマスター曲面２
００との偏差は小さいこと及び近傍点９１はワー
クに極く近いからその不一致の度合は小さく問題
とするに足りない程である。第５図には測定基準
点をどのように決定するかが立体的にかつ模式的
に示されている。即ち、２００はマスターデータ
により表わされる曲面を示す。即ち、前述のよう
にマスターデータは各点の座標と面直ベクトルと
のデータの組合せによつて構成され、破線の交点
毎にそのようなデータの組合せが格納される。そ
して、近傍点９１の座標と計算軸とよりなる測定
基準点計算用情報が入力され、近傍点９１を通り
計算軸と平行な直線９２とマスターデータ曲面と
の交点９３が計算され、この交点９３が測定基準
とされる。

それから、この測定基準点９３を通る接線ベク
トルＴの成分が計算され、次いでこの接線ベクト
ルＴに直交する面直ベクトルＮの成分が計算され
る。

このようにして、ワークの測定希望点９０に対
しその比較の基準となるマスターデータ曲面上の
測定基準点９３の座標及び面直ベクトルＮより成
る基準データが作成されこの後面直方向にワーク
の測定が行われる。即ち、面直ベクトルＮを含む
平面でのワーク曲面２００′とマスター形状曲面
２００との相対関係を図示した第６図において、
三次元測定機１０のセンサ２０は面直ベクトルＮ
に沿つて測定基準点９３に向かつて駆動され、接
触点９４の座標（x′，y′，z′）を知る。この点９
４の座標とマスター形状上の測定基準点９３との
座標とより偏差Δが計算される。例えば、点９
４，９３の座標が二乗平均され、夫々の点の原点
に対する距離としてスカラー化し、その差を偏差
とすることができる。即ち、偏差Δは Δ＝√²＋²＋²−√′²＋′²＋′² …(1) で表されることになる。このようにして計算され
た偏差Δは測定点に相当したカラーデイスプレイ
３６上の位置にワーク外形線と共に表示される
（第７図）。作業者はデイスプレイ化の色によつて
偏差を数値的に判断することによつて仕上げを行
うことにできる。尚、第８図は偏差の大きさと色
関係を説明する一例である。即ち、マスター形状
２００に対するワーク形状に対する偏差Δは所定
の設定幅ｄ毎に異なつた設定値に決められ、偏差
に応じたカラー表示がされる。尚、図中、９３は
前述のように計算された測定基準点、９４は三次
元測定点である。

以下、本発明のソフトウエア構成を第９−１７
図のフローチヤートによつて説明する。このフロ
ーチヤートを実現するプログラムは主コンピユー
タ２２のROM２６、三次元測定機制御用副コン
ピユータ４０のROM４１、及びデータベース管
理用コンピユータ５０のROM５２、更には駆動
回路４７の図示しないROMに夫々書き込まれて
いる。

第９図は主コンピユータ２２のメインルーチン
を示すものである。３００のステツプでこのルー
チンが実行に入り、３０２ではCPU２４の内部
レジスタ、RAM２８などの初期化が行われ、次
いでCPU２４はキーボード３４からのコマンド
チエツクを行い、サブルーチン化された第１０，
１１，１２図のような各処理をキーボード３４か
らのコマンドに応じて行うことになる。一方三次
元測定機１０の制御用の副コンピユータ４０の主
ルーチンは第１３図で示され６００でルーチンの
実行が開示されると、６０２でCPU４１のレジ
スタやRAM４３の初期化がされ、以下は主コン
ピユータ２２よりインタフエース３２書き込まれ
る指令によつて近傍点の座標データ及び計算軸情
報により成る基本情報の入力、及び三次元測定を
行うため、第１４，１５図のサブルーチンコール
が行われる。

キーボード３４より基準データ計算コマンドが
出ていると、第９図の３０４でYesと判定されプ
ログラムは350のステツプに入り、第１０図のサ
ブルーチンが呼び出される。次いで、３５２のス
テツプでCPU２４はインタフエース３２に基本
情報（第４図の近傍点９１の座標及び計算軸情報
（ｘ、又はｙ、又はｚ）より成る）の入力指令が
書き込まれる。副コンピユータ４０は第１３図の
６０４のステツプでこの基本情報入力指令の有無
を常に見ており、第１０図の３５２でこの指令が
出ると６０４の判定はYesとなり６５０へ分岐さ
れ第１４図のサブルーチンの実行に入る。次の６
５２のステツプでは三次元測定機１０のセンサ２
０の現在位置が第４図について説明した測定希望
点９０に極く近い近傍点９１か否かに判断され
る。即ち、これに先立つて三次元測定機１０の操
作者は操作盤４９を操作することによつて近傍点
９１までセンサ２０が持つて来られる。もし、セ
ンサ９０が近傍点９１に設定されていれば操作盤
４９上の所定スイツチが押されており、６５２の
判定はYesとなり６５４にプログラムは進む。６
５４のステツプでは第４図の近傍点の座標値が三
次元測定機１０のインタフエース４６より取込ま
れ、インタフエース３２に書き込まれる。次の６
５６のステツプでは第５図に関連して述べた計算
軸９２の情報が操作盤４９のスイツチからインタ
フエース４６を介して取り込まれ、インタフエー
ス３２に書き込まれる。次いで６５８では基本情
報の読取許可指令がインタフエース３２に書き込
まれる。

この基本情報読取許可指令の存否は第１０図の
３５４のステツプで常時見られており、Yesとな
ればループを抜け、３５６のステツプに移行す
る。３５６のステツプではCPU２４はインタフ
エース３２に書き込まれている基本情報、即ち第
４図の近傍点９１の座標データ及び計算軸がｘ，
ｙ，ｚのどれかを表わすデータが入力されRAM
２８に一旦格納される。

次に第１０図の３５８のステツプに進み、
MPU２４はインタフエース５４の所定ビツトに
測定基準データの計算のための割込開始指令を書
き込む。この割込み要求を受けてデータベース管
理用のコンピユータ５０は第１６図の割込ルーチ
ンの実行に入る。即ち、８００よりこのルーチン
が実行され、802では、インタフエース５４に書
き込まれている基本情報（即ち近傍点９１の座標
データと計算軸情報）が入力されRAM５３に一
旦格納される。次に８０４にプログラムは進み、
CPU５１は近傍点９１から計算軸と平行な方向
に延びる直線９２のマスターデータ曲面２００に
対する交点である測定基準点９３の座標が計算さ
れる。８０５のステツプではこの測定基準点９３
を通る接線が計算され、次いで８０６のステツプ
でこれに直交する単位法線ベクトルとしての面直
ベクトルＮの成分（ｉ，ｊ，ｋ）が計算される。
そして、８０８では測定基準データ（即ち、測定
基準点９３の座標と面直ベクトルの成分値）の計
算が完了したことを表示するフラグがインタフエ
ース５４に書き込まれる。

このフラグの書き込みがされるまで第１０図の
３６０で主コンピユータ２２はループを行つてお
り、測定基準データが計算完了するとYesに分岐
しループを抜け、３６２に進む。３６２でCPU
２４は第１６図のルーチンにより計算された測定
基準データをインタフエース５４より読取り外部
記憶装置３８の記憶領域３８ａに格納する。

このようにして測定希望点９０に対応したマス
ター形状曲面上の任意の点である測定基準点９３
の座標及び面直ベクトルＮの創成が完了する。

次に、第９図において、キーボード３４よりワ
ークの測定コマンドがあると３０６でYesに分岐
され、４００に進み第１１図に示すサブルーチン
に入る。４０２のステツプでは、前述のようにし
て外部記憶装置３８の記憶領域３８ａに格納され
た、測定基準データ、即ち測定基準点９３の座標
値と、その測定基準点９３の面直ベクトルＮの成
分値がRAM２８に入力される。４０４のステツ
プでは三次元測定指令がインタフエース３２に書
き込まれる。このフラグ変化を副コンピユータ４
０のCPU４１は第１３図の６０６のステツプで
常時みており、フラグが変化しないときはルーブ
が行われる。フラグが立つと、即ち、三次元測定
指令があると、７００のステツプへ分岐し、第１
５図のサブルーチンが呼び出される。７０２のス
テツプではCPU４１はインタフエース３２に書
き込まれている測定基準データ（測定基準点９３
の座標及び同点９３の面直ベクトルＮ）が読み込
まれる。次７０４には面直測定パラメータS₁，S₂
がROM４２より読み取られる。７０６のステツ
プでは測定動作点の計算が行われる。即ち、三次
元測定機の検知端２０は第６図の始点q₁よりマス
ター形状上の測定基準点９３における面直ベクト
ルＮ上の点q₂まで一旦下降され、それから面直ベ
クトルＮの方向にマスター形状２００より内側の
点q₃を目指して、プレス型２００′と接点（点９
４）するまで駆動することで被測定物であるプレ
ス型上の任意点測定を完了する。このような一連
の検知端２０の各動作点q₁−q₂−q₃の計算が７０
６のステツプで行われることになる。この計算の
際、７０４のステツプで入力されたパラメータ
S₁，S₂が使用される。次の７０７のステツプでは
三次元測定機１０が測定可能状態にあるか否か判
定し、可能であれば７０８に進み、インタフエー
ス４６に７０６で計算された動作点q₁，q₂及びq₃
のデータが書き込まれる。そして７１０では三次
元測定命令がインタフエース４６に書き込まれ
る。一方制御回路４７のプログラムを示す第１７
図において、制御回路４７はステツプ９０２でこ
の三次元測定命令を常に見ており、この命令が出
るまでループし、命令が出れば、９０４に進みイ
ンタフエース４６に書き込まれる動作点データが
読み込まれる。９０６では三次元測定機１０に駆
動命令が出される。そのため、動作点q₁−q₂−q₃
に従つて検知端の駆動が開始される。９０８で最
終点までセンサ２０が来たと判断されると、９１
０で三次元測定機１０に停止命令が出され、９１
２では三次元測定許可がインタフエース４６に書
き込まれ、次の任意点の三次元測定可能な状態に
なる。

コンピユータ４０はこのような三次元測定の最
中に、第１５図のステツプ７１２で、インタフエ
ース４６に入るセンサ２０からの信号を常に見て
おり、センサ２０がワークに接触したか否か判定
し未だ接触していなければループを行う。センサ
２０がワークに接触すると、即ち第６図の接触点
９４に来ると、７１２の反対がYesとなり、７１
４ではそのときの座標x′，y′，z′がインタフエー
ス４６に書き込まれる。次いで、７１６では三次
元測定完了を示すフラグが出される。

第１１図の４０６のステツプでは副コンピユー
タ４０の７１６で出される三次元測定完了のフラ
グの変化をみており、測定が完了するまでループ
しており、測定完了によつてYesと判定され４０
８のステツプに進み、接触点９４の座標データ
x′，y′，z′がインタフエース４６より読取られ
る。

以上のようにして、測定基準点９３に対応した
ワーク上の点９４の座標値の測定が完了する。

第９図のメインルーチンにおいて、偏差表示コ
マンドがキーボード３４から入力されると、３０
８の判定がYesとなり、５００に分岐され、第１
２図に示すサブルーチンの実行が開始され、
CPU２４は外部記憶装置３８の記憶領域３８ａ
に格納されているワーク基準データにおけるワー
クの外形線データがRAM２８に取り込まれる
（ステツプ５０１）。次の５０２のステツプでは、
この取込まれた外形線データがデイスプレイ３６
の画面上の表示座標に対応したビデオRAMアド
レスに転送され、その結果第７図に示すようにワ
ーク外形線７１が表示される。次の５０４のステ
ツプではCPU２４は、測定基準点９３の座標デ
ータ（ｘ，ｙ，ｚ）と、面上方向測定で得たワー
クの測定点９４の座標データ（x′，y′，z′）が取
り込まれる。次の７０６では９３と９４との座標
値の差分が二乗平均値の差Δとしてスカラー化さ
れる（(1)式）。次の５０８では、この差分の大小
に応じて偏差の大小を表わす色データに変換され
る。例えば偏差の大小に応じて赤−青−黄等の色
分けを行うのである。５１０のステツプではその
色データがRAM２８の色データ領域にセツトさ
る。RAM２８の当該領域は、デイスプレイ画面
の表示座標の色に対応し、RAM２８に所定値が
セツトされることで、その色が第７図のように表
示されることになる。ステツプ５０６で計算され
た偏差Δは外部記憶装置３８の記憶領域３８ｂに
格納される。

このようにして任意点の偏差が計算され、カラ
ー表示されたら、作業者は必要に応じて研削等の
仕上げをその任意点に対して行うことになる。

発明の効果 本発明によれば任意測定希望点に対しマスター
データ曲面上にある測定基準点の座標及び面直ベ
クトルを計算し、面直方向に測定することでセン
サの滑りが生ぜず、任意点の測定を精度高く行う
ことができる。またこの計算は相互に結合された
複数のコンピユータ間でオンライン処理されるの
で極めて迅速に結果を得ることができる。更に、
任意点の偏差をカラー表示することによりマスタ
ー形状との差違の評価を視覚によつて即座に行う
ことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の装置の構成を示す図、第２図
は実施例におけるシステム概略図、第３図はマス
ターデータがどのように構成されるかを説明する
図、第４図は近傍点から測定基準点を計算する方
法を説明する図、第５図は面直ベクトルを計算す
る方法を説明する図、第６図は面直測定方法を説
明する図、第７図はデイスプレイ上に偏差がどの
ようにカラー表示されるかを説明する図、第８図
は偏差の大きさと設定色との関係を説明する図、
第９図から第１７図は本発明のソフウエアを説明
するフローチヤート図。 １０…三次元測定機、１４…ワーク、２０…セ
ンサ、２２…主コンピユータ、３４…キーボー
ド、３６…カラーデイスプレイ、３８…外部記憶
装置、４０…副コンピユータ、４７…制御回路、
４９…操作盤、５０…マスターデータ管理用コン
ピユータ、５６…外部記憶装置。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ ワークのマスター形状データを格納しておく
   記憶手段、 三次元測定機のフレームに取付られる三次元方
   向に移動可能な移動手段、 該移動手段上に設けられ移動手段の座標値信号
   を生ずる座標検出手段、 前記移動手段上に設けられワークとの接触を検
   出する接触検出手段、 ワーク上の任意に選定される測定希望点を通過
   し、かつ座標軸のうち面直方向に最も近い座標軸
   に平行な第１の直線を決定する手段、 該第１の直線がマスター形状データが構成する
   曲面と交差する測定基準点を算出し、該測定基準
   点の座標データ及び面直ベクトルデータを演算す
   る手段、 演算された面直方向と方向が一致し、測定基準
   点を通過する第２の直線を決定する手段、 第２の直線と交差する位置まで接触検出手段を
   移動させ、その後、該第２の直線に沿つて接触検
   出手段をワークに接触するまで駆動する手段、 接触検出手段がワークに接触する測定点の座標
   データと測定基準点の座標データよりマスター形
   状に対するワークの偏差を演算する手段、 より成るワークの偏差測定装置。