JPH0357978B2 - - Google Patents

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JPH0357978B2
JPH0357978B2 JP26645985A JP26645985A JPH0357978B2 JP H0357978 B2 JPH0357978 B2 JP H0357978B2 JP 26645985 A JP26645985 A JP 26645985A JP 26645985 A JP26645985 A JP 26645985A JP H0357978 B2 JPH0357978 B2 JP H0357978B2
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Tsudakoma Corp
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Tsudakoma Industrial Co Ltd
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    • DTEXTILES; PAPER
    • D06TREATMENT OF TEXTILES OR THE LIKE; LAUNDERING; FLEXIBLE MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • D06BTREATING TEXTILE MATERIALS USING LIQUIDS, GASES OR VAPOURS
    • D06B23/00Component parts, details, or accessories of apparatus or machines, specially adapted for the treating of textile materials, not restricted to a particular kind of apparatus, provided for in groups D06B1/00 - D06B21/00
    • D06B23/24Means for regulating the amount of treating material picked up by the textile material during its treatment
    • D06B23/26Means for regulating the amount of treating material picked up by the textile material during its treatment in response to a test conducted on the textile material
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
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Description

【発明の詳細な説明】 ≪産業上の利用分野≫ この発明は糊付機の水分率検出装置に関するも
のであり、更に詳しくは整経糊付機における経糸
シートの水分率の連続検出技術の改良に関するも
のである。
≪従来技術とその問題点≫ 整経糊付機において経糸シートは糊付、乾燥さ
れるが、この際の乾燥が適度に行われたか否かを
確かめるために経糸シートの水分率を連続的に検
出することが一般に行われている。
かゝる水分率の連続検出システムとしては経糸
シートの電気抵抗値を測定する方式がある。即ち
1対の電導性のローラーで経糸シートをはさんで
その間に電流を流して経糸シートの抵抗を測定
し、あらかじめ求められている抵抗と水分率の関
係により、水分率を検出するものである。しかし
この方式にはいくつかの欠点がある。まず経糸シ
ートに静電気が発生すると検出誤差が生じ易く、
発生の程度が高いと検出不能に陥ることがある。
また接触導電に作用原理を置いているので、検出
端である1対のローラーは必ず導電性でなければ
ならない。ところが糊材などがローラに付着する
のを防止するには非導電性のコーテイングを施す
のが有効であるが、上記の方式ではこれを行い得
ない。
かゝる抵抗方式にとつて代るものとして、赤外
線を利用する方式が最近実用化されている。これ
は非接触式であつて、水に吸収されにくい波長の
赤外線と水に吸収され易い波長の赤外線とを交互
に経糸シートに向けて投射し、それぞれの反射光
の比により水分率を検出するものである。この赤
外線方式にもいくつかの欠点がある。まず経糸シ
ートの密度が小さいと(例えば1mm毎に75デニー
ルの糸が並んでいるような場合)、経糸シートか
らの反射光が少ないため誤差を生じたり、時には
検出不能となることがある。一方この赤外線水分
率計は光学的に製作されているため、その光学的
制約から、赤外線の投射器および受光器が納まつ
ている検出端と経糸シートとの間の距離を所定値
に保たなければならない。
経糸シートに代えて巻取ビームに赤外線を投射
することも考えられるが、巻取ビームの巻径は時
間とともに大きくなり、巻取ビームの軸と検出端
とがそれぞれ位置固定されている限りはそれだけ
巻取ビーム表面と検出との間の距離が漸減するか
ら、やはり上記した光学的制約が問題となる。
≪発明の目的≫ この発明の目的は、その軸位置が固定された巻
取ビームにおいて経糸シートの密度が小さい場合
であつても、赤外線の投射により誤差なく水分率
を検出することにある。
≪発明の基本的構成≫ この発明によれば、検出端を巻取ビームに対し
て可動上に設け、巻取ビームの巻径の変化に応じ
て検出端を駆動制御することにより、検出端と巻
取ビーム表面との間の距離を常に一定に保つて、
水分率の検出を行うものである。
≪実施態様≫ 第1図に示すのはこの発明の一実施態様であつ
て、巻取ビーム表面と検出端との間の距離を光学
的に測定することにより巻取ビームの巻径の変化
を知ろうとするものである。
糊付けされた経糸シート1は巻取ビーム2に巻
取られる。この巻取ビーム2の軸と直交する方向
に水平に延在する1対のベース11は互いに平行
に配設されており、それぞれのガイドローラー機
構13に導かれて巻取ビーム2に対して近接、離
間することが可能である。これらのベース11の
下面にはそれぞれラツク11aが形成されてお
り、これらに噛合うピニオン15はウオームギア
17を介して可逆転モーター19に作動連結され
ている。従つてモーター19が正、逆転すればベ
ース11は巻取ビーム2に対して離間、接近す
る。
両ベース11の巻取ビーム寄りの端部上に固定
された基台21上には赤外線を用いた水分率検出
器100と光学的な距離検出器200とが巻取ビ
ームに対面して配設されている。
距離検出器200はその検出方向を巻取ビーム
2の表面に向けており、その出力特性は第2図に
示すごときものである。即ち検出した距離が予め
設定した目標値Aに等しいときはゼロの、目標値
Aより大ならば負の、目標値Aよりも小ならば正
の、それぞれアナログ信号を出力するものであ
る。この距離検出器200は第3図に示すように
モーター19の動作を制御する制御装置22に接
続されている。
即ち、水分率検出器100の検出端が巻取ビー
ム2の表面に対して適正な位置にあるときには、
距離検出器200の検出端と巻取ビーム2の表面
との間の距離が目標値Aに等しいから距離検出器
200からの出力アナログ信号はゼロとなり、モ
ーター19は回転しないから水分率検出器100
はその位置に保たれる。水分率検出器100の検
出端が巻取ビーム2の表面に対して近すぎるとき
は距離検出器200の検出端と巻取ビーム2の表
面との間の距離が目標値Aより小さいから、距離
検出器200からの出力信号は正となり、モータ
ー19は正転し、ベース11は水分率検出器10
0と共に巻取ビーム2から離間する。この間も距
離検出器200によつて距離の検出が続けられて
いるから、水分率検出器100が適正な位置に来
たら距離検出器200の検出端と巻取ビーム2の
表面との間の距離が目標値Aに等しくなり、距離
検出器200の出力アナログ信号がゼロとなり、
モーター19は回転を停止するから水分率検出器
100はその位置(即ち適正位置)に保たれる。
同様に水分率検出器100の検出端が巻取ビーム
2の表面に対して遠すぎるときは距離検出器20
0の検出端と巻取ビーム2の表面との間の距離が
目標値Aより大きいから、距離検出器200から
の出力アナログ信号は負となり、モーター19は
逆転するからベース11は水分率検出器100と
共に巻取ビーム2に接近し、水分率検出器100
が適正位置に持つてこられる。
通常巻取作業中巻取ビーム2の巻径は漸増する
から距離検出器200の検出する距離は常に目標
値Aより小さくなろうとし、距離検出器200か
ら正のアナログ信号が出力されてモータ19は正
転し、ベース11は巻取ビーム2から後退して水
分率検出器100の適正位置に後退させるのであ
る。
以上の例においては基台21を移動させる手段
としてラツク付ベース11、ピニオン15などを
利用したが、流体シリンダーのピストン動作、モ
ータとスクリユーとの組合せなど適宜公知の機構
を用いてもよい。
また距離検出器200の特性としては第2図の
ものを例示したが、要するにある特定の距離値を
境に信号が変化するものであればよい。
ところで水分率検出器100の検出端から投射
される赤外線の投影面は図中鎖線で示すように一
般に円形である。この円は小さいほど巻取ビーム
2表面の曲率の影響が小さくてすむ。しかしあま
り小さくすると検出部分が微小となりすぎ、反射
光が減るとともに、限られた微小部分だけの水分
率を検出することになり、巻取ビーム2全体とし
ての平均的な水分率を正確に検出できない難点が
ある。実用上はこの円面積は巻取ビーム2表面の
曲率の影響を受けない範囲でできるだけ大きい方
が望ましく、巻取ビーム2の最小巻径、即ちバレ
ル径との関連で定められる。実験によるとバレル
径150mmの場合、投射面の実用的直径は30mm程度
である。もし投射面として巻取ビーム2の軸方向
に長軸を有する楕円形のものを用いた場合には更
に広い投影面が得られ、巻取ビーム2表面のより
広い範囲を平均化して検出することが可能とな
り、円形の投影面より検出がより正確となる。
第4図に示すのはこの発明の他の実施態様であ
つて、信号の演算処理により巻取ビーム2の巻径
の変化を知ろうとするものである。なお機械的な
構成部分に第1図に示すもと同一でよい。
巻取ビーム2の巻径をDとし、その表面と水分
率検出器100の検出端との間の距離をLとする
と、巻取ビーム2の中心軸から検出端までの距離
は (L+D/2) で表わされ、上記の距離Lを常に一定に保つため
には、巻取ビーム2の巻径の増大に伴つて巻径の
増分の1/2に相当する距離だけ水分率検出器10
0の検出端を巻取ビーム2より漸次離してやれば
よいことになる。
ところで巻取ビーム2の巻径は、巻取ビーム2
の回転軸および経糸シート1の走行速度に比例し
て回転するガイドローラー3に、それぞれ回転発
電機23,25を連結し、これらの出力信号を割
算処理することにより得られることが知られてい
る。回転発電機の代りにパルス発生機を使用でき
ることも知られている。
この実施態様にあつてはかゝる回転発電機2
3,25を巻径算出部27に接続して巻取ビーム
2の刻々巻径Dを算出し、その1/2の値即ち半径
信号Xを出力するように構成する。
一方基台21のある位置からの距離に関する情
報を得るために、ピニオン15の支軸15aに多
回転型のポテンシオメーター29を連結してや
り、基台21が巻取ビーム2から遠ざかるにつれ
て絶対値が大となるような負の距離信号Yを出力
するように構成する。
更に調整可能なポテンシオメーター31を設け
て、正負任意の距離補正信号Zを出力するように
構成する。
これらの信号X、Y、Zは加算点32で加算さ
れてその結果(和)が第3図に示すと同様な制御
装置22に入力される。すると制御装置22はそ
の入力信号の正負によつてモーター19を回転制
御して基台21ひいては水分率検出器100の検
出端を移動させる。この結果距離信号Yの値が変
り、最終的に信号X、Y、Zの和がゼロとなると
制御装置の出力もゼロとなり、モーター19が回
転を停止し、基台21ひいては水分率検出器10
0もその位置で停止する。
即ち上記の演算処理により常に X+Y+Z=0 (X>0、Y<0) の状態が保たれるのである。
ところで実施に当つては補正信号Zを調整する
必要がある。まず距離補正信号Zをゼロにしてお
くと、半径信号Xの値が距離信号Yの絶対値と等
しくなつた時点で基台21が停止する。ポテンシ
ヨメーター31の調整により距離補正信号Zを適
当な値にすると、その値に相当する分だけ距離信
号Yを変えるべく基台21が移動する。そこで半
径信号Xがある値のときにポテンシオメータ31
を介して距離補正信号Zを調整し、基台21上の
水分率検出器100の検出端と巻取ビーム2の表
面との間を目標値Aに設定する。
一旦このように調整したら距離補正信号Zを固
定する。その後は半径信号Xの変化(即ち巻取ビ
ーム巻径の増加)に対応して距離信号Yを変化さ
せるようにシステムが働いて基台21を移動させ
る。更に詳しくは、半径信号Xが増大すれば、距
離信号Yの絶対値が同量だけ増大する方向即ち巻
取ビーム2から離間する方向に、増大した半径分
だけ基台21が移動され、水分率検出器100の
検出端と巻取ビーム2の表面との間の距離が目標
値Aに保たれるのである。
なおこの例では調整可能な距離補正信号Zを用
いたが、Z=0のときに水分率検出器100の検
出端と巻取ビーム2の表面との間の距離がある定
められた値であれば、必ずしもかゝる補正信号を
用いる必要がない。
またこの例では基台21の位置検出にポテンシ
オメーター29を用いたが、モーター19をパル
スモーターに置換えたならば、モーターに供給さ
れるパルス数とその正負回転信号から基台21の
位置が判別される。この場合は前記の距離信号Y
はパルス数の累積を示す信号に置換えられる。
≪発明の効果≫ この発明によれば、経糸シートの糸密度の影響
を受けることなくしかも無接触で水分率を検出で
きるので、従来は検出困難であつた糸密度が粗な
経糸シートの糊付、乾燥後水分率管理が容易とな
り、理想的な乾燥を実施できる。
またこのため経糸シートではなく巻取ビームを
距離対象とするが、その巻径の漸増にも拘らず、
常に検出端と巻取ビーム表面との間の距離を自動
的に一定に保てるから、水分率の検出が正確とな
る。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施態様を示す斜視図、
第2図はそこに用いる距離検出器の出力特性を示
すグラフ、第3図はそこに用いる制御システムの
ブロツク線図、第4図はこの発明の他の実施態様
に用いる制御システムのブロツク線図である。 1……経糸シート、2……巻取ビーム、100
……水分率検出器、200……距離検出器、22
……制御装置。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 巻取ビームの表面に対して接近離間可能に設
    けられて、かつ巻取ビームの表面を指向する検出
    端を有した光学式水分率検出器100と、 巻取ビームの巻径の変化に応じて上記の検出端
    と巻取ビーム表面との間の距離を常に一定に自動
    的に保つ制御機構とを 有してなる糊付機の水分率検出装置。 2 前記の水分率検出器100が巻取ビームの表
    面に対して接近離間可能な基台21上に架設され
    ており、 前記の制御機構がこの基台上に架設されてかつ
    巻取ビームの表面を指向する 検出端を有した光学式距離検出器200を有し
    ており、かつ、 この距離検出器の出力に応じて基台が移動され
    る ごとき特許請求の範囲第1項に記載の装置。 3 前記の水分率検出器100が巻取ビームの表
    面に対して接近離間可能な基台21上に架設され
    ており、 前記の制御機構が巻取ビームの巻径に関する信
    号(X)と基台の移動量に関する信号(Y)との
    和を算出する演算部30を有しており、かつ、 この演算部の出力に応じて基台が移動される ごとき特許請求の範囲第1項に記載の装置。 4 水分率検出器100からの赤外線の巻取ビー
    ム表面上での投影面が巻取ビームの軸方向に長軸
    を有する楕円形である ごとき特許請求の範囲第1〜3項のいずれかに記
    載の装置。
JP60266459A 1985-11-26 1985-11-26 糊付機の水分率検出装置 Granted JPS62125034A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60266459A JPS62125034A (ja) 1985-11-26 1985-11-26 糊付機の水分率検出装置
EP19860850408 EP0227618B1 (en) 1985-11-26 1986-11-26 A moisture contents detector for a sizing machine
DE86850408T DE3688785T2 (de) 1985-11-26 1986-11-26 Feuchtegradmesser für eine Schlichtmaschine.

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60266459A JPS62125034A (ja) 1985-11-26 1985-11-26 糊付機の水分率検出装置

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Publication Number Publication Date
JPS62125034A JPS62125034A (ja) 1987-06-06
JPH0357978B2 true JPH0357978B2 (ja) 1991-09-04

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JP (1) JPS62125034A (ja)
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Family Cites Families (4)

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Also Published As

Publication number Publication date
DE3688785T2 (de) 1993-11-11
EP0227618B1 (en) 1993-07-28
EP0227618A3 (en) 1990-02-07
EP0227618A2 (en) 1987-07-01
JPS62125034A (ja) 1987-06-06
DE3688785D1 (de) 1993-09-02

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