JPH0357943A - 疵検出装置 - Google Patents

疵検出装置

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Publication number
JPH0357943A
JPH0357943A JP1194593A JP19459389A JPH0357943A JP H0357943 A JPH0357943 A JP H0357943A JP 1194593 A JP1194593 A JP 1194593A JP 19459389 A JP19459389 A JP 19459389A JP H0357943 A JPH0357943 A JP H0357943A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
density
image
camera
flaw
integration
Prior art date
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Pending
Application number
JP1194593A
Other languages
English (en)
Inventor
Mamoru Yoshida
守 吉田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP1194593A priority Critical patent/JPH0357943A/ja
Publication of JPH0357943A publication Critical patent/JPH0357943A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Image Processing (AREA)
  • Closed-Circuit Television Systems (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は.画像による疵検出装置等にかいて.画像の
濃度情報に基づいて画像中の疵の寸法や位置を検出する
装置に関するものである。
〔従来の技術〕
従来の疵検出装置の構成の一例を第3図に示す。
第3図において(1)は被検材を撮像するカメラ.(2
)はカメラ(1)から出力されたアナログ画像信号をデ
ィジタル変換し1画素あたり多段階の濃度レベルを持つ
いわゆる多値画像データとして出力するカメラインター
フェース.(3)はカメラインターフェース(2)から
の出力を記憶する画像メモ!J,(It)は画像メモリ
a3に配憶された多値の画像データを予め設定されたレ
ベルで2値化し2値の画像データを記憶する2値化回路
である。更に(6)は2値化回路卸で生成された2値画
像データから疵の検出を行う画像処理部であり.(7)
は画像処理部(6)で検出された疵情報を出力する表示
部である。この様に従来の疵検出装置は.多値画像を一
旦2値画像に変換した後で様々な方法で疵の検出や寸法
測定等を行っていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来の装置による疵検出の方法は固定の2値化レベルを
用いているため.例えば第4図に示す様に濃度の異なる
幾つかの疵がある場合や.背景部そのものに濃度むらが
ある場合は本来疵として検出されるべき場所が2値化の
際消えてしまったり.あるいは疵ではない背景部が疵と
して検出されるという問題があった。第4図にこれらの
一例を示す。第4図(a)は元の多値画像であるが(9
)と(Ioの2つの濃度の異なる疵が存在する。第4図
(b)は第4図(1)の画像を一定の濃度レベルで2値
化処理を施したものである。第4図の濃度の高い(濃い
)疵は一として現われるが.*い方の疵(9)は現われ
ない。これは2値化を行う際の濃度レベルが不適当であ
った為であると考えられるが.背景部そのものに濃度傾
斜があったり.適当な2#L化レベルが疵によって異な
ったりして,最適な2値化のレベルを一律に設定するの
は非常゜に困難である場合が多い。この様に2値化によ
り疵検出を行うためには画面毎に2値化レベルを変えた
り.iたは同一画面内で場PfrKよって2値化レベル
を変えなげればならないという問題点があった。
この発明は.この様な課題を解決するためになされたも
のであう.2値化を用いないで.多壇の画像データにか
いてその濃度の極値の連続性を調この発明に係る疵検出
装置は.予め設定してかいたセクタ毎に濃度の積算を行
う第1の濃度積算回路と.この第1の濃度積算回路から
の結果を基に領域を限定し第1の濃度積算とは異なった
方向または範囲の濃度積算を行5第2の濃度積算回路を
備えたものである。
〔作用〕
この発明に係る疵検出装置は.上述の,機に多籠の濃度
の積算データから疵の検出を行うので.コントラストが
悪い等の低品質の画像に対しても,2値化による悪影響
を防ぎ.良好な疵検出を行うことができる。
〔実施例〕
以下,この発明の一実麹例について説明する。
第t図はこの発明による実施例の構成図である。
第1図にかいて.(l)は被検査物を撮像するカメラ.
(2)はカメラ(1)から出力されたアナログ画像信号
を1画素あたシ多階調の濃度を持つディジタルデータに
変換し出力するカメラインターフェース.(3)はカメ
ラインターフェース(2)から出力されたディジタル画
像データを記憶する画像メモリ.(4》は画像メモリ(
3}への画像データ転送と同時にあらかじめ設定してお
いたセクタ毎に濃度の積算を行う第1の濃度積算回路で
あり.セクタの数だけ存在する。(5)は外部から処理
エリアの指定を受けて画像中の一部のエリアについて縦
または横方向の濃度積算を行う第2の濃度積算回路であ
る。さらに(6)は第1の濃度積算結果から疵候補の概
略位置を見付け.第2の濃度積X回路《5》に対してエ
リア指定を行い.第1.第2の濃度積算結果から疵の位
置や寸法を判定する画像処理部である。また.(7)は
画像処理部で検出された疵情報を表示する表示部である
次に疵検出装置の動作について説明する。
第2図(a)はカメラ(1)で撮像され.カメラインタ
ーフェース(2)を経由して画像メモリ(3)に記憶さ
れた画像データである。1た第2図(b)はこれと並行
して第1の濃度積算回路(4)で積算された濃度積算パ
ターンを図に表わしたものである。この積算処理は同図
(a)に示した横長の各セクタと呼ばれる小領域に対し
て縦方向に各画素濃度を積算したものである。画像処理
部(6)では各セクタ毎に出力された濃度積算値に対し
て平滑化等の処理を施すことにより各セクタ内での疵位
置の見当をつける。そしてセクタ内の位置とそのセクタ
番号から疵周辺部のエリアを設定し.第2の濃度積算回
路(6)により濃度を横方向に積算して縦方向の濃度積
算パターンを得る。第2図(c)はこの様にして得られ
た濃度パターンを図に示したものである。そして再び(
6)の画像処理部で縦横の濃度パターンから疵の個数や
寸法等を求める。
なお.第2図(a)にかいて破線Vi第1の濃度積算用
セクタ境界線,一点鎖線は第2の濃度積算用領域を示す
本実施例では横長のセクタに分割し第1の濃度積算では
縦方向に積算し次に第2の濃度積算回路で横方向の積算
を行ったが.セクタの形状や分割数.さらには積算の方
向は疵の形状やその他諸条件により任意に設定しても構
わない。
〔発明の効果〕
以上のように.この発明によれば.コントラストが悪い
.濃度むらがある等の低品質の画像に対して.その濃度
の変動に着目して有効に疵を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明による疵検出装置の構或図.第2図は
疵検出装置の脱BA図,@3図は従来の疵検出装置の実
施例の構成図.第4図は従来の疵検出装置の実施例の説
明図である。 図において.(1)はカメラ.《2》はカメラコントロ
ーラ.(3)は画像メモリ.(4)は第1濃度積算回路
.(5)は第2濃度積算回路,(6)ti画像処理部.
(7)は表示部.(8)は被検材.(9).α●は被検
材中の疵.afiは2値化回路, a’aは2値化され
た疵である。 なお. 各図中同一符号は同一または相当部分を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 被検材を撮像するカメラと、このカメラからのアナログ
    画像信号をディジタル化して各画素について多値のデー
    タとして出力するカメラインターフェース部と、このイ
    ンターフェース部から出力された多値画像を取り込み記
    憶する画像メモリと、この画像メモリへのデータの入力
    と同時に各セクタ毎の濃度を積算する第1の濃度積算回
    路と、外部からの指定により任意のエリアの濃度を積算
    する第2の濃度積算回路と上記第1および第2の濃度積
    算回路の積算情報を基に疵位置、寸法等を検出する画像
    処理部と、この画像処理部で得られた疵検出結果を表示
    する表示部を備えたことを特徴とする疵検出装置。
JP1194593A 1989-07-27 1989-07-27 疵検出装置 Pending JPH0357943A (ja)

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JP1194593A JPH0357943A (ja) 1989-07-27 1989-07-27 疵検出装置

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JP1194593A JPH0357943A (ja) 1989-07-27 1989-07-27 疵検出装置

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JPH0357943A true JPH0357943A (ja) 1991-03-13

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ID=16327124

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JP1194593A Pending JPH0357943A (ja) 1989-07-27 1989-07-27 疵検出装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008151814A (ja) * 2000-03-08 2008-07-03 Fujifilm Corp フィルムの欠陥検査装置およびフィルムの欠陥検査方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008151814A (ja) * 2000-03-08 2008-07-03 Fujifilm Corp フィルムの欠陥検査装置およびフィルムの欠陥検査方法
JP2012137502A (ja) * 2000-03-08 2012-07-19 Fujifilm Corp 複屈折特性を有する部材の検査方法および複屈折特性を有する部材の製造方法

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