JPH0356875A - 現物比較器つき論理状態解析器 - Google Patents

現物比較器つき論理状態解析器

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JPH0356875A
JPH0356875A JP1192367A JP19236789A JPH0356875A JP H0356875 A JPH0356875 A JP H0356875A JP 1192367 A JP1192367 A JP 1192367A JP 19236789 A JP19236789 A JP 19236789A JP H0356875 A JPH0356875 A JP H0356875A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
master
integrated circuit
logic
logical
under test
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1192367A
Other languages
English (en)
Inventor
Nobuyoshi Hirasawa
信良 平沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP1192367A priority Critical patent/JPH0356875A/ja
Publication of JPH0356875A publication Critical patent/JPH0356875A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は論理集積回路の動作状態を解析する論理状態解
析器に関し、特に、全く同一動作をするマスタ集積回路
と比較して論理状態の解析を行う現物比較器つき論理状
態解析器に関する。
(従来の技術) 従来、この種の論理状態解析器(以下ロジックステート
アナライザという)は、試験される論理集積回路(以下
被テス}ICという)が実装される装置の論理条件に従
って、アナライザの操作者が目的とする設定条件を考慮
して条件設定を行い、ロジック状態の調査、分析を行っ
ていた。
(発明が解決しようとする課題) 上述した従来のロジックステートアナライザは、被テス
トボードの論理順序に従って、試験器の操作ボード上で
障害ICの内容調査と分析を行うので、設定条件の考察
に多大の時間を要し、しかも高度な製品技術知識釦よび
ICロジック技術知識が必要であるなどの欠点がある。
本発明の目的は、このような欠点を解消し、誰でも容易
に障害ICの内容について調査分析ができるよウナロジ
ックステートアナライザを提供することにある。
(課題を解決するための手段) 前記の目的を達成するため本発明の現物比較器つき論理
状態解析器は、動作中の被テストIc11の入力情報お
よび出力情報を監祝する手段1.  7と、被テス}I
C11と比較されるべき同一品名のマスタ集積回路(以
下マスタICという)3と、被テス}IC11に入力す
る前記入力情報と同一の情報をマスタIC3に入力し、
同じ周期で前記被テス}ICIIに並列にマスタICを
動作させる手段2,6と、被テストIC11とマスタI
C3が並列に同じ周期で動作しているとき、それぞれの
出力情報を連続的に比較する手段5を有する構成とする
(実施例) 次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
第1図に示すように、本実施例に接続して試験される被
テストボードに実装された被テス}IC11に接続され
る、被テストIC入出力情報検出用のセンス部1と、セ
ンス部1の出力により、コ冫トロール部6の制御を受け
てマスタIC3を駆動するマスタIC駆動部2と、被テ
ス}ICと物理的に並列に動作させられるマスタIC3
と、マスタIC3の出力情報を検出するセンス部4と、
センス部1釦よび4で検知した信号をサンプリングする
ためのサンプリングゼネレータ5と、コントロール部6
の制御を受けてセンヌ部1とセンス部4の出力を連続し
て比較するコ/パレーメ7と、センス部1,4、マスタ
エC駆動部2、コンパレータTの動作を制御するコント
ロール部6によって構成され、さらに従来技術によるロ
ジックステートアナライザ20を内蔵し、これにインタ
フェースコントロール部2 1 t設1ル。
インタフェースコントロール部21h、コントロール部
6に接続し、被テストボード10の被テス}IC11の
入出力情報をこのロジックステートアナライザ20に与
えて使用する。
第1図にかいて、被テストボード10の被テス}IC1
1を本実施例のセンス部1に接続すると、センス部1は
、サンプリングセネレータ部5訟よびコントロール部よ
9コントロールIn受け、被テストICの入出力論理情
報のレベル判断訟!び一時S積を行う。この蓄積された
データは、マスタIC駆動部2とコントロール部6に送
られる。
マスタエC駆動部2は、コントロール部6ようコントロ
ール信号を受け、同期合わせを行った後、マスタIC3
にセンス部1でサノブリングされた論理信号を加える。
マスタIC3においては加えられ−fc論理信号に従っ
て動作し、その論理出力をセンス部4に送る。
センス部4 ta、コントロール部6かよヒサンプリン
グゼネレータ5よりコントロール信号を受信し、マスタ
IC3の出力論理情報のレベル判断釦よび一時蓄積を行
う。そしてこの蓄積されたデータはコンバレータ7へ送
られる。
コンバレータIは、コントロール部6tJ’l”Lテセ
ンス部1からの比較データ釦よびコントロール部6から
のコントロール信号を受信し、マスタIC3の出力と前
記比較データを論理的な比較を行い、コントロール部6
へ、その比11i果とセンス部4から受けた論理情報を
送る。
コントロール部6は、サ/ブリングゼネレータ5、セン
ス部1、マスタ[動部2 、センス部4、コンパレータ
7を同期させるよう制御するとともに、従来技術による
ロジックステートアナライザ20に対し、インタフェー
スコントロールi21を介して論理データかよびコント
ロールデータの送受を行う。
ロジックステートアナライザ20の動作は、従来の同種
のものと同じであるのでその説明は省略する。
以上のような動作を連続して行い、マスタIC3と被テ
ス}ICの出力情報を比較して差異が生じた場合、その
時点をチェックのきっかけとしてロジックステートアナ
ライザ20による調査、分析を行えば被テストボード1
0に実装されている被テス}IC1 1の良、不良の判
定や、障害ICの障害状況を容易に知ることができる。
(発明の効果) 以上説明したように本発明は、被テストICと同一品名
のマスタICを並列に動作させて比較することにより、
両者の動作に差異があれば、その差異の発生時点をトリ
ガ条件として利用するので、被テストボードや被テスト
ICについての製品知識、釦よびICロジック技術につ
いての知識がなくても、誰でも被テストボードを接続し
、マスタICをセットするだけで、ボード内の被テスト
ICの良、不良の判定および障害ICの不具合の状況を
モニタすることができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例を示すブロック図である。 1.4−●●七ンス部 2・・・マスタ駆動部 3●●●マスタIC 5●●●サンプリングゼネレータ 6會●●コントロール部 7−●●コンバレータ 10@◆◆被テストボード 11●●●被テストIC 2 0 ●従来技術によるロジックステートア ナライザ 2 1 ●インタフェースコントロール部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 動作中の被試験論理集積回路の入力情報および出力情報
    を監視する手段と、前記被試験論理集積回路と比較され
    るべき同一品名のマスタ集積回路と、被試験論理集積回
    路に入力する前記入力情報と同一の情報を前記マスタ集
    積回路に入力し、同じ周期で前記被試験論理集積回路に
    並列に前記マスタ集積回路を動作させる手段と、前記被
    試験論理集積回路と前記マスタ集積回路が並列に同じ周
    期で動作しているとき、それぞれの出力情報を連続的に
    比較する手段を有することを特徴とする現物比較器つき
    論理状態解析器。
JP1192367A 1989-07-25 1989-07-25 現物比較器つき論理状態解析器 Pending JPH0356875A (ja)

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JPH0356875A true JPH0356875A (ja) 1991-03-12

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JP1192367A Pending JPH0356875A (ja) 1989-07-25 1989-07-25 現物比較器つき論理状態解析器

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001081935A1 (en) * 1996-01-18 2001-11-01 Fong Luk System configuration and methods for on-the-fly testing of integrated circuits

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WO2001081935A1 (en) * 1996-01-18 2001-11-01 Fong Luk System configuration and methods for on-the-fly testing of integrated circuits

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