JPH0356875A - 現物比較器つき論理状態解析器 - Google Patents
現物比較器つき論理状態解析器Info
- Publication number
- JPH0356875A JPH0356875A JP1192367A JP19236789A JPH0356875A JP H0356875 A JPH0356875 A JP H0356875A JP 1192367 A JP1192367 A JP 1192367A JP 19236789 A JP19236789 A JP 19236789A JP H0356875 A JPH0356875 A JP H0356875A
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- JP
- Japan
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- master
- integrated circuit
- logic
- logical
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- Pending
Links
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は論理集積回路の動作状態を解析する論理状態解
析器に関し、特に、全く同一動作をするマスタ集積回路
と比較して論理状態の解析を行う現物比較器つき論理状
態解析器に関する。
析器に関し、特に、全く同一動作をするマスタ集積回路
と比較して論理状態の解析を行う現物比較器つき論理状
態解析器に関する。
(従来の技術)
従来、この種の論理状態解析器(以下ロジックステート
アナライザという)は、試験される論理集積回路(以下
被テス}ICという)が実装される装置の論理条件に従
って、アナライザの操作者が目的とする設定条件を考慮
して条件設定を行い、ロジック状態の調査、分析を行っ
ていた。
アナライザという)は、試験される論理集積回路(以下
被テス}ICという)が実装される装置の論理条件に従
って、アナライザの操作者が目的とする設定条件を考慮
して条件設定を行い、ロジック状態の調査、分析を行っ
ていた。
(発明が解決しようとする課題)
上述した従来のロジックステートアナライザは、被テス
トボードの論理順序に従って、試験器の操作ボード上で
障害ICの内容調査と分析を行うので、設定条件の考察
に多大の時間を要し、しかも高度な製品技術知識釦よび
ICロジック技術知識が必要であるなどの欠点がある。
トボードの論理順序に従って、試験器の操作ボード上で
障害ICの内容調査と分析を行うので、設定条件の考察
に多大の時間を要し、しかも高度な製品技術知識釦よび
ICロジック技術知識が必要であるなどの欠点がある。
本発明の目的は、このような欠点を解消し、誰でも容易
に障害ICの内容について調査分析ができるよウナロジ
ックステートアナライザを提供することにある。
に障害ICの内容について調査分析ができるよウナロジ
ックステートアナライザを提供することにある。
(課題を解決するための手段)
前記の目的を達成するため本発明の現物比較器つき論理
状態解析器は、動作中の被テストIc11の入力情報お
よび出力情報を監祝する手段1. 7と、被テス}I
C11と比較されるべき同一品名のマスタ集積回路(以
下マスタICという)3と、被テス}IC11に入力す
る前記入力情報と同一の情報をマスタIC3に入力し、
同じ周期で前記被テス}ICIIに並列にマスタICを
動作させる手段2,6と、被テストIC11とマスタI
C3が並列に同じ周期で動作しているとき、それぞれの
出力情報を連続的に比較する手段5を有する構成とする
。
状態解析器は、動作中の被テストIc11の入力情報お
よび出力情報を監祝する手段1. 7と、被テス}I
C11と比較されるべき同一品名のマスタ集積回路(以
下マスタICという)3と、被テス}IC11に入力す
る前記入力情報と同一の情報をマスタIC3に入力し、
同じ周期で前記被テス}ICIIに並列にマスタICを
動作させる手段2,6と、被テストIC11とマスタI
C3が並列に同じ周期で動作しているとき、それぞれの
出力情報を連続的に比較する手段5を有する構成とする
。
(実施例)
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
第1図に示すように、本実施例に接続して試験される被
テストボードに実装された被テス}IC11に接続され
る、被テストIC入出力情報検出用のセンス部1と、セ
ンス部1の出力により、コ冫トロール部6の制御を受け
てマスタIC3を駆動するマスタIC駆動部2と、被テ
ス}ICと物理的に並列に動作させられるマスタIC3
と、マスタIC3の出力情報を検出するセンス部4と、
センス部1釦よび4で検知した信号をサンプリングする
ためのサンプリングゼネレータ5と、コントロール部6
の制御を受けてセンヌ部1とセンス部4の出力を連続し
て比較するコ/パレーメ7と、センス部1,4、マスタ
エC駆動部2、コンパレータTの動作を制御するコント
ロール部6によって構成され、さらに従来技術によるロ
ジックステートアナライザ20を内蔵し、これにインタ
フェースコントロール部2 1 t設1ル。
テストボードに実装された被テス}IC11に接続され
る、被テストIC入出力情報検出用のセンス部1と、セ
ンス部1の出力により、コ冫トロール部6の制御を受け
てマスタIC3を駆動するマスタIC駆動部2と、被テ
ス}ICと物理的に並列に動作させられるマスタIC3
と、マスタIC3の出力情報を検出するセンス部4と、
センス部1釦よび4で検知した信号をサンプリングする
ためのサンプリングゼネレータ5と、コントロール部6
の制御を受けてセンヌ部1とセンス部4の出力を連続し
て比較するコ/パレーメ7と、センス部1,4、マスタ
エC駆動部2、コンパレータTの動作を制御するコント
ロール部6によって構成され、さらに従来技術によるロ
ジックステートアナライザ20を内蔵し、これにインタ
フェースコントロール部2 1 t設1ル。
インタフェースコントロール部21h、コントロール部
6に接続し、被テストボード10の被テス}IC11の
入出力情報をこのロジックステートアナライザ20に与
えて使用する。
6に接続し、被テストボード10の被テス}IC11の
入出力情報をこのロジックステートアナライザ20に与
えて使用する。
第1図にかいて、被テストボード10の被テス}IC1
1を本実施例のセンス部1に接続すると、センス部1は
、サンプリングセネレータ部5訟よびコントロール部よ
9コントロールIn受け、被テストICの入出力論理情
報のレベル判断訟!び一時S積を行う。この蓄積された
データは、マスタIC駆動部2とコントロール部6に送
られる。
1を本実施例のセンス部1に接続すると、センス部1は
、サンプリングセネレータ部5訟よびコントロール部よ
9コントロールIn受け、被テストICの入出力論理情
報のレベル判断訟!び一時S積を行う。この蓄積された
データは、マスタIC駆動部2とコントロール部6に送
られる。
マスタエC駆動部2は、コントロール部6ようコントロ
ール信号を受け、同期合わせを行った後、マスタIC3
にセンス部1でサノブリングされた論理信号を加える。
ール信号を受け、同期合わせを行った後、マスタIC3
にセンス部1でサノブリングされた論理信号を加える。
マスタIC3においては加えられ−fc論理信号に従っ
て動作し、その論理出力をセンス部4に送る。
て動作し、その論理出力をセンス部4に送る。
センス部4 ta、コントロール部6かよヒサンプリン
グゼネレータ5よりコントロール信号を受信し、マスタ
IC3の出力論理情報のレベル判断釦よび一時蓄積を行
う。そしてこの蓄積されたデータはコンバレータ7へ送
られる。
グゼネレータ5よりコントロール信号を受信し、マスタ
IC3の出力論理情報のレベル判断釦よび一時蓄積を行
う。そしてこの蓄積されたデータはコンバレータ7へ送
られる。
コンバレータIは、コントロール部6tJ’l”Lテセ
ンス部1からの比較データ釦よびコントロール部6から
のコントロール信号を受信し、マスタIC3の出力と前
記比較データを論理的な比較を行い、コントロール部6
へ、その比11i果とセンス部4から受けた論理情報を
送る。
ンス部1からの比較データ釦よびコントロール部6から
のコントロール信号を受信し、マスタIC3の出力と前
記比較データを論理的な比較を行い、コントロール部6
へ、その比11i果とセンス部4から受けた論理情報を
送る。
コントロール部6は、サ/ブリングゼネレータ5、セン
ス部1、マスタ[動部2 、センス部4、コンパレータ
7を同期させるよう制御するとともに、従来技術による
ロジックステートアナライザ20に対し、インタフェー
スコントロールi21を介して論理データかよびコント
ロールデータの送受を行う。
ス部1、マスタ[動部2 、センス部4、コンパレータ
7を同期させるよう制御するとともに、従来技術による
ロジックステートアナライザ20に対し、インタフェー
スコントロールi21を介して論理データかよびコント
ロールデータの送受を行う。
ロジックステートアナライザ20の動作は、従来の同種
のものと同じであるのでその説明は省略する。
のものと同じであるのでその説明は省略する。
以上のような動作を連続して行い、マスタIC3と被テ
ス}ICの出力情報を比較して差異が生じた場合、その
時点をチェックのきっかけとしてロジックステートアナ
ライザ20による調査、分析を行えば被テストボード1
0に実装されている被テス}IC1 1の良、不良の判
定や、障害ICの障害状況を容易に知ることができる。
ス}ICの出力情報を比較して差異が生じた場合、その
時点をチェックのきっかけとしてロジックステートアナ
ライザ20による調査、分析を行えば被テストボード1
0に実装されている被テス}IC1 1の良、不良の判
定や、障害ICの障害状況を容易に知ることができる。
(発明の効果)
以上説明したように本発明は、被テストICと同一品名
のマスタICを並列に動作させて比較することにより、
両者の動作に差異があれば、その差異の発生時点をトリ
ガ条件として利用するので、被テストボードや被テスト
ICについての製品知識、釦よびICロジック技術につ
いての知識がなくても、誰でも被テストボードを接続し
、マスタICをセットするだけで、ボード内の被テスト
ICの良、不良の判定および障害ICの不具合の状況を
モニタすることができるという効果がある。
のマスタICを並列に動作させて比較することにより、
両者の動作に差異があれば、その差異の発生時点をトリ
ガ条件として利用するので、被テストボードや被テスト
ICについての製品知識、釦よびICロジック技術につ
いての知識がなくても、誰でも被テストボードを接続し
、マスタICをセットするだけで、ボード内の被テスト
ICの良、不良の判定および障害ICの不具合の状況を
モニタすることができるという効果がある。
第1図は、本発明の一実施例を示すブロック図である。
1.4−●●七ンス部
2・・・マスタ駆動部
3●●●マスタIC
5●●●サンプリングゼネレータ
6會●●コントロール部
7−●●コンバレータ
10@◆◆被テストボード
11●●●被テストIC
2
0
●従来技術によるロジックステートア
ナライザ
2
1
●インタフェースコントロール部
Claims (1)
- 動作中の被試験論理集積回路の入力情報および出力情報
を監視する手段と、前記被試験論理集積回路と比較され
るべき同一品名のマスタ集積回路と、被試験論理集積回
路に入力する前記入力情報と同一の情報を前記マスタ集
積回路に入力し、同じ周期で前記被試験論理集積回路に
並列に前記マスタ集積回路を動作させる手段と、前記被
試験論理集積回路と前記マスタ集積回路が並列に同じ周
期で動作しているとき、それぞれの出力情報を連続的に
比較する手段を有することを特徴とする現物比較器つき
論理状態解析器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1192367A JPH0356875A (ja) | 1989-07-25 | 1989-07-25 | 現物比較器つき論理状態解析器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1192367A JPH0356875A (ja) | 1989-07-25 | 1989-07-25 | 現物比較器つき論理状態解析器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0356875A true JPH0356875A (ja) | 1991-03-12 |
Family
ID=16290105
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1192367A Pending JPH0356875A (ja) | 1989-07-25 | 1989-07-25 | 現物比較器つき論理状態解析器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0356875A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2001081935A1 (en) * | 1996-01-18 | 2001-11-01 | Fong Luk | System configuration and methods for on-the-fly testing of integrated circuits |
-
1989
- 1989-07-25 JP JP1192367A patent/JPH0356875A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2001081935A1 (en) * | 1996-01-18 | 2001-11-01 | Fong Luk | System configuration and methods for on-the-fly testing of integrated circuits |
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