JPH0354407A - 塗装面のつや測定方法及び装置 - Google Patents

塗装面のつや測定方法及び装置

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JPH0354407A
JPH0354407A JP1190907A JP19090789A JPH0354407A JP H0354407 A JPH0354407 A JP H0354407A JP 1190907 A JP1190907 A JP 1190907A JP 19090789 A JP19090789 A JP 19090789A JP H0354407 A JPH0354407 A JP H0354407A
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JP1190907A
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Takamitsu Sawamura
沢村 隆光
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Kanto Jidosha Kogyo KK
Toyota Motor East Japan Inc
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Kanto Jidosha Kogyo KK
Kanto Auto Works Ltd
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  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、塗装面のつやを定量的に測定する方法及び装
置に関するものてある。
(従来の技術) この種の測定装置は,例えば、塗装技術「閉和60年3
月号、理工出版社発行」により周知である。即ちffS
1の方法として大きさの異る文字を塗面に投影していず
れの大きさの文字がその歪みの#昔を受ないて読み取る
ことかできるかをf1断する方法、或は:32の方法と
して明暗縞のテストチャートを塗装面に結像させて、次
の式によりコントラストを定義する。
コントラスト= そして、これをテストチャートのピッチの逆数を横軸に
とってコントラスト値をプロットした変調伝達関数(M
TF)曲線を作成し、この曲線の所定範ν■の面積値を
指標とするのか周知てある.この外、第3の方法として
塗装面に斜め方向から一定の角度て光ビームを照射し、
その一定角度の反射光を受光してその光!遥からつやを
゛口定する方法も周知である. (発リ1が解決しようとする課題) しかしながら、前述の第1の方法は、自動的に指標を検
出てきず、第2の方法は自動的に指標を出力てきるか、
つや領域の細かい凹凸を検出しようとすると、テストチ
ャートのピッチ及び種類を増加させねばならないと考え
られ,が(3’J処理も複雑になり,実際上弁別性能を
向上させるには問題か残されている.第3の方法も同様
に自動的に指標を出力てきるが,光ビームの面積を絞ら
ねばならず,実際上高い弁別性能を得るのは難しい。
木発l4は.このような現況に鑑みて、より実川的に塗
面のつやを高い弁別度て定量的に測定する力法及び装置
を提供することを目的とする。
(課題を解決するための手段) 本発明は,この目的を達成するために、塗装面のつやの
官能か、凹凸幅か視覚感知限界の0.0Ims乃全僅か
に広い0.05@IIからほぼlamの粗さの而の度合
に起因することを確認したヒて,次のステップの厠定を
行う。即ち,塗装面を粗さ計でライン状に前記ラインと
直交方向ヘシフトしつつ定の速度て走査することにより
,塗装面の凹凸に応じたレベルのアナロク信号を出力さ
せる.次いて、このアナログ信号をフーリエ解析して、
さらに各波長に対する振幅成分比に対応する傾斜ファク
タを算出し、波長変化に対する傾斜ファクタの111H
jtデータを作成する。さらに、この曲線データについ
て塗面凹凸幅0.旧乃至005I一からほぼlmsに相
当する波長領域の面積を算出し、この而M値に対応する
値をつやの指標とする. この方法を実施する装置としては、塗装面をライン状に
前記ラインと直交方向ヘシフトしつつ一定の速度で走査
して塗装面の凹凸に応じたレベルのアナログ信号を出力
する粗さ計と,アナログ信号を人力とし、倹面凹凸#i
AO.0+乃至0.05mmからほぼl1−に対応する
周波数帯域よりも広い惜域のハントパスフィルタと1こ
のバンドパスフィルタの出力信号を最小[1乗処理する
ことによりゆ装面のわん曲を補正した偏差値に対応する
塗面凹凸信号を出力する最小自乗処理手段と、塗装面信
号を高速フーリエに変換処理するFFT手段と, FF
T処理に従い(振幅成分)2/(波長)2を傾斜ファク
タとして演算し、波長変化に対する傾斜ファクタの曲線
データを作成する#i斜曲線データ作成手段と、この曲
線データのつや性能に関連する塗面凹凸幅0.01乃至
0.05mmからほぼ1mmに対応する波長領域の尚積
を算出する面積演算手段と、尚枯値に対応する植をつや
の指標として出力する出力手段とより4W成することか
考えられる。
〔作用〕 塗装面を粗さ計て一定の速度て走査することにより,走
査速度及び凹凸に応じて変化するアナログ信号かfりら
れ、したかってフーリエ解析により、第1図aに示すよ
うに,凹凸の幅及び走杏速度に対応する波長変化に対す
るその深さに相5する振1NIA分か求められる。これ
らのスペクトル成分を火に、第l図bに示すように,振
幅成分/波長もし〈はその2乗等てある傾斜ファクタの
曲線データを作成して0.OI乃至0.(15s園から
ほぼlI1−の四凸蝙に対応する波長領域の而精を算出
し.この面M (diに対応する値をつやの指標とし求
める。これにより、塗装面全域にわたり存在する0.0
1乃至0.05smからほぼ1mmの凹凸な対鉋にした
傾斜分んの積分値か評価される。
この方法を実施する装置によれば、つや性能を指示する
指標か出力手段から自動的にプリントアウトもしくはデ
ィスプレイされる。
(実施例) 第2図は,本発IIによる塗装面のつや測定装訛の構成
を機能フロック図で示す。
ti1図において、10は.4X5amの塗装面lを1
ライン526ポイントのライン走査線32本て針により
ー・定速度で走査し、その変動を基に塗装面lの凹凸に
対応じた波長及びレベルのアナログ信号を発生する3次
元粗さ計である。口は、凹凸@J0.01〜2.5■に
対応する波長領域を通過させて、八/Dコンハータl2
にディシタル化させるバンドパスフィルタてある。13
は最小11乗処J!l!千段てありディシタル化された
塗面凹凸信号を例えば5次回帰曲線を入(に表面形状と
して求め,その偏差信号をわん曲度か補正された純粋な
塗面凹凸信号として発生する。14はFFT  (高速
フーリエ変換)処理手段であり,サンプリング時間窓の
重み付を行うための周知のハニング処理をした後に波長
別の振相パワー成分を解析する。15は、FFT処理の
鮎果を基にυ.(is−leaの凹凸幅に相当する振幅
範囲の(振幅成分)2/(波長)2を演算して,波長変
化に対する傾斜のパワースベクトルてある傾斜ファクタ
の曲線データを作成する傾斜曲線データ作成手段てある
.,16は,この曲線データについて0,05からlm
sに対応する波Ii範囲の面積fめを演算する面積Δi
lf段である。l7及び+7aは、出力手段として曲線
データを表示するブラウン管モニタ及び演算された面積
値を例えば3桁で或はその基準而植値を例えば10ロと
した面積比としての指標をプリントアウトするプリンタ
である。
前述の各部13〜16は. A/Dコンハータ12の出
力信(J−を取り込んて前述の各機IF.を果たすよう
にフロクラムされたコンピュータにより構成することか
できる。このコンピュータには、プリンタ17a及びフ
ラウン管モニタ17を後続させる。この場合,面積自体
を指標とせずに,前述の面積比等を指標とする場合には
、その演算も前述のコンピュータで行うことか考えられ
る。
動作は次の通りである. 3次元粗さ計lOは塗装面lを一定速度てライン走査ず
ることにより,その凹凸の深さ、幅及び走査速度に対応
じた振幅及び波長のアナログ信号を発生する。ハンドバ
スフィルタ+1は、塗面凹凸幅0 . 0 1〜2.5
mmに相当する波反領域を通過させてつや11+価に無
関係な周波数或分を除去する。A/Dコンハータ12て
ディシタル化されたフィルタ出力について,最小1]乗
処理千段1コにおいて5次凹帰曲線からの偏差を抽出し
て純粋な塗面凹凸データを発生する。
これにより、FFT処理手段14はこの倹面凹凸信号に
ついて妓長別の振幅パワー成分(振幅成分)2を解析し
,傾,81 +lh線データ作成千段15はゆず肌性能
に無関係で,つや性能に関連する塗面凹凸幅0.05〜
1■範囲の傾斜パワースペクトル(振幅成分)2/(波
長)2を傾斜ファクタとして演算して1傾斜パワースペ
クトル+I1+ mを作成する。jliM演算手段16
はこの+u+Mデータについて0.05から1■の波長
相当範囲の面積イめを演算する。この面積値は、つやに
関連する塗装面のf均傾斜角分春の分欣偵に相当する.
ツラウン管モニタl7は波長変化を横軸にして傾斜パワ
ースペクトルを表示し、プリンタ+7aにばつや指標か
プリントアウトされる。
これにより、ゆず肌の!#響を受けないつやに相関した
指標か、平均傾斜角分在の分散に相当する傾斜パワース
ペクトルの積分値としてn動的に14}られ、その値の
大小で塗装面のつやの度合か分かる。
表lは本発明の効果を確認するために、前述した従来の
方法と対比した試験結果を示す。
試料としては、一対比較法(中屋変法)によるつやの宜
能評価か右意木準1%て段階的に異る白色塗装板を5枚
(No.I〜No. 5)用意した。そして、本発明の
指標は,官能評価か最も悪い試料No.lを基準として
膓定面積値/基準面積値X Ionを指標とした。また
,前述した歪みの影響を受ないで読み取ることかできる
文字の大きさを指標にする第1の方法、フーリエ変換に
よるMTFに基づく第2の方法による市販の装置及び光
ビームの反射光着からつやを判定する第3の方法による
市販の装置と比較した。第2及び第3の方法は,最良状
態の指数を100にした場合である。
この表から明らかなように,第1の方法と較べてjf別
比か大幅に改善され、さらに第2の方法に対しては試$
4Nol及びNo. 4間のつや性能の相異も、確実に
升別できることか分る。尚,この方法によると、指標が
反転することもあった。第3の方法ては、本発明に比べ
て弁別性能か明らかに悪くしかもNo.4及びNo.5
間で指標か反転する。
(発rJJの効果) 以上,本発明によれば、1−一以下の幅の凹凸の傾斜フ
ァクタの桔分f〆iか、つやを定量的に評価する指標と
して自動的にアウトプットされ,しかもつや段階を高確
度で弁別できる。
塗面凹凸信号を最小自乗処理し、その偏差イ〆1をFF
T処理する装着により、塗装面のわん曲を補正した高信
頼度の指標か自動的に出力可能になる。
【図面の簡単な説明】
第l図は本発明による塗装面のつやΔ一定方法を説明す
る図及び第2図は本発明の方法を実施する装置の構成を
示す機能ブロック図てある。 l・・・@装面。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)塗装面を粗さ計でライン状に前記ラインと直交方向
    へシフトしつつ一定の速度で走査することにより、前記
    塗装面の凹凸に応じたレベルのアナログ信号を出力させ
    、 このアナログ信号をフーリエ解析して、各波長に対する
    振幅成分比に対応する傾斜ファクタを算出し、 波長変化に対する前記傾斜ファクタの曲線データを作成
    し、 この曲線データについて塗面凹凸幅0.01乃至0.0
    5mmからほぼ1mmに対応する波長領域の面積を算出
    し、この面積値に対応する値をつやの指標とすることを
    特徴とする、塗装面のつや測定方法。 2)塗装面をライン状に前記ラインと直交方向へシフト
    しつつ一定の速度で走査して前記塗装面の凹凸に応じた
    レベルのアナログ信号を出力する粗さ計と、 前記アナログ信号を入力とし、塗面凹凸幅0.01乃至
    0.05mmからほぼ1mmに対応する周波数帯域を通
    過させる帯域のバンドパスフィルタと、 このバンドパスフィルタの出力信号を最小自乗処理する
    ことにより、前記塗装面のわん曲を補正した偏差値に対
    応する塗面凹凸信号を出力する最小自乗処理手段と、 前記塗面凹凸信号を高速フーリエ変換処理するFFT手
    段と、 このフーリエ変換処理に従い、 (振幅成分)^2/(波長)^2を傾斜ファクタとして
    演算し、波長変化に対する前記傾斜ファクタの曲線デー
    タを作成する傾斜曲線データ作成手段と、この曲線デー
    タの前記塗面凹凸幅0.01乃至0.05mmからほぼ
    1mmに対応する波長領域の面積を算出する面積演算手
    段と、 前記面積値に対応する値をつやの指標として出力する出
    力手段と、を備えたことを特徴とする塗装面のつや測定
    装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05187843A (ja) * 1992-01-14 1993-07-27 Kobe Steel Ltd タイヤ等の被検体の外形状計測装置
EP0811825A2 (de) * 1996-06-04 1997-12-10 Wagner International Ag Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen der Beschaffenheit einer Werkstückoberfläche
JP2008051810A (ja) * 2006-08-11 2008-03-06 Byk-Gardner Gmbh 表面特性のトポグラフィー決定のためのデバイスおよび方法

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EP0811825A3 (de) * 1996-06-04 1998-04-22 Wagner International Ag Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen der Beschaffenheit einer Werkstückoberfläche
JP2008051810A (ja) * 2006-08-11 2008-03-06 Byk-Gardner Gmbh 表面特性のトポグラフィー決定のためのデバイスおよび方法

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