JPH0353503A - 照明光移動式レーザトリミング装置 - Google Patents
照明光移動式レーザトリミング装置Info
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- JPH0353503A JPH0353503A JP1190014A JP19001489A JPH0353503A JP H0353503 A JPH0353503 A JP H0353503A JP 1190014 A JP1190014 A JP 1190014A JP 19001489 A JP19001489 A JP 19001489A JP H0353503 A JPH0353503 A JP H0353503A
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- 238000005286 illumination Methods 0.000 title claims abstract description 63
- 238000009966 trimming Methods 0.000 title claims abstract description 23
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 16
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract 1
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 abstract 1
- 238000009834 vaporization Methods 0.000 abstract 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
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- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利川分野]
本発明はレーザトリミング装置に関するものであり、特
に照明光の位置移動に関するものである。
に照明光の位置移動に関するものである。
[従来の技術]
従来のレーザトリミング装置を第3図に基づいて説明す
る。
る。
レーザ光源l2が発光したレーザ光l4は、半透鏡8、
照射位置移動手段であるガルバノメータ22の反射鏡2
2a及びガルバノメータ24の反射鏡24aに反射して
基板30上の抵抗体32を照射する。そして照射部分に
高熱を発生させて気化させ抵抗体32の一部を切断し、
抵抗値に変化を生じさせる。抵抗値は切断の長さに応じ
て変化する。そこでガルバノメータ22の反射鏡22a
及びガルバノメータ24の反射鏡24aの角度をあらか
じめ設定されたプログラムに従い変化させ、抵抗体32
上の照射位置を移動抵抗体32の切断部の始点は画像処
理を利用した位置アライメントにより決定される。すな
わち、レーザ光l4の照射位置を画像として取込みこれ
に基づいて切断部の始点の自動補正を行うのである。
照射位置移動手段であるガルバノメータ22の反射鏡2
2a及びガルバノメータ24の反射鏡24aに反射して
基板30上の抵抗体32を照射する。そして照射部分に
高熱を発生させて気化させ抵抗体32の一部を切断し、
抵抗値に変化を生じさせる。抵抗値は切断の長さに応じ
て変化する。そこでガルバノメータ22の反射鏡22a
及びガルバノメータ24の反射鏡24aの角度をあらか
じめ設定されたプログラムに従い変化させ、抵抗体32
上の照射位置を移動抵抗体32の切断部の始点は画像処
理を利用した位置アライメントにより決定される。すな
わち、レーザ光l4の照射位置を画像として取込みこれ
に基づいて切断部の始点の自動補正を行うのである。
レーザ光l4の照射位置の撮影は次の様にして行われる
。レーザ光l4の照射位置はガルバノメータ24の反射
鏡24aを介してガルバノメータ22の反射鏡22aに
映される。このガルバノメータ22の反射鏡22aに映
された照射位置を半透鏡8を通して撮影機2で撮影し画
像として取込むのである。
。レーザ光l4の照射位置はガルバノメータ24の反射
鏡24aを介してガルバノメータ22の反射鏡22aに
映される。このガルバノメータ22の反射鏡22aに映
された照射位置を半透鏡8を通して撮影機2で撮影し画
像として取込むのである。
照射位置を撮影する為には抵抗体32が照明光により照
されている必要がある。この為に照明機4a,4bがワ
ークディスタンスW(ガルバノメータ24の反射鏡24
aと基板30との間の空間)に設けられ抵抗体32を照
している。
されている必要がある。この為に照明機4a,4bがワ
ークディスタンスW(ガルバノメータ24の反射鏡24
aと基板30との間の空間)に設けられ抵抗体32を照
している。
抵抗体32の切断部の終点は次の様にして決定される。
レーザトリミングを行う際には、測定機l6を矢印10
0の方向に移動させ第2図に示すように基板30の上に
設置する。測定機16の測定端子16aは各々基板30
上の抵抗体32に接触し電気的に接続されるようになっ
ている。この測定機l6はレーザ光による切断中、抵抗
値をデータとして取込み、抵抗値が所望の値になったと
ころでレーザ発光を中止するのである。
0の方向に移動させ第2図に示すように基板30の上に
設置する。測定機16の測定端子16aは各々基板30
上の抵抗体32に接触し電気的に接続されるようになっ
ている。この測定機l6はレーザ光による切断中、抵抗
値をデータとして取込み、抵抗値が所望の値になったと
ころでレーザ発光を中止するのである。
尚、測定端子16aはレーザ光l4の照射の障害になら
ないように測定機l6に配設されている。
ないように測定機l6に配設されている。
[発明が解決しようとする課題]
ところが上記従来例には次の様な欠点があった。
照明機4a, 4bはワークディスクンスWに設置され
基板30全体を照している。この為レーザ光l4がガル
バノメータ22及びガルバノメータ24に制御され基板
30上に照射されたとき、このレーザ光l4の照射角度
と照明光の照射角度とは多くの場合一致しない。従って
、測定機l6を基板30上に設置した場合、照明機4a
, 4bからの照明光が測定機l6の測定端子16aに
遮られ基板30上に陰影を生じ、レーザ光は照射されて
いるが照明光は当っていない箇所が生じることがある。
基板30全体を照している。この為レーザ光l4がガル
バノメータ22及びガルバノメータ24に制御され基板
30上に照射されたとき、このレーザ光l4の照射角度
と照明光の照射角度とは多くの場合一致しない。従って
、測定機l6を基板30上に設置した場合、照明機4a
, 4bからの照明光が測定機l6の測定端子16aに
遮られ基板30上に陰影を生じ、レーザ光は照射されて
いるが照明光は当っていない箇所が生じることがある。
このような箇所についてはレーザ光の照射位置を画像と
して取込むことができず、正確なトリミングができない
という問題があった。
して取込むことができず、正確なトリミングができない
という問題があった。
又、基板30上には抵抗体32と共にIC等が搭載され
ることがあるが、搭載されるICによっては耐光性が極
めて低いものがありこの様な場合は基板30全体に照明
光を当てることができない。
ることがあるが、搭載されるICによっては耐光性が極
めて低いものがありこの様な場合は基板30全体に照明
光を当てることができない。
更に、照明を基板30全体に当てる為に高い照度の照明
機を用いなければならないという問題があった。
機を用いなければならないという問題があった。
本発明は上記の問題点を解決し、レーザ光の照射位置の
周辺部分のみに照明を当て容易かつ正確にトリミング作
業を行うことができるレーザトリミング装置を提供する
ことを目的とする。
周辺部分のみに照明を当て容易かつ正確にトリミング作
業を行うことができるレーザトリミング装置を提供する
ことを目的とする。
[課題を解決するための手段]
請求項1の発明は、照明光照射点はレーザ光照射点を含
んで位置し、照明光照射点の照射位置はレーザ光照射点
の移動に伴って移動して、被照射対象物に対する照明光
の照射角度とレーザ光の照射角度とはほぼ同一であるこ
とを特徴としている。
んで位置し、照明光照射点の照射位置はレーザ光照射点
の移動に伴って移動して、被照射対象物に対する照明光
の照射角度とレーザ光の照射角度とはほぼ同一であるこ
とを特徴としている。
請求項2の発明は、請求項1のトリミング装置において
、照明光が集光レンズによって集光され照明光照射点を
形成することを特徴としている。
、照明光が集光レンズによって集光され照明光照射点を
形成することを特徴としている。
[作用]
請求項1に係る発明においては、照明光照射点はレーザ
光照射点を含んで位置し、照明光照射点の照射位置はレ
ーザ光照射点の照射位置の移動に伴って移動して、被照
射対象物に対する照明光の照射角度とレーザ光の照射角
度とはほぼ同一である。従って、照明光はレーザ光照射
点を含みレーザ光照射点の周辺部のみに照射される。又
、被照射対象物の上部に例えば測定機等が設置された場
合であっても、照明光が測定機等に遮られてレーザ光照
射点の照射位置に照明光が照射されないということはな
い。
光照射点を含んで位置し、照明光照射点の照射位置はレ
ーザ光照射点の照射位置の移動に伴って移動して、被照
射対象物に対する照明光の照射角度とレーザ光の照射角
度とはほぼ同一である。従って、照明光はレーザ光照射
点を含みレーザ光照射点の周辺部のみに照射される。又
、被照射対象物の上部に例えば測定機等が設置された場
合であっても、照明光が測定機等に遮られてレーザ光照
射点の照射位置に照明光が照射されないということはな
い。
請求項2に係る発明においては、照明光は集光レンズに
よって集光され照明光照射点を形成する。
よって集光され照明光照射点を形成する。
従って被照射対象物上における照明光の照射面積が小さ
くなる。
くなる。
[実施例]
本発明の実施例を第1図に基づいて説明する。
レーザ光源12が発光したレーザ光l4は半透鏡8に反
射し、更に照射位置移動手段であるガルバノメータ22
の反射鏡22a及びガルバノメータ24の反射鏡24a
に反射して被照射対象物である抵抗体32に照射される
。レーザ光の照射により照射部分には高熱が発生し気化
して抵抗体32の一部が切断され、切断の長さに対応し
て抵抗体32の抵抗値が変化する。従って、切断の長さ
を調整することにより所望の抵抗値を得ることができる
。この切断の長さはガルバノメータ22の反射鏡22a
及びガルバノメータ24の反射鏡24aの角度を変化さ
せることにより調整する。
射し、更に照射位置移動手段であるガルバノメータ22
の反射鏡22a及びガルバノメータ24の反射鏡24a
に反射して被照射対象物である抵抗体32に照射される
。レーザ光の照射により照射部分には高熱が発生し気化
して抵抗体32の一部が切断され、切断の長さに対応し
て抵抗体32の抵抗値が変化する。従って、切断の長さ
を調整することにより所望の抵抗値を得ることができる
。この切断の長さはガルバノメータ22の反射鏡22a
及びガルバノメータ24の反射鏡24aの角度を変化さ
せることにより調整する。
尚、トリミングの際には測定機l6を矢印100の方向
に移動させ基板30の上に設置する。基板30の上に測
定機16が設置された状態を示すのが第2図である。測
定機l6の測定端子16aは各々基板30上の抵抗体3
2に接触し電気的に接続されるようになっている。この
測定機l6はレーザ光による切断中、抵抗値をデータと
して取込み、抵抗値が所望の値になったところでレーザ
発光を中止する。
に移動させ基板30の上に設置する。基板30の上に測
定機16が設置された状態を示すのが第2図である。測
定機l6の測定端子16aは各々基板30上の抵抗体3
2に接触し電気的に接続されるようになっている。この
測定機l6はレーザ光による切断中、抵抗値をデータと
して取込み、抵抗値が所望の値になったところでレーザ
発光を中止する。
又、切断の始点位置の自動補正を行うに必要なレーザ光
の照射位置の画像は撮影手段である撮影機2が撮影する
。レーザ光の照射位置はガルバノメータ24の反射鏡2
4aを介してガルバノメータ22の反射鏡22aに映し
出される。ガルバノメータ22の反射鏡22aに映し出
されたレーザ光の照射位置を撮影機2が半透鏡8を通し
て撮影し画像として取込むのである。
の照射位置の画像は撮影手段である撮影機2が撮影する
。レーザ光の照射位置はガルバノメータ24の反射鏡2
4aを介してガルバノメータ22の反射鏡22aに映し
出される。ガルバノメータ22の反射鏡22aに映し出
されたレーザ光の照射位置を撮影機2が半透鏡8を通し
て撮影し画像として取込むのである。
抵抗体32上のレーザ光の照射位置を撮影する為にはレ
ーザ光の照射位置に照明光が照射されていなければなら
ない。この照明光は照明手段としての照明機4が発光す
る。この実施例では照明機4として光ファイバー照明装
置を用いている。照明機4の発光した照明光l7は、照
射位置移動手段であるガルバノメータ22の反射鏡22
a及びガルバノメータ24の反射鏡24aに反射して基
板上の抵抗体32に照射され照明光照射スポット40を
形或する。
ーザ光の照射位置に照明光が照射されていなければなら
ない。この照明光は照明手段としての照明機4が発光す
る。この実施例では照明機4として光ファイバー照明装
置を用いている。照明機4の発光した照明光l7は、照
射位置移動手段であるガルバノメータ22の反射鏡22
a及びガルバノメータ24の反射鏡24aに反射して基
板上の抵抗体32に照射され照明光照射スポット40を
形或する。
すなわちガルバノメータ22の反射鏡22a及びガルバ
ノメータ24の反射鏡24aはレーザ光l4の照射位置
を移動させ、かつ撮影機2の撮影箇所を決定すると共に
、更には照明光l7の照射位置をも制御することとなる
。従って、基板30上において照明光17の照射角度は
レーザ光l4の照射角度とほぼ同一となり、照明光l7
は撮影機2の撮影箇所に測定機16の測定端子16aの
陰影を生じさせることなく照射される。
ノメータ24の反射鏡24aはレーザ光l4の照射位置
を移動させ、かつ撮影機2の撮影箇所を決定すると共に
、更には照明光l7の照射位置をも制御することとなる
。従って、基板30上において照明光17の照射角度は
レーザ光l4の照射角度とほぼ同一となり、照明光l7
は撮影機2の撮影箇所に測定機16の測定端子16aの
陰影を生じさせることなく照射される。
この実施例においては、照明光l7はガルバノメータ2
2の反射鏡22a及びガルバノメータ24の反射鏡24
aを介して基板30上に照射されるので、ワークディス
タンスWに照明機を設置する必要がない。
2の反射鏡22a及びガルバノメータ24の反射鏡24
aを介して基板30上に照射されるので、ワークディス
タンスWに照明機を設置する必要がない。
従って、ワークディスタンスWに測定機16等を設置す
る際に障害物がなく設置作業が容易となり作業効率が向
上する。
る際に障害物がなく設置作業が容易となり作業効率が向
上する。
尚、基板30上において照明光l7の照射角度とレーザ
光14の照射角度とは完全に同一ではない為、照射位置
によっては(すなわち、ガルバノメータ22の反射鏡2
2a及びガルバノメータ24の反射鏡24aの角度によ
っては)照明光17の照射位置とレーザ光l4の照射位
置とにずれが生じる虞がある。この様な場合はレーザ光
の照射位置を撮影機2より画像として取込むことができ
ない。従って照明光照射スポット40の面積は、基板3
0上のどの抵抗体に照射した場合でもレーザ光照射点を
含む様に設定されていなければならない。
光14の照射角度とは完全に同一ではない為、照射位置
によっては(すなわち、ガルバノメータ22の反射鏡2
2a及びガルバノメータ24の反射鏡24aの角度によ
っては)照明光17の照射位置とレーザ光l4の照射位
置とにずれが生じる虞がある。この様な場合はレーザ光
の照射位置を撮影機2より画像として取込むことができ
ない。従って照明光照射スポット40の面積は、基板3
0上のどの抵抗体に照射した場合でもレーザ光照射点を
含む様に設定されていなければならない。
又、照明機4が発光する照明光l7を集光レンズ5によ
って集光することもできる。照明光l7の集光によって
照明光照射スポット40の面積は小さくなリレーザ光が
照射されない部分、すなわち照明光l7を照射する必要
がない部分への照明光17の照射を排除することができ
る。但し、この場合であっても照明光照射スポット40
の面積は常にレーザ光照射点を含むように設定されてい
なければならない。
って集光することもできる。照明光l7の集光によって
照明光照射スポット40の面積は小さくなリレーザ光が
照射されない部分、すなわち照明光l7を照射する必要
がない部分への照明光17の照射を排除することができ
る。但し、この場合であっても照明光照射スポット40
の面積は常にレーザ光照射点を含むように設定されてい
なければならない。
[発明の効果]
請求項1のトリミング装置においては、被照射対象物に
対する照明光の照射角度とレーザ光の照射角度とはほぼ
同一である。この為、被照射対象物の上部に例えば測定
機等が設置された場合であっても、照明光が測定機等に
遮られてレーザ光照射点の照射位置に照明光が照射され
ないということはない。
対する照明光の照射角度とレーザ光の照射角度とはほぼ
同一である。この為、被照射対象物の上部に例えば測定
機等が設置された場合であっても、照明光が測定機等に
遮られてレーザ光照射点の照射位置に照明光が照射され
ないということはない。
従って、レーザ光照射点の照射位置を常に撮影手段によ
って撮影することができ、完全なトリミングが可能とな
る。
って撮影することができ、完全なトリミングが可能とな
る。
更に請求項1のトリミング装置においては、照明光照射
点はレーザ光照射点を含んで位置し、照明光照射点の照
射位置はレーザ光照射点の照射位置の移動に伴って移動
する。この為、照明光はレーザ光照射点を含みレーザ光
照射点の周辺部のみに照射される。
点はレーザ光照射点を含んで位置し、照明光照射点の照
射位置はレーザ光照射点の照射位置の移動に伴って移動
する。この為、照明光はレーザ光照射点を含みレーザ光
照射点の周辺部のみに照射される。
従って、耐光性の低い物質等への照射を避けることがで
き有効なトリミングを行うことができる。
き有効なトリミングを行うことができる。
又、照明光がレーザ光照射点の周辺部のみに照射される
ことにより、低い照度の照明光を用いてトリミングを行
うことができる。
ことにより、低い照度の照明光を用いてトリミングを行
うことができる。
請求項2に係る発明においては、照明光は集光レンズに
よって集光され照明光照射点を形成するので、被照射対
象物上における照明光の照射面積が小さくなる。
よって集光され照明光照射点を形成するので、被照射対
象物上における照明光の照射面積が小さくなる。
従って、耐光性の低い物質等への照射をより完全に防止
してトリミングを行うことができる。
してトリミングを行うことができる。
又、更に低い照度の照明光を用いてトリミングすること
ができる。
ができる。
第1図は、本発明に係るトリミング装置の全体構成を示
す斜視図、 第2図は、本発明に係るトリミング装置の一部の拡大図
を示す斜視図、 第3図は、従来のトリミング装置の全体構或を示す斜視
図である。 2 ・ 4 ・ 8 ・ 12・ 14・ l6・ ・撮影機 ・照明機 ・半透鏡 ・レーザ光源 ・レーザ光 ・測定機 17・ ・照明光 22, 24・ ガルバノメータ 30・ ・基板 32・ ・抵抗体
す斜視図、 第2図は、本発明に係るトリミング装置の一部の拡大図
を示す斜視図、 第3図は、従来のトリミング装置の全体構或を示す斜視
図である。 2 ・ 4 ・ 8 ・ 12・ 14・ l6・ ・撮影機 ・照明機 ・半透鏡 ・レーザ光源 ・レーザ光 ・測定機 17・ ・照明光 22, 24・ ガルバノメータ 30・ ・基板 32・ ・抵抗体
Claims (2)
- (1)レーザ光を発するレーザ光源、 被照射対象物上にレーザ光が照射されることによって形
成されるレーザ光照射点の照射位置を移動させる照射位
置移動手段、 被照射対象物を撮影する撮影手段、 被照射対象物に向けて照明光を発する照明手段、を備え
たトリミング装置において、 前記照明光は被照射対象物上に照明光照射点を形成する
ものであり、 前記照明光照射点は前記レーザ光照射点を含んで位置し
、 前記照明光照射点の照射位置は前記レーザ光照射点の照
射位置の移動に伴って移動し、 前記被照射対象物に対する前記照明光の照射角度は、前
記被照射対象物に対する前記レーザ光の照射角度とほぼ
同一である、 ことを特徴とするトリミング装置。 - (2)請求項1のトリミング装置において、照明光は集
光レンズによって集光され照明光照射点を形成する、 ことを特徴とするトリミング装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1190014A JPH0353503A (ja) | 1989-07-20 | 1989-07-20 | 照明光移動式レーザトリミング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1190014A JPH0353503A (ja) | 1989-07-20 | 1989-07-20 | 照明光移動式レーザトリミング装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0353503A true JPH0353503A (ja) | 1991-03-07 |
Family
ID=16250935
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1190014A Pending JPH0353503A (ja) | 1989-07-20 | 1989-07-20 | 照明光移動式レーザトリミング装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0353503A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100370556B1 (ko) * | 2000-11-16 | 2003-01-29 | 주식회사 이오테크닉스 | 레이저를 사용한 집적회로의 자동 트리밍 장치 |
KR100500973B1 (ko) * | 1997-08-28 | 2005-10-04 | 삼성중공업 주식회사 | 용접선 추적용 레이저 빈젼 센서 |
KR100911365B1 (ko) * | 2007-08-02 | 2009-08-07 | 주식회사 파이컴 | 영상 처리를 이용한 레이저 트리밍 장치 및 그 방법 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5726428A (en) * | 1980-07-23 | 1982-02-12 | Hitachi Ltd | Method of capacitively trimming thin film capacitor |
JPS6150356A (ja) * | 1984-08-20 | 1986-03-12 | Sony Corp | インピ−ダンス部品のインピ−ダンス調整方法 |
-
1989
- 1989-07-20 JP JP1190014A patent/JPH0353503A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5726428A (en) * | 1980-07-23 | 1982-02-12 | Hitachi Ltd | Method of capacitively trimming thin film capacitor |
JPS6150356A (ja) * | 1984-08-20 | 1986-03-12 | Sony Corp | インピ−ダンス部品のインピ−ダンス調整方法 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100500973B1 (ko) * | 1997-08-28 | 2005-10-04 | 삼성중공업 주식회사 | 용접선 추적용 레이저 빈젼 센서 |
KR100370556B1 (ko) * | 2000-11-16 | 2003-01-29 | 주식회사 이오테크닉스 | 레이저를 사용한 집적회로의 자동 트리밍 장치 |
KR100911365B1 (ko) * | 2007-08-02 | 2009-08-07 | 주식회사 파이컴 | 영상 처리를 이용한 레이저 트리밍 장치 및 그 방법 |
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