JPH0353104A - 反射体の倒れ制御方式 - Google Patents

反射体の倒れ制御方式

Info

Publication number
JPH0353104A
JPH0353104A JP18857589A JP18857589A JPH0353104A JP H0353104 A JPH0353104 A JP H0353104A JP 18857589 A JP18857589 A JP 18857589A JP 18857589 A JP18857589 A JP 18857589A JP H0353104 A JPH0353104 A JP H0353104A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
reflector
inclination
waveform
light
mirror
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP18857589A
Other languages
English (en)
Inventor
Koji Masutani
浩二 増谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd filed Critical Jeol Ltd
Priority to JP18857589A priority Critical patent/JPH0353104A/ja
Publication of JPH0353104A publication Critical patent/JPH0353104A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光反射体の倒れを検出し#御する反射体の倒
れ制御方式に関する。
〔従来の技術及び発明が解決しようとする課題〕フーリ
エ変換赤外分光光度計では、マイケルソン干渉計を使用
し、光源からの光をマイケルソン干渉計で2光束に分割
した後、再び重ね合わせて検出器に導き、ここで得られ
たインクフェログラムをフーリエ変換して分光透過曲線
を求めている。
この場合において、干渉計の移動鏡の移動をモニタする
のにレーザを光源とした干渉計が用いられている。
レーザ光は単色光であるため、干渉計にレーザ光を入力
し2光東に分割して固定鏡と移動鏡で反射させ合成する
と、移動鏡の移動に追従したコサイン波が得られる。そ
こで、このコサイン波を使うことによって、移動鏡の制
御を行っている。
干渉計は、上記のように半透鏡と2つの反射鏡からなる
光学素子により構戊されているが、光が干渉するために
は、これらの光学素子のお互いの傾きが精度よく調整さ
れていることが必要である。
そのため、従来の装置では、高精度の傾き調整機構が用
意されている。また、長期にわたって傾きが狂わないよ
うにするため、ホルダの材質や形状も工夫されている。
例えば反射鏡の一方を平行移動させて信号を得る方式の
フーリエ変換赤外分光光度計においては、その移動鏡が
傾かないで移動するようにエアベエリング(ガスベエリ
ング〉を使用する等の工夫がなされている。
また、その他に倒れ修正方式としては、ベックマン( 
B eckman)方式を利用したものもある。このベ
ックマン方式は、レーザ発振器の周りから磁界をかける
と、周波数がずれしかも逆方向に円偏光したレーザ光に
スプリットするというゼーマン( Z eeman)効
果及び偏光を利用したものであり、移動鏡の移動速度が
遅くなっても制御できる点で特徴がある。
しかしながら、上記従来の倒れ修正方式は、いずれも高
い精度を要する機構を用いているため、高価で機構が複
雑になり、取り扱いや調整も簡便でないという問題があ
る。
本発明は、上記の課題を解決するものであって、高度な
機構を使用することなく干渉状態を安定に保つことがで
きる反射体の倒れ制御方式を提供することを目的とする
ものである。
〔課題を解決するための手段〕
そのために本発明は、光反射体の倒れを検出し制御する
反射体の倒れ制御方式であって、レーザ光を2つの平行
光束に分割して反射体に照射する波形分割手段、反射体
から反射した2つの平行光束を合成する波形合成手段を
備え、波形合成手段により反射体の倒れを2つの平行光
束の光路差により検出するように構或したことを特徴と
するものである。
〔作用〕
本発明の反射体の倒れ制御方式では、レーザ光を2つの
平行光東に分割して反射体に照射し、その反射光を波形
合成手段により合成して反射体の倒れを2つの平行光束
の光路差で検出するので、精度の高い機構を使用するこ
となく、簡単な構或により反射体の倒れを検出すること
ができ、また、その検出信号をフィードバックすること
により反射体の倒れを修正することができる。
〔実施例〕
以下、図面を参照しつつ実施例を説明する。
第1図は本発明に係る反射体の倒れ制御方式の1実施例
を示す図であり、1は移動鏡、2は波形分割器、3は波
形合戒器、4は検知器、5は等位相面を示す。
第F図において、波形分割器2は、レーザーを2光束に
分割するものであり、波形合成器3は、波形分割器2か
ら放出され移勤鏡1で反射してきた2つの光束を合戒す
るものである。検出器4は、波形合成器3で2つの光束
を合成することによって干渉した信号を移勤鏡lの倒れ
信号として検出するものである。
いま、波形合成器3に入力する2つの光東間の光路差を
みると、移勤鏡1が傾いていない場合には、第1図(b
)に示すように2つの光束の等位相面5と合成面が一致
するが、移勤鏡1が傾いた場合には、同図(C)に示す
ように2つの光束の等位相面5と合成面が一致しない。
そのため、波形合成器3において2つの光束による干渉
状態が変わる。
すなわち、周波数f0のレーザーを移勤鏡1の2点で反
射させると、移勤鏡lに倒れが生じた場合、移勤鏡lの
反射光は、fo +fとfo +f’の周波数で合成面
に入射する。これを直接干渉させると、f−f’の差同
波数(ビート周波数)が得られる。したがって、移動鏡
1の倒れがある場合には、このビート周波数が検出器4
で検出される。
このようにすると、移動鏡1の移動速度に無関係に移勤
鏡1の倒れを検出することができ、この信号をフィード
バックすることにより移勤鏡1の倒れ制御を行うことが
できる。なお、紙面に対してピッチング方向に傾いた場
合には、2つの光束間の光路差の変化がないので、その
方向に対しても同様の構或を付加することにより各方向
の倒れに対してその修正を行うことができる。
覚2図及び第3図は本発明の他の実施例を説明するため
の図であり、11と21は平面鏡、l2、l3、22と
23は平行板を示す。
第2図に示す例は、平行板12、13を用いて平面鏡1
1の倒れを検出するようにしたものであり、平行板l2
で入射光を2つの光東■、■に分割し、平行板13で2
つの光東■、■を干渉させている。なお、平行板12、
13は、1枚で構戊してもよいし、別々のものであって
もよい。
上記のように平行板12、l3で光束の分割、干渉を起
こさせると、2つの光東■、■は、それぞれ平行板12
、l3で光路差が生じる。この光路差は、平面鏡11が
傾いていない場合には等しくなるが、平面鏡11が傾く
と等しくなくなる。
すなわち、屈折率を01平行板12、l3の厚さをt1
平行板12、l3内での屈折角をrSrとすると、平行
板l2、13内では、同図6)に示すようにそれぞれ光
東■と■で2ntcosrの光路差が生じ、平面鏡11
が傾いていない場合にはこの光路差が等しくなる。しか
し、平面鏡■1が傾くと、平面鏡11から反射してくる
光束は、平行板13で入射角が変化し平行板l3内での
屈折角rが変化してr′となる。その結果、2 n t
  cosr−2 n t cosr’が検出器で取り
出されることができる。つまり、この実施例は、平面鏡
1lの倒れによって平行板l3内における光路差が変化
するのを検出するものである。
第3図に示す例は、平行板22、23を直列に配置して
用いたものである。この場合にも、第2図に示す例と同
様に、平面鏡21が傾いた場合に平行板23内における
光路差が変化するのを検出している。
なお、本発明は、上記の実施例に限定されるものではな
く、種々の変形が可能である。例えば上記の実施例では
、干渉計の移動鏡や平面鏡における倒れを検出するもの
として説明したが、干渉計に限らず他の平面鏡その他の
光を反射する物体の倒れを検出するのに利用してもよい
。また、検出した倒れ信号をフィードバックして倒れ修
正、あるいは制御に用いるようにしてもよいことはいう
までもない。さらには、倒れを検出、修正、制御する物
体に平面鏡等の反射体を取り付けるように構成してもよ
い。
〔発明の効果〕
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、2つ
の平行光束を照射しその反射光の光路差を検出すること
によって倒れを検出するので、簡単な構戒により反射体
の倒れを検出することができる。したがって、フーリエ
変換赤外分光光度計において、高度な機構を設けること
なく、移動鏡の倒れを修正することができ、干渉状態を
良好に保つことができる。また、光学的に差周波数を得
ているため、移動鏡の速度に無関係に移動鏡の倒れを検
出し、倒れ修正のコントロールを行うことができる。
【図面の簡単な説明】 第1図は本発明に係る反射体の倒れ制御方式の1実施例
を示す図、第2図及び第3図は本発明の他の実施例を説
明するための図である。 1・・・移動鏡、2・・・波形分割器、3・・・波形合
或器、4・・・検知器、5・・・等位相面、11、21
・・・平面鏡、12、13、22、23・・・平行板。 出 願 人  日本電子株式会社

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光反射体の倒れを検出し制御する反射体の倒れ制
    御方式であって、レーザ光を2つの平行光束に分割して
    反射体に照射する波形分割手段、反射体から反射した2
    つの平行光束を合成する波形合成手段を備え、波形合成
    手段により反射体の倒れを2つの平行光束の光路差によ
    り検出するように構成したことを特徴とする反射体の倒
    れ制御方式。
JP18857589A 1989-07-20 1989-07-20 反射体の倒れ制御方式 Pending JPH0353104A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18857589A JPH0353104A (ja) 1989-07-20 1989-07-20 反射体の倒れ制御方式

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18857589A JPH0353104A (ja) 1989-07-20 1989-07-20 反射体の倒れ制御方式

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0353104A true JPH0353104A (ja) 1991-03-07

Family

ID=16226082

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP18857589A Pending JPH0353104A (ja) 1989-07-20 1989-07-20 反射体の倒れ制御方式

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0353104A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8602317B2 (en) 2008-01-10 2013-12-10 Vossloh-Werke Gmbh Support for a system for fastening a rail and a system for fastening a rail

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8602317B2 (en) 2008-01-10 2013-12-10 Vossloh-Werke Gmbh Support for a system for fastening a rail and a system for fastening a rail

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100253496B1 (ko) 절대 거리를 위한 전기 광학적 측정기
US5159408A (en) Optical thickness profiler using synthetic wavelengths
US7675628B2 (en) Synchronous frequency-shift mechanism in Fizeau interferometer
US8345258B2 (en) Synchronous frequency-shift mechanism in fizeau interferometer
US5347327A (en) Process and apparatus for measuring axial eye length
JPS6117921A (ja) 実時間波頭解析修正装置
US5671047A (en) Laser beamsplitter for generating a plurality of parallel beams
JPH0287005A (ja) 光ヘテロダイン干渉表面形状測定装置
JP2001165616A (ja) レーザ測長装置及びレーザ測長方法
US5170217A (en) Object measuring apparatus using lightwave interference
JPH0339605A (ja) 光学式表面形状測定装置
JPH0353104A (ja) 反射体の倒れ制御方式
JPH059723B2 (ja)
JP2572111B2 (ja) レーザ干渉測定装置
US4852106A (en) Optical system for producing controlled beat frequency
US3419331A (en) Single and double beam interferometer means
Ryabukho et al. The effects of temporal and longitudinal spatial coherence in a disbalanced-arm interferometer
JP7468861B2 (ja) 位相差計測装置、ビーム出力装置および位相差計測方法
GB2245381A (en) Fourier spectrometer
JP2891715B2 (ja) 縞走査型干渉測定装置
JP2000018918A (ja) レーザ干渉式可動体の移動量検出装置
JPS59164926A (ja) 干渉分光計
JPS60165523A (ja) フ−リエ分光計用光学的ダブルビ−ム干渉計装置
JPS6488202A (en) Interferometer and light source apparatus therefor
SU662796A1 (ru) Устройство дл настройки сканирующего интерферометра