JPH0352248A - 搬送アーム - Google Patents

搬送アーム

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JPH0352248A
JPH0352248A JP1188535A JP18853589A JPH0352248A JP H0352248 A JPH0352248 A JP H0352248A JP 1188535 A JP1188535 A JP 1188535A JP 18853589 A JP18853589 A JP 18853589A JP H0352248 A JPH0352248 A JP H0352248A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
orientation flat
semiconductor wafer
rotating roller
chuck
Prior art date
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Pending
Application number
JP1188535A
Other languages
English (en)
Inventor
Mitsuru Ushijima
満 牛島
Michihiro Hashizume
橋爪 通弘
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SHIOYA SEISAKUSHO KK
Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
SHIOYA SEISAKUSHO KK
Tokyo Electron Ltd
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Publication date
Application filed by SHIOYA SEISAKUSHO KK, Tokyo Electron Ltd filed Critical SHIOYA SEISAKUSHO KK
Priority to JP1188535A priority Critical patent/JPH0352248A/ja
Publication of JPH0352248A publication Critical patent/JPH0352248A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、ウェハのオリテーションフラット(以下、オ
リフラとも略記する)を所定の向きに合せて搬送するこ
とができる搬送アームに関する。
(従来の技術及び 発明が解決しようとする課題) 例えば半導体ウェハの処理工程では、複数枚の半導体ウ
ェハをキャリア内に収納しておき、このキャリアから半
導体ウェハを1枚ずつ取出し、処理ステージに搬送する
ようにしているしこの際、処理ステージに半導体ウェハ
を載置するに際して、予め半導体ウェハのオリエンテー
ションフラットを一定の向きに合せておき、その後に処
理ステージ上での処理を行うものがある。
この種のオリフラ合せを行う装置としては、回転テーブ
ル上に半導体ウェハを載置し、その上方に例えばITV
カメラを設け、そのカメラのパターン認識結果に基づき
回転テーブルを駆動することによってオリフラ合せを行
うものがある。
しかしながら、このような装置ではITVカメラ及びパ
ターン認識結果に基づく回転制御系を有するので装置が
高価となるばかりか、搬送アームとは別個にこの種の装
置を配置しなければならないため装置が大型化となる問
題があった。
このため、搬送アームにオリフラ合せ機能を有するよう
に構成し、かつ、パターン認識などに頼らずに機械的に
オリフラ合せが実行できれば上記の問題点を解決できる
が、正確なオリフラ合せを実現できる搬送アームがいま
だ提供されていなかった。
そこで、本発明の目的とするところは、搬送アームにウ
ェハをハンドリングした状態にて、ウェハのオリフラ合
せを正確に実現できる搬送アームを提供することにある
[発明の構或] (課題を解決するための手段) 本発明は、オリエンテーションフラットを有するウェハ
を処理ステージに搬送する搬送アームにおいて、 ウェハを回転自在に支持する一対のチャック部と、 上記一対のチャック部を転回駆動し、ウェハを水平状態
.傾斜又は起立状態に設定する転回駆動部と、 上記一対のチャック部に支持されたウェハを傾斜又は起
立させた状態にて、ウェハの周側縁と接触してウェハを
回転駆動する回転ローラと、上記回転ローラを回転して
上記オリエンテーションフラットが回転ローラと対向す
る位置に設定された後に前進駆動され、上記オリエンテ
ーションフラットと接触して傾き補正を実施し、その後
に後退駆動される複数のピンとを有するものである。
(作 用) 一対のチャック部にてウェハを回転自在に支持した後、
転回駆動部の駆動よってウェハを傾斜または起立状態に
設定する。この結果、ウェハの周側縁はその自重により
回転ローラと接触する状態に設定される。その後、回転
ローラを駆動すると、ウェハの周側縁との摩擦接触によ
りウェハが一方向に従動回転されることになる。ここで
、ウェハのオリエンテーションフラット部は、円形のウ
ェハの外形線を直線状に切欠いたフラット形状となって
いるので、このオリエンテーションフラット部が回転ロ
ーラとほぼ対向する位置に設定されたところで、このオ
リエンテーションフラット部と回転ローラ′との接触が
解除されるか、あるいはその接触抵抗が十分低くなる。
この結果、ウェハの従動回転が停止されることになる。
上記の動作により、おおまかなオリフラ合せが実現でき
るが、この状態にあってはオリエンテーションフラット
部にいまだ傾きが残存する場合がある。
そこで、本発明ではウェハのオリフラが回転ローラと対
向する位置に設定された後に、複数のピンをこのオリフ
ラに向けて前進駆動している。この複数のピンの全てが
ウェハのオリフラと当接することによって、オリフラの
傾き補正が実現されることになる。
(実施例) 以下、本発明を半導体ウェハの洗浄装置に適用したー実
施例について、図面を参照して具体的に説明する。
この洗浄装置は、第1図に概略的に示すように、半導体
ウェハ10がスピンチャック12上に、例えばベルヌイ
チャク方式によって固定可能となっていて、このスピン
チャック12の回転により上記半導体ウェハ10を比較
的低速にて回転可能である。また、半導体ウェハ10の
洗浄時に、洗浄液が装置外部へ飛散することを防止する
ために、カップ14がウェハ10を覆うように形成され
ている。
半導体ウェハ10を洗浄するためのスクライピングブラ
シ22は、第2図に示すようにアーム16の一端側に固
着され、かつ、そのアーム16の他端側はスキャナ18
に支持されている。そして、このスキャナ18の駆動に
よりアーム16を介して上記スクライピングブラシ22
を、第1図・に示す揺動範囲にわたって揺動(公転駆動
)可能としている。すなわち、このスクライピングブラ
シ22を用いての洗浄時には、前記半導体ウエノ\10
がスピンチャック12の回転により回転駆動されため、
スクライピングブラシ22を第1図に示す揺動範囲Aに
わたって公転駆動させることで、半導体ウェハ10の全
表面にスクライピングブラシ22を当接させて洗浄する
ことが可能となる。
また、上記の洗浄効果をさらに高めるために、スクライ
ピングブラシ22を第1図の矢印C方向に自転駆動可能
としている。
さらに、上記スクライピングブラシ22を前記スキャナ
18の駆動により、第1図に示す揺動範囲Bにわたって
揺動させることができ、前記カップ14の外に位置する
退避位置まで退避可能としている。そして、この退避位
置にはブラシ洗浄用容器20が配設されている。
前記スピンチャック12に載置される半導体ウェハ10
は、一旦ウェハ受渡台24に載置され、このウェハ受渡
台24より搬送アーム30によってスピンチャック12
まで搬送されることになる。
次に、本実施例装置の特徴的構成である前記搬送アーム
30の詳細ついて説明する。
この搬送アーム30は、開閉自在な一対のチャック部3
2.32を有し、各チャック部32.32にはそれぞれ
ウェハ支持部34.34が形成され、このウェハ支持部
34.34にはテーパ溝34aが設けられている。そし
て、上記一対のチャック部32.32を閉鎖駆動するこ
とによって、半導体ウェハ10の周縁部が前記テーパ溝
34aに挿入されて支持されることになる。
尚、一対のチャック部32.32の開閉駆動部について
はその説明を省略する。
前記一対のチャック部32.32の基端側には、ガイド
軸36が固着されている。そして、このガイド軸36は
、コ字状に形成された支持アーム38の開口端側に、ベ
アリングを介して回転自在に支持されている。この支持
アーム38の下端には旋回駆動軸40が固着され、この
旋回駆動軸40はベースプレート42上に配置した軸受
体44に回転自在に支持されている。そして、この旋回
駆動軸40を駆動することによって、前記支持アーム3
8,ガイド軸36を介して前記一対のチャック部32.
32を第3図の矢印A方向に回転可能としている。
前記旋回駆動軸40は中空筒状に形威され、その中空部
を挿通して転回駆動軸46が配置されている。この転回
駆動軸46の上端側は、前記支持アーム38に設けられ
たベアリングに回転自在に支持され、さらにその上端に
は駆動傘歯車48が固着されている。一方、前記ガイド
軸36には、前記駆動傘歯車48と噛合する従動傘歯車
50が固着されている。従って、前記転回駆動軸46を
回転駆動することによって、この回転力は駆動傘歯車4
8,従動傘歯車50によってその回転軸方向が直交する
ように変換され、ガイド軸36を回転駆動することによ
って、一対のチャック部32.32を同図の矢印B方向
に転回可能とし、この一対のチャック部32.32に扶
持された半導体ウェハ10を水平状態,傾斜状態あるい
は起立状態に設定できるようにしている。
次に、前記搬送アーム30に設けられるオリフラ合せ機
構について、第3図を参照して説明する。
前記一対のチャック部32.32の中心位置には、半導
体ウェハ10の周側縁と接触してこれを回転駆動するた
めの回転ローラ52が配置されている。この回転ローラ
52は、半導体ウェハ10より遠ざかる方向に後退駆動
可能となっている。
このために、ローラ移動用シリンダ54が設けられ、こ
のシリンダ54のロッド54aに固着されたブラケット
56に前記ローラ52が回転自在に支持されている。一
方、回転ローラ52の回転駆動系として、同図(B)に
示すように前記ブラケット56にはローラ回転用モータ
58が固定され、そのモータ出力軸に前記回転ローラ5
2が固着されている。さらに、本実施例装置では、半導
体ウェハ10のオリフラ10aの傾き補正をするための
機構を備えている。すなわち、第3図(A)の矢視D方
向から見た同図(C)に示すように、前記回転ローラ5
2の両側には2本のピン60,60が設けられている。
このピン60.60はホルダ62にその一端側が固着さ
れ、このホルダ62はピン移動用シリンダ64のロッド
64aに固着されている。この結果、ピン移動用シリン
ダ64を駆動することによって、2本ピン60.60に
よって半導体ウェハ10が第3図(A)に示す上方に押
上げられるように移動され、この2本のピン60.60
にオリフラ10aが接触することによってオリフラ10
aの傾き補正が実施される。
次に、スピンチャック12の詳細について説明する。
本実施例のスピンチャック12は、ベルヌイチャック方
式を採用している。このため、半導体ウェハ10の周縁
側のみ支持する構成となっている。
,この半導体ウェハ10の周縁部を支持する支持ピンと
しては、半導体ウェハ10の円弧部分を支持する円弧部
支持ピン70とオリフラ部10aを支持するオリフラ支
持ピン72とがある。前記円弧部支持ピン70は、第4
図(A)に示すように、半導体ウェハ10の周縁部底面
と当接する水平な支持面70aと、ウェハ10の周側縁
に並行な垂直壁70bとからなり、この垂直壁70bの
高さは半導体ウェハ10の上面よりも突出する高さとな
っている。
一方、前記オリフラ支持ピン72としては、第4図(B
)または同図(C)のいずれかのものを採用できる。同
図(B)に示すものは、ウェハ10の周側縁と平行な垂
直壁72aのみで構成したものであり、この垂直壁72
aの上面高さはウェハ10の表面と面一となっている。
同図(C)に示すものは、上記の垂直壁72aに傾斜面
で構成された支持面72bを追加したものである。
ベルヌイチャックとして構成されるスピンチャック12
によるウェハ10の固定原理は、下記のとおりである。
すなわち、円弧部支持ピン70またはオリフラ支持ピン
72によってその周縁部のみが支持される半導体ウェハ
10は、チャック台74との間に空間部76が形威され
ることになる。
そして、このチャック台74の中央部より不活性ガス例
えばN2ガスを噴出させると、このN2ガスは半導体ウ
ェハ10の裏面,周側縁を辿ってその上面にまわり込ん
で流れることになる。そして、ベルヌイチャックの固定
原理としては、半導体ウェハ10の上面側にまわり込む
不活性ガスの圧力により、半導体ウェハ10を各支持ピ
ン70.72に押付けて固定することにある。また、こ
のガスの流れにより、半導体エハ10の裏面側を液密に
て支持できる効果もある。
この洗浄装置における洗浄工程は、ウェハ受渡台24上
にある半導体ウェハ10を、搬送アーム30に支持し、
これをスピンチャック12上に移送させて行うことにあ
る。そこで、まずウェハ受渡台24上にある半導体ウェ
ハ10を搬送アーム30に支持する。このために、旋回
駆動軸40の駆動により搬送アーム30をウェハ受渡台
24の位置まで旋回する。その後、転回駆動軸46を駆
動し、一対のチャック部32.32を水平状態に設定し
、さらにこの一対のチャック部32.32を閉鎖駆動し
て、テーバ溝34a内に半導体ウ工ハ10を支持する。
次に、この搬送アーム30にて半導体ウェハ10をハン
ドリングした状態で、オリフラ合せを実施する。このた
めに、転回駆動軸46を駆動し、一対のチャック部32
.32を第2図に示すような起立状態とし、半導体ウェ
ハ1oが垂直に起立された状態とする。この結果、一対
のチャック部32、32に支持されている半導体ウェハ
1oは、その自重により回転ローラ52の周面に接触す
ることになる。尚、回転ローラ52に接触させるために
は、半導体ウェハ10を必ずしも起立状態とするもので
なく、傾斜状態とするものであってもよい。
回転ローラ52を第6図(A)に示すように回転駆動す
ると、半導体ウェハ1oの周側縁は回転ローラ52の周
面と摩擦接触して同図の矢印方向に回転駆動されること
なる。そして、同図(B)に示すように、半導体ウェハ
10のオリフラ10aが回転ローラ52とほぼ対向する
位置に設定されると、このオリフラ10aは円形のウェ
ハ10の外形線を直線状に切欠いたフラット形状となっ
ているので、オリフラ10aと回転ローラ52との接触
が解除されることなる。この状態にて、回転ローラ52
の駆動が停止される。
第6図(B)に示す状態では、必ずしも同図の鎖線で示
すような正確なオリフラ合せができるとは限らず、同図
の実線で示すようにオリフラ10aにいまだ傾きが残存
する場合がある。
そこで、次のステップで、第6図(C)に示すように2
本のピン60.60を半導体ウエノ\10のオリフラ1
0aに向けて前進駆動する。そして、このオリフラ10
aが2本のピン60.60に当接することによって、オ
リフラの傾きがならし補正され、正確なオリフラ合せが
実現されることになる。この後、前記ピン60.60及
び回転ローラ52が退避駆動されることで、一対のチャ
ック部32.32に半導体ウェハ10がオリフラの向き
を一致させて支持されることなる。
この後は、旋回駆動軸40及び転回駆動軸46の駆動に
より、搬送アーム30をスピンチャック12の上方に設
定し、半導体ウェハ10をスピンチャック12に受渡す
ことになる。この際、搬送アーム30にて予め半導体ウ
ェハ10のオリフラ合せが実行されているので、チャッ
ク台74上の円弧部支持ピン70及びオリフラ支持ピン
72に半導体ウェハ10を確実に載置することが可能と
なる。
その後に、第5図に示すベルヌイチャックの原理により
半導体ウェハ10をスピンチャック12上に固定し、ス
ピンチャック12を回転駆動することで半導体ウェハ1
0を一方向に回転させる。
一方、アーム16が公転駆動されて、スクライピングブ
ラシ22を半導体ウェハ10の上方に設定し、アーム1
6の下降駆動によりスクライピングプラシ22を所定の
コンタクト圧力にて半導体ウェハ10に接触させる。そ
して、スクライピングプラシ22より洗浄液を吐出しな
がら、アームl6の揺動駆動及びスクライピングブラシ
22の自転駆動により、半導体ウェハ10の全表面の洗
浄を行うことになる。
尚、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本
発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能である。
このオリフラ合せ機能を有する搬送アーム30は、ウェ
ハの洗浄装置に適用されるものに限らず、ウェハの搬送
途中においてオリフラ合せを必要とする種々の装置に適
用可能である。
[発明の効果] 以上説明したように、ウェハを搬送アームにハンドリン
グした状態にて回転ローラを回転して、オリエンテーシ
ョンフラットのおおまかな位置合せを実行し、その後、
複数のピンの前進駆動によりオリエンテーションフラッ
トの傾き補正を実施しているので、搬送アームにてウェ
ハをハンドリングした状態にて、オリエンテーションフ
ラットの正確な位置合せを実施することとが可能となる
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明を洗浄装置の搬送アームに適用した実
施例の平面図、 第2図は、実施例装置の正面図、 第3図(A),(B).(C)は、搬送アームの概略説
明図、C−C断面図、矢視Dから見た複数のピンの概略
説明図、 第4図(A).(B),(C)は、それぞれチャック台
に設けられた支持ピンの概略説明図、第5図は、ベルヌ
イチャック方式の原理説明図、第6図(A),(B),
(C)は、それぞれオリフラ合せの動作説明図である。 10・・・ウェハ、 10a・・・オリエンテーションフラット、30・・・
搬送アーム、 32.32,・・・一対のチャック部、36,46,4
8.50・・・転回駆動部、60.60・・・複数のピ
ン。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)オリエンテーションフラットを有するウェハを処
    理ステージに搬送する搬送アームにおいて、ウェハを回
    転自在に支持する一対のチャック部と、 上記一対のチャック部を転回駆動し、ウェハを水平状態
    、傾斜又は起立状態に設定する転回駆動部と、 上記一対のチャック部に支持されたウェハを傾斜又は起
    立させた状態にて、ウェハの周側縁と接触してウェハを
    回転駆動する回転ローラと、上記回転ローラを回転して
    上記オリエンテーションフラットが回転ローラと対向す
    る位置に設定された後に前進駆動され、上記オリエンテ
    ーションフラットと接触して傾き補正を実施し、その後
    に後退駆動される複数のピンとを有することを特徴とす
    る搬送アーム。
JP1188535A 1989-07-20 1989-07-20 搬送アーム Pending JPH0352248A (ja)

Priority Applications (1)

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JP1188535A JPH0352248A (ja) 1989-07-20 1989-07-20 搬送アーム

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JP1188535A JPH0352248A (ja) 1989-07-20 1989-07-20 搬送アーム

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JPH0352248A true JPH0352248A (ja) 1991-03-06

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ID=16225405

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JP1188535A Pending JPH0352248A (ja) 1989-07-20 1989-07-20 搬送アーム

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1997045861A1 (en) * 1996-05-28 1997-12-04 Holtronic Technologies Ltd. Device for gripping and holding a substrate
US6652216B1 (en) 1998-05-05 2003-11-25 Recif, S.A. Method and device for changing a semiconductor wafer position
EP1498934A3 (en) * 1996-02-28 2005-12-21 Ebara Corporation Robotic wafer transport apparatus
JP2011228641A (ja) * 2010-03-29 2011-11-10 Tokyo Seimitsu Co Ltd ダイシング装置及びダイシング方法

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1498934A3 (en) * 1996-02-28 2005-12-21 Ebara Corporation Robotic wafer transport apparatus
WO1997045861A1 (en) * 1996-05-28 1997-12-04 Holtronic Technologies Ltd. Device for gripping and holding a substrate
US6652216B1 (en) 1998-05-05 2003-11-25 Recif, S.A. Method and device for changing a semiconductor wafer position
EP1365442A2 (fr) * 1998-05-05 2003-11-26 Recif S.A. Bras de préhension et d'orientation pour plaque de semi-conducteur
US7108476B2 (en) 1998-05-05 2006-09-19 Recif Technologies Sas Method and device for changing a semiconductor wafer position
EP1365442A3 (fr) * 1998-05-05 2008-07-30 Recif S.A. Bras de préhension et d'orientation pour plaque de semi-conducteur
JP2011228641A (ja) * 2010-03-29 2011-11-10 Tokyo Seimitsu Co Ltd ダイシング装置及びダイシング方法
JP2011254111A (ja) * 2010-03-29 2011-12-15 Tokyo Seimitsu Co Ltd ダイシング装置及びダイシング方法

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