JPH0351778A - Ｉｃのハンドリング装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はＩＣのハンドリング装置に関し、特にＩＣのハ
ンドリングに使用されるコンタクトソゲットの状態を正
常に保つことが出来るＩＣのハンドリング装置に関する
。

〔従来の技術〕

一般にＩＣのハンドリング装置では、ハンドリングに使
用するコンタクトソケットが劣化すると正常なハンドリ
ングが不能となり、製品歩留りに大きく影響する。この
ため、コンタクトソケットの良否を判断するための１つ
としてコンタクトソケットの接触抵抗を測定することが
行われる。従来、この測定は作業者が定期的にハンドリ
ング装置を操作して、全リードが短絡された専用のＩＣ
をハンドリング装置内部のコンタクトソケットにセット
することにより行っている。

また、従来、この種のハンドリング装置では、コンタク
トソケット部の清掃は、作業者が定期的にハンドリング
装置を操作して運転を中止し、コンタクトソケット部を
取り外し付着した半田屑の除去などを手作業により行な
い再度ハンドリング装置に装着してハンドリング装置の
運転を再開していた。

〔発明が解決しようとする課題〕

上述した従来のハンドリング装置では、作業者が手作業
で接触抵抗の測定を行うため、測定工数がかかるという
問題がある。また、測定時間や測定間隔を作業者の判断
により決定しているため、測定時期判断を適切に設定す
ることが難しい。更に、測定に際しては全リードを短絡
したＩＣが必要であり、このＩＣを管理することも面倒
である。

また、従来のハンドリング装置は、コンタクトソケット
部の清掃が作業者により行なわれる為工数が増大し、又
適切な清掃時期や清掃間隔が得られにくい。又コンタク
トソケットを取り外し再度装着する為に、ハンドリング
装置の停止時間が長くなってしまうなどの欠点があった
。

本発明は上述した問題を解消して、自動的にコンタクト
ソケットの状態を正常に保つことができるハンドリング
装置を提供することを目的としている。

〔課題を解決するための手段〕

本発明のＩＣのハンドリング装置は、フンタクトソケッ
トに嵌合してそのリードを短絡する測定ブロック部と、
測定ブロック部の邪魔にならないように通常位置から退
避される搬送レール部と、フンタクトソケットのリード
の接触抵抗を測定する測定部と、コンタクトソケットの
測定が異常のときに警告を発生する警告発生部と、コン
タクトソケットの測定条件を予め設定する設定入力部と
、ＩＣのハンドリング動作を制御するとともに、ノ１ン
ドリング個数や時間の情報を出力するハンドリング本体
制御部と、前記設定入力部からの設定信号とハンドリン
グ本体制御部からのハンドリング情報信号に基づいて前
記測定ブロック部、搬送レール部及び測定部を制御し、
かつ測定部の測定結果信号に基づいてコンタクトソケッ
トの良否を判定し、前記警告発生部及びハンドリング本
体制御部に夫々所定の信号を出力する制御部とを備えて
いる。

また、本発明のＩＣのハンドリング装置は、被測定ＩＣ
が挿入されるコンタクトソケット部に挿入される全ピン
ショートされたクリーニングブレツクと、前記クリーニ
ングブロックのピン及び前記コンタクトソケット部のピ
ンを清掃するクリーニング・ノズルとを有し、前記コン
タクトソケット部を自動的、定期的にクリーニングする
機能を有することを特徴とする。

〔作用〕

上述した構成では、設定入力部に予め設定された条件に
基づいて、制御部が測定ブロック部、搬送レール部、測
定部を動作させてコンタクトソケットの測定を行い、か
つこの測定結果に基づいて警告を発生し、或いはハンド
リング装置の動作を停止させ、これにより不良コンタク
トソケットによるＩＣハンドリングを自動的に防止する
。

また、ハンドリング装置内部のコンタクトソケット部付
近にコンタクトソケットのクリーニングを行なう機構を
設け、予め設定された条件に基づいてコンタクトソケッ
ト部のクリーニングを行ない、これにより不良コンタク
トソケットによるＩＣハンドリングを自動的に防止する
。

〔実施例〕

次に、本発明を図面を参照して説明する。

第１図は本発明の第１の発明の一実施例のハンドリング
装置の全体構成を示すブロック図である。

図において、１は制御部であり、測定ブロック部２、警
告発生部３．搬送レール部４及びテスター５を制御する
。また、この制御部ｌには設定六方部６．タイマ一部７
から信号が入力され、がっハンドリング装置本体制御部
８との間で信号を送受するようになっている。

測定ブロック部２は、測定ブロック２１．駆動アクチュ
エータ２２及び駆動ドライバ２３を有している。測定ブ
ロック２１は測定されるコンタクトソケッ）Ａのリード
が接触される端子を有し、この端子は表面に金めつきを
施してその表面抵抗を極めて小さくした上で各端子を短
絡させている。

駆動アクチュエータ２２は駆動ドライバ２３によって制
御され、この駆動ドライバ２３が制御部１から測定駆動
信号ａを受けたときに、測定ブロック２１を駆動して測
定されるコンタクトソケッ）Ａに嵌合させるように動作
する。

警告発生部３は、警告発生器３１と駆動ドライバ３２を
有し、制御部１から警告信号すを受けたときに警告発生
器３１から警告を発生させる。

搬送レール部４は、搬送レール４１．駆動アクチュエー
タ４２及び駆動ドライバ４３を有している。搬送レール
４１はハンドリングされる図外のＩＣを搬送するもので
あり、その一部は前記測定ブロック２１に対応する箇所
で分割形成され、測定ブロック２１がコンタクトソケッ
トＡに嵌合する際に邪魔にならないように退避できるよ
うにしている。駆動アクチュエータ４２は駆動ドライバ
４３によって制御され、前記制御器１からレール駆動信
号Ｃを受けたときに、搬送レール４１の分割された部分
を前記測定ブロック２１の前方位置から移動退避させる
。

テスター５はハンドリング装置とは別体に設けられてお
り、前記測定ブロック部２の測定ブロック２１に嵌合さ
れたコンタクトソケットＡに電気的に接触し、ＤＣ測定
機能によって測定ブロック２１で短絡された各リードの
接触抵抗を測定する。

この測定は前記制御部１からの測定開始要求信号ｄを受
けて実行し、測定結果信号ｅを制御部１に出力する。

設定入力部６には測定時期や測定間隔等の条件が設定さ
れ、この設定信号ｆを前記制御部１に出力する。測定時
期は、例えばハンドリング装置本体における通常の選別
作業において不良が何個連続して発生した時にコンタク
トソケットの測定を行うかを設定する。また、測定間隔
は、例えば設定した測定個数や測定時間を経過する毎に
測定を行うようにする。

タイマ一部７からは、上述した時間を測定するための基
準となる時間信号ｇが制御部１に出力さｈる。

ハンドリング装置本体制御部８は、ハンドリングしたＩ
Ｃの個数や、その不良品の個数等のハンドリング情報信
号りを前記制御部１に出力し、逆に制御部１からは作業
停止又は作業続行の作業信号ｉが入力される。

したがって、この構成ではハンドリング装置本体におい
て所定の数２時間のＩＣハンドリングが進行され、その
信号りが制御部１に入力されると、制御部１では設定入
力部６からの設定信号ｆとタイマー７の時間信号ｇを比
較し、設定条件を満たした時点で測定駆動信号ａとレー
ル駆動信号Ｃを出力する。これにより、搬送レール４１
はその一部が退避され、測定ブロック２１は前方に移動
され、ＩＣに代えてコンタクトソケットＡに嵌合される
。

これと同時にテスター５には制御部１から測定開始要求
信号ｄが入力され、テスター５はコンタクトソケッ）Ａ
における接触抵抗を測定する。そして、その測定結果信
号ｅを制御部１に出力する。

制御部１ではこの結果に基づき、測定結果が正常の場合
には各部を元の状態に戻し、ハンドリング本体制御部８
に対して作業を続行するように作業信号ｉを出力する。

これにより、再び通常のハンドリングが再開される。

一方、測定結果が異常の場合には、制御部１は警告信号
すを出力して警告発生器３１から警告を発生し、作業者
に異常を告知する。同時に作業停止の作業信号ｉをハン
ドリング本体制御部８に出力し、以後のハンドリングを
停止させる。

これにより、設定した条件に基づいて自動的にしかも適
切なコンタクトソケットの測定が実現でき、コンタクト
ソケットの劣化によるハンドリング不良を未然に防止で
きる。また、ここでは測定ブロックにコンタクトソケッ
トのリードの短絡機能を持たせているため、リードが短
絡されたＩＣを用意する必要もない。

第２図は本発明の第１の発明の他の実施例のブロック図
であり、第１図と同一部分には同一符号を付し、詳細な
説明は省略する。

この実施例では、第１図の実施例のテスターに代えて、
接触抵抗を測定するためのＤＣ電源供給部と電圧降下分
を検出して接触抵抗を測定及び判定する接触抵抗判定部
５Ａを設け、これをハンドリング装置内に配設している
。

したがって、ハンドリング装置自信に接触抵抗を測定及
び判定する機能を保有することになり、テスターを別体
に設ける必要はない。このため、テスターとの間に特別
な信号授受の取り決めを設定する必要がなく、テスター
の選別プルグラムを一時的に停止させる必要もない等の
利点がある。

第３図は本発明の第２の発明の一実施例のブロック図で
ある。本実施例は、被測定ＩＣが挿入されるコンタクト
ソケットＡのクリーニングを行なうコンタクトソケット
クリーニングブロック６１及びクリーニングノズル５１
．コンタクトソケットクリーニングブロック駆動ドライ
バ６３及びアクチュエータ６２．クリーニングノズル駆
動ドライバー５３及び電磁弁５２．可動する搬送レール
４１．搬送レール駆動ドライバー４３及びアクチュエー
タ４２．設定入力部６及びタイマー部７．及びこれら各
部の信号等の入出力・制御を行なう制御部１を有する構
造となっている。

設定入力部６に設定されたクリーニング時期（例えば通
常の選別作業においてコンタクトソケットの不具合によ
る不良が何個連続発生した時点でコンタクトソケットの
クリーニングを行すう）、クリーニング間隔（例えば測
定数又は時間）が設定入力部設定値信号ｆとして制御部
１に入力される。一方、ハンドラー本体制御部からは作
業数・不良品数信号りがタイマ一部７からは時間信号ｇ
が制御部１に入力され制御部１内で演算の結果設定され
たクリーニング実施時期に達した時、ハンドラー本体制
御部８に通常作業中止信号ｉを出力し、搬送レール駆動
ドライバー４３に搬送レール駆動信号Ｃを出力し、搬送
レール駆動アクチュエータ４２を駆動させ搬送レール４
１を移動させる。

次に、コンタクトソケットクリーニングブロック駆動ド
ライバー６３及びクリーニングノズル駆動ドライバー５
３にコンタクトソケットクリーニングブロック駆動信号
ｊ及びクリーニングノズル駆動信号ｋを出力し、コンタ
クトソケットクリーニングブロック駆動アクチュエータ
６２及びクリーニングノズル駆動電磁弁５２を適切に駆
動させる事により、コンタクトソケットＡにコンタクト
ソケットクリーニングブロック６１を挿入・抜去させ、
この時の擦り取りの動作によりコンタクトソケッ）Ａ内
の接触子に付着した半田屑等の不純物を除去し、同時に
クリーニングノズル５１がらの圧縮空気の空気圧により
不純物の除去の補助・再付着の防止などを行なう。この
りＩＪ−ニングノズル５１はフンタクトソケットクリー
ニングブロック６１がコンタクトソケットＡに挿入され
ていない状態においても圧縮空気を噴出出来る構造をし
ている為、コンタクトソケットクリーニングブロック６
１に付着した半田屑等の不純物をも除去し、再挿入の際
の不純物のコンタクトソケットＡへの再付着を防止しそ
の機能を維持させる事が出来る。上記一連のクリーニン
グ動作を一定サイクル実施後、制御部１は各部の状態を
元に戻しハンドラー本体制御部８に対して通常作業再開
信号りを出力しハンドラーは先に中止された通常の選別
動作を実行する。

第２図は本発明の第２の発明の他の実施例のブロック図
である。上述の該−実施例においてコンタクトソケット
のクリーニングを実施する時期の設定を、コンタクトソ
ケットの不具合による不良が何個連続発生したか、ある
いは測定個数又は時間等のパラメーターにしていた。一
方、本実施例ではコンタクトソケッ）Ａの接触抵抗を測
定する為の全ピンショートされたブロック２１を該−実
施例で述べたコンタクトソケットクリーニングブロック
６１と兼用させる事により、又ハンドラー内部に接触抵
抗を測定する為のＤＣ電源供給部及び電圧降下分を検出
する事により接触抵抗の増大を測定及び判定出来る接触
抵抗判定部５Ａを有する。これにより、コンタクトソケ
ットＡのクリーニング実施例のタイミングを事前にすな
わち、実際の測定を行なり前にコンタクトソケットの接
触抵抗増大等の不具合等を発見した時点とする事が出来
、クリーニング実施の時期を最適に出来るという利点が
ある。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明は、設定入力部に予め設定さ
れた条件に基づいて、制御部が測定ブロック部、搬送レ
ール部、測定部を動作させてコンタクトソケットの測定
を行い、かつこの測定結果に基づいて警告を発生し、或
いはハンドリング装置の動作を停止させるので、自動的
にしかも適切なコンタクトソケットの測定が実現でき、
コンタクトソケットの劣化によるハンドリング不良を未
然に防止できる。また、測定ブロックはコンタクトソケ
ットのリードの短絡機能を有しているため、リードが短
絡されたＩＣを用意する必要がないという効果もある。

また、本発明は、ハンドラー内部にコンタクトソケット
部に自動的、定期的にクリーニングを実施する機能を有
する為、コンタクトソケットへの特に高温測定時の半田
屑の付着等による、測定の信頼性の低下を防ぐ事が出来
、又コンタクトソケットの交換、清掃といった工数が節
約される、ハンドラーの停止時間が短くなるという効果
がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１の発明の一実施例の全体構成を示
すブロック図、第２図は本発明の第１の発明の他の実施
例の全体構成を示すブロック図、第３図は本発明の第２
の発明の一実施例の全体構成を示すブロック図、第４図
は本発明の第２の発明の他の実施例の全体構成を示すブ
ロック図である。 １・・・・・・制御部、２・・・・・・測定ブロック部
、３・・・・・・警告発生部、４・・・・・・搬送レー
ル部、５・・・・・・テスター　５Ａ・・・・・・接触
抵抗測定部、６・・・・・・設定入力部、７・・・・・
・タイマ一部、訃・・・・・ハンドリング本体制御部、
２１・・・・・・測定ブロック、２２・・・・・・駆動
アクチュエータ、２３・・・・・・駆動ドライバ、３１
・・・・・・警告発生器、３２・・・・・・駆動ドライ
バ　４１・・・・・・搬送レール、４２・・・・・・駆
動アクチュエータ、４３・・・・・・駆動ドライバ、５
１・・・・・・クリーニングノズル、５２・・・・・・
駆動電磁弁、５３・・・・・・駆動ドライバ、６エ・・
・・・・クリーニングブロック、６２・・・・・・駆動
アクチュエータ、６３・・・・・・駆動ドライバ、Ａ・
・・・・・コンタクトソケット。 第１父

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）ＩＣのハンドリングに使用するコンタクトソケッ
   トに嵌合して該コンタクトソケットのリードを短絡する
   測定ブロック部と、ＩＣを搬送するとともに前記測定ブ
   ロック部がコンタクトソケットと嵌合する際に通常位置
   から退避される搬送レール部と、測定ブロック部に嵌合
   されたコンタクトソケットのリードの接触抵抗を測定す
   る測定部と、コンタクトソケットの測定が異常のときに
   警告を発生する警告発生部と、コンタクトソケットの測
   定条件を予め設定する設定入力部と、ＩＣのハンドリン
   グ動作を制御するとともに、ハンドリング個数や時間の
   情報を出力するハンドリング本体制御部と、前記設定入
   力部からの設定信号とハンドリング本体制御部からのハ
   ンドリング情報信号に基づいて前記測定ブロック部、搬
   送レール部及び測定部を制御し、かつ測定部の測定結果
   信号に基づいてコンタクトソケットの良否を判定し、前
   記警告発生部及びハンドリング本体制御部に夫々所定の
   信号を出力する制御部とを備えることを特徴とするＩＣ
   のハンドリング装置。
2. （２）被測定ＩＣが挿入されるコンタクトソケット部に
   挿入される全ピンショートされたクリーニングブロック
   と、前記クリーニングブロックのピン及び前記コンタク
   トソケット部のピンを清掃するクリーニング・ノズルと
   を有し、前記コンタクトソケット部を自動的、定期的に
   クリーニングする機能を有することを特徴とするＩＣの
   ハンドリング装置。