JPH0350454B2 - - Google Patents

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JPH0350454B2
JPH0350454B2 JP60285165A JP28516585A JPH0350454B2 JP H0350454 B2 JPH0350454 B2 JP H0350454B2 JP 60285165 A JP60285165 A JP 60285165A JP 28516585 A JP28516585 A JP 28516585A JP H0350454 B2 JPH0350454 B2 JP H0350454B2
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JP
Japan
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circuit
decoder
signals
signal
predecode
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JP60285165A
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Michihiro Yamada
Hiroshi Myamoto
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Priority to US06/941,214 priority patent/US4724341A/en
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Publication of JPH0350454B2 publication Critical patent/JPH0350454B2/ja
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/51Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
    • H03K17/56Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices
    • H03K17/687Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being field-effect transistors
    • H03K17/693Switching arrangements with several input- or output-terminals, e.g. multiplexers, distributors

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  • Compression, Expansion, Code Conversion, And Decoders (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、デコーダ回路に関し、特にNチヤ
ネルMOSトランジスタ(以下、NMOSトランジ
スタと称す)とPチヤネルMOSトランジスタ
(以下、PMOSトランジスタと称す)の両方を用
いたCMOSトランジスタを有する半導体メモリ
のデコーダ回路に関する。
〔従来の技術〕
この発明は、CMOSトランジスタを用いて構
成されるMOSダイナミツクRAMに最もよく適用
できるので、これによつて説明する。
MOSダイナミツクRAMの大容量化に伴い、高
速性、低消費電力の観点からCMOS回路の適用
が広く行なわれつつある。一方、CMOS回路に
はラツチアツプという問題点があり、容易に
NMOSトランジスタとPMOSトランジスタとを
隣接してパターンレイアウトできないという欠点
を有している。
さて、一般的にMOSダイナミツクRAMにおい
ては、メモリセルを2次元的に並べたメモリセル
アレイを選択するためのデコーダ回路は必ず使用
するものであり、一例としてA0からA5までの6
本のアドレス信号を使つて64個(26=64)のうち
の1個を選択するデコーダ回路(1of64デコーダ
回路)を構成することを考える。第3図は1of64
デコーダ回路を構成する基本論理を示す図であ
る。図において、6入力NAND回路1には、ア
ドレス信号のA0,A1,A2,A3,A4,A5が入力
されている。インバータ2はNAND回路1の出
力を反転させるためのものでその出力はデコーダ
出力Y0を形成している。このように、NAND回
路1とインバータ2とにより1つのデコーダ部3
が構成される。同様に、デコーダ部3′はNAND
回路1′とインバータ2′とにより構成される。
NAND回路1′にはアドレス信号の0(A0を反転
したものを0と記す)、A1,A2,A3,A4,A5
入力される。以下、順序良く6入力NAND回路
にアドレス信号A0,A1,A2,A3,A4,A5およ
びこれらの反転信号である0123
45のいずれかを入力することによつて個々
のデコーダ部が構成され、最後のデコーダ部3″
はアドレス信号012345が入
力される6入力NAND回路1″とインバータ2″
とから構成される。
第3図に示す1of64デコーダ回路の基本論理か
ら明らかなように、6入力NAND回路1に入力
されるアドレス信号がすべて“H”レベルのとき
のみ出力Y0は“H”となり選択された状態にな
る。逆に、6入力NAND回路1に入力されるア
ドレス信号のうち1つでも“L”であれば出力
Y0は“L”となり、非選択の状態となる。した
がつて、アドレス信号A0〜A5の26=64通りの組
合わせに対して、ただ1個のデコーダ部のみを選
択状態にし、残りの63個のデコーダ部を非選択状
態にすることができる。これがデコーダ回路の基
本動作である。
第4図は第3図に示す1つのデコーダ部3を単
純にCMOS回路によつて構成したもので、6入
力NAND回路1は6個の並列に接続された
PMOSトランジスタと6個の直列に接続された
NMOSトランジスタとから構成されている。イ
ンバータ2はロードトランジスタとして動作する
PMOSトランジスタとドライバトランジスタと
して動作するNMOSトランジスタとから構成さ
れている。これらの構成法はいずれもよく知られ
たもので、その詳しい動作説明は省略する。
ところで、MOSダイナミツクRAMにおいて使
われるデコーダ回路のピツチを決めている要因
は、メモリセルを構成するワード線のピツチであ
り、MOSダイナミツクRAMの大容量化に伴つて
ワード線のピツチはますます小さくなつている。
たとえば、1MビツトMOSダイナミツクRAMの
場合、ワード線のピツチは4μm程度である。も
し、第4図に示すようなCMOS回路で第3図に
示す1of64デコーダ回路を構成するならば、4μm
ピツチで第3図に示すデコーダ部3をパターンレ
イアウトする必要がある。そのため、NMOSト
ランジスタとPMOSトランジスタとを隣接して
パターンレイアウトせざるを得ない状態となり、
ラツチアツプを起こしやすい欠点を有することに
なる。したがつて、デコーダ回路のピツチを広げ
ることはラツチアツプを防止する点から極めて重
要なこととなる。
第5図は、デコーダ回路のピツチを広げるため
に従来から使われているCMOS回路によるデコ
ーダ回路である。なお、この第5図の場合も
1of64デコーダ回路を示している。図において、
1つのデコーダ部はメインデコーダ部Aと4つの
サブデコーダ部B1〜B4からなつている。4入力
NAND回路4には、アドレス信号のA0,A1
A2,A3が入力されている。そして、4入力
NAND回路4がメインデコーダ部Aを構成して
いる。PMOSトランジスタT1はそのドレインに
プリデコード信号P0が与えられ、そのソースが
出力Y0を導出する出力端に接続され、そのゲー
トが4入力NAND回路4の出力ノードN1に接
続されている。NMOSトランジスタT1′はそのド
レインが出力Y0を導出する出力端に接続され、
そのソースが接地され、そのゲートがノードN1
に接続されている。そして、PMOSトランジス
タT1とNMOSトランジスタT1′とでサブデコーダ
部B1を構成している。同様の接続方式で、プリ
デコード信号P1に対してサブデコーダ部B2が対
応して形成され、プリデコード信号P2に対して
サブデコーダ部B3が対応して形成され、プリデ
コード信号P3に対してサブデコーダ部B4が対応
して形成されている。なお、第5図に示すような
デコーダ部は、16組設けられ、Y0からY63までの
64個のデコード出力を得ている。但し、各組のデ
コーダ部のメインデコーダ部Aにはそれぞれ異な
る組合わせのアドレス信号が入力されている。
第6図は第5図に示すデコーダ回路で使用され
る4つのプリデコード信号P0〜P3の発生回路を
示している。図示のごとく、プリデコード信号
P0〜P3はアドレス信号A4とA5をデコードした形
になつている。
以上のように構成されたデコーダ回路において
は、確かに第3図に示されたデコーダ回路のピツ
チに比べて4倍のピツチで第5図に示す1つのデ
コーダ部をパターンレイアウトすることができ、
NMOSトランジスタとPMOSトランジスタとの
隣接度合は緩和されている。しかし、1Mビツト
MOSダイナミツクRAMの場合には、それでも
16μm(4μm×4倍)ピツチで第5図に示された
1つのデコーダ部をパターンレイアウトしなけれ
ばならず、この値はラツチアツプの観点から十分
とは言えない。さらに4Mビツト以上の大容量化
に対しては第5図に示したデコーダ回路は対処で
きないという欠点を有している。
第7図は、さらにデコーダ回路のピツチを広げ
るために第5図に示す従来のデコーダ回路をもと
に、プリデコード信号を4本から16本に増やして
デコーダ回路を構成した例であり、基本的動作は
第5図の従来装置と全く同様である。ただ、16本
のプリデコード信号P0〜P15を使用し、それらを
発生させる回路に第8図に示すものを使用する点
が異なつているだけである。第8図に示すプリデ
コード信号P0〜P15の発生回路は、アドレス信号
A2,A3,A5,A5をデコードした形になつてい
る。
第7図のように構成されたデコーダ回路におい
ては、第3図に示されたデコーダ回路のピツチに
比べて16倍のピツチで1つのデコーダ部をパター
ンレイアウトすることができ、1MビツトMOSダ
イナミツクRAMの場合でも64μm(4μm×16倍)
ピツチであるので、ラツチアツプの観点から十分
なマージンのあるものとなる。しかしながら、16
本のプリデコード信号を配線する面積および16本
のプリデコード信号を発生させる回路の面積の増
大はパターンレイアウトの観点から無視できない
大きさとなつてくる。さらに、2入力NAND回
路4(第7図参照)の出力ノードN1に接続され
る16個のNMOSトランジスタT1,T2,…T16
16個のPMOSトランジスタT1′,T2′,…T16′のゲ
ート容量による負荷容量の増大はデコーダ回路の
高速化を阻害するものとなる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
以上説明したごとく、従来のデコーダ回路で
は、1つのデコーダ部のパターンレイアウトのピ
ツチを広げようとすると、プリデコード信号の本
数が増大して回路面積の増大を招くとともに、負
荷容量の増大によつて回路の高速化を阻害すると
いう問題点があつた。
この発明は、上記のような問題点を解消するた
めになされたもので、デコーダ回路のピツチを広
げることを可能にすると同時に、プリデコード信
号の本数を最小にできるデコーダ回路を提供する
ことを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明に係るデコーダ回路は、CMOS回路
により構成され、iビツトの選択信号をデコード
して2i個のデコード信号を出力する。iビツトの
選択信号はjビツトの第1グループの選択信号と
kビツトの第2グループの選択信号と、lビツト
の第3グループの選択信号とに区分されている
(i=j+k+l)。さらに、この発明に係るデコ
ーダ回路は、第1および第2のプリデコード手段
と、デコード手段とを備えている。第1のプリデ
コード手段は、kビツトの第2グループの選択信
号をデコードして2k個の第1のプリデコード信号
を発生する。第2のプリデコード手段は、lビツ
トの第3グループの選択信号をデコードして2l
の第2のプリデコード信号を発生する。デコード
手段は、jビツトの第1グループの選択信号と第
1および第2のプリデコード信号とに基づいて、
2i個のデコード信号を出力する。デコード手段
は、第1および第2の中間デコード信号発生手段
と、最終デコード信号発生手段とを含む。第1の
中間デコード信号発生手段は、jビツトの第1グ
ループの選択信号に基づいて、2j個の第1の中間
デコード信号を発生する。第2の中間デコード信
号発生手段は、2j個の第1の中間デコード信号お
よび2k個の第1のプリデコード信号に基づいて、
2j×2k=2j+k個の第2の中間デコード信号を発生
する。最終デコード信号発生手段は、2j+k個の第
2の中間デコード信号および2l個の第2のプリデ
コード信号に基づいて、2j+k×2l=2i個の最終デコ
ード信号を発生する。
〔作用〕
この発明においては、デコード手段が3つの階
層、すなわち第1の中間デコード信号発生手段と
第2の中間デコード信号発生手段と最終デコード
信号発生手段とに階層化されており、それぞれの
階層において段階的に選択信号のデコードが実行
される。すなわち、第1の中間デコード信号発生
手段は、第1グループの選択信号に基づいて、第
1の中間デコード信号を発生する。第2の中間デ
コード信号発生手段は、第1の中間デコード信号
および第1のプリデコード信号に基づいて、第2
の中間デコード信号を発生する。最終デコード信
号発生手段は、第2の中間デコード信号および第
2のプリデコード信号に基づいて、最終デコード
信号を発生する。このようにこの発明では、デコ
ード手段が従来のデコーダ回路に比べてより階層
化されていることにより、プリデコード信号の本
数を最小に保ちつつデコーダ回路の回路面積の低
減を図つている。
〔実施例〕
第1図はこの発明の一実施例であるCMOS回
路によるデコーダ回路を示す図である。なお、こ
の第1図の実施例は、1of64デコーダ回路として
構成されている。図において、1つのデコーダ部
はメインデコーダ部Cと4つのサブデコーダ部
D1〜D4とから構成されている(なお、第1図で
はサブデコーダ部D2およびD3については省略し
ている。)2入力NAND回路4には、アドレス信
号のA0,A1が入力されている。そして、2入力
NAND回路4がメインデコーダ部Cを構成して
いる。PMOSトランジスタT1は、そのドレイン
にプリデコード信号P0が与えられ、そのソース
がノードN2に接続され、そのゲートが2入力
NAND回路4の出力ノードN1に接続されてい
る。NMOSトランジスタT1′は、そのドレインが
ノードN2に接続され、そのソースが接地され、
そのゲートがノードN1に接続されている。
PMOSトランジスタT10は、そのドレインがノー
ドN2に接続され、そのソースがデコード出力
Y0を導出する出力端に接続され、そのゲートに
プリデコード信号Q0が与えられている。PMOS
トランジスタT11は、そのドレインがノードN2
に接続され、そのソースがデコード出力Y1を導
出する出力端に接続され、そのゲートにプリデコ
ード信号Q1が与えられている。PMOSトランジ
スタT12は、そのドレインがノードN2に接続さ
れ、そのソースがデコード出力Y2を導出する出
力端に接続され、そのゲートにプリデコード信号
Q2が与えられている。PMOSトランジスタT13
は、そのドレインがノードN2に接続され、その
ソースがデコード出力Y3を導出する出力端に接
続され、そのゲートにプリデコード信号Q3が与
えられている。そして、PMOSトランジスタT1
と、NMOSトランジスタT1′と、PMOSトランジ
スタT10と、PMOSトランジスタT11と、PMOS
トランジスタT12と、PMOSトランジスタT13
でサブデコーダ部D1を構成している。
同様の接続方式で、プリデコード信号P1に対
してサブデコーダ部D2(第1図では省略)が対
応して形成され、プリデコード信号P2に対して
サブデコーダ部D3(第1図では省略)が対応し
て形成され、プリデコード信号P3に対してサブ
デコーダ部D4が対応して形成されている。
第2A図および第2B図は、それぞれ、第1図
に示すデコーダ回路で使用される4つのプリデコ
ード信号P0〜P3の発生回路、および他の4つの
プリデコード信号Q0〜Q3の発生回路を示してい
る。プリデコード信号P0〜P3はアドレス信号A4
とA5をデコードした形になつており、2入力
NAND回路とインバータ回路とで構成(したが
つて、論理的にはAND回路で構成)されている。
一方、他の4つのプリデコード信号Q0〜Q3はア
ドレス信号A2とA3をデコーダした形になつてい
るが、2入力NAND回路だけで構成されている。
なお、第1図は1つのデコーダ部のみを示して
いるが、同様のデコーダ部が後3個設けられて全
体で1of64デコーダ回路を構成している。ただし、
各デコーダ部に入力されるアドレス信号はその組
み合せが異ならされていることは勿論である。
次に、上記実施例の動作を説明する。今、簡単
のためにアドレス信号A0,A1,A2,A3,A4
A5がすべて“H”であつたとする。2入力
NAND回路4は入力されるアドレス信号がA0
A1なので出力ノードN1は“L”となり、
NMOSトランジスタT1′,T2′,T3′,T4′は
(T2′とT3′は第1図では省略している)オフし、
PMOSトランジスタT1,T2,T3,T4が(T2
T3は第1図では省略している)オンする。一方、
第2A図のプリデコード信号の発生回路図からわ
かるように、プリデコード信号P0のみ“H”と
なり、プリデコード信号P1〜P3は“L”となる。
したがつて、プリデコード信号P0に接続されて
いるサブデコーダ部D1のノードN2のみが“H”
となつて活性化され、他のサブデコーダ部D2,
D3,D4のノードN3,N4,N5(N3,N
4は第1図に示されていない)は“L”のままで
活性化されない。
次に、第2B図からわかるように、プリデコー
ド信号Q0〜Q3のうちQ0のみが“L”となり、
Q1,Q2,Q3は“H”となる。したがつて、
PMOSトランジスタT10のみがオンして出力Y0
みが“H”となり、PMOSトランジスタT11
PMOSトランジスタT12、PMOSトランジスタ
T13がオフのままなので出力Y1,Y2,Y3はいず
れも“L”となる。
このように、アドレス信号A0とA1によつてま
ずメインデコーダ部を選択し、次にプリデコード
信号P0〜P3によつてサブデコーダ部D1〜D4のう
ちの1つを選択し、さらにプリデコード信号Q0
〜Q3によつてPMOSトランジスタT10,T11
T12,T13のうちの1つを選択してデコーダ回路
としての機能を果たすようになつている。
ここで、第1図の実施例によるデコーダ回路と
第7図に示す従来のデコーダ回路を比較すること
によつて、この発明の特徴は一層明らかとなる。
まず、上記実施例のデコーダ回路のピツチは、第
3図に示されたデコーダ回路のピツチに比べて16
倍になり、1MビツトMOSダイナミツクRAMの
場合でも64μm(4μm×16倍)のピツチでパター
ンレイアウトをすることができ、ラツチアツプの
観点から十分マージンのあるものとなる。次に、
プリデコード信号の本数もP0〜P3とQ0〜Q3の合
計8本であり、第7図の場合と比較して1/2で済
んでいる。さらに、プリデコード信号を発生させ
る回路は2入力NAND回路なので、第7図の場
合の4入力NAND回路に比較して少ない面積で
パターンレイアウトをすることが可能となる。ま
た、2入力NAND回路4の出力ノードN1に接
続されるのは、第1図の実施例の場合4個の
NMOSトランジスタと4個のPMOSトランジス
タであり、第7図の場合の1/4の負荷容量で済み、
デコーダ回路の高速化にも有利な構成となつてい
る。
ところで、上記実施例では、NAND回路によ
るデコーダ回路の場合について述べたが、NOR
回路によるデコーダ回路の場合についてもこの発
明を適用できることは言うまでもない。
〔発明の効果〕
以上のように、この発明によれば、プリデコー
ド信号の本数を最小に保ちながらデコーダ回路の
ピツチを広げることができる。したがつて、デコ
ーダ回路の高速化を犠牲にすることなくラツチア
ツプに強いCMOS回路によるデコーダ回路を得
ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例のCMOS回路に
よるデコーダ回路を示す図である。第2A図およ
び第2B図は第1図に示すデコーダ回路で使用さ
れるプリデコード信号を発生させるための回路を
示す図である。第3図は従来の1of64デコーダ回
路の基本論理構成を示す図である。第4図は第3
図に示す1つのデコーダ部をCMOS回路によつ
て構成した場合の回路図である。第5図は
CMOS回路による従来のデコーダ回路の他の例
を示す図である。第6図は第5図に示すデコーダ
回路で使用されるプリデコード信号を発生させる
ための回路図である。第7図はCMOS回路によ
る従来のデコーダ回路のさらに他の例を示す図で
ある。第8図は第7図に示すデコーダ回路で使用
されるプリデコード信号を発生させるための回路
を示す図である。 図において、Cはメインデコーダ部、D1〜D
4はサブデコーダ部、4はNAND回路、P0〜P3
はプリデコード信号、Q0〜Q3はプリデコード信
号、T1はPMOSトランジスタ、T1′はNMOSトラ
ンジスタ、T10,T11,T12,T13はPMOSトラン
ジスタを示す。なお、各図中同一符号は同一また
は相当部分を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 CMOS回路により構成され、iビツトの選
    択信号をデコードして2i個のデコード信号を出力
    するデコーダ回路であつて、 前記iビツトの選択信号は、jビツトの第1グ
    ループの選択信号と、kビツトの第2グループの
    選択信号と、lビツトの第3グループの選択信号
    とに区分されており(i=j+k+l)、 前記kビツトの第2グループの選択信号をデコ
    ードして2k個の第1のプリデコード信号を発生す
    る第1のプリデコード手段、 前記lビツトの第3グループの選択信号をデコ
    ードして2l個の第2のプリデコード信号を発生す
    る第2のプリデコード手段、および 前記jビツトの第1グループの選択信号と前記
    第1および第2のプリデコード信号とに基づい
    て、前記2i個のデコード信号を出力するデコード
    手段を備え、 前記デコード手段は、 前記jビツトの第1グループの選択信号に基づ
    いて、2j個の第1の中間デコード信号を発生する
    第1の中間デコード信号発生手段と、 前記第1の中間デコード信号および前記第1の
    プリデコード信号に基づいて、2j×2k(=2j+k)個
    の第2の中間デコード信号を発生する中間デコー
    ド信号発生手段と、 前記第2の中間デコード信号および前記第2の
    プリデコード信号に基づいて、2j+k×2l(=2i)個
    の最終デコード信号を発生する最終デコード信号
    発生手段とを含む、デコーダ回路。
JP60285165A 1985-12-18 1985-12-18 デコ−ダ回路 Granted JPS62143525A (ja)

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JPS62143525A JPS62143525A (ja) 1987-06-26
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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01198120A (ja) * 1988-02-02 1989-08-09 Fujitsu Ltd デコーダ回路
US5157283A (en) * 1988-12-23 1992-10-20 Samsung Electronics Co., Ltd. Tree decoder having two bit partitioning
US4972144A (en) * 1989-11-28 1990-11-20 Motorola, Inc. Testable multiple channel decoder
US5387827A (en) * 1990-01-20 1995-02-07 Hitachi, Ltd. Semiconductor integrated circuit having logic gates
US5175547A (en) * 1992-01-31 1992-12-29 Motorola, Inc. Method and apparatus for testing an analog to digital converter
US5185607A (en) * 1992-01-31 1993-02-09 Motorola, Inc. Method and apparatus for testing an analog to digital converter
US5719818A (en) * 1996-04-18 1998-02-17 Waferscale Integration Inc. Row decoder having triple transistor word line drivers
US6055203A (en) * 1997-11-19 2000-04-25 Waferscale Integration Row decoder
US6693453B1 (en) * 2002-04-23 2004-02-17 Macronix International Co., Ltd. Re-programmable logic array

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61144790A (ja) * 1984-12-18 1986-07-02 Sharp Corp アドレスデコ−ダ回路

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