JPH0349095A - 半導体記憶装置 - Google Patents
半導体記憶装置Info
- Publication number
- JPH0349095A JPH0349095A JP1185455A JP18545589A JPH0349095A JP H0349095 A JPH0349095 A JP H0349095A JP 1185455 A JP1185455 A JP 1185455A JP 18545589 A JP18545589 A JP 18545589A JP H0349095 A JPH0349095 A JP H0349095A
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- Japan
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- memory
- retention operation
- memory retention
- bit
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 14
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 claims description 82
- 230000002401 inhibitory effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 claims description 2
- 210000000352 storage cell Anatomy 0.000 abstract description 7
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 23
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000033228 biological regulation Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は記憶保持動作が必要な半導体記憶装置に関し、
特に、記憶保持動作のための消費電流を低減した半導体
記憶装置に関する。
特に、記憶保持動作のための消費電流を低減した半導体
記憶装置に関する。
従来の記憶保持動作が必要な半導体記憶装置の記憶保持
動作回路構成の主要部分の一例を第3図のプロ、り図に
示す。
動作回路構成の主要部分の一例を第3図のプロ、り図に
示す。
記憶保持動作要求信号10はデコード手段100により
配憶保持動作アドレス信号20(=1〜n)に対応して
記憶セル群1〜nのうちのいずhかに対するアドレス毎
記憶保持動作要求信号、例えば、l1mを発生させて記
憶セル11を含む記憶セル群1に対して記憶保持動作が
実施される。
配憶保持動作アドレス信号20(=1〜n)に対応して
記憶セル群1〜nのうちのいずhかに対するアドレス毎
記憶保持動作要求信号、例えば、l1mを発生させて記
憶セル11を含む記憶セル群1に対して記憶保持動作が
実施される。
上述の記憶保持動作は、各記憶保持動作アドレス毎に、
一定周期毎に実施される。すなわち、記憶保持動作周期
は半導体記憶装置の全ての記憶セルが記憶保持可能であ
るように最悪の記憶セルの記憶保持能力にあわせて一定
に規定されている。
一定周期毎に実施される。すなわち、記憶保持動作周期
は半導体記憶装置の全ての記憶セルが記憶保持可能であ
るように最悪の記憶セルの記憶保持能力にあわせて一定
に規定されている。
従来の半導体記憶装置は、記憶保持動作のための消費電
流が大きいという欠点があった。
流が大きいという欠点があった。
本発明の半導体記憶装置は、記憶保持動作が必要な半導
体記憶装置において、全ての記憶保持動作アドレスに1
=1に対応するマスクビット登録手段と、全ての記憶保
持動作アドレスにl:1に対応する状態ビット登録手段
と、記憶保持動作要求を禁止するゲート手段とを有し、
前記マスクビット登録手段には、各記憶保持動作アドレ
ス毎に、該記憶保持動作の対象となる記憶セル群の全て
の記憶セルが規定の2倍の記憶保持動作周期でも記憶保
持可能な記憶保持動作アドレスに対応したビットに対し
てマスクビットなセットシておき、前記状態ビット登録
手段は、記憶保持動作毎に、該記憶保持動作アドレスに
対応するビットの内容を反転し、前記ゲート手段は、前
記マスクビット登録手段および前記状態ビット登録手段
からそれぞれ全ての記憶保持動作アドレスに1:1に対
応するマスクビット信号および状態ビット信号を受けて
、各記憶保持動作アドレス毎に、該マスクビットおよび
該状態ビットが両方ともセットされている場合には該記
憶保持動作アドレスに対する記憶保持動作要求を禁止し
、規定の2倍以上の記憶保持能力をもつ記憶セル群を対
象とする記憶保持動作アドレスについては記憶保持動作
周期を規定の2倍にして実施されるように構成される。
体記憶装置において、全ての記憶保持動作アドレスに1
=1に対応するマスクビット登録手段と、全ての記憶保
持動作アドレスにl:1に対応する状態ビット登録手段
と、記憶保持動作要求を禁止するゲート手段とを有し、
前記マスクビット登録手段には、各記憶保持動作アドレ
ス毎に、該記憶保持動作の対象となる記憶セル群の全て
の記憶セルが規定の2倍の記憶保持動作周期でも記憶保
持可能な記憶保持動作アドレスに対応したビットに対し
てマスクビットなセットシておき、前記状態ビット登録
手段は、記憶保持動作毎に、該記憶保持動作アドレスに
対応するビットの内容を反転し、前記ゲート手段は、前
記マスクビット登録手段および前記状態ビット登録手段
からそれぞれ全ての記憶保持動作アドレスに1:1に対
応するマスクビット信号および状態ビット信号を受けて
、各記憶保持動作アドレス毎に、該マスクビットおよび
該状態ビットが両方ともセットされている場合には該記
憶保持動作アドレスに対する記憶保持動作要求を禁止し
、規定の2倍以上の記憶保持能力をもつ記憶セル群を対
象とする記憶保持動作アドレスについては記憶保持動作
周期を規定の2倍にして実施されるように構成される。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は、本発明の半導体記憶装置の一実施例を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
記憶保持動作要求信号10はデコード手段100により
記憶保持動作アドレス信号20.(=1〜n)に対応し
て記憶セル群1〜nのうちのいずれかに対するアドレス
毎記憶保持動作要求償号11aを発生させ、状態ビット
登録手段200およびゲート手段400のそれぞhの記
憶保持動作アドレス信号20(=1〜n)に対応、すな
わち記憶セル群1〜nのうちのいずれかに対応するビッ
ト位置に出力する。
記憶保持動作アドレス信号20.(=1〜n)に対応し
て記憶セル群1〜nのうちのいずれかに対するアドレス
毎記憶保持動作要求償号11aを発生させ、状態ビット
登録手段200およびゲート手段400のそれぞhの記
憶保持動作アドレス信号20(=1〜n)に対応、すな
わち記憶セル群1〜nのうちのいずれかに対応するビッ
ト位置に出力する。
該状態ビット登録手段200は各ビット毎のアドレス毎
記憶保持動作要求信号11aの入力毎にビットの内容を
反転して状態ビット信号21aを発生させ、ゲート手段
400の記憶保持動作アドレス信号20(=1−n)に
対応、すなわち記憶セル群1〜nのうちのいずれかに対
応するビット位置に出力する。
記憶保持動作要求信号11aの入力毎にビットの内容を
反転して状態ビット信号21aを発生させ、ゲート手段
400の記憶保持動作アドレス信号20(=1−n)に
対応、すなわち記憶セル群1〜nのうちのいずれかに対
応するビット位置に出力する。
一方、マスクビット登録手段300には、あらかじめ、
各記憶保持動作アドレス信号2o(=1〜n)毎、すな
わち該記憶保持動作の対象となる各記憶セル群1〜n毎
に、各々、該記憶セル群の全ての記憶セルが規定の2倍
の記憶保持動作周期でも記憶保持可能な場合には該記憶
保持動作アドレス信号20(=1〜n)に対応、すなわ
ち該記憶セル群1〜nに対応するビット位置に対してマ
スクビットをセットシておき、マスクビット信号31a
として、ゲート手段400の記憶保持動作アドレス信号
20(=1〜n)に対応、すなわち記憶セル群1〜nの
うちのいずれかに対応するビット位置に出力する。
各記憶保持動作アドレス信号2o(=1〜n)毎、すな
わち該記憶保持動作の対象となる各記憶セル群1〜n毎
に、各々、該記憶セル群の全ての記憶セルが規定の2倍
の記憶保持動作周期でも記憶保持可能な場合には該記憶
保持動作アドレス信号20(=1〜n)に対応、すなわ
ち該記憶セル群1〜nに対応するビット位置に対してマ
スクビットをセットシておき、マスクビット信号31a
として、ゲート手段400の記憶保持動作アドレス信号
20(=1〜n)に対応、すなわち記憶セル群1〜nの
うちのいずれかに対応するビット位置に出力する。
そして、該ゲート手段400は、それぞれ記憶保持動作
アドレス信号20(=1〜n)に対応、すなわち記憶セ
ル群l〜nのうちのいずれかに対応するビット毎に入力
される状態ビット信号21aおよびマスクビット信号3
1&が両方ともセットされている場合にはアドレス毎記
憶保持動作要求信号11aの伝達を禁止するようにして
、規定の2倍以上の記憶保持能力をもつ記憶セル群な対
象とする記憶保持動作アドレスについては記憶保持動作
周期を規定の2倍にして実施されるようにしたアドレス
毎記憶保持動作要求信号11bを前記記憶保持動作アド
レス信号20(=1〜n)に対応する記憶セル群1〜n
のうちのいずれか、例えば、記憶保持動作アドレス信号
20が1の場合には記憶セル群1に対して出力して記憶
保持動作を実施する。
アドレス信号20(=1〜n)に対応、すなわち記憶セ
ル群l〜nのうちのいずれかに対応するビット毎に入力
される状態ビット信号21aおよびマスクビット信号3
1&が両方ともセットされている場合にはアドレス毎記
憶保持動作要求信号11aの伝達を禁止するようにして
、規定の2倍以上の記憶保持能力をもつ記憶セル群な対
象とする記憶保持動作アドレスについては記憶保持動作
周期を規定の2倍にして実施されるようにしたアドレス
毎記憶保持動作要求信号11bを前記記憶保持動作アド
レス信号20(=1〜n)に対応する記憶セル群1〜n
のうちのいずれか、例えば、記憶保持動作アドレス信号
20が1の場合には記憶セル群1に対して出力して記憶
保持動作を実施する。
第2図は、第1図に示した本発明の半導体記憶装置の一
実施例における記憶保持動作回路構成の記憶保持動作要
求を禁止するゲート手段の一実施例を示す回路図であり
、第1図に示したゲート手段400のうちの各ビットの
一例として、記憶保持動作アドレス信号20が1″、す
なわち記憶セル群1に対応する1ビット分のゲート手段
401を示す。
実施例における記憶保持動作回路構成の記憶保持動作要
求を禁止するゲート手段の一実施例を示す回路図であり
、第1図に示したゲート手段400のうちの各ビットの
一例として、記憶保持動作アドレス信号20が1″、す
なわち記憶セル群1に対応する1ビット分のゲート手段
401を示す。
状態ビット信号21aおよびマスクビット信号31aが
入力さhたNANDゲート4工1は記憶保持動作許可信
号41aを発生しANDゲート421に出力し、アドレ
ス毎記憶保持動作要求信号11aおよび記憶保持動作許
可信号41aが入力されたANDゲート421はアドレ
ス毎記憶保持動作要求信号11bを発生し記憶セル群1
に出力する。
入力さhたNANDゲート4工1は記憶保持動作許可信
号41aを発生しANDゲート421に出力し、アドレ
ス毎記憶保持動作要求信号11aおよび記憶保持動作許
可信号41aが入力されたANDゲート421はアドレ
ス毎記憶保持動作要求信号11bを発生し記憶セル群1
に出力する。
すなわち、NANDゲート411は状態ビット信号21
aおよびマスクビット信号31aがセットされている場
合にはアドレス毎記憶保持動作要求信号11aがAND
ゲート421を介して伝達するのを禁止するように記憶
保持動作要求信号41aをリセットし、該記憶保持動作
許可信号41aのリセットによりANDゲート421は
アドレス毎記憶保持動作要求信号11bが記憶セル群1
に出力されるのを禁止する。
aおよびマスクビット信号31aがセットされている場
合にはアドレス毎記憶保持動作要求信号11aがAND
ゲート421を介して伝達するのを禁止するように記憶
保持動作要求信号41aをリセットし、該記憶保持動作
許可信号41aのリセットによりANDゲート421は
アドレス毎記憶保持動作要求信号11bが記憶セル群1
に出力されるのを禁止する。
以上説明したように本発明は、記憶保持動作が必要な半
導体記憶装置において、従来の規定の2倍以上の記憶保
持能力をもつほとんどの記憶セルに対しては不要な記憶
保持動作を省くように選択的に記憶保持動作周期を上述
の規定の2倍にすることにより、全体的には記憶保持動
作の回数を半分近くまでに低減できるために、平均的に
は記憶保持動作のための消費電流を半分近くまでに低減
した半導体記憶装置を提供することができるという効果
がある。
導体記憶装置において、従来の規定の2倍以上の記憶保
持能力をもつほとんどの記憶セルに対しては不要な記憶
保持動作を省くように選択的に記憶保持動作周期を上述
の規定の2倍にすることにより、全体的には記憶保持動
作の回数を半分近くまでに低減できるために、平均的に
は記憶保持動作のための消費電流を半分近くまでに低減
した半導体記憶装置を提供することができるという効果
がある。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
第1図に示したゲート手段詳細を示す回路図、第3図は
従来の一例を示すブロック図である。 100・・・・・・デフード手段、200・・・・・・
状態ビット登録手段、300・・・・・・マスクビット
登録手段、400.401・・・・・・ゲート手段、1
0・・・・・・記憶保持動作要求信号、20・・・・・
・記憶保持動作アドレス信号、lla、llb・・・・
・・アドレス毎記憶保持動作要求信号、21a・・・・
・・状態ビット信号、31a・・・・・・マスクビット
信号、41a・・・・・・記憶保持動作許可信号、11
1・・・・・・記憶セル、411・・・・・・NAND
ゲート、421・・・・・・ANDゲート。
第1図に示したゲート手段詳細を示す回路図、第3図は
従来の一例を示すブロック図である。 100・・・・・・デフード手段、200・・・・・・
状態ビット登録手段、300・・・・・・マスクビット
登録手段、400.401・・・・・・ゲート手段、1
0・・・・・・記憶保持動作要求信号、20・・・・・
・記憶保持動作アドレス信号、lla、llb・・・・
・・アドレス毎記憶保持動作要求信号、21a・・・・
・・状態ビット信号、31a・・・・・・マスクビット
信号、41a・・・・・・記憶保持動作許可信号、11
1・・・・・・記憶セル、411・・・・・・NAND
ゲート、421・・・・・・ANDゲート。
Claims (1)
- 記憶保持動作が必要な半導体記憶装置において、全ての
記憶保持動作アドレスに1:1に対応するマスクビット
登録手段と、全ての記憶保持動作アドレスに1:1に対
応する状態ビット登録手段と、記憶保持動作要求を禁止
するゲート手段とを有し、前記マスクビット登録手段に
は各記憶保持動作アドレス毎に該記憶保持動作の対象と
なる記憶セル群の全ての記憶セルが規定の2倍の記憶保
持動作周期でも記憶保持可能な記憶保持動作アドレスに
対応したビットに対してマスクビットをセットしておき
、前記状態ビット登録手段は記憶保持動作毎に該記憶保
持動作アドレスに対応するビットの内容を反転し、前記
ゲート手段は前記マスクビット登録手段および前記状態
ビット登録手段からそれぞれ全ての記憶保持動作アドレ
スに1:1に対応するマスクビット信号および状態ビッ
ト信号を受けて各記憶保持動作アドレス毎に該マスクビ
ットおよび該状態ビットが両方ともセットされている場
合には該記憶保持動作アドレスに対する記憶保持動作要
求を禁止し、規定の2倍以上の記憶保持能力をもつ記憶
セル群を対象とする記憶保持動作アドレスについては記
憶保持動作周期を規定の2倍にして実施されるように構
成される半導体記憶装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1185455A JPH0828116B2 (ja) | 1989-07-17 | 1989-07-17 | 半導体記憶装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1185455A JPH0828116B2 (ja) | 1989-07-17 | 1989-07-17 | 半導体記憶装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0349095A true JPH0349095A (ja) | 1991-03-01 |
JPH0828116B2 JPH0828116B2 (ja) | 1996-03-21 |
Family
ID=16171094
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1185455A Expired - Lifetime JPH0828116B2 (ja) | 1989-07-17 | 1989-07-17 | 半導体記憶装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0828116B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03250489A (ja) * | 1990-02-27 | 1991-11-08 | Nec Corp | 半導体記憶装置および方法 |
JPH0689571A (ja) * | 1992-07-22 | 1994-03-29 | Nec Corp | ダイナミック型メモリ装置 |
-
1989
- 1989-07-17 JP JP1185455A patent/JPH0828116B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03250489A (ja) * | 1990-02-27 | 1991-11-08 | Nec Corp | 半導体記憶装置および方法 |
JPH0689571A (ja) * | 1992-07-22 | 1994-03-29 | Nec Corp | ダイナミック型メモリ装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0828116B2 (ja) | 1996-03-21 |
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