JP2586168B2 - 半導体記憶装置および方法 - Google Patents

半導体記憶装置および方法

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JP2586168B2
JP2586168B2 JP2047680A JP4768090A JP2586168B2 JP 2586168 B2 JP2586168 B2 JP 2586168B2 JP 2047680 A JP2047680 A JP 2047680A JP 4768090 A JP4768090 A JP 4768090A JP 2586168 B2 JP2586168 B2 JP 2586168B2
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文彦 坂本
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体記憶装置および方法、特に、記憶保持
動作のための消費電流を低減した半導体記憶装置および
方法に関する。
〔従来の技術〕
第3図は従来の一例を示すブロック図である。
記憶保持動作要求信号10はデコード手段100により記
憶保持動作アドレス信号20(=1〜n)に対応して記憶
セル群1〜nのうちのいづれかに対するアドレス毎記憶
保持動作要求信号、例えば、11aを発生させて記憶セル1
11を含む記憶セル群1に対して記憶保持動作が実施され
る。
上述の記憶保持動作は、各記憶保持動作アドレス毎
に、一定周期毎に実施される。すなわち、記憶保持動作
周期は半導体記憶装置の全ての記憶セルが記憶保持可能
であるように最悪の記憶セルの記憶保持能力にあわせて
一定に規定されている。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、ほとんどの記憶セルは上述の規定の記
憶保持動作周期を充分上回る記憶保持能力をもつ。した
がって、従来の記憶方法はこれらの充分な記憶保持能力
をもつほとんどの記憶セルに対しては必要以上の記憶保
持動作を行なっているので消費電流が増大するという欠
点があった。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の半導体記憶方法は、全ての記憶保持動作アド
レスに1:1に対応するマスクビット登録手段と、全ての
記憶保持動作アドレスに1:1に対応する記憶保持動作要
求計数手段と、記憶保持動作要求を禁止するゲート手段
とを有する記憶保持動作が必要な半導体記憶方法におい
て、前記マスクビット登録手段には、各記憶保持動作ア
ドレス毎に、該記憶保持動作の対象となる記憶セル群の
全ての記憶セルが規定のm倍の記憶保持動作周期でも記
憶保持可能な記憶保持動作アドレスに対応したビットに
対してマスクビットをセットしておき、前記記憶保持動
作要求計数手段は、記憶保持動作要求毎に、該記憶保持
動作アドレスに対応する計数値をインクリメントして計
数値がm以上になる時はリセットし、前記ゲート手段
は、前記マスクビット登録手段および前記記憶保持動作
要求計数手段からそれぞれ全ての記憶保持動作アドレス
に1:1に対応するマスクビッド信号および記憶保持動作
要求計数値信号を受けて、各記憶保持動作アドレス毎
に、該マスクビットおよび該記憶保持動作要求計数値信
号が両方ともセットされている場合には該記憶保持動作
アドレスに対する記憶保持動作要求を禁止し、規定のm
倍以上の記憶保持能力をもつ記憶セル群を対象とする記
憶保持動作アドレスについては記憶保持動作周期を規定
のm倍にして実施されるように構成される。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
記憶保持動作要求信号10はデコード手段100により記
憶保持動作アドレス信号20(=1〜n)に対応して記憶
セル群1〜nのうちのいづれかに対するアドレス毎記憶
保持動作要求信号、例えば11aを発生させ、記憶保持動
作要求計数手段200およびゲート手段400のそれぞれの記
憶保持動作アドレス信号20(=1〜n)に対応、すなわ
ち記憶セル群1〜nのうちのいづれかに対応するビット
位置に出力する。
記憶保持動作要求計数手段200は各ビット毎のアドレ
ス毎記憶保持動作要求信号、例えば11aの入力毎に計数
値をインクリメントし、計数値がm以上になる時はリセ
ットして記憶保持動作要求計数値信号、例えば、21aを
発生させ、ゲート手段400の記憶保持動作アドレス信号2
0(=1〜n)に対応、すなわち記憶セル群1〜nのう
ちのいづれかに対応するビット位置に出力する。
一方、マスクビット登録手段300には、あらかじめ、
各記憶保持動作アドレス信号20(=1〜n)毎、すなわ
ち記憶保持動作の対象となる各記憶セル群1〜n毎に、
各々、該記憶セル群の全ての記憶セルが規定のm倍の記
憶保持動作周期でも記憶保持可能な場合には記憶保持動
作アドレス信号20(=1〜n)に対応、すなわち記憶セ
ル群1〜nに対応するビット位置に対いてマスクビット
をセットしておき、マスクビット信号、例えば、31aと
して、ゲート手段400の記憶保持動作アドレス信号20
(=1〜n)に対応、すなわち記憶セル群1〜nのうち
のいづれかに対応するビット位置に出力する。
そして、ゲート手段400は、それぞれ記憶保持動作ア
ドレス信号20(=1〜n)に対応、すなわち記憶セル群
1〜nのうちのいづれかに対応するビット毎に入力され
る記憶保持動作要求計数信号、例えば、21aおよび前記
マスクビット信号、例えば、31aが両方ともセットされ
ている場合にはアドレス毎記憶保持動作要求信号、例え
ば、11aの伝達を禁止するようにして、規定のm倍以上
の記憶保持能力をもつ記憶セル群を対象とする記憶保持
動作アドレスについては記憶保持動作周期を規定のm倍
にして実施されるようにしたアドレス毎記憶保持動作要
求信号、例えば、11bを記憶保持動作アドレス信号20
(=1〜n)に対応する記憶セル群1〜nのうちのいづ
れか、例えば、記憶保持動作アドレス信号20が1の場合
には記憶セル群1に対して出力して記憶保持動作を実施
する。
第2図は、第1図に示した記憶保持動作要求を禁止す
るゲート手段の詳細を示す回路図であり、第1図に示し
たゲート手段400のうちの一例として、記憶保持動作ア
ドレス信号20が1、すなわち記憶セル群1に対応する1
ビット分のゲート手段401を示す。
記憶保持動作要求計数値信号21aおよびマスクビット
信号31aが入力されたNANDゲート411は記憶保持動作許可
信号41aを発生しANDゲート421に出力し、アドレス毎記
憶保持動作要求信号11aおよび記憶保持動作許可信号41a
が入力されたANDゲート421はアドレス毎記憶保持動作要
求信号11bを発生し記憶セル群1に出力する。
すなわち、NANDゲート411は記憶保持動作要求値信号2
1aおよびマスクビット信号31aがセットされている場合
にはアドレス毎記憶動作要求信号11aがANDゲート421を
介して伝達するのを禁止するように記憶保持動作許可信
号41aをリセットし、記憶保持動作許可信号41aのリセッ
トによりANDゲート421はアドレス毎記憶保持動作要求信
号11bが記憶セル群1に出力されるのを禁止する。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、従来の規定のm倍以上
の記憶保持能力をもつほとんどの記憶セルに対しては不
要な記憶保持動作を省くように選択的に記憶保持動作周
期を上述の規定のm倍にすることにより、全体的には記
憶保持動作の回数を1/m近くにまで低減できるために、
平均的には記憶保持動作のための消費電流を1/m近くに
まで低減することができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
第1図に示した記憶保持動作要求を禁止するゲート手段
の詳細を示す回路図、第3図は従来の一例を示すブロッ
ク図である。 100……デコード手段、200……記憶保持動作要求計数手
段、300……マスクビット登録手段、400,401……ゲート
手段、10……記憶保持動作要求信号、20……記憶保持動
作アドレス信号、11a,11b……アドレス毎記憶保持動作
要求信号、21a……記憶保持動作要求計数値信号、31a…
…マスクビット信号、41a……記憶保持動作許可信号、1
11……記憶セル、411……NANDゲート、421……ANDゲー
ト。

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】全ての記憶保持動作アドレスに1:1に対応
    するマスクビット登録手段と、全ての記憶保持動作アド
    レスに1:1に対応する記憶保持動作要求計数手段と、記
    憶保持動作要求を禁止するゲート手段とを有する記憶保
    持動作が必要な半導体記憶方法において、前記マスクビ
    ット登録手段には、各記憶保持動作アドレス毎に、該記
    憶保持動作の対象となる記憶セル群の全ての記憶セルが
    規定のm倍(m>2)の記憶保持動作周期でも記憶保持
    可能な記憶保持動作アドレスに対応したビットに対して
    マスクビットをセットしておき、前記記憶保持動作要求
    計数手段は、記憶保持動作要求毎に、該記憶保持動作ア
    ドレスに対応する計数値をインクリメントして、該計数
    値がm(m>2)以上になる時は該計数値をリセット
    し、前記ゲート手段は、前記マスクビット登録手段およ
    び前記記憶保持動作要求計数手段からそれぞれ全ての記
    憶保持動作アドレスに1:1に対応するマスクビット信号
    および記憶保持動作要求計数値信号を受けて、各記憶保
    持動作アドレス毎に該マスクビットおよび記憶保持動作
    要求計数値信号が両方ともセットされている場合には該
    記憶保持動作アドレスに対する記憶保持動作要求を禁止
    し、規定のm(m>2)倍以上の記憶保持能力をもつ記
    憶セル群を対象とする記憶保持動作アドレスについては
    記憶保持動作周期を規定のm(m>2)倍にして実施さ
    れることを特徴とする半導体記憶方法。
  2. 【請求項2】全ての記憶保持動作アドレスに1:1に対応
    するマスクビット登録手段と全ての記憶保持動作アドレ
    スに1:1に対応する記憶保持動作要求計数手段と記憶保
    持動作要求を禁止するゲート手段とを有する記憶保持動
    作が必要な半導体記憶装置において、 各記憶保持動作アドレス毎に、各記憶保持動作の対象と
    なる記憶セル群の全ての記憶セルが、規定のm倍(m>
    2)の記憶保持動作周期でも記憶保持動作可能な記憶保
    持動作アドレスに対応したビットに対してマスクビット
    をセットしておくマスクビット登録手段と、 記憶保持動作要求毎に、該記憶保持動作アドレスに対応
    する計数値をインクリメントして、該計数値がm(m>
    2)以上になるときは該計数値をリセットする記憶保持
    動作要求計数手段と、 前記マスクビット登録手段および前記記憶保持動作要求
    計数手段から、それぞれ全ての記憶保持動作アドレスに
    1:1に対応するマスクビット信号および記憶保持動作要
    求計数値信号を受けて、各記憶保持動作アドレス毎に該
    マスクビット信号および記憶保持動作要求計数値信号が
    両方ともセットされている場合には、該記憶保持動作ア
    ドレスに対する記憶保持動作要求を禁止し、規定のm倍
    (m>2)以上の記憶保持能力をもつ記憶セル群を対象
    とする記憶保持動作アドレスについては記憶保持動作周
    期を規定のm倍(m>2)にして実施するゲート手段と
    を含むことを特徴とする半導体記憶装置。
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