JPH0348759A - 蛍光x線分析装置 - Google Patents

蛍光x線分析装置

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JPH0348759A
JPH0348759A JP18672889A JP18672889A JPH0348759A JP H0348759 A JPH0348759 A JP H0348759A JP 18672889 A JP18672889 A JP 18672889A JP 18672889 A JP18672889 A JP 18672889A JP H0348759 A JPH0348759 A JP H0348759A
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JP
Japan
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oil
sample
pump
less
fluorescent
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Pending
Application number
JP18672889A
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English (en)
Inventor
Masaki Saito
正樹 齋藤
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は蛍光X線分析装置に関し、特に真空系の構造に
関する。
〔従来の技術〕
従来、蛍光X線分析装置の真空系はオイルポンプやオイ
ル系シール部を有していた。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来の蛍光Xm分析装置においては、真空系は
オイルポンプやオイル系シール部を使用していたので、
試料の分析中にオイルバックが生じ、試料にオイルが付
着し分析の障害になるはかりか、試料を劣化させてしま
うという欠点がある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の蛍光X線分析装置は、真空系をオイルレスポン
プおよびオイルレスシール部で構成したものである。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。第1図
は本発明の一実施例の模式断面図である。
試料室5の下部にはX線管3と検出器4とが設けられて
おり、試料ホルダー2に保持された試料1にX線を照射
し蛍光X線が測定されるように構成されている。そして
この試料室5にはオイルレスポンプロがオイルレスシー
ル部を用いた排気管7により接続されている。以下動作
について説明する。
試料1を試料ホルダー2へ乗せ、試料室5へ入れた後、
オイルレスポンプロにより試料室5内の雰囲気は排気管
7を通して廃棄される。適当な真空度に試料室5が達し
たらX線管3により試料1へX線が照射され、試料から
発生した蛍光X線は検出器4により検出される。
このように構成された本実施例では、ポンプにオイルレ
スポンプロをそして排気管7にオイルレスシール部を使
用しているため、従来のように真空系からのオイルが試
料に付着することはなくなる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、蛍光X線分析装置の真空
系にオイルレスポンプ及びオイルレスシール部を使用す
ることにより、試料室へのオイルバックを無くすことが
できるため、分析精度を向上させ試料の経時変化を無く
すことができる。
る。
1・・・試料、2・・・試料ホルダー、3・・・X線管
、4・・・検出器、5・・・試料室、6・・・オイルレ
スポンプ、7・・・排気管。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 蛍光X線を利用して元素の組成及び含有量を分析・測定
    する蛍光X線分析装置に於て、真空系をオイルレスポン
    プおよびオイルレスシール部で構成したことを特徴とす
    る蛍光X線分析装置。
JP18672889A 1989-07-18 1989-07-18 蛍光x線分析装置 Pending JPH0348759A (ja)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01166457A (ja) * 1987-12-23 1989-06-30 Hitachi Ltd 荷電粒子を用いる分析装置および方法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01166457A (ja) * 1987-12-23 1989-06-30 Hitachi Ltd 荷電粒子を用いる分析装置および方法

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