JPH0348509A - 精密電子回路構成要素の安定化と較正 - Google Patents

精密電子回路構成要素の安定化と較正

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JPH0348509A
JPH0348509A JP2084745A JP8474590A JPH0348509A JP H0348509 A JPH0348509 A JP H0348509A JP 2084745 A JP2084745 A JP 2084745A JP 8474590 A JP8474590 A JP 8474590A JP H0348509 A JPH0348509 A JP H0348509A
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analog
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logarithmic amplifier
amplifier
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JP2084745A
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Everett A Johnston
エヴァレット エイ ジョンストン
Robert Poe
ロバート ポウ
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Eastman Kodak Co
Original Assignee
Eastman Kodak Co
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F1/00Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
    • H03F1/30Modifications of amplifiers to reduce influence of variations of temperature or supply voltage or other physical parameters
    • H03F1/303Modifications of amplifiers to reduce influence of variations of temperature or supply voltage or other physical parameters using a switching device
    • H03F1/304Modifications of amplifiers to reduce influence of variations of temperature or supply voltage or other physical parameters using a switching device and using digital means

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Tone Control, Compression And Expansion, Limiting Amplitude (AREA)
  • Amplifiers (AREA)
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  • Facsimile Image Signal Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は一般的には電子回路に関し、一層詳しく言えば
、対数増幅器のような精密アナログ回路構成要素の較正
と安定化に関する. 対数増幅器のような精密アナログ電子構成要素は種々の
用途で使用されている.その1つの用途は光学スキャナ
である.光学スキャナとは,入射光パターンを読み、こ
の光パターンの輝度に従って変化する電気信号を発生す
る装置のことである.この電気信号を次に一連のディジ
タル・ビットに変換し、コンピュータで読み取ることが
できる.スーパーマーケットの会計ラインで使用されて
いる万能製品コード・スキャナがたいていの人にとって
馴染のある簡単なタイプのスキャナである. もっと複雑なスキャナは書類や写真のような複雑な画像
のコンピュータ読み取り可能な表示を行う.次いで、コ
ンピュータを用いて画像表示を編集し、テキストのよう
な他の画像またはデータと組合わせ、画像増強のような
他の操作を行う.このような装置では、コンピュータ読
み取り可能画像の印刷は所望の形になるまで延期される
ことがある.この方法についての新しい用途はほとんど
毎日のように出現している.ほぼすべてのコンピュータ
使用者がリポート、メモその他のビジネス書類の作成で
スキャナを日常的に使用するようになるのはもう時間の
問題Cすぎない.コンピュータ読み取り可能画像表示を
作るために,スキャナは光源と光検出器とを使用する.
光源は画像の或る特定のポイント、すなわち、ビクセル
に合焦し、このピクセルで反射してきた光の量を光検出
器で測定する.光検出器の出力がこうしてピクセルの輝
度を表わす電圧となる.この電圧が変化し得る範囲は電
圧のダイナミックレンジとして知られている. 光検出器のアナログ電圧出力は、次いで、アナログ・デ
ィジタル変換器によって量子化される。
量子化プロセスはこの電圧を整数を表わす二進数に変換
し、これがコンピュータに読み取られる.光源は次に別
のピクセルに合焦し、このプロセスは画像全体が走査さ
れるまで継続する.アナログ電圧を整数に変換するプロ
セスには必ず或る種の妥協が伴なう.整数を表わすのに
利用するビット数が増えれば増えるだけ、それだけ利用
できる独特の整数の範囲が広くなる.このことは、順次
に、利用できる強度レベルの数が大きくなるので,より
良い品質で量子化された画像を意味する.同様に、カラ
ー画像が量子化される場合,画像品質は主要色の各々に
おける利用できる個々のレベルの数が増えるにつれて高
まることになる. しかしながら、或るビクセルの強度を量子化するのに用
いられるビットの数が増えるにつれて、特に画像を記憶
するの必要なコンピュータ・メモリの量も増えるので、
機器のコストも増大することになる。
その結果,光検出器出力のようなビデオ信号のダイナミ
ックレンジを圧縮するために対数増幅器かきわめて頻繁
に用いられる.対数増幅器の使用により、或る特定の画
像品質を得るのに必要なビット数がかなり減る。たとえ
ば、対数増幅器が用いられるとき、8ビットのアナログ
・ディジタル変換器か標準のTV画像における強度範囲
に接近するに充分なコントラストを与えることは一般に
認められている。対数増幅器がない場合には、回し画像
品質を得るには12ビット必要である。
人間の視覚系の非線形感度(画像輝度にほぼ反比例する
)の故に,この用途でも対数増幅器が用いられる.アナ
ログ・ディジタル変換に先立つ対数増幅ステージは個々
の強度レベルを視覚感度に関してより効率良くするのに
貢献し、知覚された画像品質の損失なしにビットの数を
減らすのを可能とする. しかしながら、対数増幅器の導入には別の妥協も伴なう
。というのは、対数増幅器の入力電圧にいかなる小さな
差か生じても、それが出力に伝えられ、入力電圧によっ
て左右されるファクタ分だけ増幅される.これは対数増
幅器のゲインが入力電圧の非線形対数関数として変化す
るという事実を原因とする.対数ゲイン曲線の勾配が入
力電圧範囲の下限で特に急勾配となるので、入力電圧が
低い場合に上記の問題か特に大きくなる。
したがって、対数増幅器のところに現われるいかなる望
ましくないオフセット電圧も、たとえば、ノイズ、構成
要素の公差、設計の不精密さ、温度や供給電圧に伴なう
ドリフト等て生じるいかなるオフセット電圧も対数増幅
器に非線形の影響を与えることになる。事実、このよう
な望ましくないオフセットはいずれも実際の入力電圧が
低い場合には拡大されることになる。このようなオフセ
ット電圧の影響を最小限に抑えるには、対数増幅器を注
意深く安定化し、温度制御を非常に厳密に行うことがし
ばしば必要となる。
従来方法の1つては、いかなるオフセット電圧も無効化
するボテンシオメー夕を配置することによって対数増幅
器におけるこの影響を補正している。たとえば, Be
rlin, Howard, M.の’Operati
onal  A[Iplifiers』(1979: 
Heath Company, BentonHarb
or, Michigan) .第5−11〜5−14
頁を参照されたい。しかしながら,この方法では、ボテ
ンシオメー夕を定期的に較正するために熟練した技術が
必要である。
別の技術としては、整合トランジスタ対を使用すること
があるか、これはSheingold, Daniel
,ed.,’Nonlinear Circuits 
llandbooJ  (1976:Analog D
evices, Inc.,Norwood, Mas
sachusetts)のffi179〜18B頁に記
載されている。しかしながら、整合トランジスタ対は高
価であり、たとえ費用か正当化されたとしても、半導体
装置は時間の経過につれて動作の安定性か低下するので
ある。これは,少なくとも一部は、内部的に発生するシ
リコン拡散を原因とする。
最初に述べた方法はボテンシオメー夕を再調整するのに
反復した人間の介入を必要とするが、2番目の方法では
温度補正か限られる。これらの方法を品質増幅器と一緒
に使用した場合でも、長い期間にわたれば、あるいは、
広い温度スパンにわたれば、完全ではない。したがって
、これらの方法のいずれか一方でもあるいは両方で、ヌ
ルポイント不安定性が生じる。ヌルポイント安定性の欠
如、特に感度が最重要となる用途でのその欠如は,無視
できない。人間の眼は輝度レベルの小さい変化も特に低
い光レベルでは非常に鋭敏に感知するので、画像のディ
ジタル化は対数増幅器の動作が安定していなければなら
ない用途の1つである.カラー画像スキャナではいかな
る不安定もなおさらに無視できない。このようなスキャ
ナは,普通、赤、緑、青の原色の各々に1つずつ、各ピ
クセル毎に3つの光検出器出力を有する.これら3つの
光検出器出力が相互に再組合わせされてディジタル化さ
れた画像を生威するので、チャンネルのうちの1つでな
んらかのオフセットがあれば,望ましくない色相不均衡
が生じることになる. ここで必要とされるのは、オフセット電圧や経時的に生
じる他の動作ドリフトにまったく感応しないように対数
増幅器の出力を安定化させる方法である.これによれば
、量子化プロセスは画像毎に繰り返すことができかつ多
重出力チャンネルを横切って変らないようにすることが
できる.対数増幅器のような精密回路構成要素に伴なう
また別の問題は、システム全体の精度が対数増幅器がど
のくらい正確であるかに依存するという事実から生じる
.したがって、或る種の従来システムは対数増幅器の較
正を行っている.たとえば、1982年 6月l5日に
Roosに許された米国特許第4,335,384号を
参照されたい.このシステムでは,対数増幅器を較正す
るのに指数減衰するアナログ信号を使用している.この
方法では、対数増幅器応答についての遅延時間をあらか
じめ算定しておかなければならない. 実際には,対数増幅器応答性をあらかじめ正確に見積る
のは非常に難しい.特に低い入力電圧範囲では難しい。
対数増幅器の帯域幅がこの範囲内で非常に低いため、そ
して、入力電圧が高まるにつれて変化するため、対数増
幅器を通しての信号伝播の遅延は入力レベルによっても
変化する.多くの用途において、このような困難にもか
かわらず、非線形回路構成要素の伝達関数を正確に特徴
付けなければならない.特に、「対数増幅器」の応答性
は近似的に対数的であるにすぎず、特に入力電圧範囲の
下限では、対数的動作とはかなり隔たりがある.さらに
,温度変動等の結果として,伝達関数が時間の経過と共
に変化しがちである.したがって、すえ付け作業や保守
作業のときに訓練した技術を使用する場合ばかりでなく
、正規のシステム動作中に自動的に使用することのでき
る較正手段が必要となる.そのため、この較正手段は比
較的迅速、正確に作動し、効率良く、信頼性がなければ
ならない.この能力があるならば、対数増幅器の観察出
力に測定済みの伝達関数の逆数を適用することによって
、入力電圧を信頼性をもってかつ正確に算出することか
できるようになろう. 簡単に言えば、本発明に従って4%i戊した装置は、ア
ナログ入力信号で作動するように配還した対数増幅器の
ような精密アナログ回路構成要素を包含する.対数増幅
器のフィートパック・ループ内にはサンプル・アンド・
ホールド回路が設けてある.対数増幅器の入力は周期的
に基準電圧に結合され、同時に、サンプル・アンド・ホ
ールド回路はサンプル・モート(セットされる.好まし
い基準電圧は0ボルトである。次に、対数増幅器の入力
部でのいかなるオフセット電圧も,サンプル・アンド・
ホールド回路を介して,対数増幅器の入力部に形威され
た加算ノードに負のフィードバックとして結合される。
これは対数増幅器出力をOに向って方向付け、自動的に
いかなるオフセット電圧もキャンセルする.充分な整定
時間の後に、サンプル・アンド・ホールド回路がホール
ド・モードに置かれ,対数増幅器をO出力に駆動するの
に加算結節点で必要とされるいかなるバイアスもホール
ドする.次いで、対数増幅器が意図した正規の動作を再
開することができる。すなわち,アナログ入力信号の対
数増幅を行うことができる. このシーケンスは便利な時点で周期的に繰り返されて正
しいオフセット電圧を維持し、それによって、作動条件
の変化を補正する.たとえば、画像スキャナでこの回路
を使用するとき、対数増幅器は画像のすべてのラインが
走査された後に再安定化され得る. さらに、対数増幅器の伝達関数は一連の既知の入力電圧
に対するその応答性を周期的に測定する回路によって決
定され得る.この回路はディジタル・アナログ変換器と
,対数増幅器入力部にある加算ノードに或る既知の電圧
を印加する選択式ゲイン増幅器とを包含する。選択式ゲ
イン増幅器を使用すると、入力レベルのダイナミックレ
ンジおよび精度をかなり高めることができる.固定記憶
装! (ROM)のようなメモリからのデータ・ワード
がディジタル・アナログ変換器へ入力を与える.このメ
モリからの別のデータ・ビットか選択式ゲイン増幅器を
制御する。カウンタのような適当な回路がメモリにアド
レス出力を与える。
周期的に、コンピュータはカウンタに計数を行わせるこ
とによって較正シーケンスを開始する。
カウンタは、順次、メモリ、次いで、デイジタル・アナ
ログ変換器および増幅器にアトレスを送って対数増幅器
に一連のアナログ電圧を与える。
サンプル・アント・ホールド回路の動作によっていかな
るオフセットも自動的にキャンセルされるため、これら
の電圧の正確な値は既知のものてある.次いで,アナロ
グ・ディジタル変換器出力か第2のメモリ(ハッファと
して作用する)に記憶され,最終的に、コンピュータに
よって読み取られ得る. 多数の既知の入力に対する対数増幅器の応答性をこうし
て測定した後,コンピュータはラグランシュ補間法のよ
うな方法を用いて測定点から対数増幅器の伝達関数の逆
数を決定する.アナログ入力信号についての対数増幅器
の通常動作中、コンピュータは補間された値を用いるこ
とによって測定済みの対数増幅器出力を対応する入力に
変換する。
この配置はいくつかの利点を有する。対数増幅器はいか
なるオフセット電圧を自動的に排除することによって安
定化される。したがって、その出力は時間の経過につれ
てより一層予測できるようになり、再較正シーケンスを
手動で行う熟練技術は不要となる。カラー画像スキャナ
のような用途では、赤、緑、青のチャンネルと組み合わ
された異なった対数増幅器からの出力間の安定した関係
を維持し,色相の不均衡を防止するのに本発明配置は使
用できる。
他の利点は対数増幅器の伝達関数を特徴付けるのに用い
られる回路から得られる。再較正は人間の介入なしに自
動的かつ迅速に行われ得る。入力較正値のメモリベース
のシーケンスを使用すると,複雑なテスト・パターンを
製作する際に融通性が増し、対数増幅器(または他の非
線形構成要素)の伝達関数または他の特性の測定を容易
にするように所望に応じて調節することかできる。アト
レス・カウンタを使用すると、対数増幅器に与えられる
既知の入力電圧とアナロク・ディジタル変換器からの被
監査出力との粘密な一致を得ることかでき、回路を通し
ての未知の可変時間遅延についての問題を避けることか
てきる。こうして得られた較正手順は従来技術よりも効
率か良く、信頼性があり、もっと便利てある。
本発明の上記の利点ならびに別の利点は添付図面に関連
した以下の説明を読むことによってもっと良く理解して
貰えよう。
先に説明したように、本発明の一局面は対数増幅器のよ
うな精密アナログ回路構成要素をそのフィートパック・
ループにサンプル・アンド・ホールド回路を設置するこ
とによって安定化することにある。対数増幅器の通常の
動作は周期的に中断され、サンプル・アント・ホールド
回路がサンプル・モートに置かれる。次に,既知の基準
電圧か対数増幅器の入力部に与えられる。したかって、
対数増幅器の出力部のいかなるオフセット電圧もサンプ
ル・アント・ホールド回路を通して対数増幅器の入力部
に形成された加算ノードに送られ、対数増幅器出力をO
に向って駆動する。これはオフセット電圧を自動的にキ
ャンセルする.充分な整定時間の後、サンプル・アンド
・ホールド回路はホールド・モートに置かれ、対数増幅
器は正規の動作を再開することを許される。
これをさらに説明するために、第1図を参照して、ここ
には本発明を応用している画像ディジタライザ,あるい
は、スキャナ10が示してある。
従来同様に、スキャナ10は光源11、光検出器12,
対数増幅器14,アナログ・ディジタル変換器16を包
含する。作動にあたって、光源1lは画像源l3の或る
特定の画素すなわちビクセルに合焦させられ、このピク
セルに入射した光の量か光検出器l2によって測定され
る。この光検出Nl2は光強度レベルを示すアナログ電
圧を発生する. このアナログ電圧は次にダイナくツクレンジ圧縮のため
に対数増幅器l4に送られ、次いで、最終的に,アナロ
グ・ディジタル変換器16に送られる.アナログ・ディ
ジタル変換器l6は、その出力として、ビクセルの相対
的光強度を表わすM−ビット二進数を与える.M−ビッ
ト二進数は次にインテーフェースl7を通してコンピュ
ータl8に送られる.このインテーフェースl7はコン
ピュータl8のための入出力バスを包含すると右利であ
る.次いで、光[11と光検出器l2の入射点を変える
か,あるいは、画像l3を移動させるかすることによっ
て,画像の付加的なポイントが異なったビクセルに光源
11を合焦させることによって走査される.こうして、
コンピュータ18は一連の走査されたピクセルから画像
全体を組み立てることができる. しかしながら、従来システムと異なり,スキャナlOは
対数増幅器l4の入力部に現われるいかなる寄生オフセ
ット電圧もキャンセルすることによって対数増幅器14
の動作を安定化する回路20も包含する.この安定化回
路20はサンプル・アンド・ホールド回路2lと,スイ
ッチ・コントローラ22と,スイッチ23と,バッファ
増幅器24と、26で示す抵抗器Rlと,28で示す抵
抗器R2とを包含する.サンプル・アンド・ホールド回
路21の入力部は対数増幅器l4の出力部に接続してあ
る.サンプル・アンド・ホールド回路2lの出力部は2
7で示すノードNlに接続してあり,このノードNlは
対数増幅器14の反転入力端子として役立ち,そして、
増幅器24、2l4の出力部のための加算接合点として
も役立つ。
安定化回路20の詳細について′の以下の説明はその好
ましい構成,配置の説明で始まる。所望の効果を得るよ
うに安定化回路20がどのように作動するかについての
説明は次の通りである.たとえば、対数増幅器l4はフ
ィードバック経路内に配置してあって対数ゲイン特性を
与えるダイオード144を看する反転演算増幅器を包含
する基本的な対数増幅器モデルとして示してある。
ダイオード144の陽極はノードNlのところで対数増
幅器入力端子に接続され、陰極はy4算増幅器142の
出力端子に接続されている.対数ゲインを与える他の回
路を図示の対数増幅器l4の代わりに用いることもでき
る. また,たとえば、サンプル・アンド・ホールド回路2l
は,スイッチ212と,216で示すコンデンサCIと
、別の演算増幅器214とを包含するものとして示して
ある.スイッチ212は対数増幅器l4の出力を受け取
り、スイッチ212が閉じている場合には,この対数増
幅器出力を通過させてコンデンサCIを充電する.スイ
ッチ2l2の状態はスイッチ・コントローラ22によっ
て制御される.演算増幅!I214はコンデンサClを
ノードNlを通して放電しないように隔離するバッファ
として作用する. こうして、スイッチ212が閉じているとき、サンプル
・アンド・ホールド回路2lはサンプル・モードにある
と言える.これは、コンデンサClを横切っての,それ
故、演算増幅器214の出力部のところの電圧がスイッ
チ212への電圧入力とほほ等しくなるからである。ス
イッチ212が開いたとき、コンデンサC1を横切る電
圧は、もはや、スイッチ212への入力部のところの電
圧のレベルに追従することはなくなり,サンプル・アン
ト・ホールド回路21の出力は完全に一定に留まること
になる.もちろん、この出力は任意の利用できる寄生抵
抗によってコンデンサC1の放電率で崩壊することにな
る. スイッチ23およびバッファ増幅器24は光吹出器l2
と対数増幅器l4の間で信号経路内に配置されている.
スイッチ・コントローラ22からの指令があると、スイ
ッチ23は,光検出器l2の出力か,あるいは、25で
示す接地ノードN2によって与えられるような基準電圧
かを増輻器24に送る.次いで、バッフ1増福器がスイ
ッチ23の出力を抵抗器Rlを通してノードNlに与え
る. これらの構成要素の動作についての説明を続けるが、そ
れによって,安定化回路20が対数増幅器14の出力部
に現われる任意のオフセット電圧をどのように補正する
かが理解して貰えよう。まず,スイッチ・コントローラ
22はスイッチ23を周期的にセットして、ノードN2
のところの接地基準電圧をバッファ増幅器24、したが
って、ノードN1に接続する。任意の整定移行に充分な
時間の後に、スイッチ・コントローラ22はスイッチ2
12を閉ざすことによってサンプル・アント・ホールド
回路2lをサンプル・モードにセットする。
この配置では、対数増幅器l4に送られる電圧か公称O
ボルトの場合,対数増幅器14の出力部に現われる電圧
は入力部に現われる望ましくないオフセット電圧による
。しかしながら、この望ましくないオフセット電圧はサ
ンプル・アンド・ホールド回路21の出力部にも現われ
ることになり、N1から減算されるような極性を有する
。したがって、対数増幅器14およびサンプル・アンド
・ホールド回路21は、適当な整定時間の後、対数増幅
器l4の出力が本当にOボルトとなるボイントに到達し
、それによって、いかなるオフセット電圧も効果的に空
とされる。
安定化プロセスが完了すると、光検出器l2からの信号
についての対数増幅器l4の正常動作が再開できる。し
かしながら、スイッチ・コントローラ22は、まず、ス
イッチ212を開いてノードN1のところで適切な空白
状態を保持しなければならない。次に、光検出器12の
出力が対数増幅器l4およびアナログ・ディジタル変換
器16によって再び処理され得るようにスイッチ23が
セットされる。
第1図に示すこの特定のスキャナ装置用途ては、画像1
3において走査されるピクセルのすべてのライン毎にほ
ぼ一度ずつ安定化回路20を作動させると同時に、光学
要素を同期化すると便利てあることがわかった。較正シ
ーケンスのこの間隔はコンデンサClか多少とも放電す
る時間よりも充分に短いが,スキャナ10の正常動作と
の干渉を避けるのに充分な長さである。安定化がダイナ
ミックに生じるために、時間経過、温度変化等による対
数増幅器l4の動作におけるいかなるドリフトの影響も
事実上排除される。
第1図に示す回路は対数増幅器l4の入力が或る単一の
基準電圧(たとえば、0ボルト)であるときに観察され
る任意のオフセット電圧を空白にするか、ときには,可
能な入力電圧範囲にわたる対数増幅器l4の動作、した
がって、その伝達関数を決定することか望ましいことも
ある。一般的に言って、これは第2図に示す実施例によ
って達戊され得る。ここでは、許容入力電圧範囲内の多
数のポイントで対数増幅器14の伝達関数、特に、その
ゲインを周期的に特徴付ける。この特徴付けの結果,各
ありそうなアナログ・デイジタル出力を補間された対数
増幅器入力値と関係させるルックアップ・テーブルを作
成することになる。
対数増幅器は、そのゲインが入力電圧と逆比例で変化す
るので,小さな入力レベルでの摂動に一層敏感である.
したかって,本発明では、伝達関数の測定は低い入力値
範囲内でより精密に実施される。これは真数数列を有す
る一連の入力電圧を印加することによってなされる。
一層詳しく言えば,特徴付けはディジタル・アナログ変
換器32を周期的に用いて対数増幅器入力ノードNlに
既知の入力電圧を印加することによって達或される。ノ
ードNlのところは電圧は選択式ゲイン増幅器34によ
ってさらに制御される。固定記憶装置(ROM)のよう
なメモリ3lがディジタル・アナログ変換器32に入力
を与え,選択式ゲイン増幅器34のゲインを選択する。
次に、コンピュータにアナログ・ディジタル変換器16
の出力を演算させることによって、この既知の電圧入力
に対する対数増幅器l4の応答性が決定される。
多数のデータ・ポイントがこうして測定された後2コン
ピュータは測定ポイントをラグランシェ補間法等によっ
て多項式曲線に適用することによって対数増幅器の応答
性を精密に決定することができる。次いで,対数増幅器
l4の正常動作中に,コンピュータがその出力を受け取
ったとき、補間されたポイントが用いられて実際の対数
増幅器入力電圧レベルをより精密に決定する。換言すれ
ば、実際の対数増幅器入力電圧、それ故、実際の光検出
器l2の出力は,対数増幅器14の測定された伝達関数
の逆数を用いることによって対数増幅器出力から決定さ
れる. 第1図の実施例と同様に、第2図のスキャナ10は光源
11と、光検出器l2と、対数増幅器l4と、アナログ
・ディジタル変換器l6と,安定化回路20とを包含す
る.しかしながら,このスキャナlOはたった今説明し
た伝達関数特徴付けを実施する較正回路30も包含する
.この較正回路30はカウンタ36と,メモリ3lと,
ディジタル・アナログ変換器32と、3ポジション・ス
イッチ33と,選択式ゲイン増幅器34と、もう1つの
メモリ38とからなる.明らかなように、較正動作のう
ちの或る種のものはコンピュータl8によっても実施さ
れる. メモリ3lは所望のテスト入力電圧を表わす多数のデー
タ・ワードでプログラムを組まれる.各データ・ワード
の或る部分はディジタル・アナログ変換器32に与えら
れ,他の部分は選択式ゲイン増幅器34の動作を制御す
る. 曲線35で示すように、データ・ワードはメモリ3lの
アドレス入力が増分されるにつれて値が増大するように
順序付けられると好ましい.この値の増大は指数的(す
なわち、真数的)であると好ましく、その場合、たいて
いのテスト値は低い範囲で現われる.したがって、たと
えば、メモリ3lから最初に読み出されたワードはlの
値分ずつ異なり、後のワードがもっと大きい量ずつ異な
ると好ましい.このようにして、対数増幅器の伝達関数
のより多くのサンプルが最低電圧範囲(摂動の影響を最
も受けやすい範囲)内で取り出される.各値が多数の時
点で繰り返されてその結果生じた較正プロセスにおいて
充分な統計学的精度を保証することも好ましい.これに
ついては後に説明する. 図示実施例では,メモリ3lはあらかじめプログラムを
組まれた固定記憶装置(ROM)であるが、特徴付けプ
ロセスが開始する前の適宜な時点でランダムアクセスメ
モリ(RAM)3 1にコンピュータ1Bに適切なデー
タ・ワード・シーケンスを書き込ませることによってプ
ログラムを組んだものであってもよい. さらに、アドレス入力Aがコンピュータ18によってス
トローブされたときに順次に計数を行うカウンタ36か
ら発生するように示してあるが、他のアドレス指定構成
も可能である. メモリ31からのデータ・ビットD i −D Hはデ
ィジタル・アナログ変換器32の入力部に送られる.デ
ィジタル・アナログ変換器を駆動するのに使用されるデ
ータ・ワード内のビット数Nはアナログ・ディジタル変
換器l6のワード・サイズより大きくて,低い入力電圧
で対数増幅器l4のより精密な特徴付けを可能とするよ
うになっていなければならない. ディジタル・アナログ変換器32の出力、すなわち,ア
ナログ電圧は次いで選択式ゲイン増幅器34に送られる
. 選択式ゲイン増幅器34−はディジタル・アナログ変換
器32の出力部に作動してノードN1のところで加算さ
れた較正電圧の振幅を精密に制御する.選択式ゲイン増
幅器34はスイッチ341と、演算増幅器342と,加
算抵抗器(343のところではR3.344のところで
はR4,345のところではR5)とを包含する.スイ
ッチ34lと加算抵抗器R3、R4、R5は、スイッチ
341が1つの位置にあるときに演算増幅器342が単
位ゲインを与え、スイッチ341が他の位置にあるとき
にはもっと低いゲイン(たとえば、0.1)を与えるよ
うに配置してある.スイッチ341の設定はメモリ3l
から出力されるビットの1つ、D.によって制御される
.較正回路30.の用途に応じて、制御ビットおよび加
算抵抗器を加えることによってもっと多くの範囲を得る
ことができるし,他のゲインを選ぶこともできる.3ポ
ジション・スイッチ33は、ノードN2からの基準電圧
か、光検出器l2の出力か、選択式ゲイン増幅器34か
らの較正入力かのいずれかをノードNlに選択的に与え
るのに使用される.スイッチ・コントローラ22は3ポ
ジション・スイッチ33がどの時点で任意の特定のポイ
ントにセットされるのかを決定する。
ハッファ・メモリ38は、対数増幅器14に与えられた
一連の入力較正電圧に対するアナログ・ディジタル16
の応答性をリアルタイムで格納する伝達手段として作用
する. したがって、選択式ゲイン増幅器34、ディジタル・ア
ナログ変換器32、メモリ31,アナログ・ディジタル
変換器16およびメモリ38は、組合わせにおいて、あ
りそうな対数増幅器入力値の範囲を横切って指数的に分
布させられた,対数増幅器l4への一連のテスト電圧を
与え、一連のテスト電圧を範囲の下限に集中させる手段
となる.今説明している実施例では、テスト電圧の少な
くとも半分が入力電圧範囲の最低10パーセント(最も
敏感な部分)に指数的に分布させられることになる.残
りの値は入力電圧範囲の上位90パーセントにわたって
指数的に分布させられる.今,較正回路30と対数増幅
器14の動作をもっと精密に考えると、較正プロセスは
,まず、第1図について先に説明したよりもさらに先に
進んでいる.したがって、光検出器l2への入力部に現
われるいかなるオフセット電圧も無効にするために、3
ポジション・スイッチ33は周期的に中央位置にセット
され、ノードN2のところの基準電圧がノードNlに送
られる.このモードでは,サンプル・アンド・ホールド
回路2lを含む安定化回路20の構戊要素は、第2図に
関連して説明したように、従前通りに作動させられてノ
ードN1に存在する任意のオフセットを無効にする. 較正回路30は以下のように周期的に作動させられる.
スイッチ・コントローラ22はサンプル・アンド・ホー
ルド回路21をホールド・モードに留め,同時に3ポジ
ション・スイッチ33をディジタル・アナログ変換器3
2の出力が選択式ゲイン増幅器34を経て入力部に送ら
れるように位置決めする. 第2図の回路と一緒に第3図のフローチャートに示すス
テップを次に参照して、コンピュータl8はステップ4
00に示すカウンタ36を始動することによって対数増
幅器l4に較正入力ワードを与える。
適切な伝播遅延を許した後,ステップ401において、
ノードN1で印加された電圧に対する対数増幅器l4の
応答性はアナログ・ディジタル変換器16のメモリ38
側出力部におけるM−ビット・ディジタル較正出力ワー
ドとして利用できる。次いで、コンピュータ18はステ
ップ402に示すようにM−ビット・ワードを読み取り
、記憶する。
こ−の測定プロセスがひとたび完了すると、コンピュー
タ18はさらに較正入力,出力データを次のように処理
する.特に、アナログ・ディジタル変換器16からの任
意の可能性のあるM−ビット出力を対応する入力電圧に
関係付ける較正ルックアップ・テーブルが作威される.
これは、まず、同一の較正入力データ・ワードに応答し
て発生した較正出力データ・ワードを平均化し,各可能
性のある較正入力ワードについての最もありそうなM−
ビット較正出力ワートを決定することによって達威され
る。この平均化プロセス(ステップ404として示す)
の結果は対数増幅器14のゲイン特性を定める値の初期
の粗テーフルてある。
この粗テーブル(普通は、2′″エントリより小さい)
は正確に2′エントリを有し、対数増幅器伝達関数の逆
数を構成するルックアップ・テーブルを生戊するのに使
用される.この方法は補間関数を粗テーブル内のデータ
に適合させ、平均化された較正出力データ・ワードを対
応する較正入力データ・ワードに関係付ける。ラグラン
ジェ補間法や最小平方回帰法のような種々の数値技術を
用いてこの目的を達戊することができる。次に、補間関
数がアナログ・ディジタル変換器l6からの2°個の可
能性のある出力値の各々についての補間入力値を生成す
るように算定される。ステップ405参照. 最後に,ステップ406において、各補間値の真数を計
算して較正済みの入力値を生じさせることによって較正
ルックアップ・テーブルが生或される. こうして、較正プロセスは、既知の較正入力値について
対数計算を行い,これらの対数値内で補間な行い、次い
で補間量の真数計算を行うことによって作動する.この
ようにして、アナログ・ディジタル変換器l6からの可
能性のある24個の出力値の各々が単にルックアップ・
テーブルを用いるだけで較正された入力電圧に関係付け
られる.したがって、光検出器l2からのデータを処理
しようとしているとき、コンピュータl8は従前通りに
アナログ・デイジタル変換器l6の出力を読み取る.し
かしながら,この出力を直接使用しないで,むしろ,コ
ンピュータはそれを較正ルックアップ・テーブルへのイ
ンデックスとして用いて光検出器l2からの実際の電圧
がなんであったかをより正確に決定する. 前述の説明は本発明の特定の具体例に限られていたが、
本発明の利点のいくつかあるいは全部を伴ないながら、
変更、修正を本発明になし得ることは明らかであろう. たとえば、安定化回路20ならびに較正回路30をスキ
ャナlOとの関連で示したが、対数増幅器に対する他の
用途も本発明では可能であることはまったく明らかであ
る.本発明は他のタイプの精密アナログ回路構成要素を
安定化し、較正する際にも非常に有用であり得る.これ
は、精密アナログ回路構成要素が線形、非線形のいずれ
であるかを問わず、また、それらが対数増幅器であるな
しを問わない.そして,図示実施例では構成要素のゲイ
ン曲線の構成を強調したが、本発明は構成要素帯域幅、
時間遅延および他の特性の構成が重要である場合にも使
用できる.したがって、・本願の特許請求の範囲の目的
は,発明の真の精神、範囲内で行われるようなすべての
このような変更、修正を網羅することにある.
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のフロック図であり,対数増幅器および
安定化回路を示す図である. 第2図は安定化回路および較正回路を備える対数増幅器
の別の実施例を示すブロック図である.第3図は較正回
路によって収集されたデータについてコンピュータによ
って実施されて補間ルックアップ・テーブルを生成する
動作のフローチャートである. 図面において、10・・・スキャナ、11・・・光源,
12・・・光検出器、l4・・・対数増幅器、1 6−
・・アナログ・ディジタル変換器,17−・・インテー
フェース,1B−・・コンピュータ、2 0−・・安定
化回路、2l・・・サンプル・アンド・ホールド回路、
22・・・スイッチ・コントローラ、2 3−・・スイ
ッチ,24・・・バッファ増幅器、26、2 8−・・
抵抗器、2 7 −・・ノード、3 0−・・較正回路
、3l・・・メモリ,32−・・ディジタル・アナログ
変換器.33−3ポジション・スイッチ.34−・・選
択式ゲイン増幅器、36・・・カウンタ,38・・・メ
モリ、l 4 2 ,−・・演算増幅器、1 4 4−
・・ダイオード、212・・・スイッチ、2 1 4−
・・演算増幅器、2 1 6−・・コンデンサ手 続 補 正 書 (方式)

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)A、入力ノードを経てアナログ入力信号を受け取
    るように配置した精密アナログ回路構成要素と、 B、アナログ入力信号を周期的に断続し、入力ノードを
    基準電圧に結合する手段と、 C、精密構成要素の出力を受け取るように配置してあり
    、入力ノードに結合した出力部を有するサンプル・アン
    ド・ホールド回路と、D、入力ノードが基準電圧に結合
    した ときに或るサンプル・アンド・ホールド回路をサンプル
    ・モードに置き、そうでないときにはサンプル・アンド
    ・ホールド回路をホールド・モードに置く手段と を包含する装置。
  2. (2)A、入力ノードを経てアナログ入力信号を受け取
    るように配置した精密アナログ回路構成要素と、 B、アナログ入力信号を周期的に断続し、入力ノードを
    基準電圧波形に結合する手段と、 C、基準電圧波形を与えるように配置したディジタル・
    アナログ変換器と、 D、このディジタル・アナログ変換器に入力を与えるメ
    モリ手段と、 E、入力ノードが基準電圧に結合したときに基準電圧に
    対する精密構成要素の応答性を記録し、その後にアナロ
    グ入力信号を受け取るように再結合されたときにこの記
    録した応答性を使用して精密構成要素の出力を変成する
    手段とを包含する装置。
  3. (3)アナログ入力信号を量子化する装置であって、 A、入力ノードを経てアナログ入力信号を受け取るよう
    に配置した対数増幅器と、 B、アナログ入力信号を周期的に断続し、入力ノードを
    基準電圧に結合する手段と、 C、対数増幅器の出力を受け取るように配置してあり、
    入力ノードに結合した出力部を有するサンプル・アンド
    ・ホールド回路と、 D、入力ノードが基準電圧に結合されたときにサンプル
    ・アンド・ホールド回路をサンプル・モードに置き、そ
    うでないときにはサンプル・アンド・ホールド回路をホ
    ールド・モードに置く手段と、 E、対数増幅器の出力を受け取るように配置したアナロ
    グ・ディジタル変換器と、 F、入力ノードのところで一連の既知の電圧を印加し、
    それに対する対数増幅器の応答性を測定し、アナログ・
    ディジタル変換器の出力を記録することによって周期的
    に対数増幅器の伝達関数を決定する手段と、 G、対数増幅器の測定した伝達関数の逆数を印加するこ
    とによってアナログ・ディジタル変換器の出力を数値的
    に変成する手段と を包含する装置。
  4. (4)請求項3記載の装置であって、伝達関数を周期的
    に決定する手段が、 H、ディジタル・アナログ変換器と、 I、指数関数のサンプルを含む一連の値を記憶しており
    、入力をディジタル・アナログ変換器に与えるように配
    置したメモリと、 J、このメモリをアドレス指定して、 指数関数値が所定のシーケンスで出力されるようにした
    手段と を包含する装置。
JP2084745A 1989-03-30 1990-03-30 精密電子回路構成要素の安定化と較正 Pending JPH0348509A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5471283A (en) * 1991-12-11 1995-11-28 Sharp Kabushiki Kaisha Device for preventing breakdown of contact charger for use in electrophotographic printing machine

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2841301B2 (ja) * 1989-04-28 1998-12-24 池上通信機株式会社 カラーテレビカメラの色補正装置
GB2252829B (en) * 1991-02-15 1994-10-19 Crystal Semiconductor Corp Method and apparatus for decreasing the interference and noise sensitivity of a ratiometric converter type of circuit
US5228437A (en) * 1991-05-06 1993-07-20 Intermedics Orthopedics, Inc. Cardiac pacemaker and method for detecting cardiac signals
DE4302184A1 (de) * 1993-01-27 1994-07-28 Teves Gmbh Alfred Schaltung zur Verstärkung des Ausgangssignals eines Sensors
US5590418A (en) * 1993-09-30 1996-12-31 Motorola, Inc. Method and apparatus for stabilizing the gain of a control loop in a communication device
SE517675C2 (sv) * 2000-03-14 2002-07-02 Ericsson Telefon Ab L M Ett förfarande för A/D-omvandling samt ett A/D- omvandlingssystem
US6577114B1 (en) 2000-07-31 2003-06-10 Marvell International, Ltd. Calibration circuit
US6700537B2 (en) 2000-08-31 2004-03-02 Her Majesty The Queen In Right Of Canada, As Represented By The Minister Of Communications Method for calibrating a wideband direction finding system
US6541952B2 (en) * 2001-02-07 2003-04-01 Texas Instruments Incorporated On-line cancellation of sampling mismatch in interleaved sample-and-hold circuits
US6801868B1 (en) 2002-10-15 2004-10-05 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Real time calibration method for signal conditioning amplifiers
US7459930B2 (en) * 2006-11-14 2008-12-02 Micron Technology, Inc. Digital calibration circuits, devices and systems including same, and methods of operation
WO2010044000A1 (en) * 2008-10-13 2010-04-22 Nxp B.V. An adc

Family Cites Families (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3579127A (en) * 1967-05-31 1971-05-18 Gulf Energy & Environ Systems Apparatus for monitoring pulses
US3600589A (en) * 1968-10-18 1971-08-17 Ibm Logarithmic sense amplifier having means for estalishing a predetermined output voltage level when the input signal is at a maximum
US3634868A (en) * 1970-03-13 1972-01-11 Technicon Instr New and improved method and apparatus for automatic baseline and standard calibration of automatic, multichannel sequentially operable fluid sample supply, treatment and analysis means
US3736520A (en) * 1971-11-23 1973-05-29 Honeywell Inf Systems Precision variable gain amplifier with linear log-gain versus control-voltage characteristic
US4025788A (en) * 1973-01-18 1977-05-24 Tohoku Electric Power Company, Inc. Radiometric analyzer
US4140874A (en) * 1974-12-26 1979-02-20 Xerox Corporation Automatic compensating circuit
US4070632A (en) * 1976-09-22 1978-01-24 Tuttle John R Discrete-gain output limiter
US4162531A (en) * 1977-01-14 1979-07-24 Hewlett-Packard Company Method and apparatus for programmable and remote numeric control and calibration of electronic instrumentation
US4123722A (en) * 1977-06-09 1978-10-31 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Operational amplifier decoupling circuit
GB2002204B (en) * 1977-08-06 1982-01-27 Licentia Gmbh Dynamic compression or expansion circuits
SE7810662L (sv) * 1978-01-24 1979-07-25 Zolotenko Vladimir A Anordning for nollnivakorrigerande forsterkning av en pulsspenning
DE2821024C3 (de) * 1978-05-12 1981-02-05 Institut Fuer Rundfunktechnik Gmbh, 8000 Muenchen Signalgenerator zur Synthese von Fernseh-Priifzeilensignalen
US4178512A (en) * 1978-07-21 1979-12-11 Impulsphysik Gmbh Deepwater in-situ fluorometer
JPS5599031A (en) * 1979-01-24 1980-07-28 Japan Spectroscopic Co Automatic calibration of logarithmic amplifier and spectrophotometer utilizing this calibration
US4300203A (en) * 1979-10-19 1981-11-10 Beckman Instruments, Inc. Method and means for operating logarithmic circuits
US4327371A (en) * 1979-12-19 1982-04-27 The Singer Company Method and apparatus calibrating a plurality of preamplifiers
US4395752A (en) * 1980-01-08 1983-07-26 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Digital control process with inverse function table memory
US4335384A (en) * 1980-01-10 1982-06-15 Bunker Ramo Corporation Logarithmic amplifier calibration means
US4328552A (en) * 1980-01-17 1982-05-04 Stovall Robert E Statistical calibration system
US4357668A (en) * 1980-03-04 1982-11-02 The Perkin-Elmer Corp. Base line correction method and apparatus
JPS5753145A (en) * 1980-09-16 1982-03-30 Sony Tektronix Corp Calibrator for analogue-digital converter
GB2098819A (en) * 1981-05-20 1982-11-24 Philips Electronic Associated Gain stabilization in a total power radiometer
US4538150A (en) * 1983-01-10 1985-08-27 Westinghouse Electric Corp. Self-calibration of stacked beam radar
US4495470A (en) * 1983-02-07 1985-01-22 Tektronix, Inc. Offset balancing method and apparatus for a DC amplifier
US4635096A (en) * 1983-04-08 1987-01-06 Sony Corporation Test signal generator
US4636655A (en) * 1983-11-11 1987-01-13 Kabushiki Kaisha Toshiba Circuit in which output circuit and operational amplifier equipped input circuit are electrically isolated
US4679162A (en) * 1984-09-14 1987-07-07 Perkin-Elmer Corp. Wide dynamic range linear to log converter with microcomputer control
JPS61161093A (ja) * 1985-01-09 1986-07-21 Sony Corp ダイナミツクユニフオミテイ補正装置
US4634986A (en) * 1985-02-08 1987-01-06 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Log amplifier with pole-zero compensation
US4612533A (en) * 1985-06-12 1986-09-16 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Harmonic distortion reduction technique for data acquistion
US4669052A (en) * 1985-07-02 1987-05-26 Motorola, Inc. Apparatus and method for calibrating a sensor
US4726679A (en) * 1986-03-03 1988-02-23 The Perkin-Elmer Corporation Flame atomic absorption spectrophtometer including apparatus and method for logarithmic conversion
US4733234A (en) * 1986-04-16 1988-03-22 Hewlett-Packard Company Remote calibrated power source system and method
US4700174A (en) * 1986-05-12 1987-10-13 Westinghouse Electric Corp. Analog signal processor
US4704584A (en) * 1986-06-25 1987-11-03 Fairfield Industries Instantaneous floating point amplifier
US4785419A (en) * 1987-11-16 1988-11-15 Tektronix, Inc. Logarithmic amplifier calibrator

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5471283A (en) * 1991-12-11 1995-11-28 Sharp Kabushiki Kaisha Device for preventing breakdown of contact charger for use in electrophotographic printing machine

Also Published As

Publication number Publication date
EP0393404A2 (en) 1990-10-24
EP0393404A3 (en) 1991-03-06
US5065351A (en) 1991-11-12

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