JPH0346546A - X線検査装置 - Google Patents

X線検査装置

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Publication number
JPH0346546A
JPH0346546A JP1180296A JP18029689A JPH0346546A JP H0346546 A JPH0346546 A JP H0346546A JP 1180296 A JP1180296 A JP 1180296A JP 18029689 A JP18029689 A JP 18029689A JP H0346546 A JPH0346546 A JP H0346546A
Authority
JP
Japan
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ray
ray source
rays
detection
detector
Prior art date
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Pending
Application number
JP1180296A
Other languages
English (en)
Inventor
Masami Tomizawa
富沢 雅美
Akihiko Nishide
明彦 西出
Shinji Kimoto
伸二 木本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP1180296A priority Critical patent/JPH0346546A/ja
Publication of JPH0346546A publication Critical patent/JPH0346546A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、X線照射位置を調整可能なX線検査装置に関
する。
(従来の技術) X線検査装置では、被検査体を透過あるいは散乱したX
線のうち、所望の範囲の透過X線だけを検出する必要が
ある。
従来のX線管の位置調整は、まずコリメータの開口幅を
すきまゲージ等で調整する。そしてX線検出器の入射面
に感光紙を貼付けX線を照射する。
その後感光紙をはがし、X線の照射範囲がX線検出器の
入射面の中心付近となるようにX線管位置を調整する。
コリメータが複数の場合は、X線検出器に近いコリメー
タを全開とし、X線管に近いコリメータから上記のよう
な調整をするものであった。
(発明が解決しようとする課題) このような従来調整では、位置設定の精度が不十分であ
り、X線検出器への入射X線量が減少し、また散乱線の
入射が増加する。そのために正しい透過X線量を測定で
きなかった。従って、X線の透過量を画像化した場合、
ボケ・実在しない偽像等が発生し画質低下が生じること
がある。
本発明は、X線検出器へ所望のX線を入射させ散乱線の
影響を受けることなく正確な透過X線量を測定でき、さ
らに画質低下を防ぐX線検査装置を得ることである。
〔発明の構成〕
(課題を解決するための手段) 上記目的を達成するために本発明は、X線源から発生す
る扇状X線をコリメートするコリメータと、このコリメ
ータを透過したX線源からの扇状のX線の強度に応じて
検出値を出力する複数の検出素子で構成されるX線検出
器と、X線の照射方向の回転移動、X線検出器の検出面
に対してスライス方向の前後移動、この検出面に対して
検出素子方向の左右移動、この検出面に対して垂直方3
− 向の上下移動をX線源に行わせる位置調整手段と、X線
検出器の複数の検出素子のうち任意の検出素子を選択し
、位置調整手段によりX線源を移動させ、これら任意の
検出素子で得られるX線強度を示す信号を用いて、X線
源のX線検出器に対する適正位置を演算する演算手段で
構成する。
(作用) X線源から照射された扇状のX線は、コリメータでコリ
メートされX線検出器へ入射する。この複数の検出素子
で構成されるX線検出器は、入射したX線の強度に応じ
て検出値を出力する。演算手段は、X線検出器から任意
の検出素子を選択し、これらの検出素子の検出値から演
算手段はX線検出器に対するX線源の適正位置を演算し
て位置調整手段によりX線源を移動させる。
(実施例) 以下、本発明に基づ〈実施例を図面を参照して説明する
第1図は、本発明に基づくX線検査装置の概略構成を示
す図である。1はX線源で、扇状のX線ビーム1aを照
射する。2及び3はX線の所望の照射範囲を規制するコ
リメータ、4は照射されたX線の強度に応じて電気信号
を発生する複数の検出素子で構成されたX線検出器であ
る。5はこのX線検出器4の出力信号を演算処理できる
ようにデジタル値に変換するデータ収集部である。6は
このデータ収集部5からの出力信号からX線検出器4に
対するX線源工の最適位置を演算する演算部である。7
は演算部6の最適位置を示す出力信号から、その最適位
置へX線源1を移動させる位置調整手段である。
次にX線源の位置調整を第2図に示すフローチャートを
用いて説明する。X線源1から発生したX線は、コリメ
ータ2,3によりコリメートされてX線検出器4で検出
される。このX線強度に応じた検出値は、データ収集部
5でA/Dコンバータを通じてデジタル信号に変換され
る。演算部6は、あらかじめ機械的位置調整された状態
でX線源1の現在位置でX線検出器4の検出素子のうち
、検出されるX線量が最大となる検出素子41を求める
。この検出素子41に対しX線検出器4の長手方向右側
の検出素子42、左側の検出素子43も求める。
この場合、検出素子41の透過X線量に比べて小さくな
るように検出素子42.43をX線検出器4の端部近傍
とする。第2図において、このときのX線源1の位置を
Aとする(ステップ201)。次にX線源1を第2図の
R方向である軸回転方向に任意に2回回転させてX線源
1のそれぞれの移動位置をB、Cとする。これらの位置
で検出素子41.42゜43の透過X線量を測定する(
ステップ202,203)。
第3図は検出素子41の位置A、B、Cにおける透過X
線量を示す図である。これから、位置的に中間にはさま
れた位置を1回目の測定時が位置A。
2回目が位置A、3回目が位置Cとする。3回目の測定
のように、位置的に中間にはさまれた透過X線量が最大
となるまでこの操作を繰り返す(ステップ204)。検
出素子42.43についても同様であり、この操作の完
了後、X線源のR方向の調整を終了する。
同様に、第1のF/B方向である前後移動(検出面に対
してスライス方向)、L/R方向である左右移動(検出
面に対して検出素子方向)、U/」蚕向である上下移動
(検出面に対して垂直方向)についても行う。これらの
調整におけるX線源1の移動は演算部6の出力信号から
位置調整手段7で行い、それぞれの移動方向毎にX線源
1を最適な位置へ移動させる。
また、第4図はX線源1のそれぞれの移動方向について
調整した場合の演算部6の出力を示す図である。
(a)は、X線源1を軸回転方向(R)に調整した場合
であり、(b)はX線源1を前後方向(F/B)に調整
した場合である。(C)はX線源1を左右方向(L/ 
R)に調整した場合であり、(d)はX線源1を上下方
向(U/D)に調整した場合である。
(a)及び(c)の場合は検出素子41の透過X線量が
最大で検出素子42.43の透過X線量が一致する位置
を最適位置とする。(b)及び(d)の場合は検出素子
41、42.43の透過X線量が最大となる位置を最適
位置とする。
ここで、透過X線量の最大となる位置を最適とするのは
、X線の透過量を画像化した場合、画質は線量が大きく
なる程向上するためである。また検出素子42.43の
透過X線量が一致する位置を最適とするのは、X線検出
器4の長手方向左右のバランスをとることにより偽像・
ボケ等を低減するためである。
以上の調整において、(a)及び(c)の場合の検出素
子41の透過X線量が最大となる位置と検出素子42、
43の透過X線量が一致する位置、(b)及び(d)の
場合の検出素子41.42.43の透過X線量が最大と
なる位置は理想的には一致する。しかし実際にはフす1
〜ンノイズの影響等により、これらの位置は通常一致す
ることはない。この場合は検出素子42、43の検出感
度が違うことがあるので検出素子41の検出値を重視し
、例えば重みづけ平均をして検出素子41の透過X線量
が最大となる位置に近い位置を最適位置とする(第4図
(C)参照)。
本実施例において、X線源1の同一位置で測定を数回繰
り返せば、X線の照射条件の時間的変動− を低減することも可能である。
〔発明の効果〕
本発明によれば散乱線の混入を低減し、フォトンノイズ
の影響も低減できるので、透過X線量を正しく測定でき
、X線検出器で受けるX線により被検査体を画像化する
場合は、偽像・ボケを低減させ画質も向上するX線検査
装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明によるX線検査装置の概略構成図、第2
図は演算部の動作を説明するためのフローチャート、第
3図はX線源の一方向の調整を完了するまでの過程を説
明するためのX線源の位置−透過X線量特性、第4図は
演算部が出力するX線源の位置と透過X線量の関係を示
す図である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  扇状のX線を発生するX線源と、 このX線源からの扇状X線をコリメートするコリメータ
    と、 前記X線源から照射された扇状のX線の強度に応じて検
    出値を出力する複数の検出素子で構成されるX線検出器
    と、 X線の照射方向の回転移動、前記X線検出器の検出面に
    対してスライス方向の前後移動、この検出面に対して検
    出素子方向の左右移動、この検出面に対して垂直方向の
    上下移動を前記X線源に行わせる位置調整手段と、 前記X線検出器の複数の検出素子のうち任意の検出素子
    を選択し、前記位置調整手段により前記X線源を移動さ
    せ、前記任意の検出素子で得られるX線強度を示す信号
    を用いて前記X線源の前記X線検出器に対する適正位置
    を演算する演算手段とを有するX線検査装置。
JP1180296A 1989-07-14 1989-07-14 X線検査装置 Pending JPH0346546A (ja)

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JPH0346546A true JPH0346546A (ja) 1991-02-27

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