JPH034383A - 積分回路 - Google Patents

積分回路

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JPH034383A
JPH034383A JP2118832A JP11883290A JPH034383A JP H034383 A JPH034383 A JP H034383A JP 2118832 A JP2118832 A JP 2118832A JP 11883290 A JP11883290 A JP 11883290A JP H034383 A JPH034383 A JP H034383A
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JP
Japan
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current
memory cell
transistor
sampling period
current memory
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Pending
Application number
JP2118832A
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English (en)
Inventor
Ian C Macbeth
イアン クレイグ マクベス
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Philips Gloeilampenfabrieken NV
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Publication date
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Publication of JPH034383A publication Critical patent/JPH034383A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06GANALOGUE COMPUTERS
    • G06G7/00Devices in which the computing operation is performed by varying electric or magnetic quantities
    • G06G7/12Arrangements for performing computing operations, e.g. operational amplifiers
    • G06G7/18Arrangements for performing computing operations, e.g. operational amplifiers for integration or differentiation; for forming integrals
    • G06G7/184Arrangements for performing computing operations, e.g. operational amplifiers for integration or differentiation; for forming integrals using capacitive elements
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C27/00Electric analogue stores, e.g. for storing instantaneous values
    • G11C27/02Sample-and-hold arrangements
    • G11C27/024Sample-and-hold arrangements using a capacitive memory element
    • G11C27/028Current mode circuits, e.g. switched current memories

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、入力信号をサンプル化アナログ電流の形態で
積分する積分回路であって、入力信号を受信する入力手
段と、積分した入力信号を出力信号として発生する出力
手段と、各サンプリング周期の第1部分の期間中、該サ
ンプリング周期、又は以前のサンプリング周期の第2部
分の期間中に入力端子に供給された電流に関連する電流
を出力端子に発生する電流メモリセルと、該電流メモリ
セルの出力端子を前記積分回路の出力手段に結合させる
結合手段と、各サンプリング周期の第2部分の期間中前
記電流メモリセルの入力端子に帰還信号を供給する帰還
手段とを具えている積分回路に関するものである。
〔従来の技術〕
上述した種類の積分回路は、1989年2月に開催され
た[第17回電気技術者学会J (The In5ti
tutionof Electrical Engin
ers on 17th)に提出されたジエー・ビー・
ヒュース(J、B、 Hughes) 、エヌ・シー・
バード(N、C,Bird)及びアイ・シー・マクベス
(1,C,Macbeth)による論文″5w1tch
ed Currents −A New Techni
que for Analogue Sampled−
Data Signal Processing”に発
表されている。
第1図は冒頭にて述べたような積分回路を示し、又第2
図は第1図の回路におけるスイッチを作動させるのに用
いるクロック波形を示している。
第1図に示した積分回路は電流源2とnチャネル電界効
果トランジスタTlのドレイン電極との接続点に接続す
る入力端子lを有している。電流源2の他端は正の電源
ライン3に接続し、トランジスタTIのソース電極は負
の電源ライン4に接続する。トランジスタT1のドレイ
ン電極は、そのゲート電極とスイッチS1の一端とに接
続する。スイッチSlの他端はコンデンサC1とnチャ
ネル電界効果トランジスタT2のゲート電極との接続点
に接続する。トランジスタT2のソース電極及びコンデ
ンサCIの他端は負の電源ライン4に接続する。トラン
ジスタT2のドレイン電極はpチャネル電界効果トラン
ジスタT3のドレイン電極に接続し、トランジスタT3
のソース電極は正の電源ライン3に接続する。トランジ
スタT3のドレイン電極はそのゲート電極とスイッチS
2の一端とに接続する。スイッーチS2の他端はpチャ
ネル電界効果トランジスタT4のゲート電極とコンデン
サC2との接続点に接続する。
トランジスタT4のソース電極及びコンデンサC2の他
端は正の電源ライン3に接続する。トランジスタT4の
ゲート電極はpチャネルに電界効果トランジスタT6の
ゲート電極にも接続し、このトランジスタT6のソース
電極を正の電源ライン3に接続する。トランジスタT4
のドレイン電極はnチャネル電界効果トランジスタT7
のドレイン電極に接続し、トランジスタT7のソース電
極は負の電源ライン4に接続する。トランジスタT7の
ドレイン電極は帰還ライン10を介してトランジスタT
Iのドレイン電極にも接続する。電流源9を正の電源ラ
イン3とnチャネル電界効果トランジスタTIOのドレ
イン電極との間に接続し、トランジスタTIOのソース
電極は負の電源ライン4に接続する。トランジスタTI
Oのドレイン電極は、そのゲート電極と、トランジスタ
T7のゲート電極と、nチャネル電界効果トランジスタ
T9のゲート電極とに接続する。トランジスタT9のソ
ース電極は負の電源ライン4に接続すると共に、そのド
レイン電極はトランジスタT6のドレイン電極と出力端
子7とに接続する。
第1図に示す回路は次のように作動する。入力端子lに
供給される電流iはサンプル化電流であり、これは各サ
ンプリング周期中はほぼ一定であるが、順次のサンプリ
ング周期にて値が変化して連続アナログ信号のようにな
って取出される。トランジスタT4とI7によりそれぞ
れ発生される電流の差である帰還電流itは帰還路10
に発生し、又トランジスタT6とI9によりそれぞれ発
生される電流の差である出力電流i、は出力端子7に発
生する。
電流源2及び9は、いずれもバイアス電流jを発生する
。トランジスタT3. I4及びI6により伝導される
電流比はl:B:Aとなり、又トランジスタTIO,I
9及びI7により伝導される電流比はl:A:Bとなる
ように構成する。スイッチSlは各サンプリング周期の
一部の期間φの間は閉じ、又スイッチS2は各サンプリ
ング周期の非重畳部分の期間φの開閉じるようにする。
サンプリング周期(n−1)(第2図参照)の内の1の
期間中には電流i (n−1)が入力端子1に供給され
、この電流は電流源2によって発生されるバイアス電流
jとラインIOにおける帰還電流11と相俟って第1メ
モリセルの入力端子に供給される。この結果、トランジ
スタT2により次式にて表わされる電流I2が発生する
12=i(n−1)+ j +ir ここに、xr=xa(n−1) B/Aであり、従って
I2は次式の如(表わされる。即ち、 12= 1(n−1)+ j  + i、(n−1) 
 B/Aサンプリング周期nのφ部分の期間中にはスイ
ッチS1が開くが、電流■2の値はコンデンサC1の電
荷によって以前の値に維持される。従って、電流I2=
 1(n−1)+ j + i、(n−1)B/Aが第
2メモリセルの入力端子に供給され、スイッチS2が閉
じると、電流■4がトランジスタT4により発生し、又
電流■6がトランジスタT6により発生する。電流■4
はB12に等しく、又電流■6はA12に等しい。従っ
て、サンプリング周期nの期間中の電流I6は次式によ
って表わされる。
1s(n)=A[1(n−1)+ j + 1o(n−
1) B/AI電流1o(n)はI5(n)  AJに
よって与えられる。
従って、 1o(n)=A 1(n−1)+Aj+A 1o(n−
1) B/A−Aj=A 1(rrl)+B 1o(n
−1)Z領域(ドメイン)への変換をすると、1o(z
)=A 1(z)z−’+B 1o(z)z−’となり
、このために次式が成立する。
により説明する。順方向オイラー変換 ■ Z ” L 従って、B=lはa=Oに相当し、これは無損失積分で
ある。第1図に示した積分器は、入力端子lをトランジ
スタTlのドレイン電極に接続する代わりにトランジス
タT2のドレイン電極に接続することにより逆方向オイ
ラー変換に従って積分処理をすべく変更することができ
る。
(発明が解決しようとする課題) 特願昭63−25704号明細書(特開平1−1969
11号公報)の第20図に記載されたこの積分回路には
種々の欠点がある。この積分回路は、適宜に作動させる
際、前のサンプリング周期におけるトランジスタT1の
ドレイン電極に供給される電流の正しいレプリカである
帰還電流i、(バイアス電流jで相殺)に依存するよう
になる。しかし、この帰還電流の精度は多数のファクタ
によって損なわれるようになる。即ち、先ず第1に、帰
還ループの利得が1以上となる場合にはシステムが不安
定となる。逆に利得が1以下となる場合には積分器は損
失が大きくなり、従ってインバータは、カットオフ周波
数がクロック周波数よりも著しく低くなる場合に利得が
僅かに変化してもそのカットオフ周波数が高感度となる
ような1次の低域通過フィルタとなる。従って帰還ルー
プの利得はトランジスタTI及び12間の整合及びトラ
ンジスタT3及び14間の整合によって直接決まるよう
になる。第2に、スイッチS1及びS2によって、信号
を歪ませると共に積分器に蓄積されてその出力側に直流
オフセットを生ぜしめるクロックフィードスルーを導入
するようになる。第3に、電流メモリセルの各々には、
ダイオード接続されたトランジスタの1/gmと、スイ
ッチの“オン抵抗値”と、出力トランジスタのゲート容
量(及び所望に応じ追加のコンデンサ)とにより設定さ
れた時定数が存在する。この時定数により非直線性電圧
領域で信号をフィルタ処理するため、信号歪みを生じる
ようになる。更に、この時定数と、サンプルされた信号
の周波数により決まる遅延によって単位遅延z−1の実
効値を変化し、これによりフィルタ特性を劣化するよう
になる。
本発明は、これら欠点の1つ以上による影響を除去する
ようにした積分回路を提供することをその目的とする。
(課題を解決するための手段) 本発明は入力信号をサンプル化アナログ電流の形態で積
分する積分回路であって、入力信号を受信する入力手段
と、積分した入力信号を出力信号として発生する出力手
段と、各サンプリング周期の第1部分の期間中、該サン
プリング周期、又は以前のサンプリング周期の第2部分
の期間中に入力端子に供給された電流に関連する電流を
出力端子に発生する電流メモリセルと、該電流メモリセ
ルの出力端子を前記積分回路の出力手段に結合させる結
合手段と、各サンプリング周期の第2部分の期間中前記
電流メモリセルの入力端子に帰還信号を供給する帰還手
段とを具えている積分回路において前記帰還手段が、各
サンプリング周期の第1部分の期間中に前記電流メモリ
セルに供給される信号電流を決定する電流決定手段と、
これにより決定された電流に応じた帰還電流を各サンプ
リング周期の第2部分の期間中前記電流メモリセルの入
力端子に供給する帰還電流供給手段とを具えていること
を特徴とする。
本発明は、遅延された帰還信号電流を、電流ミラー即ち
電流メモリ回路の装置整合に依存せしめるよりも既知の
値に依存せしめて正しい値の帰還電流を生ぜしめるよう
にすると云う事実に基づくものである。これがため、装
置の不整合に対してスイッチング電流技術を用いて製造
されたQ値の高い積分器の感度を減少せしめる装置整合
に対し帰還信号の大きさを不感応とすることができる。
前記電流メモリセルが電界効果トランジスタを具え、該
トランジスタのドレインとゲート電極との間にスイッチ
を接続し、該スイッチを各サンプリング周期の第2部分
の期間中だけ閉じるようにする。
又、前記トランジスタのゲートとソース電極との間に追
加のコンデンサを接続する。
電流メモリセルをかように構成することにより、スイッ
チが解放すると、トランジスタは、スイッチが閉成され
た際にこれに供給される場合と同一の電流を発生させる
電流源として作用する。同一規格のトランジスタを用い
るため、装置の不整合はな(なり、従ってサンプリング
周期の第1期間中に発生した電流は、(スイッチからの
クロックフィードスルー又はコンデンサ或いはゲート/
ソース容量からの電荷の漏洩を無視する場合)サンプリ
ング周期の前の第2期間中に供給された電流に等しくな
る。
前記電流メモリセルの出力端子を前記積分回路の出力手
段に結合させる結合手段が別の第2電流メモリセルを具
えることができる。
これがため、各サンプリング周期内に出力が有効となる
時間を決めることのできる有利な配置を提供することが
できる。
前記帰還電流供給手段が、各サンプリング周期の第2部
分の期間中前記第2電流メモリセルの出力端子を第1電
流メモリセルの入力端子に結合させる手段を具えること
ができる。
正しい電流比を選定する場合には、第2電流メモリセル
の出力を帰還信号に対しほぼ正しい値とし、従って確実
な帰還信号を提供することができる。
前記第1電流メモリセルの入力端子に第3電流メモリセ
ルの入力端子を結合させ、該第3電流メモリセルが各サ
ンプリング周期の第1部分の期間中前記第1電流メモリ
セルの入力端子に発生した電流と、前記第2電流メモリ
セルの出力端子に発生した電流との差電流を受電し、こ
の差電流を各サンプリング周期の第2部分の期間中前記
第1電流メモリセルの入力端子に供給するようにする。
これがため、第3電流メモリセルによって帰還路の第2
電流メモリセルの出力を補正し、従って装置の不整合が
存在する場合でも正しい帰還信号を供給することができ
る。
前記第2電流メモリセルが別の第2出力端子も有し、該
第2出力端子が各サンプリング周期間の第1部分の期間
中、第1出力端子における電流の所定比率の電流を供給
し、この電流を前記第3電流メモリセルの入力端子に供
給するようにする。
これがため損失の大きな積分器を形成することができる
。その理由は第3電流メモリセルに°より帰還信号を過
剰に補正して(他の出力のスケーリングファクタに依存
し)出力電流の1部分のみを入力側に帰還し得るように
なるからである。
前記人力信号にバイアス電流を加える手段及び前記帰還
及び出力信号から適当な比率のバイアス電流を差引(手
段も設けて、双方向入力電流を積分し、且つ双方向出力
電流を発生し得るようにする。
これがため、単方向電流のみをモジュール内で処理して
電流メモリ及び電流ミラー回路の入力ダイオードを逆バ
イアスしないようにして双方向入出力電流を受けて発生
するスイッチド電流システム内で自己保持モジュールと
して積分器を形成することができる。
積分回路は、単極性の電界効果トランジスタによっての
み信号電流を導通せしめるように構成することができ、
且つ、nチャネル電界効果トランジスタのみが信号電流
を流すように構成することができる。
これがため、特願平1−320.375号明細書に記載
したように所定電流特性に対し、低い供給電圧を用いる
ことができる。
(実施例) 第3図は本発明積分回路の第1例を示す。この積分回路
の入力端子30をスイッチS30を経て電流源31の一
端とnチャネル電界効果トランジスタT31のドレイン
電極との接続点に接続する。この電流源31の他端を正
の電源ライン32に接続し、電界効果トランジスタT3
1のソース電極を負の電源ライン33に接続する。又、
トランジスタT31のドレイン電極をスイッチS31を
経てそのゲート電極に接続すると共にコンデンサC31
の一端に接続し、更にnチャネル電界効果トランジスタ
T32のゲート電極にも接続する。コンデンサC31の
他端を負の電源ライン33に接続する。トランジスタT
32のドレイン電極をpチャネル電界効果トランジスタ
T33のドレイン電極に接続し、このトランジスタTa
2のソース電極を正の電源ライン32に接続する。
トランジスタT33のドレイン電極をそのゲート電極に
接続すると共にスイッチ332の一端に接続し、スイッ
チS32の他端をコンデンサC32と2個のpチャネル
電界効果トランジスタT34及びTa2のゲート電極と
の接続点に接続する。トランジスタT34及びTa2の
他端を正の電源ライン32に接続する。トランジスタT
34のドレイン電極をトランジスタT31のドレイン電
極に接続すると共にnチャネル電界効果トランジスタ7
36のドレイン電極に接続する。トランジスタT36の
ドレイン電極をスイッチS33を経てそのゲート電極に
接続すると共にコンデンサC33の一端に接続する。ト
ランジスタT32及び736のソース電極並びにコンデ
ンサC33の他端を負の電源ライン33に接続する。ト
ランジスタT34のドレイン電極を出力端子34に接続
すると共に電流源35を経て負の電源ライン33に接続
する。コンデンサC31,C32及びC33はそれぞれ
トランジスタT32. Ta2及びTa2のゲート/ソ
ースキャパシタンスによって形成するか、又は追加のコ
ンデンサとすることができる。電流源31は電流jを発
生すると共に電流源35は電流A−jを発生するように
構成する。スイッチS30及びS31は各サンプリング
周期の期間φ中閉成するが、スイッチS32及びS33
は各サンプリング周期の期間φ中閉成するように構成す
る(第2図参照)。
本発明積分回路の作動は次の通りである。サンプリング
周期(n−1)の期間f中電流1(n−1)を入力端子
30に供給し、従ってj+1(n−1)+ir (n−
1)に等しい電流L(ロー1)がトランジスタT31及
びTa2、コンデンサC31並びにスイッチS31によ
り形成された第1電流メモリセルに供給されるようにな
る。
期間iの終了時にスイッチS30及びS31が開放して
トランジスタT31が電流1.(n−1)を通す電流源
となると共にトランジスタT32にも1.(n−1)に
等しい電流が流れるようになる。サンプリグ周期nの期
間φ中スイッチ332及びS33が閉成してトランジス
タT34にj+i(n −1)+i+ (n−1)に等
しい電流Ib(n)が流れるようになる。このトランジ
スタT34はトランジスタT33、スイッチS32及び
コンデンサC32と相俟って第2電流メモリセルを構成
する。
しかし、実際には電流1bは、トランジスタT31及び
びTa2間並びにトランジスタT33及び734間′の
各不整合と、スイッチS31及びS32のクロックフィ
ードスルー効果とにより、電流1.に正確に等しくなら
ない。両トランジスタT31及びTa2は電流源として
作用するため、電流1.(n−1)及びI b (n)
の差電流と電流iとの和の電流が電流L(n)= In
(n−1)−Ib(ロ)+iとしてトランジスタT36
に流れるようになる。このトランジスタT36はスイッ
チS33及びコンデンサC33と相俟ってエラー電流1
c(n)を記憶する第3電流メモリセルとして作用する
サンプリング周期nの期間φ中電流1(n)が入力端子
30に供給され、従って帰還電流ir (n)は■1(
n−1)=Tb(n)−1c(n)に等しくなる。これ
がため、帰還電流i+ (n)は所望値に極めて近似し
、トランジスタT31及びTa2間並びにトランジスタ
T33及び734間の整合に依存しなくなる。又、スイ
ッチS31及び332によるクロックフィールドスルー
効果は打消されるようになるが、第1図のスイッチSt
及びS2によるクロックフィードスルー効果は蓄積され
るようになる。帰還信号itの精度は原理的には電流I
cがトランジスタT36により保持され得る精度に依存
し、電流源331及び335間の不整合は積分されなく
なる。その理由は、電流源31の影響による第2電流メ
モリセルの出力に存在するバイアス電流が、電流源31
から取出された第3電流メモリセルの出力のバイアス電
流成分によって打消されるようになる。これがため、電
流源31及び35間の不整合によってオフセットエラ=
を発生しても、このエラーは、第1図の積分回路の場合
のように積分されることはない。
第4図は、本発明による損失性積分器を示す回路図であ
る。この積分器の入力端子4IはスイッチS41を経て
電流源42の一端とnチャネル電界効果トランジスタT
41のドレイン電極との接続点に接続されている。電流
源42の他端は正の電源ライン43に接続され、トラン
ジスタT41のソース電極は負の電源ライン44に接続
されている。トランジスタT41のドレイン電極はスイ
ッチS42を経てそのゲート電極及びnチャネル電界効
果トランジスタT42のゲート電極に接続されている。
トランジスタT42のゲート電極と負の電源ライン44
との間′にはコンデンサC42が接続されている。トラ
ンジスタT42のドレイン電極はpチャネル電界効果ト
ランジスタT43のドレイン電極に接続され、そのソー
ス電極は正の電源ライン43に接続されている。
トランジスタT43のドレイン電極はそのゲート電極及
びスイッチ343の一端に接続され、スイッチ343の
他端は他の3つのpチャネル電界効果トランジスタT4
4. T45及びT47のゲート電極に接続されている
。トランジスタT41のゲート電極と正の電源ライン4
3との間にはコンデンサC43が接続されている。トラ
ンジスタT44のドレイン電極はトランジスタT41の
ドレイン電極及びnチャネル電界効果トランジスタ74
6のドレイン電極に接続されている。トランジスタT4
6のドレイン電極はスイッチS44を経てそのゲート電
極に接続され、そのゲート及びソース電極間にコンデン
サC44が接続されている。トランジスタT42及びT
2Oのソース電極は負の電源ライン44に接続されてい
る。トランジスタT44のドレイン電極はスイッチS4
5を経てトランジスタT45のドレイン電極と電流源4
5の一端との接続点に接続され、この電流源45の他端
は負の電源ライン44に接続されている。トランジスタ
T47のドレイン電極は出力端子47に接続され且つ電
流源46を経て負の電源ライン44に接続されている。
トランジスタT44. T45及びT47のソース電極
は正の電源ライン43に接続されている。
トランジスタT41及びT42はゲート幅/長さの比が
同じとなり、これらトランジスタ間にl=1の電流比が
存在するように構成する。同様に、トランジスタT43
及びT44もゲート幅/長さの比が同じとなるように構
成する。しかし、トランジスタT45のゲート幅/長さ
の比はトランジスタT43のゲート幅/長さの比の(1
−B)倍となるように構成し、トランジスタT47のゲ
ート幅/長さの比はトランジスタT43のゲート幅/長
さの比のA倍となるように構成する。電流源42は電流
jを生じるように構成すると、電流源45は電流(1−
B月を生じ、電流源46は電流Ajを生じる。スイッチ
S41及びS42は各サンプリング周期の一部φ中閉成
され、スイッチS43. S44及びS45は各サンプ
リング周期の一部φ中閉成される。
この場合の動作原理は、各サンプリング周期のφ部分中
トランジスタT45により追加の電流(1−B)jが生
ぜしめられ、この電流がスイッチS45により第3電゛
流メモリセル(トランジスタT46、スイッチS44及
びコンデンサC44)の入力端子に供給されるという点
を除いて第3図につき説明した理想的な積分器の動作原
理に類似している。この電流はサンプリング周期のφ部
分中はスイッチS45が開放しているために抑止され、
従って帰還電流はB−1,となる。この電流B’lrを
生ぜしめるためには、トランジスタT43及び745間
を正しく整合させ、バイアス電流(1−B月を正しく除
去する必要がある。しかし、これらに誤差があると、フ
ァクターBよりも通常著しく小さなファクター(1−B
)が影響を受ける。Bが1に近いと、第1図に示す方法
に対する主たる問題が生じる。
電流源45及び46は入力枝路(ブランチ)がトランジ
スタT46より形成される電流ミラー回路或いは電流メ
モリ回路と置き換えることができる。出力枝路における
トランジスタは1:1−BAAの電流比を生じるような
寸法にする。このようにすることにより、帰還信号の上
述した補正によって補償されないトランジスタT43.
 T45及び747間の不整合誤差が減少するという利
点が得られる。その理由はこの場合、トランジスタ74
6中の誤差電流が出力枝路に鏡像関係で流れるためであ
る。
第5図は、第4図に示す理想的な積分器の例に類似する
形態の本発明による一般化した損失圧積分器の第1実施
例を示しており、等価な素子には同じ符号を付した。第
5図に示す実施例は追加の入力端子48を有し、この入
力端子は第1スイツチ348を経て電流源42とトラン
ジスタT41のドレイン電極との接続点に接続され、且
つ第2スイツチS49を経てトランジスタT42及びT
43のドレイン電極の相互接続点に接続されている。
動作中は電流iが端子41に供給され、一方電流iが端
子48に供給される。スイッチS41は信号FB・φ(
FEは順方向オイラー変換を表わす)により閉じられ、
スイッチS48及びS49は信号BE・φ(BEは逆方
向オイラー変換を表わす)により閉じられる。BE=F
E=1の場合、双一次積分器が形成される。サンプリン
グ周期(n−1)の部分φ中、トランジスタT41を流
れる電流1.は 1、 = j−i(n−1)+i t で与えられる。ここに、 である。従って、 1、 =j−i(n−1) +  −10(n−1)で
ある。サンプリング周期nの部分φの期間中、電流if
は ir ・Is −ri(n) =io(n)/Aで与え
られる。従って、 to(n)        B j−i(n−1) +    1o(n−1)−j−i
(n)A         A が得られ、従って、 従って、 io (z)/A −=io (z) z ’ =−j
(z)−i(z)z−’従って、損失性双一次積分に対
する式 帰還信号り及び出力信号10は各サンプリング周期の部
分φ中正しい値をとり、このサンプリング周期の残りの
間この値を保つ。従って、出力信号は積分回路の設定時
間の殆どに対し有効となる。
第6図は、第4図に示す理想的な積分器の例に類似する
形態の本発明による一般化した損失性積分器の第2実施
例を示し、この第6図においても等価な素子に同一符号
を付した。第6図に示す実施例は追加の入力端子49を
有し、この入力端子はスイッチ347を経て電流源42
とトランジスタT41のドレイン電極との接続点に接続
されている。
動作中は電流iが入力端子41に供給され、電流−1が
入力端子49に供給される。スイッチS41は信号FB
・φにより閉じられ、スイッチS47は信号BE・φに
より閉じられる。BE=FB=1の場合、双一次積分器
が形成される。双一次積分器としての動作は以下の通り
である。サンプリング周期(n−1)の部分φ中、出力
電流i。(n)は io(ロ)  = A(1,−j) で与えられる。ここに、■、はトランジスタT41を流
れる電流である。また、 ir  (n−1) =(n−1) −1(n−1)で
ある。サンプリング周期nの部分φ中、帰還電流1r(
n)は 1、(n) : j−i(n) + L(n)□ j−
i(n) + −1o(n−1)−i(n−1)で与え
られる。サンプリング周期nの部分φ中は、出力電流1
0(n)は 1o(n) □ A[I−(n)−3]= A[−1(
n) + −1o(n−1) −1(n−1)]で与え
られる。従って、 1n(n)−Bio(n−1) ” −A[1(n) 
−1(n−1)]となる。これを2領域に変換すると、 1o(Z)(1−Bz−’) = −Ai(Zl(1+
z−’)となり、損失性双一次積分器に対する式である
1o(n−1) −1(n−1) で与えられ、トランジスタT41を流れる電流1、(n
)は が得られる。
この場合、出力信号10は各サンプリング周期のφ部分
まで有効にならずに、1つの差分入力のみが必要とされ
る。
第7図は、第6図につき説明した2つの相互接続された
積分器を用いた、完全に平衡化される損失性双一次積分
器を示す。この積分器は第1入力端子141を有し、こ
の入力端子はスイッチ5I41を経て源流源142の一
端(この電流源の他端は正の電源ライン143に接続さ
れている)とnチャネル電界効果トランジスタT141
のドレイン電極との接続点に接続され、且つスイッチ5
241を経て電流源242の一端(この電流源の他端は
正の電源ライン143に接続されている)とnチャネル
電界効果トランジスタT241のドレイン電極との接続
点に接続されている。第2入力端子149はスイッチ5
149を経て電流源142とトランジスタT141のド
レイン電極との接続点に接続され、且つスイッチ524
9を経て電流源242とトランジスタT241のドレイ
ン電極との接続点に接続されている。トランジスタT1
41のドレイン電極はイスッチ5142を経てそのゲー
ト電極及びnチャネル電界効果トランジスタT142の
ゲート電極に接続されている。トランジスタT142の
ゲート及びソース電極間にはコンデンサCl42が接続
されている。トランジスタT142のドレイン電極はn
チャネル電界効果トランジスタT143のドレイン及び
ゲート電極に且つスイッチ5143の一端に接続され、
このスイッチの他端は他の4つのnチャネル電界効果ト
ランジスタT144. T145. T147及びT1
50のゲート電極に接続されている。トランジスタT1
44のゲート及びソース電極間にはコンデンサC143
が接続されている。トランジスタT144のドレイン電
極はトランジスタTl41のドレイン電極と、nチャネ
ル電界効果トランジスタ7146のドレイン電極と、ス
イッチ5144の一端とに接続され、このスイッチの他
端はトランジスタT146のゲート電極に接続されてい
る。トランジスタT146のゲート及びソース電極間に
はコンデンサC144が接続されている。
トランジスタT145のドレイン電極をnチャネル電界
効果トランジスタT152のドレイン電極に接続すると
共にスイッチ5145を経てトランジスタT146のド
レイン電極に接続する。トランジスタ150のドレイン
電極をnチャネル電界効果トランジスタT151のドレ
イン及びゲート電極に接続すると共にトランジスタT1
47のドレイン電極を出力端子147及びnチャネル電
界効果トランジスタT153のドレイン電極に接続する
。トランジスタT141. T142゜T146. T
152. T151及びT153のソース電極を負の電
源ライン144に接続すると共にトランジスタTl43
゜T144. T145. T150及びT147のソ
ース電極を正の電源ライン143に接続する。
トランジスタT241のドレイン電極をスイッチ524
2を経てそのゲート及びnチャネル電界効果トランジス
タT242のゲート電極に接続する。キャパシタC24
2をトランジスタT242のゲート及びソース電極間に
接続する。トランジスタT242のドレイン電極をpチ
ャネル電界効果トランジスタのドレイン及びゲート電極
に接続すると共にス・イッチ5243を経て4個のpチ
ャネルトランジスタT244. T245゜T250及
びT247のゲート電極に接続する。キャパシタC24
3をトランジスタT244のゲート及びソース電極間に
接続する。トランジスタT244のドレイン電極をトラ
ンジスタT246及びT241のドレイン電極に接続す
る。スイッチ5244をトランジスタT246のゲート
及びドレイン電極間に接続すると共に、キャパシタC2
44をそのゲート及びソース電極間に接続する。トラン
ジスタT245のドレイン電極をnチャネル電界効果ト
ランジスタT252のドレイン電極に接続すると共にス
イッチ5245を経てトランジスタT246のドレイン
電極に接続する。トランジスタT250のドレイン電極
をnチャネル電界効果トランジスタT251のドレイン
及びゲート電極に接続すると共に、トランジスタT24
7のドレイン電極を出力端子247及びnチャネル電界
効果トランジスタT253のドレイン電極に接続する。
トランジスタT151゜T252及びT253のゲート
電極をトランジスタT152゜T153及びT251の
ゲート電極と同様に相互接続する。
トランジスタT243. T244. T245. T
250及びT247(7)ソース電極を正電源ライン1
43に接続すると共にトランジスタT241. T24
2. T246. T252. T251及びT253
のソース電極を負電源ライン144に接続する。
トランジスタT141及びT142とキャパシタc14
2とが1:lの電流比を有する第1電流メモリセルを構
成し、トランジスタT143. T144. T145
. T150及びT147とスイッチ5143とキャパ
シタC143とがl:1 :  (1−B)/2 : 
1 : A/2の電流比を有する第2電流メモリセルを
構成し、トランジスタT241及びT242とスイッチ
5242とキャパシタC242とがl:lの電流比を有
する第4電流メモリセルを構成し、トランジスタT24
3. T244. T245. T250及びT247
とスイッチ5243とキャパシタC243とがl : 
1 : (1−B)/2 : 1 :A/2の電流比を
有する第5電流メモリセルを構成する。トランジスタ7
146とスイッチ5144とキャパシタC144とが第
3電流メモリセルを構成すると共に、トランジスタT2
46とスイッチ5244とキャパシタC244とが第6
電流メモリセルを構成する。トランジスタT151. 
T253及びT252がl:A/2 :  (1−B)
/2の電流比を有する第1電流ミラー回路を構成すると
共にトランジスタT251. T153及びT152が
1 : A/2 :  (1−B)/2の電流比を有す
る第2電流ミラー回路を構成する。前例と同様に電流源
142及び242は電流jを供給する。
当業者であれば明らかなように、第7図に示す積分回路
は第6図に示す積分器を2つ、差動電流を受信し発生す
るよう相互接続したものであり、同相モード歪みが最小
になる。第6図の電流源45及び46は第1及び第2電
流ミラー回路の適切な出力ブランチと置き換えである。
この回路の動作の解析は第6図につき説明した解析と同
様に行なうことができる。
第8図は信号電流がnチャネル電界効果かトランジスタ
のみを通過するようにした積分回路の実施例を示す。こ
の積分回路は順方向オイラー変換を用いるが、逆方向オ
イラー及びパイリニア積分回路を当業者に明らかなよう
にこの回路の適切な変更により構成することもできる。
第8図に示す積分回路はスイッチS80を経て、他端が
正電源ライン88に接続された電流源81とnチャネル
電界効果トランジスタT81のドレイン電極との接続点
に接続された入力端子80を具えている。スイッチS8
1をトランジスタT81のドレイン電極とのゲート電極
及び他のnチャネル電界効果トランジスタT82のゲー
ト電極との間に接続する。キャパシタC81をトランジ
スタT82のゲート及びソース電極間に接続する。トラ
ンジスタT82のドレイン電極を電流源82を経て正電
源ラインに接続すると共に−nチャネル電界効果トラン
ジスタT83のドレイン及びゲート電極に接続する。ト
ランジスタT83のゲート電極をスイッチS83を経て
nチャネル電界効果トランジスタT84のゲート電極に
接続する。キャパシタC83をトランジスタT84のゲ
ート及びソース電極間に接続する。トランジスタT84
のドレイン電極をトランジスタT81のドレイン電極に
、電流源83を経て正電源ライン88に、及びnチャネ
ル電界効果トランジスタT85のドレイン電極にそれぞ
れ接続する。スイッチS85をトランジスタT85のド
レイン及びゲート電極間に接続すると共に、キャパシタ
C85をそのゲート及びソース電極間に接続する。トラ
ンジスタT84のゲート電極を他の2つのnチャネル電
界効果トランジスタT86及びT87のゲート電極に接
続すると共に、トランジスタT86及びT87のドレイ
ン電極をそれぞれ電流源86及び87を経て正電源ライ
ン88に接続する。トランジスタT86のドレイン電極
を出力端子85に接続すると共に、トランジスタT87
のドレイン電極をスイッチS87を経てトランジスタT
84のドレイン電極に接続する。トランジスタ781〜
T87のソース電極を負電源ライン89に接続する。
電流源81及び83は電流jを供給し、電流源82は電
流2jを供給し、電流源86は電流Ajを供給し、電流
源87は(1−B) jを供給する。スイッチS80及
びS81は各サンプリング周期の部分φ中閉じ、スイッ
チS83. S85及びS87は各サンプリング周期の
部分φ中閉じる。
トランジスタT81及びT82とスイッチS81とキャ
パシタC81とを具える第1電流メモリセルはl:1の
電流比を有する。トランジスタT83. T84゜T8
6及びT87とスイッチS83とキャパシタC83とを
具える第2電流メモリセルの電流比は1:1:A:  
(1−8)である。第3電流メモリセルはトランジスタ
T85とスイッチS85とキャパシタC85とを具える
この回路の動作を、最初にこの回路が理想積分器として
動作し、即ちスイッチS87、電流源87及びトランジ
スタT87が省略されているものと仮定して説明する。
サンプリング周期(n−1)の部分頁中にトランジスタ
T81を流れる電流11は 1+= i (n−1)  ir + Jで与えられ、
さらに i (n−1)はサンプリング周期(n−1)における
入力電流 ir = 10(n−1)/ A である。
サンプリング周期nの部分φ中にトランジスタT83を
流れる電流■2は ハ で与えられ、ここに、 IaはトランジスタT84を流れる電流1n(n)/A
+ j=2j −[:1(n−1) −1o(n−1)
/A+ Dio(n)=  A+ (n−1)+ L(
n−1)である。これを2領域に変換すると、 !o(z)−i。(z)z ’= −A 1(z)z 
’になる。
これは順方向オイラー積分器を表わす。
ここで第3電流メモリセルの作用を考察する。
各サンプリング周期の部分φ中、トランジスタT81は
電流1(n−1)+ ir + jを発生する電流源で
あるとみなせる。誤差電流ifを発生する装置間の不整
合は第3電流メモリセルにより補償される。これは、誤
差電流がトランジスタT85へと流れ、スイッチS85
が部分φの終了端に開くときこの誤差電流が帰還電流か
ら差し引かれるためである。
逆方向オイラー及びパイリニア積分器をこの技術を用い
て構成し得ること明らかであり、またB(Ia−j)を
帰還して(1−8)(l5−j)を差し引くことにより
損失性積分器を構成することもできる。これはスイッチ
S87、トランジスタT87及び電流源87により電流
(1−B)(Is−j)をサンリング周期のφ部分中に
第3電流メモリセルに蓄積された電流から差し引(こと
により、及び従ってφ部分中に電流B(Is−j)を帰
還することにより達成される。また、これらの全ての積
分器を完全な差動形態にすることは当業者に明らかな方
法によって実現することができる。完全な差動バイリニ
ア積分器の一例については本願人に係る同時係属出願の
特願平1−320375号を参照されたい。全nチャネ
ルの回路の代りに全nチャネルの回路を、極性を逆にす
る以外は略々同一の形態で構成することもできること明
らかである。
図示の電流メモリセル及び電流ミラー回路はそれらの最
も簡単な基本形を示した。改善された特性が必要とされ
る場合には種々の高性能回路を用いることができる。こ
の高性能回路としては、カスコード接続電流ミラー又は
電流メモリを用いるもの、ソース縮退抵抗を用いるもの
、ダイナミック素子整合を用いるもの、及び特に入力端
子で電流加算が生ずる場合には電流コンベヤ又は電流コ
ンベヤ型電流メモリセルを用いるものを含む。これらの
技術は本願人に係る同時係属出願の特願昭63−232
151 (特開平1−102798号)、特願昭632
28866号(特開平1−102797号)、特願昭6
3−322205号(特開平1−202012号)、特
願昭63−325704号(特開平1−196911号
)、特願平l−314461号、特願平1−32037
3号、特願平2−35972号及び特願平2−3511
3号に開示されている。
以上の説明から、当業者であれば他の種々の変更が可能
である。このような変更は、電気回路又は電子回路の設
計及び使用において既知の他の特性であって上述した特
徴の代りに又は加えて使用し得る特徴を含むことができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は既知積分回路の構成を示す回路図、第2図は第
1図の積分回路においてスイッチを作動させるために用
いるクロックパルスの波形を示す説明図、 第3図は本発明積分回路の第1例の構成を示す回路図、 第4図は本発明積分回路の第2例の構成を示す回路図、 第5図は本発明積分回路の第3例の構成を示す回路図、 第6図は本発明積分回路の第4例の構成を示す回路図、 第7図は本発明積分回路の第5例の構成を示す回路図、 第8図は本発明積分回路の第6例の構成を示す回路図で
ある。 30・・・入力端子 31、35・・・電流源 32・・・正の電源ライン 33・・・負の電源ライン 34・・・出力端子 330〜S33・・・スイッチ T31−736・・・電界効果トランジスタC3l−C
33・・・コンデンサ T141. T142.5142. C142・・・第
1電流メモリセルT143. T144. T145.
 T150. T147.5143. C143・・・
第2電流メモリセル T146.5144. C144・・・第3電流メモリ
セルT241. T242.5242. C242・・
・第4電流メモリセルT243. T245. T25
0. T247.5243. C243・・・第5電流
メモリセル T151. T152. T253・・・第1電流ミラ
ー回路T152. T153. T251・・・第2電
流ミラー回路80・・・入力端子 S80・・・(サンプリング)スイッチ81、82.8
3.86.87・・・電流源T81. T82. S8
1. C81・・・第1電流メモリセルT83. T8
4. T86. T87. S83. C83・・・第
2電流メモリセル T85. S85. C85・・・第3電流メモリセル
S87・・・(帰還)スイッチ 85・・・出力端子

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、入力信号をサンプル化アナログ電流の形態で積分す
    る積分回路であって、入力信号を受信する入力手段と、
    積分した入力信号を出力信号として発生する出力手段と
    、各サンプリング周期の第1部分の期間中、該サンプリ
    ング周期、又は以前のサンプリング周期の第2部分の期
    間中に入力端子に供給された電流に関連する電流を出力
    端子に発生する電流メモリセルと、該電流メモリセルの
    出力端子を前記積分回路の出力手段に結合させる結合手
    段と、各サンプリング周期の第2部分の期間中前記電流
    メモリセルの入力端子に帰還信号を供給する帰還手段と
    を具えている積分回路において、前記帰還手段が、各サ
    ンプリング周期の第1部分の期間中に前記電流メモリセ
    ルに供給される信号電流を決定する電流決定手段と、こ
    れにより決定された電流に応じた帰還電流を各サンプリ
    ング周期の第2部分の期間中前記電流メモリセルの入力
    端子に供給する帰還電流供給手段とを具えていることを
    特徴とする積分回路。 2、前記電流決定手段が、各サンプリング周期の第1部
    分の期間中前記電流メモリセルの入力端子に、該サンプ
    リング周期、又は以前のサンプリング周期の第2部分の
    期間中前記電流メモリセルの入力端子に供給された電流
    に等しい電流を発生する電流発生手段を具えていること
    を特徴とする請求項2に記載の積分回路。 3、前記電流メモリセルが電界効果トランジスタを具え
    、該トランジスタのドレインとゲート電極との間にスイ
    ッチを接続し、該スイッチを各サンプリング周期の第2
    部分の期間中だけ閉じるようにしたことを特徴とする請
    求項2に記載の積分回路。 4、前記トランジスタのゲートとソース電極との間に追
    加のコンデンサを接続したことを特徴とする請求項3に
    記載の積分回路。 5、前記電流メモリセルの出力端子を前記積分回路の出
    力手段に結合させる結合手段が別の第2電流メモリセル
    を具えていることを特徴とする請求項1〜4のいずれか
    に記載の積分回路。 6、前記帰還電流供給手段が、各サンプリング周期の第
    2部分の期間中前記第2電流メモリセルの出力端子を第
    1電流メモリセルの入力端子に結合させる手段を具えて
    いることを特徴とする請求項5に記載の積分回路。 7、前記第1電流メモリセルの入力端子に第3電流メモ
    リセルの入力端子を結合させ、該第3電流メモリセルが
    各サンプリング周期の第1部分の期間中前記第1電流メ
    モリセルの入力端子に発生した電流と、前記第2電流メ
    モリセルの出力端子に発生した電流との差電流を受電し
    、この差電流を各サンプリング周期の第2部分の期間中
    前記第1電流メモリセルの入力端子に供給するようにし
    たことを特徴とする請求項6に記載の積分回路。 8、前記第2電流メモリセルが別の第2出力端子も有し
    、該第2出力端子が各サンプリング周期間の第1部分の
    期間中、第1出力端子における電流の所定比率の電流を
    供給し、この電流を前記第3電流メモリセルの入力端子
    に供給するようにしたことを特徴とする請求項7に記載
    の積分回路。 9、前記入力信号にバイアス電流を加える手段及び前記
    帰還及び出力信号から適当な比率のバイアス電流を差引
    く手段も設けて、双方向入力電流を積分し、且つ双方向
    出力電流を発生し得るようにしたことを特徴とする請求
    項1〜8のいずれかに記載の積分回路。 10、前記信号電流が一極性の電界効果トランジスタに
    よってのみ流れるようにしたことを特徴とする請求項1
    〜9のいずれかに記載の積分回路。 11、前記信号電流がnチャネル電界効果トランジスタ
    によってのみ流れるようにしたことを特徴とする請求項
    10に記載の積分回路。
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