JPH0343647Y2 - - Google Patents

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JPH0343647Y2
JPH0343647Y2 JP10740083U JP10740083U JPH0343647Y2 JP H0343647 Y2 JPH0343647 Y2 JP H0343647Y2 JP 10740083 U JP10740083 U JP 10740083U JP 10740083 U JP10740083 U JP 10740083U JP H0343647 Y2 JPH0343647 Y2 JP H0343647Y2
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JP
Japan
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electron beam
condenser lens
signal
electron
control means
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JP10740083U
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  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本考案はX線防護機能を強化した電子顕微鏡に
関する。
一般に、電子顕微鏡は高電圧により加速された
電子線を用いるため、電子線が照射される部材か
らX線が発生する。しかしながら、電子顕微鏡に
おいては、鏡筒に使用されている金属(鉄、銅合
金等)のみでは鏡筒外へ漏洩するX線を遮蔽する
ことはできない。そのため鏡筒の各所に鉛等を詰
めてX線をシールドして鏡筒外への漏洩を防止し
ている。又、X線の発生は照射される電子線量に
比例するため電子銃、コンデンサーレンズ、結像
レンズ、像観察室と電子線の経路に沿つてX線の
発生量も少くなる。従つて、通常の検鏡状態では
像観察室のX線防護対策はコンデンサーレンズや
試料室のX線防護対策程には厳重に行う必要はな
い。しかし乍ら、電子線経路に挿入されている絞
りや試料を電子線経路から外して行う軸合わせ操
作等の特殊観察においては、観察室に試料室と同
程度の多量の電子線が照射されて強いX線が発生
する可能性がある。そのため、この様な特殊な使
用状態で操作する場合でも、X線漏洩によつて多
量のX線を人体が受けることのないように厳重な
X線防護対策がとられ、そのため装置の大型化や
コストの上昇を招いていた。
本考案は以上の点に鑑みなされたもので、電子
銃からの電子線をコンデンサーレンズにて試料位
置へ集束させた状態で照射する電子顕微鏡におい
て、前記コンデンサーレンズの励磁電流を変化さ
せる電流値可変手段と、該コンデンサーレンズの
励磁電流の基準値を設定する基準値設定手段と、
前記電流値可変手段よりの信号と前記基準値設定
手段よりの信号との比較に基づいて電子線電流を
減じる制御手段と、電子線経路内に挿脱される絞
りの駆動手段とを備え、該駆動手段に連動させて
前記制御手段による制御を行なわせるように構成
した電子顕微鏡を特徴としている。
以下本考案の一実施例を図面により詳述する。
図面は、本考案の一実施例装置の構成略図であ
る。図中1は電子銃で、該電子銃1から放射した
電子線2は第1コンデンサーレンズ3及び第2コ
ンデンサーレンズ4によつて集束され図示しない
試料上に照射される。5は第1コンデンサーレン
ズ3の励磁電源であり、該励磁電源5は電流値可
変手段6によつて第1コンデンサーレンズ3の励
磁電流を可変できるように構成されている。7は
比較機能を有する制御手段で、該制御手段7には
第1のコンデンサーレンズ3の励磁電流の基準値
を設定する基準値設定手段8よりの基準信号(電
圧)と電流値可変手段6よりの信号(電圧)が入
力されて比較される。9は電子線2の電子線量を
制限するためのレンズ絞りであり、該レンズ絞り
9は絞り駆動機構10によつて光軸上に位置した
り、外れたりするように構成されている。11は
絞り駆動機構10と連動したスイツチ機構であ
り、該絞り駆動機構10を操作してレンズ絞り9
を光軸から外すと、作動開始信号が制御手段7に
印加される。制御手段7は基準値設定手段8より
の基準信号と電流値可変手段6の出力信号とを比
較し電流値可変手段6の出力信号が基準値設定手
段8の出力より低くなつた場合には、電子銃電源
12に制御信号を印加して電子銃1をカツトオフ
状態にする等して一定値以上の電流が放出されな
いようにする。
以上の様に構成された装置において、以下本実
施例装置の動作を通常の操作時と特殊な使用状態
(例えば軸合せ)で操作する場合について説明す
る。
先ず、通常の操作時においては、レンズ絞り9
は図に示す様に光軸上に位置される。従つて、こ
の場合のスイツチ機構11はオフとなつており、
この信号が制御手段7に入力されている。この状
態では制御手段7は作動せずコンデンサーレンズ
3をどのように励磁しても電子銃電源12は全く
影響されない。
次に、特殊な使用状態(例えば軸合せ)で使用
する場合は、絞り駆動機構10を操作してレンズ
絞り9を光軸から外すとスイツチ11がオン状態
となり絞り駆動機構10からの信号が制御手段7
に入力され、該信号によつて制御手段7は電子顕
微鏡の使用状態が通常ではなく特殊な使用状態で
あることを認識して作動を開始する。この状態で
は、第1コンデンサーレンズ3の励磁電流を電流
値可変手段6によつて可変し励磁電流が基準値以
下になると、制御手段7は電子銃電源12を制御
して電子銃1からの電子線2の放射を停止する。
そのため、軸合せ等の特殊な使用状態でも一定限
度以上のX線が発生しないため、人体に近い観察
室等でも従来装置の様に必要以上にX線シールド
のための部材を使用しなくても良くなつた。
尚、本考案は図面に示した実施例装置に限定さ
れるものではない。例えば、絞り駆動機構10に
おいてどのような孔径の絞りが挿入されているか
を表わす絞り孔径信号を制御手段7へ供給すると
共に、制御手段7に複数の基準信号電源を設けて
おき、前記絞り孔径信号に応じて複数の基準信号
電源を選択するようになし、該選択された基準信
号電源の出力と電流値可変手段6の出力を比較し
て前述したような電子銃制御を行なえばよりきめ
の細かい制御が可能なる。更に、制御手段7から
の制御信号によつて電子銃電源12を制御する代
わりに電子銃の下方に設けた偏向手段に偏向信号
を加えることによつて電子線が観察室に向わない
ようにしても同じ効果が得られる。
以上の様に本考案は、電子顕微鏡等において、
コンデンサーレンズの励磁条件により電子線照射
を制御又は停止するよう構成したことにより、X
線をシールドする部材を節約でき低廉な装置を提
供する。
【図面の簡単な説明】
図面は本考案の一実施例装置を示す構成略図で
ある。 1:電子銃、2:電子線、3:第1コンデンサ
ーレンズ、4:第2コンデンサーレンズ、5:励
磁電源、6:電流値可変手段、7:制御手段、
8:基準値設定手段、9:レンズ絞り、10:絞
り駆動機構、11:スイツチ機構、12:電子銃
電源。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 電子銃からの電子線をコンデンサーレンズにて
    試料位置へ集束させた状態で照射する電子顕微鏡
    において、前記コンデンサーレンズの励磁電流を
    変化させる電流値可変手段と、該コンデンサーレ
    ンズの励磁電流の基準値を設定する基準値設定手
    段と、前記電流値可変手段よりの信号と前記基準
    値設定手段よりの信号との比較に基づいて電子線
    電流を減じる制御手段と、電子線経路内に挿脱さ
    れる絞りの駆動手段とを備え、該駆動手段に連動
    させて前記制御手段による制御を行なわせるよう
    に構成したことを特徴とする電子顕微鏡。
JP10740083U 1983-07-11 1983-07-11 電子顕微鏡 Granted JPS6015754U (ja)

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JP10740083U JPS6015754U (ja) 1983-07-11 1983-07-11 電子顕微鏡

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JP10740083U JPS6015754U (ja) 1983-07-11 1983-07-11 電子顕微鏡

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Publication Number Publication Date
JPS6015754U JPS6015754U (ja) 1985-02-02
JPH0343647Y2 true JPH0343647Y2 (ja) 1991-09-12

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JP10740083U Granted JPS6015754U (ja) 1983-07-11 1983-07-11 電子顕微鏡

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JPS6015754U (ja) 1985-02-02

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