JPH034334A - クロックアドバンス制御システム - Google Patents

クロックアドバンス制御システム

Info

Publication number
JPH034334A
JPH034334A JP1139816A JP13981689A JPH034334A JP H034334 A JPH034334 A JP H034334A JP 1139816 A JP1139816 A JP 1139816A JP 13981689 A JP13981689 A JP 13981689A JP H034334 A JPH034334 A JP H034334A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
clock
bits
register
modules
internal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP1139816A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2623833B2 (ja
Inventor
Atsushi Iwata
淳 岩田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP1139816A priority Critical patent/JP2623833B2/ja
Publication of JPH034334A publication Critical patent/JPH034334A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2623833B2 publication Critical patent/JP2623833B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明はクロックアドバンス制御システムに関し、特に
情報処理装置の実装モジュール内の内部ブロックへ選択
的にクロックを供給制御する選択的クロックアドバンス
制御システムに関する。
従来技術 情報処理装置内の選択的クロックアドバンス制御は、P
/P(フリップフロップ)チェーン構成のスキャンバス
によるスキャンイン、スキャンアウト制御や情報装置内
の部分診断制御に有効なものである。かかるスキャンイ
ン、スキャンアウト制御を実現する場合、F/P数の少
な、い小型の情報処理装置では装置内を1本のPIFチ
ェーンのスキャンパス構成としてスキャンイン、スキャ
ンアウト制御を行えば良いが、P/P数が非常に多い大
型の計算機やスーパコンピュータのような情報処理装置
では、特定のレジスタ、制御P/Pのスキャンをある程
度高速化しないと、初期設定やログアウトの性能に影響
する。そこで、装置内を複数のブロックに分割し、ブロ
ック単位にスキャンパスを設けるのが一般的である。後
者のように装置内に複数のスキャンバスを有する場合は
、選択したスキャンパスを含むブロック単位のクロック
アドバンス制御が必要である。
装置内の部分診断制御はハードウェア量の非常に多い大
型計算機やスーパコンピュータのような情報処理装置で
行われるもので、装置全体で診断を行うと、その実行時
間が非常に大きくなるため、障害時のようにエラーのイ
ンジケータによりある程度診断すべき範囲が限定できる
ときは、その部分のみの診断を行うことができれば非常
に効率的である。
部分診断が前述したスキャンバス単位のブロック単位に
できれば、それが最良であるが、通常は隣接する複数の
ブロックにまたがることが多い。
これはハードウェアの機能単位に診断を行うのが診断し
易いためである。従って、装置内の部分診断では選択し
た複数のブロック単位のクロックアドバンス制御が必要
となる。
上述のような選択した1つ又は複数のブロック単位のク
ロックアドバンス制御を実現する方式としては、各ブロ
ックに分配するクロック信号対応のビットを有するクロ
ックアドバンス選択レジスタを用意して、このクロック
アドバンス選択レジスタで有効設定されたビットに対応
するクロック信号のみをアドバンスさせる方式が広く採
用されている。
近年では情報処理装置の実装テクノロジーが改良され、
また集積度が向上して、スキャンパスを構成できる複数
のブロックを実装でき、さらに内部に各ブロックにクロ
ックを供給するための分配回路を持つ実装モジュールが
開発されて普及し始めている。このような実装構造の実
装モジュールで構成された情報処理装置に対して、上述
のクロックアドバンス選択レジスタを使用してクロック
アドバンス制御を実現した例を次に説明する。
第2図に示す情報処理装置は、保守診断プロセッサ1と
クロック供給回路2及び主機能を搭載する実装モジュー
ル3〜5で構成されている。
実装モジュール3〜5は各々4つの内部ブロックとクロ
ック分配用の2人カゲート回路とを持っている。実装モ
ジュール3には内部ブロック3a。
3b、3c及び3dと、これに対応するクロック分配用
2入カアンドゲート30 a、  30 b、  30
C及び30dを有する。各々の内部ブロックにはF/F
チェーン構成の1本のスキャンパスが構成されているが
第2図には示していない。
実装モジュール4.5も実装モジュール3と同様の構成
であり、実装モジュール4には内部ブロック4a、4b
、4c及び4dとクロック配分用2入カアンドゲート4
0a、40b、40c及び40dが存在し、実装モジュ
ール5には内部ブロック5a、5b、5c及び5dとク
ロック配分用2入カアンドゲート50a、50b、50
c及び50dが存在する。
クロック供給回路2は実装モジュール3〜5及び保守診
断プロセッサ1にクロックを供給する回路であるが、第
2図には実装モジュール3〜5のクロック供給回路のみ
を示しである。クロックオシレータ22は実装モジュー
ル3〜5の共通のクロックオシレータであり、その出力
即ちクロック信号は分配用バッファゲート210〜21
2で夫々実装モジュール3〜5に入力される。
バッファゲート21Oの出力タロツク信号は実装モジュ
ール3に入力後、クロック分配用2入カアンドゲート3
0a、30b、30c及び30dの各々の第1入力端子
に入力接続される。同様にバッファゲート211 、2
12の出力クロック信号は夫々クロ9タ 0b.40c及び40dの第1入力端子、クロック分配
用2入カアンドゲート50a,50b,50c及び50
dの第1入力端子に入力接続されている。保守診断プロ
セッサ1は実装モジュール3〜5の保守診断を行うプロ
セッサであるが、第2図にはコントローラ16とクロッ
クアドバンス制御回路だけが示しである。
F/l’14は実装モジュール3〜5に含まれる全内部
ブロックにクロックを供給するモード(全りロック供給
モード)を設定するための1ビツトのフリップフロップ
であり、1”のとき全クロック供給モードを指定し、コ
ントローラ16の指示で更新(セット/リセット)され
る。P/P14の出力信号はオアゲート10a〜10d
、lla〜lid及び12a〜12dの第1入力端子に
入力接続されている。
レジスタ17〜19は各々4ビツト構成であり、実装モ
ジュール3〜5に各々存在する4つの内部ブロックに対
応したクロックアドバンス選択レジスタである。レジス
タ17〜19はコントローラ16の指示で更新され、レ
ジスタ17のビット17a、17b、17c及び17d
の出力は、オアゲート10a、10b、10c及び10
dの第2入力端子に、レジスタ18のビット18a、1
8b、18c及び18dの出力はオアゲート11a。
11b、llc及びlidの第2入力端子に、レジスタ
19のビット19g、19b、19c及び19dの出力
はオアゲート12a、12b、12C及び12dの第2
入力端子に夫々対応して入力接続されている。
オアゲート10 a、  10 b、  10 c及び
10dは、実装モジュール3の内部ブロック3a、3b
3c及び3dに対応したクロックイネーブル信号を生成
出力するゲート回路である。オアゲートIQ a、  
10 bh  10 c及び10dの出力は、夫々実装
モジュール3の内部のクロック分配用2入力ゲート30
g、30b、30c及び30dの第2入力端子に入力接
続されている。
オアゲートlla、llb、llc及びlidは、実装
モジュール4の内部ブロック4a、4b。
4C及び4dに対応したクロックイネーブル信号を生成
出力するゲート回路である。オアゲート11a、llb
、llc及びlidの出力は、夫々実装モジュール4の
内部のクロック分配用2入力ゲート40a、40b、4
0c及び40dの第2入力端子に入力接続されている。
オアゲート12a、12b、12c及び12dは、実装
モジュール5の内部ブロック5a、5b。
5c及び5dに対応したクロックイネーブル信号を生成
出力するゲート回路である。オアゲート12a、12b
、12c及び12dの出力は、夫々実装モジュール5の
内部のクロック分配用2人力ゲー)50a、50b、5
0c及び50dの第2入力端子に入力接続されている。
次に、上述の構成におけるクロックアドバンス制御につ
いて説明する。クロックアドバンス制御を行う場合法の
3つのケースがある。
(1)通常動作を行う場合のクロックアドバンス制御 (2)内部ブロック単位のスキャンイン/アウト動作を
行う場合のクロックアドバンス制御(3)部分診断を行
う場合のクロックアドバンス制御 (1)の場合は、実装モジュール3〜5の全内部ブロッ
クにクロックを供給するため、コントローラ16はレジ
スタ17〜19の全ビットを0クリアし、P/F14を
セットして全クロック供給モードに設定する。
(2)の場合は、実装モジュール3〜5の内部ブロック
の中から選択された1つの内部ブロックに対してクロッ
クを供給してその内部ブロックに対するスキャンイン/
アウトを行う。このためコントローラ16はP/P14
をリセットし、所望の内部ブロックに対応するレジスタ
17〜19の中の1ビツトをセットする。
(3)の場合の部分診断は、第3図に示す実装モジュー
ル3〜5の搭載機能単位に実行される。
このためコントローラ16はF/F14をリセットし、
所望の機能を搭載する1つ又は複数の内部ブロックに対
応するレジスタ17〜19の中のビットをセットする。
従って、上記(1)〜(3)の場合を満足するレジスタ
17〜19の設定組合わせは第4図のようになる。
上述したような実装モジュールで構成された情報処理装
置において、部分診断の対象となる機能はマシンサイク
ルを小さくして高速化する理由や、ハードウェアの分割
損をできるだけ小さくする理由等で、一般的に1つの実
装モジュール内に搭載されることが多い。また複数の実
装モジュールで構成しても何の利点もない。
従って、部分診断を行うためにクロックアドバンス選択
レジスタの設定パターンも比較的少なくて済む。ところ
が、従来技術のクロック選択レジスタは内部ブロック単
位独立のビットを持っているので、部分診断の対象にな
り得ない多くの組合せまでも設定可能にしている。この
ように内部ブロック単位のビットを用意すれば全てのバ
リエーションが可能にはなるが、実装モジュール数や内
部ブロック数が大きくなれば、クロック選択レジスタと
し相当大きなハードウェア量を用意しなければならなく
なってしまうという大きな欠点が存在する。
発明の目的 本発明の目的はクロック選択レジスタのハードウェア量
を少なくし得るクロックアドバンス制御システムを提供
することである。
発明の構成 本発明によれば、各々n個(nは2以上の自然数)の内
部クロックを有するm個(mは2以上の自然数)の実装
モジュールにより構成される情報処理装置のクロックア
ドバンス制御システムであって、前記実装モジュールの
各々に1系統のクロック信号を供給するクロック供給手
段と、前記実装モジュールの各々に対応して設けられ、
対応する実装モジュール内のn個の内部ブロックの各々
に前記クロック信号を分配するクロック分配手段と、前
記クロック供給手段からのm系統のクロック信号を夫々
独立に有効/無効指定する実装モジュールクロック制御
手段と、前記クロック分配手段の各々に共通に接続され
、分配されるm本のクロック信号を互いに独立に有効/
無効指定する内部モジュールクロック制御手段とを含む
ことを特徴とするクロックアドバンス制御システムが得
られる。
実施例 以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。第
1図に示す情報処理装置は、保守診断プロセッサ1とク
ロック供給回路2及び主機能を搭載する実装モジュール
3〜5で構成されている。
実装モジュール3〜5は各々4つの内部ブロックとクロ
ック分配用の2人カゲート回路とを有する。実装モジュ
ール3には内部ブロック3a、3b、3c及び3dと、
これに対応するクロック分配相2入カアンドゲート30
a、30b、30c及び30dを有する。各々内部ブロ
ックにはP/Fチェーン構成の1本のスキャンパスが構
成されているが第1図には示していない。
実装モジュール4.5も実装モジュール3と同様の構成
であり、実装モジュール4には内部ブロック4a、4b
、4c及び4dとクロック分配用2人力アンドゲー)4
0a、40b、40c及び40dが存乍し、実装モジュ
ール5には内部ブロック5a、5b、5c及び5dとク
ロック分配相2入カアンドゲート50a、50b、50
c及び50dが存在する。
クロック供給回路2は実装モジュール3〜5及び保守診
断プロセッサ1にクロックを供給する回路であるが、第
1図には実装モジュール3〜5のクロック供給回路のみ
を示している。クロックオシレータ22は実装モジュー
ル3〜5の共通のクロックオシレータであり、その出力
即ちクロック信号は分配用2人カアンドゲート210〜
212の第1入力端子に入力接続されている。
分配用2人カアンドゲート21O〜212は夫々実装モ
ジュール3〜5にクロック信号を供給し、分配用2人カ
アンドゲート210の出力クロック信号は実装モジュー
ル3に人力後、クロック分配相2入カアンドゲート30
a、30b、30c及び30dの各々の第1入力端子に
入力接続される。
同様に、分配用2人カアンドゲート2’ll、212の
出力クロック信号は夫々クロック分配用2人力アンドゲ
ー)40a、40b、40c及び40dの第1入力端子
、クロック分配用2人力アンドゲー)50a、50b、
50c及び50dの第1入力端子に夫々人力接続されて
いる。
オアゲート200〜202は夫々実装モジュール3〜5
に対応したクロックイネーブル信号を生成出力するゲー
ト回路であり、分配用2人力アンドゲート21G〜21
2の第2入力端子に人力接続されている。
保守診断プロセッサ1は実装モジュール3〜5の保守診
断を行うプロセッサであるが、第1図にはコントローラ
16とクロックアドバンス制御回路だけが示しである。
F/F14は実装モジュール3〜5に含まれる全内部ブ
ロックにクロックを供給する全クロック供給モードを設
定するための1ビツトのフリップフロップであり、“1
”のとき全クロック供給モードを指定し、コントローラ
16の指示で更新される。F/P14の出力信号はオア
ゲート103〜10d、lla 〜lid及び12a〜
12dの第1入力端子に入力接続されると共に、バッフ
ァゲート15を介してクロック供給回路2のオアゲート
200〜202の第2入力端子に入力゛接続されている
レジスタ13は全7ビツトのクロックアドバンス選択レ
ジスタであり、ビット130〜132の3ビツトのフィ
ールドは実装モジュール3〜5に対応するクロックイネ
ーブルであり、その出力信号は夫々クロック供給回路2
のオアゲート200〜202の第2入力端子に入力接続
されている。
また、ビット13a〜13dの4ビツトのフィールドは
実装モジュール3の内部ブロック3a〜3d、実装モジ
ュール4の内部ブロック4a〜4d及び実装モジュール
5a〜5dに夫々対応しており、ビット13aの出力信
号はオアゲート10a、lla及び12aの第2入力端
子に、ビット13bの出力信号はオアゲート10b、l
lb及び12bの第2入力端子に、ビット13cの出力
信号はオアゲートlQc、11e及び12cの第2入力
端子に、ビット13dの出力信号はオアゲート10d、
lid及び12dの第2入力端子に夫々入力接続されて
いる。レジスタ13はコントローラ16の指示で更新さ
れる。
オアゲート10 a、  10 b、  10 c及び
10dは実装モジュール3の内部ブロック3a、3b。
3c及び3dに対応したクロックイネーブル信号を生成
出力するためゲート回路である。オアゲート10 a、
  10 b、  10 c及び10dの出力は夫々実
装モジュ、−ル3の内部のクロック分配用2入カゲート
30a、30b、30c及び30dの第2入力端子に入
力接続されている。
オアゲートlla、llb、lie及びlidの出力は
夫々実装モジュール4の内部のクロック分配用2入カゲ
ート40a、40b、40c及び40dの第2入力端子
に入力接続されている。
オアゲート12a、12b、12c及び12dは実装モ
ジュール5の内部ブロック5a、5b。
5c及び5dに対応したクロックイネーブル信号を生成
出力するゲート回路である。オアゲート12a、12b
、12c及び12dの出力は夫々実装モジュール5の内
部のクロック分配用2入カゲート50 a、p 50 
b、 50 c及び50dの第2入力端子に人力接続さ
れている。
次に以上の構成で従来技術同様に実装モジュール3〜5
の内部ブロックに対するクロックアドバンス制御を説明
する。
(1)の通常動作の場合は、コントローラ16はレジス
タ13の全ビットを0クリアし、F/P 14をセット
して全クロック供給モードに設定する。
(2)のスキャンイン/アウト動作の場合は、コントロ
ーラ16はP/P14をリセットし、所望の内部ブロッ
クに対応するレジスタ13のビット13a〜13dの中
の1ビツトと、所望の内部ブロックを含む実装モジュー
ルに対応するレジスタ13のビット130〜132の中
の1ビツトを各々セットする。
(3)の部分診断動作の場合は、コントローラ16はF
/P14をリセットし、第3図で示される所望の機能を
搭載する1つ又は複数の内部ブロックに対応するレジス
タのビット13a〜13dの中のビットと、その内部ブ
ロックを含む実装モジュールに対応するレジスタ13の
ビット130〜132の中の1ビツトをセットする。
従って、上述の(1)〜(3)の場合を満足するレジス
タ13の設定組合わせは第5図のようになる。
第4図と第5図とを比較すると、本発明を使用した第5
図の場合はビット数の少ないクロックアドバンス選択レ
ジスタで所望の動作を実現できることがわかる。
発明の詳細 な説明したように、本発明によれば、実装モジュール単
位のクロックアドバンス選択制御手段と、各実装モジュ
ール共通の内部ブロック単位のクロックアドバンス選択
制御手段とを設けることにより、少ないハードウェア量
でスキャンイン/アウト動作や部分診断動作を実行でき
るという大きな効果がある。
実装モジュール数m1内部ブロック数nを使用して、ク
ロックアドバンスレジスタのビット数を表現すれば、従
来技術では(mXn)ビット、本発明では(m+n)ビ
ットとなり、実施例の比較では従来技術が(3X4)−
12ビツト、本発明が(3+4)−7ビツトであるが、
m、nの数が大きくなればその効果はより顕著となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例のブロック図、第2図は従来技
術を示すブロック図、第3図は第1.第2における内部
ブロックの機能を示す図、第4図は第2図の従来例にお
けるクロックアドバンス制御例を示す図、第5図は本発
明の実施例におけるクロックアドバンス制御例を示す図
である。 主要部分の符号の説明 1・・・・・・保守診断プロセッサ 2・・・・・・クロック供給回路 3.4.5・・・・・・実装モジュール3a〜3d・・
・・・・内部ブロック 4a〜4d・・・・・・内部ブロック 5a〜5d・・・・・・内部ブロック 13・・・・・・レジスタ 16・・・・・・コントローラ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)各々n個(nは2以上の自然数)の内部クロック
    を有するm個(mは2以上の自然数)の実装モジュール
    により構成される情報処理装置のクロックアドバンス制
    御システムであって、前記実装モジュールの各々に1系
    統のクロック信号を供給するクロック供給手段と、前記
    実装モジュールの各々に対応して設けられ、対応する実
    装モジュール内のn個の内部ブロックの各々に前記クロ
    ック信号を分配するクロック分配手段と、前記クロック
    供給手段からのm系統のクロック信号を夫々独立に有効
    /無効指定する実装モジュールクロック制御手段と、前
    記クロック分配手段の各々に共通に接続され、分配され
    るm本のクロック信号を互いに独立に有効/無効指定す
    る内部モジュールクロック制御手段とを含むことを特徴
    とするクロックアドバンス制御システム。
JP1139816A 1989-06-01 1989-06-01 クロックアドバンス制御システム Expired - Lifetime JP2623833B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1139816A JP2623833B2 (ja) 1989-06-01 1989-06-01 クロックアドバンス制御システム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1139816A JP2623833B2 (ja) 1989-06-01 1989-06-01 クロックアドバンス制御システム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH034334A true JPH034334A (ja) 1991-01-10
JP2623833B2 JP2623833B2 (ja) 1997-06-25

Family

ID=15254125

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1139816A Expired - Lifetime JP2623833B2 (ja) 1989-06-01 1989-06-01 クロックアドバンス制御システム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2623833B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8857448B2 (en) 2005-09-15 2014-10-14 Steris Inc. Tunnel washer system with improved cleaning efficiency

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5572264A (en) * 1978-11-27 1980-05-30 Hitachi Ltd Information processor
JPS6293672A (ja) * 1985-10-21 1987-04-30 Hitachi Ltd 階層型論理装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5572264A (en) * 1978-11-27 1980-05-30 Hitachi Ltd Information processor
JPS6293672A (ja) * 1985-10-21 1987-04-30 Hitachi Ltd 階層型論理装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8857448B2 (en) 2005-09-15 2014-10-14 Steris Inc. Tunnel washer system with improved cleaning efficiency

Also Published As

Publication number Publication date
JP2623833B2 (ja) 1997-06-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100343696B1 (ko) 평면 어레이 구조를 갖는 에뮬레이션 모듈
TWI306164B (en) Built-in self test architecture(bist) and method of testing embedded memory arrays using said bist
JPH06342036A (ja) 電子デバイスの試験装置
US5721740A (en) Flip-flop controller for selectively disabling clock signal
US5418915A (en) Arithmetic unit for SIMD type parallel computer
KR19990077412A (ko) 에뮬레이션모듈
US8516025B2 (en) Clock driven dynamic datapath chaining
US4876704A (en) Logic integrated circuit for scan path system
US5331581A (en) Artificial random-number pattern generating circuit
US4389723A (en) High-speed pattern generator
GB2395584A (en) Array-type processor
JPH034334A (ja) クロックアドバンス制御システム
US11222571B2 (en) Driving system for a double rate driving display
EP1380961A1 (en) Process and device for reducing bus switching activity and computer program product therefor
GB2121997A (en) Testing modular data processing systems
US20210183292A1 (en) Driving apparatus for display
JP2004070922A (ja) モジュール試験装置
JPH0764804A (ja) 割込み制御回路
EP0203728B1 (en) Graphics picture element data byte processor
JP3129397B2 (ja) マイクロコンピュータ用エミュレーション装置
JPH06138191A (ja) 半導体集積回路
KR19980064323A (ko) 매트릭스 디스플레이 장치의 구동 신호를 발생시키는 장치
JPS6266175A (ja) 集積回路単体試験用回路
JP3125950B2 (ja) 特定用途向け集積回路
JP3019049B2 (ja) クロック制御回路およびクロック制御方法