JPH0341866A - 光学系の自動測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野１ この発明は電子写真複写機や原稿読取装置等のように、
原稿の画像を結像レンズ等からなる光学系を介して結像
し、原稿の画像の複写又は読取などを行なう装置におい
て、光学系によって結像される光学像の倍率、同じく光
学系によって結像される像のコントラストすなわちモジ
ュレーション、及び光学系の深度方向の傾きをそれぞれ
自動的に検出して表示可能な光学系の自動測定装置に関
する。

［従来の技術Ｊ 従来、上記光学系によって結像される光学像の倍率、同
じく光学系によって結像される光学像のコントラストす
なわちモジュレーション、及び光学系の深度方向の傾き
の検出は、次のようにして行なわれている。以下、（１
）光学系によって結像される光学像の倍率、（２）光学
系によって結像される光学像のモジュレーション、及び
（３）光学系の深度方向の傾きの順に従来技術を説明す
る。

（１）光学系によって結像される光学像の倍率−従来、
上記電子写真複写機等の結像レンズの倍率を検出する装
置としては、次に示すようなものがある。すなわち、プ
ラテンガラスあるいはこれに相当する位置に、所定の間
隔をおいて平行に引かれた２本の指標線を配置するとと
もに、プラテンガラス上に載置された原稿の画像が、結
像レンズ等からなる光学系を介して投影される感光体ド
ラムの表面に対応した位置に磨すガラスを配置し、指標
線の像を磨りガラス上に投影して、その間隔を目視等に
より測定することにより、光学系によって結像される光
学像の倍率を検出するように構成されている。また、投
影する指標線の間隔は、大きいほど倍率の検出精度を上
げることができるため、両指標線の間隔は、数１０ｃｍ
と大きく設定されており、これに応じて磨すガラスも数
１゜ｃｍの大きさのものが用いられている。

（２〉光学像のモジュレーション また、従来、光学像のモジュレーションの検出は、次の
ようにして行なわれていた。

電子写真複写機等においては、プラテンガラス上に原稿
を載置し、この原稿の画像を光源によって照明するとと
もに、原稿からの反射光像を複数枚のミラー及びレンズ
からなる光学系を介して感光体ドラム上に結像して、原
稿の画像の複写を行なうように構成されている。そして
、複写される画像の画質は、露光や現像等の複写プロセ
スに依存するのは勿論のこと、原稿の画像を感光体ドラ
ム上に結像する光学系の特性にも大きく依存している。

この光学系の特性は、結像された画像の特性として直接
現れる。従って、複写機等において良好な複写画像を得
るためには、光学系によって結像された画像すなわち光
学像の特性を調べる必要がある。

ところで、複写機等において通常複写される原稿の画像
は、空間的に様々な周波数で濃淡が分布する画像の重ね
合せとみることができる。そこで、光学像の特性は、あ
る周波数において次の式で与えられるコントラストすな
わちモジュレーションＭｏｄを測定することによって評
価することができる。すなわち、光学像の光強度の極大
値を’　ＨＡＸ□、極小値をＩ　　とすると、モジュレ
ーションＭは、８１Ｍ Ｍｏｄ＝（１−１）／（Ｉ　　　＋Ｉ　　　）ＨＡＸ　
　　ＨＩＭ　　　　　ＨＡＸ　　　［Ｎで与えられる。

そこで、上記複写機等におけるピントの調整は、ラダー
パターン等の原稿の画像をスクリーン上に結像し、この
投影画像のピント状態（例えば、線のボケなど）を目視
により判断して行なっている。

また、上記光学像のモジュレーションの測定は、次のよ
うにして行なわれている。すなわち、ラダーパターン等
の原稿の画像をレンズを介して予め結像位置にセットし
であるフィルム上に結像し、写真フィルムを露光する。

これにより撮影された写真の濃度を測定器を用いて自動
的に測定し、モジュレーションＭＯｄを算出していた。

また、ラダーパターン等の原稿の画像を光学系を介して
センサ上に結像して、原稿の画像を直接センサ等で読取
り、この検出値を波型解析装置等によりフーリエ変換等
の周波数解析を行い、光学像のモジュレーションを測定
するようにしたものもある。

（３）光学系の深度方向の傾き ざらに、従来、光学系の深度方向の傾きの検出は、次の
ようにして行なわれていた。

電子写真複写機等においては、プラテンガラス上に載置
された原稿の画像を、複数枚のミラーとレンズとから構
成される光学系を介して感光体ドラム上に投影すること
によって、画像の複写を行なうようになっている。

上記光学系は、レンズの取付は誤差による光軸の傾き等
によって、原稿の一端からこの画像が結像される感光体
ドラムの一端部までの光学的な距離と、原稿の他端から
この画像が結像される感光体ドラムの他端部までの光学
的な距離が等しくならず、光学系に深度方向すなわち光
軸方向に沿った傾きが生じることがある。このように、
光学系に傾きが生じると、原稿の複写画像がその両端で
倍率が微妙に異なって複写されたり、極端な場合には原
稿の複写画像端部のピントがぼけたりする。

そのため、光学系の深度方向の傾きを検出し、これを補
正することが行なわれている。

この光学系の深度方向の傾きの検出は、感光体ドラムの
表面に対応した位置に磨すガラスを配置し、指標画像を
磨りガラス上に投影して、その胸像のピントを目視や写
真によって観察することによって行なわれていた。また
、上記のごとく深度方向の傾きを検出する際、複写機等
の光学系の設定倍率は、予めある値に決っているため、
その倍率に対応した磨すガラス上の位置に、目印を設け
ておくことにより、この目印の位置に指標画像が鮮明に
結像されるか否かによって、光学系の深度方向の傾きを
検出することができるようになっている。

［発明が解決しようとする課題］ しかし、上記従来技術の場合には、次のような問題点を
有している。以下、（１）光学系によって結像される光
学像の倍率、（２）光学系によって結像される像のモジ
ュレーション、及び（３〉光学系の深度方向の傾きの順
に解決しようとする課題を説明する。

（１〉光学系によって結像される光学像の倍率すなわち
、光学系によって結像される光学像の倍率を検出するに
は、所定の間隔で引かれた２本の指標線の画像を投影し
て倍率を検出するものであるため、検出精度を高くする
には、指標線の間隔を大きく設定するとともに、この指
標線の画像を投影する磨すガラスも大きなものを用いる
必要がある。そのため、これらの部材を一体的に備える
治具等が大型となり、装置が大型化するとともに、コス
ト高になるという問題点があった。また、磨すガラス上
に投影された指標線の画像を目視することによって倍率
を検出するものであるため、作業者による検出のバラツ
キが大きく、検出精度を均一化するのが困難であるとい
う問題点があった。

そこで、本出願人は、上記の光学系によって結像される
光学像の倍率を測定する際の問題点を解決し得るものと
して特願昭６１−２２２２０６号に示すものを既に提案
した。これは、基本的には原稿保持手段の近傍に備えた
検出マークと感光体近傍に備えたラインイメージセンサ
上に結像レンズによって結像して得た信号を処理する手
段とを有するものである。

しかし、この場合には、ラインイメージセンサ上に結像
した２本のライン間の距離を測定するため、ラインのピ
ークを精度良く測定するのが困難であり、倍率検出精度
を十分上げるには不十分なものであった。

（２）光学系によって結像される光学像のモジュレーシ
ョン また、光学像のモジュレーションを測定する場合には、
次に示すような問題点があった。

すなわち、上記従来技術の場合、前者は、光学像のモジ
ュレーションを測定するのに、レンズを介して予め結像
位置にセットしであるフィルム上に結像して写真撮影し
、この撮影された写真の濃度を測定器を用いて自動的に
測定して求める必要がある。そのため、写真撮影された
フィルムの現像、印画紙への焼付は等の暗室作業が必要
となり、非常に作業が面倒であるとともに、又写真現像
法が異なると測定値に大きな誤差が生じるという問題点
があった。

また、後者の場合には、波型解析装置がフーリエ変換等
を行なうものであるため、構成が複雑であり高価である
とともに、フーリエ変換等の演算を行なうものであるた
め、演算に時間が掛かり。

リアルタイムで光学像のモジュレーションを測定するこ
とができないという問題点があった。そのため、複写機
等の装置において、その場で光学像のモジュレーション
を測定して調整等を行なうことができないという問題点
があった。

（３）光学系の深度方向の傾き 一方、光学系の深度方向の傾きを測定する場合には、次
に示すような問題点があった。

すなわち、光学系の深度方向の傾きを、指標画像を磨す
ガラス上に投影して、その画像のピントを目視や写真な
どによって観察することにより検出しているため、検出
作業が面倒であり時間がかかると共に、検出精度には個
人差があるため正確な検出が行なわれ難いという問題点
があった。

そのため、光学系の深度方向の傾きの検出を直接層なわ
ず、光学系部品の機械的な位置決めに頼って、光学系の
深度方向の傾きを調整している場合が多かった。このよ
うに、各光学系部品の機械的な位置決めを精度良く行な
っても、基準となる部品の位置がズしていたり、各部品
の位置ズレが累積されて大きな値となり、光学系の深度
方向に傾きが生じ、複写画像等の品質の劣化を措くとい
う問題点があった。

そこで、本出願人は、上記従来技術の問題点を個々に解
決し、小型且つ高精度で光学系の倍率を検出することが
でき、しかも自動的に倍率を検出することにより検出精
度のバラツキを防止可能な光学系の倍率検出装置（特願
昭６２−３０７１０４号）、光学像のモジュレーション
の測定を極めて短時間に且つ高精度で行なうことができ
、しかも比較的簡単な構成でモジュレーションの測定が
行なえ、安価な光学像のモジュレーション測定装置（特
願昭６３−２９９５７６号〉、及び光学系の深度方向の
傾きを容易にしかも精度良く検出づ゛ることが可能な光
学系の深度方向傾き検出装置（特願昭６３−６７４９６
号〉を既に提案した。

しかし、上記提案装置の場合には、光学系によって結像
される光学像の倍率、モジュレーション及び深度方向の
傾きをそれぞれ別個に検出するものであるため、作業者
が複写機の光学系等を組立てたりする場合には、それぞ
れの装置を用いて順次光学系によって結像される光学像
の倍率、モジュレーション及び深度方向の傾きをそれぞ
れ別個に検出して調整しなければならず、光学系の組立
て等の作業が非常に繁雑となり、装置を使いこなすには
、かなりの熟練を必要とし、光学系の倍率、モジュレー
ション及び深度方向の傾きの測定を自動化した各提案装
置の利点を十分生かし得ないという問題点があった。

また、同様の観点から提案された装置としては、特開昭
６２−１４０５４６号公報、特開昭６３−１３５７２号
公報等に示すものがあるが、これらは、検出精度が十分
でなかったり、光学系によって結像される光学像の倍率
、モジュレーション及び深度方向の傾きのすべてを自動
的に検出することができないという問題点があった。

［課題を解決するための手段］ そこで、この発明は、上記従来技術の問題点を解決する
ためになされたもので、その目的とするところは、光学
系によって結像される光学像の倍率、モジュレーション
及び深度方向の傾きのすべてを自動的に検出することが
できることは勿論のこと、各検出結果を表示する表示手
段を備えることにより、光学系によって結像される光学
像の倍率、モジュレーション及び深度方向の傾きのすべ
てを自動的に検出してこれらを表示し、光学系の調整を
容易に行い得るようにした光学系の自動測定装置を提供
することにある。

すなわち、この発明のうち請求項第１項に記載のものは
、複数の測定用指標と、前記測定用指標の光学像が光学
系によって結像される位置に配設される複数のラインイ
メージセンサと、前記ラインイメージセンサの出力信号
から前記光学系の結像倍率を演算する手段と、前記ライ
ンイメージセンサの出力信号から、前記測定用指標の結
像像のモジュレーションを演算する手段と、前記結像倍
率値から前記光学系の深度方向の傾きを検出する傾き検
出手段と、前記演算及び検出結果を表示する表示手段を
具備するように構成されている。

また、この発明のうち請求項第２項に記載のものは、３
個の倍率測定用指標が３個のラインイメージセンサに対
応して設けられ、各々のイメージセンサの出力信号から
各々結＠倍率及びモジュレーションを演算、検出し、前
記複数の倍率値から前記光学系の深度方向の傾きを検出
し、前記複数のモジュレーションから最小値を検出して
表示することを特徴とする請求項第１項記載の光学系の
自動測定装置に関するものである。

さらに、この発明のうち請求項第３項に記載のものは、
３個の倍率測定用指標が３個のラインイメージセンサに
対応して設けられ、各々のイメージセンサの出力信号か
ら各々結像倍率及びモジュレーションを演算又は検出し
、前記３個のラインイメージセンサのうち中央のライン
イメージセンサから得られた結像倍率によって光学系の
結像倍率を検出し、前記３個のラインイメージセンサの
うち、両端のラインイメージセンサから得られた結像倍
率によって光学系の深度方向の傾きを検出し、前記３個
のラインイメージセンサから得られたモジュレーション
のうち最小値を検出し、これらの演算及び検出結果を表
示手段によって表示するように構成されている。

また、この発明のうち請求項第４項に記載のものは、複
写機の光学系ユニットのプラテンガラス面に配置された
複数のラインイメージセンサと、前記光学系ユニットの
結像位置に配設された複数の倍率測定用指標及び、前記
倍率測定用指標照射用光源とを具備することを特徴とす
る請求項第１項記載の光学系の自動測定装置に関するも
のである。

［作用］ この発明においては、光学系の結像倍率を演算する手段
と、結像像のモジュレーションを演算する手段と、前記
結像倍率値から前記光学系のＩｆｆ方向の傾きを検出す
る傾き検出手段と、前記演算及び検出結果を表示する表
示手段を具備するように構成されているので、光学系の
倍率、モジュレーション及び深度方向の傾きのすべてを
自動的に検出することができ、しかもこれらの検出値を
表示手段に表示するようにしたので、表示手段によって
光学系によって結像される光学像の倍率、モジュレーシ
ョン及び深度方向の傾きのすべてを同時に知ることがで
き、光学系の調整が容易に行える。

［実施例］ 以下にこの発明を図示の実施例に基づいて説明する。

第７図はこの発明に係る光学系の自動測定装置を適用し
得る電子写真複写機を示ずものである。

図において、１は原稿〈図示せず〉を載置するプラテン
ガラスであり、このプラテンガラス１上に載置された原
稿の画像は、光源２により照明されるとともに、その反
射光像は、フルレートミラー３、ハーフレートミラー４
．５、結像レンズ６及び固定ミラー７．８．９を介して
感光体ドラム１０上に結像される。従って、上記複写機
の光学系１１は、光源２と、フルレートミラー３と、ハ
ーフレートミラー４．５と、結像レンズ６と、固定ミラ
ー７．８．９とから構成されている。そして、プラテン
ガラス１上に載置された原稿の画像を感光体ドラム１０
上に走査露光する際、光源２とフルレートミラー３は速
度Ｖで、ハーフレートミラー４．５は速度Ｖ／２でそれ
ぞれ矢印方向に移動し、プラテンガラス１上に載置され
た原稿の画像全面を光学系１１の光路長を変化させずに
、走査露光するようになっている。

第３図は上記電子写真複写機の光・学系を示すものであ
る。図において、１２は複写機の走査光学系１１を組付
けたワークを示すものであり、この光学系のワーク１２
は、上述したように、光源（図示せず）と、フルレート
ミラー３と、ハーフレートミラー４．５と、結像レンズ
６と、固定ミラー７．８．９とからなる光学系１１を備
えている。また、上記結像レンズ６及び固定ミラー７．
８．９は一体的に構成され、レンズユニット１３を構成
している。そして、レンズユニット１３は、光学系のワ
ーク１２に対して走査方向の位置及び傾きが調整可能と
なっており、光学系のワーク１２を組立てる際に、レン
ズユニット１３を微調整して光学系によって結像される
光学像の倍率、モジュレーション及び深度方向の傾きが
所定の状態となるように調整するようになっている。

プラテンガラス１上に載置された原稿の画像は、光学系
１１を介して感光体ドラム１０の表面に結像される。し
かし、結像レンズ６等の部材によって構成される光学系
１１の倍率は、各部材を取付ける際などの誤差等により
、必ずしも所定の値に等しくなっていない。そのため、
複写機を組立てる際に、光学系の倍率を検出して所定の
倍率に調整する必要がある。

また、感光体ドラム１０の表面に結像される画像の画質
は、前記のように光学系１１によって結像される光学像
のモジュレーションによって評価される。上記光学系１
１によって結像される画像のモジュレーションは、複写
機の光学系を設計する段階で、試作された光学系によっ
て投影される光学像のモジュレーションが実際に複写機
に取付けられた状態で、所定の光学像のモジュレーショ
ンが得られているかどうかを評価する際などに測定され
る。

さらに、プラテンガラス１上の原稿位置から感光体ドラ
ム１０の表面までの光学的な距離が、感光体ドラム１０
の軸方向に沿って一定でなくなる、すなわち結像面であ
る感光体ドラム１０の表面が光学系１１に対して深度方
向に傾きをもってしまうことがもっばらである。そのた
め、複写機を組立てる際などに、光学系の深度方向の傾
きを検出して、所定の状態に調整する必要がある。

そこで、この実施例に係る光学系の自動測定装置は、光
学系によって結像される光学像の倍率、モジュレーショ
ン及び光学系の深度方向の傾きを自動的に検出可能とな
っている。

ところで、この実施例に係る光学系の自動測定装置は、
複数の測定用指標と、前記測定用指標の光学像が光学系
によって結像される位置に配設される複数のラインイメ
ージセンサを備えている。

すなわち、測定用指標１４としては、第２図に示すよう
に、細長い長方形状の透明基板１５の表面に、例えば５
〜１０本／ｍｍ等の一定の間隔で多数の直線１６．１６
・・・を互いに平行に形成したものが用いられる。従っ
て、この測定用指標１４を投影すると、一定の間隔で黒
い線状の部分と白い線状の部分とが交互に連続した画像
が得られる。

測定用指標１４は、第３図及び第４図に示すように、例
えば感光体ドラム１０面に対応した位置に、感光体ドラ
ム１０の軸方向に沿って３個配置されている。１つの測
定用指標１４ａは、感光体ドラム１０の軸方向の中央に
軸方向に沿った向きで配置されており、他の２つの測定
用指標１４ｂ１１４Ｃは、感光体ドラム１０の両端に対
応した位置に、ドラムの周方向に沿った向きで配置され
ている。そして、上記測定用指標１４ａ、１４ｂ、１４
Ｃは、第３図に示すように、遮熱板１７を介してハロゲ
ンランプ等の光源１８によって照明されて、測定用指標
１４に形成された線画像１６．１６・・・が投影される
ようになっている。

また、ラインイメージセンサ１９としては、例えばＣＯ
Ｄ等からなる一次元のラインイメージセンサが用いられ
る。これらのラインイメージセンサ１９は、第３図に示
すように、測定用指標１４の像が結像される複写機のプ
ラテンガラス１上に相当する位置に配置されている。１
つのイメージセンサ１９ａは、第５図に示すように、プ
ラテンガラス１の幅方向の中央に走査方向と直交する方
向に沿って配置されており、他の２つのイメージセンサ
１９ｂ１１９ｃは、プラテンガラス１の両端に対応した
位置に、走査方向に沿って配置されている。従って、測
定屈指４ｆｌ１４ａ、１４ｂ、１４Ｃは、第６図に示す
ように、光学系１１を介してラインイメージセンサ１９
ａ、１９ｂ。

１９Ｃ上にそれぞれ結像される。

ところで、上記各ラインイメージセンサ１９ａ１１９ｂ
、１９ｃの出力信号は、第１図に示すように、信号処理
回路２０ａ、２０ｂ、２０ｃｋ−それぞれ入力されてい
る。この信号処理回路２０ａ、２０ｂ、２０Ｃには、ラ
インイメージセンサ１９ａ、１９ｂ、１９ｃからの出力
信号によって前記光学系１１の結像倍率を演算する手段
と、前記ラインイメージセンサ１９ａ１１９ｂ、１９Ｃ
の出力信号から、前記測定用指標１４ａ、１４ｂ、１４
Ｇの結像像のモジュレーションを演算する手段とが設け
ら社ている。

第８図は結像倍率検出回路を示すものである。

この結像倍率検出回路２１は、ラインイメージセンサの
出力信号を一定の間隔でサンプリングすることにより、
出力信号の周期とサンプリング周期との差に基づくモア
レ信号を形成し、このモアレ信号の周期を検出すること
により光学系の結像倍率を演算する信号処理手段と、こ
の信号処理手段によって演算された倍率を表示する表示
手段とを備えている。

すなわち、図において、１９は上記ラインイメージセン
サ、２２はラインイメージセンサ１９を一定周期のクロ
ック信号により駆動するためのセンサ駆動回路、２３は
ラインイメージセンサ１９によって読取られた画像の信
号をサンプルホールドするサンプルホールド回路、２４
は上記サンプルホールド回路２３がサンプルホールドす
るタイミングを決定するためのタイミング回路で、この
タイミング回路２４は、センサ駆動回路２２からのクロ
ック信号を遅延させる遅延回路２５と、遅延されたクロ
ック信号を１／Ｊに分周する分周回路２６とからなって
いる。

２７は上記サンプルホールド回路２３からの出力信号の
低周波成分のみを通過させるローパスフィルタ、２８は
ローパスフィルタ２７の出力信号を基準電圧Ｖ。と比較
する電圧比較器、２つは電圧比較器２８からの出力信号
の周期を検出する周期抽出回路、３０は周期抽出回路２
つによって検出された１周期の間に、Ｎ倍化回路３１か
ら出力されるクロックの数を計数するカウンタ、３２は
ＲＯＭ３３に予め記憶されたプログラムに従って所定の
演算を行なうＣＰＵ、３４は既知のデータを記憶させて
おくＲＡＭである。

この結像倍率検出回路２１では、次のようにして光学系
の倍率が検出される。すなわち、まず−定の間隔で多数
の直線１６．１６・・・を互いに平行に形成した測定用
指標１４ａ、１４ｂ、１４Ｃを感光体ドラム１０の表面
に対応した位置に配置して、この測定用指標１４の線状
画像を光源によって照明し、光学系１１を介してライン
イメージセンサ１９ａ、１９ｂ、１９Ｃ上に結ｔｉＪｌ
ｉａる。

上記測定用指標１４ａ、１４ｂ、１４ｃ＆：は、一定間
隔で多数の直線１６．１６・・・が互いに平行に形成さ
れているため、ラインイメージセンサ１９ａ、１９ｂ１
１９ｃ上には、黒い線状の画像と白い部分とが交互に並
んだ画像が投影される。

従って、ラインイメージセンサ１９ａ、１９ｂ。

１９Ｃを駆動するセンサ駆動回路２２からは、第９図に
示すように、出力電圧が一定の周期へで変化する出力信
号３５が得られる。このラインイメージセンサ１９から
の出力信号は、サンプルホールド回路２３によって第１
０図に示すような所定の周期Ｂの信号３６によってサン
プルホールドされる。このサンプルホールド回路２３に
よってサンプル、ホールドするための信号は、ラインイ
メージセンサ１９を駆動するセンサ駆動回路２２のクロ
ック信号を遅延回路２５によって遅延し、さらに分周回
路２６によって１／Ｊに分周された信号が用いられる。

この分周された信号は、第１０図に示すように、ライン
イメージセンサ１９によって検出された信号の周期Ａか
られずかにズしたものが用いられ、その周期Ｂは、図示
しない調整手段によって作業者が調整する。

上記のように、ラインイメージセンサ１９からの出力信
号をそれに近い周期Ｂでサンプルホールドすることによ
り、出力信号とサンプル信号との周期の差に基づいた信
号が得られる。この信号からローパスフィルタ２７で低
周波成分のみを取出すと、第１１図に示すようなモアレ
信号３７が得られる。次に、このローパスフィルタ２７
の出力信号であるモアレ信号３７を電圧比較器２８によ
って基準電圧■。と比較することにより、この低周波信
号に対応した周ＩＩＩ］Ｃの第１２図に示すようなパル
ス信号３８が得られる。このパルス信号３８は、周期抽
出回路２９に入力され、この周期抽出回路２９によって
パルス信号の立上がりによってパルスの出力をオン・オ
フすることによって、上記パルス信号の周期Ｃに対応し
た輻のパルス信号３９（第１３図）を得ることができる
。さらに、周期抽出回路２９の出力信号は、カウンタ３
０に入力され、このカウンタ３０によって上記パルス信
号の周期Ｃに対応した数のクロック信号がカウントされ
る。このカウンタ３０によって計数されるクロック信号
は、センサ駆動回路２２から得られたクロック信号を遅
延回路２５によって一定時間遅らせた後、Ｎ倍化回路３
１によってＮ倍化されたクロック信号が用いられる。

次に、ＣＰＵ３２は、カウンタ３０からに信号によって
ラインイメージセンサ１９によって検出された画像信号
の周期Ａを基にして、光学系の倍率Ｍを演算する。すな
わち、ラインイメージセンサ１９によって検出された画
像の周期をＡとすると、光学系１１の倍率が１倍の場合
には、この周期Ａ　Ｇ、を測定用指標１４の直線１６．
１６・・−の周期りと一致するはずである。従って、上
記の如く検出された画像の周期Ａと指標部材の直線の周
期りとの比を求めることにより、光学系１１の倍率Ｍａ
ｇを求めることができる。上記ラインイメージセンサ１
９によって検出された画像の周期Ａは、次式によって求
めることができる。

Ａ＝　（ＣｘＢ）／　（Ｃ＋Ｂ）　　　　−（Ｉ’）こ
こで、分母の符号子はＡ＞Ｂの場合に、符号−はＡ＜８
の場合にそれぞれ対応している。

従って、光学系１１の倍率Ｍａｃは、 Ｍａｇ＝Ａ／Ｄ　　　　　　　　　　　・・・（［）で
与えられる。ＲＡＭ３４には予め指標部材１０の線状画
像の周期りが記憶されており、ＣＰＵ３２は、このＤの
値及び（Ｉ）式から得られたＡの値に基づいて、（ＩＩ
）によって光学系の倍率Ｍを演算する。こうして、ＣＰ
Ｌｊ３２によって光学系１１の倍率が求められる。

第１４図は光学像のモジュレーションの検出回路を示す
ものである。この検出回路３９は、ラインイメージセン
サからの出力信号の極大値電圧及び極小値電圧を特徴付
ける量を検出するパラメータ検出手段と、このパラメー
タ検出手段によって検出された極大値電圧及び極小値電
圧を特徴付ける量に基いて、極大（ａ電圧と極小ｌｉｔ
電圧の差を極大値電圧と極小値電圧の和で除算した６）
に対応した量を演算する演算手段とを具備するように構
成されている。

すなわち、１４は上記測定用部材、６は光学系１１の結
像レンズ、１９はＣＣＤ等からなるラインイメージセン
サである。上記ラインイメージセンサ１９は、センサ駆
動回路４０に接続されており、ラインイメージセンサ１
９は、このセンサ駆動回路４０から一定の周期で出力さ
れるクロック信号ＣＫによって駆動されるようになって
いる。

そして、このセンサ駆動回路４０からは、ラインイメー
ジセンサ１９上の光強度分布に対応した信号ａが出力さ
れる。

上記センサ駆動回路４０の出力信号ａは、ローパスフィ
ルタ４１及びバイパスフィルタ４２にそれぞれ入力され
ている。ローパスフィルタ４１は、ラインイメージセン
サ１９の出力から直流成分のみを取出すためのものであ
る。また、バイパスフィルタ４２は、ラインイメージセ
ンサ１９の出ツノから交流成分のみを取出すためのもの
である。

上記バイパスフィルタ４２の出力信Ｑｃは、正のピーク
ホールド回路４３に入力されている。このピークホール
ド回路４３は、バイパスフィルタ４２の出力信号Ｃのピ
ーク値をホールドし、クリア信号ｄによってホールド状
態をリセットする。

上記クリア信＠ｄは、センサ駆動回路４０における駆動
クロック信号ＣＫを分周器４４によって適当な間隔に分
周し、さらに遅延回路４５で所定時間だけ（例えば１ク
ロック分〉遅延した信号ｄが用いられる。例えば、測定
用指標１４の直線１６．１６・・・の１周期がラインイ
メージセンサ１９の１０画素分に相当する場合には、ク
リア信号ｄの間隔すなわち分周する割合は、少なくとも
１０クロック分以上必要である。上記クロック分周器４
４は、その分周するクロック数が測定用指標１４の直１
１１６．１６・・・の周期に応じて調節可能となってい
る。このクロック分周器４４によって分周する割合は、
測定用指標１４の直線１６．１６・・・の３周期に１回
程度のクロックに設定するのが好ましいが、測定用指ｆ
ｉ１４の直線１６．１６・・・のピッチ、レンズの倍率
、センサのピッチ等によりこの幅が変化するため、実際
には１／１００程度に分周するように一神に設定されて
いる。

また、上記ピークホールド回路４３の出力信号ｅは、サ
ンプルホールド回路４６に入力されている。このサンプ
ルホールド回路４６は、ピークホールド回路４３からの
出力信号ｅをサンプル信号ｆに基いてホールドする。上
記サンプル信号ｆは、分周器４４によって分周された信
号が遅延されずにそのまま用いられる。従って、サンプ
ル信号ｆによるサンプルタイミングは、クリア信号ｄに
よるクリアタイミングの直前（′１１延回路４５の遅延
時間分だけ早い）となる。つまり、サンプルホールド回
路４６では、ピークホールド回路４３から出力される信
号ｅのうち、サンプル信号ｆが入力してリセットがかか
る直前の値をサンプリングし、次のサンプル信号ｆが入
力してリセットがかがるまでの間その信号をホールドす
る。こうすることにより、サンプルホールド回路４６は
、ラインイメージセンサ１９からの出力信号の交流成分
の振幅に対応した電圧をホールドする。

さらに、前記ローパスフィルタ４１及びサンプルホール
ド回路４６からの出力信号す、Ｑは、除Ｗ器４７に入力
され、この除算器４７によって、サンプルホールド回路
４６の出力電圧ｑをａ−パスフィルタ４１の出力電圧す
で除算する計算が行なわれる。ここで、ローパスフィル
タ４１からの出力信号すは、第１５図に示すように、ラ
インイメージセンサ１９からの出力信号ａの直流成分す
なわち平均値ｐ。に対応する。また、サンプルホールド
回路４６からの出力信号ｑは、同図に示すように、ライ
ンイメージセンサ１９からの出力信号ａの交流成分の振
幅ｐに対応している。従フて、サンプルホールド回路４
６の出力電圧ｑをローパスフィルタ４１の出力電圧すで
除葬することにより、光学像のモジュレーションＭｏｄ
が求められる。

Ｍｏｄ＝（１−１）／（１＋Ｉ　　　）ＨＡＸ　　　）
ＩＩＮ　　　　　ＷＡＸ　　　）ＩＩＮ＝　（（ｏ０＋
ｐ）−（ｐｏ＋ｏ））／（（ｐ□　＋ｐ）＋　（ｐ（、
＋ｐ））−１）　／　ｐ□ 上記除算器４７からの出力信号りは、そのままアナログ
信号として出力されるか、あるいはＶ／Ｆコンバータ４
８を介して出力電圧に応じた周波数に変換され、このコ
ンバータ４８の出力信号は、カウンタ４９によってカウ
ントされ、この計数値が光学系１１のモジュレーション
となる。

第１６図は上記信号処理部の具体的な回路を示すもので
あり、各回路がオペアンプ等を用いて構成されている。

この光学像のモジュレーション検出回路３９では、次の
ようにして光学像のモジュレーションが検出される。す
なわち、測定用指標１４ａ、１４ｂ１１４Ｇの線状画像
１６．１６・・・を結像レンズ６を介してラインイメー
ジセンサ−９ａ、１９ｂ１１９Ｃ上にそれぞれ投影し、
このラインイメージセンサ−９ａ、１９ｂ、１９ｃによ
って測定用指標１４の投影像を電気信号に変換する。各
ラインイメージセンサ−９からは、第１７図（ａ）に示
すように、測定用指標１４の線状画９１６．１６・・・
に対応した周期の交流信号５０が出力される。このライ
ンイメージセンサ−９からの信号５０は、第１７図（ｂ
）及び（ｃ）に示すよウニ、ローパスフィルタ４１によ
って平均電圧Ｖ　を右する直流成分５１が取出されると
ともに、バイパスフィルタ４２によって極大ｌｉ！電圧
■２を有する交流成分５２のみが取り出される。

上記交流成分５２の信号は、１１７図（ｅ）に示すよう
に、ピークホールド回路４３によってその極大値が一定
の周期で保持され、極大値信号５３が得られるが、この
極大値信号５３は、第１７図（ｄ）に示すように、クリ
ア信号５４によって所定のタイミングでクリアされる。

また、上記ピークホールド回路４３からの出力は、第１
７図（ｆ）に示すように、サンプルホールド回路４６に
よってサンプル信号５５（第１７図（ｅ）〉できまる一
定の両用で出力値がホールドされ、ホールドされた信号
５６が得られる。

そして、上記ローパスフィルタ４１の出力信号５１とサ
ンプルホールド回路４６の出力信号５６は、除算器４７
によって除算され、第１７図（ｈ）に示すように、除算
された一信号５７が得られる。

この除算された信号５７すなわちモジュレーションの値
は、そのままアナログ（直として出力されるか、あるい
はＶ／Ｆコンバータ４８及びカウンタ４９によってデジ
タル信号に変換される。

光学系１１によって結像される測定用指［１４は、ある
空間周波数に対応して線状画像１６．１６・・・を有す
るものであり、適宜他の空間周波数に対応した測定用指
標１４を使用することにより、結像レンズ６のＭＴＦな
どを測定することができる。

また、この実施例に係る光学系の自動測定装置は、複数
の倍率値から光学系の深度方向の傾きを検出する手段と
、複数のモジュレーションから最小値を検出する手段と
を備えている。

すなわち、上記のごとく３個の倍率検出回路２１．２１
．２１によって検出された光学系１１の倍率のうち、中
央のラインイメージセンサ１９ａによって検出された倍
率値は、第１図に示すように、そのまま後述する表示装
置６５に出力される。また、ラインイメージセンサ１９
ｂ、１９ｃによって検出された倍率値は、深度方向傾き
検出回路６０に出力される。　この深度方向傾き検出＠
路６０は、両端のラインイメージセンサ１９ｂ、１９Ｃ
に対応した倍率検出回路２１．２１によって検出された
結像倍率Ｍａｇと、結像倍率ＭａＯ−とを入力し、その
結像倍率の差（Ｍａ。

Ｍａｇ−）によって光学系１１の深度方向の傾きを検出
する。その際、上記深度方向傾き検出回路６０は、結像
倍率の差（Ｍａａ−Ｍａｏ−）をそのまま光学系１１の
深度方向の傾きとして出力しても良い。しかし、予めＲ
ＯＭにレンズの焦点距離及びラインイメージセンサ１９
ｂ、１９ｃ間の距離を記憶させておくことにより、光学
系１１の傾きを角度で出力するようにしても良い。

また、３個のモジュレーション検出回路３９．３９．３
９によって検出されたモジュレーシ」ンの値は、第１図
に示すように、最小値検出回路６２に入力され、ここで
、各モジュレーションの測定値の最小値が検出される。

さらに、この実施例に係る光学系の自動測定装置では、
上記のごとくして演算及び検出された光学系によって結
像される光学像の倍率、モジュレーション及び深度方向
の傾きの結果を表示する表示手段を備えるように構成さ
れている。

すなわち、表示装置１ｆ６５は、第１図に示すように、
中央のラインイメージセンサ１９ａによって検出された
光学系１１の結像イ８率１ｉｆｉＭａｇを、デジタル値
として表示するようになっている。上記表示装置６５は
、光学系１１の結像倍率Ｍａ（ｌを表示するための３〜
４桁の７セグメント表示器６６を備えており、この７セ
グメント表示器６６によって倍率検出回路２１のＣＰＵ
３２から送られてくる光学系１１の結像倍率Ｍａａを表
示するようになっている。

また、最小値検出回路６２によって検出された光学系１
１によって結像される光学像のモジュレーションの値Ｍ
ｏｄは、第１８図（ａ）に示すように、バーグラフ用デ
ータ変換器（ＲＯＭ）６７を介して例えば縦に配置され
た２０セグメントバ一グラフ表示器６８によって表示さ
れる。その煕、上記２０セグメントバ一グラフ表示器６
８のうち下側の１０セグメント（ＬＥＤ）６８ａが赤に
点灯するとともに、上側の１０セグメント６８ｂが青に
点灯するように設定し、しかもモジュレーションの値Ｍ
ｏｄが大きくなるに従って下から上にセグメントが連続
して点灯づ′るように設定し、上側の青い１０セグメン
ト６８ｂが点灯すれば、所定のモジュレーションの値Ｍ
ｏｄに達するように設定されている。

さらに、詳述すると、ＲＯＭからなるデータ変換器６７
には、第１８図（ｂ）に示すように、モジュレーション
ＭＯｄの値と点灯する２０セグメントバ一グラフ表示器
６８の点灯するセグメントの数が予め記憶されている。

ぞして、ＲＯＭは、記憶されたデータに基づいて、モジ
ュレーションＭｏｄの値に応じて２０セグメントバ一グ
ラフ表示器６８のセグメントを点灯すべく信号を送る。

例えば、モジュレーションＭＯｄの値が０．５より大き
いときは合格すなわち青いセグメントが点灯するように
し、また表示値の最低値を０．１、最大値を０．９にそ
れぞれ設定し、その間を２０等分して、七ジ・ニレ−ジ
ョンＭＯｄの値を２０セグメントバ一グラフ表示器６８
によって表示する。

従って、モジュレーションＭｏｄの値が０．１より小さ
い場合には、２０セグメントバ一グラフ表示器６８のセ
グメン１〜は１つも点灯しない。一方、モジュレーショ
ンＭｏｄの値が０．９以上の場合には、２０セグメント
バ一グラフ表示器６８のセグメントがすべて点灯する。

また、モジュレーションＭｏｄの値が０．７の場合には
、２０セグメントバ一グラフ表示器６８のセグメントが
１〜１６まで点灯する。そして、上記の如くモジュレー
ションＭＯｄの値０．５のスペック値を境にセグメント
の色が変化するように設定する。

こうすることによって、光学系の調整を行なう作業者は
、２０セグメント表示器６８の点灯状態を見れば、瞬時
に光学系１１のモジュレーションの（ａＭｏｄが所定の
値にあるか否かを判断することができる。

さらに、上記深度方向傾き検出回路６０によって検出さ
れた光学系１１の深度方向の傾ぎは、第１９図（ａ）に
示すように、バーグラフ用データ変換器（ＲＯＭ）６９
を介して例えば横向きに配置された２０セグメントバ一
グラフ表示器７０によって表示される。その際、上記２
０セグメントバ一グラフ表示器６８のうち中央の１０セ
グメント７０ａが青に点灯するとともに、両端の５セグ
メント７０ｂ、７０ｃが赤に点灯するように設定されて
いる。

そして、光学系１１に深度方向の傾きがないときは、第
２１図に示すように、中央の２セグメントのみが点灯す
るように設定するとともに、光学系１１に深度方向の傾
きがある場合には、第２１図に示すように、片側のセグ
メントがその傾き給に応じて２セグメントずつ点灯する
ように設定されている。また、中央の青い１０セグメン
ト７０ａが点灯すれば、所定の深度方向の傾きが得られ
るように設定しておく。

さらに、詳述すると、ＲＯＭからなるデータ変換器６９
には、第１９図（ｂ）に示すように、深度方向の傾き吊
と点灯する２０セグメントバ一グラフ表示器６９の点灯
するセグメントの数が予め記憶されている。そして、Ｒ
ＯＭは、記憶されたデータに基づいて、深度方向の傾き
邑に応じて２０セグメントバ一グラフ表示″３７０のセ
グメントを点灯すべく信号を送る。

例えば、深度方向の傾き岳が±０．１％以内の場合には
、合格すなわち中央の青い１０セグメント７０ａが点灯
するように設定する。従って、深度方向の傾き最が±０
．１より大きいかあるいは小さい場合には、２０セグメ
ントバ一グラフ表示器７０のうち７０ｔ）又は７０Ｃが
点灯し、深度方向の傾き量が±０．１％以内の場合には
、その傾き社に応じて中央の青い１０セグメント７０ａ
のうち２つのセグメント７０ａが点灯する。

こうすることによって、光学系の調整を行なう作業者は
、２０セグメント表示器７０の点灯状態を見れば、瞬時
に光学系１１に深度方向の傾きがあるか否かを判断する
ことができる。

以上の構成において、この実施例に係る光学系の自動測
定装置では、次のようにして光学系の倍率等の検出及び
調整が行なわれる。ずなわら、複写機の光学系１１を組
立てる際に、光学系１１を構成するワーク１２の感光体
ドラム１０表面に対応した位置に、第４図に示すように
、測定用指標１４ａ、１４ｂ、　１４Ｇを配置するとと
もに、プラテンガラス１の表面に対応した位置に、第５
図に示すように、ラインイメージセンサ１９ａ、１９ｂ
、１９ｃを配置する。

そして、各側窓用指標１４ａ、１４ｂ１１４ｃの線状画
像１６．１６・・・を、これらに対応した各ラインイメ
ージセンサ１９ａ、１９ｂ、１９Ｃによって検出する。

次に、各ラインイメージセンサ１９ａ、１９ｂ、１９ｃ
から出力された検出信号は、信号処理回路２０ａ、２０
ｂ、２０ｃに入力され、これらの各信号処理回路２０ａ
、２０ｂ、２０ｃに設けられた結像倍率検出回路２１及
びモジュレーション検出回路３９によって、各ラインイ
メージセンサ１９ａ、１９ｂ、１９ｃからの出力信号に
よる光学系１１によって結像される光学像の倍率、モジ
ュレーションがそれぞれ検出される。

その後、上記信号処理回路２０ａ、２０ｂ、２０ｃから
の検出値、深度方向傾き検出回路６０及び最小値検出回
路６２からの検出値は、表示装置６５に出力され、この
表示装置６５によって第１図に示すように光学系１１に
よって結像される光学像の結像倍率Ｍａｇ、モジュレー
ションＭＯｄ及び深度方向の傾きが表示される。

ところで、上記表示装置６５は、光学系１１の結像倍率
Ｍａｇを７セグメント表示器６６によってデジタル値で
そのまま表示し、またモジュレーションＭＯｄ及び深度
方向の傾きは、２０セグメントバ一グラフ表示器６８．
７０に表示される。

従って、作業者は、光学系１１のワーク１２を組立てる
際に、第４図に示づように、測定用指標１４ａ、１４ｂ
、１４ｃを感光体ドラム１０の表面に対応した位置に配
置するとともに、第５図に示すように、プラテンガラス
１１上に対応した位置にラインイメージセンサ１９ａ、
１９１）。

１９Ｃを、それぞれ配置する。そして、測定用指標１４
ａ、１４ｂ、１４Ｃのｉｉ！ｊ像をラインイメージセン
サ１９ａ、１９ｂ、１９ｃによって読取り、信号処理回
路２０ａ、２０ｂ、２０ｃによって各ラインイメージセ
ンサ１９ａ、１９ｂ、１９ｃによって読取られた測定用
指標１４ａ、１４ｂ１１４Ｃの結像倍率及びモジュレー
ションを検出する。　その後、上記信号処理回路２０ａ
、２０ｂ。

２０Ｃによって検出されたモジュレーションのうち、最
小値が最小値検出回路６２によって検出されるとともに
ご信号処理回路２０ａ、２０ｂ。

２０Ｃによって検出された結像倍率に基づいて、深度方
向傾き検出回路６０によって光学系１１の深度方向の傾
きが検出される。

そして、信号処理回路２０ａによって検出された中央の
ラインイメージセンサ１９ａに対応した結像倍率Ｍａａ
、最小値検出回路６２によって検出されたモジュレーシ
ョンＭｏｄ、及び深度方向傾き検出回路６０によって検
出された光学系１１の深度方向の傾きは、表示装置６５
に出力され、この表示装置６５の７セグメント表示器６
６．２０セグメントバ一グラフ表示器６８及び７０によ
って、光学系１１によって結像される光学像の結像倍率
Ｍａｐ、モジュレーションＭｏｄ、及び深度方向の傾き
が表示される。

そのため、光学系１１のワーク１２の組立て等を行なう
作業者は、まず、表示装置６５の２０セグメントバ一グ
ラフ表示器６８に表示されたモジュレーションＭＯｄを
見て、光学系１１のモジュレーションＭｏｄが所定の範
囲内にあるかどうかを確認する。そして、モジュレーシ
ョンＭＯｄの値が所定の範囲内にない場合には、光学系
１１のレンズユニット１３の位置を調整して、所定の範
囲内に来るようにする。

次に、表示装置６５の７セグメント表示器６６に表示さ
れた結像倍率ＭａＱを見て、光学系１１の結像倍率Ｍａ
ｇが所定の値に等しいかどうかを確認する。そして、結
像倍率ＭａＱの値が所定の範囲内にない場合には、やは
り光学系１１のレンズユニット１３の位置を調整して、
所定の範囲内に来るようにする。

さらに、表示装置６５の２０ｔ７グメントバ一グラフ表
示器７０に表示された深度方向の傾きを児て、光学系１
１の深度方向の傾きかが所定の範囲内にあるかどうかを
確認する。そして、深度方向の傾きが所定の範囲内にな
い場合には、光学系１１のレンズユニット１３の傾きを
調整して、所定の範囲内に来るようにする。

以上の操作を繰返して、光学系１１によって結像される
光学像の結像倍率Ｍａ（１、モジュレーションＭｏｄ及
び深度方向の傾きのすべてが、所定の値あるいは所定の
範囲内に来るように調整づる。

このように、光学系の倍率、モジュレーション及び深度
方向の傾きのすべてを自動的に検出することができ、し
かもこれらの検出値を表示装置６５に表示するようにし
たので、表示装置６５によって光学系の倍率Ｍａ（Ｊ、
モジュレーションＭＯｄ及び深度方向の傾きのすべてを
同時に知ることができ、光学系の調整が容易に行える。

次に、この発明に係る光学系の自動測定装置の他の実施
例を示す。

第２２図はこの実施例に係る光学系の自動測定装置の倍
率検出回路を示すものである。この回路は、各ラインイ
メージセンサの出力信号から上記光学系の結像倍率を各
々演算する信号処理手段と、この信号処理手段によって
演算された各々の倍率値から上記光学系の深度方向傾き
を検出する傾き検出手段とを備えている。すなわち、図
において、１９はラインイメージセンサ、７５は上記ラ
インイメージセンサ１９を一定周期のクロック信号によ
り駆動するためのセンサ駆動回路、７６はラインイメー
ジセンサ１９によって読取られた画像の信号から直流成
分の信号を除去するバイパスフィルタ、７７はバイパス
フィルタ７６の出力信号を基準電圧（図示例ではＯＶ）
と比較する電圧比較器、７８は電圧比較器７７の出力信
号の周期のＮ倍化された周期を抽出するＮ倍化周期抽出
回路、７９はＮ倍化周期抽出回路７８によって抽出され
たＮ周期の間に、センサ駆動回路７５から出力されるセ
ンサ駆動用クロックの数を計数するカウンタ、８０は既
知のデータを記憶させておくＲＡＭ、８１はＲＯＭ８１
ａに予め記憶されたプログラムに従って所定の演算を行
なうＣＰＵである。

この実施例に係る倍率検出回路では、次のようにして複
写機の光学系の倍率が検出される。すなわち、測定用指
標１４をプラテンガラス１上に載置して、この測定用指
標１４の線状画像１６．１６・・・を、第６図に示すよ
うに、光学系１１を介してラインイメージセンサ１９上
に結像する。その際、光学系１１に深度方向の傾きがあ
ると、第２３図に示すように、プラテンガラス１上に載
置される原稿の一端からこの画像が結像される感光体ド
ラム１０の一端部までの光学的な距１１１ｆＬ１と、プ
ラテンガラス１上に載置される原稿の他端からこの画像
が結像される感光体ドラム１０の他端部までの光学的な
距１１ｆｌＬ２が等しくならず、感光体ドラム１０上に
結像される像が傾斜する。

ところで、プラテンガラス１上に載置される倍率測定用
指標１４には、一定間隔で多数の直線１６．１６・・・
が互いに平行に形成されているため、ラインイメージセ
ンサ１９上には、黒い線状の画像と白い部分とが交互に
並んだ画像が投影される。

従って、ラインイメージセンサ１９を駆動するセンサ駆
動回路７５の出力は、第２４図の８２に示すように、出
力電圧が一定の周期Ａで変化する信号となる。さらに、
センサ駆動回路７５の出力は、バイパスフィルタ７６を
通過することにより、第２５図の８３に示すような波形
となる。このバイパスフィルタ７６の出力信号は、電圧
比較器７７によって基準電圧Ｏｖと比較され、第２６図
の８４に示すパルス波形となる。さらに、このパルス波
形８４は、Ｎ倍化周期抽出回路７８により、周１１１Ａ
のＮ倍の幅を持つ信号８５（第２７図）が得られる。Ｎ
倍化周期抽出回路７８により得られた信号８５は、カウ
ンタ７９のイネーブル信号となり、カウンタ７９では、
信号８５が出力されている間センサ駆動回路７５から出
力されるクロックをカウントする。

このとき、カウンタ７９のカウント出力をＭとすると、
倍率測定用指標の周期をＰｔ１ラインイメージセンサ１
９の画素ピッチをＰ、として、光学系１１の結像倍率Ｍ
ａｏは、 Ｍａｇ＝（Ｐ　　ｘＮ）／（Ｐ　　ＸＭ）　　　・　（
Ｉ）ｔ　　　　　　　　　　　　　ｓ と表せる。

これらの倍率測定用指標１４の周期Ｐｔ、ラインイメー
ジセンサ１９の画素ピッチＰＳ１及びＮの値は、予めＲ
ＯＭ８１ａに記憶されており、ＣＰＬＪ８１は、ＲＯＭ
８１ａに予め記憶された上記（Ｉ）式に基づいて、ＲＯ
Ｍ８１ａに記憶された１ＵＰｔ　、ＰＳ　、Ｎ、及びカ
ウンタ７９のカウント値Ｍから、結像倍率Ｍａｇの演算
を行なう。

このようにした場合には、結像倍率を測定するだめの回
路を簡略化することができる。

第２８図はこの発明の他の実施例に係る光学系のモジュ
レーション検出回路を示すものであり、前記第１４図に
示す実施例と同一の部分には同一の符号を付して説明す
ると、この実施例では、ラインイメージセンサからの出
力信号の平均値電圧及び交流成分の極大値電圧を検出す
るのではなく、ラインイメージセンサからの出力信号の
極大値電圧及び極小値電圧を検出してモジュレーション
を求めるように構成されている。づなわち、センサ駆動
回路４０からの出力信号ａは、正のピークホールド回路
４３及び負のピークホールド回路８６にそれぞれ入力さ
れており、これら正のピークホールド回路４３及び負の
ピークホールド回路８６によって、出力信号ａの極大値
電圧及び極小値電圧が検出される。上記正のピークホー
ルド回路４３及び負のピークホールド回路８６からの出
力信号は、サンプルホールド回路４６．８７にそれぞれ
入力されている。上記正のピークホールド回路４６及び
負のピークホールド回路８７と、サンプルホールド回路
４３．８６は、前記実施例と同様所定のタイミングでク
リアされるようになっている。

上記サンプルホールド回路４６．８７からの出力電圧ｖ
　、■　は、加算器８８及び引締器８９　　　Ｌ にそれぞれ入力され、これら加輝器８８及び引算器８９
によって出力電圧ｖ　、■　の和ＶＦＩ＋ＩＩ　　　　
　Ｌ ■　及び差Ｖ！１−Ｖ、が演算される。そして、除し 算器４７によって（Ｖ　　−Ｖ　　）／（Ｖ］１＋Ｖ１
）Ｈ［ が演算され、モジュレーションＭが求められる。

この実施例では、ローパスフィルタ及びバイパスフィル
タを用いることなく、モジュレーションの測定を行なう
ことができる。

その他の構成及び作用は前記実施例と同一であるので、
その説明を省略する。

［発明の効果１ この発明は以上の構成及び作用よりなるもので、光学系
の倍率、モジュレーション及び深度方向の傾きのすべて
を自動的に検出することができることは勿論のこと、各
検出結果を表示する表示手段を備えることにより、光学
系の倍率、モジュレーション及び深度方向の傾きのすべ
てを自動的に検出してこれらを表示し、光学系の調整を
容易に行い得るようにした光学系の自動測定装置を提供
することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明に係る光学系の自動測定装置の一実施
例を示す構成図、第２図は測定用指標を示す正面図、第
３図は光学系を示す構成図、第４図は測定用指標の配置
を示す説明図、第５図はラインイメージセンサの配置を
示す説明図、第６図は測定用指標とラインイメージセン
サの位置関係を示す説明図、第７図はこの発明に係る光
学系の自動測定装置を適用し得る電子写真複写機を示す
構成図、第８図は倍率検出回路を示すブロック図、第９
図ないし第１３図は同回路の信号をそれぞれ示す波形図
、第１４図はモジュレーション検出回路を示すブロック
図、第１５図は同回路の動作を示す波形図、第１６図は
第１４図のさらに詳しい回路構成を示す回路図、第１７
図（ａ）〜（ｈ）は第１４図の回路の動作をそれぞれ示
す波形図、第１８図（ａ）は表示装置の要部を示ずブロ
ック図、第１８図（ｂ）は表示装置の動作を示すグラフ
、第１９図（ａ）は表示装置の要部を示ずブロック図、
第１９図（ｂ）は表示装置の動作を示すグラフ、第２０
図及び第２１図は表示部の動作を示す説明図、第２２図
は倍率検出回路の他の実施例を示すブロック図、第２３
図は光学系を示す説明図、第２４図ないし第２７は第２
２図の回路の動作をそれぞれ示す波形図、第２８図はモ
ジュレーション検出回路の他の実施例を示すブロック図
である。 ［符号の説明コ １１・・・光学系 １４・・・指標部材 １６・・・線状画像 １９・・・ラインイメージセンサ ２０・・・信号処理回路 ２ １・・・倍率検出回路 ３９・・・モジュレーション検出回路 ６５・・・表示装置 特 許 出 願 人 富士ゼロックス株式会社 代 理 人

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）複数の測定用指標と、前記測定用指標の光学像が
   光学系によつて結像される位置に配設される複数のライ
   ンイメージセンサと、前記ラインイメージセンサの出力
   信号から前記光学系の結像倍率を演算する手段と、前記
   ラインイメージセンサの出力信号から、前記測定用指標
   の光学像のモジュレーションを演算する手段と、前記結
   像倍率値から前記光学系の深度方向の傾きを検出する傾
   き検出手段と、前記演算及び検出結果を表示する表示手
   段を具備することを特徴とする光学系の自動測定装置。
2. （２）３個の倍率測定用指標が３個のラインイメージセ
   ンサに対応して設けられ、各々のイメージセンサの出力
   信号から各々結像倍率及びモジュレーションを演算又は
   検出し、前記複数の倍率値から前記光学系の深度方向の
   傾きを検出し、前記複数のモジュレーションから最小値
   を検出して表示することを特徴とする請求項第１項記載
   の光学系の自動測定装置。
3. （３）３個の倍率測定用指標が３個のラインイメージセ
   ンサに対応して設けられ、各々のイメージセンサの出力
   信号から各々結像倍率及びモジュレーションを演算又は
   検出し、前記３個のラインイメージセンサのうち中央の
   ラインイメージセンサから得られた結像倍率によつて光
   学系の結像倍率を検出し、前記３個のラインイメージセ
   ンサのうち、両端のラインイメージセンサから得られた
   結像倍率によつて光学系の深度方向の傾きを検出し、前
   記３個のラインイメージセンサから得られたモジュレー
   ションのうち最小値を検出し、これらの演算及び検出結
   果を表示手段によつて表示することを特徴とする請求項
   第２項記載の光学系の自動測定装置。
4. （４）複写機の光学系ユニットのプラテンガラス面に配
   置された複数のラインイメージセンサと、前記光学系ユ
   ニットの結像位置に配設された複数の倍率測定用指標及
   び、前記倍率測定用指標照射用光源とを具備することを
   特徴とする請求項第１項記載の光学系の自動測定装置。