JPH0545132B2 - - Google Patents
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- JPH0545132B2 JPH0545132B2 JP9486385A JP9486385A JPH0545132B2 JP H0545132 B2 JPH0545132 B2 JP H0545132B2 JP 9486385 A JP9486385 A JP 9486385A JP 9486385 A JP9486385 A JP 9486385A JP H0545132 B2 JPH0545132 B2 JP H0545132B2
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- JP
- Japan
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- chart
- lens
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- scanning
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 12
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 9
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 8
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 2
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 9
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 2
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- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/0228—Testing optical properties by measuring refractive power
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明はカメラレンズ等の結像性能を評価す
るのに用いられる像面検出装置に関する。
るのに用いられる像面検出装置に関する。
カメラレンズ等の結像性能を評価する場合何ら
かの手段で測定像面を決定し、この決定された測
定像面をもとにレンズ系の性能を総合的に表わす
MTFを測定するようにしている。
かの手段で測定像面を決定し、この決定された測
定像面をもとにレンズ系の性能を総合的に表わす
MTFを測定するようにしている。
このMTF測定ではフイルム面に相当する測定
面での結像に関与するのは被検レンズを通る全光
束になるのに対し測定像面検出におけるフアイン
ダでのピント合せに関与するのは実際にスプリツ
トイメージ部を通る光束によるため球面収差の影
響などで両者のピントのベスト位置ずれを生じる
おそれもあり最良の条件でMTF測定ができない
欠点もあつた。
面での結像に関与するのは被検レンズを通る全光
束になるのに対し測定像面検出におけるフアイン
ダでのピント合せに関与するのは実際にスプリツ
トイメージ部を通る光束によるため球面収差の影
響などで両者のピントのベスト位置ずれを生じる
おそれもあり最良の条件でMTF測定ができない
欠点もあつた。
しかして、従来かかる測定像面を決定する手段
としてカメラのスプリツトイメージ部を有するフ
アインダの像を画像処理しフアインダベストの像
面を得るようにしたものが特願昭59−207553号に
開示されている。
としてカメラのスプリツトイメージ部を有するフ
アインダの像を画像処理しフアインダベストの像
面を得るようにしたものが特願昭59−207553号に
開示されている。
すなわち、このものの測定像面検出系は第７図
に示すように被検レンズ２により物体１の像をス
プリツトイメージ部を有するフアインダスクリー
ン３上に結像させ、これをリレーレンズ４にて拡
大しビデオカメラ５により撮像するようにしてい
る。この場合のピント合せは１眼レフと同じであ
りピントが合つていないと第８図に示すようにス
プリツトイメージ部の像が上下で連続しない。こ
れをビデオ処理装置６やコンピユータ７で検出
し、精度よく合焦位置に被検レンズ２を設定し測
定像面を得るようにしている。
に示すように被検レンズ２により物体１の像をス
プリツトイメージ部を有するフアインダスクリー
ン３上に結像させ、これをリレーレンズ４にて拡
大しビデオカメラ５により撮像するようにしてい
る。この場合のピント合せは１眼レフと同じであ
りピントが合つていないと第８図に示すようにス
プリツトイメージ部の像が上下で連続しない。こ
れをビデオ処理装置６やコンピユータ７で検出
し、精度よく合焦位置に被検レンズ２を設定し測
定像面を得るようにしている。
ところが、このようなものではフアインダのス
プリツトイメージを２次元で画像処理するため画
像処理が複雑となりデータの取り込み時間などを
考えると測定像面を得られるまでにかなりの手間
がかかつてしまう。また、このものは測定像面の
みを得るものであるためその後MTF測定をする
場合測定像面検出系すべてをMTF測定系に切換
えなければならず、このための切換機構が複雑と
なる。
プリツトイメージを２次元で画像処理するため画
像処理が複雑となりデータの取り込み時間などを
考えると測定像面を得られるまでにかなりの手間
がかかつてしまう。また、このものは測定像面の
みを得るものであるためその後MTF測定をする
場合測定像面検出系すべてをMTF測定系に切換
えなければならず、このための切換機構が複雑と
なる。
この発明は上記欠点を除去するためなされたも
のでベストフオーカスの測定像面を簡単に得ら
れ、しかも簡単な切換で実際の使用状態に即した
MTF測定を行なうことができる像面検出装置を
提供することを目的とする。
のでベストフオーカスの測定像面を簡単に得ら
れ、しかも簡単な切換で実際の使用状態に即した
MTF測定を行なうことができる像面検出装置を
提供することを目的とする。
この発明にかかる像面検出装置は被検レンズと
光源の間の光軸上にチヤートを配設するとともに
レンズ前面にカメラのフアインダスクリーンのス
プリツトイメージ部を通過する光束のみを通すよ
うな絞りを着脱自在に設け、さらにレンズおよび
チヤートを介して得られるチヤート像を走査する
走査手段およびこの走査手段の出力からレンズの
測定像面を検出するとともに出力をフーリエ変換
してMTFを測定する処理手段を設け、レンズの
ベストフオーカス測定時には絞りを介してチヤー
ト像を走査しベストフオーカスの測定像面を検出
してレンズのピントのベスト位置を設定し、レン
ズのMTFの測定時には絞りを除いてチヤート像
を走査しピントのベスト位置におけるレンズの
MTFを測定するようにしている。
光源の間の光軸上にチヤートを配設するとともに
レンズ前面にカメラのフアインダスクリーンのス
プリツトイメージ部を通過する光束のみを通すよ
うな絞りを着脱自在に設け、さらにレンズおよび
チヤートを介して得られるチヤート像を走査する
走査手段およびこの走査手段の出力からレンズの
測定像面を検出するとともに出力をフーリエ変換
してMTFを測定する処理手段を設け、レンズの
ベストフオーカス測定時には絞りを介してチヤー
ト像を走査しベストフオーカスの測定像面を検出
してレンズのピントのベスト位置を設定し、レン
ズのMTFの測定時には絞りを除いてチヤート像
を走査しピントのベスト位置におけるレンズの
MTFを測定するようにしている。
以下、この発明の一実施例を図面に従い説明す
る。
る。
第１図において１１はレンズホルダー１２に装
着された被検レンズで、このレンズ１１前方の光
軸上に光源１３を配設し、この光源１３とレンズ
１１の間に光源１３側から順にコンデンサレンズ
１４、フイルタ１５、チヤート１６を配設し、さ
らに被検レンズ１１の前面に絞り１７を配設して
いる。ここで、チヤート１６には第２図に示すよ
うに明暗の縞を有しある空間周波数の正弦波又は
矩形波状に変化する濃度分布を有するものが用い
られる。また絞り１７はカメラのフアインダスク
リーンに用いられるスプリツトイメージ部を通過
する光束のみを通すようなもので、例えば絞り形
状としては第３図に示すようにスプリツトイメー
ジ部の上下のプリズムを通過しフアインダを観察
する瞳に入射する光束を通すように光軸に対し対
称の２つの開口１７１，１７２を有するものが用
いられる。
着された被検レンズで、このレンズ１１前方の光
軸上に光源１３を配設し、この光源１３とレンズ
１１の間に光源１３側から順にコンデンサレンズ
１４、フイルタ１５、チヤート１６を配設し、さ
らに被検レンズ１１の前面に絞り１７を配設して
いる。ここで、チヤート１６には第２図に示すよ
うに明暗の縞を有しある空間周波数の正弦波又は
矩形波状に変化する濃度分布を有するものが用い
られる。また絞り１７はカメラのフアインダスク
リーンに用いられるスプリツトイメージ部を通過
する光束のみを通すようなもので、例えば絞り形
状としては第３図に示すようにスプリツトイメー
ジ部の上下のプリズムを通過しフアインダを観察
する瞳に入射する光束を通すように光軸に対し対
称の２つの開口１７１，１７２を有するものが用
いられる。
一方、被検レンズ１１後方の光軸上にはスリツ
ト部１８を介して受光素子１９を配設している。
この場合、スリツト部１８はスリツト走査機構１
８１により光軸と直角な面に沿つて走査されるよ
うにしている。
ト部１８を介して受光素子１９を配設している。
この場合、スリツト部１８はスリツト走査機構１
８１により光軸と直角な面に沿つて走査されるよ
うにしている。
受光素子１９には信号処理部２０を接続してい
る。
る。
次にその作用を説明する。
いま、光源１３を点灯するとコンデンサレンズ
１４にて集光されフイルタ１５にて分光特性が合
せられチヤート１６に与えられる。そして、チヤ
ート１６を通つた光束は絞り１７を介して被検レ
ンズ１１に与えられるが、この場合被検レンズ１
１に入射される光束は絞り１７により制限されス
プリツトイメージ部を通過するような光束のみが
与えられる。このような光束は被検レンズ１１の
開口の一部を通りスリツト部１８面に結像され
る。この状態で走査機構１８１によりスリツト部
１８が光軸と直角な面に沿つて走査されると、ス
リツト部１８を通つた像の強度分布が受光素子１
９に伝えられ、この受光素子１９の出力が信号処
理部２０に与えられ、ここでレンズのデフオーカ
スによるコントラストの変化が読み取られピント
のベスト位置が検出される。この場合第２図に示
すようなチヤート１６を通した像を走査すること
により第４図に示すような強度分布が得られ、こ
れにより下式よりコントラスト値が求められる。
１４にて集光されフイルタ１５にて分光特性が合
せられチヤート１６に与えられる。そして、チヤ
ート１６を通つた光束は絞り１７を介して被検レ
ンズ１１に与えられるが、この場合被検レンズ１
１に入射される光束は絞り１７により制限されス
プリツトイメージ部を通過するような光束のみが
与えられる。このような光束は被検レンズ１１の
開口の一部を通りスリツト部１８面に結像され
る。この状態で走査機構１８１によりスリツト部
１８が光軸と直角な面に沿つて走査されると、ス
リツト部１８を通つた像の強度分布が受光素子１
９に伝えられ、この受光素子１９の出力が信号処
理部２０に与えられ、ここでレンズのデフオーカ
スによるコントラストの変化が読み取られピント
のベスト位置が検出される。この場合第２図に示
すようなチヤート１６を通した像を走査すること
により第４図に示すような強度分布が得られ、こ
れにより下式よりコントラスト値が求められる。
コントラスト値＝（Ａ−Ｂ）／（Ａ＋Ｂ）
（ただし、Ａは最大値、Ｂは最小値）
従つて、このコントラスト値が最大になるよう
に被検レンズ１１の位置を設定すればベストフオ
ーカスの測定像面が得られることになる。
に被検レンズ１１の位置を設定すればベストフオ
ーカスの測定像面が得られることになる。
次に、この状態からMTFを測定するにはチヤ
ート１６を第５図に示す単一スリツトを有するも
のとし、さらに絞り１７を取り除く。こうすると
光源１３の点灯により被検レンズ１１に全光束を
通したときのMTFが測定される。この場合受光
素子１９での出力は第６図に示すようになるが、
この出力を信号処理部２０にてフーリエ変換する
ことによりMTFの値が得られることになる。
ート１６を第５図に示す単一スリツトを有するも
のとし、さらに絞り１７を取り除く。こうすると
光源１３の点灯により被検レンズ１１に全光束を
通したときのMTFが測定される。この場合受光
素子１９での出力は第６図に示すようになるが、
この出力を信号処理部２０にてフーリエ変換する
ことによりMTFの値が得られることになる。
したがつて、このようにすればチヤート１６を
通した像のコントラストを受素子１９の出力を介
して求めることでベストフオーカスの測定像面が
得られるので従来のフアインダのスプリツトイメ
ージを２次元で画像処理するものに比べ測定像面
を極めて簡単に得ることができる。また、MTF
測定に供する場合はチヤート１６をスリツト状の
ものにすると同時に絞り１７を取り除くだけでよ
いので従来の測定像面検出系をすべてMTF測定
系に切換えるもののように複雑な切換機構も一際
不用にできる。さらに、被検レンズ１１の前面に
スプリツトイメージ部を通過する光束のみを通す
ような絞り１７を配設しフアインダーによるベス
トフオーカスの測定像面を検出するようにしてい
るので球面収差などの影響を除去できMTF測定
での測定面でのピント位置と正確に一致させるこ
とができ、これにより精度の高いMTF測定を行
なうこともできる。
通した像のコントラストを受素子１９の出力を介
して求めることでベストフオーカスの測定像面が
得られるので従来のフアインダのスプリツトイメ
ージを２次元で画像処理するものに比べ測定像面
を極めて簡単に得ることができる。また、MTF
測定に供する場合はチヤート１６をスリツト状の
ものにすると同時に絞り１７を取り除くだけでよ
いので従来の測定像面検出系をすべてMTF測定
系に切換えるもののように複雑な切換機構も一際
不用にできる。さらに、被検レンズ１１の前面に
スプリツトイメージ部を通過する光束のみを通す
ような絞り１７を配設しフアインダーによるベス
トフオーカスの測定像面を検出するようにしてい
るので球面収差などの影響を除去できMTF測定
での測定面でのピント位置と正確に一致させるこ
とができ、これにより精度の高いMTF測定を行
なうこともできる。
なおこの発明は上記実施例にのみ限定されず要
点を変更しない範囲で適宜変形して実施できる。
例えば上述ではスリツト部１８、スリツト走査機
構１８１および受光素子１９を用いているが、こ
れに代えてスリツトに相当するところにCCD等
のリニアセンサアレイを配設すれば構成をより簡
単にできる。
点を変更しない範囲で適宜変形して実施できる。
例えば上述ではスリツト部１８、スリツト走査機
構１８１および受光素子１９を用いているが、こ
れに代えてスリツトに相当するところにCCD等
のリニアセンサアレイを配設すれば構成をより簡
単にできる。
この発明によればチヤート像のコントラストよ
りベストフオーカスの測定像面が得られるので所
望する測定像面を極めて簡単に得られる。また
MTF測定に供する場合も複雑な切換機構を一際
用いることがなく簡単にできる。さらにベストフ
オーカスの測定像面はMTF測定での測定面での
ピント位置と正確に一致させることができるので
精度の高いMTF測定を行なうことができる。
りベストフオーカスの測定像面が得られるので所
望する測定像面を極めて簡単に得られる。また
MTF測定に供する場合も複雑な切換機構を一際
用いることがなく簡単にできる。さらにベストフ
オーカスの測定像面はMTF測定での測定面での
ピント位置と正確に一致させることができるので
精度の高いMTF測定を行なうことができる。
第１図はこの発明の一実施例を示す概略的構成
図、第２図は同実施例に用いられるチヤートの正
面図、第３図は同実施例に用いられる絞りの正面
図、第４図は同実施例を説明するための図、第５
図はMTF測定に用いられるスリツト部を示す正
面図、第６図はMTF測定を説明するための図、
第７図は従来の像面検出装置の一例を示す概略的
構成図、第８図は同装置を説明するための図であ
る。 １……物体、２……被検レンズ、３……フアイ
ンダスクリーン、４……リレーレンズ、５……ビ
デオカメラ、６……ビデオ処理装置、７……コン
ピユータ、１１……被検レンズ、１２……レンズ
ホルダー、１３……光源、１４……コンデンサレ
ンズ、１５……フイルタ、１６……チヤート、１
７……絞り、１８……スリツト部、１８１……ス
リツト走査機構、１９……受光素子、２０……信
号処理部。
図、第２図は同実施例に用いられるチヤートの正
面図、第３図は同実施例に用いられる絞りの正面
図、第４図は同実施例を説明するための図、第５
図はMTF測定に用いられるスリツト部を示す正
面図、第６図はMTF測定を説明するための図、
第７図は従来の像面検出装置の一例を示す概略的
構成図、第８図は同装置を説明するための図であ
る。 １……物体、２……被検レンズ、３……フアイ
ンダスクリーン、４……リレーレンズ、５……ビ
デオカメラ、６……ビデオ処理装置、７……コン
ピユータ、１１……被検レンズ、１２……レンズ
ホルダー、１３……光源、１４……コンデンサレ
ンズ、１５……フイルタ、１６……チヤート、１
７……絞り、１８……スリツト部、１８１……ス
リツト走査機構、１９……受光素子、２０……信
号処理部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被検レンズと、このレンズ前方の光軸上に設
けられた光源と、この光源と上記レンズの間に配
設されたチヤートと、上記レンズの前面に着脱自
在に配設され上記チヤートを介してカメラのフア
インダースクリーンのスプリツトイメージ部に対
応するレンズ部分を通過する光束を通す絞りと、
上記レンズを介して得られる上記チヤートのチヤ
ート像を走査する走査手段と、この走査手段の出
力により上記レンズのベストフオーカスの測定像
面の検出および出力をフーリエ変換してMTFの
測定をする処理手段とを具備し、 上記レンズのベストフオーカス測定時には上記
絞りを介して上記チヤートのチヤート像を走査し
ベストフオーカスの測定像面を検出して上記レン
ズのピントのベスト位置を設定し、 上記レンズのMTFの測定時には上記絞りを除
いて上記チヤートのチヤート像を走査し上記ピン
トのベスト位置における上記レンズのMTFを測
定することを特徴とする像面検出装置。 ２ 上記チヤートのチヤート像を走査する走査手
段は、光軸と直角な面に沿つて走査自在なスリツ
ト部およびこのスリツト部を通つた像の強度分布
を検出する受光素子を有することを特徴とする特
許請求の範囲第１項記載の像面検出装置。 ３ 上記チヤートのチヤート像を走査する走査手
段は、自己走査機能を有するリニアセンサよりな
ることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の
像面検出装置。 ４ 上記チヤートは、明暗の縞又は単一スリツト
を有するものであることを特徴とする特許請求の
範囲第１項乃至第３項のずれかに記載の像面検出
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9486385A JPS61253440A (ja) | 1985-05-01 | 1985-05-01 | 像面検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9486385A JPS61253440A (ja) | 1985-05-01 | 1985-05-01 | 像面検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61253440A JPS61253440A (ja) | 1986-11-11 |
| JPH0545132B2 true JPH0545132B2 (ja) | 1993-07-08 |
Family
ID=14121871
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9486385A Granted JPS61253440A (ja) | 1985-05-01 | 1985-05-01 | 像面検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61253440A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2723900B2 (ja) * | 1988-03-25 | 1998-03-09 | 株式会社日立製作所 | レンズ検査方法 |
| JP2723914B2 (ja) * | 1988-08-12 | 1998-03-09 | 株式会社日立製作所 | レンズ鏡筒解像度検査装置 |
-
1985
- 1985-05-01 JP JP9486385A patent/JPS61253440A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61253440A (ja) | 1986-11-11 |
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