JPH0341723A - 薄膜製造装置 - Google Patents
薄膜製造装置Info
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- JPH0341723A JPH0341723A JP17675589A JP17675589A JPH0341723A JP H0341723 A JPH0341723 A JP H0341723A JP 17675589 A JP17675589 A JP 17675589A JP 17675589 A JP17675589 A JP 17675589A JP H0341723 A JPH0341723 A JP H0341723A
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 12
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 claims abstract description 65
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims abstract description 28
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 27
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 18
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims abstract description 5
- 239000000376 reactant Substances 0.000 claims description 11
- 230000006698 induction Effects 0.000 claims description 6
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- 239000010408 film Substances 0.000 abstract description 11
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 2
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 abstract 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は薄膜製造装置に係り、特に高速成膜に好適な反
応ガス供給系の改良に関する。
応ガス供給系の改良に関する。
従来の薄膜装置は第5図に示されるように、反応ガスA
と増感剤としてのガスCとを混合した後、石英で作製さ
れた予備励起室16に導入し、予備励起用光源15によ
って反応ガスA及び増感剤Cを励起する。
と増感剤としてのガスCとを混合した後、石英で作製さ
れた予備励起室16に導入し、予備励起用光源15によ
って反応ガスA及び増感剤Cを励起する。
この励起されたガスA及び増感剤Cは、石英で作製され
た反応室13に導入された後、反応ガスBと混合され、
赤外線ランプ14によって所定の温度に調整された試料
ホルダ17の上に載置された試料3において紫外光源1
0によって照射さん再び励起される。この紫外光源10
によって照射された段階では反応ガスA、増感剤Cは励
起された活性種を多量に含み、かつ、反応ガスBも励起
されるから、試料3への膜の成長速度が大きくなる。(
特開昭59−82720号公報)(発明が解決しようと
する課題) しかしながら、従来技術の反応ガス予備励起に関し、以
下のような問題点がある。
た反応室13に導入された後、反応ガスBと混合され、
赤外線ランプ14によって所定の温度に調整された試料
ホルダ17の上に載置された試料3において紫外光源1
0によって照射さん再び励起される。この紫外光源10
によって照射された段階では反応ガスA、増感剤Cは励
起された活性種を多量に含み、かつ、反応ガスBも励起
されるから、試料3への膜の成長速度が大きくなる。(
特開昭59−82720号公報)(発明が解決しようと
する課題) しかしながら、従来技術の反応ガス予備励起に関し、以
下のような問題点がある。
(+1 反応ガスAに増感剤としてのガスCを混合し
、予(lIIIiiIJ起用光源15によって励起する
ことにより、反応ガスA、増感剤Cは活性化される。
、予(lIIIiiIJ起用光源15によって励起する
ことにより、反応ガスA、増感剤Cは活性化される。
したがって、作製した薄膜には、増感剤Cの7昆入が避
けられない。そのため、作製した薄膜の膜質が劣化する
という問題点があった。
けられない。そのため、作製した薄膜の膜質が劣化する
という問題点があった。
(2) 予備励起用光源15によって、反応ガスA、
増感剤Cは励起され、予備励起室16内には活性種が多
量に存在する。したがって、石英で作製された予備励起
室16の壁面への活性種の付着は避けられない。そのた
め、予備励起室16の光透過率が減少し、予備励起効果
が低下するという問題点があった。
増感剤Cは励起され、予備励起室16内には活性種が多
量に存在する。したがって、石英で作製された予備励起
室16の壁面への活性種の付着は避けられない。そのた
め、予備励起室16の光透過率が減少し、予備励起効果
が低下するという問題点があった。
(3) 予備励起室16を石英で作製し、紫外光B1
5を用いて反応ガスを予備励起するため、装置が複雑で
高価になるという問題点があった。
5を用いて反応ガスを予備励起するため、装置が複雑で
高価になるという問題点があった。
本発明の目的は、上記した従来技術の5題を解決し、簡
単な構造で良質な薄膜を再現性よく、低温かつ高速で作
製することができる薄膜製造装置を提供することにある
。
単な構造で良質な薄膜を再現性よく、低温かつ高速で作
製することができる薄膜製造装置を提供することにある
。
上記した目的は、反応容器内に反応ガスを供給する反応
ガス供給系統中に、反応ガスを熱分解し、予備励起する
のに必要な温度、例えば300°C以上加熱するための
バンドヒータ、誘導加熱ヒータ等の加熱機構を設けるこ
とによって達成される。
ガス供給系統中に、反応ガスを熱分解し、予備励起する
のに必要な温度、例えば300°C以上加熱するための
バンドヒータ、誘導加熱ヒータ等の加熱機構を設けるこ
とによって達成される。
反応ガス供給管内を反応ガスを熱分解し予備励起するの
に必要温度、例えば300°C以上に加熱することによ
って、反応ガスに増感剤を混合する必要はない。そのた
め作製した薄膜に増感剤が混入することがなく、膜質が
劣化することはない。
に必要温度、例えば300°C以上に加熱することによ
って、反応ガスに増感剤を混合する必要はない。そのた
め作製した薄膜に増感剤が混入することがなく、膜質が
劣化することはない。
また予備励起に紫外光でなく熱を用いているので、予備
励起室への活性種の付着による光透過率の減少に起因す
る予備励起効果の低下といったこともなく、常に一定の
予備励起効果が得られ、良質な薄膜を再現性よく作製す
ることが可能となる。
励起室への活性種の付着による光透過率の減少に起因す
る予備励起効果の低下といったこともなく、常に一定の
予備励起効果が得られ、良質な薄膜を再現性よく作製す
ることが可能となる。
第1図に本発明になる’iit膜製造装置の第1実施例
を示す。内部で気相化学反応を行わせる反応容器2、反
応容器2内部に反応ガスを供給する反応ガス供給管l、
その表面に薄膜を堆積させる試料3、試料3を保持する
試料ホルダ4、試料3を回転させる回転軸6、試料3を
加熱する試料加熱ヒータ7、ガス及び反応生成物等を吸
引・排気する排気口5、反応ガス供給管1を加熱し、反
応ガスを熱分解させるための反応ガス供給管加熱ヒータ
8により構成される。
を示す。内部で気相化学反応を行わせる反応容器2、反
応容器2内部に反応ガスを供給する反応ガス供給管l、
その表面に薄膜を堆積させる試料3、試料3を保持する
試料ホルダ4、試料3を回転させる回転軸6、試料3を
加熱する試料加熱ヒータ7、ガス及び反応生成物等を吸
引・排気する排気口5、反応ガス供給管1を加熱し、反
応ガスを熱分解させるための反応ガス供給管加熱ヒータ
8により構成される。
加熱ヒータ8は反応ガス供給部1の外周囲を覆う状態で
設置されている。
設置されている。
第2図に本発明の第2実施例であ−って。薄膜製造装置
に紫外光源を用いた場合を示す。反応容器2外部に設置
され、反応ガス及び試料3に紫外光を照射し反応を励起
させるための紫外光源10、紫外光を反応容器2内部に
取り込むための光透過窓9を第1図に示す装置に付設す
ることにより槽底される。
に紫外光源を用いた場合を示す。反応容器2外部に設置
され、反応ガス及び試料3に紫外光を照射し反応を励起
させるための紫外光源10、紫外光を反応容器2内部に
取り込むための光透過窓9を第1図に示す装置に付設す
ることにより槽底される。
本発明の上記実施例になる薄膜製造装置の作用を説明す
る。第1図では、反応ガス供給管1を通って反応容器2
内に供給されるSi、Hs等の反応ガスは、反応ガス供
給管lが300°C以上に加熱されているため、熱分解
し、反応容器2内に到達するまでに予備励起され、活性
種を多量に含む。
る。第1図では、反応ガス供給管1を通って反応容器2
内に供給されるSi、Hs等の反応ガスは、反応ガス供
給管lが300°C以上に加熱されているため、熱分解
し、反応容器2内に到達するまでに予備励起され、活性
種を多量に含む。
そのため、試料3表面に活性種を多量に含む励起した反
応ガスの供給が可能となる。
応ガスの供給が可能となる。
第2図は、気相反応を励起させるのに紫外光源10を用
い、反応容器2に光透過窓9を取り付けており、第1図
で説明した通り、反応ガスは300°C以上に加熱され
た反応ガス供給管1を通過する間に、熱分解され予備励
起される。特にS i H4ガスのように、光の吸収端
が160mmと短波長で光励起が難しく、300°C以
上で熱分解する場合、熱によって予備励起することによ
り、試料3表面への多量の活性種の供給が可能となる。
い、反応容器2に光透過窓9を取り付けており、第1図
で説明した通り、反応ガスは300°C以上に加熱され
た反応ガス供給管1を通過する間に、熱分解され予備励
起される。特にS i H4ガスのように、光の吸収端
が160mmと短波長で光励起が難しく、300°C以
上で熱分解する場合、熱によって予備励起することによ
り、試料3表面への多量の活性種の供給が可能となる。
第3図は本発明の第3実施例を示し、第1図における反
応ガス供給管加熱ヒータ8の代わりに誘導加熱ヒータ1
1を用い、反応ガス供給管l内部に管軸中心部から4つ
の半径方向にそれぞれ反応ガス加熱板20を設置したも
のである。
応ガス供給管加熱ヒータ8の代わりに誘導加熱ヒータ1
1を用い、反応ガス供給管l内部に管軸中心部から4つ
の半径方向にそれぞれ反応ガス加熱板20を設置したも
のである。
本実施例では、反応ガス供給管1を誘導加熱ヒータ11
により加熱するため、内部に反応ガス加熱板20を設置
しても、均一な温度分布で制御性よく反応ガス供給管1
及び反応ガス加熱板20を加熱できる。反応ガス供給管
1内部に反応ガス加熱板20を設置しているため、反応
ガスを高効率で熱分解し、予備励起の効果を高めること
ができる。
により加熱するため、内部に反応ガス加熱板20を設置
しても、均一な温度分布で制御性よく反応ガス供給管1
及び反応ガス加熱板20を加熱できる。反応ガス供給管
1内部に反応ガス加熱板20を設置しているため、反応
ガスを高効率で熱分解し、予備励起の効果を高めること
ができる。
以上の作用により上記実施例では下記の効果を得ること
ができる。
ができる。
(1) 反応ガス供給管1を反応ガス供給管加熱ヒー
タ8又は誘導加熱ヒータ11により300°C以上に加
熱し、反応ガスを熱分解によって予備励起するため、反
応ガス中に多量の活性種が存在し、高速成膜が可能とな
り、装置のスルーブツトが向上する。
タ8又は誘導加熱ヒータ11により300°C以上に加
熱し、反応ガスを熱分解によって予備励起するため、反
応ガス中に多量の活性種が存在し、高速成膜が可能とな
り、装置のスルーブツトが向上する。
(2)反応ガスを、増感剤を混合することなく熱分解に
よって予備励起させるため、作製した薄膜中に不純物が
混入することなく、良質膜の作製が可能となる。
よって予備励起させるため、作製した薄膜中に不純物が
混入することなく、良質膜の作製が可能となる。
(3)反応ガスを予備励起して、反応容器2内部に導入
するため、反応が起こりやすく低温での底膜が可能とな
る。
するため、反応が起こりやすく低温での底膜が可能とな
る。
(4)反応ガスを紫外光でなく、熱分解によって予備励
起するため、予備励起箇所への活性種の付着による予備
励起効果の低下といったことがなく、再現性よく底膜で
き、装置がコンパクトで安価となる。
起するため、予備励起箇所への活性種の付着による予備
励起効果の低下といったことがなく、再現性よく底膜で
き、装置がコンパクトで安価となる。
上記作用による効果は、反応ガスがSiH4だけでなく
、PH,、AsH,、GeHs等300以上で熱分解す
るガスであれば同様である。
、PH,、AsH,、GeHs等300以上で熱分解す
るガスであれば同様である。
本発明の第4実施例を第4図に示す。本実施例の場合、
反応ガス供給管1を外部から加熱するのではなく、反応
ガス供給管1内部に反応ガス加熱ヒータ12を取り付け
た構造である。この場合、ガス供給管lを介さずに反応
ガスを300“C以上に加熱するため、温度制御性が向
上し、予備励起の制御が容易になる。さらに反応ガスを
直接加熱し熱分解させるため、高効率な予備励起が可能
となる。そのため、成膜再現性・歩留まりを向上させる
ことができる。
反応ガス供給管1を外部から加熱するのではなく、反応
ガス供給管1内部に反応ガス加熱ヒータ12を取り付け
た構造である。この場合、ガス供給管lを介さずに反応
ガスを300“C以上に加熱するため、温度制御性が向
上し、予備励起の制御が容易になる。さらに反応ガスを
直接加熱し熱分解させるため、高効率な予備励起が可能
となる。そのため、成膜再現性・歩留まりを向上させる
ことができる。
なお、反応ガス供給管加熱ヒータ8、反応ガス加熱12
としては、例えばバンドヒータが好適である。また、本
発明は反応容器2内の反応圧力を常圧、又は減圧で操作
する場合のいずれにも適用可能である。
としては、例えばバンドヒータが好適である。また、本
発明は反応容器2内の反応圧力を常圧、又は減圧で操作
する場合のいずれにも適用可能である。
〔発明の効果]
本発明によれば、薄膜製造装置において、反応ガス供給
管を反応ガスを熱分解し、予備励起するのに必要な温度
、例えば300°C以上に加熱し、反応ガスを熱分解す
ることによって予備励起し、多量の活性種を安定に試料
表面に供給できる。
管を反応ガスを熱分解し、予備励起するのに必要な温度
、例えば300°C以上に加熱し、反応ガスを熱分解す
ることによって予備励起し、多量の活性種を安定に試料
表面に供給できる。
そのため、低温・高速での良質膜作製が可能となり、再
現性・歩留まりが向上し、スルーブツトの良い装置を提
供できる。
現性・歩留まりが向上し、スルーブツトの良い装置を提
供できる。
第1図は本発明の第1実施例を示す縦断面図、第2図は
本発明の第2実施例を示す縦断面図、第3図(A)は本
発明の第3実施例を示す縦断面は第3図(B)は第3図
(A)のA−A線断面図、第4図は本発明の第4実施例
を示す縦断面図、第5図は従来の薄膜製造装置の縦断面
図である。 1・・・・・・反応ガス供給管、2・・・・・・反応容
器、3・・・・・・試料、4・・・・・・試料ホルダ、
5・・・・・・排気口、6・・・・・・回転軸、7・・
・・・・試料加熱ヒータ、8・・・・・・反応ガス供給
管加熱ヒータ、9・・・・・・光透過窓、10・・・・
・・紫外光源、11・・・・・・誘導加熱ヒータ、12
・・・・・・反応ガス加熱ヒータ、20・・・・・・反
応ガス加熱板。
本発明の第2実施例を示す縦断面図、第3図(A)は本
発明の第3実施例を示す縦断面は第3図(B)は第3図
(A)のA−A線断面図、第4図は本発明の第4実施例
を示す縦断面図、第5図は従来の薄膜製造装置の縦断面
図である。 1・・・・・・反応ガス供給管、2・・・・・・反応容
器、3・・・・・・試料、4・・・・・・試料ホルダ、
5・・・・・・排気口、6・・・・・・回転軸、7・・
・・・・試料加熱ヒータ、8・・・・・・反応ガス供給
管加熱ヒータ、9・・・・・・光透過窓、10・・・・
・・紫外光源、11・・・・・・誘導加熱ヒータ、12
・・・・・・反応ガス加熱ヒータ、20・・・・・・反
応ガス加熱板。
Claims (3)
- (1)気相化学反応を行う反応容器内に反応ガスを供給
し、この反応容器内に設置された試料に薄膜を堆積させ
るものにおいて、前記反応容器に反応ガスを供給する反
応ガス供給系統中に前記反応ガスを熱分解し、予備励起
するのに必要な温度に加熱可能な加熱機構を設けたこと
を特徴とする薄膜製造装置。 - (2)前記加熱機構が、バンドヒータであることを特徴
とする請求項(1)記載の薄膜製造装置。 - (3)前記加熱機構が、誘導加熱ヒータであることを特
徴とする請求項(1)記載の薄膜製造装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17675589A JPH0341723A (ja) | 1989-07-07 | 1989-07-07 | 薄膜製造装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17675589A JPH0341723A (ja) | 1989-07-07 | 1989-07-07 | 薄膜製造装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0341723A true JPH0341723A (ja) | 1991-02-22 |
Family
ID=16019246
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17675589A Pending JPH0341723A (ja) | 1989-07-07 | 1989-07-07 | 薄膜製造装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0341723A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008053456A (ja) * | 2006-08-24 | 2008-03-06 | Fujitsu Ltd | 処理ガス供給方法、基板処理方法、半導体装置の製造方法、処理ガス供給装置、基板処理装置、および記録媒体 |
-
1989
- 1989-07-07 JP JP17675589A patent/JPH0341723A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008053456A (ja) * | 2006-08-24 | 2008-03-06 | Fujitsu Ltd | 処理ガス供給方法、基板処理方法、半導体装置の製造方法、処理ガス供給装置、基板処理装置、および記録媒体 |
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