JPH02252239A - 化学気相成長装置 - Google Patents

化学気相成長装置

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JPH02252239A
JPH02252239A JP7463189A JP7463189A JPH02252239A JP H02252239 A JPH02252239 A JP H02252239A JP 7463189 A JP7463189 A JP 7463189A JP 7463189 A JP7463189 A JP 7463189A JP H02252239 A JPH02252239 A JP H02252239A
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JP
Japan
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ozone
gas
substrate
ultraviolet light
oxygen gas
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JP7463189A
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English (en)
Inventor
Yasuro Ikeda
康郎 池田
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体装置の製造装置に関し、特に、オゾンを
反応室の外部で生成し、これを反応室に輸送して他の原
料ガスと反応させることによりシリコン酸化膜を形成す
る化学気相成長装置に関する。
〔従来の技術〕
第3図はオゾンを反応室に輸送して他の原料ガスと反応
させることによりシリコン酸化膜を形成する従来の気相
成長装置の略構造縦断面図である。
本例では反応室308は真空シールされており、排気口
316にはメカニカルブースターポンプ314とロータ
リーポンプ315が接続されている。テトラエトキシシ
ランC以下、TE01という)ガスは恒温容器306に
入れたTE01307を、バルブ302を通りマスフロ
ーコントローラ304で流層調節された窒素ガスによっ
てバブリングすることによって作られる。
オゾンは、バルブ301 を通りマスフローコントロー
ラ303によって流量調節された酸素ガスをオゾン発生
器305に導入して作る。TEOSガス導入管317か
らTEOSガスを、オゾン導入管318からオゾンを、
それぞれシャワーインジェクター312に導入し混合ガ
スを作る。混合ガスはシャワーインジェクター312に
設けられた多数の細孔313から基板309に向かって
吹き付けられる。基板309はサセプター310上に装
着されており、サセプター310はヒータ311によっ
て350℃前後に加熱されている。シャワーインジェク
ター312から、加熱された基板309上に、TE01
とオゾンの混合ガスが吹き付けられることにより、シリ
コン酸化膜が形成される。
以上のように、従来のオゾンを反応室に輸送して他の原
料ガスと反応させることによりシリコン酸化膜を形成す
る気相成長装置では、原料ガスであるTE01とオゾン
をシャワーインジェクターで混合し、加熱した基板上へ
吹き付け、熱化学反応のみを利用して堆積する構造とな
っていた。
第4図は光化学反応を用いて酸化膜を形成する従来の光
化学気相成長装置の略構造縦断面図を示す。本例では1
反応室413は真空シールされており、メカニカルブー
スターポンプ415とロータリーポンプ416によって
真空排気されている。反応ガスとしては、シランガス及
び酸素ガスが用いられ、それぞれバルブ401.402
を通りマスフローコントローラ405.406によって
流量調節され、反応室413へ導かれる。反応室内のサ
セプタ411に装着された基板412はヒータ414で
約250℃に加熱されており、反応室の一部に設けられ
た紫外線透過窓410を通して、ランプ室407内の紫
外線ランプ409から発生する紫外光を照射されている
。−殻内に、このような構造では、紫外線透過窓410
にも酸化膜の堆積が起り、紫外線透過窓の透過率を減少
させるため、窒素ガスをマスフローコントローラ404
で流量調節し、紫外線透過窓410の近くに導入し。
反応ガスが紫外線透過窓に到達するのを防止している。
また、403はシランガスを開閉制御するバルブである
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した第3図に示す従来のオゾンを反応室に輸送して
他の原料ガスと反応させることにより。
シリコン酸化膜を形成する気相成長装置では、原料ガス
であるTE01とオゾンをシャワーインジェクターで混
合し、加熱した基板上へ吹き付け、熱化学反応のみを利
用して堆積する構造となっていた。
このため、堆積温度をオゾンが十分分解する温度(約3
50℃)以北にする必要があるという欠点があった。ま
た、第4図に示すよう従来の光化学気相成長装置では、
紫外線ランプから発射されろ紫外光が窓材や、窓の曇り
、窒素ガス、酸素ガス等に吸収されるため、基板表面に
到達する紫外光が非常に弱くなる場合が少なくなかった
。また、低圧水銀ランプなどが光源として用いられるこ
とが多かったが、出力が小さく、堆積速度が小さくなる
という欠点があった。
〔発明の従来技術に対する相違点〕
上述した従来のオゾンを反応室に輸送して他の原料ガス
と反応させることにより、シリコン酸化膜を形成する気
相成長装置では、光化学気相成長装置に対し、本発明は
反応室部分の外部で生成した高濃度オゾンガスを基板表
面付近で紫外光の助力によって分解し、高濃度の酸素原
子あるいは酸素ラジカルを基板表面に供給することで、
原料ガスの分解並びに膜の堆積を低温でも可能にし、必
要ならば、基板表面にも紫外光を照射することにより、
良質なシリコン酸化膜の形成を可能にできるという相違
点を有している。
〔課題を解決するための手段〕 前記目的を達成するため1本発明はシリコン酸化膜等を
形成する化学気相成長装置において、オゾンを生成させ
て供給するとともにその他の膜形成原料ガスを供給する
ガス供給機構と、オゾンとその他の膜形成原料ガスとを
被覆されるべき基体表面付近まで隔離されたまま供給す
るガス供給ノズルと、該ガス供給ノズル内のオゾン供給
部に紫外光を供給する光学系とを有するものである。ま
た前記気相成長装置が常圧気相成長装置であって、前記
ガス供給ノズルが、スリット状の隙間を持つ分散板集合
体からなり、前記光学系の発する紫外光が前記基体表面
に照射される構造となっている、また前記ガス供給ノズ
ルがスリット状の隙間を持つ複数の分散板からなり、前
記紫外線光源の紫外光は前記基体表面には照射されない
構造となっているものである。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
(実施例1) 第1図は本発明の実施例1を示す略構造縦断面図である
。本実施例は原料ガスとしてモノシラン(Sill、)
を用い、シリコン酸化膜の堆積を試みる常圧気相成長装
置の例である。本例ではバルブ101を通りマスフロー
コントローラ104により流量調節された酸素ガスをオ
ゾン発生器109に導き、0.1〜10%のオゾンを含
む酸素ガスを作り、ディスバージョンヘッド115の中
央の隙間に送られる。窒素ガスあるいはアルゴンガスで
希釈されたモノシランガスは、マスフローコントローラ
105で流量調節され、マスフローコン1−ローラ10
6で流量調節された窒素ガスと混合されて、ディスバー
ジョンヘッド115の左右の隙間に送られる。ディスバ
ージョンヘッド115の中央の隙間には、低圧水銀ラン
プ111が設置されている。反射板110を備えた低圧
水銀ランプ111の両側をすり抜けたオゾン含有酸素ガ
スは低圧水銀ランプの発する紫外光によって分解され、
反応性の高い酸素ガスとなって、基板112に吹き付け
られる。希釈されたモノシランガスはほとんど反応性の
高い酸素ガスと混合されずに基板112の表面に吹き付
けられる。基板112はヒータ114上に設けたサセプ
タ113上で250℃前後の温度に保たれている。基板
112の表面では反応性の高い酸素ガスと希釈されたモ
ノシランガスが混合され、紫外光と250’ Cの熱に
よってシリコン酸化膜が堆積される。又、102,10
3,107,108はバルブ、106は排気口である。
本実施例では反応室が常圧なので、ガスの流れが安定し
て作れる。ディスバージョンヘッド115の中央の隙間
から基板に吹き付けられる酸素ガスは、モノシランを含
んだガスと混じり合うことばない。これによって、低圧
水銀ランプの表面にシリコン酸化膜を堆積させることな
く、基板112の表面に紫外光を照射することができ、
良質の酸化膜を得ることができる。また、オゾン発生器
109では10%以上の高濃度オゾンが発生されるため
大きな堆積速度が得られる。
尚、本実施例は原料ガスとしてモノシランを用いたが、
モノシラン以外のシリコン含有原料ガスを用いても同様
の結果が得られることは言うまでもない。
(実施例2) 第2図は本発明の実施例2を示す略構造縦断面図である
。本実施例は、TE01とオゾンを用い、シリコン酸化
膜の堆積を試みる常圧気相成長装置の例である。本例で
は、キャリアガスである窒素ガスをマスフローコントロ
ーラ204によって恒温容器210に導き、恒温容器2
10内にいれたTE01211をバブリングすることに
より、TEOSガスを発生させる。発生したTEOSガ
スは恒温配管を通って、ノズル集合体225の中央の隙
間215に輸送される。次に、マスフローコントローラ
206によって流量調節された酸素ガスがオゾン発生器
212に導入され、0.1から10%のオゾンを含むオ
ゾン含有酸素ガスとなり、ノズル集合体225の左右の
隙間217に輸送される。以上のように、ノズル集合体
225は5つの隙間を有する構造となっており、中央の
隙間215にT E OSガス、その両側の隙間に21
6にマスフローコントローラ205によって流量制御さ
れた分離用窒素ガスを、更にその外側の隙間217にオ
ゾン含有酸素ガスを別々に流す構造となっている。シリ
コン酸化膜を被覆されるべき基板222はヒータ224
上に密着して設けられたサセプタ223上に装着され、
200〜300℃に加熱されている。本実施例の場合は
、低圧水銀ランプ220はオゾン含有酸素ガスを流す左
右の外側の隙間217の中に設けられており、反射板2
19を備えた紫外線ランプ220が発する紫外光が直接
基板222に照射されない構造となっている。
排気ガスはメツシュ状排気ガイガイド221に導かれて
排気口213に集められる。また、排気強度は可変バル
ブ218によって調節される。また、201.202.
203,207,208,209はバルブ、である。
本実施例によれば、紫外線ランプ220によってオゾン
が活性酸素原子に効率良く分解されるため、基板222
が200℃〜300℃の比較的低温に保持されているに
も拘らず、基板222の表面には高濃度の活性酸素原子
が供給される。このため、基板222上では隙間215
から供給されるTEOSガスが十分分解酸化され、良質
の酸化膜が大きな堆積速度で形成される。また、本実施
例では紫外光が基板に直接照射されないため、紫外光照
射によるデバイスの損傷等が生じないという利点がある
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、装置の一部分でオゾンを
生成し、該オゾンと、その他の膜形成原料ガスとが、被
覆されるべき基体表面付近まで隔離されたまま供給され
ることを可能にする。原料ガス供給機構及びガス供給ノ
ズルを有し、該ガス供給ノズル内のオゾン供給部分に紫
外線光源を有するか、または、該ガス供給ノズルの外部
からノズルのオゾン供給部分に紫外光を導く紫外光光学
系を有するため、反応室部分の外部で生成した高濃度オ
ゾンガスを、基板表面付近で、紫外光の助力によって分
解し、高濃度の酸素原子あるいは酸素ラジカルを基板表
面に供給することで、原料ガスの分解並びに膜の堆積を
低温でも可能にし、必要ならば、基板表面にも紫外光を
照射することにより、良質な、シリコン酸化膜の形成を
可能にする効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例1を示す縦断面図、第2図は本
発明の実施例2を示す縦断面図、第3図。 第4図は従来例を示す縦断面図である。 109.212・・・オゾン発生器 111・・・低圧水銀ランプ 113.223・・・サセプタ 115・・・ディスバージョンヘラ 210・・・恒温容器 −ラ 110.219・・・反射板 112.222・・・基板 114.224・・・ヒータ ド 116,213・・・排気口 211・・・TE01 214・・・排気ガスガイド 216・・・隙間 218・・・可変バルブ 221・・・メツシュ状排気ガイ 225・・ノズル集合体 215・・・隙間(中央) 217・・・隙間(外側) 220・・・紫外線ランプ ガイド

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)シリコン酸化膜等を形成する化学気相成長装置に
    おいて、オゾンを生成させて供給するとともにその他の
    膜形成原料ガスを供給するガス供給機構と、オゾンとそ
    の他の膜形成原料ガスとを被覆されるべき基体表面付近
    まで隔離されたまま供給するガス供給ノズルと、該ガス
    供給ノズル内のオゾン供給部に紫外光を供給する光学系
    とを有することを特徴とする化学気相成長装置。
  2. (2)前記気相成長装置が常圧気相成長装置であって、
    前記ガス供給ノズルが、スリット状の隙間を持つ分散板
    集合体からなり、前記光学系の発する紫外光が前記基体
    表面に照射される構造となっていることを特徴とする請
    求項(1)項記載の化学気相成長装置。
  3. (3)前記ガス供給ノズルがスリット状の隙間を持つ複
    数の分散板からなり、前記紫外線光源の紫外光は前記基
    体表面には照射されない構造となっていることを特徴と
    する請求項(2)項記載の化学気相成長装置。
JP7463189A 1989-03-27 1989-03-27 化学気相成長装置 Pending JPH02252239A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20010077236A (ko) * 2000-02-01 2001-08-17 박종섭 가스 분사 장치
JP2008053561A (ja) * 2006-08-25 2008-03-06 Meidensha Corp 酸化膜形成方法とその装置
JP2009191355A (ja) * 2008-02-14 2009-08-27 Samsung Electro-Mechanics Co Ltd ガス供給ユニット及び化学気相蒸着装置
JP2015142033A (ja) * 2014-01-29 2015-08-03 株式会社 天谷製作所 常圧気相成長装置および常圧気相成長方法

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