JPH0341588B2 - - Google Patents
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- JPH0341588B2 JPH0341588B2 JP57032491A JP3249182A JPH0341588B2 JP H0341588 B2 JPH0341588 B2 JP H0341588B2 JP 57032491 A JP57032491 A JP 57032491A JP 3249182 A JP3249182 A JP 3249182A JP H0341588 B2 JPH0341588 B2 JP H0341588B2
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- G—PHYSICS
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-
- G—PHYSICS
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、色を測定し制御する装置、ことに移
動するウエブ材料の色を測定し制御する方法及び
装置に関する。
動するウエブ材料の色を測定し制御する方法及び
装置に関する。
一般に移動幅状体の染色を制御する従来の装置
は、ウエブ材料の移動部分から反射する光の３色
刺激値Ｘ、Ｙ、Ｚを測定することにより作用す
る。反射光の赤、緑及び青の成分に大体相当する
３色刺激値は、ド・リミギ（De Remigis）を発
明者とする米国特許第3936189号明細書に記載し
てあるように互に異る検出器により、又はロジン
スキー（Lodjinski）を発明者とする米国特許第
4019819号明細書に記載してあるようにフイルタ
輪又は類似物を継次的に使うことにより同時に測
定する。３色刺激値Ｘ、Ｙ、Ｚは、制御のために
直接使うか又は先ずハンター座標Ｌ、ａ、ｂのよ
うな他の座標に変換する。
は、ウエブ材料の移動部分から反射する光の３色
刺激値Ｘ、Ｙ、Ｚを測定することにより作用す
る。反射光の赤、緑及び青の成分に大体相当する
３色刺激値は、ド・リミギ（De Remigis）を発
明者とする米国特許第3936189号明細書に記載し
てあるように互に異る検出器により、又はロジン
スキー（Lodjinski）を発明者とする米国特許第
4019819号明細書に記載してあるようにフイルタ
輪又は類似物を継次的に使うことにより同時に測
定する。３色刺激値Ｘ、Ｙ、Ｚは、制御のために
直接使うか又は先ずハンター座標Ｌ、ａ、ｂのよ
うな他の座標に変換する。
前記したような３フイルタ形又は４フイルタ形
の比色計は、当業界に一般的に使われ普通の制御
用に適当であるが、これ等の比色計には切実な障
害がある。第１にＸ、Ｙ、Z3色刺激出力は比色
に使う光源のもとで幅状体の認められる色を指示
するだけである。標準の光源を使い３色刺激値に
よつて得られる色整合は異るスペクトル組成を持
つ光源との整合を必ずしも示さない。一般に与え
られた光源による材料の色特性はこの材料の３色
刺激値Ｘ、Ｙ、Ｚだけしか分らない場合には予知
することができない。さらに比色計に使う光源又
は検出器の実際のスペクトル曲線がフイルタを計
画した曲線とは異ると、得られる３色刺激値は標
準の光源のもとでは材料の色特性を必ずしも示さ
ない。ロジンスキーは１変型として比較的多数の
狭い帯域のフイルタを使い縮小した分光光度計に
近似させることを提案しているが、この提案をオ
ンライン装置に実際に適用することは述べていな
い。
の比色計は、当業界に一般的に使われ普通の制御
用に適当であるが、これ等の比色計には切実な障
害がある。第１にＸ、Ｙ、Z3色刺激出力は比色
に使う光源のもとで幅状体の認められる色を指示
するだけである。標準の光源を使い３色刺激値に
よつて得られる色整合は異るスペクトル組成を持
つ光源との整合を必ずしも示さない。一般に与え
られた光源による材料の色特性はこの材料の３色
刺激値Ｘ、Ｙ、Ｚだけしか分らない場合には予知
することができない。さらに比色計に使う光源又
は検出器の実際のスペクトル曲線がフイルタを計
画した曲線とは異ると、得られる３色刺激値は標
準の光源のもとでは材料の色特性を必ずしも示さ
ない。ロジンスキーは１変型として比較的多数の
狭い帯域のフイルタを使い縮小した分光光度計に
近似させることを提案しているが、この提案をオ
ンライン装置に実際に適用することは述べていな
い。
従来の制御装置の他の欠点は、３色刺激値Ｘ、
Ｙ、Ｚと制御しようとする染料濃度との間の関係
が非線形であることから生ずる。この非線形は低
い染料濃度ではあまり問題にならないが染料濃度
に伴つて問題が増大し、比較的飽和した色を求め
るときは非線形が実質的な問題になる。従つて実
用装置ではＸ、Ｙ、Ｚ及び染料濃度間の関係は、
計算が容易になるように或る名目上の設定点の付
近で直線化しなければならない。この直線化の必
要なことは明らかに不利である。その理由は設定
点の付近で作動点が変るだけでなく又設定点自体
も変ることが多くて、線形式の再計算を必要とす
る。
Ｙ、Ｚと制御しようとする染料濃度との間の関係
が非線形であることから生ずる。この非線形は低
い染料濃度ではあまり問題にならないが染料濃度
に伴つて問題が増大し、比較的飽和した色を求め
るときは非線形が実質的な問題になる。従つて実
用装置ではＸ、Ｙ、Ｚ及び染料濃度間の関係は、
計算が容易になるように或る名目上の設定点の付
近で直線化しなければならない。この直線化の必
要なことは明らかに不利である。その理由は設定
点の付近で作動点が変るだけでなく又設定点自体
も変ることが多くて、線形式の再計算を必要とす
る。
マツカーテイ（McCarty）を発明者とする米
国特許第3601589号明細書には、整合させる被覆
の測定した反射と顔料層の計算した反射との間の
全二乗誤差を最小にする濃度を選択することによ
り初めの顔料層を実際の混合に先だつて生成する
ようにして顔料を与えられた表面被覆に整合する
ように選定する装置について記載してある。しか
し実際の混合処理自体は、この混合物を比色計で
標本化し比色計出力から計算したＬ、ａ、ｂ座標
を使い初めの顔料層を修正することにより制制す
る。
国特許第3601589号明細書には、整合させる被覆
の測定した反射と顔料層の計算した反射との間の
全二乗誤差を最小にする濃度を選択することによ
り初めの顔料層を実際の混合に先だつて生成する
ようにして顔料を与えられた表面被覆に整合する
ように選定する装置について記載してある。しか
し実際の混合処理自体は、この混合物を比色計で
標本化し比色計出力から計算したＬ、ａ、ｂ座標
を使い初めの顔料層を修正することにより制制す
る。
本発明の目的は、任意の光源のもとで色整合を
確実にする色測定兼制御装置を提供しようとする
にある。
確実にする色測定兼制御装置を提供しようとする
にある。
本発明の他の目的は、種種の光学的成分のスペ
クトル曲線の整合を必要としない色測定兼制御装
置を提供しようとするにある。
クトル曲線の整合を必要としない色測定兼制御装
置を提供しようとするにある。
なお本発明の他の目的は、操作点の変化に比較
的敏感でない色測定兼制御装置を提供しようとす
るにある。
的敏感でない色測定兼制御装置を提供しようとす
るにある。
さらに本発明の目的は、４種類又はそれ以上の
染料を互に無関係に制御できる色測定兼制御装置
を提供しようとするにある。
染料を互に無関係に制御できる色測定兼制御装置
を提供しようとするにある。
本発明のその他の目的は以下に述べる所から明
らかである。
らかである。
本発明によれば、第１の所定の光学径路により
表面部分を所定のスペクトル含量の光源に結合す
るが第２の所定の光学径路により同じ表面部分を
検出器に結合して、移動するウエブ材料の表面の
光学的反射率を測定する装置が得られる。前記径
路の少くとも一方には、光学径路のフイルタ入射
点によつて光学スペクトルを経てほぼ連続的に変
る通過帯域を持つ帯域フイルタを配置してある。
フイルタへの光学径路の入射点を変えると、光学
スペクトルを走査する検出器から出力を生ずる。
この光学系の分解能は、それぞれ約1.7nｍだけ互
に隔てた互に異る約180種の波長を表わす次次の
検出器出力を許容するようにするのがよい。連続
フイルタは、光学径路に中心をはずれた場所で交
さし光学スペクトルを周期的に走査するように回
転する円形可変フイルタが好適である。
表面部分を所定のスペクトル含量の光源に結合す
るが第２の所定の光学径路により同じ表面部分を
検出器に結合して、移動するウエブ材料の表面の
光学的反射率を測定する装置が得られる。前記径
路の少くとも一方には、光学径路のフイルタ入射
点によつて光学スペクトルを経てほぼ連続的に変
る通過帯域を持つ帯域フイルタを配置してある。
フイルタへの光学径路の入射点を変えると、光学
スペクトルを走査する検出器から出力を生ずる。
この光学系の分解能は、それぞれ約1.7nｍだけ互
に隔てた互に異る約180種の波長を表わす次次の
検出器出力を許容するようにするのがよい。連続
フイルタは、光学径路に中心をはずれた場所で交
さし光学スペクトルを周期的に走査するように回
転する円形可変フイルタが好適である。
なお本発明によれば、染料を含む材料部分の反
射率を複数の波長で測定する、複数種類の染料の
ウエブ材料への施しを制御するオンライン装置が
得られる。この材料への各染料の流れはこの場合
所定の所望の反射率からの測定反射率の偏差の二
乗の和を最小にするように調節する。材料の反射
率測定は、前記したようにして円形可変帯域フイ
ルタを使うことにより行うのがよい。
射率を複数の波長で測定する、複数種類の染料の
ウエブ材料への施しを制御するオンライン装置が
得られる。この材料への各染料の流れはこの場合
所定の所望の反射率からの測定反射率の偏差の二
乗の和を最小にするように調節する。材料の反射
率測定は、前記したようにして円形可変帯域フイ
ルタを使うことにより行うのがよい。
以下本発明装置の実施例を添付図面について詳
細に説明する。
細に説明する。
本装置のセンサ部分１０は、ウエブ材料すなわ
ち長尺の紙又は類似物の幅状体１２の色を測定す
ることができる。センサ部分１０は、幅状体１２
の上方に配置した光学的検知ヘツド１４と、ヘツ
ド１４の下方に配置した光学的シユー１６とを備
えている。ヘツド１４及びシユー１６を幅状体１
２との協働関係から出るように取付けるために任
意適当な部片（図示してない）を設けてある。
ち長尺の紙又は類似物の幅状体１２の色を測定す
ることができる。センサ部分１０は、幅状体１２
の上方に配置した光学的検知ヘツド１４と、ヘツ
ド１４の下方に配置した光学的シユー１６とを備
えている。ヘツド１４及びシユー１６を幅状体１
２との協働関係から出るように取付けるために任
意適当な部片（図示してない）を設けてある。
光学的検知ヘツド１４は、ハウジング頂部のま
わりに延びるガスケツト２４に密封状態で連関す
るようにねじ片２２のような任意適当な部片によ
り頂板２０を締付けたハウジング１８を備えてい
る。頂板２０はヘツド支持体（図示してない）に
締付けるようにした取付けボルト２６を取付けて
ある。ハウジング１８には、カバー３２，３４に
より通常閉じた操作穴２８，３０を形成してあ
る。各カバー３２，３４はガスツト３６に連関し
操作穴２８，３０を密封する。
わりに延びるガスケツト２４に密封状態で連関す
るようにねじ片２２のような任意適当な部片によ
り頂板２０を締付けたハウジング１８を備えてい
る。頂板２０はヘツド支持体（図示してない）に
締付けるようにした取付けボルト２６を取付けて
ある。ハウジング１８には、カバー３２，３４に
より通常閉じた操作穴２８，３０を形成してあ
る。各カバー３２，３４はガスツト３６に連関し
操作穴２８，３０を密封する。
ハウジング１８の底部３８には、窓４２を取付
けた穴４０を形成してある。たとえば窓４２を支
える架枠４４は、穴４０のまわりの底部３８のフ
ランジにねじ締めしガスケツト４６に密封状態で
連関するようにしてある。
けた穴４０を形成してある。たとえば窓４２を支
える架枠４４は、穴４０のまわりの底部３８のフ
ランジにねじ締めしガスケツト４６に密封状態で
連関するようにしてある。
検知ヘツド１４はハウジング１８内に位置させ
た光積分球４８を備えている。積分球４８は、窓
４２に合致する穴５２を形成した下半部５０を備
え、上半部５４を任意適当な方法で下半部５０に
対し作動関係に固定してある。
た光積分球４８を備えている。積分球４８は、窓
４２に合致する穴５２を形成した下半部５０を備
え、上半部５４を任意適当な方法で下半部５０に
対し作動関係に固定してある。
球上半部５４の各穴に電球取付管５６を固定し
てある。取付管５６に組付けたキヤツプ５８は光
源６０，６２とその協働する取付台とを取付管５
６内の位置に保持し球４８の内部に光を差向ける
ようにする。球下半部５０には１対の光偏向板６
４，６６を設け、そして球上半部５４には光偏向
板６８，７０を設け球４８内で光源６０，６２か
らの光を確実に適正に配分しこれと同時に後述の
検出器が光源６０，６２により直接には照明され
ないようにしてある。任意適当な光源を使えばよ
いが光源６０，６２に対しては、一定の電流源に
より給電する２個の50Wタングステンフイラメン
ト石英よう素ランプを使うのがよい。
てある。取付管５６に組付けたキヤツプ５８は光
源６０，６２とその協働する取付台とを取付管５
６内の位置に保持し球４８の内部に光を差向ける
ようにする。球下半部５０には１対の光偏向板６
４，６６を設け、そして球上半部５４には光偏向
板６８，７０を設け球４８内で光源６０，６２か
らの光を確実に適正に配分しこれと同時に後述の
検出器が光源６０，６２により直接には照明され
ないようにしてある。任意適当な光源を使えばよ
いが光源６０，６２に対しては、一定の電流源に
より給電する２個の50Wタングステンフイラメン
ト石英よう素ランプを使うのがよい。
球上半部５４には幅状体１２の点部分からの反
射光を検出器に差向ける穴７２を形成してある。
とくに管部片７４内に配置され穴７２に下端部を
隣接させたレンズ７６は幅状体１２の点部分から
の光を管部片７４の上端部に位置させた光電検出
器７８に集束する。検出器７８と管部片７４の上
端部との間には円形の可変フイルタ８０を挿入し
てある。第２図に示すようにフイルタ８０は、干
渉フイルタ被覆８４を一方の側に設けた基板８２
を備えている。よく知られているようにして基板
８２に施す干渉フイルタ被覆８４の厚さは、フイ
ルタ８０の軸線のまわりの角変位に伴つて変る。
従つてフイルタ被覆８４の任意特定の角度セグメ
ントを通過する中央波長には対応する角度依存性
がある。すなわち図示の実施例では最も薄いすな
わち0゜の位置の被覆セグメントの厚さtoは約400n
ｍの波長を通すような厚さであるが、360゜のセグ
メントの厚さ（第２図には示してない）は約
700nｍの波長を通すような厚さである。これ等
の２つの末端値の間で厚さと従つて通過帯域波長
とは角変位により直線的に変る。たとえば180゜の
セグメントの厚さt180は約550nｍの波長を通すよ
うな厚さである。
射光を検出器に差向ける穴７２を形成してある。
とくに管部片７４内に配置され穴７２に下端部を
隣接させたレンズ７６は幅状体１２の点部分から
の光を管部片７４の上端部に位置させた光電検出
器７８に集束する。検出器７８と管部片７４の上
端部との間には円形の可変フイルタ８０を挿入し
てある。第２図に示すようにフイルタ８０は、干
渉フイルタ被覆８４を一方の側に設けた基板８２
を備えている。よく知られているようにして基板
８２に施す干渉フイルタ被覆８４の厚さは、フイ
ルタ８０の軸線のまわりの角変位に伴つて変る。
従つてフイルタ被覆８４の任意特定の角度セグメ
ントを通過する中央波長には対応する角度依存性
がある。すなわち図示の実施例では最も薄いすな
わち0゜の位置の被覆セグメントの厚さtoは約400n
ｍの波長を通すような厚さであるが、360゜のセグ
メントの厚さ（第２図には示してない）は約
700nｍの波長を通すような厚さである。これ等
の２つの末端値の間で厚さと従つて通過帯域波長
とは角変位により直線的に変る。たとえば180゜の
セグメントの厚さt180は約550nｍの波長を通すよ
うな厚さである。
フイルタ８０は、検出器７８に達する波長を変
えるようにフイルタ８０を回転する間欠電動機８
８のような適当な電動機の軸８６に取付けてあ
る。電動機軸８６に結合した位置符号器９０によ
り回線又はチヤネル１０８（第４図）に光学軸１
０８に交さするフイルタ８０の特定の2゜の角度区
分を指示する並列のデイジタル出力Ｌを生ずる。
第３図に示すように任意特定の瞬間に検出器７８
の見るフイルタ８０の円周方向寸法を制限するよ
うに、フイルタ８０及び検出器７８の間に光学的
スリツト形成部片９２を配置するのがよい。スリ
ツトの幅ｄはそのフイルタ８０の軸線からの平均
間隔ｒで約2゜に対するような寸法にするのがよ
い。
えるようにフイルタ８０を回転する間欠電動機８
８のような適当な電動機の軸８６に取付けてあ
る。電動機軸８６に結合した位置符号器９０によ
り回線又はチヤネル１０８（第４図）に光学軸１
０８に交さするフイルタ８０の特定の2゜の角度区
分を指示する並列のデイジタル出力Ｌを生ずる。
第３図に示すように任意特定の瞬間に検出器７８
の見るフイルタ８０の円周方向寸法を制限するよ
うに、フイルタ８０及び検出器７８の間に光学的
スリツト形成部片９２を配置するのがよい。スリ
ツトの幅ｄはそのフイルタ８０の軸線からの平均
間隔ｒで約2゜に対するような寸法にするのがよ
い。
幅状体１２がヘツド１４を過ぎて移動する際に
幅状体１２を支えるシユー１６は、回転自在なブ
ロツク１０２を配置したハウジング１０４を備え
ている。通常色の測定又は制御の動作位相中に、
ブロツク１０２はハウジング１０４内で適当な標
準の反射面９４を幅状体１２の下側に位置させる
ように向きを定める。ブロツク１０２は又、校正
中に幅状体１２の下側の位置に回す３つの付加的
反射面９６，９８，１００を取付けてある。各反
射面９６，９８，３０はたとえば、標準の白色反
射面と標準の黒色反射面と検出器７８の応答を校
正する付加的な反射面とから成つている。
幅状体１２を支えるシユー１６は、回転自在なブ
ロツク１０２を配置したハウジング１０４を備え
ている。通常色の測定又は制御の動作位相中に、
ブロツク１０２はハウジング１０４内で適当な標
準の反射面９４を幅状体１２の下側に位置させる
ように向きを定める。ブロツク１０２は又、校正
中に幅状体１２の下側の位置に回す３つの付加的
反射面９６，９８，１００を取付けてある。各反
射面９６，９８，３０はたとえば、標準の白色反
射面と標準の黒色反射面と検出器７８の応答を校
正する付加的な反射面とから成つている。
第４図には走査ヘツド１４により幅状体１２か
ら反射する光のＸ、Ｙ、Z3色刺激値を生じ表示
する計算機に入力を供給する装置１０５を示して
ある。とくに汎用超小形計算機のような当業界に
はよく知られている任意適当な形式のデイジタル
計算機１１０は、フイルタ８０の角度位置を指示
する信号Ｌを搬送する回線１０８から一方のデー
タ入力を受ける。反射光強さに比例する検出器出
力IREFLを搬送するヘツド１４からの回線１０
６はアナログ−デイジタル変換器（ADC）１１
２を経て計算機１１０に付加的データ入力を送
る。計算機１１０はＸ表示器１１４、Ｙ表示器１
１６及びＺ表示器１１８に適当なデイジタル出力
を送る。各表示器１１４，１１６，１１８は当業
界にはよく知られている任意適当な形式の表示器
たとえば区分デイジタル表示器、帯状図表記録装
置又は類似物でよい。さらにＸ、Ｙ、Ｚ出力は、
幅状体１２への染料の施しを調整するように適当
な制御装置（図示してない）に入力を送る各回線
１１３，１１５，１１７にそれぞれ現われる。
ら反射する光のＸ、Ｙ、Z3色刺激値を生じ表示
する計算機に入力を供給する装置１０５を示して
ある。とくに汎用超小形計算機のような当業界に
はよく知られている任意適当な形式のデイジタル
計算機１１０は、フイルタ８０の角度位置を指示
する信号Ｌを搬送する回線１０８から一方のデー
タ入力を受ける。反射光強さに比例する検出器出
力IREFLを搬送するヘツド１４からの回線１０
６はアナログ−デイジタル変換器（ADC）１１
２を経て計算機１１０に付加的データ入力を送
る。計算機１１０はＸ表示器１１４、Ｙ表示器１
１６及びＺ表示器１１８に適当なデイジタル出力
を送る。各表示器１１４，１１６，１１８は当業
界にはよく知られている任意適当な形式の表示器
たとえば区分デイジタル表示器、帯状図表記録装
置又は類似物でよい。さらにＸ、Ｙ、Ｚ出力は、
幅状体１２への染料の施しを調整するように適当
な制御装置（図示してない）に入力を送る各回線
１１３，１１５，１１７にそれぞれ現われる。
第５図には走査ヘツドの出力Ｌ及び出力
IREFLから３色刺激値Ｘ、Ｙ、Ｚを生ずるよう
に計算機１１０に使うプログラムを示す。図示の
プログラムは各校正周期間の測定操作位相中に反
復して入れるサブルーチンである。とくにこのサ
ブルーチンをブロツク120で入れた後平均周期当
たりのフイルタ８０の回転数を表わす指数Ｋは０
で始める〔ブロツク122〕。３色刺激値Ｘ、Ｙ、Ｚ
も又０で始めた後〔ブロツク124〕、指数Ｋは１だ
け増すが〔ブロツク126〕、フイルタ８０の特定の
2゜の角度区分を示す第２の指数Ｉが０で初まる
〔ブロツク128〕。
IREFLから３色刺激値Ｘ、Ｙ、Ｚを生ずるよう
に計算機１１０に使うプログラムを示す。図示の
プログラムは各校正周期間の測定操作位相中に反
復して入れるサブルーチンである。とくにこのサ
ブルーチンをブロツク120で入れた後平均周期当
たりのフイルタ８０の回転数を表わす指数Ｋは０
で始める〔ブロツク122〕。３色刺激値Ｘ、Ｙ、Ｚ
も又０で始めた後〔ブロツク124〕、指数Ｋは１だ
け増すが〔ブロツク126〕、フイルタ８０の特定の
2゜の角度区分を示す第２の指数Ｉが０で初まる
〔ブロツク128〕。
次で指数Ｉは１だけ増し〔ブロツク130〕、位置
符号器信号Ｌに問合わせ信号Ｌが指数Ｉに等しい
かどうかを定める〔ブロツク132，140〕。電動機
８８はブロツク132，134を過ぎるごとに連続的に
運転するか又は2゜の間欠運転をする。このサブル
ーチンは、位置信号Ｌが指数Ｉに合致するまで待
ち次で検出器出力IREFLに問合わせる〔ブロツ
ク136〕。次でサブルーチンは信号IREFLを使い、
検出器出力IREFLと指数Ｉに対応する波長の特
定の３色刺激値との相乗積に比例する前回に記憶
した値に加えることにより３色刺激値Ｘ、Ｙ、Ｚ
を更新する〔ブロツク138，140，142〕。サブルー
チンは、指数Ｉが180に達するまで指数Ｉの各値
に対しブロツク130，132，134，136，138，140，
142に沿つて継続する。指数Ｉが180になると、サ
ブルーチンはループから出て〔ブロツク144〕、指
数Ｋが所定の値この場合10に達したかどうかを試
験する〔ブロツク460〕。指数Ｋが10より小さい
と、サブルーチンはブロツク126にもどり、ブロ
ツク126で指数Ｋを１だけ増しフイルタ８０をさ
らに回転するために３色刺激値Ｘ、Ｙ、Ｚを更新
する。この処理はＫが10に達するまで続ける。Ｋ
が10に達すると、サブルーチンは最終的に計算し
た３色刺激値Ｘ、Ｙ、Ｚを各表示器１１４，１１
６，１１８に送る〔ブロツク146〕。次でサブルー
チンは主プログラム（図示してない）にもどる
〔ブロツク150〕。この主プログラムはたとえば第
５図に示したサブルーチンをすぐにふたたび入れ
る。
符号器信号Ｌに問合わせ信号Ｌが指数Ｉに等しい
かどうかを定める〔ブロツク132，140〕。電動機
８８はブロツク132，134を過ぎるごとに連続的に
運転するか又は2゜の間欠運転をする。このサブル
ーチンは、位置信号Ｌが指数Ｉに合致するまで待
ち次で検出器出力IREFLに問合わせる〔ブロツ
ク136〕。次でサブルーチンは信号IREFLを使い、
検出器出力IREFLと指数Ｉに対応する波長の特
定の３色刺激値との相乗積に比例する前回に記憶
した値に加えることにより３色刺激値Ｘ、Ｙ、Ｚ
を更新する〔ブロツク138，140，142〕。サブルー
チンは、指数Ｉが180に達するまで指数Ｉの各値
に対しブロツク130，132，134，136，138，140，
142に沿つて継続する。指数Ｉが180になると、サ
ブルーチンはループから出て〔ブロツク144〕、指
数Ｋが所定の値この場合10に達したかどうかを試
験する〔ブロツク460〕。指数Ｋが10より小さい
と、サブルーチンはブロツク126にもどり、ブロ
ツク126で指数Ｋを１だけ増しフイルタ８０をさ
らに回転するために３色刺激値Ｘ、Ｙ、Ｚを更新
する。この処理はＫが10に達するまで続ける。Ｋ
が10に達すると、サブルーチンは最終的に計算し
た３色刺激値Ｘ、Ｙ、Ｚを各表示器１１４，１１
６，１１８に送る〔ブロツク146〕。次でサブルー
チンは主プログラム（図示してない）にもどる
〔ブロツク150〕。この主プログラムはたとえば第
５図に示したサブルーチンをすぐにふたたび入れ
る。
次に第６図に示した本装置の実施例では染料の
吸収スペクトルを最小二乗法により幅状体の測定
したスペクトルに合わせ流量補正信号を生ずる。
この装置１５２では第４図に示した計算機１１０
に類似な又は同じ計算機１５４を使う。計算機１
５４はヘツド１４から直接適当な入力ポートを経
て位置信号Ｌを受ける。ヘツド１４から一方のア
ナログ入力としてIREFL信号を受けるアナログ
マルチプレクス回路１５６は、計算機１５４によ
り生ずるアドレス信号に従つてアナログ−デイジ
タル変換器（ADC）１５８に選定したアナログ
入力を送る。ADC１５８は計算機１５４の付加
的入力ポートへの多量ビツトデイジタル出力を生
ずる。計算機１５４はそれぞれ各チヤネル１６
０，１６２，１６４を介してデイジタルアナログ
変換器１６６，１６８，１７０に流量制御信号
FC１，FC２，FC３を送る。各変換器１６６，
１６８，１７０は、それぞれ染料供給源１８４，
１８６，１８８から通ずる各染料管路１７８，１
８０，１８２を制御するポンプ１７２，１７４，
１７６を制御する。各管路１７８，１８０，１８
２は単一の噴霧ヘツド１９０に送給する。噴霧ヘ
ツド１９０は各供給源１８４，１８６，１８８か
らの染料をヘツド１９０を過ぎて移動する幅状体
１２に施す。ヘツド１９０は測定ヘツド１４から
上流側に位置させ、幅状体１２に染料を加えるこ
とによつて生ずる変化をヘツド１４により測定で
きるようにしてあるのはもちろんである。染料管
路１７８，１８０，１８２内の各流量計１９２，
１９４，１９６は測定した流量入力信号Ｆ１，Ｆ
２，Ｆ３をそれぞれ回線１９８，２００，２０２
を介してアナログマルチプレツクス回路１５６に
送る。
吸収スペクトルを最小二乗法により幅状体の測定
したスペクトルに合わせ流量補正信号を生ずる。
この装置１５２では第４図に示した計算機１１０
に類似な又は同じ計算機１５４を使う。計算機１
５４はヘツド１４から直接適当な入力ポートを経
て位置信号Ｌを受ける。ヘツド１４から一方のア
ナログ入力としてIREFL信号を受けるアナログ
マルチプレクス回路１５６は、計算機１５４によ
り生ずるアドレス信号に従つてアナログ−デイジ
タル変換器（ADC）１５８に選定したアナログ
入力を送る。ADC１５８は計算機１５４の付加
的入力ポートへの多量ビツトデイジタル出力を生
ずる。計算機１５４はそれぞれ各チヤネル１６
０，１６２，１６４を介してデイジタルアナログ
変換器１６６，１６８，１７０に流量制御信号
FC１，FC２，FC３を送る。各変換器１６６，
１６８，１７０は、それぞれ染料供給源１８４，
１８６，１８８から通ずる各染料管路１７８，１
８０，１８２を制御するポンプ１７２，１７４，
１７６を制御する。各管路１７８，１８０，１８
２は単一の噴霧ヘツド１９０に送給する。噴霧ヘ
ツド１９０は各供給源１８４，１８６，１８８か
らの染料をヘツド１９０を過ぎて移動する幅状体
１２に施す。ヘツド１９０は測定ヘツド１４から
上流側に位置させ、幅状体１２に染料を加えるこ
とによつて生ずる変化をヘツド１４により測定で
きるようにしてあるのはもちろんである。染料管
路１７８，１８０，１８２内の各流量計１９２，
１９４，１９６は測定した流量入力信号Ｆ１，Ｆ
２，Ｆ３をそれぞれ回線１９８，２００，２０２
を介してアナログマルチプレツクス回路１５６に
送る。
幅状体１２の与えられた波長λiにおける測定反
射率Riと染料流量信号Ｆ１，Ｆ２，Ｆ３により示
すような各染料濃度c1、c2、c3との間の関係は次
の式により密接に近似させることができる。
射率Riと染料流量信号Ｆ１，Ｆ２，Ｆ３により示
すような各染料濃度c1、c2、c3との間の関係は次
の式により密接に近似させることができる。
Ri＝Irefl／Ipi＝Rpi／exp（Xilcl＋Xi2
c2＋Xi3c3＋ei）(1) この式中でｉは１ないし180の範囲の指数であ
り、Ireflは信号IREFLにより示すように幅状体１
２からの反射光の測定強さであり、Ipiは波長λiに
おける同じ幅状体部分の入射光の前もつて測定し
た強さであり、Rpiは波長λiにおける染色してな
いシートの反射率であり、Xi1、Xi2、及びXi3は
所定の定数でありそしてeiは実際の未染色シート
の反射率の偏差、実際の染料強さ又は組成の偏差
等のような要因を反映する雑多の誤作項である。
c2＋Xi3c3＋ei）(1) この式中でｉは１ないし180の範囲の指数であ
り、Ireflは信号IREFLにより示すように幅状体１
２からの反射光の測定強さであり、Ipiは波長λiに
おける同じ幅状体部分の入射光の前もつて測定し
た強さであり、Rpiは波長λiにおける染色してな
いシートの反射率であり、Xi1、Xi2、及びXi3は
所定の定数でありそしてeiは実際の未染色シート
の反射率の偏差、実際の染料強さ又は組成の偏差
等のような要因を反映する雑多の誤作項である。
式(1)は次のように書換えられる。
Yi＝−ln（Ri／Rpi）＝Xi1c1＋Xi
2c2＋Xi3c3＋ei(2) 式(2)は行列記法で次のように書き表わせる。
2c2＋Xi3c3＋ei(2) 式(2)は行列記法で次のように書き表わせる。
Ｙ＝Xc＋ｅ (3)
この式でＹは要素Y1、Y2…Y180を持つ列ベク
トルであり、ｅは要素e1、e2…e180を持つ列ベク
トルであり、ｃは要素c1、c2、c3を持つ列ベクト
ルであり、Ｘは要素Xijを持つ180×３行列であ
る。
トルであり、ｅは要素e1、e2…e180を持つ列ベク
トルであり、ｃは要素c1、c2、c3を持つ列ベクト
ルであり、Ｘは要素Xijを持つ180×３行列であ
る。
標準の回帰理論によれば、『評価した』又は
『有効な』染料濃度ベクトルceすなわち二乗誤差
を最小にする量 （Ｙ−Xc）′（Ｙ−Xc） (4) 〔この式中で（Ｙ−Xc）′は（Ｙ−Xc）の互換
である〕は次の式で与えられる。
『有効な』染料濃度ベクトルceすなわち二乗誤差
を最小にする量 （Ｙ−Xc）′（Ｙ−Xc） (4) 〔この式中で（Ｙ−Xc）′は（Ｙ−Xc）の互換
である〕は次の式で与えられる。
ce＝（X′X）-1X′Y (5)
或はなお簡単に濃度ベクトルceは次のように表
わすことができる。
わすことができる。
ce＝AY (6)
この式で
Ａ＝（X′X）-1X′ (7)
前記の装置ではこのようにして得られる『有効
な』染料濃度は前回に定めた所望の濃度と比較し
前記した要因に基づく濃度誤差を立証する。染料
流量計により指示する実際の各染料濃度はこの場
合これ等の濃度誤差に等しい量だけ差引き幅状体
に施そうとする染料の補正濃度を生ずる。これ等
の補正した染料濃度は、幅状体の測定反射率スペ
クトル及び所望の反射率スペクトルの間の全二乗
誤差を最小にする。
な』染料濃度は前回に定めた所望の濃度と比較し
前記した要因に基づく濃度誤差を立証する。染料
流量計により指示する実際の各染料濃度はこの場
合これ等の濃度誤差に等しい量だけ差引き幅状体
に施そうとする染料の補正濃度を生ずる。これ等
の補正した染料濃度は、幅状体の測定反射率スペ
クトル及び所望の反射率スペクトルの間の全二乗
誤差を最小にする。
このような場合を調べるために誤差ベクトルｅ
がないものとしてcdを理論的な所望の染料濃度の
３次元列ベクトルと定義する。Δcが次の式によ
り定まる量であるとすると、 Δc＝ce−cd (8) そしてckを次の式により定まる量とすると、 Δck＝ｃ−ｃ (9) この式でｃは前記したように染料流量信号Ｆ
１，Ｆ２，Ｆ３に対応する実際の染料濃度を表わ
す。
がないものとしてcdを理論的な所望の染料濃度の
３次元列ベクトルと定義する。Δcが次の式によ
り定まる量であるとすると、 Δc＝ce−cd (8) そしてckを次の式により定まる量とすると、 Δck＝ｃ−ｃ (9) この式でｃは前記したように染料流量信号Ｆ
１，Ｆ２，Ｆ３に対応する実際の染料濃度を表わ
す。
実際の染料濃度をckに変えると、Ｙの新らたな
値は次の式により与えられる。
値は次の式により与えられる。
Yk＝Xck＋ｅ (10)
又理論的な所望の濃度cdは、誤差ベクトルｅを
０とすると、Ｙの『所望の』値は次のようにな
る。
０とすると、Ｙの『所望の』値は次のようにな
る。
Yd＝Xcd （11）
これ等の２つの量の間の差又は誤差は次のよう
になる。
になる。
Yk−Yd＝Xck＋ｅ−Xcd （12）
式(3)、(8)、(9)を適用するとこの式は次のように
なる。
なる。
Yk−Yd＝Ｙ−Xce （13）
この式でＹはもとの実際の濃度ｃにより得られ
る値である。しかしceの選択により式（13）の右
辺の二乗をすでに最小にしてあるから、左辺の誤
差表示の二乗も最小にした。
る値である。しかしceの選択により式（13）の右
辺の二乗をすでに最小にしてあるから、左辺の誤
差表示の二乗も最小にした。
第７ａ図及び第７ｂ図には、ヘツド１４により
検知した染色幅状体１２の色に従つて供給源１８
４，１８６，１８８からの染料の施しを制御する
プログラムを示す。第５図に示したプログラムと
同様に第７ａ図及び第７ｂ図に示したプログラム
は装置３５２の逐次の校正の間のサブルーチンと
して反復して入れる。ブロツク204で入れた後サ
ブルーチンが開始しフイルタ８０の回転数を示す
指数Ｋ〔ブロツク206〕と共に『有効な』染料濃度
ベクトルceの成分に対応する量Ｃ(1)、Ｃ(2)、Ｃ(3)
〔ブロツク208〕を０にする。次でサブルーチンは
Ｋを１だけ増し〔ブロツク210〕、式(1)ないし
（13）の指数ｉに対応する指数Ｉを開始する〔ブ
ロツク212〕。次にサブルーチンは指数Ｉを１だけ
増し〔ブロツク214〕、ヘツド１４からの位置信号
Ｌが指数Ｉに合致するまで待つ〔ブロツク216，
218〕。このように合致するとサブルーチンはマル
チプレクス回路１５６を適当にアドレス指定し測
定した光強さIREFLを入力する〔ブロツク220〕。
検知した染色幅状体１２の色に従つて供給源１８
４，１８６，１８８からの染料の施しを制御する
プログラムを示す。第５図に示したプログラムと
同様に第７ａ図及び第７ｂ図に示したプログラム
は装置３５２の逐次の校正の間のサブルーチンと
して反復して入れる。ブロツク204で入れた後サ
ブルーチンが開始しフイルタ８０の回転数を示す
指数Ｋ〔ブロツク206〕と共に『有効な』染料濃度
ベクトルceの成分に対応する量Ｃ(1)、Ｃ(2)、Ｃ(3)
〔ブロツク208〕を０にする。次でサブルーチンは
Ｋを１だけ増し〔ブロツク210〕、式(1)ないし
（13）の指数ｉに対応する指数Ｉを開始する〔ブ
ロツク212〕。次にサブルーチンは指数Ｉを１だけ
増し〔ブロツク214〕、ヘツド１４からの位置信号
Ｌが指数Ｉに合致するまで待つ〔ブロツク216，
218〕。このように合致するとサブルーチンはマル
チプレクス回路１５６を適当にアドレス指定し測
定した光強さIREFLを入力する〔ブロツク220〕。
サブルーチンは、反射光強さ信号IREFLを得
た後この量を、その波長における入射光強さを指
示する前回に記憶した値IO(I)（Ipiに対応する）
により割り指数Ｉにより指示した波長における幅
状体１２の反射率を指示する信号Ｒ(I)（Riに対応
する）を生ずる〔ブロツク222〕。サブルーチンは
量Ｒ(I)を、その波長における赤染色の幅状体部分
の反射率を指示する前回に記憶した量RO(I)（Rpi
に対応する）により割り、その商の負の対数を取
り染料濃度により直線的に変る量Ｙ(I)（Yiに対応
する）を得る〔ブロツク224〕。次でサブルーチン
はループに入る〔ブロツク226ないし232〕。この
ループでサブルーチンは前回に記憶した量Ｃ(1)、
Ｃ(2)、Ｃ(3)をこれ等の量に計算した量Ｙ(I)に比例
する項を加えることにより修正する。ブロツク
230では量Ａ（Ｉ、Ｊ）は式(7)で定義した最小二乗
最適化行列の要素Aijに対応する。
た後この量を、その波長における入射光強さを指
示する前回に記憶した値IO(I)（Ipiに対応する）
により割り指数Ｉにより指示した波長における幅
状体１２の反射率を指示する信号Ｒ(I)（Riに対応
する）を生ずる〔ブロツク222〕。サブルーチンは
量Ｒ(I)を、その波長における赤染色の幅状体部分
の反射率を指示する前回に記憶した量RO(I)（Rpi
に対応する）により割り、その商の負の対数を取
り染料濃度により直線的に変る量Ｙ(I)（Yiに対応
する）を得る〔ブロツク224〕。次でサブルーチン
はループに入る〔ブロツク226ないし232〕。この
ループでサブルーチンは前回に記憶した量Ｃ(1)、
Ｃ(2)、Ｃ(3)をこれ等の量に計算した量Ｙ(I)に比例
する項を加えることにより修正する。ブロツク
230では量Ａ（Ｉ、Ｊ）は式(7)で定義した最小二乗
最適化行列の要素Aijに対応する。
サブルーチンは次でＩに問合わせしてこれが
180に達したかどうかを定め、達していなければ
ブロツク214にもどり次の波長Ｉにおける測定光
強さIREFLを得て処理する。サブルーチンは指
数Ｉの各値に対しブロツク214ないし234を繰返
す。このループを180までの指数Ｉの全部の値に
対し過ぎると、サブルーチンはループから出て
〔ブロツク234〕指数Ｋに問合わせＫが所定の量た
とえば10に達したかどうかを定める〔ブロツク
236〕。10に達しなければサブルーチンはブロツク
210にもどりフイルタ８０の別の回転に対し全順
序を繰返す〔ブロツク210ないし236〕。
180に達したかどうかを定め、達していなければ
ブロツク214にもどり次の波長Ｉにおける測定光
強さIREFLを得て処理する。サブルーチンは指
数Ｉの各値に対しブロツク214ないし234を繰返
す。このループを180までの指数Ｉの全部の値に
対し過ぎると、サブルーチンはループから出て
〔ブロツク234〕指数Ｋに問合わせＫが所定の量た
とえば10に達したかどうかを定める〔ブロツク
236〕。10に達しなければサブルーチンはブロツク
210にもどりフイルタ８０の別の回転に対し全順
序を繰返す〔ブロツク210ないし236〕。
この場合10回のフイルタ回転の適当な平均時限
後に〔ブロツク236〕、サブルーチンは計算機１５
４の内部のタイマ（図示してない）を始動し制御
作用のための時間間隔を定める〔ブロツク238〕。
この周期中にサブルーチンは先ず、各評価濃度Ｃ
(1)、Ｃ(2)、Ｃ(3)から所望の濃度ベクトルcdの各要
素に対応する量CO１，CO２，CO３を差引くこ
とにより誤差ベクトルΔcの各成分に対応する各
濃度誤差信号CE１，CE２，CE３を生ずる〔ブ
ロツク240〕。サブルーチンは次で濃度誤差信号
CE１，CE２，CE３に前回に定めた係数−G1、−
G2、−G3を乗ずることにより各流量制御信号FC
１，FC２，FC３を生ずる〔ブロツク242〕。この
後でサブルーチンは適当なアドレス信号を生じ流
量入力Ｆ１，Ｆ２，Ｆ３を得て〔ブロツク244〕、
各測定流量信号Ｆ１，Ｆ２，Ｆ３に各流量補正信
号FC１，FC２，FC３を加えることにより目標
流量値Ｆ１Ｔ，Ｆ２Ｔ，Ｆ３Ｔを生ずる〔ブロツ
ク246〕。
後に〔ブロツク236〕、サブルーチンは計算機１５
４の内部のタイマ（図示してない）を始動し制御
作用のための時間間隔を定める〔ブロツク238〕。
この周期中にサブルーチンは先ず、各評価濃度Ｃ
(1)、Ｃ(2)、Ｃ(3)から所望の濃度ベクトルcdの各要
素に対応する量CO１，CO２，CO３を差引くこ
とにより誤差ベクトルΔcの各成分に対応する各
濃度誤差信号CE１，CE２，CE３を生ずる〔ブ
ロツク240〕。サブルーチンは次で濃度誤差信号
CE１，CE２，CE３に前回に定めた係数−G1、−
G2、−G3を乗ずることにより各流量制御信号FC
１，FC２，FC３を生ずる〔ブロツク242〕。この
後でサブルーチンは適当なアドレス信号を生じ流
量入力Ｆ１，Ｆ２，Ｆ３を得て〔ブロツク244〕、
各測定流量信号Ｆ１，Ｆ２，Ｆ３に各流量補正信
号FC１，FC２，FC３を加えることにより目標
流量値Ｆ１Ｔ，Ｆ２Ｔ，Ｆ３Ｔを生ずる〔ブロツ
ク246〕。
次でサブルーチンはループに入る〔ブロツク
248ないし254〕。このループでサブルーチンは測
定流量値Ｆ１，Ｆ２，Ｆ３に連続的に問合わせ
し、測定流量値と前回に生じた目標流量値との間
の差を基にして流量制御信号FC１，FC２，FC
３を生ずる。これ等の連続的に再計算した補正信
号FC１，FC２，FC３は、ポンプ１７２，１７
４，１７６を制御するデイジタル−アナログ変換
器１６６，１６８，１７０に送る。ブロツク２３
８でタイマにより定まる時限の終りに、測定流量
値Ｆ１，Ｆ２，Ｆ３が目標流量値Ｆ１Ｔ，Ｆ２
Ｔ，Ｆ３Ｔに収れんすると、サブルーチンはルー
プから出て〔ブロツク254〕、サブルーチンを呼出
すプログラム（図示してない）にもどる（ブロツ
ク256〕。前記したように第７ａ図及び第７ｂ図に
示したサブルーチンは装置１５２の次次の校正周
期の間に反復して入る。
248ないし254〕。このループでサブルーチンは測
定流量値Ｆ１，Ｆ２，Ｆ３に連続的に問合わせ
し、測定流量値と前回に生じた目標流量値との間
の差を基にして流量制御信号FC１，FC２，FC
３を生ずる。これ等の連続的に再計算した補正信
号FC１，FC２，FC３は、ポンプ１７２，１７
４，１７６を制御するデイジタル−アナログ変換
器１６６，１６８，１７０に送る。ブロツク２３
８でタイマにより定まる時限の終りに、測定流量
値Ｆ１，Ｆ２，Ｆ３が目標流量値Ｆ１Ｔ，Ｆ２
Ｔ，Ｆ３Ｔに収れんすると、サブルーチンはルー
プから出て〔ブロツク254〕、サブルーチンを呼出
すプログラム（図示してない）にもどる（ブロツ
ク256〕。前記したように第７ａ図及び第７ｂ図に
示したサブルーチンは装置１５２の次次の校正周
期の間に反復して入る。
第６図に示した装置では流量補正信号FC１，
FC２，FC３は、『有効な』染料濃度ｃ１，ｃ２，
ｃ３が得られるように染料吸収スペクトルを測定
幅状体反射率スペクトルに合わせることにより生
ずる。しかし当業者には明らかなように行われる
各計算ステツプは相互的であり、測定反射率スペ
クトルを所望のスペクトルと交互に比較し次で染
料吸収スペクトルをこのようにして得られる誤差
スペクトルに合わせる。
FC２，FC３は、『有効な』染料濃度ｃ１，ｃ２，
ｃ３が得られるように染料吸収スペクトルを測定
幅状体反射率スペクトルに合わせることにより生
ずる。しかし当業者には明らかなように行われる
各計算ステツプは相互的であり、測定反射率スペ
クトルを所望のスペクトルと交互に比較し次で染
料吸収スペクトルをこのようにして得られる誤差
スペクトルに合わせる。
第８図に示した線図は染料の個個の吸収スペク
トルの染料幅状体１２の測定反射率スペクトルに
対する整合を示す。第８図では横座標は波長ｎｍ
を表わし縦座標は測定反射率の負の対数を表わ
す。第１の近似で染料濃度に直線的に依存するの
はこの量である。第８図では曲線２５８は染色幅
状体１２の染料の測定反射率に対応するが、各曲
線２６０，２６２，２６４はそれぞれ、第７ａ図
及び第７ｂ図に示したサブルーチンにより得られ
る評価染料濃度ｃ１，ｃ２，ｃ３により重み付け
した個個の染料の吸収スペクトルに対応する。こ
の線図では未染色幅状体の反射率は波長入には無
関係で各曲線２６０，２６２，２６４の和に対応
するスペクトルが実際の反射率曲線２５８の最小
二乗近似を表わすものとする。
トルの染料幅状体１２の測定反射率スペクトルに
対する整合を示す。第８図では横座標は波長ｎｍ
を表わし縦座標は測定反射率の負の対数を表わ
す。第１の近似で染料濃度に直線的に依存するの
はこの量である。第８図では曲線２５８は染色幅
状体１２の染料の測定反射率に対応するが、各曲
線２６０，２６２，２６４はそれぞれ、第７ａ図
及び第７ｂ図に示したサブルーチンにより得られ
る評価染料濃度ｃ１，ｃ２，ｃ３により重み付け
した個個の染料の吸収スペクトルに対応する。こ
の線図では未染色幅状体の反射率は波長入には無
関係で各曲線２６０，２６２，２６４の和に対応
するスペクトルが実際の反射率曲線２５８の最小
二乗近似を表わすものとする。
第６図に示した装置１５２は３種の染料を使う
が、とくに本装置は一層正確な色整合が望ましい
場合に一層多数種類の染料の同時施しを制御する
のに適している。実際上最小二乗最適化法を使う
本発明染料制御装置の著しい利点の１つは、本装
置が３色刺激値Ｘ、Ｙ、Ｚの測定に基づくので３
種の染料だけには限定されないことである。本装
置ではたとえば可視スペクトルの一部分にわたつ
て起る色不整合は、このスペクトル部分でその他
の部分の色整合に影響を及ぼさないで選択的吸収
性を持つ付加的な染料を使うことにより補正する
ことができる。
が、とくに本装置は一層正確な色整合が望ましい
場合に一層多数種類の染料の同時施しを制御する
のに適している。実際上最小二乗最適化法を使う
本発明染料制御装置の著しい利点の１つは、本装
置が３色刺激値Ｘ、Ｙ、Ｚの測定に基づくので３
種の染料だけには限定されないことである。本装
置ではたとえば可視スペクトルの一部分にわたつ
て起る色不整合は、このスペクトル部分でその他
の部分の色整合に影響を及ぼさないで選択的吸収
性を持つ付加的な染料を使うことにより補正する
ことができる。
このようにして本発明の目的を達成できるのは
明らかである。本発明による色測定兼制御装置
は、その種種の光学部品のスペクトル曲線の整合
を必要としなくて、動作点の変化に比較的敏感で
ない。なお本装置により４種類又はそれ以上の染
料の互に無関係な制御ができる。
明らかである。本発明による色測定兼制御装置
は、その種種の光学部品のスペクトル曲線の整合
を必要としなくて、動作点の変化に比較的敏感で
ない。なお本装置により４種類又はそれ以上の染
料の互に無関係な制御ができる。
以上本発明をその実施例について詳細に説明し
たが本発明はなおその精神を逸脱しないで種種の
変化変型を行うことができるのはもちろんであ
る。
たが本発明はなおその精神を逸脱しないで種種の
変化変型を行うことができるのはもちろんであ
る。
第１図は本発明色測定兼制御装置の１実施例の
検知ヘツドを一部を竪断面にして示す側面図、第
２図は第１図に示したヘツドに使う円形可変フイ
ルタを一部を横断面にして示す縮小斜視図、第３
図は第１図の３−３線に沿う断面図である。第４
図は第１図に示したヘツドに協働する３色刺激色
測定装置のブロツク図、第５図は第４図に示した
測定装置の動作を制御するプログラムの流れ図、
第６図は第１図に示したヘツドに協働する色制御
装置の配置図、第７ａ図及び第７ｂ図は第６図の
制御装置の動作を制御するプログラムの流れ図、
第８図は個個の染料吸収スペクトルの第６図に示
した装置により測定した幅状体反射率スペクトル
に対する整合を示す線図である。 １２……幅状体、１４……検知ヘツド、４２…
…窓、４８……積分球、５６……電球取付管、６
０，６２……光源、６４，６６，６８，７０……
光偏光板、７２……穴、７４……管部片、７６…
…レンズ、７８……光電検出器、８０……可変フ
イルタ、８８……間欠電動機、９０……位置符号
器、１１０，１５４……電子計算機、１７２，１
７４，１７６……制御ポンプ、１９２，１９４，
１９６……流量計。
検知ヘツドを一部を竪断面にして示す側面図、第
２図は第１図に示したヘツドに使う円形可変フイ
ルタを一部を横断面にして示す縮小斜視図、第３
図は第１図の３−３線に沿う断面図である。第４
図は第１図に示したヘツドに協働する３色刺激色
測定装置のブロツク図、第５図は第４図に示した
測定装置の動作を制御するプログラムの流れ図、
第６図は第１図に示したヘツドに協働する色制御
装置の配置図、第７ａ図及び第７ｂ図は第６図の
制御装置の動作を制御するプログラムの流れ図、
第８図は個個の染料吸収スペクトルの第６図に示
した装置により測定した幅状体反射率スペクトル
に対する整合を示す線図である。 １２……幅状体、１４……検知ヘツド、４２…
…窓、４８……積分球、５６……電球取付管、６
０，６２……光源、６４，６６，６８，７０……
光偏光板、７２……穴、７４……管部片、７６…
…レンズ、７８……光電検出器、８０……可変フ
イルタ、８８……間欠電動機、９０……位置符号
器、１１０，１５４……電子計算機、１７２，１
７４，１７６……制御ポンプ、１９２，１９４，
１９６……流量計。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 径路に沿つて移動するウエブ材料に、既知の
吸収スペクトルをもつ複数種類の染料を施すこと
を制御するオンライン制御装置であつて、 (イ) 前記径路に沿う第１の位置で上記染料を前記
材料に施す手段、 (ロ) 前記径路に沿うそして前記第１の位置から下
流側に離れた第２の位置において前記材料の実
際の反射スペクトルを継続的に測定する手段、 (ハ) 前記材料の所望の反射スペクトルに相当する
数値を設定する手段、 ここで前記した吸収スペクトル及び反射スペク
トルは各各可視波長域上に実質的に延びる比較的
多数の実質的に単色の成分から成るものであり、
そして前記した反射スペクトルは波長の関数とし
ての実質的に均一な重み付けをしたものであり、 (ニ) 前記の実際の反射スペクトル及び前記既知吸
収スペクトルから、前記染料各各の濃度を種種
変化させた場合に実際に測定されると予測され
る反射スペクトルを計算するにあたり、この予
測反射スペクトルと前記の所望の反射スペクト
ルとの間の各単色成分の強度差の二乗和が最小
となる前記染料の濃度変化を計算する手段、及
び (ホ) 前記の計算した濃度変化に従つて前記第１の
位置で前記材料に施す前記染料の濃度を変更す
る手段、 の組合わせを含む、制御装置。 ２ 計算手段として、測定した反射スペクトルと
所望の反射スペクトルとを比較して誤差スペクト
ルを得る手段及びこの誤差スペクトルから染料の
濃度変化を計算する手段を含む特許請求の範囲１
に記載の装置。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US06/240,171 US4439038A (en) | 1981-03-03 | 1981-03-03 | Method and apparatus for measuring and controlling the color of a moving web |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57205575A JPS57205575A (en) | 1982-12-16 |
| JPH0341588B2 true JPH0341588B2 (ja) | 1991-06-24 |
Family
ID=22905410
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57032491A Granted JPS57205575A (en) | 1981-03-03 | 1982-03-03 | Method and apparatus for controlling and measuring color |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4439038A (ja) |
| JP (1) | JPS57205575A (ja) |
| AU (1) | AU543650B2 (ja) |
| DE (1) | DE3207369A1 (ja) |
| FI (1) | FI820597L (ja) |
| NO (1) | NO160745C (ja) |
| SE (1) | SE459045B (ja) |
Families Citing this family (42)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4565444A (en) * | 1982-11-01 | 1986-01-21 | Sentrol Systems Ltd. | Electronically scanned spectrometer color, brightness and opacity measurement and control system |
| FI831543A0 (fi) * | 1983-05-05 | 1983-05-05 | Lehtikoski Dev Oy | Metod och anordning foer automatisk bestaemning av papprets optiska egenskaper |
| JPH0820310B2 (ja) * | 1983-06-14 | 1996-03-04 | 住友化学工業株式会社 | 染料の色差測定方法 |
| GB8318671D0 (en) * | 1983-07-11 | 1983-08-10 | Ici Plc | Colour formulation |
| US4602160A (en) * | 1983-09-28 | 1986-07-22 | Sentrol Systems Ltd. | Infrared constituent analyzer and control system |
| EP0143744B1 (de) * | 1983-11-04 | 1988-01-13 | GRETAG Aktiengesellschaft | Verfahren und Vorrichtung zur Beurteilung der Druckqualität und/oder Regelung der Farbführung bei einer Offset-Druckmaschine und mit einer entsprechenden Vorrichtung ausgestattete Offset-Druckmaschine |
| FR2581492B1 (fr) * | 1985-05-06 | 1990-02-23 | Inovelf Sa | Convertisseurs logarithmiques et leur application a la mesure de lumiere transmise |
| US5182721A (en) * | 1985-12-10 | 1993-01-26 | Heidelberger Druckmaschinen Aktiengesellschaft | Process and apparatus for controlling the inking process in a printing machine |
| ATE47564T1 (de) * | 1985-12-10 | 1989-11-15 | Heidelberger Druckmasch Ag | Verfahren zur farbauftragssteuerung bei einer druckmaschine, entsprechend ausgeruestete druckanlage und messvorrichtung fuer eine solche druckanlage. |
| JPS62149760A (ja) * | 1985-12-24 | 1987-07-03 | Sakata Shokai Ltd | 着色剤の調製方法 |
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| US4788650A (en) * | 1986-09-19 | 1988-11-29 | Burlington Industries, Inc. | Continuous color measurement for small fabric samples |
| FR2623905B1 (fr) * | 1987-11-30 | 1992-02-14 | David Michel | Appareil pour determiner la formulation de peinture pour reparation de carrosserie |
| US4967379A (en) * | 1987-12-16 | 1990-10-30 | Gretag Aktiengesellschaft | Process for the ink control or regulation of a printing machine by comparing desired color to obtainable color data |
| DE58901780D1 (de) * | 1988-01-14 | 1992-08-13 | Gretag Ag | Verfahren und vorrichtung zur farbregelung einer druckmaschine. |
| US5082529A (en) * | 1990-03-27 | 1992-01-21 | Abb Process Automation Inc. | Color measurement and control of a sheet material |
| US5224421A (en) * | 1992-04-28 | 1993-07-06 | Heidelberg Harris, Inc. | Method for color adjustment and control in a printing press |
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| DE4404557A1 (de) * | 1994-02-12 | 1995-08-17 | Heidelberger Druckmasch Ag | Verfahren zum Tintenstrahldruck und Tintenstrahldruckvorrichtung |
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| PT889320E (pt) * | 1997-07-02 | 2004-05-31 | Mahlo Gmbh & Co Kg | Processo e dispositivo para amostragem de uma banda de material de preferencia textil |
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| PL200158B1 (pl) | 2000-12-06 | 2008-12-31 | Avt Advanced Vision Technology | Sposób sterowania kolorem na arkuszu drukarskim |
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1981
- 1981-03-03 US US06/240,171 patent/US4439038A/en not_active Expired - Fee Related
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1982
- 1982-02-18 SE SE8201025A patent/SE459045B/sv not_active IP Right Cessation
- 1982-02-23 FI FI820597A patent/FI820597L/fi not_active Application Discontinuation
- 1982-02-23 AU AU80733/82A patent/AU543650B2/en not_active Ceased
- 1982-03-02 DE DE19823207369 patent/DE3207369A1/de active Granted
- 1982-03-02 NO NO820655A patent/NO160745C/no unknown
- 1982-03-03 JP JP57032491A patent/JPS57205575A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| AU8073382A (en) | 1982-09-09 |
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| SE8201025L (sv) | 1982-09-04 |
| SE459045B (sv) | 1989-05-29 |
| JPS57205575A (en) | 1982-12-16 |
| DE3207369C2 (ja) | 1991-12-19 |
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| NO160745B (no) | 1989-02-13 |
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