JPH034110B2 - - Google Patents
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- JPH034110B2 JPH034110B2 JP59157142A JP15714284A JPH034110B2 JP H034110 B2 JPH034110 B2 JP H034110B2 JP 59157142 A JP59157142 A JP 59157142A JP 15714284 A JP15714284 A JP 15714284A JP H034110 B2 JPH034110 B2 JP H034110B2
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- Japan
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- measuring device
- metal capsule
- capsule
- electrode
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02B—BOARDS, SUBSTATIONS OR SWITCHING ARRANGEMENTS FOR THE SUPPLY OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02B13/00—Arrangement of switchgear in which switches are enclosed in, or structurally associated with, a casing, e.g. cubicle
- H02B13/02—Arrangement of switchgear in which switches are enclosed in, or structurally associated with, a casing, e.g. cubicle with metal casing
- H02B13/035—Gas-insulated switchgear
- H02B13/055—Features relating to the gas
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
- G01R15/14—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
- G01R15/16—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using capacitive devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/12—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing
- G01R31/1227—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials
- G01R31/1254—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials of gas-insulated power appliances or vacuum gaps
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- H—ELECTRICITY
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- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H33/00—High-tension or heavy-current switches with arc-extinguishing or arc-preventing means
- H01H33/02—Details
- H01H33/26—Means for detecting the presence of an arc or other discharge
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- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02B—BOARDS, SUBSTATIONS OR SWITCHING ARRANGEMENTS FOR THE SUPPLY OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
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- H02B13/0356—Mounting of monitoring devices, e.g. current transformers
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
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- Power Engineering (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は金属カプセル型圧縮ガス絶縁高圧開閉
設備内の局部放電測定装置に関するものである。
設備内の局部放電測定装置に関するものである。
金属カプセル内に絶縁して支持された内部導
体、および金属カプセルの開口部に間隔をおいて
絶縁して配設された電極によつて形成された高圧
コンデンサと、前記電極、および金属カプセルの
開口部端縁によつて形成された低圧コンデンサと
から成り、測定線を介して指示計或は測定器と接
続されたコンデンサ分圧器を用いた金属カプセル
型圧縮ガス絶縁高圧開閉設備における局部放電確
認用測定装置は、ドイツ連邦共和国特許出願公告
第2356160号明細書により公知である。この公知
の測定装置においては、内部導体を支持する絶縁
体が金属カプセルの開口を通して外部へ導かれて
おり、電極は外被の外面上に、あるいは絶縁体内
に、カプセルの開口部領域に内部導体と同軸状に
配設されている。公知の測定装置が用いられるコ
ロナ放電検知用指示計ないし測定器としてはコロ
ナ放電検出器やオツシログラフが用いられ、これ
らの測定機器は電極への外部接続導体と金属カプ
セルのアース部との間に接続されている。測定す
べきコロナ放電はパワーが比較的大きいので、高
圧コンデンサCHの容量が低圧コンデンサCNの容
量に比べてかなり小さいという事実が測定上欠点
となることはない。
体、および金属カプセルの開口部に間隔をおいて
絶縁して配設された電極によつて形成された高圧
コンデンサと、前記電極、および金属カプセルの
開口部端縁によつて形成された低圧コンデンサと
から成り、測定線を介して指示計或は測定器と接
続されたコンデンサ分圧器を用いた金属カプセル
型圧縮ガス絶縁高圧開閉設備における局部放電確
認用測定装置は、ドイツ連邦共和国特許出願公告
第2356160号明細書により公知である。この公知
の測定装置においては、内部導体を支持する絶縁
体が金属カプセルの開口を通して外部へ導かれて
おり、電極は外被の外面上に、あるいは絶縁体内
に、カプセルの開口部領域に内部導体と同軸状に
配設されている。公知の測定装置が用いられるコ
ロナ放電検知用指示計ないし測定器としてはコロ
ナ放電検出器やオツシログラフが用いられ、これ
らの測定機器は電極への外部接続導体と金属カプ
セルのアース部との間に接続されている。測定す
べきコロナ放電はパワーが比較的大きいので、高
圧コンデンサCHの容量が低圧コンデンサCNの容
量に比べてかなり小さいという事実が測定上欠点
となることはない。
それに対して本発明が解決しようとする問題点
は、コンデンサ分圧器による不平衡を利用して場
所的に限定された局部放電を測定することにあ
る。その場合、局部放電パルスの不平衡は大きな
分圧比CH／（CH＋CN）のもとでメガヘルツ（Ｍ
Hz）領域の高い限界周波数を持つていなければな
らない。というのは、このパルスの立上り時間は
非常に短いが、それにもかかわらず正確なパルス
再現を得る必要があるからである。
は、コンデンサ分圧器による不平衡を利用して場
所的に限定された局部放電を測定することにあ
る。その場合、局部放電パルスの不平衡は大きな
分圧比CH／（CH＋CN）のもとでメガヘルツ（Ｍ
Hz）領域の高い限界周波数を持つていなければな
らない。というのは、このパルスの立上り時間は
非常に短いが、それにもかかわらず正確なパルス
再現を得る必要があるからである。
上述の問題点は冒頭に述べ測定装置において、
電極が板状に構成されてカプセルの開口部に装着
され、測定線は同軸型に構成され、かつ取付フラ
ンジを有する支持部としてカプセルへの接続部を
形成するとともに電極およびカプセルの開口部の
端縁を含む連結部と接続され、この連結部はカプ
セルの開口部の端縁に導かれた外側中空円錐状接
続部と電極に導かれた内側円錐状接続部とを有
し、両接続部は同心的に配設されてその直径比
da／diが一定であり、しかも測定線の特性インピ
ーダンスを持つことにより解決される。
電極が板状に構成されてカプセルの開口部に装着
され、測定線は同軸型に構成され、かつ取付フラ
ンジを有する支持部としてカプセルへの接続部を
形成するとともに電極およびカプセルの開口部の
端縁を含む連結部と接続され、この連結部はカプ
セルの開口部の端縁に導かれた外側中空円錐状接
続部と電極に導かれた内側円錐状接続部とを有
し、両接続部は同心的に配設されてその直径比
da／diが一定であり、しかも測定線の特性インピ
ーダンスを持つことにより解決される。
カプセル内壁に対して面一にして配設された板
状の電極を支持する支持部材として設けられる接
続部の上記構成は、一方では測定装置によつて耐
電圧強度の低下を来たすことなくカプセルの寸法
をそのまま維持することを可能とし、他方ではと
くに簡単な組立を可能とするものである。さら
に、低圧コンデンサを形成する部分、電極、およ
びカプセルの開口部端縁に導き、かつ同軸の測定
線の特性インピーダンスを有する円錐状の接続部
を連結部の内側に構成することにより、同軸の測
定線があたかもコンデンサ電極にまで直接導かれ
ているかのような測定装置の特性を得ることがで
きる。それにより測定装置内における局部放電の
測定すべきパルスの反射を生ずることがなく、ま
た重畳したりすることがなくなる。また、板状電
極の寸法選択、およびそれを取囲むようにカプセ
ルの開口部端縁との間に形成される空隙の寸法選
択により与えられた高圧コンデンサの容量に対す
る低圧コンデンサの容量を比較的小さく構成する
ことができ、このことが分圧器特性を改善する。
板状電極の直径は、所望の高い限界周波数が達せ
られるように選択することができる。そのためパ
ルス再生の忠実度が損われることがなくなる。
状の電極を支持する支持部材として設けられる接
続部の上記構成は、一方では測定装置によつて耐
電圧強度の低下を来たすことなくカプセルの寸法
をそのまま維持することを可能とし、他方ではと
くに簡単な組立を可能とするものである。さら
に、低圧コンデンサを形成する部分、電極、およ
びカプセルの開口部端縁に導き、かつ同軸の測定
線の特性インピーダンスを有する円錐状の接続部
を連結部の内側に構成することにより、同軸の測
定線があたかもコンデンサ電極にまで直接導かれ
ているかのような測定装置の特性を得ることがで
きる。それにより測定装置内における局部放電の
測定すべきパルスの反射を生ずることがなく、ま
た重畳したりすることがなくなる。また、板状電
極の寸法選択、およびそれを取囲むようにカプセ
ルの開口部端縁との間に形成される空隙の寸法選
択により与えられた高圧コンデンサの容量に対す
る低圧コンデンサの容量を比較的小さく構成する
ことができ、このことが分圧器特性を改善する。
板状電極の直径は、所望の高い限界周波数が達せ
られるように選択することができる。そのためパ
ルス再生の忠実度が損われることがなくなる。
さらに製造技術的に容易にするために、連結部
の構成に関して、連結部の取付フランジはカプセ
ルの開口部の端縁から空間的に離してカプセルの
フランジに取付けられ、外側の接続部とカプセル
のフランジとの間に、内部導体の軸方向に配置さ
れ、かつカプセルの内壁に面一である少なくとも
２個の導電性接続片が設けられる構成とするのが
よい。こうすることによつて、カプセルの開口部
端縁によつて形成される低圧コンデンサの電極と
空間的に離れてはいるがカプセルと電位的に結合
されているカプセルのフランジとの間に直接的に
大面積の導電性接続部が形成される。この導電性
接続片としては、導電材料、とくに銅材からなる
可撓性のバンドを用いるのがよい。そうすること
によつて局部放電の不平衡パルスの誤発生が避け
られる。
の構成に関して、連結部の取付フランジはカプセ
ルの開口部の端縁から空間的に離してカプセルの
フランジに取付けられ、外側の接続部とカプセル
のフランジとの間に、内部導体の軸方向に配置さ
れ、かつカプセルの内壁に面一である少なくとも
２個の導電性接続片が設けられる構成とするのが
よい。こうすることによつて、カプセルの開口部
端縁によつて形成される低圧コンデンサの電極と
空間的に離れてはいるがカプセルと電位的に結合
されているカプセルのフランジとの間に直接的に
大面積の導電性接続部が形成される。この導電性
接続片としては、導電材料、とくに銅材からなる
可撓性のバンドを用いるのがよい。そうすること
によつて局部放電の不平衡パルスの誤発生が避け
られる。
板状の電極は内部導体を同軸状に取囲むカプセ
ルの断片として構成するのがよい。それは大抵同
軸状の筒状体として構成され、通常カプセル内に
存在する連結部開口が円形状に形成されているの
で、電極も円形状の断片に形成するのがよい。製
造および組立を簡単にするために、電極は平坦な
板として構成し、円筒体断片の最深点に面一にし
て接線方向に配設される。
ルの断片として構成するのがよい。それは大抵同
軸状の筒状体として構成され、通常カプセル内に
存在する連結部開口が円形状に形成されているの
で、電極も円形状の断片に形成するのがよい。製
造および組立を簡単にするために、電極は平坦な
板として構成し、円筒体断片の最深点に面一にし
て接線方向に配設される。
電極の端縁およびそれに対向するカプセルの開
口部端縁は、分圧比を選択自在に調整可能とする
ためにフランジ状に外側に向つて引出される構造
とすることができる。
口部端縁は、分圧比を選択自在に調整可能とする
ためにフランジ状に外側に向つて引出される構造
とすることができる。
次に、図面に示す実施例を参照して本発明をさ
らに詳細に説明する。
らに詳細に説明する。
たとえばSF6圧縮ガスで絶縁された金属カプセ
ル型高圧開閉設備において、局部放電で生じる電
圧パルスを測定しなければならないものとする。
そのために本発明に従つて構成された測定装置１
が用いられる。第１図の測定装置１は金属カプセ
ル４の開口部３に連結部２を用いて配設されてい
る。金属カプセル４は内部導体５を同軸的に取囲
む円筒からなつている。これに応じてカプセル４
の開口部３も円形に構成されている。
ル型高圧開閉設備において、局部放電で生じる電
圧パルスを測定しなければならないものとする。
そのために本発明に従つて構成された測定装置１
が用いられる。第１図の測定装置１は金属カプセ
ル４の開口部３に連結部２を用いて配設されてい
る。金属カプセル４は内部導体５を同軸的に取囲
む円筒からなつている。これに応じてカプセル４
の開口部３も円形に構成されている。
局部放電の際に生ずる電圧パルスを検出するた
めにコンデンサ分圧器が用いられる。このコンデ
ンサ分圧器は高圧コンデンサCHと低圧コンデン
サCNとからなつている。高圧コンデンサCHは高
電圧を導く内部導体５とこれを同軸的に取囲む板
状の電極６とからなつている。電極６はカプセル
４の開口部３に面一に装着されている。低圧コン
デンサCNは電極６の端縁７とこれに対向するア
ースされたカプセル４の開口部３の端縁８とによ
つて形成される。低圧コンデンサCNの容量は両
端縁７，８間の空隙長ｓおよび電極６の直径Ｄに
より自由に選択することができ、それは所望の分
圧比が得られるように決定される。
めにコンデンサ分圧器が用いられる。このコンデ
ンサ分圧器は高圧コンデンサCHと低圧コンデン
サCNとからなつている。高圧コンデンサCHは高
電圧を導く内部導体５とこれを同軸的に取囲む板
状の電極６とからなつている。電極６はカプセル
４の開口部３に面一に装着されている。低圧コン
デンサCNは電極６の端縁７とこれに対向するア
ースされたカプセル４の開口部３の端縁８とによ
つて形成される。低圧コンデンサCNの容量は両
端縁７，８間の空隙長ｓおよび電極６の直径Ｄに
より自由に選択することができ、それは所望の分
圧比が得られるように決定される。
電極６およびカプセル４の開口部３の端縁８は
構造的に連結部２内にまとめられており、その内
側の平坦端面を形成している。連結部２は自己保
持部材として構成されている。連結部２の外側端
面９には同軸に構成されたコネクタ１０を介して
同軸測定線１１のための接続部が形成され、同軸
測定線１１は測定器または指示計等の測定機器１
２に導かれる。コネクタ１０と電極６との間に、
測定線１１の内側導体１４を電極６に接続する円
錐状の内側接続部１３が設けられている。この内
側接続部１３と同軸に外側接続部１５が設けられ
ている。外側接続部１５は中空円錐体として構成
され、測定線１１のアースされた外側導体１６と
カプセル４の端縁８との間の接続部を形成する。
外側接続部１５の直径daと内側接続部１３の直
径diとの間の直径比は、両接続部１３，１５が測
定線１１の特性インピーダンスＺを持つように一
定に選定されている。こうすることにより低圧コ
ンデンサCNへの同軸測定線１１の線続が無反射
で行われることになる。
構造的に連結部２内にまとめられており、その内
側の平坦端面を形成している。連結部２は自己保
持部材として構成されている。連結部２の外側端
面９には同軸に構成されたコネクタ１０を介して
同軸測定線１１のための接続部が形成され、同軸
測定線１１は測定器または指示計等の測定機器１
２に導かれる。コネクタ１０と電極６との間に、
測定線１１の内側導体１４を電極６に接続する円
錐状の内側接続部１３が設けられている。この内
側接続部１３と同軸に外側接続部１５が設けられ
ている。外側接続部１５は中空円錐体として構成
され、測定線１１のアースされた外側導体１６と
カプセル４の端縁８との間の接続部を形成する。
外側接続部１５の直径daと内側接続部１３の直
径diとの間の直径比は、両接続部１３，１５が測
定線１１の特性インピーダンスＺを持つように一
定に選定されている。こうすることにより低圧コ
ンデンサCNへの同軸測定線１１の線続が無反射
で行われることになる。
軽量比の理由から両接続部１３，１５は同軸の
中空円錐体として構成されている。
中空円錐体として構成されている。
測定装置１の連結部２はさらに取付フランジ１
７を持つており、これにカプセル４のフランジ１
８が対向位置している。両フランジ１７，１８は
互いに圧力密に接続される。その場合、さらに取
付フランジ１７を越えてカプセル４の開口部３の
端縁８に導く連結部２の外壁１９の導電的な取付
のために、開口部３の境界壁に接触によつてカプ
セル４の内壁に面一に構成され、それにより端縁
８の電位的接続が保証されている。
７を持つており、これにカプセル４のフランジ１
８が対向位置している。両フランジ１７，１８は
互いに圧力密に接続される。その場合、さらに取
付フランジ１７を越えてカプセル４の開口部３の
端縁８に導く連結部２の外壁１９の導電的な取付
のために、開口部３の境界壁に接触によつてカプ
セル４の内壁に面一に構成され、それにより端縁
８の電位的接続が保証されている。
本発明の第２の実施例が第２図および第３図に
示されている。同一部分には同一符号が付されて
いる。
示されている。同一部分には同一符号が付されて
いる。
この実施例ではカプセル４の端縁８に導く連結
部２の外壁１９が取付フランジ１７から空間的に
離して設けられている。それに応じてカプセル４
のフランジ１８に導く壁２１と外壁１９との間に
空間２０が形成されている。測定結果に悪影響を
与えることなく両壁のアースをとるために、カプ
セル４の内壁に内部導体５の軸方向に大面積の導
電接続部２２が可撓性の銅バンドを使用して設け
られている。全体として環状の空間２０もカプセ
ル４の内壁で導電的に橋絡され得る。
部２の外壁１９が取付フランジ１７から空間的に
離して設けられている。それに応じてカプセル４
のフランジ１８に導く壁２１と外壁１９との間に
空間２０が形成されている。測定結果に悪影響を
与えることなく両壁のアースをとるために、カプ
セル４の内壁に内部導体５の軸方向に大面積の導
電接続部２２が可撓性の銅バンドを使用して設け
られている。全体として環状の空間２０もカプセ
ル４の内壁で導電的に橋絡され得る。
この実施例では連結部２を補強するために電極
６の端縁７とカプセル４の端縁８との間に絶縁材
料からなるリング２３が配設されている。また、
分圧比を可調整とするために電極６の端縁７は外
側に向つてフランジ状に引き出されている。低圧
コンデンサCNはこのフランジ状の端縁７とこれ
に対向する外壁１９の上部領域すなわち端縁８と
によつて形成される。
６の端縁７とカプセル４の端縁８との間に絶縁材
料からなるリング２３が配設されている。また、
分圧比を可調整とするために電極６の端縁７は外
側に向つてフランジ状に引き出されている。低圧
コンデンサCNはこのフランジ状の端縁７とこれ
に対向する外壁１９の上部領域すなわち端縁８と
によつて形成される。
局部放電によつて生ずる電圧パルスの不平衡を
改善するには、公知のように低圧コンデンサCN
に並列にコイル、とくにトロイダルコイルを接続
すればよい。そうすることにより高電圧の動作周
波数は、測定装置の下限周波数による場合より大
幅に抑制される。ここで下限周波数は、特性イン
ピーダンスＺと低圧コンデンサCNの容容量（CN）
とから １／2π・Ｚ・CN で与えられる。
改善するには、公知のように低圧コンデンサCN
に並列にコイル、とくにトロイダルコイルを接続
すればよい。そうすることにより高電圧の動作周
波数は、測定装置の下限周波数による場合より大
幅に抑制される。ここで下限周波数は、特性イン
ピーダンスＺと低圧コンデンサCNの容容量（CN）
とから １／2π・Ｚ・CN で与えられる。
連結された高圧開閉設備内の複数の場所に測定
装置が装着される場合には、測定される局部放電
パルスの寿命の違いにより局部放電の原因の近似
的な場所定めを行うこともできる。
装置が装着される場合には、測定される局部放電
パルスの寿命の違いにより局部放電の原因の近似
的な場所定めを行うこともできる。
第１図は本発明の一実施例を示す縦断面図、第
２図は本発明の他の実施例を示す縦断面図、第３
図は第２図の実施例における要部の平面図であ
る。 １……測定装置、２……連結部、３……開口
部、４……金属カプセル、５……内部導体、６…
…電極、７……電極端縁、８……開口部端縁、１
１……測定線、１３……内側接続部、１５……外
側接続部、１７……取付フランジ、１８……カプ
セルのフランジ。
２図は本発明の他の実施例を示す縦断面図、第３
図は第２図の実施例における要部の平面図であ
る。 １……測定装置、２……連結部、３……開口
部、４……金属カプセル、５……内部導体、６…
…電極、７……電極端縁、８……開口部端縁、１
１……測定線、１３……内側接続部、１５……外
側接続部、１７……取付フランジ、１８……カプ
セルのフランジ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 金属カプセル内に絶縁して支持された内部導
体、および金属カプセルの開口部に間隔をおいて
絶縁して配設された電極によつて形成された高圧
コンデンサと、前記電極、および金属カプセルの
開口部端縁によつて形成された低圧コンデンサと
から成り、測定線を介して指示計および／または
測定器に接続されるコンデンサ分圧器を用いた金
属カプセル型圧縮ガス絶縁高圧開閉設備における
局部放電測定装置において、 前記電極６が板状に構成されて金属カプセル４
の開口部３に面一に装着され、 前記測定線１１は同軸型に構成され、かつ取付
フランジ１７を有する支持部として金属カプセル
４への接続部を形成するとともに電極６および金
属カプセル４の開口部３の端縁８を含む連結部２
と接続され、 前記連結部２は金属カプセル４の開口部３の端
縁８に導かれた外側中空円錐状接続部１５と前記
電極６に導かれた内側円錐状接続部１３とを有
し、両接続部１５，１３は同心的に配設されてそ
の直径比da／diが一定であり、しかも前記測定線
１１の特性インピーダンスＺを持つている ことを特徴とする高圧開閉設備内の局部放電測定
装置。 ２ 連結部２の取付フランジ１７は金属カプセル
４の開口部３の端縁８から空間的に離して金属カ
プセル４のフランジ１８に取付けられ、前記外側
の接続部１５と金属カプセル４のフランジ１８と
の間に、前記内部導体５の軸方向に配置され、か
つカプセル４の内壁に面一である少なくとも２個
の導電性接続片２２が設けられていることを特徴
とする特許請求の範囲第１項記載の測定装置。 ３ 金属カプセル４が内部導体５に対して同軸的
な円筒を形成しており、前記電極６は円筒の断片
であることを特徴とする特許請求の範囲第１項ま
たは第２項記載の測定装置。 ４ 電極６は金属カプセル４の円筒状断片である
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項または第
２項または第３項記載の測定装置。 ５ 外側および内側の接続部１５，１３は同心配
置の中空円錐体として構成されていることを特徴
とする特許請求の範囲第１項記載の測定装置。 ６ 連結部２はその外側端面９上に測定線１１用
の同軸コネクタ１０を支持していることを特徴と
する特許請求の範囲第１項記載の測定装置。 ７ 電極６の端縁７、金属カプセル４の開口部３
の、前記端縁７に対向する端縁８が、それぞれ外
側に向つてフランジ状に引き出されていることを
特徴とする特許請求の範囲第１項記載の測定装
置。 ８ 外側接続部１５と金属カプセル４との間の導
電性接続片２２して導電性材料からなる可撓性バ
ンドが用いられていることを特徴とする特許請求
の範囲第２項記載の測定装置。
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| JPS6053860A JPS6053860A (ja) | 1985-03-27 |
| JPH034110B2 true JPH034110B2 (ja) | 1991-01-22 |
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