JPH0339332B2 - - Google Patents
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- JPH0339332B2 JPH0339332B2 JP59124127A JP12412784A JPH0339332B2 JP H0339332 B2 JPH0339332 B2 JP H0339332B2 JP 59124127 A JP59124127 A JP 59124127A JP 12412784 A JP12412784 A JP 12412784A JP H0339332 B2 JPH0339332 B2 JP H0339332B2
- Authority
- JP
- Japan
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- temperature
- compact disc
- playback operation
- player
- disc player
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 10
- 230000008929 regeneration Effects 0.000 claims 1
- 238000011069 regeneration method Methods 0.000 claims 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 25
- 238000000034 method Methods 0.000 description 24
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 11
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 230000008859 change Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 4
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 4
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000004512 die casting Methods 0.000 description 2
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 2
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 238000009423 ventilation Methods 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B19/00—Driving, starting, stopping record carriers not specifically of filamentary or web form, or of supports therefor; Control thereof; Control of operating function ; Driving both disc and head
- G11B19/02—Control of operating function, e.g. switching from recording to reproducing
- G11B19/04—Arrangements for preventing, inhibiting, or warning against double recording on the same blank or against other recording or reproducing malfunctions
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B33/00—Constructional parts, details or accessories not provided for in the other groups of this subclass
- G11B33/14—Reducing influence of physical parameters, e.g. temperature change, moisture, dust
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、いわゆるコンパクトデイスクプレー
ヤに関し、特にこれに用いられる半導体レーザ・
ダイオードの保護に関するものである。
ヤに関し、特にこれに用いられる半導体レーザ・
ダイオードの保護に関するものである。
一般にコンパクトデイスクは、その記録情報の
読み取り光源の波長として780nm(10-9m)を最
適波長として想定しており、この波長はコンパク
トデイスク(以下デイスクと記す)規格の決定時
点ですでに半導体レーザ・ダイオードによつて実
現可能な波長であつた。実際に、各製造業者から
発表されているコンパクトデイスクプレーヤ(以
下プレーヤと記す)ではほとんど半導体レーザ・
ダイオードが採用されている。
読み取り光源の波長として780nm(10-9m)を最
適波長として想定しており、この波長はコンパク
トデイスク(以下デイスクと記す)規格の決定時
点ですでに半導体レーザ・ダイオードによつて実
現可能な波長であつた。実際に、各製造業者から
発表されているコンパクトデイスクプレーヤ(以
下プレーヤと記す)ではほとんど半導体レーザ・
ダイオードが採用されている。
レーザ・ダイオードは、他のレーザ発生手段に
比べ、(1)小形である、(2)低消費電力であるという
特長を有し、これによつてプレーヤの小形化を可
能とし、また、デイスクからの情報読み取りに必
要なレンズ、プリズム等の光学部品、あるいはフ
オーカス調節機構、トラツキング調節機構等を含
めて一つのユニツト化したいわゆる光ピツクアツ
プを小型に実現できることから、プレーヤの機構
の簡素化に寄与している。
比べ、(1)小形である、(2)低消費電力であるという
特長を有し、これによつてプレーヤの小形化を可
能とし、また、デイスクからの情報読み取りに必
要なレンズ、プリズム等の光学部品、あるいはフ
オーカス調節機構、トラツキング調節機構等を含
めて一つのユニツト化したいわゆる光ピツクアツ
プを小型に実現できることから、プレーヤの機構
の簡素化に寄与している。
しかし、レーザ・ダイオードは現時点では、高
温環境下での動作信頼性に関しては十分とは言え
ない。レーザ・ダイオードは非動作保存温度定格
では、トランジスタ、IC等の一般のシリコン半
導体と同様の温度範囲を有しており、動作時の故
障率も、常温以下であれば一般のシリコン半導体
素子に比べ多少劣る程度も実現している。
温環境下での動作信頼性に関しては十分とは言え
ない。レーザ・ダイオードは非動作保存温度定格
では、トランジスタ、IC等の一般のシリコン半
導体と同様の温度範囲を有しており、動作時の故
障率も、常温以下であれば一般のシリコン半導体
素子に比べ多少劣る程度も実現している。
ただし、周囲温度60℃を越えるような高温動作
でのレーザダイオードの故障率は、一般のシリコ
ン半導体素子に比べ数百から数千倍と悪くなる場
合がほとんどである。この原因は、レーザ・ダイ
オードにおける周囲温度の上昇に対する故障率の
増加率が大きいことにある。
でのレーザダイオードの故障率は、一般のシリコ
ン半導体素子に比べ数百から数千倍と悪くなる場
合がほとんどである。この原因は、レーザ・ダイ
オードにおける周囲温度の上昇に対する故障率の
増加率が大きいことにある。
上述のごとく、高温動作に対する故障率が大き
いレーザ・ダイオードの使用においては、信頼性
を向上させる効果が採られており、例えば (1) レーザ・ダイオードの外囲器をヒートシンク
に結合して自己発熱による温度上昇を防ぐこ
と、 (2) フアン等による強制空冷を行なうこと、 (3) ペルチエ素子等を応用した強制冷却を行なう
こと、 等が実現されている。これらのうち(2)、(3)につい
てはかなりのコストを要すること、また、一般家
庭での使用周囲温度は通常40℃までであること等
から、いわゆる家庭用プレーヤでは上記(1)の対
策、さらにはプレーヤ筐体内の温度上昇を抑える
といつた対策で、実用上の信頼性を確保してい
る。
いレーザ・ダイオードの使用においては、信頼性
を向上させる効果が採られており、例えば (1) レーザ・ダイオードの外囲器をヒートシンク
に結合して自己発熱による温度上昇を防ぐこ
と、 (2) フアン等による強制空冷を行なうこと、 (3) ペルチエ素子等を応用した強制冷却を行なう
こと、 等が実現されている。これらのうち(2)、(3)につい
てはかなりのコストを要すること、また、一般家
庭での使用周囲温度は通常40℃までであること等
から、いわゆる家庭用プレーヤでは上記(1)の対
策、さらにはプレーヤ筐体内の温度上昇を抑える
といつた対策で、実用上の信頼性を確保してい
る。
しかし、室外で使用されるいわゆるポータブル
型コンパクトデイスクプレーヤ(以下ポータブル
プレーヤと記す)あるいは車載用コンパクトデイ
スクプレーヤ(以下車載プレーヤと記す)では、
直射日光の照射およびプレーヤ筐体の温室効果に
よつて、筐体内の空気温度は容易に70〜90℃程度
まで上昇する。このような高温下で長時間レー
ザ・ダイオードを点灯されることはレーザ素子の
劣化を著しく早めてしまい、所望の寿命を満足で
きない。そのため、上記強制空冷または強制冷却
の手段を用いるか、あるいはレーザ・ダイオード
自身の特性向上を実現しなければ実使用上問題が
生じる。
型コンパクトデイスクプレーヤ(以下ポータブル
プレーヤと記す)あるいは車載用コンパクトデイ
スクプレーヤ(以下車載プレーヤと記す)では、
直射日光の照射およびプレーヤ筐体の温室効果に
よつて、筐体内の空気温度は容易に70〜90℃程度
まで上昇する。このような高温下で長時間レー
ザ・ダイオードを点灯されることはレーザ素子の
劣化を著しく早めてしまい、所望の寿命を満足で
きない。そのため、上記強制空冷または強制冷却
の手段を用いるか、あるいはレーザ・ダイオード
自身の特性向上を実現しなければ実使用上問題が
生じる。
この発明は、上記のような従来のものの問題に
鑑みてなされたもので、レーザ・ダイオード自身
あるいはその周囲の温度を検出し、その結果に基
づいてレーザ点灯・消灯を制御することにより、
レーザ・ダイオードを保護することができ、さら
にはプレーヤの周囲温度が連続動作不可能な高温
から動作可能な温度に変化することを、プレーヤ
筐体各部の温度勾配あるいは一定時間内の特定部
分の温度変化を検出することによつて予測し、こ
れに基づいてレーザ点灯・消灯を制御することに
より、再生動作可能となるまでの待ち時間を短縮
できるコンパクトデイスクプレーヤを提供するこ
とを目的としている。
鑑みてなされたもので、レーザ・ダイオード自身
あるいはその周囲の温度を検出し、その結果に基
づいてレーザ点灯・消灯を制御することにより、
レーザ・ダイオードを保護することができ、さら
にはプレーヤの周囲温度が連続動作不可能な高温
から動作可能な温度に変化することを、プレーヤ
筐体各部の温度勾配あるいは一定時間内の特定部
分の温度変化を検出することによつて予測し、こ
れに基づいてレーザ点灯・消灯を制御することに
より、再生動作可能となるまでの待ち時間を短縮
できるコンパクトデイスクプレーヤを提供するこ
とを目的としている。
以下、この発明の実施例を図について説明す
る。
る。
本発明はレーザ・ダイオード自身の温度あるい
は周囲温度を知ることによつてレーザの点灯・消
灯を決定することを基本としており、まず、温度
検出手段が必要となる。この温度検出法は、要は
レーザ・ダイオード自身の温度によつて変化する
諸特性を検出する方法あるいは正・負極性サーミ
スタの抵抗変化、半導体PN接合の電圧変化等を
検出するものであればよく、いわゆる温度センサ
として使用されるものであればよい。
は周囲温度を知ることによつてレーザの点灯・消
灯を決定することを基本としており、まず、温度
検出手段が必要となる。この温度検出法は、要は
レーザ・ダイオード自身の温度によつて変化する
諸特性を検出する方法あるいは正・負極性サーミ
スタの抵抗変化、半導体PN接合の電圧変化等を
検出するものであればよく、いわゆる温度センサ
として使用されるものであればよい。
第1図は本発明の第1の実施例によるコンパク
トデイスクプレーヤを示し、これは専用の温度セ
ンサとして正極性サーミスタを利用したものであ
る。図において、1は光ピツクアツプ筐体であつ
て、これはレーザ・ダイオード2をはじめとして
図示しないレンズ、ミラー等の光学部品や、フオ
ーカス及びトラツキング調節機構等を内蔵してお
り、レーザ・ダイオード2の出射光Yから上記光
学部品等により光学的開口部3から出射される信
号読み取り要の光束Xが得られる。4はレーザ保
持部であつて、レーザ・ダイオード2を位置決め
し、これを固定板5と止めネジ6で固定する。レ
ーザ保持部4はレーザダイオード2の自己発熱を
逃がすべく熱伝導率の高い金属、例えばアルミダ
イカストで構成されており、これと一体となつた
光ピツクアツプ筐体1表面から放熱する。7は温
度検知用サーミスタであつて、これは光ピツクア
ツプ筐体1外壁に設けられ接着剤により光ピツク
アツプ筐体1と熱結合されている。
トデイスクプレーヤを示し、これは専用の温度セ
ンサとして正極性サーミスタを利用したものであ
る。図において、1は光ピツクアツプ筐体であつ
て、これはレーザ・ダイオード2をはじめとして
図示しないレンズ、ミラー等の光学部品や、フオ
ーカス及びトラツキング調節機構等を内蔵してお
り、レーザ・ダイオード2の出射光Yから上記光
学部品等により光学的開口部3から出射される信
号読み取り要の光束Xが得られる。4はレーザ保
持部であつて、レーザ・ダイオード2を位置決め
し、これを固定板5と止めネジ6で固定する。レ
ーザ保持部4はレーザダイオード2の自己発熱を
逃がすべく熱伝導率の高い金属、例えばアルミダ
イカストで構成されており、これと一体となつた
光ピツクアツプ筐体1表面から放熱する。7は温
度検知用サーミスタであつて、これは光ピツクア
ツプ筐体1外壁に設けられ接着剤により光ピツク
アツプ筐体1と熱結合されている。
図から明らかなように、レーザ・ダイオード2
と光ピツクアツプ筐体1とは熱的に密に結合され
ており、サーミスタ7の取付部においてもほぼ正
確にレーザ・ダイオード2の外囲器温度を検出で
きる。即ち温度変化を抵抗変化として検出でき
る。
と光ピツクアツプ筐体1とは熱的に密に結合され
ており、サーミスタ7の取付部においてもほぼ正
確にレーザ・ダイオード2の外囲器温度を検出で
きる。即ち温度変化を抵抗変化として検出でき
る。
なおこの温度変化としては、光ピツクアツプ筐
体1のケース表面の温度を検出するのではなく、
光ピツクアツプ筐体1の閉空間内部の空気温度を
検出すること、あるいはレーザ・ダイオード外囲
器内にサーミスタ、半導体チツプ等の温度センサ
を固定し、そのリードを外囲器外に取り出して温
度検出を行なうこと等の手段も考えられる。
体1のケース表面の温度を検出するのではなく、
光ピツクアツプ筐体1の閉空間内部の空気温度を
検出すること、あるいはレーザ・ダイオード外囲
器内にサーミスタ、半導体チツプ等の温度センサ
を固定し、そのリードを外囲器外に取り出して温
度検出を行なうこと等の手段も考えられる。
以上述べたような温度検出手段を用いて、レー
ザ・ダイオードの点灯・消灯、即ちプレーヤの再
生動作の開始、継続、停止を制御する方法につい
て次に示す。
ザ・ダイオードの点灯・消灯、即ちプレーヤの再
生動作の開始、継続、停止を制御する方法につい
て次に示す。
第1の方法は、温度検出結果として、現時点の
レーザ・ダイオード部の温度が連続動作(連続点
灯)可能な温度限界より高いか低いかを得るよう
に構成し、その結果から直接レーザの点灯.消灯
を決定するやり方である。
レーザ・ダイオード部の温度が連続動作(連続点
灯)可能な温度限界より高いか低いかを得るよう
に構成し、その結果から直接レーザの点灯.消灯
を決定するやり方である。
第2図は、第1図で示したようなサーミスタを
応用した温度検出法において、検出温度(以下T
と記す)の連続動作可能限界温度(以下Tmaxと
記す)に対する大小判定を行なう上記第1実施例
に用いる第1の回路(温度判定回路)18を示し
ており、図において、7はサーミスタ、12は抵
抗であり、これはサーミスタ7とともにブリツジ
を構成し、コンパレータ13によつてブリツジの
バランスを2値出力として得るものである。14
はブリツジの電源である。
応用した温度検出法において、検出温度(以下T
と記す)の連続動作可能限界温度(以下Tmaxと
記す)に対する大小判定を行なう上記第1実施例
に用いる第1の回路(温度判定回路)18を示し
ており、図において、7はサーミスタ、12は抵
抗であり、これはサーミスタ7とともにブリツジ
を構成し、コンパレータ13によつてブリツジの
バランスを2値出力として得るものである。14
はブリツジの電源である。
この構成ではTmaxにおけるサーミスタ7の抵
抗値に対してブリツジのバランスが取れるよう抵
抗12のそれぞれの値を決定しておけば良い。即
ち、例えば、再生動作制御手段であるマイクロプ
ロセツサ等のコントローラがプレーヤ動作を制御
する場合を例にとると、適当な時間間隔ごとに温
度検出結果をコントローラに入力し、T>Tmax
であればプレーヤの再生動作を停止し、レーザを
消灯する。あるいは、T>Tmaxのときに温度検
出結果をコントローラに対する割り込みとして入
力してプレーヤの停止、レーザ消灯を行なうとい
つた処理で、レーザ・ダイオードの保護を行なう
ことができる。
抗値に対してブリツジのバランスが取れるよう抵
抗12のそれぞれの値を決定しておけば良い。即
ち、例えば、再生動作制御手段であるマイクロプ
ロセツサ等のコントローラがプレーヤ動作を制御
する場合を例にとると、適当な時間間隔ごとに温
度検出結果をコントローラに入力し、T>Tmax
であればプレーヤの再生動作を停止し、レーザを
消灯する。あるいは、T>Tmaxのときに温度検
出結果をコントローラに対する割り込みとして入
力してプレーヤの停止、レーザ消灯を行なうとい
つた処理で、レーザ・ダイオードの保護を行なう
ことができる。
このように、現時点での検出温度Tと連続動作
可能限界温度Tmaxとの大小関係で直接レーザ・
ダイオードの点灯・消灯を決定する方法は簡便で
あり、レーザ・ダイオードの保護の点では効果的
である。ただし、瞬間の温度Tはプレーヤ内の発
熱、セツト周囲の温度変化あるいはレーザ・ダイ
オードの自己発熱等によつてわずかの変動があ
り、これを検出しても短い時間間隔でプレーヤの
動作が可能になつたり不可能になつたりするのは
むしろ好ましくないことから、この対策として温
度検出においてヒステリシスを持たせることが考
えられる。
可能限界温度Tmaxとの大小関係で直接レーザ・
ダイオードの点灯・消灯を決定する方法は簡便で
あり、レーザ・ダイオードの保護の点では効果的
である。ただし、瞬間の温度Tはプレーヤ内の発
熱、セツト周囲の温度変化あるいはレーザ・ダイ
オードの自己発熱等によつてわずかの変動があ
り、これを検出しても短い時間間隔でプレーヤの
動作が可能になつたり不可能になつたりするのは
むしろ好ましくないことから、この対策として温
度検出においてヒステリシスを持たせることが考
えられる。
この対策を具体化した一例を次に示す。
第3図は上記第1実施例によるコンパクトデイ
スクプレーヤに用いる第2の温度判定回路19を
示し、図において、第2図と同一符号は同一又は
相当部分を示す。この回路19では第2図におけ
るコンパレータ13の出力を帰還抵抗15によつ
て入力に正帰還させ、これによつて出力にヒステ
リシスをもたせている。このとき正帰還量によつ
てヒステリシス巾が決定されることは言うまでも
ない。
スクプレーヤに用いる第2の温度判定回路19を
示し、図において、第2図と同一符号は同一又は
相当部分を示す。この回路19では第2図におけ
るコンパレータ13の出力を帰還抵抗15によつ
て入力に正帰還させ、これによつて出力にヒステ
リシスをもたせている。このとき正帰還量によつ
てヒステリシス巾が決定されることは言うまでも
ない。
次に第2の方法であるが、具体例を挙げる前
に、車載用プレーヤの置かれる温度環境について
述べる。
に、車載用プレーヤの置かれる温度環境について
述べる。
車両は、上述のごとく、高い外気温、強い日射
および密閉状態での温室効果等によつて室内温度
はきわめて高温になる。このような状態でレー
ザ・ダイオードが長時間連続点灯することは信頼
性の点で許されない。一方、プレーヤの再生は原
則として同一室内の人間が聴取するためのもので
あり、ここからプレーヤが使用されるときの室内
温度は人間が居住できる温度と言うことができ、
それほど高い温度ではないということになる。車
の放置によつてきわめて高い温度に上昇した室内
空気も、窓開け走行やクーラーの使用で数分〜10
分程度で40℃以下の十分低い温度に低下する。仮
に、温度上昇したレーザ・ダイオードが室内空気
温度の変化と同等の速度で変化するならば、上記
第1の方法でも、わずかな待ち時間の後プレーヤ
の再生が可能になる。しかし、実際のプレーヤで
はレーザ・ダイオードあるいはその周辺の温度は
室内空気の温度変化に比べ、その変化速度がきわ
めて遅い。これは、 (1) 一般に光ピツクアツプは、コンパクトデイス
ク半径方向に移動するよう構成されており、金
属等の熱の良導体を通じての放熱が行ないにく
い(放熱は熱輻射が大部分である)。
および密閉状態での温室効果等によつて室内温度
はきわめて高温になる。このような状態でレー
ザ・ダイオードが長時間連続点灯することは信頼
性の点で許されない。一方、プレーヤの再生は原
則として同一室内の人間が聴取するためのもので
あり、ここからプレーヤが使用されるときの室内
温度は人間が居住できる温度と言うことができ、
それほど高い温度ではないということになる。車
の放置によつてきわめて高い温度に上昇した室内
空気も、窓開け走行やクーラーの使用で数分〜10
分程度で40℃以下の十分低い温度に低下する。仮
に、温度上昇したレーザ・ダイオードが室内空気
温度の変化と同等の速度で変化するならば、上記
第1の方法でも、わずかな待ち時間の後プレーヤ
の再生が可能になる。しかし、実際のプレーヤで
はレーザ・ダイオードあるいはその周辺の温度は
室内空気の温度変化に比べ、その変化速度がきわ
めて遅い。これは、 (1) 一般に光ピツクアツプは、コンパクトデイス
ク半径方向に移動するよう構成されており、金
属等の熱の良導体を通じての放熱が行ないにく
い(放熱は熱輻射が大部分である)。
(2) 光ピツクアツプは、内部に塵埃等が混入し、
光学部品の表面に付着することで不備を生ずる
のに対し、車内は塵埃が多く、このためプレー
ヤの筐体に大きな面積の通気孔を開けられない
(空気の流通が悪い)。
光学部品の表面に付着することで不備を生ずる
のに対し、車内は塵埃が多く、このためプレー
ヤの筐体に大きな面積の通気孔を開けられない
(空気の流通が悪い)。
(3) 光ピツクアツプは、レーザ・ダイオードを含
む各種光学部品を精密に位置決め・固定するた
めに加工性が良く、寸法安定性の良い材料、た
とえばアルミダイカストを多く用いている。こ
のために、レーザ・ダイオードの自己発熱に対
する放熱効果は十分であるかわりに、熱容量が
大きくなりがちである(熱容量が大きい)。
む各種光学部品を精密に位置決め・固定するた
めに加工性が良く、寸法安定性の良い材料、た
とえばアルミダイカストを多く用いている。こ
のために、レーザ・ダイオードの自己発熱に対
する放熱効果は十分であるかわりに、熱容量が
大きくなりがちである(熱容量が大きい)。
等が原因となつている。
このような状況で第1の方法を用いたのでは、
室内大気の温度が急速に低下しても、プレーヤの
動作が行なわれるまでの待ち時間がきわめて長く
なつて不便である。操作者における不便さと低減
とレーザ・ダイオードの保護目的とをバランスさ
せるのが第2の方法であつて、要は現時点ではT
>Tmaxであつても短時間の後にT<Tmaxにな
るのならば、レーザ・ダイオードを点灯させて待
ち時間を解消あるいは短縮しようとするものであ
る。この考え方を具体化する方法として、まず、
レーザ・ダイオード部分よりもプレーヤ周囲の大
気温度に早く応答する部位に温度センサを設け
て、レーザ・ダイオードの温度変化を先取りする
方法がある。
室内大気の温度が急速に低下しても、プレーヤの
動作が行なわれるまでの待ち時間がきわめて長く
なつて不便である。操作者における不便さと低減
とレーザ・ダイオードの保護目的とをバランスさ
せるのが第2の方法であつて、要は現時点ではT
>Tmaxであつても短時間の後にT<Tmaxにな
るのならば、レーザ・ダイオードを点灯させて待
ち時間を解消あるいは短縮しようとするものであ
る。この考え方を具体化する方法として、まず、
レーザ・ダイオード部分よりもプレーヤ周囲の大
気温度に早く応答する部位に温度センサを設け
て、レーザ・ダイオードの温度変化を先取りする
方法がある。
第5図は本発明の第2の実施例によるコンパク
トデイスクプレーヤを示し、図において、21は
光ピツクアツプであつて、図示しないレーザ・ダ
イオードを内蔵し、プレーヤ筐体22内にある。
23はプレーヤ筐体22に設けられた通気孔、2
4はプレーヤ筐体22内に設けられた温度センサ
であつて、例えばサーミスタである。25は温度
判定回路であつて、これは温度センサ24の出力
から、現在の温度がある基準温度、即ち連続動作
可能限界温度より大きいか小さいかを判定するも
のである。
トデイスクプレーヤを示し、図において、21は
光ピツクアツプであつて、図示しないレーザ・ダ
イオードを内蔵し、プレーヤ筐体22内にある。
23はプレーヤ筐体22に設けられた通気孔、2
4はプレーヤ筐体22内に設けられた温度センサ
であつて、例えばサーミスタである。25は温度
判定回路であつて、これは温度センサ24の出力
から、現在の温度がある基準温度、即ち連続動作
可能限界温度より大きいか小さいかを判定するも
のである。
なお、温度センサ24がサーミスタであれば、
本第2実施例に用いる第1、第2の温度判定回路
25としては第2図あるいは第3図で示した回路
18,19がこれに対応する。
本第2実施例に用いる第1、第2の温度判定回路
25としては第2図あるいは第3図で示した回路
18,19がこれに対応する。
第5図に示した構成の各部位と光ピツクアツプ
部の温度変化の相違を示したのが第4図である。
この図は直射日光下で温められた車内の大気の温
度(A)、光ピツクアツプ部の温度(B)および温度セン
サ部温度(C)が、時刻t=t0で窓開けあるいはクー
ラー作動によつて低下していくときの変化を示し
ている。図示のごとく、光ピツクアツプ部の温度
(B)は大気の温度(A)の低下速度に比べてきわめて遅
く、温度センサ部(c)はそれらの中間の速度とな
る。各部の温度は定常的にほぼ同一の温度に収束
していくことから、第5図における温度センサ2
4は光ピツクアツプ21の温度を先取りしている
ことがわかる。即ち温度判定回路25の基準温度
をTmaxとし、温度センサ24部温度がTmax以
下になつたときレーザ・ダイオードを点灯可能と
すると、第1の方法では第4図中t3にならないと
レーザが点灯しないのに対し、第2の方法ではt2
でレーザが点灯し、プレーヤ動作開始までの待ち
時間が短縮される。
部の温度変化の相違を示したのが第4図である。
この図は直射日光下で温められた車内の大気の温
度(A)、光ピツクアツプ部の温度(B)および温度セン
サ部温度(C)が、時刻t=t0で窓開けあるいはクー
ラー作動によつて低下していくときの変化を示し
ている。図示のごとく、光ピツクアツプ部の温度
(B)は大気の温度(A)の低下速度に比べてきわめて遅
く、温度センサ部(c)はそれらの中間の速度とな
る。各部の温度は定常的にほぼ同一の温度に収束
していくことから、第5図における温度センサ2
4は光ピツクアツプ21の温度を先取りしている
ことがわかる。即ち温度判定回路25の基準温度
をTmaxとし、温度センサ24部温度がTmax以
下になつたときレーザ・ダイオードを点灯可能と
すると、第1の方法では第4図中t3にならないと
レーザが点灯しないのに対し、第2の方法ではt2
でレーザが点灯し、プレーヤ動作開始までの待ち
時間が短縮される。
ただし、t2からt3の間は光ピツクアツプ21の
温度は明らかにTmaxを越えており、レーザ・ダ
イオードの保護の点では好ましくないが、この時
間は一定の値以上にはならないし、また再び車室
内温度が上昇してTmaxを越えるとコントローラ
よりレーザ・ダイオードを消灯される。
温度は明らかにTmaxを越えており、レーザ・ダ
イオードの保護の点では好ましくないが、この時
間は一定の値以上にはならないし、また再び車室
内温度が上昇してTmaxを越えるとコントローラ
よりレーザ・ダイオードを消灯される。
待ち時間短縮と、レーザ・ダイオードの高温連
続点灯の保護を行う別の方法として次に第3の方
法を挙げる。これは、現在の温度が限界温度以上
であつても、一定の時間内ではレーザ・ダイオー
ドの点火を許すことで待ち時間をなくし、一方一
定時間以上高温が続けばレーザ・ダイオードを消
灯し、保護するという方法である。この方法の場
合温度検出点は特に問わない。
続点灯の保護を行う別の方法として次に第3の方
法を挙げる。これは、現在の温度が限界温度以上
であつても、一定の時間内ではレーザ・ダイオー
ドの点火を許すことで待ち時間をなくし、一方一
定時間以上高温が続けばレーザ・ダイオードを消
灯し、保護するという方法である。この方法の場
合温度検出点は特に問わない。
いま温度センサ(サーミスタ)を第1図に示し
たように光ピツクアツプ部に取り付け、かつ第2
図あるいは第3図に示したように第1、第2の温
度判定回路18,19を組み合わせ、この判定回
路出力を再生動作制御手段であるCPUで構成さ
れたコントローラに入力して処理を行なう場合を
例として、第3の方法を説明する。
たように光ピツクアツプ部に取り付け、かつ第2
図あるいは第3図に示したように第1、第2の温
度判定回路18,19を組み合わせ、この判定回
路出力を再生動作制御手段であるCPUで構成さ
れたコントローラに入力して処理を行なう場合を
例として、第3の方法を説明する。
第6図は本発明の第3の実施例によるコンパク
トデイスクプレーヤのコントローラの処理フロー
チヤートを示したものである。
トデイスクプレーヤのコントローラの処理フロー
チヤートを示したものである。
第6図において、まず温度センサによる検出現
在温度Tを入力し(ステツプ31)、温度判定回路
によりこのTとTmax(連続動作可能限界温度)
の大小を判定し(ステツプ32)、この結果T>
Tmaxであると、Tなる状態が連続する時間を
CPUのソフトウエアによるカウンタによつて計
測し、CPUで、すでにT>Tmaxなる状態が許
容時間を越えて続いていないかどうかを、即ち継
続温度状態を判定する(ステツプ33)。この許容
時間をカウントするためのカウンタは、ほぼ一定
時間間隔で繰り返される温度検出ループで、T>
Tmaxが検出された回数を積算するものであつ
て、T>Tmaxなる状態の連続する時間を求める
ものである。そして、上記N>Nmax?の判定結
果がNOである時、即ちステツプ33でカウント値
NがNmax以下であれば、カウンタ値をインクリ
メント(1加える)する(ステツプ34)だけで1
サイクルを終わる。一方、上記判定結果がYES
である時、即ちN>Nmaxの時、高温状態が一定
時間以上連続している訳であるから、プレーヤの
再生動作の停止を含むレーザ・ダイオードの消灯
を行なう(ステツプ35)。この消灯状態から脱す
るのは、温度判定回路でT<Tmaxが検出された
ときであり、このときはダイオードによりレー
ザ・ダイオード点灯可能を出力し(ステツプ36)
(ないしは、直ちに再生動作に移つてもよい)、カ
ウンタをリセツトする(ステツプ37)。
在温度Tを入力し(ステツプ31)、温度判定回路
によりこのTとTmax(連続動作可能限界温度)
の大小を判定し(ステツプ32)、この結果T>
Tmaxであると、Tなる状態が連続する時間を
CPUのソフトウエアによるカウンタによつて計
測し、CPUで、すでにT>Tmaxなる状態が許
容時間を越えて続いていないかどうかを、即ち継
続温度状態を判定する(ステツプ33)。この許容
時間をカウントするためのカウンタは、ほぼ一定
時間間隔で繰り返される温度検出ループで、T>
Tmaxが検出された回数を積算するものであつ
て、T>Tmaxなる状態の連続する時間を求める
ものである。そして、上記N>Nmax?の判定結
果がNOである時、即ちステツプ33でカウント値
NがNmax以下であれば、カウンタ値をインクリ
メント(1加える)する(ステツプ34)だけで1
サイクルを終わる。一方、上記判定結果がYES
である時、即ちN>Nmaxの時、高温状態が一定
時間以上連続している訳であるから、プレーヤの
再生動作の停止を含むレーザ・ダイオードの消灯
を行なう(ステツプ35)。この消灯状態から脱す
るのは、温度判定回路でT<Tmaxが検出された
ときであり、このときはダイオードによりレー
ザ・ダイオード点灯可能を出力し(ステツプ36)
(ないしは、直ちに再生動作に移つてもよい)、カ
ウンタをリセツトする(ステツプ37)。
以上述べた第3の方法は前述の第2の方法に応
用することが可能であり、第2の方法で大幅に短
縮される待ち時間は、さらに零となる。
用することが可能であり、第2の方法で大幅に短
縮される待ち時間は、さらに零となる。
さて第3の方法はレーザ・ダイオードの高温保
護としてほぼ十分な効果を示すが、高温基準(T
>Tmax)が連続する時間をCPUのソフトウエ
アによるカウンタによつて計測していることか
ら、もし高温状態で特定の時間間隔以内でプレー
ヤの電源が繰り返しON/OFFされると、電源
ONでは常にレーザ・ダイオードが点灯しつづけ
ることになる。このような危険性をなくす方法と
して、プレーヤの電源OFF時にもカウンタの値、
即ち温度判定回路の出力状態の継続時間情報を保
持しておくことが有効である。第7図は第6図に
おけるカウンタ機能を有するCPUの電源がプレ
ーヤの電源OFF時にもバツクアツプされるよう
構成したプレーヤのブロツク図である。
護としてほぼ十分な効果を示すが、高温基準(T
>Tmax)が連続する時間をCPUのソフトウエ
アによるカウンタによつて計測していることか
ら、もし高温状態で特定の時間間隔以内でプレー
ヤの電源が繰り返しON/OFFされると、電源
ONでは常にレーザ・ダイオードが点灯しつづけ
ることになる。このような危険性をなくす方法と
して、プレーヤの電源OFF時にもカウンタの値、
即ち温度判定回路の出力状態の継続時間情報を保
持しておくことが有効である。第7図は第6図に
おけるカウンタ機能を有するCPUの電源がプレ
ーヤの電源OFF時にもバツクアツプされるよう
構成したプレーヤのブロツク図である。
第7図において、41は温度センサであつて、
例えば光ピツクアツプに取り付けたサーミスタで
あり、42は温度判定回路であつて、例えば、第
2図、第3図等で示したものである。43は上記
カウントをつかさどるCPUであつて、このCPU
43はプレーヤの電源スイツチ44、安定化電源
45、ダイオード46を通じて電源が供給され
る。47はバツクアツプコンデンサであり、これ
は電源スイツチ44OFF時のCPU43の電源と
なり、その際ダイオード46がバツクアツプコン
デンサ47の電荷の逆流を防ぐものである。48
はCPU動作停止回路であつて、プレーヤ電源が
OFFになつたことを検出して、CPU43を、内
部状態、あるいは内部メモリを保存でき、かつ消
費電力が最小となる状態に切り替えるための命令
を発生するものである。
例えば光ピツクアツプに取り付けたサーミスタで
あり、42は温度判定回路であつて、例えば、第
2図、第3図等で示したものである。43は上記
カウントをつかさどるCPUであつて、このCPU
43はプレーヤの電源スイツチ44、安定化電源
45、ダイオード46を通じて電源が供給され
る。47はバツクアツプコンデンサであり、これ
は電源スイツチ44OFF時のCPU43の電源と
なり、その際ダイオード46がバツクアツプコン
デンサ47の電荷の逆流を防ぐものである。48
はCPU動作停止回路であつて、プレーヤ電源が
OFFになつたことを検出して、CPU43を、内
部状態、あるいは内部メモリを保存でき、かつ消
費電力が最小となる状態に切り替えるための命令
を発生するものである。
近年のCMOSプロセスで構成されたCPUでは、
第7図に示したごとく容量の大きなコンデンサで
かなりの時間バツクアツプすることが可能であ
る。ただし当然のことながら一次電池、二次電池
でバツクアツプしても良いし、また車載用の場
合、バツクアツプ電源として本来車に装着されて
いる鉛蓄電器を用いてもよい。これらの具体的回
路については同業者には一般的であるので説明は
省略する。
第7図に示したごとく容量の大きなコンデンサで
かなりの時間バツクアツプすることが可能であ
る。ただし当然のことながら一次電池、二次電池
でバツクアツプしても良いし、また車載用の場
合、バツクアツプ電源として本来車に装着されて
いる鉛蓄電器を用いてもよい。これらの具体的回
路については同業者には一般的であるので説明は
省略する。
以上述べたごとく、本発明によれば、CDプレ
ーヤ筐体内あるいは筐体外壁に温度検出器を設
け、その検出温度に基づいてレーザ点灯・消灯を
制御するようにしたので、レーザ・ダイオードが
長時間高温環境下で点灯し著しく故障率を高めて
しまうといつた危険をさけることができ、またさ
らに温度検出器の位置あるいは温度状態の判定方
法を工夫することにより、操作者にとつて不便な
待ち時間の短縮が可能となる効果がある。
ーヤ筐体内あるいは筐体外壁に温度検出器を設
け、その検出温度に基づいてレーザ点灯・消灯を
制御するようにしたので、レーザ・ダイオードが
長時間高温環境下で点灯し著しく故障率を高めて
しまうといつた危険をさけることができ、またさ
らに温度検出器の位置あるいは温度状態の判定方
法を工夫することにより、操作者にとつて不便な
待ち時間の短縮が可能となる効果がある。
第1図は本発明の第1の実施例によるコンパク
トデイスクプレーヤの斜視図、第2図は本発明の
第1、第2、第3の各実施例によるコンパクトデ
イスクプレーヤに用いる第1の温度判定回路の回
路図、第3図は上記各実施例に用いる第2の温度
判定回路の回路図、第4図はコンパクトデイスク
プレーヤにおける各部の温度変化を示す図、第5
図は本発明の第2の実施例によるコンパクトデイ
スクプレーヤの温度検出部の構成図、第6図は本
発明の第3の実施例によるコンパクトデイスクプ
レーヤの温度制御法を示すフローチヤート図、第
7図は上記第3実施例の制御回路を示す回路図で
ある。 2……半導体レーザ・ダイオード、7,24,
41……温度センサ(温度検出器)、22……プ
レーヤ筐体、18,19,25,42……温度判
定回路、43……CPU、44……電源スイツチ、
45……安定化電源、46……ダイオード、47
……バツクアツプコンデンサ、48……CPU動
作停止回路。
トデイスクプレーヤの斜視図、第2図は本発明の
第1、第2、第3の各実施例によるコンパクトデ
イスクプレーヤに用いる第1の温度判定回路の回
路図、第3図は上記各実施例に用いる第2の温度
判定回路の回路図、第4図はコンパクトデイスク
プレーヤにおける各部の温度変化を示す図、第5
図は本発明の第2の実施例によるコンパクトデイ
スクプレーヤの温度検出部の構成図、第6図は本
発明の第3の実施例によるコンパクトデイスクプ
レーヤの温度制御法を示すフローチヤート図、第
7図は上記第3実施例の制御回路を示す回路図で
ある。 2……半導体レーザ・ダイオード、7,24,
41……温度センサ(温度検出器)、22……プ
レーヤ筐体、18,19,25,42……温度判
定回路、43……CPU、44……電源スイツチ、
45……安定化電源、46……ダイオード、47
……バツクアツプコンデンサ、48……CPU動
作停止回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 コンパクトデイスクの記録情報読み取りのた
めの光源として半導体レーザ・ダイオードを有し
ているコンパクトデイスクプレーヤにおいて、コ
ンパクトデイスクプレーヤ筐体内あるいは筐体外
壁に設けられた温度検出器と、該温度検出器の検
出温度と連続動作可能限界温度との大小判定を行
なう温度判定回路と、この温度判定回路の出力に
応じてコンパクトデイスクの再生動作の開始、継
続または停止を決定する再生動作制御手段とを備
えたことを特徴とするコンパクトデイスクプレー
ヤ。 2 温度判定回路が温度変化に対してヒステリシ
スを持つ出力信号を出力するものであることを特
徴とする特許請求の範囲第1項記載のコンパクト
デイスクプレーヤ。 3 上記温度検出器が、レーザダイオード部に設
けられた温度センサであり、上記再生動作制御手
段が、上記検出温度の方が高いとき上記コンパク
トデイスクの再生動作を停止し、上記検出温度の
方が低いとき上記コンパクトデイスクの再生動作
を開始、継続するものであることを特徴とする特
許請求の範囲第1項又は第2項記載のコンパクト
デイスクプレーヤ。 4 上記温度検出器が、上記プレーヤ筐体内面近
傍に設けられた温度センサであり、上記再生動作
制御手段が、上記検出温度の方が高いとき上記コ
ンパクトデイスクの再生動作を停止し、上記検出
温度の方が低いとき上記コンパクトデイスクの再
生動作を開始、継続するものであることを特徴と
する特許請求の範囲第1項又は第2項記載のコン
パクトデイスクプレーヤ。 5 上記再生動作制御手段が、温度判定回路の出
力を入力とし上記検出温度の方が高い状態が一定
時間以上継続しているかどうかを判定する継続温
度状態判定手段を備え、該継続温度状態判定手段
からの肯定判定結果の出力時上記コンパクトデイ
スクの再生動作を停止し、否定判定結果の出力時
上記コンパクトデイスクの再生動作を開始、継続
するものであることを特徴とする特許請求の範囲
第1項又は第2項記載のコンパクトデイスクプレ
ーヤ。 6 再生動作制御手段が、温度判定回路の出力状
態の継続時間情報をコンパクトデイスクプレーヤ
の電源オフ時にも保存する手段を有するものであ
ることを特徴とする特許請求の範囲第5項記載の
コンパクトデイスクプレーヤ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59124127A JPS613326A (ja) | 1984-06-15 | 1984-06-15 | コンパクトデイスクプレ−ヤ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59124127A JPS613326A (ja) | 1984-06-15 | 1984-06-15 | コンパクトデイスクプレ−ヤ |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4093976A Division JP2525993B2 (ja) | 1992-04-14 | 1992-04-14 | ディスク再生装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS613326A JPS613326A (ja) | 1986-01-09 |
JPH0339332B2 true JPH0339332B2 (ja) | 1991-06-13 |
Family
ID=14877592
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59124127A Granted JPS613326A (ja) | 1984-06-15 | 1984-06-15 | コンパクトデイスクプレ−ヤ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS613326A (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61118200U (ja) * | 1985-01-08 | 1986-07-25 | ||
JPH0419676Y2 (ja) * | 1985-12-16 | 1992-05-06 | ||
JPS63282988A (ja) * | 1987-03-30 | 1988-11-18 | Canon Inc | 光学的情報記録再生装置 |
JPH0827957B2 (ja) * | 1988-06-10 | 1996-03-21 | アルパイン株式会社 | 光学式ディスクプレーヤ |
EP0356977B1 (en) * | 1988-09-01 | 1994-01-05 | Fujitsu Limited | Rotating disc device |
DE69326213T2 (de) * | 1992-11-17 | 1999-12-30 | Seiko Epson Corp., Tokio/Tokyo | Optischer Abtastkopf |
KR20040110823A (ko) * | 2003-06-20 | 2004-12-31 | 삼성전기주식회사 | 광픽업베이스 및 그 제조방법 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6022747A (ja) * | 1983-07-19 | 1985-02-05 | Fujitsu Ten Ltd | レ−ザピツクアツプの保護回路 |
-
1984
- 1984-06-15 JP JP59124127A patent/JPS613326A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6022747A (ja) * | 1983-07-19 | 1985-02-05 | Fujitsu Ten Ltd | レ−ザピツクアツプの保護回路 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS613326A (ja) | 1986-01-09 |
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