JPH0335223A - 表示装置 - Google Patents

表示装置

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JPH0335223A
JPH0335223A JP1169651A JP16965189A JPH0335223A JP H0335223 A JPH0335223 A JP H0335223A JP 1169651 A JP1169651 A JP 1169651A JP 16965189 A JP16965189 A JP 16965189A JP H0335223 A JPH0335223 A JP H0335223A
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JP
Japan
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film
composite film
display device
electrode
mim
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Pending
Application number
JP1169651A
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English (en)
Inventor
Ushimatsu Moriyama
森山 丑松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPH0335223A publication Critical patent/JPH0335223A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、表示セルの駆動回路要素として金属膜−絶縁
膜−金属膜からなる非線形抵抗素子(M I M素子)
を用いたアクティブ・マトリクス方式の表示装置に関す
る。
(従来の技術) 液晶表示装置は、小型、軽量、低消費電力を武器に最近
各種OA機器や小型テレビジョンなどに広く実用されて
いる。大容量液晶表示装置の開発の主流は、駆動回路に
能動素子を用いるアクティブ・マトリクス方式である。
アクティブ・マトリクス方式は、単純マトリクス方式に
比べて構造が複雑であるが各画素毎にスイッチを有して
いるので、時分割駆動を行っても選択時の信号電圧を保
持することができ、これにより各種画像特性の改善がな
されている。
アクティブ・マトリクス方式の液晶表示装置として、現
在はアモルファスSiを用いた薄膜トランジスタ(T 
P T)を利用するものと、MIM素子を利用するもの
とが実用化されている。前者は、表示画質や応答特性に
優れているが、5層以上の膜形成とパターニングを必要
とするため、画素欠陥率が高く、歩留まりが低いという
難点がある。
これに対して、電圧−電流特性が非線形であるMIM素
子を用いたアクティブ・マトリクス方式は、3回の膜形
成とパターニングにより駆動回路基板を得ることができ
、低コスト、量産向きであることから、今後の発展が期
待されている。
MIM素子としてはこれまで、Taの陽極酸化膜やシリ
コン窒化膜を絶縁膜として用いたものが注目されている
第5図は、MIM素子を用いたアクティブ・マトリクス
方式の表示装置の等価回路である。Dl。
D2.・・・は信号電極母線(データ配線)、Sl。
S2.・・・は走査電極母線(アドレス配線)であり、
それぞれ複数本ずつ互いに交差して配列されている。こ
れらの配線の各交差部に、液晶表示セルLCとMIM素
子素子N底列接続されて配置されている。MIM素子を
流れる電流は、金属膜−絶縁膜の界面特性に依存するが
、近似的には、1−aV”で与えられる。したがってそ
の非線形性はn値により評価することができる。
上述のMIM素子を用いた表示装置の各画素の等価回路
は、第6図のように示される。RNL+CNLはそれぞ
れMIM素子の抵抗と容量であり、RLC+ CLCは
それぞれ液晶セルの抵抗と容量である。時分割により駆
動を行う場合、走査電極数が増大すると、リフレッシュ
時間に対する画素への書き込み時間が必然的に短くなる
。このデユーティ比の減少に対処するためには、電荷保
持特性の優れたMIM素子が必要である。選択画素への
書き込み時間t asは、 i oa= Ctcx RNL(am)で表され、電荷
保持時間i ollは、t art −CLCX RN
L<att+で表される。ここで、RNLlaa)+ 
RNL(1111)はそれぞれオン、オフ時におけるM
IM素子の抵抗値である。コントラストを確保するため
には、L11g+j metに対して、 1、、<1.   (1,:書き込みパルス幅)tsr
t<*t   (ir ’リフレッシュ時間)なる関係
が要求される。これらの必要条件をMIM素子の特性に
置き換えると、オン状態とオフ状態の抵抗値の比RNL
tam)/ RNLl*fl)をできるだけ小さく、液
晶セルとMIMの容量比e tc/すなCNLをできる
だけ大きくすることが必要である。わち非線形性が大き
く、かつ容量が小さいMIM素子が望ましい事になる。
以上の点を考慮して液晶表示素子用MIM素子として要
求される特性を要約すれば、次のようになる。
■ 電流−電圧特性の非線形性が十分大きいこと。オン
状態とオフ状態の電流比で表される急峻性を示すβ値が
少なくとも105以上であること。
■ 電流−電圧特性が極性を持たず、対称性が良いこと
■ 液晶セルの容量に比べて十分小さい容量であること
■ 全画素に対して安定した電流−電圧特性を示すこと
■ 配線材料を兼ねるMIM素子の金属電極は高い伝導
度を有すること。
この様な観点から、現在実用されているTa陽極酸化膜
やシリコン窒化膜を用いたMIM素子をみると、表示装
置の大容量化のためにはまだ特性が不十分である。例え
ば、T a −T a 20 sCr系からなる代表的
なMIM素子では、第3図に曲線Bで示したようにβ値
は約103〜10’である。容量値も比較的大きい。ま
た極性反転による非対称性も大きい。この非対称性は液
晶寿命に悪影響を与える。さらに駆動電圧を20V以下
として、オン電流を10−’A以上、オフ電流を1o”
2に以下に抑えるためには、絶縁膜の膜厚@御も重要で
ある。このため、MIM素子の容量を液晶セルのそれに
比べて小さい所定の値に設定することがなかなか困難で
ある。Ta膜は抵抗率が100〜200μΩ・(至)と
大きく、大画面用の配線としても問題である。
(発明が解決しようとする課題) 以上のように従来のアクティブ・マトリクス型液晶表示
装置に用いられているM!M素子は、表示装置の高画質
化や大容量化を図る上で、電流−電圧特性の急峻性を示
すβ値その他の特性が不十分であるという問題があった
本発明は、この様な問題を解決して、高画質化。
大容量化を可能としたMIM素子を持つ表示装置を提供
することを目的とする。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) 本発明は、表示セルの駆動回路要素としてのMIM素子
を、Ta−AN複合膜とその表面に形成した陽極酸化膜
およびこの上に形成した上部電極により構成したことを
特徴とする。Ta−AfI複合膜の1組成比は、20〜
80原子%、より好ましくは30〜70原子%の範囲に
設定する。
(作 用) 本発明におけるMIM素子は、下地金属にTa−A11
複合膜を用いることにより、電流−電圧特性の急峻性を
示すβ値が大きいものとなる。
これは、Ta−Al1複合膜を陽極酸化して得られる絶
縁膜が高濃度のイオン化したトラ・ソプを含むことと、
誘電率の低減によるものと思われる。そして急峻性の改
善の結果として、絶縁膜を従来より厚くすることが可能
になり、これによって容量を小さくすることができる。
またTa−ANI合膜はTa膜に比べて抵抗率が低く、
表示装置を大容量化した場合のアドレス配線の抵抗値を
低くすることができる。また本発明におけるMIM素子
は、特性の対称性も優れている。これは、金属/絶縁膜
界面における空間電荷層形成に基づく電流制限機構が従
来に比べて弱くなり、バルクによる伝導が支配的になる
ためと考えられる。
(実施例) 以下、本発明の詳細な説明する。
第1図(a) (b)は、一実施例に係る液晶表示装置
の駆動回路基板の要部構成を示す平面図とそのA−A’
断面図である。第2図は同じく斜視図である。これを製
造工程に従って説明すると、まずガラス基板1上に、A
r雰囲気中でTaとAgの同時スパッタによりTa−A
l7複合膜2を形成する。Ta−A、Qli合膜2の膜
厚は約300 nm程度とする。次いでこの複合膜が形
成された基板状にレジストパターンを形成し、複合膜を
選択エツチングして、複数本のアドレス配線、および各
配線から一部突出してMIM素子の下地電極となる部分
をパターン形成する。次にパターン形成された複合膜2
を化成電源の正側に接続して陽極酸化を行い、表面に約
80 rvの酸化膜3を形成する。
その後Cr膜を約150nm形成し、これをMIM素子
の下地電極上をクロスするように閉路をなすパターンに
選択エツチングしてMIM素子の上部電極4を形成する
。さらに上部電極4に一部重なるようにITOMを用い
た各画素毎の画素電極5を形成する。
この様に構成された駆動回路基板に対して、図には示さ
ないが、アドレス配線と交差する複数本のデータ配線が
形成された対向基板を配置し、これらの基板間に液晶を
挾むことによって、液晶表示装置が完成する。
この実施例によるMIM素子の特性を以下に具体的に説
明する。
第3図は、この実施例によるMIM素子の電流電圧特性
(A)を従来のTaの陽極酸化膜を用いた場合CB)と
比較して示している。ただしこのデータは、複合膜のA
1組成が50原子%の場合である。また、Ta膜の従来
例は、陽極酸化膜厚を70nmとした他、実施例と同様
の条件とした場合である。図から明らかなようにこの実
施例では、電流の急峻性を示すβ値(電圧2V〜16V
間の電流比で示す)は、105である。これは、Taの
陽極酸化膜を用いた従来例に比べて1桁以上大きくなっ
ている。
またこの実施例でのMIM素子の容量は、面積7μmX
7μmで0.07pFであり、従来例での容jlO,2
1pFに比べて十分小さくなっている。これは誘電率の
低減および酸化膜の膜厚増大の結果である。
更に図には示さないが、電流−電圧特性の対称性も大き
く向上していることが確認された。抵抗率もTa膜の場
合に比べて小さく、長いアドレス配線を低抵抗に形成す
ることが可能になる。
第4図は、本発明によるMIM素子について、Ta−A
131合膜のA1組成比を種々変化させた場合の各種特
性(β値、抵抗率ρ、絶縁破壊電圧BDV)をall定
した結果である。絶縁耐圧はA1添加量の増大と共に低
下し、特に80原子%以上になると急激に低下する。β
値や抵抗率ρは、Al)添加j120原子%以上でTa
膜の場合に比べて十分効果が認められる。したがって本
発明におけるTa−Al複合膜の好ましいAIm成範囲
は20〜80原子%であり、更に30〜70原子%で一
層好ましい特性が得られる。
本発明は上記実施例に限られない。例えば、MIM素子
を構成する上部電極については、C「の場合を説明した
がTa、Ti等他の金属を用いることもでき、また下地
金属と同様にTa−Al複合膜を用いることもできる。
また本発明は液晶表示装置に限られず、例えばELなと
他の表示セルを用いた場合にも同様に本発明を適用して
効果が得られる。
[発明の効果] 以上の−べたように本発明によれば、Ta−Al複合膜
とその陽極酸化膜を利用してMIM素子を構成すること
により、アクティブ・マトリクス型表示装置の高画質化
や大容量化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】 第1図(a) (b)は本発明の一実施例による液晶表
示装置の駆動回路基板を示す平面図とそのA−A′断面
図、 第2図は同じくその斜視図、 第3図は同実施例に用いたMIM素子の電流−電圧特性
を示す図、 第4図はA1組成比とMIM素子の各種特性を示す図、 第5図はMIM素子を用いたアクティブ・マトリクス方
式の表示装置の等価回路図、 第6図は同じくその画素部の等価回路図である。 1・・・ガラス基板、2・・・Ta−Al複合膜(アド
レス配ml)、3・・・陽極酸化膜、4・・・上部電極
(Crllll) 、5−・・画素電極(ITO膜)。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 金属膜−絶縁膜−金属膜からなる非線形抵抗素子および
    これに接続された画素電極がマトリクス配列された駆動
    回路基板と、この駆動回路基板により駆動される表示セ
    ルとを備えた表示装置において、前記非線形抵抗素子は
    、Ta−Al複合膜とその表面に形成された陽極酸化膜
    、およびこの上に形成された上部電極膜により構成され
    ていることを特徴とする表示装置。
JP1169651A 1989-06-30 1989-06-30 表示装置 Pending JPH0335223A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0636922A1 (en) * 1993-02-10 1995-02-01 Seiko Epson Corporation Non-linear resistance element, method of its manufacture, and liquid crystal display
US5719647A (en) * 1994-11-08 1998-02-17 Sharp Kabushiki Kaisha Reflective type liquid crystal display apparatus having ESD protecting MIM beneath each reflective electrode

Cited By (3)

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