JPH0335223A - 表示装置 - Google Patents
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- JPH0335223A JPH0335223A JP1169651A JP16965189A JPH0335223A JP H0335223 A JPH0335223 A JP H0335223A JP 1169651 A JP1169651 A JP 1169651A JP 16965189 A JP16965189 A JP 16965189A JP H0335223 A JPH0335223 A JP H0335223A
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- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims abstract description 23
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims abstract description 12
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 8
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000010407 anodic oxide Substances 0.000 claims description 7
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 abstract description 19
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 abstract description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 abstract description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 43
- 210000002858 crystal cell Anatomy 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 5
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 4
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010953 base metal Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007743 anodising Methods 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
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- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、表示セルの駆動回路要素として金属膜−絶縁
膜−金属膜からなる非線形抵抗素子(M I M素子)
を用いたアクティブ・マトリクス方式の表示装置に関す
る。
膜−金属膜からなる非線形抵抗素子(M I M素子)
を用いたアクティブ・マトリクス方式の表示装置に関す
る。
(従来の技術)
液晶表示装置は、小型、軽量、低消費電力を武器に最近
各種OA機器や小型テレビジョンなどに広く実用されて
いる。大容量液晶表示装置の開発の主流は、駆動回路に
能動素子を用いるアクティブ・マトリクス方式である。
各種OA機器や小型テレビジョンなどに広く実用されて
いる。大容量液晶表示装置の開発の主流は、駆動回路に
能動素子を用いるアクティブ・マトリクス方式である。
アクティブ・マトリクス方式は、単純マトリクス方式に
比べて構造が複雑であるが各画素毎にスイッチを有して
いるので、時分割駆動を行っても選択時の信号電圧を保
持することができ、これにより各種画像特性の改善がな
されている。
比べて構造が複雑であるが各画素毎にスイッチを有して
いるので、時分割駆動を行っても選択時の信号電圧を保
持することができ、これにより各種画像特性の改善がな
されている。
アクティブ・マトリクス方式の液晶表示装置として、現
在はアモルファスSiを用いた薄膜トランジスタ(T
P T)を利用するものと、MIM素子を利用するもの
とが実用化されている。前者は、表示画質や応答特性に
優れているが、5層以上の膜形成とパターニングを必要
とするため、画素欠陥率が高く、歩留まりが低いという
難点がある。
在はアモルファスSiを用いた薄膜トランジスタ(T
P T)を利用するものと、MIM素子を利用するもの
とが実用化されている。前者は、表示画質や応答特性に
優れているが、5層以上の膜形成とパターニングを必要
とするため、画素欠陥率が高く、歩留まりが低いという
難点がある。
これに対して、電圧−電流特性が非線形であるMIM素
子を用いたアクティブ・マトリクス方式は、3回の膜形
成とパターニングにより駆動回路基板を得ることができ
、低コスト、量産向きであることから、今後の発展が期
待されている。
子を用いたアクティブ・マトリクス方式は、3回の膜形
成とパターニングにより駆動回路基板を得ることができ
、低コスト、量産向きであることから、今後の発展が期
待されている。
MIM素子としてはこれまで、Taの陽極酸化膜やシリ
コン窒化膜を絶縁膜として用いたものが注目されている
。
コン窒化膜を絶縁膜として用いたものが注目されている
。
第5図は、MIM素子を用いたアクティブ・マトリクス
方式の表示装置の等価回路である。Dl。
方式の表示装置の等価回路である。Dl。
D2.・・・は信号電極母線(データ配線)、Sl。
S2.・・・は走査電極母線(アドレス配線)であり、
それぞれ複数本ずつ互いに交差して配列されている。こ
れらの配線の各交差部に、液晶表示セルLCとMIM素
子素子N底列接続されて配置されている。MIM素子を
流れる電流は、金属膜−絶縁膜の界面特性に依存するが
、近似的には、1−aV”で与えられる。したがってそ
の非線形性はn値により評価することができる。
それぞれ複数本ずつ互いに交差して配列されている。こ
れらの配線の各交差部に、液晶表示セルLCとMIM素
子素子N底列接続されて配置されている。MIM素子を
流れる電流は、金属膜−絶縁膜の界面特性に依存するが
、近似的には、1−aV”で与えられる。したがってそ
の非線形性はn値により評価することができる。
上述のMIM素子を用いた表示装置の各画素の等価回路
は、第6図のように示される。RNL+CNLはそれぞ
れMIM素子の抵抗と容量であり、RLC+ CLCは
それぞれ液晶セルの抵抗と容量である。時分割により駆
動を行う場合、走査電極数が増大すると、リフレッシュ
時間に対する画素への書き込み時間が必然的に短くなる
。このデユーティ比の減少に対処するためには、電荷保
持特性の優れたMIM素子が必要である。選択画素への
書き込み時間t asは、 i oa= Ctcx RNL(am)で表され、電荷
保持時間i ollは、t art −CLCX RN
L<att+で表される。ここで、RNLlaa)+
RNL(1111)はそれぞれオン、オフ時におけるM
IM素子の抵抗値である。コントラストを確保するため
には、L11g+j metに対して、 1、、<1. (1,:書き込みパルス幅)tsr
t<*t (ir ’リフレッシュ時間)なる関係
が要求される。これらの必要条件をMIM素子の特性に
置き換えると、オン状態とオフ状態の抵抗値の比RNL
tam)/ RNLl*fl)をできるだけ小さく、液
晶セルとMIMの容量比e tc/すなCNLをできる
だけ大きくすることが必要である。わち非線形性が大き
く、かつ容量が小さいMIM素子が望ましい事になる。
は、第6図のように示される。RNL+CNLはそれぞ
れMIM素子の抵抗と容量であり、RLC+ CLCは
それぞれ液晶セルの抵抗と容量である。時分割により駆
動を行う場合、走査電極数が増大すると、リフレッシュ
時間に対する画素への書き込み時間が必然的に短くなる
。このデユーティ比の減少に対処するためには、電荷保
持特性の優れたMIM素子が必要である。選択画素への
書き込み時間t asは、 i oa= Ctcx RNL(am)で表され、電荷
保持時間i ollは、t art −CLCX RN
L<att+で表される。ここで、RNLlaa)+
RNL(1111)はそれぞれオン、オフ時におけるM
IM素子の抵抗値である。コントラストを確保するため
には、L11g+j metに対して、 1、、<1. (1,:書き込みパルス幅)tsr
t<*t (ir ’リフレッシュ時間)なる関係
が要求される。これらの必要条件をMIM素子の特性に
置き換えると、オン状態とオフ状態の抵抗値の比RNL
tam)/ RNLl*fl)をできるだけ小さく、液
晶セルとMIMの容量比e tc/すなCNLをできる
だけ大きくすることが必要である。わち非線形性が大き
く、かつ容量が小さいMIM素子が望ましい事になる。
以上の点を考慮して液晶表示素子用MIM素子として要
求される特性を要約すれば、次のようになる。
求される特性を要約すれば、次のようになる。
■ 電流−電圧特性の非線形性が十分大きいこと。オン
状態とオフ状態の電流比で表される急峻性を示すβ値が
少なくとも105以上であること。
状態とオフ状態の電流比で表される急峻性を示すβ値が
少なくとも105以上であること。
■ 電流−電圧特性が極性を持たず、対称性が良いこと
。
。
■ 液晶セルの容量に比べて十分小さい容量であること
。
。
■ 全画素に対して安定した電流−電圧特性を示すこと
。
。
■ 配線材料を兼ねるMIM素子の金属電極は高い伝導
度を有すること。
度を有すること。
この様な観点から、現在実用されているTa陽極酸化膜
やシリコン窒化膜を用いたMIM素子をみると、表示装
置の大容量化のためにはまだ特性が不十分である。例え
ば、T a −T a 20 sCr系からなる代表的
なMIM素子では、第3図に曲線Bで示したようにβ値
は約103〜10’である。容量値も比較的大きい。ま
た極性反転による非対称性も大きい。この非対称性は液
晶寿命に悪影響を与える。さらに駆動電圧を20V以下
として、オン電流を10−’A以上、オフ電流を1o”
2に以下に抑えるためには、絶縁膜の膜厚@御も重要で
ある。このため、MIM素子の容量を液晶セルのそれに
比べて小さい所定の値に設定することがなかなか困難で
ある。Ta膜は抵抗率が100〜200μΩ・(至)と
大きく、大画面用の配線としても問題である。
やシリコン窒化膜を用いたMIM素子をみると、表示装
置の大容量化のためにはまだ特性が不十分である。例え
ば、T a −T a 20 sCr系からなる代表的
なMIM素子では、第3図に曲線Bで示したようにβ値
は約103〜10’である。容量値も比較的大きい。ま
た極性反転による非対称性も大きい。この非対称性は液
晶寿命に悪影響を与える。さらに駆動電圧を20V以下
として、オン電流を10−’A以上、オフ電流を1o”
2に以下に抑えるためには、絶縁膜の膜厚@御も重要で
ある。このため、MIM素子の容量を液晶セルのそれに
比べて小さい所定の値に設定することがなかなか困難で
ある。Ta膜は抵抗率が100〜200μΩ・(至)と
大きく、大画面用の配線としても問題である。
(発明が解決しようとする課題)
以上のように従来のアクティブ・マトリクス型液晶表示
装置に用いられているM!M素子は、表示装置の高画質
化や大容量化を図る上で、電流−電圧特性の急峻性を示
すβ値その他の特性が不十分であるという問題があった
。
装置に用いられているM!M素子は、表示装置の高画質
化や大容量化を図る上で、電流−電圧特性の急峻性を示
すβ値その他の特性が不十分であるという問題があった
。
本発明は、この様な問題を解決して、高画質化。
大容量化を可能としたMIM素子を持つ表示装置を提供
することを目的とする。
することを目的とする。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
本発明は、表示セルの駆動回路要素としてのMIM素子
を、Ta−AN複合膜とその表面に形成した陽極酸化膜
およびこの上に形成した上部電極により構成したことを
特徴とする。Ta−AfI複合膜の1組成比は、20〜
80原子%、より好ましくは30〜70原子%の範囲に
設定する。
を、Ta−AN複合膜とその表面に形成した陽極酸化膜
およびこの上に形成した上部電極により構成したことを
特徴とする。Ta−AfI複合膜の1組成比は、20〜
80原子%、より好ましくは30〜70原子%の範囲に
設定する。
(作 用)
本発明におけるMIM素子は、下地金属にTa−A11
複合膜を用いることにより、電流−電圧特性の急峻性を
示すβ値が大きいものとなる。
複合膜を用いることにより、電流−電圧特性の急峻性を
示すβ値が大きいものとなる。
これは、Ta−Al1複合膜を陽極酸化して得られる絶
縁膜が高濃度のイオン化したトラ・ソプを含むことと、
誘電率の低減によるものと思われる。そして急峻性の改
善の結果として、絶縁膜を従来より厚くすることが可能
になり、これによって容量を小さくすることができる。
縁膜が高濃度のイオン化したトラ・ソプを含むことと、
誘電率の低減によるものと思われる。そして急峻性の改
善の結果として、絶縁膜を従来より厚くすることが可能
になり、これによって容量を小さくすることができる。
またTa−ANI合膜はTa膜に比べて抵抗率が低く、
表示装置を大容量化した場合のアドレス配線の抵抗値を
低くすることができる。また本発明におけるMIM素子
は、特性の対称性も優れている。これは、金属/絶縁膜
界面における空間電荷層形成に基づく電流制限機構が従
来に比べて弱くなり、バルクによる伝導が支配的になる
ためと考えられる。
表示装置を大容量化した場合のアドレス配線の抵抗値を
低くすることができる。また本発明におけるMIM素子
は、特性の対称性も優れている。これは、金属/絶縁膜
界面における空間電荷層形成に基づく電流制限機構が従
来に比べて弱くなり、バルクによる伝導が支配的になる
ためと考えられる。
(実施例)
以下、本発明の詳細な説明する。
第1図(a) (b)は、一実施例に係る液晶表示装置
の駆動回路基板の要部構成を示す平面図とそのA−A’
断面図である。第2図は同じく斜視図である。これを製
造工程に従って説明すると、まずガラス基板1上に、A
r雰囲気中でTaとAgの同時スパッタによりTa−A
l7複合膜2を形成する。Ta−A、Qli合膜2の膜
厚は約300 nm程度とする。次いでこの複合膜が形
成された基板状にレジストパターンを形成し、複合膜を
選択エツチングして、複数本のアドレス配線、および各
配線から一部突出してMIM素子の下地電極となる部分
をパターン形成する。次にパターン形成された複合膜2
を化成電源の正側に接続して陽極酸化を行い、表面に約
80 rvの酸化膜3を形成する。
の駆動回路基板の要部構成を示す平面図とそのA−A’
断面図である。第2図は同じく斜視図である。これを製
造工程に従って説明すると、まずガラス基板1上に、A
r雰囲気中でTaとAgの同時スパッタによりTa−A
l7複合膜2を形成する。Ta−A、Qli合膜2の膜
厚は約300 nm程度とする。次いでこの複合膜が形
成された基板状にレジストパターンを形成し、複合膜を
選択エツチングして、複数本のアドレス配線、および各
配線から一部突出してMIM素子の下地電極となる部分
をパターン形成する。次にパターン形成された複合膜2
を化成電源の正側に接続して陽極酸化を行い、表面に約
80 rvの酸化膜3を形成する。
その後Cr膜を約150nm形成し、これをMIM素子
の下地電極上をクロスするように閉路をなすパターンに
選択エツチングしてMIM素子の上部電極4を形成する
。さらに上部電極4に一部重なるようにITOMを用い
た各画素毎の画素電極5を形成する。
の下地電極上をクロスするように閉路をなすパターンに
選択エツチングしてMIM素子の上部電極4を形成する
。さらに上部電極4に一部重なるようにITOMを用い
た各画素毎の画素電極5を形成する。
この様に構成された駆動回路基板に対して、図には示さ
ないが、アドレス配線と交差する複数本のデータ配線が
形成された対向基板を配置し、これらの基板間に液晶を
挾むことによって、液晶表示装置が完成する。
ないが、アドレス配線と交差する複数本のデータ配線が
形成された対向基板を配置し、これらの基板間に液晶を
挾むことによって、液晶表示装置が完成する。
この実施例によるMIM素子の特性を以下に具体的に説
明する。
明する。
第3図は、この実施例によるMIM素子の電流電圧特性
(A)を従来のTaの陽極酸化膜を用いた場合CB)と
比較して示している。ただしこのデータは、複合膜のA
1組成が50原子%の場合である。また、Ta膜の従来
例は、陽極酸化膜厚を70nmとした他、実施例と同様
の条件とした場合である。図から明らかなようにこの実
施例では、電流の急峻性を示すβ値(電圧2V〜16V
間の電流比で示す)は、105である。これは、Taの
陽極酸化膜を用いた従来例に比べて1桁以上大きくなっ
ている。
(A)を従来のTaの陽極酸化膜を用いた場合CB)と
比較して示している。ただしこのデータは、複合膜のA
1組成が50原子%の場合である。また、Ta膜の従来
例は、陽極酸化膜厚を70nmとした他、実施例と同様
の条件とした場合である。図から明らかなようにこの実
施例では、電流の急峻性を示すβ値(電圧2V〜16V
間の電流比で示す)は、105である。これは、Taの
陽極酸化膜を用いた従来例に比べて1桁以上大きくなっ
ている。
またこの実施例でのMIM素子の容量は、面積7μmX
7μmで0.07pFであり、従来例での容jlO,2
1pFに比べて十分小さくなっている。これは誘電率の
低減および酸化膜の膜厚増大の結果である。
7μmで0.07pFであり、従来例での容jlO,2
1pFに比べて十分小さくなっている。これは誘電率の
低減および酸化膜の膜厚増大の結果である。
更に図には示さないが、電流−電圧特性の対称性も大き
く向上していることが確認された。抵抗率もTa膜の場
合に比べて小さく、長いアドレス配線を低抵抗に形成す
ることが可能になる。
く向上していることが確認された。抵抗率もTa膜の場
合に比べて小さく、長いアドレス配線を低抵抗に形成す
ることが可能になる。
第4図は、本発明によるMIM素子について、Ta−A
131合膜のA1組成比を種々変化させた場合の各種特
性(β値、抵抗率ρ、絶縁破壊電圧BDV)をall定
した結果である。絶縁耐圧はA1添加量の増大と共に低
下し、特に80原子%以上になると急激に低下する。β
値や抵抗率ρは、Al)添加j120原子%以上でTa
膜の場合に比べて十分効果が認められる。したがって本
発明におけるTa−Al複合膜の好ましいAIm成範囲
は20〜80原子%であり、更に30〜70原子%で一
層好ましい特性が得られる。
131合膜のA1組成比を種々変化させた場合の各種特
性(β値、抵抗率ρ、絶縁破壊電圧BDV)をall定
した結果である。絶縁耐圧はA1添加量の増大と共に低
下し、特に80原子%以上になると急激に低下する。β
値や抵抗率ρは、Al)添加j120原子%以上でTa
膜の場合に比べて十分効果が認められる。したがって本
発明におけるTa−Al複合膜の好ましいAIm成範囲
は20〜80原子%であり、更に30〜70原子%で一
層好ましい特性が得られる。
本発明は上記実施例に限られない。例えば、MIM素子
を構成する上部電極については、C「の場合を説明した
がTa、Ti等他の金属を用いることもでき、また下地
金属と同様にTa−Al複合膜を用いることもできる。
を構成する上部電極については、C「の場合を説明した
がTa、Ti等他の金属を用いることもでき、また下地
金属と同様にTa−Al複合膜を用いることもできる。
また本発明は液晶表示装置に限られず、例えばELなと
他の表示セルを用いた場合にも同様に本発明を適用して
効果が得られる。
他の表示セルを用いた場合にも同様に本発明を適用して
効果が得られる。
[発明の効果]
以上の−べたように本発明によれば、Ta−Al複合膜
とその陽極酸化膜を利用してMIM素子を構成すること
により、アクティブ・マトリクス型表示装置の高画質化
や大容量化を図ることができる。
とその陽極酸化膜を利用してMIM素子を構成すること
により、アクティブ・マトリクス型表示装置の高画質化
や大容量化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図(a) (b)は本発明の一実施例による液晶表
示装置の駆動回路基板を示す平面図とそのA−A′断面
図、 第2図は同じくその斜視図、 第3図は同実施例に用いたMIM素子の電流−電圧特性
を示す図、 第4図はA1組成比とMIM素子の各種特性を示す図、 第5図はMIM素子を用いたアクティブ・マトリクス方
式の表示装置の等価回路図、 第6図は同じくその画素部の等価回路図である。 1・・・ガラス基板、2・・・Ta−Al複合膜(アド
レス配ml)、3・・・陽極酸化膜、4・・・上部電極
(Crllll) 、5−・・画素電極(ITO膜)。
示装置の駆動回路基板を示す平面図とそのA−A′断面
図、 第2図は同じくその斜視図、 第3図は同実施例に用いたMIM素子の電流−電圧特性
を示す図、 第4図はA1組成比とMIM素子の各種特性を示す図、 第5図はMIM素子を用いたアクティブ・マトリクス方
式の表示装置の等価回路図、 第6図は同じくその画素部の等価回路図である。 1・・・ガラス基板、2・・・Ta−Al複合膜(アド
レス配ml)、3・・・陽極酸化膜、4・・・上部電極
(Crllll) 、5−・・画素電極(ITO膜)。
Claims (1)
- 金属膜−絶縁膜−金属膜からなる非線形抵抗素子および
これに接続された画素電極がマトリクス配列された駆動
回路基板と、この駆動回路基板により駆動される表示セ
ルとを備えた表示装置において、前記非線形抵抗素子は
、Ta−Al複合膜とその表面に形成された陽極酸化膜
、およびこの上に形成された上部電極膜により構成され
ていることを特徴とする表示装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1169651A JPH0335223A (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | 表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1169651A JPH0335223A (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | 表示装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0335223A true JPH0335223A (ja) | 1991-02-15 |
Family
ID=15890423
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1169651A Pending JPH0335223A (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | 表示装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0335223A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0636922A1 (en) * | 1993-02-10 | 1995-02-01 | Seiko Epson Corporation | Non-linear resistance element, method of its manufacture, and liquid crystal display |
US5719647A (en) * | 1994-11-08 | 1998-02-17 | Sharp Kabushiki Kaisha | Reflective type liquid crystal display apparatus having ESD protecting MIM beneath each reflective electrode |
-
1989
- 1989-06-30 JP JP1169651A patent/JPH0335223A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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