JPH0334346A - デバイスキャリア包囲容器 - Google Patents

デバイスキャリア包囲容器

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Publication number
JPH0334346A
JPH0334346A JP1168087A JP16808789A JPH0334346A JP H0334346 A JPH0334346 A JP H0334346A JP 1168087 A JP1168087 A JP 1168087A JP 16808789 A JP16808789 A JP 16808789A JP H0334346 A JPH0334346 A JP H0334346A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
device carrier
container
constituted
cap body
cap
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1168087A
Other languages
English (en)
Inventor
Tadashi Obikane
正 帯金
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Electron Ltd filed Critical Tokyo Electron Ltd
Priority to JP1168087A priority Critical patent/JPH0334346A/ja
Publication of JPH0334346A publication Critical patent/JPH0334346A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、デバイスキャリア包囲容器に関する。
(従来の技術) 一般に、半導体デバイスは精密写真転写技術笠を用いて
半導体ウェハ上に多数形成され、この後、個々の半導体
デバイスに切断されるが、このような半導体製造工程に
おいて、切断前(半導体ウェハの状態)の半導体デバイ
スおよび切断後の半導体デバイスは、樹脂等から容器状
あるいはトレー状に形成されこれらの半導体デバイスを
所定位置に複数収容可能に構成されたいわゆるデバイス
キャリア内に収容され、搬送される。
すなわち、一般に半導体製造工程では、工程間の搬送等
に上述したようなデバイスキャリアを用い、各工程では
、このデバイスキャリアから処理部にロード・アンロー
ドして各工程における処理を行う。
したがって、各工程の半導体処理装置は、デバイスキャ
リアから半導体ウェハ等を処理部にロード・アンロード
するオートローダ−を備えたものが多い。また、このよ
うなオートローダ−においては、半導体デバイスに塵埃
等が付着することを防止するため、デバイスキャリアを
包囲する如く覆うデバイスキャリア包囲容器を設けたも
のが多い。
例えば、切断前(半導体ウェハの状態)の半導体デバイ
スの電気的な特性の検査を行うプローブ装置においては
、通常、半導体ウェハをX−Y−2方向に移動させて、
この半導体ウェハ上に形成された半導体デバイスの電極
パッドをプローブカードの探針に接触させる測定ステー
ジ部の側方にオートローダ−が設けられている。そして
、このようなオートローダ−には、例えば端部に設けら
れた蝶つがい等により回動する如く開閉自在に構成され
、デバイスキャリアをロード・アンロードするための開
口部を形成する板状の蓋体等を備えたデバイスキャリア
包囲容器が設けられている。
(発明が解決しようとする課題) 上述したような半導体製造工程においては、周知のよう
に塵埃の存在が半導体デバイスの歩留りを低下させる大
きな要因となるため、従来からそのほとんどの工程はク
リーンルーム内で実施されている。また、近年では、半
導体デバイスの高集積化に伴い、クリーンルームにも、
例えばクラス10等の超クリーン化が要求されており、
その単位床面積当りのコストは非常に高価になっている
このため、上述したようなデバイスキャリア包囲容器に
おいても、設置面璋を縮小して省スペース化を実現する
ことが当然要求される。
本発明は、かかる従来の事情に対処してなされたもので
、従来に較べて設置面積を縮小することができ、省スペ
ース化を実現してスペースファクタの向上を図ることの
できるデバイスキャリア包囲容器を提供しようとするも
のである。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) すなわち本発明は、デバイスが収納されたデバイスキャ
リアを包囲する如く覆うデバイスキャリア包囲容器にお
いて、複数に分割され前記デバイスキャリアの上面を覆
う如く配列された蓋体が、順次重なる如くスライドする
ことによって前記デバイスキャリアのロード・アンロー
ド′相開口部を形成するよう構成されていることを特徴
とする。
(作 用) 上記構成の本発明のデバイスキャリア包囲容器では、複
数に分割されデバイスキャリアの上面を覆う如く配列さ
れた蓋体が、順次重なる如くスライドすることによって
デバイスキャリアのロード・アンロード用開口部を形成
するよう構成されている。
したがって、例えば装置の周囲に蓋体を開閉するための
スペース等を設ける必要がなく、従来に較べて設置面積
を縮小することができ、省スペース化を実現してスペー
スファクタの向上を図ることができる。
(実施例) 以下、本発明のデバイスキャリア包囲容器をプローブ装
置に適用した実施例を図面を参照して説明する。
第2図に示すように、プローブ装置1は、中央部に設け
られたオートローダ一部2と、このオートローダ一部2
の両側に設けられた測定ステージ部3 a s 3 b
とから構成されている。
上記測定ステージ部3a、3bには、例えば真空チャッ
ク等により、その上面に半導体ウェハ4を吸着保持し、
この半導体ウェハ4をx−y−z方向に移動させる測定
ステージ5が設けられている。また、測定ステージ5の
上方には、円形開口6が設けられており、この円形開口
6内には、多数の探針7を植設されたプローブカード8
が固定される。そして、71?1定ステージ5をx−y
−z方向に移動させることにより、この上面に保持され
た半導体ウェハ4上に形成された半導体デバイスの電極
パッドと探針7を順次接触させ、各半導体デバイスの電
気的な特性の検査を行うよう構成されている。
一方、上記オートローダ一部2は、第1図にも示すよう
に複数枚の半導体ウェハ4を収容可能に構成されたデバ
イスキャリア(ウェハカセット)9を複数収容可能に構
成されており、例えばこれらのデバイスキャリア9を上
下動させる機構、デバイスキャリア9からから半導体ウ
ェハ5を測定ステージ部3a、3bの測定ステージ5に
ロード・アンロードする搬送アーム(いずれも図示せず
)等からなるオートローダ−が設けられている。
また、このオートローダ一部2には、デバイスキャリア
9を包囲する如く覆うデバイスキャリア包囲容器10が
設けられている。このデバイスキャリア包囲容器10に
は、第1図に示す如くデバイスキャリア9の上部および
側部を覆う如く構成され、前後方向に複数に分割、例え
ば2つに分割された蓋体11a、llbが設けられてい
る。これらの蓋体11a、llbは、前後にスライド可
能に構成されており、蓋体11a、llbを後方にスラ
イドさせると、蓋体11bが蓋体11a内に収容される
如<蓋なった状態となるよう構成されている。また、前
部に配置された蓋体11aの前面には、例えば半透明な
アクリル系樹脂等からなる板状の前カバー12が設けら
れている。この前カバー12は、第1図に一点鎖線で示
すように、その上端部を軸として回転させる如く跳ね上
げ、蓋体11aの上部に挿入可能に構成されており、こ
の前カバー12を蓋体11a内に挿入した状態で、蓋体
11aと蓋体11bとが重なるように後部にスライドさ
せ、デバイスキャリア9のロード・アンロード用開口部
を形成するよう構成されている。
なお、上記蓋体11a、llbをスライドさせる機構に
は、ロック機構が設けられており、前カバー12を蓋体
11a内に挿入しないと蓋体11a、ilbが後方へス
ライドしないように、また、後部から前方へスライドさ
せる際には、蓋体11a、llbを所定位置まで前方へ
スライドさせた後でなければ前カバー12を引き出すこ
とができないよう構成され、前カバー12とデバイスキ
ャリア9および他の機械構成部品が干渉することを防止
することができるような構造となっている。
すなわち、例えばm3図に示すように、蓋体11aの両
側(第3図には片側のみ示す)には、長さ調節機構20
を有し、上下動可能とされたシャフト21が設けられて
おり、その上端部および下端部にはそれぞれベアリング
22.23が設けられている。また、下端部に設けられ
たベアリング23がM置される如く、蓋体11aのスラ
イド方向に沿ってガイドレール24が設けられており、
このガイドレール24には、蓋体11aが最前部の所定
位置に位置した時にベアリング23が落下しシャフト2
1が下降する如く溝25が形成されている。一方、前カ
バー12の側部には、前カバー12の蓋体11a上部へ
の挿入動作に伴って、シャフト21が上昇する如くこの
シャフト21上端部に設けられたベアリング22をガイ
ドするガイド満26が設けられている。
つまり、第3図(a)に示すように蓋体11aが最前部
の所定位置に位置し、ベアリング23が溝25内に落下
した状態では、蓋体11aは後方へスライドせず、第3
図(b)に示すように前カバー12を蓋体11aの上部
へ挿入し、ベアリング22がガイド溝26内に入りシャ
フト21が上昇した状態となって始めて蓋体11aが後
方へスライドできるように構成されている。なお、逆に
、ベアリング23が溝25内に落下可能な位置、すなわ
ちシャフト21が下降可能な位置でなければ、前カバー
12を蓋体11aの上部から引き出すこともできないよ
う構成されている。
さらに、162図に示すように、オートローダ−部2の
後部には、支柱31が設けられており、この支柱31に
は、支持アーム32を介して顕微鏡33が支持されてい
る。そして、所望によりこの顕微鏡33を測定ステージ
部3aおよび測定ステージ部3bのプローブカード8上
方へ配置し、この顕微v133の拡大像を目視しながら
、探針7と半導体ウェハ4上に形成された半導体デバイ
スの電極パッドとの初期位置合せ(ティーチング)等の
調整を行うことができるよう構成されている。
すなわち、上記構成のこの実施例では、デバイスキャリ
ア包囲容器10が、前カバー12を跳ね上げて蓋体11
a内に挿入し、蓋体11a、11bが重なるように、こ
れらの蓋体11a、llbを後部にスライドさせ、デバ
イスキャリア9のロード・アンロード用開口部を形成す
るよう構成されている。このため、例えばプローブ装置
1の周囲に蓋体を開閉するためのスペース等を設ける必
要がなく、従来に較べて設置面積を縮小することができ
る。したがって、単位床面積当りのコストの高いクリー
ンルーム内に設置する場合であっても、省スペース化を
実現してスペースの有効利用を図ることができる。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明のデバイスキャリア包囲容
器によれば、従来に較べて設置面積を縮小することがで
き、省スペース化を実現してスペースファクタの向上を
図ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の要部構成を示す図、第2図
は第1図の実施例の全体構成を示す図、第3図は第1図
の実施例のロック機構の動作を説明するための図である

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)デバイスが収納されたデバイスキャリアを包囲す
    る如く覆うデバイスキャリア包囲容器において、 複数に分割され前記デバイスキャリアの上面を覆う如く
    配列された蓋体が、順次重なる如くスライドすることに
    よって前記デバイスキャリアのロード・アンロード用開
    口部を形成するよう構成されていることを特徴とするデ
    バイスキャリア包囲容器。
JP1168087A 1989-06-29 1989-06-29 デバイスキャリア包囲容器 Pending JPH0334346A (ja)

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JP1168087A JPH0334346A (ja) 1989-06-29 1989-06-29 デバイスキャリア包囲容器

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JP1168087A JPH0334346A (ja) 1989-06-29 1989-06-29 デバイスキャリア包囲容器

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Publication Number Publication Date
JPH0334346A true JPH0334346A (ja) 1991-02-14

Family

ID=15861605

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JP1168087A Pending JPH0334346A (ja) 1989-06-29 1989-06-29 デバイスキャリア包囲容器

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60144542A (ja) * 1984-01-05 1985-07-30 Daifuku Co Ltd 搬送装置
JPS6258653A (ja) * 1985-09-09 1987-03-14 Toshiba Corp ウエハ・カセツト

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60144542A (ja) * 1984-01-05 1985-07-30 Daifuku Co Ltd 搬送装置
JPS6258653A (ja) * 1985-09-09 1987-03-14 Toshiba Corp ウエハ・カセツト

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