JPH0334127A - 記録装置 - Google Patents
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- JPH0334127A JPH0334127A JP2164341A JP16434190A JPH0334127A JP H0334127 A JPH0334127 A JP H0334127A JP 2164341 A JP2164341 A JP 2164341A JP 16434190 A JP16434190 A JP 16434190A JP H0334127 A JPH0334127 A JP H0334127A
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
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- G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
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- G11B7/013—Arrangement of the information on the record carrier, e.g. form of tracks, actual track shape, e.g. wobbled, or cross-section, e.g. v-shaped; Sequential information structures, e.g. sectoring or header formats within a track for discrete information, i.e. where each information unit is stored in a distinct discrete location, e.g. digital information formats within a data block or sector
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- G11B2220/25—Disc-shaped record carriers characterised in that the disc is based on a specific recording technology
- G11B2220/2537—Optical discs
- G11B2220/2545—CDs
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、第１の光学特性を有する記録区域と、これら
記録区域間に存在し第２の光学特性を有する中間区域と
から成る情報パターンを記録媒体に記録する記録装置で
あって、記録媒体を書込ビームで走査する手段、および
書込ビームの強度を特定のデユーティサイクルの２値信
号に従って走査位置において記録媒体の光学特性に変化
を生じさせない低書込強度と走査位置において記録媒体
に光学的に検出可能な変化を生じさせる高書込強度との
間で切換える変調手段を含む光学式書込手段と、形成さ
れた情報パターンを読取ビームで走査し走査された情報
パターンによって変調された読取ビームを発生させる手
段、および変調された読取ビームを対応する読取信号に
変換する放射感知検出器を含む光学式読取手段と、前記
読取信号から、記録区域の長さと中間区域の長さとの間
の平均比の、デユーティサイクルによって規定される最
適比からのずれを表わす解析信号を取出す解析性回路と
、前記書込強度を、解析信号に基づいて、記録区域の長
さと中間区域の長さとの間の比をデユーティサイクルに
よって規定される最適比にほぼ対応させるための値に設
定する手段とを具える記録装置に関するものである。
記録区域間に存在し第２の光学特性を有する中間区域と
から成る情報パターンを記録媒体に記録する記録装置で
あって、記録媒体を書込ビームで走査する手段、および
書込ビームの強度を特定のデユーティサイクルの２値信
号に従って走査位置において記録媒体の光学特性に変化
を生じさせない低書込強度と走査位置において記録媒体
に光学的に検出可能な変化を生じさせる高書込強度との
間で切換える変調手段を含む光学式書込手段と、形成さ
れた情報パターンを読取ビームで走査し走査された情報
パターンによって変調された読取ビームを発生させる手
段、および変調された読取ビームを対応する読取信号に
変換する放射感知検出器を含む光学式読取手段と、前記
読取信号から、記録区域の長さと中間区域の長さとの間
の平均比の、デユーティサイクルによって規定される最
適比からのずれを表わす解析信号を取出す解析性回路と
、前記書込強度を、解析信号に基づいて、記録区域の長
さと中間区域の長さとの間の比をデユーティサイクルに
よって規定される最適比にほぼ対応させるための値に設
定する手段とを具える記録装置に関するものである。
（従来の技術）
上述した型式の記録装置は米国特許第４２２５８７３号
明細書から既知である。従来の記録装置は平均デユーテ
ィサイクルが５０％の信号を記録するように構成されて
いる。２次高調波信号戊分の大きさは、記録区域の長さ
と中間区域の長さとの比のデユーティサイクルによって
規定される最適比からのずれの範囲を指示する。尚、こ
の場合デユーティサイクルによって規定される最適比は
１である。
明細書から既知である。従来の記録装置は平均デユーテ
ィサイクルが５０％の信号を記録するように構成されて
いる。２次高調波信号戊分の大きさは、記録区域の長さ
と中間区域の長さとの比のデユーティサイクルによって
規定される最適比からのずれの範囲を指示する。尚、こ
の場合デユーティサイクルによって規定される最適比は
１である。
検出された２次高調波の信号成分の大きさに基づいて書
込強度は、この信号成分が零になる値にセットされるよ
うに構成されている。
込強度は、この信号成分が零になる値にセットされるよ
うに構成されている。
（発明が解決しようとする課題）
このような書込強度制御の欠点は、記録領域に記録した
記録区域の幅が一定にならずしばしば変化してしまうこ
とであり、例えば加熱処理によって記録区域の幅が、記
録領域の終端部において先頭部よりも大きくなってしま
う。幅が変化する記録区域を有する情報パターンが読取
られると、幅の変化によって比較的大きな付加的な２次
高調波成分が生じてしまう。この付加的な高調波成分が
生ずるため、２次高調波信号成分の大きさを用いて書込
強度の制御を行なうことができなくなってしまう。
記録区域の幅が一定にならずしばしば変化してしまうこ
とであり、例えば加熱処理によって記録区域の幅が、記
録領域の終端部において先頭部よりも大きくなってしま
う。幅が変化する記録区域を有する情報パターンが読取
られると、幅の変化によって比較的大きな付加的な２次
高調波成分が生じてしまう。この付加的な高調波成分が
生ずるため、２次高調波信号成分の大きさを用いて書込
強度の制御を行なうことができなくなってしまう。
（発明の概要）
本発明の目的は、冒頭部で述べた型式の記録装置におい
て、書込区域の幅が変化しても書込強度を最適にするこ
とができる記録装置を提供するものである。この目的を
達成するため、本発明による記録装置は、前記解析回路
が、前記読取信号の最大値および最小値に対する読取信
号の直流成分の位置を決定すると共に、決定した位置が
デユーティサイクルによって規定される位置からずれて
いるか否かを指示する信号の形態の解析信号を発生させ
る手段を有することを特徴とする。本発明は、読取信号
中の正および負のピーク値に対する直流成分の位置が、
記録区域の長さと中間区域の長さとの比を表していると
いう認識に基づいている。さらに、この位置は記録区域
の幅の変化に対してほとんど影響を受けないことが見出
されている。
て、書込区域の幅が変化しても書込強度を最適にするこ
とができる記録装置を提供するものである。この目的を
達成するため、本発明による記録装置は、前記解析回路
が、前記読取信号の最大値および最小値に対する読取信
号の直流成分の位置を決定すると共に、決定した位置が
デユーティサイクルによって規定される位置からずれて
いるか否かを指示する信号の形態の解析信号を発生させ
る手段を有することを特徴とする。本発明は、読取信号
中の正および負のピーク値に対する直流成分の位置が、
記録区域の長さと中間区域の長さとの比を表していると
いう認識に基づいている。さらに、この位置は記録区域
の幅の変化に対してほとんど影響を受けないことが見出
されている。
構造的に簡単化した本発明の記録装置は、前記解析回路
が、読取信号の直流値と読取信号の最大値との間の第１
の差分値を決定する手段と、読取信号の最小値と直流値
との間の第２の差分値を決定する手段と、第１および第
２の差分値に基づいて解析信号を取り出す手段とを具え
ることを特徴とする。
が、読取信号の直流値と読取信号の最大値との間の第１
の差分値を決定する手段と、読取信号の最小値と直流値
との間の第２の差分値を決定する手段と、第１および第
２の差分値に基づいて解析信号を取り出す手段とを具え
ることを特徴とする。
さらに、別の実施例は、前記解析回路が、読取信号の直
流成分を除去するハイパスフィルタとハイパスフィルタ
によって濾波された読取信号の最大信号値を前記第２の
差分値として決定する第２ピーク検出器と、検出した最
大値と最小値との和がデユーティサイクルによって規定
される最適値に対応するか否かを指示する信号形態の解
析信号を発生する手段とを具えることを特徴とする。こ
の実施例では直流成分を除去した後食および正のピーク
値の和がこれらピーク値に対する直流成分の位置を表わ
すという事実を有効に利用できる。
流成分を除去するハイパスフィルタとハイパスフィルタ
によって濾波された読取信号の最大信号値を前記第２の
差分値として決定する第２ピーク検出器と、検出した最
大値と最小値との和がデユーティサイクルによって規定
される最適値に対応するか否かを指示する信号形態の解
析信号を発生する手段とを具えることを特徴とする。こ
の実施例では直流成分を除去した後食および正のピーク
値の和がこれらピーク値に対する直流成分の位置を表わ
すという事実を有効に利用できる。
本発明による記録装置の別の実施例は、前記解析回路が
、第１の差分値と第２の差分値との和と、第１の差分値
と第２の差分値との差との間の比が、デユーティサイク
ルによって規定される最適値にほぼ対応するか否かを指
示する信号形態の解析信号を発生するように適合してい
ることを特徴とする。この実施例は、記録媒体の平均反
射率の変化の影響および読取ビームの強度変化の影響が
除去される利点がある。この利点は、特に最適の書込強
度が、ピーク値の和と差との間の比が非零値となる場合
に重要である。このような場合として、例えばピーク値
の和と差との最適比が０．１にほぼ等しくなるよう設定
される標準ＥＦＭ信号を記録する場合がある。
、第１の差分値と第２の差分値との和と、第１の差分値
と第２の差分値との差との間の比が、デユーティサイク
ルによって規定される最適値にほぼ対応するか否かを指
示する信号形態の解析信号を発生するように適合してい
ることを特徴とする。この実施例は、記録媒体の平均反
射率の変化の影響および読取ビームの強度変化の影響が
除去される利点がある。この利点は、特に最適の書込強
度が、ピーク値の和と差との間の比が非零値となる場合
に重要である。このような場合として、例えばピーク値
の和と差との最適比が０．１にほぼ等しくなるよう設定
される標準ＥＦＭ信号を記録する場合がある。
本発明による記録装置の別の実施例は、第１のサブパタ
ーンと第２のサブパターンを有する情報パターンを形成
し、第２サブパターンの空間周波数を第１のサブパター
ンの空間周波数よりも低くすると共に第１サブパターン
の数を第２サブパターンの数よりも大きくし、これらサ
ブパターンの寸法を、情報パターンの読取中第１のサブ
パターンに対応する信号成分の振幅が第２サブパターン
に対応する信号成分の振幅よりも小さくなるように選択
したことを特徴とする。この実施例は、最適の書込強度
かられずかにずれるだけで直流成分の位置が比較的大き
く偏移する利点がある。ＥＦＭ信号を記録する場合、低
い空間周波数のサブパターンの数は比較的高い空間周波
数のサブパターンの数よりも少ないから、最適書込強度
は、標準ＥＦＭ信号を記録する際極めて高精度に決定す
ることができる。情報パターンの記録中、書込強度は、
例えば短い距離を以て書込ビームに後続する付加的な読
取ビームを発生させることにより調整できる。しかしな
がら、この調整方法は比較的複雑な技術を必要とする欠
点がある。
ーンと第２のサブパターンを有する情報パターンを形成
し、第２サブパターンの空間周波数を第１のサブパター
ンの空間周波数よりも低くすると共に第１サブパターン
の数を第２サブパターンの数よりも大きくし、これらサ
ブパターンの寸法を、情報パターンの読取中第１のサブ
パターンに対応する信号成分の振幅が第２サブパターン
に対応する信号成分の振幅よりも小さくなるように選択
したことを特徴とする。この実施例は、最適の書込強度
かられずかにずれるだけで直流成分の位置が比較的大き
く偏移する利点がある。ＥＦＭ信号を記録する場合、低
い空間周波数のサブパターンの数は比較的高い空間周波
数のサブパターンの数よりも少ないから、最適書込強度
は、標準ＥＦＭ信号を記録する際極めて高精度に決定す
ることができる。情報パターンの記録中、書込強度は、
例えば短い距離を以て書込ビームに後続する付加的な読
取ビームを発生させることにより調整できる。しかしな
がら、この調整方法は比較的複雑な技術を必要とする欠
点がある。
付加的な読取ビームを必要としない実施例は、２値のテ
スト信号を発生させる手段と、前記テスト信号に対応す
るテスト情報パターンを、記録媒体のアドレス可能な位
置に記録する制御手段とを具え、この制御手段を、テス
ト情報パターンが前記光学式読取装置によって読取られ
るように適合させ、前記書込強度を設定する手段を、°
テスト情報パターンの読取中に得た解析信号に基づいて
最適の書込強度を設定するように適合したことを特徴と
する。この実施例は、書込強度を実際の情報記録処理に
先立って別の調整処理において決定でき、情報パターン
を記録するために用いた光学式走査装置を用いて最適書
込強度を決定するためにも用いることができる利点があ
る。記録媒体にアドレス情報が予め形成されている場合
、最適の書込強度を決定するための情報パターンを記録
するために用いた領域に、最適の書込強度を決定するた
めに用いられていない領域を後続させることができる利
点がある。実際には、情報パターンが記録される間にア
ドレス情報が損傷を受けるおそれがあるため、アドレス
情報の正確な続出は保証されない。従って、アドレス情
報が変形した領域付近の領域を検索することは問題とな
る。
スト信号を発生させる手段と、前記テスト信号に対応す
るテスト情報パターンを、記録媒体のアドレス可能な位
置に記録する制御手段とを具え、この制御手段を、テス
ト情報パターンが前記光学式読取装置によって読取られ
るように適合させ、前記書込強度を設定する手段を、°
テスト情報パターンの読取中に得た解析信号に基づいて
最適の書込強度を設定するように適合したことを特徴と
する。この実施例は、書込強度を実際の情報記録処理に
先立って別の調整処理において決定でき、情報パターン
を記録するために用いた光学式走査装置を用いて最適書
込強度を決定するためにも用いることができる利点があ
る。記録媒体にアドレス情報が予め形成されている場合
、最適の書込強度を決定するための情報パターンを記録
するために用いた領域に、最適の書込強度を決定するた
めに用いられていない領域を後続させることができる利
点がある。実際には、情報パターンが記録される間にア
ドレス情報が損傷を受けるおそれがあるため、アドレス
情報の正確な続出は保証されない。従って、アドレス情
報が変形した領域付近の領域を検索することは問題とな
る。
以下、図面に基づいて本発明の詳細な説明する。
（実施例）
第１図は光学式記録装置を線図的に示す。この記録装置
はターンテーブルｌと駆動モータ２とを具え、ディスク
状記録媒体４を軸３を中心にして矢印５で示す方向に回
転させる。記録媒体４は放射感知記録層を有し、この記
録層は十分に高い強度の放射を照射すると例えば反射率
変化のような光学的に検出可能な変化を発生する。この
放射感知記録層は、例えば比較的高い強度のレーザビー
ムを照射することによって局部的に除去される金属薄膜
で構成することができる。或いは、この記録層は放射感
知性染料や放射光によって非晶質から結晶に変化でき、
結晶から非晶質に変化することができる位相変化材料の
ような別の材料で構成することもできる。光書込ヘッド
６を回転記録媒体に対向して配置する。光書込ヘッド６
は例えば固体レーザから成る放射源を有し、書込ビーム
１３を発生する。書込ビーム１３の強度Ｉは、通常の方
法により制御信号Ｖｓに従って変調することができる。
はターンテーブルｌと駆動モータ２とを具え、ディスク
状記録媒体４を軸３を中心にして矢印５で示す方向に回
転させる。記録媒体４は放射感知記録層を有し、この記
録層は十分に高い強度の放射を照射すると例えば反射率
変化のような光学的に検出可能な変化を発生する。この
放射感知記録層は、例えば比較的高い強度のレーザビー
ムを照射することによって局部的に除去される金属薄膜
で構成することができる。或いは、この記録層は放射感
知性染料や放射光によって非晶質から結晶に変化でき、
結晶から非晶質に変化することができる位相変化材料の
ような別の材料で構成することもできる。光書込ヘッド
６を回転記録媒体に対向して配置する。光書込ヘッド６
は例えば固体レーザから成る放射源を有し、書込ビーム
１３を発生する。書込ビーム１３の強度Ｉは、通常の方
法により制御信号Ｖｓに従って変調することができる。
制御信号Ｖｓおよび書込ビーム１３の対応する変化を第
２図に示す。書込ビーム１３の強度Ｉは書込強度Ｉｓと
強度Ｉｌとの間で変化し、書込強度Ｉｓは放射感知性記
録媒体の光学特性に検出可能な変化を生じさせる強度で
あり、強度１１は検出可能な変化を生じさせない強度で
ある。記録層を強度変調されたビーム１３で走査すると
、光学特性が変化した記録区域８から成る情報パターン
が記録層に形成され、この記録区域は光学性能が変化し
ていない中間区域ＩＩと交互に形成される。このように
して形成された情報パターンは読取ビームで走査するこ
とにより読み取ることができ、読取ビームは光学特性を
変化させない程度の低い一定の強度とする。走査中、記
録媒体で反射した読取ビームは走査された情報パターン
に基づいて変調される。読取ビームの変調状態は放射感
知検出器によって通常の方法で検出することができる。
２図に示す。書込ビーム１３の強度Ｉは書込強度Ｉｓと
強度Ｉｌとの間で変化し、書込強度Ｉｓは放射感知性記
録媒体の光学特性に検出可能な変化を生じさせる強度で
あり、強度１１は検出可能な変化を生じさせない強度で
ある。記録層を強度変調されたビーム１３で走査すると
、光学特性が変化した記録区域８から成る情報パターン
が記録層に形成され、この記録区域は光学性能が変化し
ていない中間区域ＩＩと交互に形成される。このように
して形成された情報パターンは読取ビームで走査するこ
とにより読み取ることができ、読取ビームは光学特性を
変化させない程度の低い一定の強度とする。走査中、記
録媒体で反射した読取ビームは走査された情報パターン
に基づいて変調される。読取ビームの変調状態は放射感
知検出器によって通常の方法で検出することができる。
この検出器からビーム変調を表わす読取信号Ｖｌを発生
する。読取信号も第２図に示す。読取信号ｖｌを、基準
レベル信号Ｖｒｅｆと比較することにより二値信号Ｖｄ
に再変換する。高い信頼性を以て変換するためには、読
取信号Ｖｌが基準レベルと交差する位置が十分に規定さ
れるように、すなわち読取信号の“ジッタ”が最小にな
るように構成することが望ましい。既知のように、光学
式記録における読取信号のジッタは、情報パターンが対
称の場合すなわち記録区域８の平均長が中間区域１１の
平均長に等しい場合に最小になる。ここで問題になるこ
とは、記録区域８の長さが書込強度Ｉｓに強く依存する
ことである。書込強度が強すぎると、記録区域は長くな
りすぎてしまい、書込強度が弱くなりすぎると記録区域
の長さは短くなりすぎてしまう。従って、書込強度を正
確に調整することが必要になる。最適の書込強度を決定
する通常の方法においては、５０％の平均デユーティサ
イクルを有する書込信号を記録し、書込強度を、読取信
号Ｖｌの２次歪みが最小となるように調整している。し
かしながら、例えば熱的な作用によって記録区域の幅が
一定せず例えば記録区域の後端部に向けて増大するよう
な場合においては上記方法を採用することができない。
する。読取信号も第２図に示す。読取信号ｖｌを、基準
レベル信号Ｖｒｅｆと比較することにより二値信号Ｖｄ
に再変換する。高い信頼性を以て変換するためには、読
取信号Ｖｌが基準レベルと交差する位置が十分に規定さ
れるように、すなわち読取信号の“ジッタ”が最小にな
るように構成することが望ましい。既知のように、光学
式記録における読取信号のジッタは、情報パターンが対
称の場合すなわち記録区域８の平均長が中間区域１１の
平均長に等しい場合に最小になる。ここで問題になるこ
とは、記録区域８の長さが書込強度Ｉｓに強く依存する
ことである。書込強度が強すぎると、記録区域は長くな
りすぎてしまい、書込強度が弱くなりすぎると記録区域
の長さは短くなりすぎてしまう。従って、書込強度を正
確に調整することが必要になる。最適の書込強度を決定
する通常の方法においては、５０％の平均デユーティサ
イクルを有する書込信号を記録し、書込強度を、読取信
号Ｖｌの２次歪みが最小となるように調整している。し
かしながら、例えば熱的な作用によって記録区域の幅が
一定せず例えば記録区域の後端部に向けて増大するよう
な場合においては上記方法を採用することができない。
区域幅が変化すると読取信号Ｖｌに別の歪みが生じてし
まう。この別の歪みが生ずると、書込強度Ｉｓの調整に
信頼性を害する別の２次高調波成分が生じてしまう。
まう。この別の歪みが生ずると、書込強度Ｉｓの調整に
信頼性を害する別の２次高調波成分が生じてしまう。
記録幅変化に対してほとんど影響を受けない最適の書込
強度決定方法を第３図に基づいて説明する。
強度決定方法を第３図に基づいて説明する。
第３ａ図〜第３ｃ図は書込強度Ｉｓが弱すぎる場合、最
適の場合および強すぎる場合における書込強度変化Ｉ、
記録区域８および中間区域１１の対応する情報パターン
、および読取信号Ｖｌをそれぞれ示す。
適の場合および強すぎる場合における書込強度変化Ｉ、
記録区域８および中間区域１１の対応する情報パターン
、および読取信号Ｖｌをそれぞれ示す。
第３図において、読取信号Ｖｌは最大レベルＡ１と最小
レベルＡ２との間で変化する。第３図から明らかなよう
に、書込強度が最適値の場合、読取信号ｖｌの直流レベ
ルＤＣは、レベルＡｌとＡ２との間のほぼ中間に位置す
る。書込強度が低すぎる場合、直流レベルＤＣはレベル
ＡｌとＡ２との間の中間レベルよりも上方に位置し、書
込レベルが高すぎる場合直流レベルＤＣは中間レベルよ
りも下側に位置する。
レベルＡ２との間で変化する。第３図から明らかなよう
に、書込強度が最適値の場合、読取信号ｖｌの直流レベ
ルＤＣは、レベルＡｌとＡ２との間のほぼ中間に位置す
る。書込強度が低すぎる場合、直流レベルＤＣはレベル
ＡｌとＡ２との間の中間レベルよりも上方に位置し、書
込レベルが高すぎる場合直流レベルＤＣは中間レベルよ
りも下側に位置する。
従って、最適の書込強度は、直流レベルＤＣがレベルＡ
１とＡ２との間のほぼ中間に位置するように書込強度を
調整することにより得ることができる。
１とＡ２との間のほぼ中間に位置するように書込強度を
調整することにより得ることができる。
上述した最適強度決定方法の改良を第４ａ図を参照して
説明する。この改良方法においては、最適強度を決定す
るため多数のサブパターン４０を有する情報パターンを
記録する。各サブパターンは、５０％のデユーティサイ
クルを有する書込信号によって記録した短い記録区域８
と短い中間区域１１を有している。さらに、この情報パ
ターンは、５０％のデユーティサイクルの書込信号を用
いて同様に記録した比較的長い記録区域８と中間区域１
１を有する第２のサブパターン４１も有している。サブ
パターン４０の数は、サブパターン４１の数よりも大き
くなるように選択する。第４ａ図は光学式読取装置を用
いて読取った場合の読取信号ｖｌを示す。
説明する。この改良方法においては、最適強度を決定す
るため多数のサブパターン４０を有する情報パターンを
記録する。各サブパターンは、５０％のデユーティサイ
クルを有する書込信号によって記録した短い記録区域８
と短い中間区域１１を有している。さらに、この情報パ
ターンは、５０％のデユーティサイクルの書込信号を用
いて同様に記録した比較的長い記録区域８と中間区域１
１を有する第２のサブパターン４１も有している。サブ
パターン４０の数は、サブパターン４１の数よりも大き
くなるように選択する。第４ａ図は光学式読取装置を用
いて読取った場合の読取信号ｖｌを示す。
サブパターン４０の寸法は、サブパターン４０に対応す
る読取信号Ｖｌの信号成分の振幅がサブパターン４１に
対応する信号成分の振幅よりも小さくなるように選択す
る。この設定は、この情報パターンの一次高調波だけが
光学式走査装置の光学的なカットオフ周波数以下の周波
数となるようにサブパターン４０の寸法を選択すること
により達成することができる。第２のサブパターンの寸
法は、この情報パターンの少なくとも１次高調波および
２次高調波が光学的なカットオフ周波数以下の周波数と
なるように選択する。この読取信号ｖｌの直流レベルＤ
Ｃは主としてサブパターン４０に対応する信号成分によ
って指示される。読取信号ｖｉの最大値と最小値との間
の差は、サブパターン４１に対応する値によって排他的
に指示される。書込パワー Ｉｓの変化は、サブパター
ン４１における記録区域８の長さと中間区域１１の長さ
との間の比に対するよりもサブパターン４０における比
に対して一層大きな作用を及ぼすから、直流レベルＤＣ
は、読取信号Ｖｉが情報パターンの全てのサブパターン
に対して同一な第３図に示す方法における書込レベル変
化より第４図に示す方法における書込レベルの変化に対
して一層影響を受は易い。すなわち、最適な書込パワー
は、第４ａ図に示す方法によって一層正確に決定するこ
とができる。
る読取信号Ｖｌの信号成分の振幅がサブパターン４１に
対応する信号成分の振幅よりも小さくなるように選択す
る。この設定は、この情報パターンの一次高調波だけが
光学式走査装置の光学的なカットオフ周波数以下の周波
数となるようにサブパターン４０の寸法を選択すること
により達成することができる。第２のサブパターンの寸
法は、この情報パターンの少なくとも１次高調波および
２次高調波が光学的なカットオフ周波数以下の周波数と
なるように選択する。この読取信号ｖｌの直流レベルＤ
Ｃは主としてサブパターン４０に対応する信号成分によ
って指示される。読取信号ｖｉの最大値と最小値との間
の差は、サブパターン４１に対応する値によって排他的
に指示される。書込パワー Ｉｓの変化は、サブパター
ン４１における記録区域８の長さと中間区域１１の長さ
との間の比に対するよりもサブパターン４０における比
に対して一層大きな作用を及ぼすから、直流レベルＤＣ
は、読取信号Ｖｉが情報パターンの全てのサブパターン
に対して同一な第３図に示す方法における書込レベル変
化より第４図に示す方法における書込レベルの変化に対
して一層影響を受は易い。すなわち、最適な書込パワー
は、第４ａ図に示す方法によって一層正確に決定するこ
とができる。
最適な書込強度で記録した第４ａ図に示す情報パターン
と共に、同様な情報パターンを第４ｂ図および第４Ｃ図
に示す。これら第４ｂ図および第４Ｃ図は低すぎる書込
レベルおよび高すぎる書込レベルで記録した情報パター
ンをそれぞれ示す。第４ｂ図および第４ｃ図から明らか
なように、最適な書込強度における直流レベルＤＣは読
取信号Ｖｌの最大信号値Ａ１と最小信号値Ａ２との間の
ほぼ中間に位置し、これらに対して書込レベルが低すぎ
る場合および高すぎる場合直流レベルＤＣは中間位置よ
りもそれぞれ上側および下側に位置する。第４図は、短
い区域（８および１１）から成る比較的多数のサブパタ
ーンと長い区域（８または１１）から戒る比較的少数の
サブパターンとを具える情報パターンだけを示す。極め
て好適なサブパターンは標準ＥＦＭ信号に対応するパタ
ーンである。このＥＦＭパターンは少なくとも３ビツト
（１３効果）および最高で１１ピツ） （１１１効果）
に対応する゛長さの区域を有している。
と共に、同様な情報パターンを第４ｂ図および第４Ｃ図
に示す。これら第４ｂ図および第４Ｃ図は低すぎる書込
レベルおよび高すぎる書込レベルで記録した情報パター
ンをそれぞれ示す。第４ｂ図および第４ｃ図から明らか
なように、最適な書込強度における直流レベルＤＣは読
取信号Ｖｌの最大信号値Ａ１と最小信号値Ａ２との間の
ほぼ中間に位置し、これらに対して書込レベルが低すぎ
る場合および高すぎる場合直流レベルＤＣは中間位置よ
りもそれぞれ上側および下側に位置する。第４図は、短
い区域（８および１１）から成る比較的多数のサブパタ
ーンと長い区域（８または１１）から戒る比較的少数の
サブパターンとを具える情報パターンだけを示す。極め
て好適なサブパターンは標準ＥＦＭ信号に対応するパタ
ーンである。このＥＦＭパターンは少なくとも３ビツト
（１３効果）および最高で１１ピツ） （１１１効果）
に対応する゛長さの区域を有している。
このＥＦＭパターンの全ての効果の約１７３は■３効果
・であり、全ての効果の４％だけが１１１効果となる。
・であり、全ての効果の４％だけが１１１効果となる。
ｉ３効果の寸法は、これら効果のうち基本部分だけが読
取装置の光学的カットオフ周波数以下になるように設定
する。Ｉｌｌ効果の寸法は、少なくとも１次、２次およ
び３次高調波が光学的カットオフ周波数以下になるよう
に設定する。
取装置の光学的カットオフ周波数以下になるように設定
する。Ｉｌｌ効果の寸法は、少なくとも１次、２次およ
び３次高調波が光学的カットオフ周波数以下になるよう
に設定する。
第５図は本発明による記録装置の第１実施例を示す。記
録装置は書込ビームＩ３を発生する第１の半導体レーザ
５１と読取ビーム５３を発生する第２の半導体レーザ５
２とを具える光ヘツド５０を具える。
録装置は書込ビームＩ３を発生する第１の半導体レーザ
５１と読取ビーム５３を発生する第２の半導体レーザ５
２とを具える光ヘツド５０を具える。
書込ビーム１３および読取ビーム５３は、対物レンズ５
４を有する光学系を介して記録媒体４に入射する。
４を有する光学系を介して記録媒体４に入射する。
この記録媒体は、矢印５５で示す方向に光ヘツド５゜を
通過する。この動作は通常の方法によって行われ、矢印
５５の方向に見て読取ビームは書込ビーム１３のスポッ
ト点よりわずかにずれて記録媒体４に入射する。この結
果、読取ビーム５３によって形成されるスポットは、書
込ビームが形成するスポットの経路に追従することにな
る。読取ビームおよび書込ビームの両方を形成する光学
系の詳細については米国特許第４．２５５．８７３号お
よび第４．４８８．２７７号明細書を参照されたい。
通過する。この動作は通常の方法によって行われ、矢印
５５の方向に見て読取ビームは書込ビーム１３のスポッ
ト点よりわずかにずれて記録媒体４に入射する。この結
果、読取ビーム５３によって形成されるスポットは、書
込ビームが形成するスポットの経路に追従することにな
る。読取ビームおよび書込ビームの両方を形成する光学
系の詳細については米国特許第４．２５５．８７３号お
よび第４．４８８．２７７号明細書を参照されたい。
書込ビーム１３の強度は、信号Ｖｓで指示される値をと
るように制御する。このため、本記録装置は、半導体レ
ーザ５１の背面側から発生し書込ビームの強度に比例す
る強度のビーム５７を検出するように配置した放射感知
ダイオード５６を有している。
るように制御する。このため、本記録装置は、半導体レ
ーザ５１の背面側から発生し書込ビームの強度に比例す
る強度のビーム５７を検出するように配置した放射感知
ダイオード５６を有している。
従って、放射感知ダイオード５６は検出した強度に比例
した信号電流を発生する。信号Ｖｓとこの信号電流を比
較回路５８において互いに比較する。比較結果を表わす
信号を制御可能な電流源５９に供給し、この電流源から
半導体レーザ５１用の制御電流を発生し、この制御電流
によりダイオード５６で発生した信号電流つまり書込ビ
ーム１３の強度が、書込信号Ｖｓによって指示される値
をとるように制御する。
した信号電流を発生する。信号Ｖｓとこの信号電流を比
較回路５８において互いに比較する。比較結果を表わす
信号を制御可能な電流源５９に供給し、この電流源から
半導体レーザ５１用の制御電流を発生し、この制御電流
によりダイオード５６で発生した信号電流つまり書込ビ
ーム１３の強度が、書込信号Ｖｓによって指示される値
をとるように制御する。
本記録装置は通常のＣＩＲＣ符号化回路６０およびＥＦ
Ｍ変調器６１から成るカスコード回路を具え、供給した
情報信号Ｖｉ ＠ＣＤ標準規準に従って変調されたＥＦ
Ｍ信号Ｖｅｆｍに変換する。信号Ｖｅｆｍを制御可能な
スイッチ６２の制御入力部に供給する。このスイッチは
制御入力部に供給される信号の論理値に応じて２個の入
力信号ｉｓまたはｉｆのうちの一方の信号をその出力部
に伝送する。スイッチ６２の出力部の信号は、信号Ｖｓ
として比較回路５８に供給する。信号ｉｓは書込強度【
Ｓを規定し、信号ｉｌは強度Ｉｆを規定する。信号Ｖｉ
を表す情報パターンは以下のようにして記録する。
Ｍ変調器６１から成るカスコード回路を具え、供給した
情報信号Ｖｉ ＠ＣＤ標準規準に従って変調されたＥＦ
Ｍ信号Ｖｅｆｍに変換する。信号Ｖｅｆｍを制御可能な
スイッチ６２の制御入力部に供給する。このスイッチは
制御入力部に供給される信号の論理値に応じて２個の入
力信号ｉｓまたはｉｆのうちの一方の信号をその出力部
に伝送する。スイッチ６２の出力部の信号は、信号Ｖｓ
として比較回路５８に供給する。信号ｉｓは書込強度【
Ｓを規定し、信号ｉｌは強度Ｉｆを規定する。信号Ｖｉ
を表す情報パターンは以下のようにして記録する。
ＣＩＲＣ符号化回路６０およびＥＦＭ変調器６１により
信号ＶｉをＩＥＦＭ変調された２値信号Ｖｅｆｍに変換
する。このＶｅｆｍ信号は、信号ｉｉおよびｉｓが交互
に比較回路５８に供給されるようにスイッチ６２を制御
する。この結果、書込ビームの強度は信号ｉｓによって
規定される書込強度Ｉｓと信号ｉｆ！によって規定され
る強度ｉｌとの間で切り換えられ、信号Ｖｅｆｍに対応
する情報パターンが記録媒体に記録されることになる。
信号ＶｉをＩＥＦＭ変調された２値信号Ｖｅｆｍに変換
する。このＶｅｆｍ信号は、信号ｉｉおよびｉｓが交互
に比較回路５８に供給されるようにスイッチ６２を制御
する。この結果、書込ビームの強度は信号ｉｓによって
規定される書込強度Ｉｓと信号ｉｆ！によって規定され
る強度ｉｌとの間で切り換えられ、信号Ｖｅｆｍに対応
する情報パターンが記録媒体に記録されることになる。
この情報記録を行った後、記録した情報パターンを読取
ビーム５３によって走“査する。読取ビームは記録媒体
４によって反射し、反射したビームは走査された情報パ
ターンに従って変調される。変調された読取ビームはハ
ーフミラ−６３を経て放射感知検出器６４に入射し、こ
の検出器からビーム変調を表す読取信号ｖｌを発生する
。読取信号ｖＩ！を解析回路６５に供給する。この解析
回路は、最適書込強度に対応する値から偏移した直流レ
ベルＤＣの範囲を表す信号Ｖａを発生する。この信号Ｖ
ａを積分回路６６に供給する。積分回路の出力信号Ｊｉ
を加算回路６７の入力部に供給する。一定強度に対応す
る信号ｊａを加算回路６７の他方の入力部に供給する。
ビーム５３によって走“査する。読取ビームは記録媒体
４によって反射し、反射したビームは走査された情報パ
ターンに従って変調される。変調された読取ビームはハ
ーフミラ−６３を経て放射感知検出器６４に入射し、こ
の検出器からビーム変調を表す読取信号ｖｌを発生する
。読取信号ｖＩ！を解析回路６５に供給する。この解析
回路は、最適書込強度に対応する値から偏移した直流レ
ベルＤＣの範囲を表す信号Ｖａを発生する。この信号Ｖ
ａを積分回路６６に供給する。積分回路の出力信号Ｊｉ
を加算回路６７の入力部に供給する。一定強度に対応す
る信号ｊａを加算回路６７の他方の入力部に供給する。
信号ｉｏとＡｉとの和を表す出力信号を信号ｉｓとして
スイッチ６２に供給する。第５図に・示す記録装置にお
いて書込強度Ｉｓが最適値からずれた場合、このずれは
非零値を有する解析信号Ｖａによって表わされることに
なる。
スイッチ６２に供給する。第５図に・示す記録装置にお
いて書込強度Ｉｓが最適値からずれた場合、このずれは
非零値を有する解析信号Ｖａによって表わされることに
なる。
この結果、積分回路６６の出力部の信号ｓｉが変化し、
書込強度は最適値に向けて制御されることになる。
書込強度は最適値に向けて制御されることになる。
この結果、書込強度【Ｓが最適の値をとるように連続的
に制御されることになる。
に制御されることになる。
第６図は解析回路６５の第１実施例を示す。この解析回
路は読取信号Ｖｆの直流レベルＤＣを決定するローパス
フィルタ７０を具える。解析回路６５は、さらに読取信
号ｖｌの最大値Ａ１を決定する正ピーク検出器７１およ
び読取信号Ｖｌの最小値Ａ２を決定する負ピーク検出器
７２も有している。これらピーク検出器７１および７２
の出力信号を加算回路７３の非反転入力部に供給し、ロ
ーパスフィルタ７０の出力信号を２倍の値に増幅した後
加算回路７３の反転入力部に供給する。この結果、解析
信号Ｖａを構成する加算回路はＶａ ＝ ＡＩ＋Ａ２−
２ＤＣとなり、最大信号値ＡＩと最小信号値Ａ２との間
の中央値からの直流値ＤＣの位置のずれの範囲を示す。
路は読取信号Ｖｆの直流レベルＤＣを決定するローパス
フィルタ７０を具える。解析回路６５は、さらに読取信
号ｖｌの最大値Ａ１を決定する正ピーク検出器７１およ
び読取信号Ｖｌの最小値Ａ２を決定する負ピーク検出器
７２も有している。これらピーク検出器７１および７２
の出力信号を加算回路７３の非反転入力部に供給し、ロ
ーパスフィルタ７０の出力信号を２倍の値に増幅した後
加算回路７３の反転入力部に供給する。この結果、解析
信号Ｖａを構成する加算回路はＶａ ＝ ＡＩ＋Ａ２−
２ＤＣとなり、最大信号値ＡＩと最小信号値Ａ２との間
の中央値からの直流値ＤＣの位置のずれの範囲を示す。
第７図は解析回路の別の実施例を示す。この解析回路は
比較器９０を具え、読取信号ｖｌおよび直流値ＤＣを表
す基準信号をそれぞれ非反転入力部および反転入力部に
供給する。比較器９０の出力信号は積分回路９１に供給
する。読取信号ｖＩ！はさらに正ピーク検出器９２およ
び負ピーク検出器９３に供給し、これらピーク検出器に
より読取信号Ｖｌの最大値および最小値をそれぞれ検出
し、それらの信号レベルを表す信号を％の利得因子を有
する加算回路９４に供給する。この結果、加算回路９４
の出力部の信号レベルは補正された読取信号ｖｉの最大
信号レベルと最小信号レベルの中間に位置する。
比較器９０を具え、読取信号ｖｌおよび直流値ＤＣを表
す基準信号をそれぞれ非反転入力部および反転入力部に
供給する。比較器９０の出力信号は積分回路９１に供給
する。読取信号ｖＩ！はさらに正ピーク検出器９２およ
び負ピーク検出器９３に供給し、これらピーク検出器に
より読取信号Ｖｌの最大値および最小値をそれぞれ検出
し、それらの信号レベルを表す信号を％の利得因子を有
する加算回路９４に供給する。この結果、加算回路９４
の出力部の信号レベルは補正された読取信号ｖｉの最大
信号レベルと最小信号レベルの中間に位置する。
加算回路９４の出力部の信号を差動増幅器９５の反転入
力部に供給し、直流値ＤＣを表す基準信号を積分回路９
１から差動増幅器９５の非反転入力部に供給する。差動
増幅器９５の出力信号は、この増幅器に入力する２個の
信号間の差を表し、解析信号Ｖａとして機能する。第７
図に示す解析回路は以下のように作動する。積分回路９
１から比較器９０の反転入力部に到るフィードバック回
路により、積分回路の出力部における基準信号は、比較
器９０の出力信号ｖＯが零になるようなレベルに調整さ
れ、積分器９１の出力部の信号は読取信号ｖｌの直流成
分のレベルを表す。従って、解析信号Ｖａは、読取信号
の最小レベルと最大レベルとの間の中央値からの直流レ
ベルの位置のずれの範囲を表すことになる。
力部に供給し、直流値ＤＣを表す基準信号を積分回路９
１から差動増幅器９５の非反転入力部に供給する。差動
増幅器９５の出力信号は、この増幅器に入力する２個の
信号間の差を表し、解析信号Ｖａとして機能する。第７
図に示す解析回路は以下のように作動する。積分回路９
１から比較器９０の反転入力部に到るフィードバック回
路により、積分回路の出力部における基準信号は、比較
器９０の出力信号ｖＯが零になるようなレベルに調整さ
れ、積分器９１の出力部の信号は読取信号ｖｌの直流成
分のレベルを表す。従って、解析信号Ｖａは、読取信号
の最小レベルと最大レベルとの間の中央値からの直流レ
ベルの位置のずれの範囲を表すことになる。
第８図は解析回路６５の第３の実施例を示す。この解析
回路は読取信号Ｖｆから直流成分を除去するハイパスフ
ィルタ８０を具える。直流成分か除去された信号ｖｌ′
を正ピーク検出器８１および負ピーク検出器８２に供給
する。正ピーク検出器８１の出力部の信号値Ａｌ’は信
号値ＡＩから直流値を減算した値に等しい。負ピーク検
出器８２の出力部の信号Ａｔ’ とＡ２’の和が決定さ
れ、減算回路８４により信号値Ａ２’は信号値Ａ２から
直流値を減算した値に等しい。加算回路８３により信号
Ａｔ’ とＡ２’ との間の差が決定される。除算回路
８５により、加算回路８３の出力部の信号値と減算回路
８４の出力部における信号値との商が決定される。この
値は以後の説明においてβとして称し、この値βも信号
値ＡＩとＡ２との間の中央値からの直流レベルＤＣのず
れの範囲を表す。値βを表す除算回路の出力信号は、同
様に解析信号Ｖａとして機能する。信号Ａｔ’とＡ２’
との間の差で除算する結果、半導体レーザ５３から発生
する放射の強度変化すなわち記録媒体の平均反射率の変
化が解析信号Ｖａの信号値にいかなる影響も及ぼすこと
はない。この利点は後述する。
回路は読取信号Ｖｆから直流成分を除去するハイパスフ
ィルタ８０を具える。直流成分か除去された信号ｖｌ′
を正ピーク検出器８１および負ピーク検出器８２に供給
する。正ピーク検出器８１の出力部の信号値Ａｌ’は信
号値ＡＩから直流値を減算した値に等しい。負ピーク検
出器８２の出力部の信号Ａｔ’ とＡ２’の和が決定さ
れ、減算回路８４により信号値Ａ２’は信号値Ａ２から
直流値を減算した値に等しい。加算回路８３により信号
Ａｔ’ とＡ２’ との間の差が決定される。除算回路
８５により、加算回路８３の出力部の信号値と減算回路
８４の出力部における信号値との商が決定される。この
値は以後の説明においてβとして称し、この値βも信号
値ＡＩとＡ２との間の中央値からの直流レベルＤＣのず
れの範囲を表す。値βを表す除算回路の出力信号は、同
様に解析信号Ｖａとして機能する。信号Ａｔ’とＡ２’
との間の差で除算する結果、半導体レーザ５３から発生
する放射の強度変化すなわち記録媒体の平均反射率の変
化が解析信号Ｖａの信号値にいかなる影響も及ぼすこと
はない。この利点は後述する。
ＥＦＭ信号の記録中書込強度は読取信号の最大値と最小
値との間の中央に正確に位置する直流レベルＤＣに対応
する値にセットされ満足する結果が得られるが、このセ
ツティングは正確に最適値にならないことが見出されて
いる。ＥＦＭ情報パターンが対称的な場合、値βは正確
に零とはならずｏ４程度になってしまう。この結果、高
い空間周波数のパターンに対応する読取信号における信
号成分の直流的影響は、低い空間周波数のパターンに対
応する信号成分の直流的影響よりも一層小さくなる。従
って、ＥＦＭ変調された信号を記録する場合に書込強度
を最適にするため、書込強度Ｉｓを、βがほぼ０．１に
等しくなる値に適切にセットする。
値との間の中央に正確に位置する直流レベルＤＣに対応
する値にセットされ満足する結果が得られるが、このセ
ツティングは正確に最適値にならないことが見出されて
いる。ＥＦＭ情報パターンが対称的な場合、値βは正確
に零とはならずｏ４程度になってしまう。この結果、高
い空間周波数のパターンに対応する読取信号における信
号成分の直流的影響は、低い空間周波数のパターンに対
応する信号成分の直流的影響よりも一層小さくなる。従
って、ＥＦＭ変調された信号を記録する場合に書込強度
を最適にするため、書込強度Ｉｓを、βがほぼ０．１に
等しくなる値に適切にセットする。
このβが非零値を有するようにセツティングを行なうた
めには強度変化の効果を除去することが極めて重要であ
る。この理由は、強度変化の影響を除去しないと正確な
調整が困難になるからである。
めには強度変化の効果を除去することが極めて重要であ
る。この理由は、強度変化の影響を除去しないと正確な
調整が困難になるからである。
上述した本発明による記録装置の実施例において、書込
強度は連続的に補正されている。この記録装置の欠点は
、上述した強度変化の影響を除去するため付加的な読取
ビームを発生させる必要があることであり、これは比較
的に困難な技術的課題である。この欠点を解消する別の
方法について説明する。この実施例において、最適の書
込強度は、情報信号Ｖｉを記録する前に別のセットアツ
プサイクルで決定する。このセットアツプサイクル中テ
スト情報パターンを記録媒体のアドレス可能な領域に別
の書込強度Ｉｓで記録する。次に、このテストパターン
を読み取り、この読取信号から取り出した解析信号Ｖａ
によりテスト情報パターンが最適の書込強度で記録され
ているか否かを決定し、情報信号Ｖｉの記録中書込強度
を検出したテスト情報パターンに対応する書込強度にセ
ットする。書込強度が上述した方法に従って決定される
記録装置の実施例を第９図に示す。第９図に示す記録装
置はモータの形態をした駆動手段１００とターンテーブ
ル１０１を具え、放射感知性記録媒体４′を軸１０２を
中心にして回転させる。この記録媒体は、サーボトラッ
クのトラック変調機構によってアドレス情報が記録され
る型式のものとする。この記録媒体４′は本願人のオラ
ンダ国特許出願Ａ−８８００１５１号、Ａ−８９００７
６６号及びＡ−８９０１１４５号に明瞭に記載されてい
る。上記オランダ国特許出願に記載されている記録媒体
は“ウオブリングサーボトラックを有し、このウオブリ
ング周波数を絶対時間コードＡＴｒＰを有する位置情報
信号に従って変調している。通常の型式の光学式読取／
書込ヘッド１０５を回転する記録媒体４′と対向して配
置し、例えばモータ１０３とスピンドル１０４の形態の
位置決め装置によって記録媒体４′に対してその径方向
に移動させる。所望の場合には、読取／書込ヘッド１０
５を用いて情報パターンの記録及び情報パターンの読取
の両方を行なうことができる。この動作を行なうため、
読取／書込ヘッド１０５は放射ビーム１０７ａを発生さ
せる半導体レーザを具え、そのビーム強度を制御回路１
０７によって制御する。
強度は連続的に補正されている。この記録装置の欠点は
、上述した強度変化の影響を除去するため付加的な読取
ビームを発生させる必要があることであり、これは比較
的に困難な技術的課題である。この欠点を解消する別の
方法について説明する。この実施例において、最適の書
込強度は、情報信号Ｖｉを記録する前に別のセットアツ
プサイクルで決定する。このセットアツプサイクル中テ
スト情報パターンを記録媒体のアドレス可能な領域に別
の書込強度Ｉｓで記録する。次に、このテストパターン
を読み取り、この読取信号から取り出した解析信号Ｖａ
によりテスト情報パターンが最適の書込強度で記録され
ているか否かを決定し、情報信号Ｖｉの記録中書込強度
を検出したテスト情報パターンに対応する書込強度にセ
ットする。書込強度が上述した方法に従って決定される
記録装置の実施例を第９図に示す。第９図に示す記録装
置はモータの形態をした駆動手段１００とターンテーブ
ル１０１を具え、放射感知性記録媒体４′を軸１０２を
中心にして回転させる。この記録媒体は、サーボトラッ
クのトラック変調機構によってアドレス情報が記録され
る型式のものとする。この記録媒体４′は本願人のオラ
ンダ国特許出願Ａ−８８００１５１号、Ａ−８９００７
６６号及びＡ−８９０１１４５号に明瞭に記載されてい
る。上記オランダ国特許出願に記載されている記録媒体
は“ウオブリングサーボトラックを有し、このウオブリ
ング周波数を絶対時間コードＡＴｒＰを有する位置情報
信号に従って変調している。通常の型式の光学式読取／
書込ヘッド１０５を回転する記録媒体４′と対向して配
置し、例えばモータ１０３とスピンドル１０４の形態の
位置決め装置によって記録媒体４′に対してその径方向
に移動させる。所望の場合には、読取／書込ヘッド１０
５を用いて情報パターンの記録及び情報パターンの読取
の両方を行なうことができる。この動作を行なうため、
読取／書込ヘッド１０５は放射ビーム１０７ａを発生さ
せる半導体レーザを具え、そのビーム強度を制御回路１
０７によって制御する。
既知の方法で放射ビーム１０７を記録媒体４′のサーボ
トラックに入射させる。ビーム１０７ａは記録媒体４′
によって部分的に反射し、反射ビームはトラックウオッ
プルに従って変調され、情報パターンが記録されている
場合にはこの情報パターンに従って変調される。反射ビ
ームは放射感知検出器２０８ａに入射し、この検出器か
らビーム変調に対応した読取信号ｖｌ″を発生する。読
取信号Ｖｌ’はトラックウオップルに発生し公称操作速
度における約２２ｋＨｚの周波数を有する信号成分を有
している。モ−タ１０３を制御するモータ制御回路１０
８によってモータ速度を適切に制御してトラックウオッ
プルによって読取信号ｖＩｌ”に生じた信号成分の周波
数をほぼ２２ｋＨ２に維持する。読取信号ｖｉ″は検出
回路１０９にも供給し、この検出回路においてトラック
ウオッフルによって読取信号Ｖｌ″に生じた信号成分か
ら時間コードＡＴＩＰを取り出しこれらのコードを例え
ばマイクロコンピュータで構成される処理装置１１０に
供給する。さらに、読取信号ｖ１″を増幅回路Ｕｔに供
給する。この増幅回路はバイパス特性を有し、トラック
ウオップルによって読取信号中に生じた信号成分を阻止
する。
トラックに入射させる。ビーム１０７ａは記録媒体４′
によって部分的に反射し、反射ビームはトラックウオッ
プルに従って変調され、情報パターンが記録されている
場合にはこの情報パターンに従って変調される。反射ビ
ームは放射感知検出器２０８ａに入射し、この検出器か
らビーム変調に対応した読取信号ｖｌ″を発生する。読
取信号Ｖｌ’はトラックウオップルに発生し公称操作速
度における約２２ｋＨｚの周波数を有する信号成分を有
している。モ−タ１０３を制御するモータ制御回路１０
８によってモータ速度を適切に制御してトラックウオッ
プルによって読取信号ｖＩｌ”に生じた信号成分の周波
数をほぼ２２ｋＨ２に維持する。読取信号ｖｉ″は検出
回路１０９にも供給し、この検出回路においてトラック
ウオッフルによって読取信号Ｖｌ″に生じた信号成分か
ら時間コードＡＴＩＰを取り出しこれらのコードを例え
ばマイクロコンピュータで構成される処理装置１１０に
供給する。さらに、読取信号ｖ１″を増幅回路Ｕｔに供
給する。この増幅回路はバイパス特性を有し、トラック
ウオップルによって読取信号中に生じた信号成分を阻止
する。
低周波数成分が除去された読取信号Ｖｆ’を、例えば第
８図に示す解析回路６５に供給する。解析回路６５の出
力部の信号をマイクロコンピュータにも供給する。この
記録装置は通常のＣＩＲＣ符号化回路１１２も具え、こ
の符号化回路にスイッチ１１５を介して記録すべき信号
Ｖｉを供給する。このスイッチ１１５はマイクロコンピ
ュータ１１０によって制御する。ＣＩＲＣ符号化回路１
１２に直列に通常のＥＦＭ変調器１１３を配置する。Ｅ
ＦＭ変調器の出力部を制御回路１０７に接続する。この
制御回路は制御可能な型式のものとし、マイクロコンピ
ユータ１１０に接続さて制御信号を受信する。マイクロ
コンピュータ１１０からの制御信号に応じて、制御回路
１０７は、発生したビーム１０７ａの強度を一定の低強
度！ｌにセットし又はＥＰＭ変調器１１３からのＢＦＭ
変調信号に従ってビーム強度を瓜しベルｉｌと書込レベ
ルＩｓとの間で切り換える。さらに、書込レベル！Ｓは
マイクロコンピュータ１１０で調整することができる。
８図に示す解析回路６５に供給する。解析回路６５の出
力部の信号をマイクロコンピュータにも供給する。この
記録装置は通常のＣＩＲＣ符号化回路１１２も具え、こ
の符号化回路にスイッチ１１５を介して記録すべき信号
Ｖｉを供給する。このスイッチ１１５はマイクロコンピ
ュータ１１０によって制御する。ＣＩＲＣ符号化回路１
１２に直列に通常のＥＦＭ変調器１１３を配置する。Ｅ
ＦＭ変調器の出力部を制御回路１０７に接続する。この
制御回路は制御可能な型式のものとし、マイクロコンピ
ユータ１１０に接続さて制御信号を受信する。マイクロ
コンピュータ１１０からの制御信号に応じて、制御回路
１０７は、発生したビーム１０７ａの強度を一定の低強
度！ｌにセットし又はＥＰＭ変調器１１３からのＢＦＭ
変調信号に従ってビーム強度を瓜しベルｉｌと書込レベ
ルＩｓとの間で切り換える。さらに、書込レベル！Ｓは
マイクロコンピュータ１１０で調整することができる。
第１Ｏ図は制御回路１０７の一例を示す。この制御回路
は半導体レーザ５１の強度を制御する第５図に示す回路
に極めて類似している。第１Ｏ図において、第５図に示
した素子と同一の素子には同一符号を付して説明する。
は半導体レーザ５１の強度を制御する第５図に示す回路
に極めて類似している。第１Ｏ図において、第５図に示
した素子と同一の素子には同一符号を付して説明する。
本例の制御回路１（）７は２人力型ＡＮＤゲート１１５
を有し、ＥＦＭ変調１１３から供給されるＥＦＭ変調信
号Ｖｅｆｍを一方の入力部に供給し、マイクロコンピュ
ータ１１０からの制御信号Ｌ／Ｓを他方の入力部に供給
する。制御信号Ｌ／Ｓが論理値“０”をとる場合ＡＮＤ
ゲーＨ１５の出力部の論理値も零になる。ＡＮＤゲー）
１１５の出力信号をスイッチ６２の制御入力部に供給す
る。このスイッチは、制御信号が論理値零の場合低強度
レベルＩｆに対応する信号Ｉｆを回路５８に供給するよ
うに構成され、この結果レーザ１０６で発生したビーム
１０７ａの強度は低レベル値【ｌにセットされる。制御
信号Ｌ／Ｓの論理値が“１′″の場合、アンドゲート１
１５の出力部の論理値は信号ＥＦＭに従って変化し、こ
の結果ビ−ム１０７ａの強度は信号Ｖｅｆｍに従って書
込強度Ｉｓと強度１１との間で交互に変化する。テスト
情報パターンを発生させるため、第９図に示す記録装置
は信号器１１を具え、この信号発生器から例えば任意の
デジタル信号を発生し又は零のデジタル信号値に対応す
る信号を発生する。信号発生器１１４から発生した信号
をスイッチ１１５を経てＣｒＲＣ符号化回路１１２に供
給する。スイッチ１１５は、マイクロコンピュータ１１
０からの制御信号に基いて記録すべき信号Ｖｉ又は信号
発生器１１４の出力信号を伝送する通常の型式のものと
する。
を有し、ＥＦＭ変調１１３から供給されるＥＦＭ変調信
号Ｖｅｆｍを一方の入力部に供給し、マイクロコンピュ
ータ１１０からの制御信号Ｌ／Ｓを他方の入力部に供給
する。制御信号Ｌ／Ｓが論理値“０”をとる場合ＡＮＤ
ゲーＨ１５の出力部の論理値も零になる。ＡＮＤゲー）
１１５の出力信号をスイッチ６２の制御入力部に供給す
る。このスイッチは、制御信号が論理値零の場合低強度
レベルＩｆに対応する信号Ｉｆを回路５８に供給するよ
うに構成され、この結果レーザ１０６で発生したビーム
１０７ａの強度は低レベル値【ｌにセットされる。制御
信号Ｌ／Ｓの論理値が“１′″の場合、アンドゲート１
１５の出力部の論理値は信号ＥＦＭに従って変化し、こ
の結果ビ−ム１０７ａの強度は信号Ｖｅｆｍに従って書
込強度Ｉｓと強度１１との間で交互に変化する。テスト
情報パターンを発生させるため、第９図に示す記録装置
は信号器１１を具え、この信号発生器から例えば任意の
デジタル信号を発生し又は零のデジタル信号値に対応す
る信号を発生する。信号発生器１１４から発生した信号
をスイッチ１１５を経てＣｒＲＣ符号化回路１１２に供
給する。スイッチ１１５は、マイクロコンピュータ１１
０からの制御信号に基いて記録すべき信号Ｖｉ又は信号
発生器１１４の出力信号を伝送する通常の型式のものと
する。
上述したように、テスト情報パターンは記録媒体４′の
アドレス可能な位置に記録するのが好ましい。記録媒体
４′が前述したオランダ国特許出願に記載されているよ
うに構成されている場合、すなわちサーボトラックが、
内容の一時的な表（Ｔｅ＋ｎｐｏｒａｒｙ ＴＯＣ）を
記録する区域（ＰＭＡ）、内容の有限の表を記録する区
域（Ｌｅａｄ Ｉｎ Ａｒｅａ）及びプログラム区域（
Ｐａ）にこの順序で分割されている場谷、テスト情報パ
ターンを内容の一時的な表を記録する域（ＰＭＡ）に後
続する区域（ＰＣＡ）に記録するのが好ましい。第１１
図にサーボトドラック１１６の構成を示す。さらに、第
１１図は分、秒及びフレームで表示した絶対時間コード
ＡＴＩＰによって指示した種々の区域に対するスタート
位置を示す。例えば、プログラム区域の開始時に対する
全体時間コードＡＴＩＰをｏ、 ｏｏ、 ｏｏとする。
アドレス可能な位置に記録するのが好ましい。記録媒体
４′が前述したオランダ国特許出願に記載されているよ
うに構成されている場合、すなわちサーボトラックが、
内容の一時的な表（Ｔｅ＋ｎｐｏｒａｒｙ ＴＯＣ）を
記録する区域（ＰＭＡ）、内容の有限の表を記録する区
域（Ｌｅａｄ Ｉｎ Ａｒｅａ）及びプログラム区域（
Ｐａ）にこの順序で分割されている場谷、テスト情報パ
ターンを内容の一時的な表を記録する域（ＰＭＡ）に後
続する区域（ＰＣＡ）に記録するのが好ましい。第１１
図にサーボトドラック１１６の構成を示す。さらに、第
１１図は分、秒及びフレームで表示した絶対時間コード
ＡＴＩＰによって指示した種々の区域に対するスタート
位置を示す。例えば、プログラム区域の開始時に対する
全体時間コードＡＴＩＰをｏ、 ｏｏ、 ｏｏとする。
リードイン区域の開始時における絶対時間コードＡＴＩ
ＰをＴＬＩＡで表示する。区域ＰＭＡの開始時における
絶対時間コードＡＴＩＰをＴＬＩＡ −０，１３，１５
に等しくし、区域ＰＣＡの開始時はＴＬＩＡ −０，３
４，００に等しい全体時間コードとする。各絶対時間コ
ードＡＴｒＰは、ｌフサームに対応する長さを有するサ
ーボトラック部分を指示する。従って、区域ＰＣＡにお
いて、テストパターンを記録するために１５６０フレー
ムが有用になる。１５フレームに対応する区域は最適書
込み強度を決定するのに十分に長いから、区域ＰＣＡの
全長はセットアツプサイクルを１００回実６するのに十
分な長さである。この記録媒体を用いて、標準ＣＤ信号
を記録する場合、この数は、記録すべき各情報信号につ
いて１回セットアツプサイクルを実行するのに十分であ
る。この理由は、ＣＤ標準規格によれば、種々の情報信
号（トラック）の最大数が１００であるからである。好
ましくは、１００個の異なる情報信号（トラック）の各
々について、１５フレームの長さ（単に１５フレーム■
域と称する）の長さを有する予め定めたセクションをＰ
ＣＡ区域に用意する。
ＰをＴＬＩＡで表示する。区域ＰＭＡの開始時における
絶対時間コードＡＴＩＰをＴＬＩＡ −０，１３，１５
に等しくし、区域ＰＣＡの開始時はＴＬＩＡ −０，３
４，００に等しい全体時間コードとする。各絶対時間コ
ードＡＴｒＰは、ｌフサームに対応する長さを有するサ
ーボトラック部分を指示する。従って、区域ＰＣＡにお
いて、テストパターンを記録するために１５６０フレー
ムが有用になる。１５フレームに対応する区域は最適書
込み強度を決定するのに十分に長いから、区域ＰＣＡの
全長はセットアツプサイクルを１００回実６するのに十
分な長さである。この記録媒体を用いて、標準ＣＤ信号
を記録する場合、この数は、記録すべき各情報信号につ
いて１回セットアツプサイクルを実行するのに十分であ
る。この理由は、ＣＤ標準規格によれば、種々の情報信
号（トラック）の最大数が１００であるからである。好
ましくは、１００個の異なる情報信号（トラック）の各
々について、１５フレームの長さ（単に１５フレーム■
域と称する）の長さを有する予め定めたセクションをＰ
ＣＡ区域に用意する。
テスト情報パターンが常時記録されている区域のＡＴＩ
Ｐコードを読出すことが常に保証されていないから、１
５フレ一ム区域が用いられている順序は後側から前側に
向けて並らび、すなわち用いられるべき最初の１５フレ
ームがＰＣＡ区域の端部（すなわち、ＰＭＡ区域の境界
部近傍）に位置する。一連の数ｎを有する情報信号列（
トラック）を内容の一時的な表に記録する場合、ＰＣＡ
区域の端部の前側のｎ個の１５フレ一ム区域に位置する
ｌＳフレーム区域を用いる。このように構成すれば、光
学的書込強度を決定するために用いた区域に、情報パタ
ーンが未だ記録されていない比較的大きな区域が後続す
ることになる。これは極めて有益である。
Ｐコードを読出すことが常に保証されていないから、１
５フレ一ム区域が用いられている順序は後側から前側に
向けて並らび、すなわち用いられるべき最初の１５フレ
ームがＰＣＡ区域の端部（すなわち、ＰＭＡ区域の境界
部近傍）に位置する。一連の数ｎを有する情報信号列（
トラック）を内容の一時的な表に記録する場合、ＰＣＡ
区域の端部の前側のｎ個の１５フレ一ム区域に位置する
ｌＳフレーム区域を用いる。このように構成すれば、光
学的書込強度を決定するために用いた区域に、情報パタ
ーンが未だ記録されていない比較的大きな区域が後続す
ることになる。これは極めて有益である。
すなわち、用いるべき１５フレ一ム区域の先頭を決定す
るための絶対時間コードＡＴＩＰを正確に読取ることが
必要であるが、情報パターンが常時記録されているサー
ボトラック部分において絶対時間コードＡＴＩＰを正確
に読出すことができないためである。最適の書込強度は
以下のように決定することができる。新しい情報信号を
記録する前にすでに記録されている情報信号（トラック
）の数をＰＭＡ区域の一時的表のデータを用いて決定す
る。この数を、テスト情報パターンを記録するための１
５フレ一ム区域のアドレスから取り出す。次に、テスト
情報パターン、好ましくは例えばＥＦＭ信号に対応する
パターンのような第４図に示すテストパターン又は同様
なテストパターンを、多数の異なる書込設定条件で特定
したアドレスの１５フレ一ム区域に記録する。この後、
記録したテスト情報パターンを読み出し解析信号Ｖａを
用いてどの部分のテスト情報パターンが最適か否かを決
定する。次に最適のテスト情報パターンを記録した書込
強度に対応する書込強度で情報信号を記録する。
るための絶対時間コードＡＴＩＰを正確に読取ることが
必要であるが、情報パターンが常時記録されているサー
ボトラック部分において絶対時間コードＡＴＩＰを正確
に読出すことができないためである。最適の書込強度は
以下のように決定することができる。新しい情報信号を
記録する前にすでに記録されている情報信号（トラック
）の数をＰＭＡ区域の一時的表のデータを用いて決定す
る。この数を、テスト情報パターンを記録するための１
５フレ一ム区域のアドレスから取り出す。次に、テスト
情報パターン、好ましくは例えばＥＦＭ信号に対応する
パターンのような第４図に示すテストパターン又は同様
なテストパターンを、多数の異なる書込設定条件で特定
したアドレスの１５フレ一ム区域に記録する。この後、
記録したテスト情報パターンを読み出し解析信号Ｖａを
用いてどの部分のテスト情報パターンが最適か否かを決
定する。次に最適のテスト情報パターンを記録した書込
強度に対応する書込強度で情報信号を記録する。
適切な制御プログラムを用いてマイクロコンピュータ１
１０をロードしセットアツプサイクルを実行する。第１
２図はこのプログラムのフローチャートの一例を示す。
１０をロードしセットアツプサイクルを実行する。第１
２図はこのプログラムのフローチャートの一例を示す。
このプログラムのステップＳ１において、マイクロコン
ピュータ１１０の制御のもとで読取／書込ヘッド１０５
を記録媒体のＰＭＡ区域に位置決めする。このアドレシ
ングは検出回路１０９によって検出した読取信号ｖｉ″
の絶対時間コードＡＴＩＰにより実行する。ステップＳ
２において、ＰＭ区域から一時的表の内容を読み出し、
テスト情報パターンを記録するために用いるべき１５フ
レームのアドレスを、−時的な表に以前に記録した情報
信号の数に関する情報から取り出す。ステップＳ３にお
いて、マイクロコンピュータ１１０の制御のもとで上記
アドレスの１５フレ一ム区域の位置を突止める。ステッ
プＳ４において、ヘッドをこの区域に到達させ書込強度
Ｉｓを初期値Ｉｏに設定する。好ましくは、記録媒体に
対する初期値１ｏを、前述した本願人のオランダ国特許
出願Ａ−８９０１１４５に記録されている方法で記録媒
体に予備記録する。この値はセットアツプサイクルに先
立って読取ることができる。さらに、マイクロコンピュ
ータ１１０の制御のもとで、信号発生器１１４を制御可
能スイッチ１１５によりＣＩＲＣ符号化回路１１２に接
続し、信号発生器からの出力信号によって決定したＢＦ
Ｍ変調されたテスト信号をＥＦＭ変調器１１３から発生
させる。
ピュータ１１０の制御のもとで読取／書込ヘッド１０５
を記録媒体のＰＭＡ区域に位置決めする。このアドレシ
ングは検出回路１０９によって検出した読取信号ｖｉ″
の絶対時間コードＡＴＩＰにより実行する。ステップＳ
２において、ＰＭ区域から一時的表の内容を読み出し、
テスト情報パターンを記録するために用いるべき１５フ
レームのアドレスを、−時的な表に以前に記録した情報
信号の数に関する情報から取り出す。ステップＳ３にお
いて、マイクロコンピュータ１１０の制御のもとで上記
アドレスの１５フレ一ム区域の位置を突止める。ステッ
プＳ４において、ヘッドをこの区域に到達させ書込強度
Ｉｓを初期値Ｉｏに設定する。好ましくは、記録媒体に
対する初期値１ｏを、前述した本願人のオランダ国特許
出願Ａ−８９０１１４５に記録されている方法で記録媒
体に予備記録する。この値はセットアツプサイクルに先
立って読取ることができる。さらに、マイクロコンピュ
ータ１１０の制御のもとで、信号発生器１１４を制御可
能スイッチ１１５によりＣＩＲＣ符号化回路１１２に接
続し、信号発生器からの出力信号によって決定したＢＦ
Ｍ変調されたテスト信号をＥＦＭ変調器１１３から発生
させる。
ステップＳ５において、制御信号Ｓ／Ｌにより制御回路
１０７を適切に設定し、ＥＦＭ変調器１１３の出力部の
ＥＦＭ変調信号Ｖｅｆｍに基いてビーム１０７ａを書込
強度【Ｓの設定値と強度Ｉｌとの間で切換え、この結果
ＥＦＭ信号に対応するテスト情報パターンが記録される
。ステップＳ６において、検出回路１０９によって検出
された絶対値時間コードＡＴＩＰをマイクロコンピュー
タ１１０により読出す。ステップＳ７において、この絶
対時間コードが、以前に読出した絶対時間コードと相異
しているか否かを確認する。
１０７を適切に設定し、ＥＦＭ変調器１１３の出力部の
ＥＦＭ変調信号Ｖｅｆｍに基いてビーム１０７ａを書込
強度【Ｓの設定値と強度Ｉｌとの間で切換え、この結果
ＥＦＭ信号に対応するテスト情報パターンが記録される
。ステップＳ６において、検出回路１０９によって検出
された絶対値時間コードＡＴＩＰをマイクロコンピュー
タ１１０により読出す。ステップＳ７において、この絶
対時間コードが、以前に読出した絶対時間コードと相異
しているか否かを確認する。
相異していない場合ステップＳ６を繰り返す。相異して
いる場合ステップ８において読出した絶対時間コードが
１５フレ一ム区域の端部を指示しているか否かをテスト
する。端部を指示していない場合ステップＳ９を実行す
る。ステップＳ９において書込強度Ｉｓを微小量Δ■だ
け増加させ、その後ステップＳ６に戻る。ステップＳ８
において１５フレ一ム区域の端部に到達していることを
確認しした場合、ステツプ１０を実行する。このステッ
プ１０において制御信号Ｓ／Ｌによりビーム１０７の強
度がレベルＩｊ７の一定値に維持されるように制御回路
１０７を設定する。ステツプＳ１２において、上記１５
フレ一ム区域の先頭部を検索し、この区域を読出す。ス
テップＳ１２において、マイクロコンピュータ１１０に
よって解析信号Ｖａ続出す。ステップＳ１３において、
解析信号Ｖａの値が最適の書込強度に対応しているか否
かをチエツクする。最適強度に対応していない場合プロ
グラムをステップＳ１２に戻す。一方最適強度に対応し
ている場合、ステップＳ１４において検出回路１０９に
よって検出した絶対時間コードを読出す。次に、ステッ
プＳ１５において、ステップＳ１４において読取った絶
対時間コードに対応する最適書込強度を演算する。この
演算は、例えば最後に読出した絶対時間コードと１５フ
レ一ム区域の先頭に対応する絶対時間コードとの間の差
を決定することにより実行できる。この差を利用するこ
とにより、テスト情報パターンの記録中に最後に読出し
た絶対時間コードＡＴＩＰに到達する前に初期値ｉｏを
微小量ΔＩで何回増分させるかを決定できる。この増分
回数及び初期値ＩＯは最適書込エボルギー１０ｐｔを規
定する。最後に、ステップＳ１６において書込強度Ｉｓ
を最適値ｒｏｐｔに設定する。
いる場合ステップ８において読出した絶対時間コードが
１５フレ一ム区域の端部を指示しているか否かをテスト
する。端部を指示していない場合ステップＳ９を実行す
る。ステップＳ９において書込強度Ｉｓを微小量Δ■だ
け増加させ、その後ステップＳ６に戻る。ステップＳ８
において１５フレ一ム区域の端部に到達していることを
確認しした場合、ステツプ１０を実行する。このステッ
プ１０において制御信号Ｓ／Ｌによりビーム１０７の強
度がレベルＩｊ７の一定値に維持されるように制御回路
１０７を設定する。ステツプＳ１２において、上記１５
フレ一ム区域の先頭部を検索し、この区域を読出す。ス
テップＳ１２において、マイクロコンピュータ１１０に
よって解析信号Ｖａ続出す。ステップＳ１３において、
解析信号Ｖａの値が最適の書込強度に対応しているか否
かをチエツクする。最適強度に対応していない場合プロ
グラムをステップＳ１２に戻す。一方最適強度に対応し
ている場合、ステップＳ１４において検出回路１０９に
よって検出した絶対時間コードを読出す。次に、ステッ
プＳ１５において、ステップＳ１４において読取った絶
対時間コードに対応する最適書込強度を演算する。この
演算は、例えば最後に読出した絶対時間コードと１５フ
レ一ム区域の先頭に対応する絶対時間コードとの間の差
を決定することにより実行できる。この差を利用するこ
とにより、テスト情報パターンの記録中に最後に読出し
た絶対時間コードＡＴＩＰに到達する前に初期値ｉｏを
微小量ΔＩで何回増分させるかを決定できる。この増分
回数及び初期値ＩＯは最適書込エボルギー１０ｐｔを規
定する。最後に、ステップＳ１６において書込強度Ｉｓ
を最適値ｒｏｐｔに設定する。
上述した解析回路６５の全ての実施例は、読取信号中の
直流レベルＤＣの最適レベルからのずれの大きさ及び符
号の両方を特定する解析信号を発生する。しかしながら
、第９図に示す記録装置の実施例の場合この解析信号を
発生させる必要はない。
直流レベルＤＣの最適レベルからのずれの大きさ及び符
号の両方を特定する解析信号を発生する。しかしながら
、第９図に示す記録装置の実施例の場合この解析信号を
発生させる必要はない。
この記録装置においては、直流レベルＤＣの位置が最適
レベルを中心にして特定の微小範囲内に位置するか否か
を指示する論理信号を発生する形態の解析回路６７を用
いるのが適切である。このような論理信号を解析信号Ｖ
ａとして発生する実施例を第１３図に示す。本例では、
フィルタ回路１１１によって直流成分が除去された読取
信号ｖＩ！’を正ピーク検出器１３０及び負ピーク検出
器１３１に供給し、これらピーク検出器によって読取信
号ｖｌ′中の最大信号値（ＡＩ’ ）及び最小信号値（
Ａ２’ ）を決定する。最大値ＡＩ’及び最小値Ａ２’
を表わすピーク検出器１３０及び１３１の出力信号を
計算回路１３２に供給し、この計算回路からＡｔ’
とＡ２’ との和の値を表わす信号及びＡＩ’ とＡ
２’ との差の１／１０の値を表わす信号をそれぞれ発
生する。計算回路１３２からの２個の出力信号を、例え
ば集積回路ＬＭ３１１で構成されるウィンド比較回路１
３３に供給する。
レベルを中心にして特定の微小範囲内に位置するか否か
を指示する論理信号を発生する形態の解析回路６７を用
いるのが適切である。このような論理信号を解析信号Ｖ
ａとして発生する実施例を第１３図に示す。本例では、
フィルタ回路１１１によって直流成分が除去された読取
信号ｖＩ！’を正ピーク検出器１３０及び負ピーク検出
器１３１に供給し、これらピーク検出器によって読取信
号ｖｌ′中の最大信号値（ＡＩ’ ）及び最小信号値（
Ａ２’ ）を決定する。最大値ＡＩ’及び最小値Ａ２’
を表わすピーク検出器１３０及び１３１の出力信号を
計算回路１３２に供給し、この計算回路からＡｔ’
とＡ２’ との和の値を表わす信号及びＡＩ’ とＡ
２’ との差の１／１０の値を表わす信号をそれぞれ発
生する。計算回路１３２からの２個の出力信号を、例え
ば集積回路ＬＭ３１１で構成されるウィンド比較回路１
３３に供給する。
このウィンド比較回路１１３は、（ＡＩ’ ＋ Ａ２”
） −ｏ、１ （Ａｒ’ −Ａ２’ ）の絶対値がΣに
等しいか又はそれ以下の場合論理値“ｌ”信号を排他的
に発生する。ここで、Σは零よりも大きい微小値とする
。
） −ｏ、１ （Ａｒ’ −Ａ２’ ）の絶対値がΣに
等しいか又はそれ以下の場合論理値“ｌ”信号を排他的
に発生する。ここで、Σは零よりも大きい微小値とする
。
Σの値は、β＝（ＡＩ’ ＋ Ａ２’ ）／（ＡＩ’
−Ａ２’ ）が０．０９と０．１１との間の値となる場
合に論理値“１”信号が発生るように選択する。同様に
、ウィンド比較回路１３３の出力部の論理信号は解析信
号Ｖａとして作用する。
−Ａ２’ ）が０．０９と０．１１との間の値となる場
合に論理値“１”信号が発生るように選択する。同様に
、ウィンド比較回路１３３の出力部の論理信号は解析信
号Ｖａとして作用する。
第１図は一般的な光学式記録装置の構成を示す線図、
第２図は記録の放射ビームの強度変化、関連する情報パ
ターン及び情報パターンを読み取ったときに生ずる読取
信号を示す線図、 第３図及び第４図は本発明を明確にするための読取った
情報パターンと関連する読取信号との関係を示すグラフ
、 第５図は本発明による記録装置の実施例を示す線図、 第６図〜第８図は本発明の記録装置に用いる解析回路の
構成を示す回路図、 第９図は本発明による記録装置の別の実施例の構成を示
す線図、 第１０図は放射ビームの書込強度を制御する制御回路の
構成を示す回路図、 第１１図はアドレス情報が形成されている記録媒体の構
成を示す線図、 ゛第１２図は第９図に示す記録装置を制御する計算プロ
グラムを示すフローチャート図、 第１３図は解析回路の変形例を示す回路図である。 ４・・・記録媒体 １３・・・書込ビーム ５０・・・光ヘッド ５１、５２・・・半導体レーザ ５３・・・読取ビーム ５４・・・対物レンズ ５６、６４・・・放射感知ダイオード ６０・・・Ｃ［ＲＣ符号化回路 ６１・・・ＥＦＭ変調器 ６２・・・スイッチ ６５・・・解析回路 ６６・・・積分回路 ６７・・・加算回路 彎１−− Ｃ） Ｌ 。 Ｕ二 Ｆｌ［］、１０
ターン及び情報パターンを読み取ったときに生ずる読取
信号を示す線図、 第３図及び第４図は本発明を明確にするための読取った
情報パターンと関連する読取信号との関係を示すグラフ
、 第５図は本発明による記録装置の実施例を示す線図、 第６図〜第８図は本発明の記録装置に用いる解析回路の
構成を示す回路図、 第９図は本発明による記録装置の別の実施例の構成を示
す線図、 第１０図は放射ビームの書込強度を制御する制御回路の
構成を示す回路図、 第１１図はアドレス情報が形成されている記録媒体の構
成を示す線図、 ゛第１２図は第９図に示す記録装置を制御する計算プロ
グラムを示すフローチャート図、 第１３図は解析回路の変形例を示す回路図である。 ４・・・記録媒体 １３・・・書込ビーム ５０・・・光ヘッド ５１、５２・・・半導体レーザ ５３・・・読取ビーム ５４・・・対物レンズ ５６、６４・・・放射感知ダイオード ６０・・・Ｃ［ＲＣ符号化回路 ６１・・・ＥＦＭ変調器 ６２・・・スイッチ ６５・・・解析回路 ６６・・・積分回路 ６７・・・加算回路 彎１−− Ｃ） Ｌ 。 Ｕ二 Ｆｌ［］、１０
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、第１の光学特性を有する記録区域と、これら記録区
域間に存在し第２の光学特性を有する中間区域とから成
る情報パターンを記録媒体に記録する記録装置であって
、 記録媒体を書込ビームで走査する手段、お よび書込ビームの強度を特定のデューティサイクルの２
値信号に従って走査位置において記録媒体の光学特性に
変化を生じさせない低書込強度と走査位置において記録
媒体に光学的に検出可能な変化を生じさせる高書込強度
との間で切換える変調手段を含む光学式書込手段と、 形成された情報パターンを読取ビームで走 査し走査された情報パターンによって変調された読取ビ
ームを発生させる手段、および変調された読取ビームを
対応する読取信号に変換する放射感知検出器を含む光学
式読取手段と、 前記読取信号から、記録区域の長さと中間 区域の長さとの間の平均比の、デューティサイクルによ
って規定される最適比からのずれを表わす解析信号を取
出す解析性回路と、 前記書込強度を、解析信号に基づいて、記 録区域の長さと中間区域の長さとの間の比をデューティ
サイクルによって規定される最適比にほぼ対応させるた
めの値に設定する手段とを具える記録装置において、 前記解析回路が、前記読取信号の最大値お よび最小値に対する読取信号の直流成分の位置を決定す
ると共に、決定した位置がデューティサイクルによって
規定される位置からずれているか否かを指示する信号の
形態の解析信号を発生させる手段を有することを特徴と
する記録装置。 ２、前記解析回路が、読取信号の直流値と読取信号の最
大値との間の第１の差分値を決定する手段と、読取信号
の最小値と直流値との間の第２の差分値を決定する手段
と、第１および第２の差分値に基づいて解析信号を取り
出す手段とを具えることを特徴とする請求項１に記載の
記録装置。 ３、前記解析回路が、読取信号の直流成分を除去するハ
イパスフィルタとハイパスフィルタによって濾波された
読取信号の最大信号値を前記第２の差分値として決定す
る第２ピーク検出器と、検出した最大値と最小値との和
がデューティサイクルによって規定される最適値に対応
するか否かを指示する信号形態の解析信号を発生する手
段とを具えることを特徴とする記録装置。 ４、前記解析回路が、第１の差分値と第２の差分値との
和と、第１の差分値と第２の差分値との差との間の比が
、デューティサイクルによって規定される最適値にほぼ
対応するか否かを指示する信号形態の解析信号を発生す
るように適合していることを特徴とする請求項２または
３に記載の記録装置。 ５、前記２値信号を標準ＥＦＭ信号とし、前記デューテ
ィサイクルで規定される最適値を０．１にほぼ等しくし
たことを特徴とする請求項４に記載の記録装置。 ６、第１のサブパターンと第２のサブパターンを有する
情報パターンを形成し、第２サブパターンの空間周波数
を第１のサブパターンの空間周波数よりも低くすると共
に第１サブパターンの数を第２サブパターンの数よりも
大きくし、これらサブパターンの寸法を、情報パターン
の読取中第１のサブパターンに対応する信号成分の振幅
が第２サブパターンに対応する信号成分の振幅よりも小
さくなるように選択したことを特徴とする請求項１から
５までのいずれか１項に記載の記録装置。 ７、２値のテスト信号を発生させる手段と、前記テスト
信号に対応するテスト情報パターンを、記録媒体のアド
レス可能な位置に記録する制御手段とを具え、この制御
手段を、テスト情報パターンが前記光学式読取装置によ
つて読取られるように適合させ、前記書込強度を設定す
る手段を、テスト情報パターンの読取中に得た解析信号
に基づいて最適の書込強度を設定するように適合したこ
とを特徴とする請求項１から６までのいずれか１項に記
載の記録装置。 ８、前記制御手段が、テスト情報パターンを、記録媒体
上の以前に形成されたアドレス情報が形成されている予
め定めた区域内の特定のアドレスによって規定されるセ
クションに記録するように適合され、このセクションの
先頭部がテスト情報パターンがいまだ記録されていない
区域と隣接するように構成したことを特徴とする請求項
７に記載の記録装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL8901591 | 1989-06-23 | ||
| NL8901591 | 1989-06-23 |
Related Child Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11115470A Division JPH11339274A (ja) | 1989-06-23 | 1999-04-22 | 記録装置 |
| JP11114798A Division JP2000155941A (ja) | 1999-01-01 | 1999-04-22 | 記録装置 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0334127A true JPH0334127A (ja) | 1991-02-14 |
| JP2995334B2 JP2995334B2 (ja) | 1999-12-27 |
Family
ID=19854893
Family Applications (3)
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|---|---|---|---|
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| JP2001150977A Pending JP2002032916A (ja) | 1989-06-23 | 2001-05-21 | 記録装置 |
Family Applications After (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11115470A Pending JPH11339274A (ja) | 1989-06-23 | 1999-04-22 | 記録装置 |
| JP2001150977A Pending JP2002032916A (ja) | 1989-06-23 | 2001-05-21 | 記録装置 |
Country Status (13)
| Country | Link |
|---|---|
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| JP (3) | JP2995334B2 (ja) |
| KR (1) | KR0169103B1 (ja) |
| CN (1) | CN1022650C (ja) |
| AR (1) | AR244456A1 (ja) |
| AT (1) | ATE114856T1 (ja) |
| BR (1) | BR9002975A (ja) |
| DE (1) | DE69014436T2 (ja) |
| HK (1) | HK41396A (ja) |
| HU (1) | HU210013B (ja) |
| PL (1) | PL165214B1 (ja) |
| RU (1) | RU1796076C (ja) |
| UA (1) | UA27219C2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5696756A (en) * | 1995-04-14 | 1997-12-09 | Kabushiki Kaishia Toshiba | Optical disk having an evaluation pattern for evaluating the optical disk |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5493549A (en) * | 1990-04-10 | 1996-02-20 | Seiko Epson Corporation | Optical recording regeneration apparatus with compensation circuit |
| EP0453161A3 (en) * | 1990-04-10 | 1992-07-08 | Seiko Epson Corporation | Optical recording apparatus |
| NL9200397A (nl) * | 1992-03-04 | 1993-10-01 | Philips Nv | Informatie-optekeninrichting. |
| BE1007029A3 (nl) * | 1993-04-22 | 1995-02-21 | Koninkl Philips Electronics Nv | Werkwijze voor het afleiden van een kwaliteitssignaal uit een uitgelezen signaal, alsmede een optekeninrichting en een uitleesinrichting waarin een dergelijke werkwijze wordt toegepast. |
| JPH08509314A (ja) * | 1994-02-14 | 1996-10-01 | フィリップス エレクトロニクス ネムローゼ フェン ノートシャップ | 記録キャリヤに信号を記録する方法および記録装置 |
| KR100337245B1 (ko) * | 1994-05-31 | 2002-11-13 | 소니 가부시끼 가이샤 | 데이터기록장치 |
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| TW293981B (ja) | 1995-07-21 | 1996-12-21 | Philips Electronics Nv | |
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| WO1998025266A1 (en) * | 1996-12-06 | 1998-06-11 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Optical recording medium |
| US8982181B2 (en) | 2006-06-13 | 2015-03-17 | Newbery Revocable Trust Indenture | Digital stereo photographic system |
| CN118465735B (zh) * | 2024-07-15 | 2024-09-27 | 浙江禾川科技股份有限公司 | 一种双光电传感器及其信号处理方法 |
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| AU513376B2 (en) * | 1978-11-13 | 1980-11-27 | Discovision Associates | Writing with stabilization circuit and method for writing with stabilization feedback |
| US4562567A (en) * | 1982-11-12 | 1985-12-31 | North American Philips Corporation | Apparatus for controlling the write beam in an optical data recording system |
| US4747091A (en) * | 1985-07-25 | 1988-05-24 | Olympus Optical Co., Ltd. | Semiconductor laser drive device |
-
1990
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- 1990-06-18 EP EP90201582A patent/EP0404251B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-06-18 AT AT90201582T patent/ATE114856T1/de not_active IP Right Cessation
- 1990-06-20 CN CN90103097A patent/CN1022650C/zh not_active Expired - Lifetime
- 1990-06-20 RU SU904830271A patent/RU1796076C/ru active
- 1990-06-20 PL PL90285704A patent/PL165214B1/pl unknown
- 1990-06-20 UA UA4830271A patent/UA27219C2/uk unknown
- 1990-06-20 KR KR1019900009037A patent/KR0169103B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1990-06-20 HU HU903931A patent/HU210013B/hu unknown
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- 1990-06-25 JP JP2164341A patent/JP2995334B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1990-06-25 BR BR909002975A patent/BR9002975A/pt not_active IP Right Cessation
-
1996
- 1996-03-07 HK HK41396A patent/HK41396A/xx not_active IP Right Cessation
-
1999
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-
2001
- 2001-05-21 JP JP2001150977A patent/JP2002032916A/ja active Pending
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