JPH03293542A - カムシャフトの表面欠陥検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 本発明は、カムシャフトの表面欠陥検査方法に関するも
のである。

「従来の技術」 従来、カムシャフトを回転させながら、光学手段を用い
て、カムシャフトのカム摺動面の表面欠陥を検査する場
合に、次のような問題がある。すなわち、カムシャフト
の中心からカム摺動面までの距離が異なるので、カムシ
ャフトに対して光学手段を固定位置に設けたのでは、正
確な検査が困難である。そこで、この問題を解決するた
めの検査装置として、例えば、特開昭６１−１９５３０
２号公報に示されるものがある。

上記公報の検査装置において、スライドテーブルには、
光学式センサと、該センサを案内するための円弧状のガ
イドと、カムシャフトの回転に同期して回転するダブル
カムにより前記光学式センサを前記円弧状のガイドに沿
って移動させるセンサ駆動手段と、が設けられており、
光学式センサからの光がカム面に対して直角に入射する
ようになっている。更に、カムシャフトの回転に同期し
て回転するマスクカムによって前記ガイドの円弧中心が
常にカムシャフトのカム面上の被検査点に対応する位置
になるように、スライドテーブルを移動させるスライド
テーブル駆動手段が設けられている。

従って、カムシャフトの回転中に、光学式センサ用ガイ
ドの円弧中心が常にカムシャフトのカム面上の被検査点
に対応する位置に移動されて光学式センサとカム面上の
被検査点との距離が一定に維持され、且つ、光学式セン
サがガイドに沿って移動させられて該光学式センサから
の光がカム面に対して直角に入射するので、簡単な構成
にて、カムシャフトのカム面の表面欠陥を高精度に検査
することができる。

「発明が解決しようとする課題」 上記公報の検査装置において、光学手段からの光電変換
された検出信号は、一般に、次のように処理されて、カ
ム面の表面欠陥の検査がなされる。

カム面の回転と、並びに、カムシャフトの軸方向に沿っ
たカム面及び光学式センサ間の相対移動により、カム面
上には、マトリクス状の複数の検出点が得られる。そし
て、異常な検出点が隣接して所定個数（例えば５個）以
上あった場合には、カム面に表面欠陥があると判定して
いる。

しかしながら、上記のようにカム面の全周にわたって同
じ基準値（異常な検出点が隣接して存在する所定個数）
を用いて判定すると、次のような問題がある。

カム面を、円周面、カム立上り面及びカム立下り面、カ
ムトップ面に分けて考えると、カム立上り面及びカム立
下り面には、円周面より負荷が加わり、また、カムトッ
プ面には、カム立上り面及びカム立下り面より負荷が加
わる。それゆえ、カム面の表面欠陥に対する基準値は、
カムトップ面については厳しい必要があり、また、円周
面についてはゆるくともよい。

このような状況で、カム面の表面欠陥に対する基準値を
厳しく設定すると、円周面に許容可能な表面欠陥があっ
た場合であっても、カム面は不良であるとして誤って判
定されてしまうという問題がある。逆に、カム面の表面
欠陥に対する基準値をゆるく設定すると、カムトップ面
に許容できない表面欠陥があった場合であっても、カム
面は良であるとして誤って判定されてしまうという問題
がある。

本発明の目的は、カムシャフトのカム摺動面の表面欠陥
を効率的且つ正確に検査することができるカムシャフト
の表面欠陥検査方法を提供することにある。

「課題を解決するための手段」 本発明は、カムシャフトを回転させながろ、光１手段を
用いて、該カムシャフトのカム摺動面の表面欠陥を検査
する方法において、 検査されるべきカム摺動面は、円周方向に沿って複数の
検査領域に分割されており、 前記各検査領域の表面欠陥を、異なる基準値を用いて、
検査することを特徴とする特 「作　用」 本発明においては、検査されるべきカム摺動面は、円周
方向に沿って複数の検査領域に分割されており、前記各
検査領域の表面欠陥を、異なる基準値を用いて、検査し
ている。例えば、カム摺動面は、円周面領域、カム立上
り面領域及びカム立下り面領域、カムトップ面領域に分
割され、カムトップ面領域については、厳しい基準値を
用いて、表面欠陥を検査し、一方、円周面領域について
は、ゆるい基準値を用いて、表面欠陥を検査するように
する。このように、各検査領域の表面欠陥を、異なる基
準値を用いて、検査しているので、各検査領域にとって
適切な基準値で表面欠陥を検査することができ、効率的
且つ正確な検査が可能である。

「実施例」 以下、図面に基づいて本発明の好適な実施例を説明する
。

第１図には、検査されるべきカムシャフトのカム摺動面
が示されている。

第１図において、カムシャフト１０は、回転軸１２のま
わりで回転可能であり、該カムシャフトｌＯのカム摺動
面１４は、円周方向に沿って複数の検査領域に分割され
、すなわち、円周面領域ｄ１カム立上り面領域及びカム
立下り面領域ｃ、ｅ。

カムトップ面領域ａＳｂ、ｆに分割されている。

なお、各領域ａ−ｅは、好ましくは、カム面の傾斜角度
、すなわち、カム面の接線の傾斜角度を基準として、分
割される。

次に、第２．３図には、それぞれ、本発明の実施例によ
る検査方法を実施するための第５ステーシヨン、第６ス
テーシヨンが示されている。なお、第１〜４ステーシヨ
ンについては、後述する。

第２図はおいて、第５ステーシヨン１６は、カムシャフ
ト１００回転中に、カム摺動面１４のうち円周面領域ｄ
、カム立上り面領域及びカム立下り面領域ｃ、ｅの表面
欠陥を検査するものである。

このために、第５ステーシヨン１６は、３つの光センサ
ユニットＳ、　５ＳｃＳＳ、を含ろ、これらの光センサ
ユニット５ｄＳｃＳ、は、それぞれ、円周面領域ｄ１カ
ム立上り面領域及びカム立下り面領域ｃ、ｅに対応する
専用のものである。

すなわち、光センサユニット５ｄＳｅ、Ｓ、　は、それ
ぞれ、領域ｄ、ｃ、ｅに対して、検出に際しての最適な
位置に配置され、各光センサユニー／　、１−５ｄｓＳ
ＣＳＳ＠　において、投光器２０ｄ１２０Ｃ１２０ｅか
らの光２２ｄ、２２Ｃ１２２ｅは、最適な角度で、すな
わち、光２２ｄ、２２Ｃ，２２ｅがそれぞれ、対応する
各領域ｄ、ｃ、ｅから、受光器２６ｄ、２６ｃ、２６ｅ
に向かって反射するように、各領域ｄ、ｃ、ｅに入射す
る。従って、領域ｄＳｃ、ｅからの反射光２４ｄ、２４
ｃ、２４ｅは、受光器２６ｄ、２６Ｃ，２６ｅに受光さ
れる。

このように、光センサユニットＳａ　　　５ｃＳＳ＠は
、それぞれが受は持つ領域ｄ、ｃ、ｅについて最適な位
置に配置されているので、光センサユニットｓｄ、　５
ｅＳＳ、　において、受は持ち領域ｄ１ｃ、ｅからの反
射光２４ｄ、２４Ｃ，２４ｅは強いが、他の領域からの
反射光は、弱い。これにより、光センサユニットＳ、　
５ＳｅＳ、からの検出信号のうち、それぞれが受は持つ
領域ｄ、ｃ。

ｅについての検出信号のみを抽出することができる。

また、光センサユニットＳ、　、Ｓ、　ＳＳ、は、カム
ンヤフト１０に対してその回転軸１２に沿って移動可能
であり、これにより、回転軸１２に沿ってカムンヤフト
１０のカム摺動面１４を検査することができる。

次に、第３図において、第６ステーシヨン２８は、カム
ンヤフトＩＯの回転中に、カム摺動面１４のうちカムト
ップ面領域ａ、ｂＳ　ｆの表面欠陥を検査するものであ
る。このたｔに、第６ステーシヨン２８は、３つの光セ
ンサユニー／）ＳａＳ６、Ｓ　（を含み、これらの光セ
ンサユニットＳ１、Ｓｂ　ＳＳｆ　は、それぞれ、カム
トップ面領域ａ１ｂ、ｆに対応する専用のものである。

すなわち、光センサユニツ）Ｓ−Ｓｂ　、Ｓｒ　は、そ
れぞれ、領域ａ、ｂ、ｆに対して、検出に際しての最適
な位置に配置され、各光センサユニ７）Ｓ−１Ｓｂ、Ｓ
、においで、投光器３０ａ、３０１）、３０ｆからの光
３２ａ、３２ｂ、３２ｆは、最適な角度ですなわち、光
３２ａ、３２ｂ、３２ｆがそれぞれ対応する各領域ａ、
ｂ、ｆから、受光器３６ａ、３６ｂ、２６ｆに向かって
反射するように、各領域ａ、ｂ、ｆに入射する。従って
、領域ａ、ｂ、ｆからの反射光３４ａ、３４ｂ、３４ｆ
は、受光器３６ａ、３６ｂ、３６ｆ１１ｍ受光サレル。

このように、光センサユニットＳ、　、Ｓｂ、Ｓ。

は、それぞれが受は持つ領域ａＳｂ、ｆについて最適な
位置に配置されているので、光センサユニγ）Ｓ、　、
Ｓｉ、　、　ＳＦ　において、受は持ち領域ａｂＳ　ｆ
からの反射光３４ａ、３４ｂ、３４ｆは、強いが、他の
領域からの反射光は、弱い。これにより、光センサユニ
ットＳ−１Ｓｂ　　　Ｓｒ　からの検出信号のうち、そ
れぞれが受は持つ領域ａ、ｂ、ｆについての検出信号の
みを抽出することができる。

また、光センサユニットＳ、、Ｓ、　　　Ｓ、ハ、カム
シャフト１０に対してその回転軸１２に沿って移動可能
であり、これにより、回転軸１２に沿ってカムシャフト
１０のカム摺動面１４を検査することができる。

次に、上記光センサユニットＳｄ、ＳｃＳ。

Ｓ、　、Ｓ＝　、Ｓｒ　からの検出信号を処理して、カ
ム摺動面１４の領域ｄ、Ｃ，ｅＳａ、ｂ、ｆの表面欠陥
を検査することについて、第４．５．６図を参照しなが
ら説明する。

第４図には、カム立上り面領域及びカム立下り面領域ｃ
、ｅの表面欠陥の検査状態が示されている。

検査中に、カムシャフト１０は、回転軸１２のまわりで
回転し、且つ、光センサユニツ）ＳＣ。

Ｓ、、は、カムシャフト１０に対してその回転軸１２に
沿って移動する。また、光センサユニットＳｅ　ＳＳ＠
　は、光を投射して、検査を行う。そして、光電ンサユ
ニッ）Ｓｃ、Ｓ、からの検圧信号は、所定時間ごとに処
理され、これにより、領域ｃ、ｅ上には、第４図に示さ
れるようなマトリクス状の複数の検出点が得られる。な
お、マトリクスの各交点がそれぞれ検出点を示す。そし
て、領域ｃ、ｅのある検出点に表面欠陥がある場合には
、該検出点では、反射光２４Ｃ１２４ｅの肘度が低いの
で、これにより、該検出点に表面欠陥が存在することが
わかる。ここで、カム立上り面領域及びカム立下り面領
域ｃ、ｅにおいては、φｌ　ｍｍ以上の表面欠陥がある
と、領域ｃ、ｅは、不良と判定されるべきであり、この
φｌ　ｍｍ以上の表面欠陥は、表面欠陥を検圧した異常
な検出点が隣接して５個以上あることに相当する。

そこで、第４図に示されるように、異常な検出点り、〜
Ｄ、が隣接して５個ある場合には、領域ｃ、ｅは、不良
であると判定される。

また、第５図には、円周面領域ｄの表面欠陥の検査状態
が示されている。

この円周面領域ｄでは、使用時に大きな負荷が加わらな
いので、φ２　ｍｍ以上の表面欠陥があった場合に、領
域ｄを不良と判定すれば充分である。

そして、このφ２釦以上の表面欠陥は、表面欠陥を検出
した異常な検出点が隣接して１０個以上あることに相当
する。

そこで、第５図に示されるように、異常な検出点り、〜
Ｄｌ（ｌが隣接して１０個ある場合には、領域ｄは、不
良であると判定される。

また、第６図には、カムトップ面領域ａ、ｂ、「の表面
欠陥の検査状態が示されている。

カムトップ面領域ａ、ｂ、ｆを検査するための第６ステ
ーンヨン２８（第３図参照）においては、第５ステーシ
ヨン１６（第２図参照）と比較して、カムシャフト１０
の回転軸１２のまわりの回転速度、及び、カムンヤフ）
１０の回転軸１２に沿った光センサユニッ）Ｓ、　　　
Ｓｂ、Ｓｒ　の移動速度は、各である。それゆえ、第６
図に示されるマトリクスは、前記第４．５図に示される
マトリクスと比較して、密の状態である。そして、この
カムトップ面領域ａ、ｂ、ｆには、使用時に大きな負荷
が加わるので、φ０．５　ｍｍ以上の表面欠陥があった
場合には、領域ａ、ｂ、ｆは、不良と判定されるべきで
あり、このφ０．５　ｍ１１１以上の表面欠陥は、第６
図のマトリクスにおいて、表面欠陥を検出した異常な検
出点が隣接して５個以上あることに相当する。

そこで、第６図に示されるように、異常な検ａ点Ｄ１〜
Ｄ５　が隣接して５個ある場合には、領域ａ％ｂＳ　ｆ
は、不良であると判定される。

次に、光センサユニットからの検出信号を処理して表面
欠陥を検査する方法について、第６Ａ。

６Ｂ、６Ｃ図を参照しながら、詳細に説明する。

なお、ここでは、例として、光センサユニットＳｃ及び
領域Ｃをとり上げる。

第６Ａ図には、カム中心からの距離及び光センサユニッ
トからの検出信号レベルが示されている。

前述したように、光センサユニットＳｃは、領域Ｃに対
応するものであるので、検出信号レベルは、領域Ｃに対
応するときには、高く、一方、他の領域に対応するとき
には、低い。それゆえ、光センサユニットＳｃ　からの
検出信号レベルは、カム中心からの距離に対応して、第
６Ａ図に示されるように変化する。また、検出信号レベ
ルがしきい値ＴＨ，を越える点は、カム中心からの距離
の最大値（領域ａ１第１図参照）に対応し、検圧信号レ
ベルがしきい値ＴＨ，から下がる点は、カム中心からの
距離の最小値（領域ｄ１第１図参照）に対応する。

そして、第６Ａ図において検出信号レベルは、時刻１．
においてしきい値ＴＨ，を越え、時刻ｔ。

においてしきい値ＴＨ，から下がっている。ここで、時
刻ｔ１　から所定時間Ｔ、経過した時刻ｔ２と、時刻ｔ
、から所定時間Ｔ２以前の時刻ｔ、と、の間は、領域Ｃ
に対応するようになっている。それゆえ、時刻ｔ２　と
時刻ｔ６　との間の領域Ｃにおいて、表面欠陥の検査を
行うこととなる。

なお、時刻ｔ２　と時刻ｔ６　との間では、カム中心か
らの距離が変化し、更に、光の入射角が変化しているの
で、検出信号レベルは、２点鎖線で示されるように、上
方にわずかにわん曲する。そこで、カム中心からの距離
に応じて、光センサユニットＳｃ　の投光器２０Ｃから
の光レベルを自動的に調整し、これにより、時刻ｔ２　
と時刻ｔ６　　との間で、検出信号レベルが一定になる
ようにしている。

次に、第６Ｂ図において、領域識別信号は、時刻ｔ２　
において「Ｈ」レベルになり、時刻ｔ６　において「Ｌ
」レベルに復帰する。このようにして、領域Ｃては、領
域識別信号は、「Ｈ５・レベルである。ここて、前述し
たように、領域のある位置で表面欠陥があると、検出信
号レベルは低くなる。

そして、第６Ｂ図にふいては、時刻ｔ３　において、検
出信号レベルがしきい値ＴＨ２から下がるので、判定信
号は、ｒＨ」レベルになる。それゆえ、領域Ｃに表面欠
陥があることがわかる。なお、表面欠陥が検出された時
刻ｔ、に基づいて、領域Ｃのどの位置に表面欠陥が存在
するかがわかる。

次に、第６Ｃ図には、他の検出方法が示されている。第
６Ｃ図において、検出信号レベルは、時刻ｔ４　で下が
り、時刻ｔ５で元のレベルに復帰しており、この検出信
号レベルの変化に基づいて、カム中心からの距離の波形
（カム摺動面）は、図示のように変化する。このカム摺
動面の変化に基づいてカム摺動面の変化率の差を作成す
ると、該変化率の差は、同じ割合で変化しているときに
は、「Ｏ」であるが、時刻ｔ、　　　ｔｓ　では上しき
い値ＴＨｕｐ、下しきい値Ｔ　Ｈｄｏｗｎを越える。そ
れゆえ、時刻１．　　１ｓ　では、判定信号は「Ｈ」レ
ベルになり、この結果、領域Ｃに表面欠陥があることが
わかる。なお、表面欠陥が検出された時刻ｔ４　、ｔ、
に基づいて、領域Ｃのどの位置に表面欠陥が存在するか
がわかる。

なお、上記第６Ｂ、６Ｃ図のようにして求められた領域
Ｃの表面欠陥の位置及びその広さから、前述したマトリ
クスのどの位置にいくつの不良検出点があるかが求ｔら
れる（第４図参照）。

次に、第７．８図には、それぞれ、本発明の実施例によ
る検査方法を実施するための検査装置の正面、平面が示
されている。

第７．８図において、装置４０は、第２ステーシヨン４
２、第３ステーシヨン４４、第４ステーシヨン４６、第
５ステーシヨン１６　Ｃ第２図参照＞、第６ステーシヨ
ン２８（第３図参照）を含む。

第２ステーシヨン４２は、第１ステーション（図示せず
）からカムシャフト１０を受は取って該カムシャフト１
０を洗浄する。

第３ステーシヨン４４は、第２ステーンヨン４２から洗
浄されたカムシャフト１０を受は取って、該カムンヤフ
ト１０をエアブロ−により乾燥する。

第４ステーシヨン４６は、第３ステーシヨン４４から乾
燥されたカムシャフト１０を受は取って、該カムシャフ
ト１０のジャーナル面を検査しすなわち、ジャーナル面
が円周状になっているか否かを検査する。

第５ステーシヨン１６は第４ステーシヨン４６からカム
シャフト１０を受は取って、前述したように、光センサ
ユニットＳ、　、Ｓｅ、　Ｓ、　ヲ用いて、カムシャフ
ト１０のカム摺動面１４の円周面領域ｄ１カム立上り面
領域及びカム両立下り面領域ｃ、ｅの表面欠陥を検査す
る。

第６ステーシヨン２８は、第５ステーシヨン１６からカ
ムシャフト１０を受は取って、前述したように、光セン
サユニッ）　Ｓ−Ｓｂ　　　Ｓｒ及ヒＳａ　　　Ｓｂ　
　、Ｓｆ　　を用いて、カムシャフト１０のカム摺動面
１４のカムトップ面領域ａ１ｂＳ　ｆの表面欠陥を検査
する。

なお、第６ステーシヨン２８からのカムシャフト１０は
、排出機構４８に供給される。

以下、装置の内部構造を詳述する。

装置４０は、ベース５０に脚５２〜５２により支持され
た下板５４と、及び該下板５４に支柱５６〜５６を介し
て設けられた上板５８と、を含む。上板５８には、第２
ステーシヨン４２〜第６ステー７ヨン２８、排出機構４
８のための開口６０〜６０が形成され、該開口６０〜６
０を通して、カムシャフト１０は、上板５８の下方から
上方に移動させられることができる。下板５４の上面に
は、ガイドレール６２が設けられ、一方、５つの移動体
６４〜６４のそれぞれには、ガイド体６６．６６が設け
られており、これにより、各移動体６４及びガイド体６
６は、ガイドレール６２に沿って移動可能である゛。な
お、移動体６４〜６４は、結合体６７により一体的に結
合されており、アクチュエータ６９の駆動ｆｍ６９ａに
より、結合体６７が移動させられると、移動体６４〜６
４は、一体的にガイドレール６２に沿って移ｔｂする。

そして、各移動体６４は、その受は持つ範囲が定められ
ており、例えば、第７図において右端の移動体６４は、
第２ステーンヨン４２と第３ステーシヨン４４との間を
移動するようになっている。

各移動体６４の上面には、フレーム６８により支持され
たガイドシャツ）７０が垂直に配置され、移動体７２は
、該ガイドシャフト７０に沿って垂直に移動可能である
。移動体７２には、移動体７２をガイドシャフト７０に
沿って移動させるだめのアクチュエータ７４が設けられ
、該アクチュエータ７４の上部には、フレーム７６を介
して、アクチュエータ７８が設けられている。ここで、
アクチュエータ７８は、一対のフィンガ８０．８０を開
閉して、カムシャフト１０を把持したり解放したりする
。

そして、例えば、第２ステーシヨン４２から第３ステー
ンヨン４４に移動体６４が移動する場合について考える
と、移動体６４は、その一対のフィンガ８０．８０が洗
浄されたカムンヤフト１０を把持した状態で、第３ステ
ーシヨン４４まで移動し、この移動終了時に、フィンガ
８０．８０は、第３ステーシヨン４４の開口６０に整合
する。その後、アクチュエータ７４の作動により、アク
チュエータ７４及び移動体７２は、上昇し、フィンガ８
０．８０が把持されたカムンヤフト１０は、開口６０を
通して、上方に突出する。これにより、カムシャフト１
０は、第３ステーシヨン４４により把持されるとともに
アクチュエータ７８の作動によりフィンガ８０．８０が
開いて、カムンヤフト１０は、フィンガ８０．８０から
解放される。

その後、アクチュエータ７４の作動により、アクチュエ
ータ７４、移動体７２、フィンガ８０．８０は、下降し
、一方、カムンヤフト１０は、第３ステーンヨン４４で
エアブロ−により乾燥される。この乾燥処理の間に、第
２ステーシヨン４２と第３ステーシヨン４４との間を受
は持つ移動体６４は、第２ステーシヨン４２の下方に復
帰し、また、第３ステーシヨン４４と第４ステーシヨン
４６との間を移動する次の移動体６４は、第３ステーシ
ヨン４４の下に復帰する。そして、該次の移動体６４に
おいて、アクチュエータ７４の作動により、アクチュエ
ータ７４及び移動体７２は、上昇し、更にアクチュエー
タ７８の作動により、フィンガ８０，８０は、乾燥処理
されたカムシャフト１０を把持する。なお、このとき、
第３ステーシヨン４４は、乾燥処理されたカムシャフト
１０を解放する。その後、フィンガ８０．８０がカムシ
ャフト１０を把持した状態でアクチュエータ７４の作動
により、アクチュエータ７４及び移動体７２は、下降す
る。

次に、各ステーション４２．４４．４６．１６．２８に
ついて詳述する。

第２ステーシヨン４２において、カムシャフト１０の端
部１０ａ、１０ｂは、それぞれ、軸支部８２．８４によ
り支持され、モータ８６、動力伝達機構８８、及び、動
力結合機構９０により、軸支部８４を介して、カムシャ
フト１０は、回転させられる。そして、カムシャフト１
０の回転の間に、該カムシャフト１０は洗浄される。な
お、軸支部８２は、矢印９２方向に往復移動して、カム
シャツ）１０の端ｎ　ｌ　Ｑ　ａを支持したり端部１０
ａから離れたりできるようになっている。また、符号９
３は、洗浄機構を示す。

第３ステーシヨン４４において、カムシャフト１０の端
部１０ａ、１０ｂは、それぞれ、軸支部９４．９６によ
り支持され、エアブロ−により、カムシャフト１０は、
乾燥させられる。なお、軸支部９４は、矢印９８方向に
往復移動して、カムシャフト１０の端部１０ａを支持し
たり端部１０ａから離れたりできるようになっている。

第４ステーシヨン４６において、カムシャフト１０の端
１１１０ａ、１０ｂは、それぞれ、軸支部１００．１０
２により支持されている。なお、軸支部１００は、矢印
１０４方向に往復移動して、カムシャフトｌＯの端部１
０ａを支持したり端部１０ａから離れたりできるように
なっている。また、カムシャフト１０は、モータ１０６
、動力伝達機構１０８、及び、動力結合機構１１０によ
り軸支部１０２を介して、回転させられるようになって
いる。

また、上板５８の開口６０の両側の支持部１２１、送り
部１２２には、ガイドレール１１２．１１４．１１６が
設けられ、移動ユニツ）１１８は、該ガイドレール１１
２．１１４．１１６に沿って移動できるようになってい
る。この移動ユニット１１８は、光センサユニット１２
０を有してふり、カムシャフト１０の回転中に、移動ユ
ニット１１８がガイドレール１１２．１１４．１１６に
沿って移動すると、該移動ユニット１１８の光センサユ
ニット１２０により、カムシャフト１０のジャーナル面
が検査される。なお、ガイドレール１１２．１１４．１
１６に沿った移動ユニット１１８の移動は、送りＢ１２
２によりなされる。

第５ステーシヨン１６において、カムシャフト１０の端
Ｂ１０ａ、１０ｂｌｔ、それぞれ、軸支部１２４．１２
６により支持されている。なお、軸支部１２４は、矢印
１２８方向に往復移動して、カムシャフト１０の端部１
０ａを支持したり端部１０ａから離れたりできるように
なっている。また、カムンヤフト１０は、モータ１３つ
、動力伝達機構１３２、及び、動力結合機構１３４によ
り、軸支Ｂ１２６を介して、回転させられるようになっ
ている。

また、上板５８の開口６０の両側の支持部１４３、送り
Ｂ１４４には、ガイドレール１３６．１３８．１４０が
設けられ、移動ユニット１４２は、該ガイドレール１３
６．１３８．１４０に沿って移動できるようになってい
る。この移動ユニット１４２は、光センサユニットＳｄ
、ＳｃＳ’Ｓ。

を有しており、カムシャフト１００回転中に、移動ユニ
ット１４２がガイドレール１３６．１３８．１４０に沿
って移動すると、該移動ユニット１４２の光センサユニ
ット５ｄＳｓｃＳｓ、により、カムンヤフト１０のカム
摺動面１４の円周前領域ｄ、カム室上り面領域及びカム
立下り面領域ｃＳｅが検査される。なお、ガイドレール
１３６、１３８．１４０に沿った移動ユニット１４２の
移動は、送りＢ１４４によりなされる。

第６ステーシヨン２８において、カムシャフト１０の端
部１０ａ、１０ｂは、それぞれ、軸支部１４６．１４８
により支持されている。なお、軸支部１４６は、矢印１
５０方向に往復移動して、カムシャフト１０の端部１０
ａを支持したり端部１０ａから離れたりできるようにな
っている。また、カムシャフト１０は、モータ１５２、
動力伝達機構１５４、及び、動力結合機構１５６により
、軸支部１４８を介して、回転させられるようになって
いる。

また、上板５８の開口６００両側の支持部１５Ｂ、送り
部１６０には、ガイドレール１６２．１６４．１６６が
設けられ、移動ユニット１６８は、該ガイドレール１６
２．１６４．１６６に沿って移動できるようになってい
る。この移動ユニット１６８は、光センサユニットＳ、
、Ｓいｓｒ、　及ＵＳ、’Ｓｂ、Ｓｒ′を存しており、
カムシャフト１００回転中に、移動ユニット１６８がガ
イドレール１６２．１６４．１６８に沿って移動すると
、該移動ユニッ）１６８の光センサユニー／　）　Ｓ−
１ＳｂＳｆ、及び５ａＳｂ’、Ｓｒ′により、カムシャ
フト１０のカム摺動面１４のカムトップ面領域ａ、ｂ、
ｆ及びａ’　　ｂ’　　　ｆ′が検査される。

なお、カイトレール１６２．１６４．１６６に沿った移
動ユニット１６８の移動は、送り部１６０によりなされ
る。

なお、第６ステーシヨン２８において、移動ユニット１
６８は、２組の光センサユニットＳ。

Ｓｌ、Ｓｒ、及びＳ−Ｓｂ、Ｓｒ　　を有しているので
、カムシャフト１０の２つの摺動面１４．１４を同時に
検査することができる。ここで、第６ステーシヨン２８
においては、前述したように、カムシャフト１００回転
軸１２のまわりの回転速度、及び、カムシャフト１０の
回転軸１２に沿って光センサユニットＳａ、　Ｓｂ、Ｓ
ｒ、及びＳ、　／ＳＩ、′、Ｓｆ　　の移動速度は、第
５ステーシヨン１６と比較して％であるが、第６ステー
シヨン２８においては、２組の光センサユニットＳ１、
Ｓ６、Ｓ　ｌ　ｓ及びＳ、　　　Ｓｂ　　　Ｓ、　　に
より２つの摺動面１４．１４が同時に検査されるので、
第６ステーシヨン２８においては、第５ステーンヨン１
６と比較して、検査速度が遅くなることはない。

また、第６ステーシヨン２８において、移動ユニット１
６８上には、移動ユニット１７０がカムシャフト１０の
回転軸１２に沿って移動可能に設けられており、一方の
光センサユニットＳいｓｂ、Ｓｆ　は、移動ユニット１
６８に設けられ、また、他方の光センサユニットＳａ、
Ｓｂ’Ｓｒ′　は、移動ユニット１７０に設けられてい
る。それゆえ、移動ユニット１６８上で移動ユニット１
７０がカムシャフト１０の回転軸１２に沿って移動する
ことにより、移動ユニット１７０の光センサユニッ）Ｓ
、’　　　Ｓｂ’　　　Ｓｒ　　は、移動ユニット１６
８の光センサユニットＳ−、Ｓｂ　、Ｓｒ　に対して近
づいたり離れたりすることができる。このようにして、
光センサユニットＳａ　、Ｓｂ　　　Ｓｒ　　ト光’ｔ
！ンサユニッ）　Ｓ−Ｓｂ　　　Ｓｒ’　との間の間隔
を調整することにより、カムシャフト１０の２つの摺動
面１４．１４の間隔が異なる場合であっても、２つの摺
動面１４．１４を同時に検査することが可能である。

次に、排出機構４８について説明する。

上板５８の開口６０の両側には、支持板１７２．１７４
が立設され、支持板１７２の上部には、水平なガイドレ
ール１７６が設けられ、また、支持板１７４の上部には
、水平なガイド体１７８が設けられている。また、符号
１８０は、移動ユニットを示し、該移動ユニット１８０
の両端に設けられた移動体１８２．１８４は、それぞれ
、前記ガイドレール１７６．１７８に関連し、これによ
り、移動ユニット１８０は、ガイドレール１７６．１７
８に沿って移動できるようになっている。

移動ユニット１８０には、垂直なガイドレール１８６が
設けられ、移動体１８８は、該カイトレール１８６に沿
って垂直に移動できるようになっている。二の移動体１
８８には、結合具１９０を介して、アクチユエータ１９
２が設けられており、該アクチユエータ１９２は、一対
のフィンガ１９４．１９４を閉じたり開いたりして、カ
ムシャフト１０を把持したり解放したりすることができ
る。

そして、移動体１８８がガイドレール１８６に沿って下
降し、フィンガ１９４．１９４が閉じてカムシャフト１
０を把持すると、移動体１８８は、ガイドレール１８６
に沿って上昇する。その後、移動ユニット１８０がガイ
ドレール１７６．１７８に沿って所定位置まで移動する
と、移動体１８８は、ガイドレール１８６に沿って下降
し、フィンガ１９４．１９４が開いてカムシャフト１０
を所定の場所に解放する。

次に、第５ステーシヨン１６及び第６ステーシヨン２８
について詳細に説明する。

まず、第９図には、第５ステーシヨン１６の移動ユニッ
ト１４２の正面が示され、第１０．１１図には、それぞ
れ、移動ユニット１４２と支持部１４３との関係、移動
ユニツ）１４２と送り部１４４との関係が、側面にて示
されている。

第９．１０．１１図において、上板５８のドロ６００両
側には、それぞれ、ボルト１９６．１９８により、支持
部１４３、送り部１４４が設けられ、支持部１４３には
、ボルト２００により、ガイドレール１３６が設けられ
、また、送り部１４４には、ガイドレール１３８．１４
０が設けられている。

前記移動ユニット１４２は、逆Ｕ字状の垂直プレート２
０２と、及び、水平プレート２０４．２０６と、を含み
、垂直プレート２０２の一方の下端２０２ａと水平プレ
ート２０４とは、ブラケット２０８、ボルト２１０によ
り結合され、また、垂直プレート２０２の他方の下端２
０２ｂと水平プレート２０６とは、ブラケット２１２、
ボルト２１４．２１６により結合されている。水平プレ
ート２０４の下部には、ボルト２１８により、−スライ
ダ２２０が固定され、該スライダ２２０は、前記ガイド
レール１３６に沿って移動することができる。また、水
平プレート２０６の下部には、ボルト２２２．２２３に
より、それぞれ、スライダ２２４．２２６が固定され、
該スライダ２２４．２２６は、前記ガイドレール１３８
．１４０に沿って移動することができる。それゆえ、移
動ユニット１４２は、ガイドレール１３６．１３８．１
４０に沿って移動することが可能である。

前記移動ユニッ）１４２の垂直プレート２０２には、光
センサユニツ）Ｓ、　　’Ｓｃ、　Ｓ、が設けられてい
る。なお、光センサユニットＳ１、ＳｅＳ、とカムシャ
フト１０との関係については、前述した′！Ｊ２図をも
参照されたい。

ここで、光センサユニットＳ、は、モータ２２８及びボ
ールネジ２３０により、垂直プレート２０２に対してＺ
軸方向に移動可能である。また、光センサユニットＳｃ
は、Ｚ軸モータ２３２及びボールネジ２３４により、移
動ブロック２３６に対してＺ軸方向に移動可能であり、
更に、移動ブロック２３６は、Ｙ軸モータ２３８及びボ
ールネジ２４０により垂直プレート２０２に対してＹ軸
方向に移動可能である。従って、光センサユニ７）Ｓｃ
　は、垂直プレート２０２に対してＺ軸方向及びＹ軸方
向に移動可能である。同様にして、光センサユニットＳ
、は、Ｚ軸モータ２４２及びボールネジ２４４により、
移動ブロック２４６に対してＺ軸方向に移動可能であり
、更に、移動ブロック２４６は、Ｙ軸モータ２４８及び
ボールネジ２５０により垂直プレート２０２に対してＹ
軸方向に移動可能である。従って、光センサユニットＳ
、は、垂直プレート２０２に対してＺ軸方向及びＹ軸方
向に移動可能である。

そして、検査の際には、前記第２ステーシヨン４２で得
られたカムシャフト１００回転軸１２方向の長さから、
予め設定されたデータに基づいて、カムシャフト１００
種類（カム摺動面１４のカム面の傾き、サイズ等）を判
定し、この判定結果に基づいて、光センサユニー／　）
Ｓｄ　、ｓｅ　％　Ｓｅ　は、垂直プレート２０２に対
してＺ軸方向、Ｙ軸方向に移動させられて位置調整され
る。これにより、カムシャフト１０の種類に応じて、光
センサユニットＳ、　　　５ｃＳＳ、　は、それぞれ、
カムシャフト１０のカム摺動面１４の領域ｄＳｃＳｅに
対して最適な位置に位置制御され、最適な感度状態にて
、領域ｄ、ｃ、ｅを検査することができる。

なお、検査の際には、前述したように、カムシャフト１
０を回転させるとともに、移動ユニット１４２をガイド
レール１３６．１３８．１４０に沿って移動させ、該移
動ユニット１４２の光センサユニットＳ、　　　Ｓｃ、
Ｓ、により、カムシャフト１０の摺動面１４０円周面領
域ｄ、カム立上り面領域及びカム立下り面領域ｃＳｅが
検査される。

次に、！１２．１３図には、第６ステーシヨン２８の移
動ユニット１６８の正面、平面が示され、第１４．１５
図には、それぞれ、移動ユニット１６８と支持部１５８
との関係、移動ユニット１６８と送り部１６０との関係
が、側面にて示されている。

第１２．１３．１４．１５図において、上板５８の開口
６０の両側には、支持部１５８、送り部１６０が設けら
れ、支持部１５８には、ボルト２５２により、ガイドレ
ール１６２が設けられ、また、送り１１６ｃｌには、ガ
イドレール１６４．１６６が設けられている。

前記移動ユニット１６８は、逆Ｕ字状の垂直プレート２
５４と、及び、水平プレート２５６．２５８と、を含み
、垂直プレート２５４の一方の下端２５４ａと水平プレ
ート２５６とは、ブラケット２６０、ボルト２６２によ
り結合され、また、垂直プレート２５４の他方の下端２
５４ｂと水平プレート２５８とは、ブラケット２６４、
ボルト２６６．２６８により結合されている。水平プレ
ー）２５６の下部には、ボルト２７０により、スライダ
２７２が固定され、該スライダ２７２は、前記ガイドレ
ール１６２に沿って移動することができる。また、水平
プレート２５８の下部には、ボルト２７４．２７５によ
り、それぞれ、スライダ２７６．２７８が固定され、該
スライダ２７６．２７８は、前記ガイドレール１６４．
１６６に沿って移動することができる。それゆえ、移動
ユニット１６８は、ガイドレール１６２．１６４．１６
６に沿って移動することが可能である。

前記移動ユニブ）１６８の垂直プレート２５４には、光
センサユニ７　）　Ｓ、　　　Ｓｂ　　　Ｓｔ　が設け
られている。なお、光センサユニッ）Ｓ、　　　Ｓ。

Ｓｒ　　とカムシャフト１０との関係については、前述
した第３図をも参照されたい。

ここで、光センサユニットＳ、は、Ｚ軸モータ２８０及
びボールネジ２８２により、移動ブロック２８４に対し
てＺ軸方向に移動可能であり、更に、移動ブロック２８
４は、Ｙ軸モータ２８６及びボールネジ２８８により垂
直プレート２５４に対してＹ軸方向に移動可能である。

従って、光センサユニットＳ６　は、垂直プレート２５
４に対シてＺ軸方向及びＹ軸方向に移動可能である。ま
た、光セジサユニッ）Ｓｂ　は、Ｚ軸モータ２９０及び
ボールネジ２９２により、移動ブロック２９４に対して
Ｚ軸方向に移動可能であり、更に、移動ブロック２９４
は、Ｙ軸モータ２９６及びボールネジ２９８により垂直
プレート２５４に対してＹ軸方向に移動可能である。従
って、光センサユニットｓｂ　は、垂直プレート２５４
に対してＺ軸方向及びＹ軸方向に移動可能である。同様
にして、光センサユニットＳ、は、２軸モータ３００］
びボールネジ３０２により、移動ブロック３０４に対し
てＺ軸方向に移動可能であり、更に、移動ブロック３０
４は、Ｙ細モータ３０６及びボールネジ３０８により垂
直プレート２５４に対してＹ軸方向に移動可能である。

従って、光センサユニットＳｆ　は、垂直プレート２５
４に対してＺ軸方向及びＹ軸方向に移動可能である。

前記移動ユニット１６８上には、補助移動ユニット３１
０が、カムシャフト１０の回転軸１２方向に移動可能に
設けられており、以下、この点について説明する。

移動ユニット１６８の水平プレート２５６．２５８上に
は、それぞれ、ガイドレール３１２．３１４がボルト３
１６．３１８により設けられ、一方、補助移動ユニット
３１０の下部には、それぞれ、前記ガイドレール３１２
．３１４に対応して、スライダ３２０．３２２がボルト
３２４．３２６により設けられている。そして、スライ
ダ３２０．３２２がガイドレール３１２．３１４に沿っ
て移動することにより、補助移動ユニット３１０は、移
動ユニッ）１６８に対して、ガイドレール３１２．３１
４に沿って移動することが可能である。なお、移動ユニ
ット１６８に対する補助移動ユニッ）３１０の移動は、
移動ユニット１６８上に設けられ補助移動ユニット３１
０に結合されたエアシリンダ３２８及び駆動ロッド３３
０により、なされる。

前記補助移動ユニット３１０は、前記移動ユニット１６
８の垂直プレート２５４とほぼ同様な垂直プレート３３
２を含み、該垂直プレート３３２には、前記垂直プレー
ト２５４と同様に、光センサユニツ）Ｓ、’　　Ｓ、　
　　Ｓｆ　　が設けられている。そして、光センサユニ
ットＳ％ｓ、／、Ｓｆは、前配光センサユニットＳ−、
Ｓｂ　、Ｓｔ　と同様の位置関係に配萱され（第３図を
も参照）、垂直プレート３３２に対してＺ軸方向及びＹ
軸方向に移動可能である。

すなわち、光センサユニットＳ、　は、Ｚ軸モータ２８
０′及びボールネジにより、移動ブロック２８４′に対
してＺ軸方向に移動可能であり、更に、移動ブロック２
８４′は、Ｙ軸モータ２８６′及びボールネジにより垂
直プレート３３２に対してＹ軸方向に移動可能である。

従って、光センサユニッ）　Ｓ、’は、垂直プレート３
３２に対してＺ軸方向及びＹ軸方向に移動可能である。

また、光センサユニッ）ｓｂ’　は、２軸モータ２９０
′及びボールネジにより、移動ブロック２９４′に対し
てＺ軸方向に移動可能であり、更に、移動ブロック２９
４′は、Ｙ軸モータ２９６′及びボールネジにより垂直
プレート３３２に対してＹ軸方向に移動可能である。従
って、光センサユニットＳ　、　／は、垂直プレート３
３２に対してＺ軸方向及びＹ軸方向に移動可能である。

同様にして、光センサユニットＳｆ′は、Ｚ軸モータ３
００’及びボールネジにより、移動ブロック３０４′に
対してＺ軸方向に移動可能であり、更に、移動ブロック
３０４′は、Ｙ軸モータ３０６′及びボールネジにより
垂直プレート３３２に対してＹ軸方向に移動可能である
。従って、光センサユニー／　）Ｓｆ′は、垂直プレー
ト３３２に対してＺ軸方向及びＹ軸方向に移動可能であ
る。

そして、検査の際には、第５ステーシヨン１６の光セン
サユニットＳｄ　で得られた検出信号からカムシャフト
ｌＯのカムリフト長を求ｔ、予め設定されたデータに基
づいて、カムシャフト１０の種類（カム摺動面１４のカ
ム面の傾き、サイズ等）を判定し、この判定結果に基づ
いて、光センサユニットＳ−、Ｓｂ　、Ｓｒ　及びＳ−
Ｓｂ、Ｓｒは、それぞれ、垂直プレート２５４．３３２
に対してＺ軸方向、Ｙ軸方向に移動させられて位置調整
される。また、判定結果に基づいて、補助移動ユニツ）
３１０は、移動ユニ７ト１６８に対してガイドレール３
１２．３１４に沿って移動させられて位置調整され、移
動ユニット１６８の光センサユニッ）Ｓａ　　　Ｓｂ　
　　Ｓｔ　と補助移動ユニット３１０の光センサユニッ
ト３　、　／　　Ｓ　、　／・、Ｓｔとの間隔が、カム
シャフト１４．１４’間の間隔に等しくなるようにする
。これにより、カムシャツ）１０の種類に応じて、光セ
ンサユニット５１Ｓｂ　　Ｓｒ−及びＳ−’　　Ｓｂ　
　　Ｓｔ　　は、それぞれ、カムシャフト１０のカム摺
動面１４．１４’の領域ａ、ｂ、ｆ、及びａ′　　ｂ′
、ｆ′に対して最適な位置に位置制御され、最適な感度
状態にて、領域ａ、ｂＳｆ、及びａ’　　　ｂ’　　　
ｆ’を検査することができる。

なお、検査の際には、前述したように、カムンヤフト１
０を回転させるとともに、移動ユニット１６８をカイト
レール１６２．１６４．１６６に沿って移動させ、該移
動ユニット１６８の光センサユニットｓ、　　　ｓ、　
　　ｓｒ、及びｓ、’　、ｓ。

Ｓｆ　　により、カムンヤフト１０のカム摺動面１４．
１４′のカムトップ面領域ａＳｂ、ｆ、及びａ′、ｂ′
、ｆ′が検査される。

第１６図乃至第１８図に、本発明による別の実施例を示
す。第１６図は、第６ステーシヨンにおける光センサユ
ニットとカムシャフトとの関係を示す説明図であり、第
１７図は、第１６図に示す光センサユニットとカムシャ
フトとの相対的な位置関係を示す説明図であり、第１８
図は、第１７図に示すカムトップ面領域の拡大説明図で
ある。

なお、各図において、前述した実施例と同様の部材及び
部位については、同一の符号が付されている。

本実施例において用いられる検査装置は、前述した実施
例で説明した検査装置と基本的に同じ構成のものである
。しかしながら、本例においては、第１６図に示すよう
に、検査装置は、コントロールユニットＣを備えてオリ
、コントロールユニットＣには、光センサユニッ）Ｓｂ
　の検査終了を指示する終了信号ＥＤが、光センサユニ
ットｓｂ　から入力される。コントロールユニットＣは
、タイマ（図示せず）を内蔵しており、終了信号ＥＤが
入力されてから所定時間経過したときに、光センサユニ
ットＳ、に、光センサユニー、）Ｓ、の検査開始を指示
する作動信号ＯＦを人力するようになっている。

第１７図及び第１８図には、光センサユニー／　）Ｓ−
、Ｓｂ　、Ｓｒ　　とカムシャフト１０との相対的な位
置関係が、カムシャフト１０を固定した状態で示されて
いる。カムシャフト１０は、回転軸１２を中心に時計廻
り方向に回転することから、各図において、光センサユ
ニツ）Ｓ、、Ｓ、　　　Ｓｆは、矢印で示すように、回
転軸１２を中心に反時計廻り方向に回転するように示さ
れている。

第１８図において、実線で示すカム摺動面１４は、正規
のカムシャフト１０のカム摺動面であり、カムシャフト
１０の頂点は、回転軸１２から高さｈを隔てた位置に位
置している。カムシャフト１０が基準となる高さｈを有
する正規のカム摺動面１４を有する場合、投光器３０ａ
が仮想の基準線Ｈ−Ｈから角度αだけ回転したときに（
位ＲＩＶ）光３２ａがカムトップ面領域ａの開始点Ａに
入射し、開始点Ａからの反射光３４ａが受光器３６ａに
受光される。投光器３０ａは、矢印で示す方向にカム摺
動面１４に対して相対回転し、所定の時間経過して、第
１８図の左側に示す位置■、即ち、光３２ａが領域ａの
終了点已に入射する位置まで相対移動したときに、領域
ａの検査を終了する。

ここに、カムシャフト１０の高さｈは、所定の誤差範囲
Δｈが許容されており、カムシャフト１０が、−点鎖線
で示されるように、高さｈ−△ｈを有し、或いは、二点
鎖線で示されるように、高さｈ＋△ｈを有する場合、各
カム摺動面のカムトップ面領域ａ’　、ａ’はそれぞれ
、開始点Ａ′Ａ′から終了点Ｂ’　、Ｂ’まての範囲で
ある。

このように、検査すべきカムシャフトの誤差により、カ
ムンヤフト１０の高さが若干具なることから、領域ａ’
　　　ａ’の開始点Ａ’　、Ａ’を光センサユニットＳ
８　の検出信号レベルにより正確に判定し難く、従って
、領域ａ′　ａ′を適当に検査できない場合がある。他
方、カムトップ面領域すの終了点Ｃの位置及び傾斜角度
は、カムシャフト１０の高さの変化の影響を比較的受は
難く、従って、カムンヤフト１０の高さが変化した場合
であっても、光センサユニットｓｂ　は、その検出信号
レベルにより、領域すの終了点Ｃを比較的安定して検出
することができる。

このため、本例においては、第１７図に示すように、光
センサユニットＳ、の投光器３０ｂが、基準線Ｈ−Ｈか
ら角度βを隔てた位置Ｉにあり、投光器３０ｂからの光
３２ｂが終了点Ｃに入射して、光センサユニットＳｂが
、その検出信号レベルによって領域すの終了を判定した
ときくこのとき、光センサユニットＳ６　の投光器３０
ａは、基準線Ｈ−Ｈから角度β′を隔てた位置■にある
）、光センサユニットＳ、は、終了信号巳りをコントロ
ールユニットＣに人力するようになっている。光センサ
ユニッ）Ｓｂ　から終了信号εＤが人力されたトキ、コ
ントロールユニッ）Ｃは、予め所定の時間ΔＴに設定さ
れたタイマを作動させ、所定時間△Ｔ経過後に、光セン
サユニットＳ６　　に対して、光センサユニットＳ、に
領域ａの検査開始を指示する作動信号ＯＰを人力し、こ
れによって、光センサユニッｌ−３，は、領域ａの検査
を開始する。

かかる所定時間△Ｔは、光センサユニットＳｂが回転軸
１２に対して位置Ｉ　（角度β）から位置■（角度α　
）まで回転する時間に設定される。

光センサユニットＳ、が位置■に移動したとき、領域ａ
を検査するための光センサユニッｈｓ、ノ投光器３０ａ
は、基準線Ｈ−Ｈから角度αを隔てており、正規のカム
摺動面における領域ａの検査を開始すべき位置、即ち、
第１７図及び第１８図に示す位置■まで移動している。

このことは、投光器３０ａが位置■に移動したとき、そ
の検出信号レベルに係わらず、領域ａの検査を開始する
ことを意味する。

第１８図に示すように、投光器３０ａは、位置■を経て
、位置■に向かって相対移動する。コン）０−）Ｌｔ：
Ｌニラ）Ｃは、光センサユニツ）５．１：検査開始を指
示して、所定時間ΔＴ′経過後に、光センサユニットＳ
、の検査終了を指示する作動信号ＯＰを入力し、光セン
サユニー／）Ｓａ　は、領域ａの検査を終了する。この
所定時間ΔＴ′は、投光器３０ａが、位置■から、正規
のカム摺動面における領域ａの終了点已に光３２ａを入
射させる位置■まで相対移動するのに要する時間、すな
わち、投光器３０ａが回転角度Δθだけ相対移動するの
に要する時間に設定される。したがって、光センサユニ
ットＳ、は、その検出信号レベルに係わらず、投光器３
０ａが位１ｔＶＴまで移動すると、領域ａの検査を終了
する。

このように、本例の検査装置では、光センサユニットＳ
、は、投光器３０ａが位置■と位置■との間に位置して
いるときに、即ち、回転角度Δθの範囲にあるときに、
カムトップ面領域ａの検査を実行する。したがって、第
７図に仮想線３４ａ’、３４ａ’で示すように、光セン
サユニットＳ、は、カムシャフト１０の高さの変化に係
わらず、略開始点Ａ、Ａ’　、Ａ’において領域ａの検
査を開始し、略終了点Ｂ、Ｂ’　　Ｂ’において領域ａ
の検査を終了し、かくして、領域ａの略全域に亘って検
査を実行することができる。

なお、上記実施例では、コントロールユニットＣは、光
センサユニットＳ、による領域すの終了点Ｃの判定に基
づいて、タイマの作動を開始しているが、光センサユニ
ッ）Ｓｂ　による領域すの開始点Ｂの判定に基づいて、
或いは、領域すと実質的に同じ条件下にある領域ｆを検
査するための光センサユニットＳｆによってなされる領
域ｆの開始点又は終了点の判定に基づいて、上記タイマ
の作動を開始するように構成しても良い。これらの場合
、云うまでもなく、タイマの設定時間は、上記実施例と
異なる時間に設定される。

また、上記実施例では、回転に要する時間を基準として
、投光器３０ａの位置■を決定しているが、検査装置に
回転軸１２０回転角度を検出する角度検出手段を備え、
回転軸１２の回転角度を基準として、投光器３０ａの位
ＩＴＶを決定することも可能である。

「発明の効果」 以上説明したように、本発明によれば、各検査領域の表
面欠陥を、異なる基準値を用いて検査しているので、カ
ムシャフトのカム摺動面の表面欠陥を効率的に且つ正確
に検査することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、検−査されるべきカムシャフトのカム摺動面
を示す説明図、 第２．３図は、それぞれ、第５ステージ褒ン、第６ステ
ーゾヨンにおける光センサユニー／　）とカムシャフト
との関係を示す説明図、 第４．５．６図は、それぞれ、カム立上り面領域及びカ
ム立下り面領域ｃ、ｅの表面欠陥の検査状態、円周面領
域ｄの表面欠陥の検査状態、カムトップ面領域ａＳｂ、
ｆの表面欠陥の検査状態を示す説明図、 第６Ａ、６Ｂ、６Ｃ図は、光センサユニットからの検出
信号を処理して表面欠陥を検査する方法を示すグラフ図
、 第７．８図は、それぞれ、本発明の実施例により検査方
法を実施するための検査装置の正面図、平面図、 第９図は、第５ステーシヨンの移動ユニ７）の正面図、 第１０，１１ｆｌＵは、それぞれ、移動ユニットと支持
部との関係、移動ユニットと送り邪との関係を示す側面
図、 第１２．１３図は、第６ステーシヨンの移動ユニットの
正面図、平面図、 第１４．１５図は、それぞれ、移動ユニットと支持部と
の関係、移動ユニットと送り部との関係を示す側面図で
ある。 第１６図乃至第１８図は、本発明による別の実施例を示
す説明図であり、第１６図は、第６ステーシヨンにおけ
る光センサユニットとカムシャフトとの関係を示す説明
図、第１７図は、第１６図に示す光センサユニットとカ
ムシャフトとの相対的な位置関係を示す説明図、第１８
図は、第１７図に示すカムトップ面領域の拡大説明図で
ある。 １０・・・・・・カムシャフト、 １２・・・・・・回転軸、 １４・・・・・・カム摺動面、 １６・・・・・・第５ステーシヨン、 ２８・・・・・・第６ステーシヨン、 ｄ・・・・・・円周面領域、 ｃ、ｅ・・・・・・カム立上り面領域及びカム立下り面
領域、 ａ、ｂ、ｆ・・・・・・カムトップ面領域、Ｓ　ｄ　　
　Ｓｃ　　　Ｓｓ　　　Ｓａ　　　Ｓｂ　　　Ｓｒ　”
””光センサユニット、 Ｃ・・・・・・コントロールユニット。 第２図 第４図 第５図 光センサユニットＳｄの 送り方向 第６図 銅６ハ図 ｔｌ ２ ６ ７ 第６Ｃ図 一−−−−−弯マー１何告、１置−ぢ→時刻第１２図 第１７図 り 第１８図

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）カムシャフトを回転させながら、光学手段を用い
   て、該カムシャフトのカム摺動面の表面欠陥を検査する
   方法において、 検査されるべきカム摺動面は、円周方向に沿って複数の
   検査領域に分割されており、 前記各検査領域の表面欠陥を、異なる基準値を用いて、
   検査することを特徴とするカムシャフトの表面欠陥検査
   方法。
2. （２）前記各検査領域を、該検査領域に対応する専用の
   各光学手段により検査することを特徴とする請求項（１
   ）記載のカムシャフトの表面欠陥検査方法。
3. （３）前記カム摺動面のカムトップ面に位置する所定の
   検査領域を検査する前記光学手段は、該カム摺動面に対
   して所定の位置まで相対移動したときに、該領域の検査
   を開始することを特徴とする請求項（２）記載のカムシ
   ャフトの表面欠陥検査方法。