JPH03287010A - 太陽センサ - Google Patents

太陽センサ

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JPH03287010A
JPH03287010A JP2088359A JP8835990A JPH03287010A JP H03287010 A JPH03287010 A JP H03287010A JP 2088359 A JP2088359 A JP 2088359A JP 8835990 A JP8835990 A JP 8835990A JP H03287010 A JPH03287010 A JP H03287010A
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angle
slits
photodetector
sunshine
incidence
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Futahiko Okamoto
岡本 二彦
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は例えば人工衛星の姿勢決定や姿勢制御に利用さ
れる太陽センサに関する。
(従来の技術) 一般に宇宙航行体はそのエネルギー源の一部に太陽光を
用いており、太陽が宇宙航行体の活動を支えていること
から、太陽センサは重要なセンサである。
第5図は従来の太陽センサの構成を示す図である。第5
図で1は太陽光の透過を遮断する遮光面であり、2は遮
光面1上に設けられた細長のスリットである。このスリ
ット2を太陽光が透過する際、太陽光は回折されて入射
角度に依存しない左右対称な強度分布で光検出器3に入
射される。光検出器3はスリット2の長手方向に対して
垂直な方向に複数個の検出素子4(例えばフォトダイオ
ード)が−直線に配置されているもので、遮光面1と平
行に設置されている。
光検出器3上には第6図(a)に示すような太陽光強度
分布が生じる。光検出器3は第6図(b)に示すように
太陽光強度分布を各検出素子に対応した量子化された電
気信号に変換して出力する。
太陽光の入射角を求めるには、太陽光強度分布の中心位
置を測定する必要がある。太陽光強度分布の中心位置を
求めるには、まず太陽光と判断するために所定の電圧値
を基準レベルとして設定する。
そして第6EI(c)に示すように、基準レベル以上を
“1“、基準レベル以下を“0”とする2値のデジタル
信号の値が“0′から“1″に変化する光検出器上の位
WX1と“1″から“0”に変化する光検出器上の位W
X、を検出素子数をカウントすることによって求め、そ
の中点Xcを算出すればよい。
この中点Xcから太陽光の入射角を導出する方法を第7
図を用いて説明する。第7図は第5図の太陽センサの断
面図を示し、太陽光入射角をθとし、遮光面1と光検出
器3との距離をり、光検出器3の全長をLとする。
太陽光が太陽センサの光軸(光検出器の中心を通り遮光
面1及び光検出器3と垂直な直線、以下センサ光軸と呼
ぶ。)と平行に入射した場合には、光検出器3の中央に
(ア)のような強度分布が生じる。この場合は Xc−
Li2である。次に、太陽光入射角がθのときに生ずる
太陽光強度分布(図中(イ))の中心X、は第7図より
次の■式%式% これより太陽入射角θは以下の■式から求めることがで
きる。
θ−jan”  ((2Xc   L)/2h)−ta
n’  ((XI  +X!−L)/2h)−■よって
信号処理回路でX、、X、を算出し、■式これらをあて
はめることによりθを求めることができる。
以上の説明は、センサ光軸に直交する一軸方向の太陽入
射角を測定するものである。センサ光軸に対し互いに直
交する二軸成分の太陽角情報を得るためには、第8図に
示すように第5図のセンサを2個用意し、各々のスリッ
トが直交する様に配置すればよい。
ところで太陽入射角を測定できる領域、すなわち太陽セ
ンサの視野角αには制約があり、以下の関係がある。
a 5  jan”  (L/ 2 h)      
        −■(ただしαは半頂角で示す。) Lは使用する光検出器で決まる値であり、一定値である
。前述のように太陽は宇宙航行体にとってエネルギー源
である。−旦宇宙航行体の姿勢が何らかの影響で乱れて
太陽センサ視野から太陽がはずれた場合、宇宙航行体は
姿勢制御により、再度太陽を捉えるまで消費電力を最小
に抑える等の非常処置を取る必要があり、ミッション達
成の上で大きな障害となりうる。
上記の観点から、太陽センサの視野角αが広ければ、太
陽の捕捉、再捕捉が容易となるため姿勢制御系の見地か
らは視野が広く高精度の太陽センサが求められている。
視野角を広げるには■式からhの値を小さくすればよい
が、光検出器の素子数が一定でhだけを小さくすれば一
素子あたりの角度分解能が小さくなり■式のX、、X、
の位置決定精度が劣化する。
従って太陽センサの入射角検出精度が劣化してしまうと
いう欠点があった。
(発明が解決しようとする課題) 上記したように、従来の太陽センサでは、視野角に制約
があり、視野角を広げると太陽光入射角の測定精度が劣
化してしまうという欠点があった。本発明は上記の欠点
に鑑みてなされたもので、センサの外形寸法や光検出器
の検出素子数を従来と変えることなく、視野角を約1.
5倍以上に拡大すると共に、太陽入射角がセンサ光軸付
近のときの測定精度を向上することができる太陽センサ
を提供することを目的とする。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) 上記目的を達成するために本発明では、太陽光の透過を
遮断する遮光面と、この遮光面に所定の間隔をおき長手
方向が互いに平行になるように配置された少くとも2本
以上のスリットと、前記遮光面の下部に所定の間隔をお
いて前記スリットに対して直交する方向に複数の検出素
子が一列に配列してなる光検出器と、この光検出器の出
力信号より太陽光入射角を算出する信号処理回路とによ
り構成される。
(作用) 遮光面に設けられた少くとも2本以上のスリットを透過
した太陽光は、複数の検出素子が一列に配列してなる光
検出器上に入射し、各スリットの位置に対応して光検出
器上に太陽光の回折像が生じる。回折像の数は太陽光の
入射角に依存し、太陽光の入射角が、大きい場合でも光
検出器上に回折像が生じるため、スリットが1本の場合
と比較してより広い視野角が得られる。また入射角が遮
光面と垂直に近い場合は、光検出器上に複数の回折像が
生じるためより測定精度が向上する。
(実施例) 本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第1図は本発明の太陽センサの実施例を示す図である。
第1図で第5図と同一部分には同一符号を付す。第1図
に示すように、遮光面1上に2本のスリット2a、2b
を長手方向が互いに平行となる様に設ける。光検出器3
は例えばりニアアレイセンサであり、複数の検出素子4
(例えばフォトダイオード)が−直線上に配列されてい
る。
第2図は第1図のセンサの断面を示す図である。
第2図で遮光面1と光検出器3との距離をhとし、光検
出器3の全長をLとする。さらに、各スリットを通過し
た太陽光の回折像(太陽光強度分布)をそれぞれ11.
lxとする。図示するようにスリット2aとスリット2
bの間隔をL/2とする。またスリット2aは、遮光面
1と垂直に入射する太陽光がスリット2aを透過したと
き光検出器3上に生ずる太陽光強度分布の中心が光検出
器3の端部TからL/4にあたる位置にあるように形成
されている。光検出器3はR−、itに対応した信号を
出力する。すなわち第6図(b)に示すような各検出素
子に対応する量子化された信号である。
太陽光強度分布R1,I;12は太陽光の入射角により
その位置が変動し、入射角によって2.。
2、の両方が生ずる場合、2.のみ生ずる場合もしくは
2.のみが生ずる場合がある。
例えば第3図に示すように0≦θ<  tan−’(L
 /4h)の領域(θは太陽光とセンサ光軸と平行な直
線とのなす角である。)では、ff11.R,両方の信
号が得られる。このとき24.Rtの中心位fllXc
+とXc2は従来と同様の方法で求めることができる。
従ってXCI とXC2の中点Xcを求め、前述した■
式に代入することにより、太陽光入射角を求めることが
できる。これらの演算は、第1図の信号処理回路5で行
われる。
次に、θがjan”  (L/4h)より大きくなると
回折像は2.あるいは2!のいずれかとなる。
この場合には2.又は2□の位置からθを求めることが
できる。すなわち、次に示すXcを求めることにより、
従来と同様の方法で求めることができる。
2、の場合: Xc −xc++L/422の場合: 
Xc −XC2L/ 4このとき回折像が2.か22の
いずれであるかは次の条件から容易に判別できる。
XCI又はX、2>L/2ならば回折像は2IXCI又
はXc2くL/2ならば回折像は2゜なお、第4図に示
すように、θ−tan−’  (L/4h)付近では一
方の回折像が光検出器の端部にかかり、像が欠ける場合
が生ずる。このようなケースでは、第6図(C)のデジ
タル信号の波形におけるX、〜X2の間隔、即ち“12
レベルの間隔が本来の間隔と比べて短い場合は1回折像
が1つのケースと同様に処理するようにあらかじめ設定
しておくことにより、太陽入射角の誤った算出を防止す
ることができる。
本実施例では、スリットを2本設けることによって、0
≦θ<  jan’  (L/4h)の領域では前記し
た2、と2.の2つの位置情報を用いて信号処理回路で
太陽光入射角の算出を行っている。従って従来のような
1つの位置情報の場合より約f7倍の入射角算出精度の
向上が見こまれる。
般に宇宙航行体は太陽を捕捉した後は太陽入射角が00
付近での太陽センサの入射角検出精度は、視野端部と比
較してより良い精度が要求されている。本実施例では入
射角O°付近の測定には21゜2、の2つの位置情報を
用いていることから特に有効となる。
また、スリットを2本設けることにより、センサの視野
角を最大tan’  (3L / 4 )まで広げるこ
とが可能となるため、従来の視野角αの約1゜5倍の角
度まで入射角の測定が可能となる。
本実施例ではスリット間の間隔をL/2としたが、L/
2以上とすれば視野領域は更に増大する。
また2本以上のスリットを光検出器端部に配置した場合
は、視野領域は従来の約2倍とすることができる。
本発明はスリット2本に限ったものではなく、2本以上
の場合でも適用可能であり、スリットをn本(nk2)
とした場合は、センサ光軸付近の測定精度を(FV倍向
上することが可能である。
[発明の効果] 以上述べたように本発明によれば、従来の太陽センサの
外形寸法や光検出器の測定精度を変更することなくその
視野角を拡大すると共に更にセンサ光軸中心付近の精度
を向上することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例の構成を示す図であり、
第2図は第1図の断面を示す図であり、第3図及び第4
図は太陽光入射角に対応する太陽光強度分布とデジタル
信号を示す図であり、第5図は従来の太陽センサの構成
を示す図であり、第6図は太陽光入射角の算出方法を説
明するための図であり、第7図は第5図に示す従来の太
陽センサの断面を示す図であり、第8図は太陽光の2構
成分の入射角を検出する従来の太陽センサの上面を示す
図である。 l・・・遮光面 2・・・スリット 2a、2b・・・スリット 3・・・光検出器 4・・・検出素子 5・・・信号処理回路 事7図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 太陽光の透過を遮断する遮光面と、前記遮光面に太陽光
    を透過させるために設けられ、所定の間隔をおき互いに
    平行になるように配置された少くとも2本以上のスリッ
    トと、前記遮光面の下部に設けられ、遮光面と所定の間
    隔をおき前記スリットに対し直交する方向に複数の検出
    素子が一列に配列されてなる光検出器と、前記光検出器
    の出力信号より太陽光の入射角を算出する信号処理回路
    とを具備することを特徴とする太陽センサ。
JP2088359A 1990-04-04 1990-04-04 太陽センサ Expired - Lifetime JP2818251B2 (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100740628B1 (ko) * 2001-07-11 2007-07-18 주식회사 포스코 전, 후 스트립 용접 레벨 조절장치
CN102901482A (zh) * 2012-09-24 2013-01-30 清华大学 提高模拟太阳敏感器角度测量精度的方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100740628B1 (ko) * 2001-07-11 2007-07-18 주식회사 포스코 전, 후 스트립 용접 레벨 조절장치
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