JPS62211506A - デジタル太陽センサ - Google Patents

デジタル太陽センサ

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JPS62211506A
JPS62211506A JP61054094A JP5409486A JPS62211506A JP S62211506 A JPS62211506 A JP S62211506A JP 61054094 A JP61054094 A JP 61054094A JP 5409486 A JP5409486 A JP 5409486A JP S62211506 A JPS62211506 A JP S62211506A
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JP
Japan
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clock
slit
sensor
output
sunlight
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JP61054094A
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Inventor
Kazuhiko Okamoto
岡本 二彦
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
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    • GPHYSICS
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    • G01S3/783Systems for determining direction or deviation from predetermined direction using amplitude comparison of signals derived from static detectors or detector systems
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  • Mounting And Adjusting Of Optical Elements (AREA)
  • Control Of Position, Course, Altitude, Or Attitude Of Moving Bodies (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) この発明は、例えば三軸姿勢制御を行なう人工衛星ある
いはスピン方式人工衛星の姿勢を高精度に検出するため
に使用されるデジタル太陽センサに関する。
(従来の技術) 周知のように、従来使用されているこの種のデジタル太
陽センサは大別して以下の2方式がある。
(1)■スリット型デジタル太陽センサ(2)  グレ
イコードパターンを使用するデジタル太陽センサ 上記(1)の方式は、スピン方式の衛星に使用されるも
のであり、第9図に示すようにスリットとフォトセル(
図示せず)からなる第1及び第2のセンサ11.12を
衛星上に略V字型となるよう配置したものである。すな
わち、第1のセンサ11はスピン軸Sと平行して配置さ
れ、第2のセンサ12は第1のセンサ11より所定角度
θだけ離されると共に、スピン軸Sに対して角度Aだけ
傾斜して配置される。このような構成において、衛星の
スピンにより太陽光SBが各センサ11.12のスリッ
トをよぎると、これらセンサ11.12からはそれぞれ
第10図(a)、(b)に示すようなパルス信号が出力
される。そして、これらパルス信号の時間間隔TS及び
TSSを測定することにより、太陽方位角が計算して求
められる。
しかし、この方式においては、衛星上に第1及び第2の
センサ11.12を取付ける際、これらがなす角θ及び
第2のセンサ12の傾斜角Aを正確に設定することが難
しいため、アライメントの精度を向上することが困難で
あり、太陽入射角を1°以上の精度で検知することが不
可能であった。また、この方式は原理的に三軸姿勢制御
衛星には使用できないものであった。
一方、第11図は前記(2)の方式のデジタル太陽セン
サの構成を示すものである。すなわち、石英からなるプ
リズム31の表面にはスリット32がエツチングされた
遮光膜33が設けられ、裏面にはグレイコードパターン
34がエツチングされた遮光膜35が設けられている。
また、前記各グレイコードパターン34にはそれぞれフ
ォトセル361が対向して配設されている。このように
構成されたセンサは前記スリット32が衛星のスピン軸
Sに垂直となるよう配設される。しかして、角度θで入
射した太陽光SBはスリット32を通過してグレイコー
ドパターン34に入射され、このグレイコードパターン
34のいずれかを通過した光は対応するフォトセル36
1によって受光される。
このフォトセル361からは入射−“1#、入射せず−
“0“の出力信号が得られ、このフォトセル361の出
力信号は信号処理回路37に供給される。
この信号処理回路37では入射された信号のコードパタ
ーンより太陽入射角SDが求められる。尚、前記遮光膜
35にはグレイコードパターン34の他に符号ビット用
パターン38、及びスピン衛星の場合にはセンサの視野
とスピン軸のなす平面内に太陽が入ったことを示すサン
パルス用のパターン39が設けられ、これらパターン3
8.39にも同様にフォトセル382 、383が対向
して設けられる。これらフォトセル382 、363の
出力信号は前記信号処理回路37に供給され、所定の信
号処理が行われてサンパルス信号SP等が出力されるよ
うになされている。
このような方式によれば、(1)の方式に比ベテ衛星に
対するセンサの取付けが容易となる利点を有している。
しかし、地球から見た場合、太陽光はO15″の広がり
を持った平行光線であるため、グレイコードの最少パタ
ーン幅を0.5°に相当する幅量上に細かくしても、太
陽光の広がりにより分解能を向上させることができない
。したがって、この方式では太陽入射角を0.5°の精
度で検出するのが限界であり、これ以上精度を向上させ
るには0.5@に相当する幅のパターンをいくつか用意
し、その配置を工夫すること以外にない。
いずれにしても、この方式では太陽光の0.5゜の広が
りが精度向上を拘束しており、上記以上の検出精度を望
むことは困難なものであった。
(発明が解決しようとする問題点) この発明は上記のように太陽入射角の検出が太陽光の広
がりに拘束されていた点を改善し、太陽入射角を高精度
に検出することができるデジタル太陽センサを提供する
ことを目的とする。
(問題点を解決するための手段) すなわち、この発明に係るデジタル太陽センサは、太陽
光の強度を波長に依存せず減衰させるNDフィルタと、
このNDフィルタの下部に配置され該NDフィルタとの
接触面に太陽光を通過させるスリットを形成してなるプ
リズムと、このプリズムの下部に配置され該プリズムに
よって分散する太陽光のうち特定の波長域の光だけを通
過させるバンドパスフィルタと、このバンドパスフィル
タの下部に配置され前記スリットより所定間隔だけ離間
され該スリットと直交して配列され該スリットを通過し
回折した太陽光を受光する複数の受光部からなるリニア
アレイセンサと、このリニアアレイセンサからの出力信
号のピーク値を一定のレベルにする自動利得調整回路と
、この自動利得調整回路からの信号と所定のしきい値と
を比較する比較器と、前記リニアアレイセンサの1個の
受光部に相当する周波数の第1のクロックを生成する第
1のクロック生成手段と、この第1のクロック生成手段
で発生される第1のクロックの1/2周波数の第2のク
ロックを生成する第2のクロック生成手段と、前記第1
及び第2のクロックを前記比較器で入力信号がしきい値
以下のとき第1のクロックを、しきい値以上のとき第2
のクロックを選択的に導出するクロック切換手段と、こ
のクロック切換手段から導出されるクロックを計数する
N (Nは自然数)ビット出力のカウンタと、上記第2
のクロックが最下位ビットに供給され他のビットには前
記カウンタのビット出力が供給されるラッチ回路とを具
備し、このラッチ回路の出力データから太陽光の分布の
中心を求めて太陽入射角を検出するようにしたことを特
徴とするものである。
(作用) つまり、スリットより所定間隔離間してかつこのスリッ
トと直交する方向にリニアアレイセンサを配置し、この
リニアアレイセンサにより前記スリットを通って入射さ
れた太陽光を受光すると共に、このリニアアレイセンサ
の出力信号と所定のしきい値とを比較し、この比較出力
信号が0“から“1″に変化する受光部(以下、画素と
呼ぶ)の位置までをリニアアレイセンサの1画素分に相
当する周波数のクロックでカウントし、比較出力信号が
“1″から“0”に変化する画素位置までは上記周波数
の1/2に相当するクロックでカウントすることにより
、太陽光の広がりの中心位置を1/2画素に相当する分
解能で求め、太陽入射角を検出しようとするものである
(実施例) 以下、第1図乃至第7図を参照してこの発明の一実施例
を説明する。
まず、デジタル太陽センサの光学系について説明する。
第1図において、遮光膜4■の中央部には遮光膜41の
長手方向と直交してスリット42が設けられ、その加工
位置は遮光膜41へのフォトレジストによりプリズム4
3の上面に形成される。プリズム43は石英あるいは光
学ガラスからなる。プリズム43の下面には透過する光
の波長域を制限するためのバンドパスフィルタ44が配
設される。その下には、例えばCODリニアアレイセン
サ45が設けられる。このCODリニアアレイセンサ4
5は、第2図に示すように、その画素451の配列方向
が前記スリット42と直交するようになされ、かつ、全
画素長ノの1/2、つまり中央部がスリット42と対向
するよう配設される。尚、太陽光の強度が増加したとき
CODリニアアレイセンサ45からの出力が飽和しない
ようにするため、第3図に示すように、スリット42の
上にはNDフィルタ46が配設される。
ここで、上記NDフィルタ4Bを通過した太陽光SBは
スリット42を通過した後、プリズム43、バンドパス
フィルタ44を経てCCDリニアアレイセンサ45上に
入射する。スリット幅を適当に選択することにより、太
陽光SBはスリット42通過時の回折現象により入射角
θに依存することなく、第4図(a)に示すように左右
対称な強度分布Iを存する像が得られる。ところが、ス
リット42の下にはプリズム43があるため、太陽光S
Bはプリズム43に入ると分散現象が生じ、波長により
屈折角が異なるようになる。このため、プリズム43が
なければ第4図(a)に示した強度分布(I)は同図(
b)に示すように左右対称がくずれた歪んだ分布(II
)になり、入射角θを検出する際に誤差源ΔXとなる。
前記バンドパスフィルタ44は太陽光の波長を制限する
ことにより、この分散の影響を除き、太陽光の分布が第
4図(a)に示す強度分布(I)、つまり左右対称とな
るようにするために使用される。尚、バンドパスフィル
タ44の透過波長域は、CCDリニアアレイセンサ45
の分光感度特性を考慮して、例えば550[nm]近辺
に設定することが望ましい。
上記のようにスリット42とCCDリニアアレイセンサ
45との間にプリズム43を介在させる理由について説
明する。プリズム43はデジタル太陽センサの視野を広
げると共に、CCDリニアアレイセンサ45の各画素の
色分解能を太陽入射角θに対して均一にすることができ
る利点を有している。すなわち、第3図に示したように
、スリット42とCCDリニアアレイセンサ45間の距
離をh一定とすると、プリズム43を設けた場合は、プ
リズム43の屈折率をnとすると、n”wl、5>1よ
りスネルの法則から sinθ5mn5inθ′ となり、プリズム43のない場合における最大視野角θ
′に比べ、視野角を大きくすることができる。
また、CCDリニアアレイセンサ45の1画素当りの色
分解能dθは、プリズム48を挿入しない場合、(但し
、dx−1画素長ニ一定値) となり、入射角θに大きく依存する。第5図は色分解能
dθと入射角θの関係を示すものであり、(I)はプリ
ズム43を挿入しない場合、(n)はプリズム43を挿
入した場合を示すものである。ここで、入射角θが大き
くなると、色分解能が小さくなることがわかる。これに
対して、プリズム43を設けた場合は、 [deg ] となり、dθと入射角θとの関係は、第5図の(II)
に示したように、1画素当りの色分解能dθは入射角θ
にほとんど依存せず一定となることがわかる。また、プ
リズム43の厚さは、CCD】 リニアアレイセンサ45の全画素長ノとセンサの視野角
θよりh−、l?/lanθの関係より求められる。
CCDリニアアレイセンサ45はその画素数が多くなれ
ばなるほど色分解能が向上するため、なるべく全画素数
の多い素子が使用される。例えば、2048画素を有す
るCCDリニアアレイセンサを使用した場合、視野を±
50″とすると、色分解能は第5図に示したように0.
05°となる。
次に、このデジタル太陽センサの信号処理系について、
第6図及び第7図を用いて説明する。
第6図はその構成を示すもので、上記CCDリニアアレ
イセンサ45はCOD駆動回路61からのクロックCK
Iによって駆動されており、その出力信号はプリアンプ
62を経てAGC(自動利得制御)回路63に入力され
、所定レベルまで増幅される。
このAGC回路゛63の出力は比較器64に入力される
この比較器64は入力電圧VANとしきい値電圧VTH
と比較し、V IN< V Tl(テ “Q ” 、V
 IN> VTRテ“1″を出力するものである。この
比較器64の出力は第1及び第2のワンショットマルチ
バイブレーク85. 86に与えられる。
第1のワンショットマルチバイブレータ65は比較器6
4の出力が“0”から“1”に変化するときパルスP1
を発生して第1及び第2のS−Rフリップフロップfi
フ、 68のセット端子Sに供給するものである。また
、第2のワンショットマルチバイブレーク66は比較器
64の出力が“1“から“θ″に変化するときパルスP
2を発生して第1のS−Rフリップフロップ67のリセ
ット端子Rに供給すると共に、後述するラッチ回路74
のクロック端子Cに供給するものである。
上記第1のフリップフロップ67のQ出力はANDゲー
ト69の一方の入力端に供給され、第2のフリップフロ
ップG8のΦ出力はANDゲート70の一方の入力端に
供給される。これらANDゲート69.70の各他方の
入力端にはそれぞれCOD駆動回路61で発生されるク
ロックCKIが供給される。ANDゲート69の出力は
第3の(Dラッチ型)S−Rフリップフロップ71のク
ロック端子Cに供給される。このフリップフロップ71
のセ・ソト端子Sは接地され、Φ出力端はD入力端に接
続される。
そして、そのQ出力は上記ANDゲート70の出力と共
にORゲート72の各入力端に供給されると共に、ラッ
チ回路74の1ビツト入力端に供給される。
上記ORゲート72の出力はカウンタ73のクロック端
子Cに供給される。
このカウンタ73の各ビット出力端Q1〜QNはそれぞ
れラッチ回路74の2〜N+1ビツト入力端に接続され
ており、このラッチ回路74の出力は出力回路(例えば
メモリ)75に一旦保持される。つまり、この出力回路
75に読出しクロックCK3を与えることによってデー
タD OUTを取出すことができる。
尚、上記COD駆動回路B1は所定タイミングでリセッ
トパルスRPを発生しており、このリセットパルスRP
は第2及び第3のフリップフロップ68、カウンタ73
の各リセット端子Rに供給される。
すなわち、前記構成の光学系を経てCCDリニアアレイ
センサ45で受光される太陽光の強度分布は入射角θに
依存せず、第7図(a)に示すように左右対称になる。
CCDリニアアレイセンサ45からは、CCD駆動回路
61より第7図(c)に示すような1周期がCCDリニ
アアレイセンサ45の1画素に対応するクロックCKI
が供給されており、このクロック信号CKIに同期して
太陽光の強度分布に対応する各画素からの出力電圧が、
第7図(b)に示すように時分割されて順次出力される
。この時分割信号はプリアンプ82によっである程度増
幅された後、AGC回路63に供給される。
このAGC回路63の機能は、入射光の強度が太陽の入
射角θの余弦関数となり、信号が変化する ゛場合にお
いても出力電圧のピーク値が常に一定値となるように回
路の利得を制御する。これによって太陽の入射角が大き
くなり、CCDリニアアレイセンサ45からの出力が低
下した場合でも、常に同一レベルの電圧として同一条件
下で信号を処理することができ、測定精度の変動を防止
できる。
このAGC回路68の出力信号は比較器64にて、第7
図(b)に示すように、しきい値電圧VTRと比較され
る。しかして、比較器64からは、第7図(d)に示す
ように、入力信号がしきい値電圧VTR以下の場合“0
″レベル、しきい値電圧VTR以上の場合“1”レベル
の信号が出力される。
そこで、第7図(d)に示す比較器64の出力から、太
陽光の分布の中心を求める。すなわち、第7図(d)に
おいて、CCDリニアアレイセンサ45の一方の最端部
画素位置を0とし、比較器64の出力信号が“O”から
“1”に変化する画素位置をxl、“1°から“O“に
変化する画素位置をx2とすると、太陽光の広がり中心
位置はxl+方法を説明する。
まず、比較器64の出力信号が“O”から“1′に変化
すると、これと同時に第1のワンショットマルチバイブ
レーク65よりパルスP1が発生し、第2のフリップフ
ロップ68がセットされ、これによって第2のフリップ
フロップθBのζ出力は“1mから“Omへ変化する。
すると、ANDゲート69の出力は、第6図に示すよう
に、フリップフロップ68のζ出力が“1″レベルであ
る間、第7図(e)に示すようにCCD駆動回路61か
らのクロックCKIを出力する。このクロックはORゲ
ート72を経てカウンタ73に入力され、ここで画素数
x1が計数される。
このカウンタ73はCCDリニアアレイセンサ45の全
画素数を計数可能なNビットの出力を有するものを使用
する。例えば、全画素数が2048画素のCODリニア
アレイセンサを使用する場合にはN−11となるから、
11ビット以上の計数が可能なカウンタを使用する。
7図(d)に示す画素位置x1で比較器64の出力信号
が“01から“1”レベルに変化すると、第1のワンシ
ョットマルチバイブレータ65よりバルスP1が発生し
、これによって第1のフリップフロップ67がセットさ
れる。このため、フリップフロップ67のQ出力は“O
”から“1″に変化する。
次に、第7図(d)に示す画素位置x2で比較器B4の
出力信号が“1″から“0″レベルに変化すると、第2
のワンショットマルチバイブレータ88よりパルスP2
が発生し、これによって第1のフリップフロップB7が
リセットされる。このため、フリップフロップ6丁のQ
出力は“1″から“O”に変化する。
上記第1のフリップフロップ87のQ出力が“1”レベ
ルである間、CCD駆動回路61からのクロックCKl
はANDゲート89を通過して第3のフリップフロップ
71に入力される。ここでフリップフロップ71のQ出
力に入力クロック周波数を1/2とした第7図(f)に
示すクロックCK2が発生する。このクロックCK2は
ORゲート72を経てカウンター3で計数される。つま
り、第7図(f)のクロックの数は画素位置xiからX
2までの画2−xi 素数の半分、すなわち□に相当する。
ORゲート72からの出力は第7図(g)に示すように
なり、カウンタ73に入力されている。これに2−xi よりxl+□を1画素に相当する分 解能で求めることができる。すなわち、x2−2−xi xlが奇数個であった場合、□は実際には第7図(f)
のクロック数に1/2を加えたものとなるが、カウンタ
73ではこの1/2を計算することはできないため、太
陽光の分布の中心位置は1画素より細かい分解能で求め
ることはできない。
そこで、さらに分解能を1/2画素まで上げるため、第
3のフリップフロップ71のQ出力は画素位置がx2で
比較器64の出力信号が“1″から“0”に変化すると
き、x2−xiが偶数ならば“0”レベル、奇数ならば
“1”レベルに保持されるので、この信号とカウンタ7
3の出力信号とを、第2のワンショットマルチバイブレ
ーク66より発生するパルスP2を用いて、N+1ビツ
トのラッチ回路74にラッチする。このラッチ回路74
に保持されたデータは1/2画素の分解能で検出したC
ODリニアアレイセンサ45上での太陽光の分布の中心
位置であり、これにより太陽入射角を検出することがで
きる。尚、データは出力回路75によりこのデータを利
用する機器とのインターフェースがとれるようなフォー
マットに編集され、例えば相手側機器からの読出しクロ
ックCK3に同期して出力される。
したがって、デジタル太陽センサを上記のように構成す
れば、検出精度が0.5’という太陽光の広がりに制約
を受けることがないので、スリット回折による太陽光の
左右対称な強度分布の中心位置をCODリニアアレイセ
ンサの1画素の1/2に相当する角分解能まで精度を向
上させることができる。例えば、視野±50°、204
8画素を有するCODリニアアレイセンサを使用した場
合、1画素に相当する角分解能は0.05’であり、検
出の最少分解能は0.025″と飛躍的に向上させるこ
とができる。
また、このデジタル太陽センサを視野方向となる座標軸
に垂直な二次元の検出器として使用する場合には、第8
図に示すように、センサの光学系を2個使用し、互いの
スリット421 、422を直交して配置すればよい。
さらに、リニアアレイセンサはCODリニアアレイセン
サに限定されるものではない。
その他、この発明の要旨を変えない範囲で種々変形して
も実施可能であることは言うまでもない。
[発明の効果] 以上詳述したようにこの発明によれば、太陽入射角を高
精度に検出することができるデジタル太陽センサを提供
することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図乃至T57図はこの発明に係るデジタル太陽セン
サの一実施例を説明するためのもので、第1図は光学系
の構成を示す斜視図、第2図は第1図の要部構成を説明
するために示す図、第3図は第1図の光学系の側断面図
、第4図は第1図のバンドパスフィルタの作用を説明す
るために示す波形図、第5図は入射角対角分解能の特性
を示す図、第6図は信号処理系の回路構成を示す図、第
7図は第6図の動作を説明するために示す波形図、第8
図はこの発明に係る他の実施例を示す斜視図、第9図は
従来のデジタル太陽センサを説明するために示す概略構
成図、第10図は第9図の動作を説明するために示す波
形図、第11図は第9図とは異なる従来のデジタル太陽
センサを説明するために示す概略構成図である。 41・・・遮光膜、42・・・スリット、48・・・プ
リズム、44・・・バンドパスフィルタ、45・・・C
CDリニアアレイセンサ、4B・・・NDフィルタ、6
2・・・プリアンプ、63・・・AGC回路、B4・・
・比較器、65.86・・・ワンショットマルチバイブ
レーク、87.88・・・S−Rフリップフロップ、8
9.70・・・ANDゲート、71・・・Dラッチ型S
−Rフリップフロップ、72・・・ORゲート、73・
・・カウンタ、74・・・ラッチ回路、75・・・出力
回路、VTI+・・・しきい値電圧。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第7図 第8図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  太陽光の強度を波長に依存せず減衰させるNDフィル
    タと、このNDフィルタの下部に配置され該NDフィル
    タとの接触面に太陽光を通過させるスリットを形成して
    なるプリズムと、このプリズムの下部に配置され該プリ
    ズムによって分散する太陽光のうち特定の波長域の光だ
    けを通過させるバンドパスフィルタと、このバンドパス
    フィルタの下部に配置され前記スリットより所定間隔だ
    け離間され該スリットと直交して配列され該スリットを
    通過し回折した太陽光を受光する複数の受光部からなる
    リニアアレイセンサと、このリニアアレイセンサからの
    出力信号のピーク値を一定のレベルにする自動利得調整
    回路と、この自動利得調整回路からの信号と所定のしき
    い値とを比較する比較器と、前記リニアアレイセンサの
    1個の受光部に相当する周波数の第1のクロックを生成
    する第1のクロック生成手段と、この第1のクロック生
    成手段で発生される第1のクロックの1/2周波数の第
    2のクロックを生成する第2のクロック生成手段と、前
    記第1及び第2のクロックを前記比較器で入力信号がし
    きい値以下のとき第1のクロックを、しきい値以上のと
    き第2のクロックを選択的に導出するクロック切換手段
    と、このクロック切換手段から導出されるクロックを計
    数するN(Nは自然数)ビット出力のカウンタと、上記
    第2のクロックが最下位ビットに供給され他のビットに
    は前記カウンタのビット出力が供給されるラッチ回路と
    を具備し、このラッチ回路の出力データから太陽光の分
    布の中心を求めて太陽入射角を検出するようにしたこと
    を特徴とするデジタル太陽センサ。
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