JPH03277913A - 塗装表面検査装置 - Google Patents
塗装表面検査装置Info
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- JPH03277913A JPH03277913A JP2079199A JP7919990A JPH03277913A JP H03277913 A JPH03277913 A JP H03277913A JP 2079199 A JP2079199 A JP 2079199A JP 7919990 A JP7919990 A JP 7919990A JP H03277913 A JPH03277913 A JP H03277913A
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 16
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 4
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 4
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 3
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- FGUUSXIOTUKUDN-IBGZPJMESA-N C1(=CC=CC=C1)N1C2=C(NC([C@H](C1)NC=1OC(=NN=1)C1=CC=CC=C1)=O)C=CC=C2 Chemical compound C1(=CC=CC=C1)N1C2=C(NC([C@H](C1)NC=1OC(=NN=1)C1=CC=CC=C1)=O)C=CC=C2 FGUUSXIOTUKUDN-IBGZPJMESA-N 0.000 description 1
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000010422 painting Methods 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Image Analysis (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Coating Apparatus (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、塗装表面の検査装置に関し、特に塗装表面の
塗装むらを数値化することにより、塗装表面の塗装状態
を検査する装置に関する。
塗装むらを数値化することにより、塗装表面の塗装状態
を検査する装置に関する。
一般に、金属板の表面にペイント塗装を行なったとき、
その塗装表面に塗装むらに伴ううねりが生じる。
その塗装表面に塗装むらに伴ううねりが生じる。
従来は、このようなうねりの状態を目視により判定して
塗装表面の良否を判断していた。
塗装表面の良否を判断していた。
そのために例えばtl/c4図(模式図)に示すような
測定器が用いられている。
測定器が用いられている。
すなわち第4図において、符号1は測定器2のケーシン
グを示していて、ケーシング1はほぼ六面体に形成され
て、底面l!に検査対象物3の被検査面3aが露出可能
なほぼ正方形状の切欠きlbが形成されている。
グを示していて、ケーシング1はほぼ六面体に形成され
て、底面l!に検査対象物3の被検査面3aが露出可能
なほぼ正方形状の切欠きlbが形成されている。
さらに一方の天井板1cに幅の異なる基準スリット4が
取付けられるとともに、他方の天井板1dにルーベ5が
取付けられている。
取付けられるとともに、他方の天井板1dにルーベ5が
取付けられている。
検査時に、基準スリット4を通じてハロゲンランプ6を
光源とする光が被検査面3sに照射され、その反射光が
ルーぺ5を介して目視される。
光源とする光が被検査面3sに照射され、その反射光が
ルーぺ5を介して目視される。
そして、そのときの映像における基準スリット4のたて
じまの鮮明度と被検査面31のくもり具合などから、被
検査面3!の塗装状態の良否の判定が行なわれる。
じまの鮮明度と被検査面31のくもり具合などから、被
検査面3!の塗装状態の良否の判定が行なわれる。
ところで、上述のような従来の塗装表面検査装置では、
目視による判定であるため、測定者によるハラつきが発
生し、判定結果が信憑性にとぼしいという問題点がある
。
目視による判定であるため、測定者によるハラつきが発
生し、判定結果が信憑性にとぼしいという問題点がある
。
本発明は、このような問題点の解決をはかろうとするも
ので、被検査面(塗装表面)をテレビカメラを介して画
像化し、この画像の解析により塗装表面のコントラスト
やうねりを数値化した、塗装表面検査装置を提供するこ
とを目的とする。
ので、被検査面(塗装表面)をテレビカメラを介して画
像化し、この画像の解析により塗装表面のコントラスト
やうねりを数値化した、塗装表面検査装置を提供するこ
とを目的とする。
上述の目的を達成するため、本発明の塗装表面検査装置
は、光源としての蛍光灯と、同蛍光灯で照射されている
被検査面としての塗装表面を受像可能なテレビカメラと
、同テレビカメラで受像された画像を入力とする画像処
理装置とをそなえ、同画像処理装置が、上記画像から上
記塗装表面のコントラストあるいはうねりを数値化する
ための演算回路をそなえていることを特徴としている。
は、光源としての蛍光灯と、同蛍光灯で照射されている
被検査面としての塗装表面を受像可能なテレビカメラと
、同テレビカメラで受像された画像を入力とする画像処
理装置とをそなえ、同画像処理装置が、上記画像から上
記塗装表面のコントラストあるいはうねりを数値化する
ための演算回路をそなえていることを特徴としている。
上述の本発明の塗装表面検査装置では、蛍光灯で照射さ
れている塗装表面がテレビカメラで受像され、その画像
が画像処理されて上記塗装表面のコントラストやうねり
が数値で表示されるような作用が行なわれる。
れている塗装表面がテレビカメラで受像され、その画像
が画像処理されて上記塗装表面のコントラストやうねり
が数値で表示されるような作用が行なわれる。
次に、本発明の一実施例としての塗装表面検査装置につ
いて説明すると、第1図はその模式図、第2図は画像処
理装置における処理フローチャート、第3図(x)、(
b)はいずれも理想反射画像図である。
いて説明すると、第1図はその模式図、第2図は画像処
理装置における処理フローチャート、第3図(x)、(
b)はいずれも理想反射画像図である。
嬉1図において、符号11は無底の六面体のケーシング
を示していて、その天井板11iに直管状の蛍光灯12
が取付けられている。またケーシング11の内部に基準
スリット板13が取付けられている。
を示していて、その天井板11iに直管状の蛍光灯12
が取付けられている。またケーシング11の内部に基準
スリット板13が取付けられている。
第1図中の符号口は2次元CCDカメラ、15は画像処
理装置をそれぞれ示している。
理装置をそれぞれ示している。
使用に際して、検査対象物3の表面上にケーシング】1
が載置され、蛍光灯12が点灯されると、蛍光灯12の
光は基準スリット板13のスリット131を通して検査
対象物3の被検査面3】に到達し、ここで反射した光が
カメラ14でとらえられ、その画像が画像処理装置1S
に入力される。
が載置され、蛍光灯12が点灯されると、蛍光灯12の
光は基準スリット板13のスリット131を通して検査
対象物3の被検査面3】に到達し、ここで反射した光が
カメラ14でとらえられ、その画像が画像処理装置1S
に入力される。
そして、画像処理装置15での画像処理は、第2図のフ
ローチャートに示すようにして行なわれる。
ローチャートに示すようにして行なわれる。
すなわち、画像処理装置15のステップaが実行される
と、カメラ14の画像が画像処理装置15に画像16と
して取り込まれる。塗装表面にうねりがあるため、画像
16は、明部161と暗部16bとの境界線が波打った
画像となる。
と、カメラ14の画像が画像処理装置15に画像16と
して取り込まれる。塗装表面にうねりがあるため、画像
16は、明部161と暗部16bとの境界線が波打った
画像となる。
次に画像処理装置+5において、ステップbが実行され
る。ステップbにより、画像+6のX軸上の任意の点に
おけるY方向の輝度断面の抽出が行なわれて曲線17が
得られる。次のステップCにおいて(Y2−Yl)/
(Y1+Yl)なる演算が行なわれて画像16のコント
ラスト抽出が行なわれる。この演算によって被検査面3
1のコントラストの数値化か可能となる。またY2は、
被検査面のくもり具合を数値であられしている。
る。ステップbにより、画像+6のX軸上の任意の点に
おけるY方向の輝度断面の抽出が行なわれて曲線17が
得られる。次のステップCにおいて(Y2−Yl)/
(Y1+Yl)なる演算が行なわれて画像16のコント
ラスト抽出が行なわれる。この演算によって被検査面3
1のコントラストの数値化か可能となる。またY2は、
被検査面のくもり具合を数値であられしている。
次のステップdにおいて画像16のX方向に明部16a
と暗部+6bとの境界部の輝度断面抽出が行なわれて、
輝度断面曲線18が得られる。
と暗部+6bとの境界部の輝度断面抽出が行なわれて、
輝度断面曲線18が得られる。
第2図のステップdにおける輝度断面曲線18の波打ち
が、塗装表面の波打ちと相関性があることは言うまでも
ない。
が、塗装表面の波打ちと相関性があることは言うまでも
ない。
次のステップeにおいて、輝度断面曲線18のFFT解
析(高速フーリエ解析)が行なわれて、曲線18を支配
する主たる周波数(特徴周波数)Pが得られる。そして
このPが「被検査面のうねり」としてステップfにより
表示される。 第3図(&)および(b)は、塗装面に
全くうねりのない理想的な場合を参考までに示したもの
で、16′および17′が画像16および曲線17に対
応するものである。
析(高速フーリエ解析)が行なわれて、曲線18を支配
する主たる周波数(特徴周波数)Pが得られる。そして
このPが「被検査面のうねり」としてステップfにより
表示される。 第3図(&)および(b)は、塗装面に
全くうねりのない理想的な場合を参考までに示したもの
で、16′および17′が画像16および曲線17に対
応するものである。
なお、基準スリット板13を除去して、蛍光灯12の光
を直接被検査面31に照射した画像を、Y方向にFFT
解析しても、上述のPを得ることができる。
を直接被検査面31に照射した画像を、Y方向にFFT
解析しても、上述のPを得ることができる。
以上詳述したように、本発明の塗装表面検査装置によれ
ば次のような効果ないし利点が得られる。
ば次のような効果ないし利点が得られる。
(1)塗装表面のコントラストやうねりが数値であられ
されるので、判定が容易である。
されるので、判定が容易である。
(2)目視によらないため、測定者によるバラつきか無
くなる。
くなる。
(3)光源として蛍光灯が用いられているので、自然光
に近い状態での塗装表面の検査を行なうことができる。
に近い状態での塗装表面の検査を行なうことができる。
第1〜3図は本発明の一実施例としての塗装表面検査装
置を示すもので、第1図はその模式図、第2図は画像処
理装置における処理70−チャート、第3図(A)、(
b)はいずれも理想反射画像図であり、第4図は従来の
塗装表面検査装置の模式図である。 11・・・ケーシング、12・・・蛍光灯、13・・・
基準スリット板、13a・・・スリット、14・・・2
次元CCDカメラ、IS・・・画像処理装置、16・・
・画像。
置を示すもので、第1図はその模式図、第2図は画像処
理装置における処理70−チャート、第3図(A)、(
b)はいずれも理想反射画像図であり、第4図は従来の
塗装表面検査装置の模式図である。 11・・・ケーシング、12・・・蛍光灯、13・・・
基準スリット板、13a・・・スリット、14・・・2
次元CCDカメラ、IS・・・画像処理装置、16・・
・画像。
Claims (1)
- 光源としての蛍光灯と、同蛍光灯で照射されている被検
査面としての塗装表面を受像可能なテレビカメラと、同
テレビカメラで受像された画像を入力とする画像処理装
置とをそなえ、同画像処理装置が、上記画像から上記塗
装表面のコントラストあるいはうねりを数値化するため
の演算回路をそなえていることを特徴とする、塗装表面
検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2079199A JPH03277913A (ja) | 1990-03-28 | 1990-03-28 | 塗装表面検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2079199A JPH03277913A (ja) | 1990-03-28 | 1990-03-28 | 塗装表面検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03277913A true JPH03277913A (ja) | 1991-12-09 |
Family
ID=13683296
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2079199A Pending JPH03277913A (ja) | 1990-03-28 | 1990-03-28 | 塗装表面検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03277913A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007054840A1 (en) * | 2005-11-11 | 2007-05-18 | Feup - Faculdade De Engenharia Da Universidade Do Porto | Device for application of a liquid substance for film coating and its use in measuring of the applicability characteristics of a coating film |
JP2015073940A (ja) * | 2013-10-09 | 2015-04-20 | 株式会社ビーエフケー | 塗装用ブース |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63100310A (ja) * | 1986-10-16 | 1988-05-02 | Tokai Rika Co Ltd | 表面性状測定装置 |
-
1990
- 1990-03-28 JP JP2079199A patent/JPH03277913A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63100310A (ja) * | 1986-10-16 | 1988-05-02 | Tokai Rika Co Ltd | 表面性状測定装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007054840A1 (en) * | 2005-11-11 | 2007-05-18 | Feup - Faculdade De Engenharia Da Universidade Do Porto | Device for application of a liquid substance for film coating and its use in measuring of the applicability characteristics of a coating film |
JP2015073940A (ja) * | 2013-10-09 | 2015-04-20 | 株式会社ビーエフケー | 塗装用ブース |
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