JPH03263216A - 位置座標の検出装置 - Google Patents
位置座標の検出装置Info
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- JPH03263216A JPH03263216A JP2063572A JP6357290A JPH03263216A JP H03263216 A JPH03263216 A JP H03263216A JP 2063572 A JP2063572 A JP 2063572A JP 6357290 A JP6357290 A JP 6357290A JP H03263216 A JPH03263216 A JP H03263216A
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- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 31
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 11
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 9
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- PXFBZOLANLWPMH-UHFFFAOYSA-N 16-Epiaffinine Natural products C1C(C2=CC=CC=C2N2)=C2C(=O)CC2C(=CC)CN(C)C1C2CO PXFBZOLANLWPMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
手書き文字の入力などを行うための位置座標の検出装置
に関し、 製造した複数の平面抵抗体について共通的なデータと、
それを補正するデータとを区別して別個の記憶装置に書
込み、大量生産に適した位置座標の検出装置を提供する
ことを目的とし、平面抵抗体の対向する二辺からそれぞ
れ位相の90度異なる交流信号を印加し、該平面抵抗体
の平面上に位置付けられた入力素子が該平面抵抗体から
検出した両信号の位相差により該入力素子の位置座標を
検出するため、入力素子出力について位相を検出する位
相検出器と、該位相検出器の処理を制御する制御装置と
、第1の情報記憶装置とを具備する位置座標の検出装置
において、前記制御装置には更に第2の記憶装置を接続
し、該第2の記憶装置は位相検出器特有であって、且つ
前記第1の情報記憶装置の格納情報値に対する補正値が
書込まれていることで構成する。
に関し、 製造した複数の平面抵抗体について共通的なデータと、
それを補正するデータとを区別して別個の記憶装置に書
込み、大量生産に適した位置座標の検出装置を提供する
ことを目的とし、平面抵抗体の対向する二辺からそれぞ
れ位相の90度異なる交流信号を印加し、該平面抵抗体
の平面上に位置付けられた入力素子が該平面抵抗体から
検出した両信号の位相差により該入力素子の位置座標を
検出するため、入力素子出力について位相を検出する位
相検出器と、該位相検出器の処理を制御する制御装置と
、第1の情報記憶装置とを具備する位置座標の検出装置
において、前記制御装置には更に第2の記憶装置を接続
し、該第2の記憶装置は位相検出器特有であって、且つ
前記第1の情報記憶装置の格納情報値に対する補正値が
書込まれていることで構成する。
本発明は手書き文字の入力などを行うための位置座標の
検出装置に関する。
検出装置に関する。
平面抵抗体の平面上に入力ペンを置き、接触位置のXY
座標を検出する装置は原理的に知られている。平面抵抗
体は現状ではその特性が一定でないため、位置座標検出
の精度が低く、補正用ROMを設けたものもROMにデ
ータを書込む作業が煩雑となった。簡易に使用でき且つ
精度の高い位置座標検出装置を開発することが要望され
た。
座標を検出する装置は原理的に知られている。平面抵抗
体は現状ではその特性が一定でないため、位置座標検出
の精度が低く、補正用ROMを設けたものもROMにデ
ータを書込む作業が煩雑となった。簡易に使用でき且つ
精度の高い位置座標検出装置を開発することが要望され
た。
第5図は従来技術の例として特開昭63−46531号
公報に記載されている装置を示す図である。第5図にお
いて、lは平面抵抗体で例えばインジウム錫酸化物を蒸
着した透明フィルムで作ったもの、2.3はX電極群、
4,5はY電極群、6は高周波発振器で、0度、90度
の2相の矩形波を同一周波数・同一振幅で発振するもの
、7,8はX電極群ドライバ、9,10はYt極群ドラ
イバ 11は入力ペン、12は増幅器、13はフィルタ
、14は位相検出器、15はマイクロプロセッサで、位
相−座標変換部16.領域判定部17、補正演算部18
で構成されるもの、19はROMを示す。
公報に記載されている装置を示す図である。第5図にお
いて、lは平面抵抗体で例えばインジウム錫酸化物を蒸
着した透明フィルムで作ったもの、2.3はX電極群、
4,5はY電極群、6は高周波発振器で、0度、90度
の2相の矩形波を同一周波数・同一振幅で発振するもの
、7,8はX電極群ドライバ、9,10はYt極群ドラ
イバ 11は入力ペン、12は増幅器、13はフィルタ
、14は位相検出器、15はマイクロプロセッサで、位
相−座標変換部16.領域判定部17、補正演算部18
で構成されるもの、19はROMを示す。
平面抵抗体1の上に入力ペン11を位置させたときの座
標を検出するために、まずX座標を求めるようにYドラ
イバ9.lOを高インピーダンス(トライステートバッ
ファによる高Z状態)にしてYt電極群、5をドライバ
から電気的に切り離す。Xドライバ7.8からX電極群
2.3を介して平面抵抗体1に印加された電界は、位置
に応じて位相が変化している。入力ペン11は直下の抵
抗体1上の信号が誘起されるから、増幅器12て増幅し
、フィルタ13で高調波成分を除去し、基本波成分だけ
を位相比較器14に入力し、発振器6からの0度矩形波
との位相差θを求める。次に位相−座標変換部16にお
いてθを座標Xに変換する。その時使用する計算式は X=tanθ/(1+tanθ) である。
標を検出するために、まずX座標を求めるようにYドラ
イバ9.lOを高インピーダンス(トライステートバッ
ファによる高Z状態)にしてYt電極群、5をドライバ
から電気的に切り離す。Xドライバ7.8からX電極群
2.3を介して平面抵抗体1に印加された電界は、位置
に応じて位相が変化している。入力ペン11は直下の抵
抗体1上の信号が誘起されるから、増幅器12て増幅し
、フィルタ13で高調波成分を除去し、基本波成分だけ
を位相比較器14に入力し、発振器6からの0度矩形波
との位相差θを求める。次に位相−座標変換部16にお
いてθを座標Xに変換する。その時使用する計算式は X=tanθ/(1+tanθ) である。
同様にY座標についても、X方向のドライバを切離し、
Y電極群に矩形波を印加して検出する。
Y電極群に矩形波を印加して検出する。
このとき平面抵抗体1の抵抗ムラに応じて、座標区を補
正する必要がある。そのため領域判定部17において、
方形の入力面を実測値に基づいて、例えば一対の直角三
角形に分割し、記憶装置としてのROM19には領域判
別に必要な領域の座標を格納して置く。更にROM19
には各領域毎にアフィン変換を行うための補正パラメー
タも格納して置く。
正する必要がある。そのため領域判定部17において、
方形の入力面を実測値に基づいて、例えば一対の直角三
角形に分割し、記憶装置としてのROM19には領域判
別に必要な領域の座標を格納して置く。更にROM19
には各領域毎にアフィン変換を行うための補正パラメー
タも格納して置く。
前記検出したX、Y座標により対応する領域を求めて、
補正パラメータをROM19の格納データから取り出す
。そして補正演算部18においてアフィン変換を行うこ
とにより正確な入力座標を求める。
補正パラメータをROM19の格納データから取り出す
。そして補正演算部18においてアフィン変換を行うこ
とにより正確な入力座標を求める。
(発明が解決しようとする課題)
第5図による装置では、装置を製造するとき1台ずつ平
面抵抗体の抵抗ムラが異なるため、ROMに書込む補正
値を個別に処理する必要がある。
面抵抗体の抵抗ムラが異なるため、ROMに書込む補正
値を個別に処理する必要がある。
そのため大量に効率良く装置を製造することか出来なか
った。
った。
本発明の目的は前述の欠点を改善し、製造した複数の平
面抵抗体について共通的なデータと、それを補正するデ
ータとを区別して別個の記憶装置に書込むことにより、
大量生産に適した位置座標検出器を提供することにある
。
面抵抗体について共通的なデータと、それを補正するデ
ータとを区別して別個の記憶装置に書込むことにより、
大量生産に適した位置座標検出器を提供することにある
。
第1図は本発明の原理構成を示す図である。第1図にお
いて、■は平面抵抗体、6は発振器、11は入力素子、
14は位相検出器、19は第1の記憶装置、20は第2
の記憶装置を示す。
いて、■は平面抵抗体、6は発振器、11は入力素子、
14は位相検出器、19は第1の記憶装置、20は第2
の記憶装置を示す。
平面抵抗体1の対向する二辺からそれぞれ位相の90度
異なる交流信号を印加し、該平面抵抗体lの平面上に位
置付けられた入力素子11か該平面抵抗体lから検出し
た両信号の位相差により該入力素子11の位置座標を検
出するため、入力素子11出力について位相を検出する
位相検出器14と、該位相検出器14の処理を制御する
制御装置15と、第1の情報記憶装置19とを具備する
位置座標の検出装置において、本発明は下記の構成とす
る。即ち、 前記制御装置15には更に第2の記憶装置20を接続し
、該第2の記憶装置20は前記位相検出器14特有であ
って、且つ前記第1の情報記憶装置19の格納情報値に
対する補正値が書込まれていることで構成している。
異なる交流信号を印加し、該平面抵抗体lの平面上に位
置付けられた入力素子11か該平面抵抗体lから検出し
た両信号の位相差により該入力素子11の位置座標を検
出するため、入力素子11出力について位相を検出する
位相検出器14と、該位相検出器14の処理を制御する
制御装置15と、第1の情報記憶装置19とを具備する
位置座標の検出装置において、本発明は下記の構成とす
る。即ち、 前記制御装置15には更に第2の記憶装置20を接続し
、該第2の記憶装置20は前記位相検出器14特有であ
って、且つ前記第1の情報記憶装置19の格納情報値に
対する補正値が書込まれていることで構成している。
平面抵抗体l上に位置させた人力素子11の座標を位相
検出器14により検出することは従来どおりである。当
初において入力素子11を既知の座標位置に置いて検出
させて、得られた座標値を前記理論値と一致させるため
、制御装置15は第1の記憶装置19内に修正用データ
を書込む。第2の記憶装置20に対してはそのとき補正
データは書込まれない。その装置により通常の位置座標
を検出するとき、前記修正用データを使用して位置座標
値を正確なものに修正する。
検出器14により検出することは従来どおりである。当
初において入力素子11を既知の座標位置に置いて検出
させて、得られた座標値を前記理論値と一致させるため
、制御装置15は第1の記憶装置19内に修正用データ
を書込む。第2の記憶装置20に対してはそのとき補正
データは書込まれない。その装置により通常の位置座標
を検出するとき、前記修正用データを使用して位置座標
値を正確なものに修正する。
そして前記処理の終わった平面抵抗体1と同一ロットで
製造された平面抵抗体を使用する位置座標の検出器に対
しては、それぞれの第1の記憶装置19に対し、前記書
込んだ修正値と同一データを修正値として書込んで行く
。そして次の較正作業に入る。即ち、平面抵抗体につい
ては製造ムラが生じているから、再び入力素子を既知の
位置座標において検出させ、得られた座標値について第
1の記憶装置データにより修正した後の値に対し必要な
補正値の有無を調べる。その時得られた補正値は当該装
置特有の値であるから、それを第2の記憶装置20に書
込んで行く。この補正値は第1の記憶装置19の修正値
と比較して小さな値で済むから、データ演算とその格納
は短時間で終わり、大量生産に適する。次いで通常の位
置座標の検出動作を行う。その時は第1・第2の再記憶
装置のデータについて補正する。
製造された平面抵抗体を使用する位置座標の検出器に対
しては、それぞれの第1の記憶装置19に対し、前記書
込んだ修正値と同一データを修正値として書込んで行く
。そして次の較正作業に入る。即ち、平面抵抗体につい
ては製造ムラが生じているから、再び入力素子を既知の
位置座標において検出させ、得られた座標値について第
1の記憶装置データにより修正した後の値に対し必要な
補正値の有無を調べる。その時得られた補正値は当該装
置特有の値であるから、それを第2の記憶装置20に書
込んで行く。この補正値は第1の記憶装置19の修正値
と比較して小さな値で済むから、データ演算とその格納
は短時間で終わり、大量生産に適する。次いで通常の位
置座標の検出動作を行う。その時は第1・第2の再記憶
装置のデータについて補正する。
第2図は本発明の実施例として第2の記憶装置20を示
す図である。第2図において、19は第1の記憶装置例
えばROM、20−1はランダムアクセスメモリRAM
、20−2はバックアップ電池、21は制御装置15の
データバス、22は必要に応じ使用するホストコンピュ
ータ、23はインタフェース回路を示す。第2図には図
示しない平面抵抗体上の位置座標について、当初の既知
ポイントに対し検出されたとき、制御装置15例えばマ
イクロプロセッサはそのX、 Y座標を演算する。次に
既知ポイントの座標に対する修正値を求めることを制御
装置15または必要に応じホストコンピュータにより行
う。そのときROM19に格納されているデータを使用
して修正を行った後に、更に必要な補正値の有無を演算
する。演算値はその装置特有のものであり、RAM20
−1に送られて格納される。次に検出すべき位置座標が
得られたとき、制御装置15はRAM20−1の内容が
座標補正値であることをチエツクサム(格納データ値を
合計した値が所定値であるかどうかのチエツク)で判断
し、補正値であるときはその値を使用して座標補正を行
う。その処理には必要に応じインタフェース回路23を
介してホストコンピュータを使用する。
す図である。第2図において、19は第1の記憶装置例
えばROM、20−1はランダムアクセスメモリRAM
、20−2はバックアップ電池、21は制御装置15の
データバス、22は必要に応じ使用するホストコンピュ
ータ、23はインタフェース回路を示す。第2図には図
示しない平面抵抗体上の位置座標について、当初の既知
ポイントに対し検出されたとき、制御装置15例えばマ
イクロプロセッサはそのX、 Y座標を演算する。次に
既知ポイントの座標に対する修正値を求めることを制御
装置15または必要に応じホストコンピュータにより行
う。そのときROM19に格納されているデータを使用
して修正を行った後に、更に必要な補正値の有無を演算
する。演算値はその装置特有のものであり、RAM20
−1に送られて格納される。次に検出すべき位置座標が
得られたとき、制御装置15はRAM20−1の内容が
座標補正値であることをチエツクサム(格納データ値を
合計した値が所定値であるかどうかのチエツク)で判断
し、補正値であるときはその値を使用して座標補正を行
う。その処理には必要に応じインタフェース回路23を
介してホストコンピュータを使用する。
第3図は第2図における制御装置の動作フローチャート
を示す。
を示す。
第2図における電池20−2は記憶装置20−lに対す
るバックアップ電池であり、主電源が断となったとき格
納データを保持するために使用する。なお第2の記憶装
置20−1はRAMの代わりにPROMを使用しても良
い。座標検出手段としての入力素子は、入力ペン以外に
指入力方式を使用することも出来る。そのときは指を置
いた位置を検出する装置を使用する。
るバックアップ電池であり、主電源が断となったとき格
納データを保持するために使用する。なお第2の記憶装
置20−1はRAMの代わりにPROMを使用しても良
い。座標検出手段としての入力素子は、入力ペン以外に
指入力方式を使用することも出来る。そのときは指を置
いた位置を検出する装置を使用する。
次に第4図はRAMと制御装置データバスとの接続を示
す図である。第4図において24はスイッチを示す。当
初の座標補正値を求めたとき、制御装置15はスイッチ
24をオンとして、RAM20−1に対しデータバス2
1を介して補正データを書込む。第2図においては、R
AM20−1のデータについて座標補正値であるかどう
かを「チエツクサム」で判断していたか、補正値を格納
するときスイッチ24を使用し、格納後にスイッチをオ
ンとすれば、座標検出における処理はメモリ20−1を
直ぐ使用して実行できる。
す図である。第4図において24はスイッチを示す。当
初の座標補正値を求めたとき、制御装置15はスイッチ
24をオンとして、RAM20−1に対しデータバス2
1を介して補正データを書込む。第2図においては、R
AM20−1のデータについて座標補正値であるかどう
かを「チエツクサム」で判断していたか、補正値を格納
するときスイッチ24を使用し、格納後にスイッチをオ
ンとすれば、座標検出における処理はメモリ20−1を
直ぐ使用して実行できる。
このようにして本発明によると、位置座標を検出したと
き補正すべき値を第2の記憶装置に対し、その装置に特
有の値として格納しであるから、座標演算の処理に要す
る時間が短く、より正確に出来る。また第1の記憶装置
は複数の平面抵抗体に対し共通データを、装置の製造時
に格納して置けば良いから、装置を大量生産することに
有効である。
き補正すべき値を第2の記憶装置に対し、その装置に特
有の値として格納しであるから、座標演算の処理に要す
る時間が短く、より正確に出来る。また第1の記憶装置
は複数の平面抵抗体に対し共通データを、装置の製造時
に格納して置けば良いから、装置を大量生産することに
有効である。
19−・・第1の記憶装置
20・・・・第2の記憶装置
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 平面抵抗体(1)の対向する二辺からそれぞれ位相の9
0度異なる交流信号を印加し、該平面抵抗体(1)の平
面上に位置付けられた入力素子(11)が該平面抵抗体
(1)から検出した両信号の位相差により該入力素子(
11)の位置座標を検出するため、入力素子(11)出
力について位相を検出する位相検出器(14)と、該位
相検出器(14)の処理を制御する制御装置(15)と
、第1の情報記憶装置(19)とを具備する位置座標の
検出装置において、 前記制御装置(15)には更に第2の記憶装置(20)
を接続し、 該第2の記憶装置(20)は前記位相検出器(14)特
有であって、且つ前記第1の情報記憶装置(19)の格
納情報値に対する補正値が書込まれていることを特徴と
する位置座標の検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2063572A JPH03263216A (ja) | 1990-03-14 | 1990-03-14 | 位置座標の検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2063572A JPH03263216A (ja) | 1990-03-14 | 1990-03-14 | 位置座標の検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03263216A true JPH03263216A (ja) | 1991-11-22 |
Family
ID=13233102
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2063572A Pending JPH03263216A (ja) | 1990-03-14 | 1990-03-14 | 位置座標の検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03263216A (ja) |
-
1990
- 1990-03-14 JP JP2063572A patent/JPH03263216A/ja active Pending
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