KR100257963B1 - 디지타이징 패널을 디스플레이 장치와 정렬시키기 위한 방법및 장치 - Google Patents

디지타이징 패널을 디스플레이 장치와 정렬시키기 위한 방법및 장치 Download PDF

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Abstract

디지타이징 패널의 제 1 좌표계를 디스플레이 장치의 제 2 좌표계와 정렬시키기 위한 방법 및 장치가 제공된다. 본 발명의 방법은 각각이 Xref, Yref좌표값을 갖는 복수의 기준점을 디스플레이 장치상에 디스플레이하는 단계; 상기 복수의 기준점과 관련하여 위치된 물체의 복수의 위치를 나타내는 디지타이징 패널에서부터의 복수의 제 1 Xr, Yr 좌표값을 결정하는 단계; 복수의 제 1 Xr, Yr 좌표값 및 복수의 Xref, Yref좌표값으로부터 복수의 채널 이득 보정값을 결정하는 단계; 및 디지타이징 패널과 관련한 물체의 위치를 나타내는 제 2 Xr, Yr 좌표값의 보정에 사용하기 위해 상기 복수의 채널 이득 보정값을 기억시키는 단계를 포함한다.

Description

디지타이징 패널을 디스플레이 장치와 정렬시키기 위한 방법 및 장치{METHOD AND APPARATUS FOR ALIGNING A DIGITIZING PANEL WITH A DISPLAY DEVICE}
본 발명은 전반적으로 디지타이징 패널에 관한 것으로, 특히 디지타이징 패널을 디스플레이 장치와 정렬시키기 위한 방법 및 장치에 관한 것이다.
유리와 같은 비전도성 플레이트가 피복된 저항성층을 포함하는 디지타이징 패널이 종래기술로 공지되어 있다. 공지된 디지타이징 패널은 두가지 모드, 즉 터치 모드 또는 펜 모드중의 하나로 동작할 수 있다. 터치 모드의 동작시에 컴퓨터는 저항성층을 AC 신호로 바이어스하도록 구성된다. 비전도성 플레이트에 근접하여 접촉하는 사용자의 손가락과 같은 물체는 저항성층에 용량성으로 결합되는 부하로서 작용한다. 용량성으로 결합된 부하는 전기 전류가 저항성층의 코너를 통과하여 흐르도록 한다. 컴퓨터는 저항성층의 각각의 코너에서의 전류 흐름에 기초하여 당업자에게 공지된 방법으로 디지타이징 패널과 관련한 물체의 직교 좌표(X,Y) 위치를 결정할 것이다. 특히, 디지타이징 패널과 관련한 스타일러스(stylus)의 위치는 물체가 저항성층에 용량성으로 결합됨으로 인해 저항성층의 코너를 통해 흐르는 코너 전류 또는 신호의 비율에 기초하여 결정될 것이다.
펜모드의 동작시에는 컴퓨터는 파지형 펜 혹은 스타일러스로부터 전송되는 신호를 수신할 수 있도록 구성된다. 특히, 스타일러스는 통상적으로 송신기부에 연결된 코일이 스타일러스의 선단부(tip)로부터의 AC 신호를 전송하도록 발진기부에 전원을 공급하는 배터리부를 포함한다. AC 신호는 스타일러스 선단부가 디지타이징 패널과 연결된 비전도성 플레이트와 같은 표면 또는 물체에 접촉할때 스타일러스 선단부로부터 전송될 것이다.
전송된 AC 신호는 디지타이징 패널에 연결된 저항성층에 용량성으로 결합된다. 용량성으로 결합된 AC 신호는 저항성층의 각각의 코너를 통과하는 전류 흐름을 유기시킨다. 터치 모드에서와 같이, 디지타이징 패널과 관련한 스타일러스이 위치는 스타일러스로부터 전송된 AC 신호로 인해 저항성층의 코너를 통해 흐르는 코너 전류 혹은 신호의 비율에 기초하여 결정될 것이다.
통상적으로, 디지타이징 패널은 디스플레이 장치의 상단부에 위치된다. 공지의 디지타이징 패널에서 나타나는 한가지 문제점은 스타일러스 또는 사용자의 손가락의 보고된 위치(디지타이징 패널에 의해 검출된 위치)가 디스플레이 위치(디스플레이 장치상에 디스플레이되는 위치)와 대응하도록 디지타이징 패널을 디스플레이 장치와 정렬시키는 것이다. 예를들어, 사용자가 스타일러스 또는 사용자의 손가락과 같은 물체를 디지타이징 패널을 가로질러 이동시킬때, 디스플레이 장치는 통상적으로 물체의 아래에 디지탈 잉크(즉, 물체의 X,Y 좌표 위치에 대응하는 X,Y 좌표 위치를 갖는 하나 또는 그 이상의 픽셀의 활성화)를 디스플레이한다. 그러나, 디스플레이 장치가 물체의 선단부 아래에 디지탈 잉크를 디스플레이하기 위해서는 디지타이징 패널은 디스플레이가 장치와 정밀한 정렬을 이루어야만 한다. 그러므로, 디지타이징 패널과 디스플레이 장치간의 어떠한 비정렬(misalignment)에 의해 디스플레이 장치는 실질적으로 물체의 하부에 있지 않은 디지탈 잉크를 디스플레이하게 된다.
비정렬은 적어도 오프셋, 스케일, 스큐(skew) 및 채널 이득 부정합의 4가지 성분을 포함한다. 오프셋은 디지타이징 패널과 디스플레이 장치간의 절대 원점의 비정렬에 의해 야기된다. 스케일 비정렬은 디지타이징 패널 및 디스플레이 장치의 좌표계간의 좌표 단위당의 거리의 불일치에 의해 야기된다. 스큐는 디지타이징 패널의 좌표계와 디스플레이 장치의 좌표계간의 두드러진 회전에 의해 야기된다. 채널 이득 부정합은 디지타이징 패널과 연결된 저항성층의 코너를 통해 흐르는 전류의 크기를 나타내는 값을 생성하는 채널 프리프로세서의 상대적인 이득 부정합이다. 채널 이득 부정합은 디지타이징 패널의 좌표계와 디스플레이 장치의 좌표계간의 비선형 상관을 야기한다.
디지타이징 패널을 디스플레이 장치와 정렬시키기 위한 공지의 방법은 통상적으로 디스플레이 장치상에 디스플레이된 기준점에 대응하는 X,Y 좌표 위치 세트를 구하는 단계를 포함한다. 특히, 다수의 기준점이 디스플레이 스크린상에 연속적으로 디스플레이되며, 사용자는 각각의 기준점에 대해 물체(예를들어, 스타일러스)를 터치하도록 지시된다. 기준점의 각각을 접촉할때의 물체의 위치는 처리 유닛에 보고되며, 이 처리 유닛에서는 보고된 X,Y 좌표 위치가 복수의 보정 계수를 구하기 위해 보정 방정식 체계를 풀도록 사용된다. 보정 계수 및 보정 방정식은 디지타이징 패널로부터 처리 유닛에 보고되는 각쌍의 X,Y 좌표를 보정하기 위해 정상 처리 동안에 사용된다. 이 결과의 보정된 X,Y 좌표쌍은 디지타이징 패널에 접촉하고 있는 물체의 선단부와 가장 정확하게 정렬하고 있는 디지탈 잉크를 디스플레이하기 위해 사용된다.
1992년 5월 19일자로 Crooks 에게 허여된 미국특허 5,115,107 호에는 사용자로 하여금 디스플레이 장치상에 디스플레이되는 3개의 기준점을 스타일러스로 연속적으로 터치하도록 지시하는 정렬 방법이 개시되어 있다. 그리고나서, 이 정렬 방법은 6개의 보정 방정식의 체계를 풀어 6개의 보정 계수(X-scale계수, Y-scale계수, X-offset계수, Y-offset 계수, X-skew계수, Y-skew계수)를 구한다. 6개의 보정 계수를 구한 후, 보정 방정식과 관련하여 6개의 보정 계수를 사용함으로써 모든 추가 보고된 X,Y 좌표를 보정한다.
미국특허 5,115,107 호에 개시되어 있는 디지타이징 패널과 디스플레이 장치를 정렬시키는 방법은 약간의 단점들을 갖는다. 예를들어, 이 방법은 실제로 방정식의 체계를 풀어야 하기 때문에 이 방법은 보정 계수를 구하기 위해 설정된 수의 기준점을 사용하여야 할 것이다. 예를들어, 이 방법은 6개의 미지의 수를 갖는 6개의 방정식의 체계를 풀기 때문에 상기의 방법은 3개의 기준점(3쌍의 X,Y 좌표값)을 사용하여야 할 것이다. 더욱이, 사용자가 한계가 있는 정확도로 디스플레이상에 디스플레이된 기준점을 터치하여야 하므로, 사용자가 적합한 정확도로 기준점을 터치하지 못할 경우 개시된 방법은 보정 방정식의 체계에 대한 해답을 얻을 수 없을 것이다. 오직 3개의 기준점에 대해서만 스타일러스를 터치하는 사용자와 관련된 부정확성은 더 많은 샘플의 기준점이 사용될 경우 감소될 수 있을 것이 분명하다. 더욱이, 개시된 방법은 디지타이징 패널의 코너 전류 크기를 나타내는 값을 생성하는 채널 프리프로세서들간의 불완전한 채널 이득 정합을 보정하지 못한다.
따라서, 보정 방정식의 체계를 직접 풀므로써 사용될 수 있는 것보다 더 많은 수의 기준점이 사용될 수 있도록 하면서 오프셋, 스케일, 스큐 및 채널 이득 비정렬을 보정하기 위한 방법 및 장치가 요망된다.
본 발명은 디지타이징 패널의 제 1 좌표계와 디스플레이 장치의 제 2 좌표계를 정렬시키기 위한 신규하면서 유용한 방법을 제공함에 그 목적이 있다.
또한, 본 발명은 디지타이징 패널의 제 1 좌표계와 디스플레이 장치의 제 2 좌표계를 정렬시키기 위한 향상된 방법을 제공함에 그 목적이 있다.
또한, 본 발명은 신규의 향상된 컴퓨터를 제공함에 그 목적이 있다.
또한, 본 발명은 향상된 컴퓨터를 제공함에 그 목적이 있다.
또한, 본 발명은 스타일러스로 기준 좌표를 터치하는 사용자와 관련된 조정오차를 감소시키는 신규의 유용한 방법을 제공함에 그 목적이 있다.
또한, 본 발명은 채널 이득 부정합에 대해 보고된 좌표를 조절하는 신규의 유용한 방법을 제공함에 그 목적에 있다.
또한, 본 발명은 보고된 좌표로부터 채널 이득 부정합 보정 계수를 구하는 신규의 유용한 방법을 제공함에 그 목적이 있다.
또한, 본 발명은 디지타이징 패널과 관련한 스타일러스의 위치 좌표를 정확하게 보고하는 신규의 유용한 컴퓨터를 제공함에 그 목적이 있다.
또한, 본 발명은 채널 이득 부정합에 대해 보고된 좌표를 조절하는 신규의 유용한 컴퓨터를 제공함에 그 목적이 있다.
본 발명의 일실시예에 의하면, 디지타이징 패널의 제 1 좌표계와 디스플레이 장치의 제 2 좌표계를 정렬시키기 위한 방법이 제공된다. 본 방법은 각각이 Xref, Yref좌표값을 갖는 복수의 기준점을 디스플레이 장치상에 디스플레이하는 단계, 상기 복수의 기준점과 관련하여 위치된 물체의 복수의 위치를 나타내는 디지타이징 패널에서부터의 복수의 제 1 Xr, Yr 좌표값을 결정하는 단계, 복수의 제 1 Xr, Yr 좌표값 및 복수의 Xref, Yref좌표값으로부터 복수의 채널 이득 보정값을 결정하는 단계, 및 디지타이징 패널과 관련한 물체의 위치를 나타내는 제 2 Xr, Yr 좌표값의 보정에 사용하기 위해 상기 복수의 채널 이득 보정값을 기억시키는 단계를 포함한다.
본 발명의 다른 실시예에 의하면, 각각이 Xref, Yref좌표값을 갖는 복수의 기준점을 디스플레이하기 위한 디스플레이 장치, 상기 디스플레이 장치에 탑재되고 저항성층이 연결되어 잇는 디지타이징 패널, 상기 저항성층의 각각의 코너에 각각 접속된 복수의 채널 프리프로세서, 상기 채널 프리프로세서에 접속되며 상기 복수의 기준점에 대해 위치된 물체의 복수의 위치를 나타내는 복수의 Xr, Yr 좌표값을 생성하도록 구성된 X,Y 좌표 생성기, 및 복수의 Xr, Yr 좌표값 및 복수의 Xref, Yref좌표값으로부터 복수의 채널 이득 보정값을 구하기 위한 수단을 포함하는 컴퓨터가 제공된다.
본 발명의 제 3 실시예에 의하면, 디지타이징 패널의 제 1 좌표계와 디스플레이 장치의 제 2 좌표계를 정렬시키기 위한 방법이 제공된다. 본 방법은 각각이 Xref, Yref좌표값을 갖는 복수의 기준점을 디스플레이 장치상에 디스플레이하는 단계, 상기 복수의 기준점과 관련하여 위치된 물체의 복수의 위치를 나타내는 디지타이징 패널로부터의 복수의 제 1 Xr,Yr 좌표값을 결정하는 단계, 및 디지타이징 패널과 관련한 물체의 위치를 나타내는 제 2 Xr,Yr 좌표값의 보정에 사용하기 위해 상기 복수의 제 1 Xr,Yr 좌표값 및 복수의 Xref,Yref좌표값으로부터 복수의 채널 이득 보정값을 결정하는 단계를 포함한다.
본 발명의 상기한 목적, 특징 및 장점과 기타의 목적, 특징 및 장점은 다음의 상세한 설명 및 첨부된 도면으로부터 명백히 이해될 수 있을 것이다.
도 1 은 본 발명의 특징을 통합한 일례의 컴퓨터에 대한 간략화된 블록도.
도 2 는 도 1 에 도시된 스타일러스의 사시도.
도 3 은 도 1 의 라인 3-3을 따라 절취한 디지타이징 패널 및 관련 디스플레이 장치의 사시도.
도 4 는 도 1 에 도시된 콘트롤러의 블럭도.
도 5a 는 디지타이징 패널의 절대 원점과 디스플레이 장치의 절대 원점간의 오프셋 비정렬의 예를 도시하는 도면.
도 5b 는 디지타이징 패널과 디스플레이 장치간의 스케일 비정렬의 예를 도시하는 도면.
도 5c 는 디지타이징 패널과 디스플레이 장치간의 스큐 비정렬의 예를 도시하는 도면.
도 6 은 디스플레이 장치를 디지타이징 패널과 조정 또는 정렬시키기 위한 과정의 흐름도.
도 7 은 보정 계수의 결정에 사용하기 위해 디스플레이 장치상에 디스플레이된 다수의 기준점을 도시하는 도면.
도 8 은 X, Y 좌표 보정 루틴을 실행하기 위한 흐름도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
10 : 컴퓨터 14 : 디지타이징 패널
16 : 콘트롤러 18 : 중앙처리장치
19 : 메모리 23 : 스타일러스
24 : 글래스층 26 : 디스플레이 장치
본 발명에 대한 각종의 변형 및 다른 형태의 실시예가 가능하며, 본 발명의 특정 실시예가 예로써 도면에 도시되어 있고 상세히 설명될 것이다. 그러나, 본 발명은 개시된 특정 형태로 제한되는 것은 아니며, 그 반대로 본 발명은 첨부된 특허청구의 범위에 의해 정의된 바와 같은 발명의 기술사상에 부합하는 모든 변형, 등가물 및 대체물을 포함한다.
도 1 에는 본 발명의 특징이 통합되어 있는 노트북 또는 휴대용 컴퓨터와 같은 컴퓨터(10)의 기능 블록도가 도시되어 있다. 컴퓨터(10)는 정전 디지타이징 태블릿 혹은 패널(14), 콘트롤러(16), 통상의 중앙처리장치(CPU:18), 랜덤 액세스 메모리(RAM:19), 및 액정 디스플레이(LCD)와 같은 디스플레이 장치(26)를 포함한다. 디지타이징 패널(14)은 다수의 코너 와이어(20a~20d)를 통해 콘트롤러(16)에 운영가능하게 접속된다. CPU(18)는 디스플레이 인터페이스(21)를 통해 디스플레이 장치(26)에 운영가능하게 접속된다. 콘트롤러(16)는 직렬포트와 같은 직렬 데이타라인(22)을 통해 CPU(18)에 운영가능하게 접속되며, 메모리(19)는 시스템 버스(25)를 통해 CPU(18)에 운영가능하게 접속된다.
컴퓨터(10)가 아래에 추가로 설명되는 바와 같이 펜 모드로 동작할시에 컴퓨터(10)에 데이타를 입력하기 위해 통상의 파지형 펜 혹은 스타일러스(23)가 사용된다. 도 2를 참조하면, 스타일러스(23)는 적어도 배터리부(23a), 발진기부(23b) 및 송신기부(23c)를 갖는 무선형 스타일러스도 가능하다. 배터리부(23a)는 발진기부(23b)에 전원을 공급하며, 발진기부(23b)는 송신기부(23c)에 연결된 코일(도시생략)을 자극하여 AC 신호(23d:도 1)를 송신하도록 한다. 개시된 실시예에서, 신호(23d)는 대략 125kHz의 반송파 주파수를 가질 것이다.
정전 디지타이징 패널(14)은 도 3 에 도시된 바와 같이 공지 물지로 이루어진 몇몇 층을 포함할 것이다. 도시된 실시예에서, 글래스층(24)은 이 글래스층(24) 아래에 위치되어 있는 디스플레이 장치(26)를 보호한다. 글래스층(24)의 상부 표면(27)은 스타일러스(23) 혹은 사용자의 손가락(도시생략)과 같은 물체를 위한 기록/터치 표면을 형성한다. 글래스층(24)의 하부 표면은 활성 센서 물질이 도포되어 형성된 층(28)을 갖는다. 도시된 실시예에서, 활성 센서 물질은 통상적으로 정전 디지타이징 패널 응용장치에 사용되는 투명한 인듐-주석-산화물(ITO)의 박막 코팅이 가능하다.
각각의 코너 와이어(20a~20d)는 아래에 추가로 설명되는 바와 같이 물체가 글래스층(24)에 접촉하는 결과로 생성된 전류 흐름을 운송하기 위해 활성 ITO층(28)의 각각의 코너에 전기 접속된다. 글래스 표면(24)이 파손되는 경우에 조각나는 것을 방지하기 위해 활성 ITO층(28)의 하부에 폴리에스테르 스폴 실드(polyester spall shield:30)가 부착된다. 스폴 실드(30)의 하부 표면은 활성 ITO 실드층(도시생략)이 도포될 수도 있다. 활성 ITO 실드층은 LCD 스크린(26)에서 활성 ITO층(28)까지 결합하는 노이즈를 감소시키는 전기 실드를 형성한다. 에어갭(32)은 스폴 실드(30)의 하부 표면을 LCD 스크린(26)의 상부 표면으로부터 분리시킨다.
컴퓨터(10)는 터치 모드와 펜 모드의 두가지 모드중의 한 모드로 동작할 것이다. 터치 모드 동작시, 컴퓨터(10)는 통상적으로 공지된 방식으로 콘트롤러(16)로부터의 AC 신호로 활성 ITO층(28)을 바이어스하도록 구성된다. 특히, 콘트롤러(16)는 코너 와이어(20a~20d)를 통해 활성 ITO층(28)의 각각의 코너에 125kHz 바이어스 전압을 인가한다. 물체가 디지타이징 패널(14)에 도달하지 않는 한, 컴퓨터(10)는 비동작 상태로 되며, 활성 ITO층(28)과 이 활성 ITO층(28)에 인접한 컴퓨터(10)의 임의의 금속 부품간의 표유 커패시턴스 또는 기생 커패시턴스에 의해 야기된 부하 효과로 인해 유한량의 AC 오프셋 전류가 코너 와이어(20a~20d)를 통해 흐를 것이다.
물체가 디지타이징 패널(14)에 도달할때, 물체는 활성 ITO층(28)에 결합되는 용량성 부하로서 점점 증가하면서 작용한다. 활성 ITO층(28)에 용량성으로 결합되는 물체는 활성 ITO층(28)에 미치는 부하로서 작용하고, 이 부하는 활성 ITO층(28)의 각각의 코너 및 코너 와이어(20a~20d)를 통과하는 전류 흐름을 발생시킨다. 콘트롤러(16)는 당업자에 공지된 방식으로 코너 와이어(20a~20d)의 각각에서의 전류 흐름을 기초로 디지타이징 패널(14)과 관련된 사용자의 손가락과 같은 물체의 직교 좌표 (X,Y) 위치를 결정할 것이다.
펜 모드 동작시, 컴퓨터(10)는 통상적으로 스타일러스(23)로부터 전송된 신호가 수신될 수 있도록 구성된다. 특히, 전류 흐름은 스타일러스(23)로부터 전송된 신호에 응답하여 코너 와이어(20a~20d)의 각각에서 생성된다. 콘트롤러(16)는 당업자에 공지된 방식으로 코너 와이어(20a~20d)의 각각에서의 전류 흐름을 기초로 디지타이징 패널(14)과 관련한 스타일러스의 직교 좌표 (X,Y) 위치를 결정할 것이다.
활성 ITO층(28)에 용량성으로 결합되는 물체(스타일러스 또는 손가락)로 인해 활성 ITO층(28)의 각각의 코너를 통과하는(그리고 코너 와이어(20a~20d)의 각각에서의) 전류 흐름의 크기는 활성 ITO층(28)의 각각의 코너와 도 1 에 도시된 바와 같은 글래스층(24)상의 특정 위치에 있는 물체간의 활성 ITO층(28)의 전도도에 비례한다. 특히, 물체 위치에서 활성 ITO층(28)의 각각의 코너로 연장하는 직선의 상대적인 두께는 활성 ITO층(28)과 관련한 물체의 위치로 인해 활성 ITO층(28)의 각각의 코너를 통과하는 전류 흐름의 크기를 나타낸다.
그러므로, 물체 위치와 활성 ITO층(28)의 각각의 코너간에 연장하는 직선의 상대적인 두께로 도시된 바와 같이, 물체가 활성 ITO층(28)의 특정 코너에 근접하면 할수록, 활성 ITO층(28)의 전도도는 커지고, 그 코너를 통과하는 전류 흐름은 더욱 증가한다. 마찬가지로, 물체가 활성 ITO층(28)의 특정 코너로부터 더욱 멀어지면, 활성 ITO층(28)의 전도도는 낮아지고, 그 코너를 통과하는 전류 흐름은 더욱 감소한다.
도 4 에는 콘트롤러(16)의 간략화된 기능 블록도가 도시되어 있다. 특히, 콘트롤러(16)는 다수의 코너 신호 또는 채널 프리프로세서(34a~34d) 및 X,Y 좌표생성기(36)를 포함한다. 코너 신호 프리프로세서(34a~34d)는 각각의 코너 와이어(20a~20d)를 통해 흐르는 전류를 아날로그 전압 신호로 변환한다. 아날로그 전압 신호는 각각의 코너 와이어(20a~20d)를 통해 흐르는 전류의 크기를 나타내는 진폭을 갖는다. 코너 와이어(20a~20d)를 통해 흐르는 전류는 전술된 바와 같이 실질적으로 디지타이징 패널(14)에 접촉하는 물체에 기인한다.
또한, 코너 신호 프리프로세서(34a~34d)는 라인(44a~44d)을 통해 디지탈값으로 전송하기 전에 공지된 방식으로 아날로그 전압 신호를 필터링 및 정류하여 디지탈값으로 변환한다. 개시된 실시예에서, 아날로그 전압 신호는 대략 100샘플/초의 샘플링 비율로 디지탈값으로 변환될 것이다. 또한, 코너 신호 프리프로세서(34a~34d)의 각각은 컴퓨터(10)가 터치 모드로 동작할때 활성 ITO층(28)을 자극하기 위해 각각의 코너 와이어(20a~20d)에 AC신호를 공급한다. 라인(44a~44d)상의 디지탈값은 각각의 코너 와이어(20a~20d)를 통해 흐르는 전류의 크기를 나타내는 이진 표현을 갖는다.
X,Y 좌표 생성기(36)는 공지된 방식으로 디지타이징 패널(14)과 관련한 물체의 직교 좌표 (X,Y)의 결정에 사용하기 위해 라인(44a~44d)을 통해 디지탈값을 입력한다. 특히, 디지타이징 패널(14)과 관련한 물체의 위치는 활성 ITO층(28)의 코너를 통한 전류 흐름의 크기를 나타내는 디지탈값의 비율을 기초로 결정될 것이다.
예시된 실시예에서, 결과의 X-좌표값은 디지타이징 패널(14)의 폭의 단편(fraction)으로서 표현되며, 결과의 Y-좌표값은 디지타이징 패널(14)의 높이의 단편으로써 표현된다. 결과의 X,Y 좌표값은 X,Y 좌표 생성기(36)로부터 출력되고, 라인(22)을 통해 CPU(18)에 보고된다. CPU(18)는 디스플레이 장치(26)상에 디지탈 잉크(즉, 하나 또는 그 이상의 LCD 패널을 활성화시킴)를 생성하기 위해 보고된 X,Y 좌표값을 사용할 것이다.
컴퓨터(10)의 중요한 성능 특징은 디지타이징 패널(14)에 접촉하는 물체(예를들어, 스타일러스 또는 사용자의 손가락)의 위치를 정확하게 복사하거나(replicate) 디스플레이할 수 있는 능력에 있다. 그러나, 디스플레이 장치(26)가 디지타이징 패널(14)과 물리적으로 및/또는 기계적으로 비정렬되는 경우, CPU(18)에 의해 활성화되는 LCD 픽셀(또는 픽셀들)이 콘트롤러(16)에 의해 CPU(18)에 보고된 X,Y 좌표 위치에 실질적으로 대응하지 않을 수도 있다. 몇몇의 계수는 채널 이득 비정렬, 오프셋 비정렬, 스케일 비정렬 및 스큐 비정렬과 같이 디스플레이 장치(26)를 디지타이징 패널(14)과 비정렬되도록 할 수도 있다.
채널 이득 부정합은 활성 ITO 센서층(28)의 코너 전류 진폭을 나타내는 값을 생성하는 채널 프리프로세서(34a~34d)간의 상대 이득 부정합으로서 정의될 것이다. 예를들어, 채널 프리프로세서(34d)가 기준으로서 사용되는 경우(즉, 1의 이득값을 갖는 것으로 간주), 채널 프리프로세서(34c)는 채널 프리프로세서(34d)에 대해 1.05의 이득값을 가질 것이다. 그러므로, 채널 프리프로세서(34d)가 검출된 전류에 대해 2의 값을 생성하는 경우, 채널 프리프로세서(34c)는 동일 크기의 전류에 대해 2.1의 값을 발생할 것이다.
CPU(18)는 다음의 수학식1a 및 수학식1b를 사용하여 전술된 채널 이득 부정합을 보상 또는 보정할 것이다.
Figure pat00001
Figure pat00002
여기서, Xr 및 Yr 은 라인(22)을 통해 콘트롤러(16)로부터 CPU(18)에 보고된 X,Y 좌표값이며, Xc 및 Yc 는 채널 이득 부정합에 대해 보정되는 결과 X,Y 좌표값이며, gc_0, gc_1 및 gc_2는 채널 프리프로세서(34d)와 관련한 채널 프리프로세서(34a~34c)의 채널 이득값이다. 더욱 상세히 하술되는 바와 같이, CPU(18)는 방정식의 체계에 대한 근사 해답을 구하기 위해 최적화 방법을 사용함으로써 채널 이득값 gc_0, gc_1 및 gc_2를 근사한다.
도 5a 에는 디스플레이 장치(26)의 절대 원점(66)과 디지타이징 패널(14)의 절대 원점(68)간의 오프셋 비정렬의 예가 도시되어 있다. 오프셋 비정렬은 디스플레이 장치(26)의 절대 원점(66)의 위치가 디지타이징 패널(14)의 절대 원점(68)의 위치와 상이하게 되는 방식으로 디지타이징 패널(14)과 디스플레이 장치(26)를 함께 결합시킨 결과일 것이다.
오프셋 비정렬은 2개의 값, 즉 offset_x 값(50) 및 offset_y 값(52)에 의해 특징지워질 것이다. offset_x 값(50)은 디스플레이 장치(26)의 y-축(70)과 디지타이징 패널(14)의 y-축(72)간의 거리를 나타낸다. offset_y 값(52)은 디스플레이 장치(26)의 x-축(62)과 디지타이징 패널(14)의 x-축(64)간의 거리를 나타낸다.
예를들어, offset_x 값(50)이 3개의 디스플레이 단위와 동일하고 offset_y 값(52)이 4개의 디스플레이 단위와 동일하며 스타일러스(23)가 디지타이징 패널(14)의 원점(68)에 위치되는 경우, 라인(22)을 통해 CPU(18)에 보고된 X,Y 좌표는(0,0)이 될 것이다. CPU(18)가 보고된 X,Y 좌표 (0,0)에 대응하는 디스플레이 장치(26)의 픽셀(들)이 활상화 되도록 하는 경우, 결과의 디지탈 잉크는 스타일러스(23)의 위치와 정렬되지 않는 디스플레이 장치(26)의 원점(66)에 디스플레이될 것이다. 그러나, CPU(18)가 오프셋 보정된 X,Y 좌표 (3,4)에 대응하는 픽셀이 활성화되도록 하는 경우, 디지탈 잉크는 스타일러스(23)의 위치와 정렬될 것이다.
CPU(18)는 다음의 수학식2a 및 수학식2b를 사용하여 전술된 오프셋 비정렬을 보상 또는 보정할 것이다.
Figure pat00003
Figure pat00004
여기서, Xr 및 Yr 은 라인(22)을 통해 콘트롤러(16)로부터 CPU(18)에 보고된 X,Y 좌표값이며, Xc 및 Yc 는 오프셋 비정렬에 대해 보정되는 결과 X,Y 좌표값이고, offset_x는 디스플레이 장치(26)의 y-축(70)과 디지타이징 패널(14)의 y-축(72)간의 거리를 나타내며, offset_y 는 디스플레이 장치(26)의 x-축(62)과 디지타이징 패널(14)의 x-축(64)간의 거리를 나타낸다. 아래에 상세히 하술되는 바와 같이, CPU(18)는 방정식의 체계에 대한 근사 해답을 구하기 위해 공지된 최적화 방법을 사용하여 오프셋 비정렬값 offset_x 및 offset_y 를 근사한다.
도 5b 디지타이징 패널(14)과 디스플레이 장치(26)간의 스케일 비정렬의 예가 도시되어 있다. 스케일 비정렬은 디지타이징 패널(14)의 좌표 단위당의 거리가 디스플레이 장치(26)의 좌표 단위당의 거리와 상이하게 됨에 의해 야기된다. 스케일 비정렬은 scale_x 값 및 scale_y 값으로 구성된다. scale_x 값은 디지타이징 패널(14)의 거리(58)를 디스플레이 장치(26)의 거리(54)로 나눈 비율로서 정의된다. scale_y 값은 디지타이징 패널(14)의 거리(60)를 디스플레이 장치(26)의 거리(56)로 나눈 비율로서 정의된다.
예를들어, 거리(58)가 4mm 이고 거리(54)가 2mm 인 경우, scale_x 값은 2가 될 것이다. 더욱이, 거리(60)가 3mm 이고 거리(56)가 2mm인 경우, scale_y 값은 1.5 가 될 것이다. 그러므로, 스타일러스(23)가 디지타이징 패널(14)의 좌표(30,40)에 위치되는 경우, CPU(18)는 디지탈 잉크가 스타일러스(23)와 정렬되도록 하기 위해 스케일 보정된 X,Y 좌표 (60,60)에 대응하는 디스플레이 장치(26)의 픽셀(들)이 활성화되도록 할 필요가 있을 것이다.
CPU(18)는 다음의 수학식3a 및 수학식3b를 이용하여 전술된 스케일 비정렬을 보상 또는 보정할 것이다.
Figure pat00005
Figure pat00006
여기서, Xr 및 Yr 은 라인(22)을 통해 콘트롤러(16)로부터 CPU(18)에 보고된 X,Y 좌표값이며, Xc 및 Yc 는 스케일 비정렬에 대해 보정되는 결과 X,Y 좌표값이고, scale_x 는 디지타이징 패널(14)의 거리(58)를 디스플레이 장치(26)의 거리(54)로 나눈 비를 나타내며, scale_y 는 디지타이징 패널(14)의 거리(60)를 디스플레이 장치(26)의 거리(56)로 나눈 비를 나타낸다. 아래에 상세히 하술되는 바와 같이, CPU(18)는 방정식의 체계에 대한 근사 해답을 구하기 위해 공지된 최적화 방법을 사용하여 스케일 비정렬값 scale_x 및 scale_y를 근사한다.
도 5c 에는 디지타이징 패널(14)과 디스플레이 장치(26)간의 스큐 비정렬의 예가 도시되어 있다. 스큐 비정렬은 디지타이징 패널(14)의 좌표계와 디스플레이 장치(26)의 좌표계간의 두드러진 회전에 기인된다. 이러한 두드러진 회전은 디스플레이 장치(26)의 베이스 라인 혹은 x-축(62)과 디지타이징 패널(14)의 베이스 라인 혹은 x-축(64)간의 스큐각 B 로서 표현될 것이다.
예를들어, 스큐각 B 가 36.87˚인 경우와 스타일러스(23)가 디지타이징 패널(14)의 좌표 (40,30)에 위치되는 경우, CPU(18)는 디지탈 잉크가 스타일러스(23)의 위치와 정렬되도록 하기 위해 스큐 보정된 X,Y 좌표 (14,48)에 대응하는 디스플레이 장치(26)의 픽셀(들)이 활성화되도록 해야할 것이다.
CPU(18)는 다음의 수학식4a 및 수학식4b를 이용하여 전술된 스큐 비정렬을 보상 또는 보정할 것이다.
Figure pat00007
Figure pat00008
여기서, Xr 및 Yr 은 라인(22)을 통해 콘트롤러(16)로부터 CPU(18)에 보고된 X,Y 좌표값이며, Xc 및 Yc 는 스큐 비정렬에 대해 보정되는 결과 X,Y 좌표값이고, B 는 디스플레이 장치(26)의 베이스 라인 혹은 x-축(62)과 디지타이징 패널(14)의 베이스 라인 혹은 x-축(64)간의 스큐각을 나타낸다. 아래에 상세히 하술되는 바와 같이, CPU(18)는 방정식의 체계에 대한 근사 해답을 구하기 위해 공지된 최적화 방법을 사용하여 스큐각 B 를 근사한다.
도 6 에는 디스플레이 장치(26)의 좌표를 디지타이징 장치(14)의 좌표와 조정 또는 정렬시키기 위한 루틴(100)을 설정하는 과정에 대한 흐름도가 도시되어 있다. 특히, 루틴(100)은 전술된 바와 같이 채널 이득 부정합, 오픈셋 비정렬, 스케일 비정렬 및 스큐 비정렬을 보상하기 위해 사용될 수 잇는 복수의 좌표 계수를 생성 또는 결정한다.
루틴(100)은 컴퓨터(10)를 조정 또는 재조정하고자 하는 사용자에 의해 개시된다(단계 110). 루틴(100)은 주기적으로 수행될 수도 있고, 새로운 사용자가 컴퓨터(10)를 동작시키고자 할때 수행될 수도 있다. 또한, 루틴(100)은 정렬 또는 조정이 요구된다는 컴퓨터(10)에 의한 결정에 응답하여 실행될 수도 있다.
루틴(100)은 다수의 기준점이 디스플레이 스크린(26)상에 연속적으로 디스플레이되도록 한다. 특히, 도7 에 도시된 바와 같이, 컴퓨터(10)는 제 1 기준점(66)이 디스플레이 장치(26)상에 디스플레이되도록 하고, 사용자에게 물체(예를들어, 스타일러스(23) 또는 사용자의 손가락)를 제 1 기준점(66)상에 위치시키도록 요청한다(단계 120).
콘트롤러(16)는 물체의 출현을 검출할시에 제 1 기준점(66)과 관련한 물체의 위치에 대응하는 X,Y 좌표값을 라인(22)상에 발생시킨다(단계 130). CPU(18)는 콘트롤러(16)로부터 보고된 X,Y 좌표값을 기억시킨다(단계 140). 루틴(100)은 다시 단계 120으로 복귀하고, 제 2 기준점(68)이 디스플레이 장치(26)에 디스플레이된다.
컴퓨터(10)는 제 1 기준점(66)에 대해 전술된 것과 동일한 방식으로 제 2 기준점(68)과 관련한 물체의 보고된 X,Y 좌표값을 결정 및 기억시킨다. 루틴(100)은 컴퓨터(10)가 소정수의 보고된 X,Y 좌표값을 수집 및 기억할때까지 단계120 내지 단계140 을 반복한다. 예시된 실시예에서, 컴퓨터(10)는 디스플레이 장치(26)에 연속적으로 디스플레이되는 8개의 기준점(66~80)에 대응하는 8개의 보고된 X,Y 좌표값을 연속적으로 결정 및 기억한다.
물체(예를들어, 스타일러스)의 선단부를 기준점에 터치하는 사용자와 관련된 부정확도는 터치해야할 더 많은 샘플의 기준점을 제공함으로써 최소화될 수 있다. 즉, 사용자가 터치하도록 요구되는 기준점이 많을 수록 부정확한 터치가 평균치 이하로 떨어질 가능성이 더 증대된다.
8쌍의 X,Y 좌표값이 CPU(18)에 보고되고 CPU(18)에 의해 기억된 후, 컴퓨터(10)는 8개의 보정값 또는 계수, 즉 채널 이득값 gc_0, gc_1, gc_2; 오프셋값 offset_x, offset_y; 스케일값 scale-x, scale_y; 및 스큐각 B 를 근사하기 위해 8쌍의 보고된 X,Y 좌표값을 사용한다. 컴퓨터(10)는 다음의 수학식5a 내지 수학식 5f에 대한 근사 해답을 구하여 8개의 보정 계수를 근사한다.
Figure pat00009
Figure pat00010
Figure pat00011
Figure pat00012
Figure pat00013
Figure pat00014
여기서, Xr 및 Yr 은 콘트롤러(16)에 의해 CPU(18)에 보고된 좌표값이며, X0및 Y0는 채널 이득 부정합에 대해 조정된 Xr 및 Yr 좌표값이며, X1및 Y1은 스케일 비정렬 및 오프셋 비정렬에 대해 추가 조정된 X0및 Y0좌표값이며, Xref및 Yref는 단계120 에서 디스플레이 장치(26)상에 연속적으로 디스플레이되는 기준점(66~80)중의 하나에 대한 X 및 Y 좌표값이다.
수학식5a 및 수학식5b 는 각각 수학식1a 및 수학식1b와 대응한다. 수학식5c 는 수학식2a 및 수학식3b의 조합과 대응하고, 수학식5d 는 수학식2b 및 수학식 3b 의 조합에 대응하며, 수학식5e 및 수학식5f 는 각각 수학식4a 및 수학식4b에 대응한다.
도시된 실시예에서, ge_0, gc_1, gc_2, offset_x, offset_y, scale-x, scale_y 및 B 보정 계수에 대한 값을 구하기 위해 널리 공지된 Broyden-Flecher-Shanno 최적화 방법이 사용될 수 있다. Broyden-Flecher-Shanno 최적화 방법은 각각의 보정된 좌표 (Xc,Yc)와 디지타이징 패널로부터 CPU(18)에 보고되는 대응하는 기준 좌표 (Xr,Yr)간의 제곱 거리의 합계를 최소화시키기 위해 보정 계수 gc_0, gc_1, gc_2, offset_x, offset_y, scale-x, scale_y 및 B 를 구한다. 각각의 보정된 좌표 (Xc,Yc)와 대응하는 기준 좌표 (Xr, Yr)간의 제곱 거리의 합계를 최소화시키기 위해 보정 계수 gc_0, gc_1, gc_2, offset_x, offset_y, scale-x, scale_y 및 B 를 구함에 있어 Broyden-Flecher-Shanno 최적화 방법이 아닌 공지된 최적화 방법이 효율적일 수도 있다.
Broyden-Flecher-Shanno 최적화 방법으로 보정 계수 gc_0, gc_1, gc_2, offset_x, offset_y, scale-x, scale_y 및 B 에 대한 값을 구한 후, 이 값들은 메모리(19)에 기억된다(단계 160). 보정 계수에 대한 값은 또한 보정 계수가 후속 사용 동안에 컴퓨터(10)에 이용될 수 있도록 비휘발성 기억장치(도시생략)에 기억될 수도 있다. 루틴(100)은 보정 계수에 대한 값이 기억된 후 종료된다(단계 170).
도 8 에는 보고된 X,Y 좌표 보정 루틴 혹은 과정(200)을 실행하기 위한 흐름도가 도시되어 있다. 보정 루틴(200)은 디지타이징 패널(14)로부터의 보고된 X,Y 좌표쌍 (Xr,Yr)과 거의 정렬하는 디스플레이 장치(26)상에 디스플레이하기 위해 보정된 X,Y 좌표쌍 (Xc,Yc)을 구한다.
보정 루틴(200)은 컴퓨터(10)의 정상 동작 동안 이용된다. 콘트롤러(16)가 디지타이징 패널(14)에 도달 또는 접촉하는 물체의 위치에 대응하는 Xr,Yr 좌표쌍을 생성함으로써 루틴(200)이 개시된다(단계 210). CPU(18)는 보고된 Xr,Yr 좌표쌍을 직렬 데이타 라인(22)을 통해 콘트롤러로부터 수신한다(단계 220).
단계 230 에서, CPU(18)는 한쌍의 보고된 X,Y 좌표 (Xc,Yc)를 구하거나 풀기위해 보고된 Xr,Yr 좌표쌍과 조정 또는 정렬 루틴(100)의 단계 160 에서 기억된 보정 계수 gc_0, gc_1, gc_2, offset_x, offset_y, scale_x, scale_y 및 B 의 값을 다음의 수학식6a 내지 수학식6f에 적용시킨다.
Figure pat00015
Figure pat00016
Figure pat00017
Figure pat00018
Figure pat00019
Figure pat00020
여기서, Xr 및 Yr 은 콘트롤러(16)에 의해 CPU(18)에 보고된 좌표값이며, X0및 Y0는 채널 이득 부정합에 대해 조정된 Xr 및 Yr 좌표값이며, X1및 Y1은 스케일 비정렬 및 오프셋 비정렬에 대해 추가 조정된 X0및 Y0좌표값이며, Xc 및 Xc는 스큐 비정렬에 대해 추가 조정된 보정된 X1및 Y1좌표값이다.
수학식5a 내지 수학식5f 는 보정 계수 gc_0, gc_1, gc_2, offset_x, offset_y, scale-x, scale_y 및 B 에 대한 값을 구하기 위해 수학식5e 및 수학식5f 에서 Xref및 Yref값이 수학식5e 및 수학식5f 에 입력된다는 차이점이외에는 수학식 6a 내지 수학식6f 와 동일하다. 반면, 수학식6e 및 수학식6f 에서, Xc 및 Yc 는 구해진 결과 보정 X,Y 좌표이며, 디스플레이 인터페이스(21)를 통해 디스플레이 장치(26)로 전송된다.
단계 240 에서, CPU(18)는 보정된 X,Y 좌표쌍 (Xc,Yc)에 대응하는 디스플레이 장치(26)의 픽셀(들)이 활성화되도록 하며, 이로써 디지탈 잉크가 디지타이징 패널(14)과 관련한 물체의 위치의 아래에서 정렬하며 디스플레이되도록 한다.
보정 방정식을 직접 풀므로써 사용될 수 있는 것보다 더 많은 수의 기준점이 사용될 수 있도록 하면서 오프셋, 스케일, 스큐 및 채널 이득 부정합을 보정하기 위한 방법 및 장치가 개시되어 있다.
본 발명이 도면 및 상세한 설명에서 상세히 예시 및 설명되었지만 이러한 예시 및 설명은 예를들기 위한 것이므로, 본 발명은 이러한 실시예로 제한되는 의미로 받아들여져서는 안되며 본 발명의 기술사상에 포함되는 모든 변경 및 변형은 본 발명에 포함되는 것이다.

Claims (21)

  1. 디지타이징 패널의 제 1 좌표계를 디스플레이 장치의 제 2 좌표계와 정렬시키기 위한 방법에 있어서,
    각각이 Xref,Yref좌표값을 갖는 다수의 기준점을 디스플레이 장치상에 디스플레이하는 단계와;
    상기 다수의 기준점과 관련하여 위치된 물체의 다수의 위치를 나타내는 다수의 제 1 Xr,Yr 좌표값을 디지타이징 패널로에서부터 결정하는 단계와;
    상기 다수의 제 1 Xr,Yr 좌표값 및 상기 다수의 Xref,Yref좌표값으로부터 다수의 채널 이득 보정값을 결정하는 단계와;
    상기 디지타이징 패널과 관련한 물체의 위치를 나타내는 제 2 Xr,Yr 좌표값의 보정에 사용하기 위해 상기 다수의 채널 이득 보정값을 기억시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  2. 제 1 항에 잇어서,
    상기 다수의 채널 이득 보정값을 결정하는 단계는,
    제 1 채널 이득 부정합값(gc_0), 제 2 채널 이득 부정합값(gc_1) 및 제 3 채널 이득 부정합값(gc_2)을 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 다수의 제 1 Xr,Yr 좌표값 및 상기 다수의 Xref,Yref좌표값으로부터적어도 하나의 비정렬 보정값을 결정하는 단계와;
    상기 제 2 Xr,Yr 좌표값을 보정하기 위해 상기 적어도 하나의 비정렬 보정값을 기억시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 비정렬 보정값을 결정하는 단계는,
    제 1 비정렬 보정값(offset_x), 제 2 비정렬 보정값(offset_y), 제 3 비정렬 보정값(scale_x), 제 4 비정렬 보정값(scale_y) 및 제 5 비정렬 보정값(스큐각 B)을 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 다수의 Xref,Yref좌표값 및 상기 다수의 제 1 Xr,Yr 좌표값을 보정 방정식의 체계에 적용시키는 단계와;
    상기 다수의 채널 이득 보정값 및 상기 다수의 비정렬 보정값을 구하기 위해 상기 보정 방정식의 체계를 최적화시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 보정 방정식의 체계를 최적화시키는 단계는,
    상기 보정 방정식의 체계에 의해 보정된 상기 다수의 제 1 Xr,Yr 좌표값 및 상기 다수의 Xref,Yref좌표값간의 제곱 거리의 합계가 최소가 될때까지 상기 다수의 채널 이득 보정값과 상기 다수의 비정렬 보정값을 조정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  7. 제 5 항에 있어서,
    상기 보정 방정식의 체계는,
    Figure pat00021
    을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  8. 제 5 항에 있어서,
    상기 보정 방정식의 체계는,
    Figure pat00022
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 디지타이징 패널에 의해 보고된 상기 제 2 Xr,Yr 좌표값, 상기 다수의 채널 이득 보정값, 상기 다수의 비정렬 보정값 및 상기 보정 방정식의 체계로부터 디스플레이 장치상에 디스플레이하기 위한 보정된 Xc,Yc 좌표값을 결정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 보정 방정식의 체계를 최적화시키는 단계는,
    상기 다수의 채널 이득 보정값 및 상기 다수의 비정렬 보정값을 구하기 위해 Broyden-Flectcher-Shanno 최적화 방법을 사용하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방버.
  11. 각각이 Xref,Yref좌표값을 갖는 다수의 기준점을 디스플레이하기 위한 디스플레이 장치와;
    상기 디스플레이 장치에 탑재되고 저항성층이 연결되어 있는 디지타이징 패널과;
    상기 저항성층의 각각의 코너에 각각 접속된 다수의 채널 프리프로세서와;
    상기 다수의 채널 프리프로세서에 접속되며, 상기 다수의 기준점과 관련하여 위치된 물체의 다수의 위치를 나타내는 다수의 Xr,Yr 좌표값을 생성하도록 구성된 X,Y 좌표 생성기와;
    상기 다수의 Xr,Yr 좌표값 및 상기 다수의 Xref,Yref좌표값으로부터 다수의 채널 이득 보정값을 구하기 위한 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 컴퓨터.
  12. 제 11 항에 있어서,
    상기 다수의 채널 이득 보정값은 제 1 채널 이득 부정합값(gc_0), 제 2 채널 이득 부정합값(gc_1) 및 제 3 채널 이득 부정합값(gc_2)을 포함하는 것을 특징으로 하는 컴퓨터.
  13. 제 12 항에 있어서,
    상기 다수의 Xr,Yr 좌표값 및 상기 다수의 Xref,Yref좌표값으로부터 다수의 비정렬 보정값을 구하기 위한 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 컴퓨터.
  14. 제 13 항에 있어서,
    상기 다수의 비정렬 보정값은 제 1 비정렬 보정값(offset_x), 제 2 비정렬 보정값(offset_y), 제 3 비정렬 보정값(scale_x), 제 4 비정렬 보정값(scale_y) 및 제 5 비정렬 보정값(스큐각 B)을 포함하는 것을 특징으로 하는 컴퓨터.
  15. 제 14 항에 있어서,
    상기 다수의 Xref,Yref좌표값 및 상기 다수의 제 1 Xr,Yr 좌표값을 보정 방정식의 체계에 적용시키기 위한 수단과;
    상기 다수의 채널 이득 보정값 및 상기 다수의 비정렬 보정값을 구하기 위해 상기 보정 방정식의 체계를 최적화시키기 위한 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 컴퓨터.
  16. 제 15 항에 있어서,
    상기 보정 방정식의 체계에 의해 보정된 상기 다수의 제 1 Xr,Yr 좌표값 및 상기 다수의 Xref,Yref좌표값간의 제곱 거리의 합계가 최소가 될때까지 상기 다수의 채널 이득 보정값과 상기 다수의 비정렬 보정값을 조정하기 위한 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 컴퓨터.
  17. 제 15 항에 있어서,
    상기 보정 방정식의 체계는,
    Figure pat00023
    을 포함하는 것을 특징으로 하는 컴퓨터.
  18. 제 15 항에 있어서,
    상기 보정 방정식의 체계는,
    Figure pat00024
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 컴퓨터.
  19. 제 18 항에 있어서,
    상기 디지타이징 패널에 의해 보고된 상기 제 2 Xr,Yr 좌표값, 상기 다수의 채널 이득 보정값, 상기 다수의 비정렬 보정값 및 상기 보정 방정식의 체계로부터 디스플레이 장치상에 디스플레이하기 위한 보정된 Xc,Yc 좌표값을 결정하는 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 컴퓨터.
  20. 제 19 항에 있어서,
    상기 다수의 채널 이득 보정값 및 상기 다수의 비정렬 보정값을 구하기 위해 Broyden-Flectcher-Shanno 최적화 기술을 실행하는 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 컴퓨터.
  21. 디지타이징 패널의 제 1 좌표계를 디스플레이 장치의 제 2 좌표계와 정렬시키기 위한 방법에 있어서,
    각각이 Xref,Yref좌표값을 갖는 다수의 기준점을 디스플레이 장치상에 디스플레이하는 단계와,
    상기 다수의 기준점과 관련하여 위치된 물체의 다수의 위치를 나타내는 다수의 제 1 Xr,Yr 좌표값을 디지타이징 패널에서부터 결정하는 단계와;
    상기 디지타이징 패널과 관련한 물체의 위치를 나타내는 제 2 Xr,Yr 좌표값의 보정에 사용하기 위해 상기 다수의 제 1 Xr,Yr 좌표값 및 상기 다수의 Xref,Yref좌표값으로부터 다수의 채널 이득 보정값을 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
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