CN102902400B - 触控检测方法及触控传感器 - Google Patents

Abstract

本发明提出一种触控检测方法，包括：扫描一触控传感器的列电极或行电极，以获得该触控传感器的触控资料；根据该触控资料将多个座标标记为触控影像；以像素区边缘为对称轴，分别将该触控影像中对应在x方向上邻接该像素区边缘的至少一该行电极的触控资料，以及该触控影像中对应在y方向上邻接该像素区边缘的至少一该列电极的触控资料，镜像复制到至少一对应触控感测区外的位置；加权计算出该触控影像的中心点位置（x_ave,y_ave）；以及输出该触控影像的中心点位置（x_ave,y_ave）。

Description

触控检测方法及触控传感器

技术领域

本发明是有关于一种触控感测方法及触控传感器，且特别有关于使用内嵌式触控传感器的触控区加强演算法的触控感测方法及触控传感器。

背景技术

在触控面板中，内嵌式触控传感器（in-cell touch sensor，ITS）的电极基本上会位于像素区的内部，这是因为受限于复杂的周边电路以及例如行动电话等显示装置有着边框狭窄化的需求。

图1表示根据已知技术的触控面板的有效触控区。触控面板10包括多个位于像素区11上的像素，以及位于触控感测区12上的内嵌触控传感器。根据上述的理由，触控感测区12一般都会如图1所示，小于像素区11。

在图1中，触控面板10的解析度以VGA解析度（640×480）为例。在水平方向，每480个像素排成一列，在铅直方向每640个像素排成一行。若给予每个像素一座标来表示该像素的位置，位于像素区11左下角的像素的位置可以表示为(Xpix,Ypix)=(1,1)，像素区11右上角的像素的位置可以表示为(Xpix,Ypix)=(480,640)。而内嵌式触控传感器则在水平方向上排列有14个行电极，在铅直方向上排列有19个列电极。相同地，若给予每个行电极与列电极的交点一座标来表示其位置，位于触控感测区12左下角的像素的位置可以表示为(Xits,Yits)=(1,1)，触控感测区12右上角的像素的位置可以表示为(Xits,Yits)=(14,19)。在此，需注意的是在角落的像素即位于像素区11的边缘，但在角落的行电极与列电极的交点则位于触控感测区12的内部。因此，内嵌式触控传感器包括了一个位于触控感测区12内部的有效触控区13。而因为行电极与列电极的交点的间隔是像素间隔的32倍，有效触控区13的范围(Xits:1-14,Yits:1-19)会等于(Xpix:32-448,Ypix:32-608)。因此，有一无效触控区14座落于像素区11与触控感测区12之间。这个结果造成使用者无法对显示面板的边缘区块进行触控。针对这个问题，触控传感器的有效触控区13的范围会需要等于像素区11的范围，使得在显示面板的边缘区块的触控能够更精确地被感应。

发明内容

本发明的目的是增强触控的区域并且改善触控面板上的触控位置的正确性。

为达成上述的目的，根据本发明的实施例的一种触控检测方法，包括：扫描一触控传感器的列电极或行电极，以获得该触控传感器的触控资料；根据该触控资料将多个座标标记为触控影像；以像素区边缘为对称轴，分别将该触控影像中对应在x方向上邻接该像素区边缘的至少一该行电极的触控资料，以及该触控影像中对应在y方向上邻接该像素区边缘的至少一该列电极的触控资料，镜像复制到至少一对应触控感测区外的位置；加权计算出该触控影像的中心点位置（x_ave,y_ave）；以及输出该触控影像的中心点位置（x_ave,y_ave）。

在该触控检测方法中，邻近该像素区边缘的至少一该行及列电极包括由该像素区边缘往内数过去的第2行电极及第2列电极。

在该触控检测方法中，对应该触控感测区外的位置与该像素区边缘的距离等于该触控资料被复制的位置与该像素区边缘的距离。

在该触控检测方法中，该触控影像的中心点位置（x_ave,y_ave）是根据以下算式计算而得，其中ν_x,y是在位置(x,y)的该触控资料，以电容值来表示触控位准，M是该行电极的数目，N是该列电极的数目：

$x_{\mathrm{ave}}=\underset{x=1}{\overset{M}{\mathrm{\Σ}}}\underset{y=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}\left(X_{\mathrm{mod}}{v}_{x,y}\right)/\underset{x=1}{\overset{M}{\mathrm{\Σ}}}\underset{y=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}\left({\mathrm{kv}}_{x,y}\right)$

x_mod=1+(-1)=0,k=2(x=1)；

x_mod=M+(M+2)=2M+2,k=2(x=M)；

x_mod=x,k=1(x≠1且x≠M的情况)，

$y_{\mathrm{ave}}=\underset{x=1}{\overset{M}{\mathrm{\Σ}}}\underset{y=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}\left(y_{\mathrm{mod}}{v}_{x,y}\right)/\underset{x=1}{\overset{M}{\mathrm{\Σ}}}\underset{y=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}\left({\mathrm{kv}}_{x,y}\right)$

y_mod=1+(-1)=0,k=2(y=1)；

y_mod=N+(N+2)=2N+2,k=2(y=N)；

y_mod=y,k=1(y≠1且y≠N的情况)。

在该触控检测方法中，该算式系将该触控感测区的座标系统的四个角落的资料计算视为特例，其中当x=y=1时，x_mod=y_mod=0,k=4；当x＝M,y=1时，x_mod=4M+4,y_mod=0,k=4；当x＝1,y=N时，x_mod=0,y_mod=4N+4,k=4；以及当x＝M,y=N时，x_mod=4M+4,y_mod=4N+4,k=4。

根据另一实施例，本发明的一种触控传感器，包括：一扫描装置，扫描该触控传感器的列电极或行电极，以获得该触控传感器的触控资料；以及一计算装置，包括：标记模块，根据该触控资料将多个座标标记为触控影像；一计算模块，以像素区边缘为对称轴，分别将该触控影像中对应在x方向上邻接该像素区边缘的至少一该行电极的触控资料，以及该触控影像中对应在y方向上邻接该像素区边缘的至少一该列电极的触控资料，镜像复制到至少一对应触控感测区外的位置，并且加权计算出该触控影像的中心点位置（x_ave,y_ave）；以及一输出模块，输出该触控影像的中心点位置（x_ave,y_ave）。

在该触控传感器中，邻近该像素区边缘的至少一该行及列电极包括由该像素区边缘往内数过去的第2行电极及第2列电极。

在该触控传感器中，对应该触控感测区外的位置与该像素区边缘的距离等于该触控资料被复制的位置与该像素区边缘的距离。

在该触控传感器中，该触控影像的中心点位置（x_ave,y_ave）是根据以下算式计算而得，其中ν_x,y是在位置(x,y)的该触控资料，以电容值来表示触控位准，M是该行电极的数目，N是该列电极的数目：

$x_{\mathrm{ave}}=\underset{x=1}{\overset{M}{\mathrm{\Σ}}}\underset{y=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}\left(X_{\mathrm{mod}}{v}_{x,y}\right)/\underset{x=1}{\overset{M}{\mathrm{\Σ}}}\underset{y=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}\left({\mathrm{kv}}_{x,y}\right)$

x_mod=1+(-1)=0,k=2(x=1)；

x_mod=M+(M+2)=2M+2,k=2(x=M)；

x_mod=x,k=1(x≠1且x≠M的情况)，

$y_{\mathrm{ave}}=\underset{x=1}{\overset{M}{\mathrm{\Σ}}}\underset{y=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}\left(y_{\mathrm{mod}}{v}_{x,y}\right)/\underset{x=1}{\overset{M}{\mathrm{\Σ}}}\underset{y=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}\left({\mathrm{kv}}_{x,y}\right)$

y_mod 1+(-1)=0,k=2(y=1)；

y_mod=N+(N+2)=2N+2,k=2(y=N)；

y_mod=y,k=1(y≠1且y≠N的情况)。

在该触控传感器中，该算式是将该触控感测区的座标系统的四个角落的资料计算视为特例，其中当x=y=1时，x_mod=y_mod=0,k=4；当x＝M,y=1时，x_mod=4M+4,y_mod=0,k=4；当x＝1,y=N时，x_mod=0,y_mod=4N+4,k=4；以及当x＝M,y=N时，x_mod=4M+4,y_mod=4N+4,k=4。

根据上述实施例，本发明提供了一种触控感测方法及触控传感器，系利用了内嵌式触控传感器的触控区加强演算法来加强有效的触控区域，并且改善了在触控面板上的触控位置的正确性。

附图说明

为让本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，以下结合附图对本发明的具体实施方式作详细说明，其中：

图1表示根据已知技术的触控面板的有效触控区。

图2表示根据本发明实施例的触控面板及触控传感器的整体构造。

图3表示图2所示触控面板的内部构造。

图4表示触控传感器的触控检测流程图。

图5表示在手指触控跨过像素区左侧边缘时，分别采用传统演算法与本发明的显算法来进行显示面板的触控感测的说明图。

图6表示在手指触控跨过像素区右侧边缘时，分别采用传统演算法与本发明的显算法来进行显示面板的触控感测的说明图。

图7a是使用传统演算法的触控正确性分布图。

图7b是使用本发明演算法的触控正确性分布图。

主要元件符号说明：

10～触控面板；

11～像素区；

12～触控感测区；

13～有效触控区；

14～无效触控区；

20～触控传感器；

30～行电极；

40～列电极；

50～触控传感器控制器；

60～扫描装置；

70～计算装置；

71～标记模块；

72～计算模块；

73～输出模块；

A、B、C、D～接触区块；

D_L～遗失的资料；

D_C～补偿资料；

X_ave～平均位置。

具体实施方式

以下将根据实施例及其对应的图式详细说明本发明。

图2表示根据本发明实施例的触控面板及触控传感器的整体构造。在图2中，触控面板10包括触控传感器20以及触控传感器控制器50。触控传感器20具有多个的行电极（或称X感测电极）30及多个的列电极（或称Y感测电极）40。触控传感器控制器50包括扫描装置60与计算装置70。计算装置70更包括标记模块71、计算模块72、与输出模块73。

触控传感器20可以是投影电容式触控传感器。投影电容式触控传感器分别使用行电极30与列电极40作为驱动电极与信号接收电极。驱动电极会供给一驱动信号，当例如手指的类的导体接触触控面板表面时，借由量测该时间点流过的电流量来检出触控面板上的接触。

行电极30沿着铅直方向平行地设置，并用于检测水平方向上的触控位置。列电极40沿着水平方向平行地设置，并用于检测铅直方向上的触控位置。

触控传感器控制器50用于控制触控传感器20。在触控传感器控制器50中，扫描装置60借由施加驱动脉冲、扫描行电极30或列电极40、并接收行电极30或列电极40的触控资料（例如电容）的方式电性驱动触控传感器20。计算装置70用于处理各种计算。在计算装置70中，标记模块71根据触控资料标记出多个位置以作为触控影像；计算模块72计算触控影像的位置；输出模块73则输出触控影像的位置。在此，触控传感器控制器50可以利用CPU、ASIC、其他IC芯片来具体实施。

图3表示触控面板10的内部构造。如上所述，延伸于铅直方向的行电极30与延伸于水平方向的列电极40在触控传感器20内排成矩阵状。在图3中，触控传感器20共有M个行电极30与N个列电极40，因此，构成了一个M×N的矩阵（M行N列）。接着，将这个矩阵设定一对应的座标系统，使得左下角(X,Y)为(1,1)、右下角(X,Y)为(M,1)、左上角(X,Y)为(1,N)、右上角(X,Y)为(M,N)。当触控传感器20被扫描时，列电极40由下往上逐列被扫描。触控资料则以(1,1)→(2,1)→…(M,1)→(1,2)→…(M-1,N)→(M,N)的顺序被读出。因此，最后触控传感器20的整个座标平面的触控资料都被读出。

图4表示触控传感器的触控检测流程图。在图4中，触控检测共有4个基本步骤。请同时参考图2。在步骤1，扫描装置60扫描触控传感器20并获得全部座标点的触控资料。在步骤2，标记模块71标记触控影像。在步骤3，计算模块72以加权平均的方式计算出触控影像的位置。在步骤4，输出模块73输出触控影像的位置资料。而在本发明中，新的演算法将会使用于步骤3。

图5表示在手指触控跨过像素区左侧边缘时，分别采用传统演算法与本发明的显算法来进行显示面板的触控感测的说明图。图6表示在手指触控跨过像素区右侧边缘时，分别采用传统演算法与本发明的显算法来进行显示面板的触控感测的说明图。

如上所述，触控影像的位置是利用加权平均的方式算出。在此，所谓触控影像的位置指的是触控影像的中心点位置。在图5、6中，将会以触控检测触控影像在水平方向上的位置为例，其中x轴表示水平方向上的位置（对应行电极的位置），y轴表示触控位准。触控位准正比于行电极所检测出的电容量。当在一行电极上被触控的座标点（行电极与列电极交点）的数目越多，该行电极的就会产生越大的电容量。

首先，说明状况1。有一手指接触触控面板并形成了一个接触区块A，而接触区块A有一小部分位于像素区11的外部。当传统的演算法用于加权计算时，因一部分的接触区块A位于触控感测区外部（位置1是触控感测区的左侧边缘），一部分对应到触控影像位于像素区左侧边缘（即位置0）上与位于像素区外（即位置-1）的触控资料（即标示D_L的部分）会遗失。因此，只有剩下的触控资料会进行加权平均的计算。计算的结果，平均位置X_ave不会正确地落于触控影像的中心点，而是落在触控影像的中心点右侧（约在图5中的位置4附近）。

考量到上述的问题，本发明的方法系以像素区左侧边缘（位置0）为轴，将触控影像接近触控感测区左侧边缘的触控资料，也就是位于位置1的触控资料，镜像复制到触控感测区外的对应位置，也就是位置-1。接着，将剩余的触控资料以及由位于位置1的触控资料复制而来的位于位置-1的触控资料一起做加权平均计算。计算的结果，平均位置X_ave会几乎落于触控影像的中心点，改善了平均位置X_ave的正确性。更明确地说，位于位置-1的触控资料实质上补偿了遗失的资料D_L。在此，为了方便了解，将位于位置-1的触控资料称为补偿资料D_C。

接着，说明状况2。有一手指接触触控面板并形成了一个接触区块B，而接触区块B有一大部分位于像素区11的左侧外部。当传统的演算法用于加权计算时，因一大部分的接触区块B位于触控感测区外部，大部分的触控资料会遗失，只剩下位于位置1的触控资料。因此，平均位置X_ave就会落在位置1。

而当本发明的演算法使用于加权平均计算时，位于位置1的触控资料会以位置0为轴镜像复制到位置-1。接着，位于位置1的触控资料与位于位置-1的触控资料（即补偿资料D_C）会一起加权平均计算。计算结果，平均位置X_ave会落于位置0，也就是像素区11的左侧边缘。

因此，无论是状况1或2，只要由手指形成的接触区块跨过像素区的左侧边缘，使用本发明的演算法所计算出的平均位置X_ave系被修正，并且比起使用传统演算法所计算出的平均位置X_ave往左侧移动。并且由状况2可知，有效的手指触控区域可以扩张到整个像素区。

接着，说明状况3。有一手指接触触控面板并形成了一个接触区块C，而接触区块C有一小部分位于像素区11的外部。当传统的演算法用于加权计算时，因一部分的接触区块C位于触控感测区外部（位置M是触控感测区的右侧边缘），一部分对应到触控影像位于像素区右侧边缘（即位置M+1）上与位于像素区外（即位置M+2）的触控资料（即标示D_L的部分）会遗失。因此，只有剩下的触控资料会进行加权平均的计算。计算的结果，平均位置X_ave不会正确地落于触控影像的中心点，而是落在触控影像的中心点左侧。

本发明的方法系以像素区右侧边缘（位置M+1）为轴，将触控影像接近触控感测区右侧边缘的触控资料，也就是位于位置M的触控资料，镜像复制到触控感测区外的对应位置，也就是位置M+2。接着，将剩余的触控资料以及由位于位置M的触控资料复制而来的位于位置M+2的触控资料一起做加权平均计算。计算的结果，平均位置X_ave会几乎落于触控影像的中心点，改善了平均位置X_ave的正确性。更明确地说，位于位置M+2的触控资料实质上补偿了遗失的资料D_L。在此，为了方便了解，将位于位置M+2的触控资料称为补偿资料D_C。

接着，说明状况4。有一手指接触触控面板并形成了一个接触区块D，而接触区块D有一大部分位于像素区11的右侧外部。当传统的演算法用于加权计算时，因一大部分的接触区块D位于触控感测区外部，大部分的触控资料会遗失，只剩下位于位置M的触控资料。因此，平均位置X_ave就会落在位置M。

而当本发明的演算法使用于加权平均计算时，位于位置M的触控资料会以位置M+1为轴镜像复制到位置M+2。接着，位于位置M的触控资料与位于位置M+2的触控资料（即补偿资料D_C）会一起加权平均计算。计算结果，平均位置X_ave会落于位置M+1，也就是像素区11的右侧边缘。

因此，无论是状况3或4，只要由手指形成的接触区块跨过像素区的右侧边缘，使用本发明的演算法所计算出的平均位置X_ave系被修正，并且比起使用传统演算法所计算出的平均位置X_ave往右侧移动。并且由状况4可知，有效的手指触控区域可以扩张到整个像素区。

根据图5、6所示的实施例，对应到传统演算法与本发明的演算法的两组加权平均公式分别如下。其中式子（1）、（2）为传统加权平均公式，其中式子（3）、（4）为本发明的加权平均公式。

$x_{\mathrm{ave}}=\underset{x=1}{\overset{M}{\mathrm{\Σ}}}\underset{y=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}\left({\mathrm{xv}}_{x,y}\right)/\underset{x=1}{\overset{M}{\mathrm{\Σ}}}\underset{y=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}\left(v_{x,y}\right)...\left(1\right)$

$y_{\mathrm{ave}}=\underset{x=1}{\overset{M}{\mathrm{\Σ}}}\underset{y=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}\left({\mathrm{yv}}_{x,y}\right)/\underset{x=1}{\overset{M}{\mathrm{\Σ}}}\underset{y=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}\left(v_{x,y}\right)...\left(2\right)$

在此，X_ave是一触控影像在触控传感器座标系统中的平均X位置；Y_ave是一触控影像在触控传感器座标系统中的平均Y位置；M是行电极（或X感测电极）的数目；N是列电极（或Y感测电极）的数目；ν_x,y是在位置(x,y)的触控资料，以电容值来表示触控位准。

$x_{\mathrm{ave}}=\underset{x=1}{\overset{M}{\mathrm{\Σ}}}\underset{y=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}\left(x_{\mathrm{mod}}{v}_{x,y}\right)/\underset{x=1}{\overset{M}{\mathrm{\Σ}}}\underset{y=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}\left({\mathrm{kv}}_{x,y}\right)...\left(3\right)$

其中x_mod=1+(-1)=0,k=2(x=1)；

x_mod=M+(M+2)=2M+2,k=2(x=M)；

x_mod=x,k=1(x≠1且x≠M的情况)，

$y_{\mathrm{ave}}=\underset{x=1}{\overset{M}{\mathrm{\Σ}}}\underset{y=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}\left(y_{\mathrm{mod}}{v}_{x,y}\right)/\underset{x=1}{\overset{M}{\mathrm{\Σ}}}\underset{y=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}\left({\mathrm{kv}}_{x,y}\right)...\left(4\right)$

其中y_mod=1+(-1)=0,k=2(y=1)；

y_mod=N+(N+2)=2N+2,k=2(y=N)；

y_mod=y,k=1(y≠1且y≠N的情况)。

式子（3）比起式子（1），系将变数x修改为x_mod并且加入一参数k至式子中。而共有3种情况x=1、x=M、与x≠1or M来决定x_mod与k的值。当x等于1，x_mod等于0，即1与（-1）的和，其中（-1）表示补偿触控资料的位置，而k等于2，代表对ν有2倍的权重。当x等于M，x_mod等于2M+2，即M与（M+2）的和，其中（M+2）表示补偿触控资料的位置，而k等于2，代表对ν有2倍的权重。当x不等于1或M时，x_mod等于x且k等于1，此时式子（3）会与传统的加权平均式子（1）相同。而式子（4）的原理与式子（3）完全相同，故在此不重复说明。

根据上述的说明，简单来说，x（y）方向的第1行（列）触控资料及最后一行（列）触控资料都会被视为2行（列）的触控资料，其中镜像复制出来的行（列）触控资料系以像素区边缘为轴的镜像对称位置的触控资料复制而来。

此外，触控感测区四个角落的资料计算会视为特例，借此增加触控面板在角落的感测。在一个实施例中，当x=y=1时，x_mod=y_mod=0,k=4；当x＝M,y=1时，x_mod=4M+4,y_mod=0,k=4；当x＝1,y=N时，x_mod=0,y_mod=4N+4,k=4；以及当x＝M,y=N时，x_mod=4M+4,y_mod=4N+4,k=4。在这些情况中，位于邻接像素区边缘的第1及第2行（列）的触控资料被复制。因此k等于4使得对ν有4倍的权重。

在这些实施例中，虽以镜像复制位于第1行（列）、或最后1行（列）的触控资料为例，但本发明并不限定于此。本发明也可根据需求或设计，镜像复制位于其他的行（列）或者是位于多行（列）的触控资料。

图7a系使用传统演算法的触控正确性分布图。图7b系使用本发明演算法的触控正确性分布图。X轴表示行电极座标，Y轴表示列电极座标。图形上的点表示触控传感器所检测到的位置。在图7b中，边界上的点恰巧位于x=0、x=15、y=0、与y=20上。因此，可触控的区域扩张到触控传感器座标系统下(Xits:0-15,Yits:0-20)的范围，相当于像素座标系统(Xpix:0-480,Ypix:0-640)的范围。也就是说，有效触控区等于像素区，这使得在显示面板的边缘区域触控变得更精确。而且，本发明仅使用简单的新演算法来加强触控区块，因此相对于已知技术，并不需要增加额外的装置或芯片，可用低廉的IC成本来达成即时的运算。

虽然本发明已以较佳实施例揭示如上，然其并非用以限定本发明，任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的修改和完善，因此本发明的保护范围当以权利要求书所界定的为准。

Claims (6)

1.一种触控检测方法，包括：

扫描一触控传感器的列电极或行电极，以获得该触控传感器的触控资料；

根据该触控资料将多个座标标记为触控影像；

以像素区边缘为对称轴，分别将该触控影像中对应在x方向上邻接该像素区边缘的该行电极的触控资料，以及该触控影像中对应在y方向上邻接该像素区边缘的该列电极的触控资料，镜像复制到至少一对应触控感测区外的位置；

加权计算出该触控影像的中心点位置(x_ave,y_ave)；以及

输出该触控影像的中心点位置(x_ave,y_ave)，

其中该触控影像的中心点位置(x_ave,y_ave)是根据以下算式计算而得，其中ν_x,y是在位置(x,y)的该触控资料，以电容值来表示触控位准，M是该行电极的数目，N是该列电极的数目：

$x_{\mathrm{ave}}=\underset{x=1}{\overset{M}{\mathrm{\Σ}}}\underset{y=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}\left(X_{\mathrm{mod}}{v}_{x,y}\right)/\underset{x=1}{\overset{M}{\mathrm{\Σ}}}\underset{y=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}\left({\mathrm{kv}}_{s,y}\right)$

当x＝1时，x_mod＝1+(-1)＝0,k＝2；

当x＝M时，x_mod＝M+(M+2)＝2M+2,k＝2；

当x≠1且x≠M时，x_mod＝x,k＝1，

$y_{\mathrm{ave}}=\underset{x=1}{\overset{M}{\mathrm{\Σ}}}\underset{y=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}\left(y_{\mathrm{mod}}{v}_{x,y}\right)/\underset{x=1}{\overset{M}{\mathrm{\Σ}}}\underset{y=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}\left({\mathrm{kv}}_{s,y}\right)$

当y＝1时，y_mod＝1+(-1)＝0,k＝2；

当y＝N时，y_mod＝N+(N+2)＝2N+2,k＝2；

当y≠1且y≠N时，y_mod＝y,k＝1。

2.如权利要求1所述的触控检测方法，其特征在于，对应该触控感测区外的位置与该像素区边缘的距离等于该触控资料被复制的位置与该像素区边缘的距离。

3.如权利要求1所述的触控检测方法，其特征在于，该算式是将该触控感测区的座标系统的四个角落的资料计算视为特例，其中：

当x＝y＝1时，x_mod＝y_mod＝0,k＝4；

当x＝M,y＝1时，x_mod＝4M+4,y_mod＝0,k＝4；

当x＝1,y＝N时，x_mod＝0,y_mod＝4N+4,k＝4；以及

当x＝M,y＝N时，x_mod＝4M+4,y_mod＝4N+4,k＝4。

4.一种触控传感器，包括：

一扫描装置，扫描该触控传感器的列电极或行电极，以获得该触控传感器的触控资料；以及

一计算装置，包括：

标记模块，根据该触控资料将多个座标标记为触控影像；

一计算模块，以像素区边缘为对称轴，分别将该触控影像中对应在x方向上邻接该像素区边缘的该行电极的触控资料，以及该触控影像中对应在y方向上邻接该像素区边缘的该列电极的触控资料，镜像复制到至少一对应触控感测区外的位置，并且加权计算出该触控影像的中心点位置(x_ave,y_ave)；以及

一输出模块，输出该触控影像的中心点位置(x_ave,y_ave)，

其中该触控影像的中心点位置(x_ave,y_ave)是根据以下算式计算而得，其中ν_x,y是在位置(x,y)的该触控资料，以电容值来表示触控位准，M是该行电极的数目，N是该列电极的数目：

$x_{\mathrm{ave}}=\underset{x=1}{\overset{M}{\mathrm{\Σ}}}\underset{y=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}\left(X_{\mathrm{mod}}{v}_{x,y}\right)/\underset{x=1}{\overset{M}{\mathrm{\Σ}}}\underset{y=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}\left({\mathrm{kv}}_{s,y}\right)$

当x＝1时，x_mod＝1+(-1)＝0,k＝2；

当x＝M时，x_mod＝M+(M+2)＝2M+2,k＝2；

当x≠1且x≠M时，x_mod＝x,k＝1，

$y_{\mathrm{ave}}=\underset{x=1}{\overset{M}{\mathrm{\Σ}}}\underset{y=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}\left(y_{\mathrm{mod}}{v}_{x,y}\right)/\underset{x=1}{\overset{M}{\mathrm{\Σ}}}\underset{y=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}\left({\mathrm{kv}}_{s,y}\right)$

当y＝1时，y_mod＝1+(-1)＝0,k＝2；

当y＝N时，y_mod＝N+(N+2)＝2N+2,k＝2；

当y≠1且y≠N时，y_mod＝y,k＝1。

5.如权利要求4所述的触控传感器，其特征在于，对应该触控感测区外的位置与该像素区边缘的距离等于该触控资料被复制的位置与该像素区边缘的距离。

6.如权利要求4所述的触控传感器，其特征在于，该算式是将该触控感测区的座标系统的四个角落的资料计算视为特例，其中：

当x＝y＝1时，x_mod＝y_mod＝0,k＝4；

当x＝M,y＝1时，x_mod＝4M+4,y_mod＝0,k＝4；

当x＝1,y＝N时，x_mod＝0,y_mod＝4N+4,k＝4；以及

当x＝M,y＝N时，x_mod＝4M+4,y_mod＝4N+4,k＝4。