JPH03257837A - ボンデイングワイヤー - Google Patents
ボンデイングワイヤーInfo
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- JPH03257837A JPH03257837A JP2053714A JP5371490A JPH03257837A JP H03257837 A JPH03257837 A JP H03257837A JP 2053714 A JP2053714 A JP 2053714A JP 5371490 A JP5371490 A JP 5371490A JP H03257837 A JPH03257837 A JP H03257837A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体素子上の電極と外部リードを接続する為
に用いるポンディングワイヤーに関する。
に用いるポンディングワイヤーに関する。
トランジスタ、IC,LSIなどの半導体素子(チップ
)の電極と外部リードとの結線用として多く用いられて
いる金線は、その機械的強度及び耐熱強度を向上させる
為に、純度99.99重量%以上の高純度金に他の金属
元素を微量添加する方法が採られている。従来この他の
金属元素の添加量に対する考え方としては、金線の先端
を電気放電あるいは水素炎により加熱熔融して金ボール
を形成する際に、ボール形状がいびつになったり、ボー
ル表面に添加元素の酸化被膜が形成され、チップ電極と
金ボールとの接合性を阻害されるという理由等により、
その総添加量を0.01重量%未溝に留めているのが一
般的である。
)の電極と外部リードとの結線用として多く用いられて
いる金線は、その機械的強度及び耐熱強度を向上させる
為に、純度99.99重量%以上の高純度金に他の金属
元素を微量添加する方法が採られている。従来この他の
金属元素の添加量に対する考え方としては、金線の先端
を電気放電あるいは水素炎により加熱熔融して金ボール
を形成する際に、ボール形状がいびつになったり、ボー
ル表面に添加元素の酸化被膜が形成され、チップ電極と
金ボールとの接合性を阻害されるという理由等により、
その総添加量を0.01重量%未溝に留めているのが一
般的である。
ところが最近の半導体デバイスの多ピン化傾向に伴う外
部リードの中挟化、長リード化によってボンディング工
程、あるいはそれ以降の工程で発生する振動や樹脂封入
時の樹脂の流動抵抗により、金ポール直上のネック部が
破断するという現象が見られるようになって来た。この
破断原因はボール形成時に金線が受ける熱影響により、
ボール直上の結晶組織が粗大化した再結晶組織となるた
め、ボールネック部に応力が加わると結晶粒界や辷り面
に沿って破断に至るものと考えられている。
部リードの中挟化、長リード化によってボンディング工
程、あるいはそれ以降の工程で発生する振動や樹脂封入
時の樹脂の流動抵抗により、金ポール直上のネック部が
破断するという現象が見られるようになって来た。この
破断原因はボール形成時に金線が受ける熱影響により、
ボール直上の結晶組織が粗大化した再結晶組織となるた
め、ボールネック部に応力が加わると結晶粒界や辷り面
に沿って破断に至るものと考えられている。
この結晶の粗大化を防止する為には従来の微量添加元素
による方法では不十分で、いまだ解決に至っていないの
が現状である。
による方法では不十分で、いまだ解決に至っていないの
が現状である。
本発明の目的は金ボールを形成する際、ボール表面に添
加元素の酸化被膜の形成がなく、良好なボール形状が安
定して得られ、しかもボールネック部のワイヤー強度低
下がなく勝れた機械的強度及び耐熱強度を有するボンデ
ィングワイヤーを提供する事にある。
加元素の酸化被膜の形成がなく、良好なボール形状が安
定して得られ、しかもボールネック部のワイヤー強度低
下がなく勝れた機械的強度及び耐熱強度を有するボンデ
ィングワイヤーを提供する事にある。
〔課題を解決する為の手段〕
上記目的を達成する為、本発明のボンディングワイヤー
は純度99.99重量%以上の高純度金にAm、Sn及
びInの元素群から選ばれる少なくとも1種を0.02
〜1.0重量%含有せしめた点に特徴がある。更に本発
明の第2のボンディングワイヤーは、純度99.99重
量%以上の高純度金にA1、Sn及びInの第1元素群
から選ばれる少なくとも1種を0.02〜1.0重量%
と、Ca、 La、 Ce及びEuの第2元素群から選
ばれる少なくとも1種を0.0005〜0.005重量
%含有せしめた点に特徴がある。
は純度99.99重量%以上の高純度金にAm、Sn及
びInの元素群から選ばれる少なくとも1種を0.02
〜1.0重量%含有せしめた点に特徴がある。更に本発
明の第2のボンディングワイヤーは、純度99.99重
量%以上の高純度金にA1、Sn及びInの第1元素群
から選ばれる少なくとも1種を0.02〜1.0重量%
と、Ca、 La、 Ce及びEuの第2元素群から選
ばれる少なくとも1種を0.0005〜0.005重量
%含有せしめた点に特徴がある。
f(1,Sn及び/又はInは、金中に固溶する事によ
り金線の機械的強度を高め、金ボールを形成する際の熱
影響によるボール直上の結晶粒の粗大化を抑制するのに
効果があるが、その含有率が0.02重量%未満ではあ
まり効果がなく、]、00重量を超えるとボールが真珠
にならなかったり、ボール表面に酸化被膜が形成され、
チップ電極との接合性を阻害するので、0.02〜1.
0重量%とする必要がある。Ca、 La、 Ce及び
/又はEuは金線の耐熱強度を高め、ボンディング工程
や樹脂封入工程でワイヤーが曝される高温においても、
金線の強度低下を防ぐ効果があるが、その含有率が0.
0005重量%未満ではあまり効果がなく、0.005
重量%を超えるとボール形成時にボール表面に酸化被膜
が形成され、チップ電極との接合性を阻害するので0.
0005〜0.005u量%とする必要がある。又、金
地金中には不可避不純物としてFe、 Si、Pb、
Mg、 Cu、 Ag等が含まれており、これら不純物
の含有率が高いとワイヤーにした際に機械的特性にバラ
ツキを生じ、ボンディング工程でのボール形状、ループ
形状、更にチップ電極との接合性等のボンディング特性
を低下するので、純度99.99重量%以上の高純度金
を用いる必要があり、純度99.999重量%以上の金
が一層好ましい。ボンディングワイヤーの直径は用途に
よって種々であり、0.015〜0.2flの範囲で用
いられているが、0.02〜0.05mが一般的な線径
となっている。
り金線の機械的強度を高め、金ボールを形成する際の熱
影響によるボール直上の結晶粒の粗大化を抑制するのに
効果があるが、その含有率が0.02重量%未満ではあ
まり効果がなく、]、00重量を超えるとボールが真珠
にならなかったり、ボール表面に酸化被膜が形成され、
チップ電極との接合性を阻害するので、0.02〜1.
0重量%とする必要がある。Ca、 La、 Ce及び
/又はEuは金線の耐熱強度を高め、ボンディング工程
や樹脂封入工程でワイヤーが曝される高温においても、
金線の強度低下を防ぐ効果があるが、その含有率が0.
0005重量%未満ではあまり効果がなく、0.005
重量%を超えるとボール形成時にボール表面に酸化被膜
が形成され、チップ電極との接合性を阻害するので0.
0005〜0.005u量%とする必要がある。又、金
地金中には不可避不純物としてFe、 Si、Pb、
Mg、 Cu、 Ag等が含まれており、これら不純物
の含有率が高いとワイヤーにした際に機械的特性にバラ
ツキを生じ、ボンディング工程でのボール形状、ループ
形状、更にチップ電極との接合性等のボンディング特性
を低下するので、純度99.99重量%以上の高純度金
を用いる必要があり、純度99.999重量%以上の金
が一層好ましい。ボンディングワイヤーの直径は用途に
よって種々であり、0.015〜0.2flの範囲で用
いられているが、0.02〜0.05mが一般的な線径
となっている。
本発明のボンディングワイヤーは次のようにして製造で
きる。先ず純度99.99重量%以上の高純度金と、第
1元素群から選ばれる添加元素、第2元素群から選ばれ
る添加元素を用いて母合金を作成し、その含有率を分析
する。次に該母合金と高純度金の配合比を添加元素が所
望の含有率になるように決めて秤量し、不活性雰囲気中
で溶解鋳造し鋳塊を得る。得られた鋳塊を溝ロール又は
スウエジ加工である程度の線径まで圧延した後、途中1
〜2回の焼きなまし処理を施し、順次口径の小さいダイ
スを用いて伸線加工し、伸び率が所望の範囲に入るよう
熱処理を施してボンディングワイヤーとする。
きる。先ず純度99.99重量%以上の高純度金と、第
1元素群から選ばれる添加元素、第2元素群から選ばれ
る添加元素を用いて母合金を作成し、その含有率を分析
する。次に該母合金と高純度金の配合比を添加元素が所
望の含有率になるように決めて秤量し、不活性雰囲気中
で溶解鋳造し鋳塊を得る。得られた鋳塊を溝ロール又は
スウエジ加工である程度の線径まで圧延した後、途中1
〜2回の焼きなまし処理を施し、順次口径の小さいダイ
スを用いて伸線加工し、伸び率が所望の範囲に入るよう
熱処理を施してボンディングワイヤーとする。
実験階1〜18
純度99.999重量%の高純度金を原料とし、これに
AJ 、 Sns Inを種々の割合いで添加熔解して
先ず母合金を得、この母合金と高純度金を配合して第1
表に示す組成の金合金を熔解鋳造し、次に溝ロール加工
を施した後線引き加工で直径0.03鶴まで伸線を行っ
た。このワイヤーを室温に於ける破断伸び率が4%にな
るように熱処理し、常温での引張り試験と同ワイヤーを
250℃の雰囲気中に20秒間保持した後、その状態で
引張り試験を行い耐熱強度の測定を行った。その結果を
第1表に示す。
AJ 、 Sns Inを種々の割合いで添加熔解して
先ず母合金を得、この母合金と高純度金を配合して第1
表に示す組成の金合金を熔解鋳造し、次に溝ロール加工
を施した後線引き加工で直径0.03鶴まで伸線を行っ
た。このワイヤーを室温に於ける破断伸び率が4%にな
るように熱処理し、常温での引張り試験と同ワイヤーを
250℃の雰囲気中に20秒間保持した後、その状態で
引張り試験を行い耐熱強度の測定を行った。その結果を
第1表に示す。
次に第1表に示す組成と強度のワイヤーを用いてボンデ
ィングマシンにて半導体素子とリードフレームとのボン
ディングを行い、ボール直上の結晶粒径を電子顕微鏡に
て測定し、チップ電極と金ボールとの接合強度をボール
シェアテスターを用いて測定した。又、アーク放電によ
りボールを作成しボール首下を孔あきブロックに通して
引掛け、他端を挟持し、ボール首下から挟持部に入る部
分までの長さを100flとし、孔あきブロック側を引
張ボールネック部のワイヤー強度を測定し又、ボールの
形状を観察した。その結果を第1表にまとめて示す、 第1表より、実験階1〜12はボール接合強度、ボール
ネック部強度共に良好であるのに対し、実験&13.1
5及び17では添加元素量が不足でボール直上の結晶粒
径が粗大化し、ボールネック強度が低(、一方実験&1
4,16及び18では添加元素量が多過ぎてボール形状
が変形したり、ボール接合強度が低くなっていることが
分る。
ィングマシンにて半導体素子とリードフレームとのボン
ディングを行い、ボール直上の結晶粒径を電子顕微鏡に
て測定し、チップ電極と金ボールとの接合強度をボール
シェアテスターを用いて測定した。又、アーク放電によ
りボールを作成しボール首下を孔あきブロックに通して
引掛け、他端を挟持し、ボール首下から挟持部に入る部
分までの長さを100flとし、孔あきブロック側を引
張ボールネック部のワイヤー強度を測定し又、ボールの
形状を観察した。その結果を第1表にまとめて示す、 第1表より、実験階1〜12はボール接合強度、ボール
ネック部強度共に良好であるのに対し、実験&13.1
5及び17では添加元素量が不足でボール直上の結晶粒
径が粗大化し、ボールネック強度が低(、一方実験&1
4,16及び18では添加元素量が多過ぎてボール形状
が変形したり、ボール接合強度が低くなっていることが
分る。
実験隘19〜30
純度99.999重量%の高純度金を原料とし、これに
第1元素としてA f 、Sns Inを種々の割合で
添加溶解して母合金を得、又、同様に第2元素としてC
a、 La、 Ce、 Euを添加溶解した母合金を得
、前記金原料とこれらの母合金により第2表に示す組成
の金合金を溶解鋳造し、実験階1〜18と同様にして直
径0.03mのワイヤーを得、このワイヤーについて同
様に特性を測定した。結果を第2表にまとめて示す。
第1元素としてA f 、Sns Inを種々の割合で
添加溶解して母合金を得、又、同様に第2元素としてC
a、 La、 Ce、 Euを添加溶解した母合金を得
、前記金原料とこれらの母合金により第2表に示す組成
の金合金を溶解鋳造し、実験階1〜18と同様にして直
径0.03mのワイヤーを得、このワイヤーについて同
様に特性を測定した。結果を第2表にまとめて示す。
第2表より実験N[L19〜26では実験P1ml〜1
2に比べてワイヤーの耐熱強度が向上し、それにつれて
ボールネック部の強度も向上していること、一方実験嵐
27及び28では第2元素の添加量が幾分不足で耐熱強
度があまり向上せず、実験階29及び30では逆に第2
元素添加量が多過ぎてボール形状が変形し、ボール接合
強度が低下していることが分る。
2に比べてワイヤーの耐熱強度が向上し、それにつれて
ボールネック部の強度も向上していること、一方実験嵐
27及び28では第2元素の添加量が幾分不足で耐熱強
度があまり向上せず、実験階29及び30では逆に第2
元素添加量が多過ぎてボール形状が変形し、ボール接合
強度が低下していることが分る。
実験隘31
Agを0.0013重量%含有する純度99.99重量
%の金を原料とし、第1元素群からSn0.1重量%、
第2元素群からCa O,0005、La0.0010
重量%を含有するワイヤーを製造し、同様に測定した。
%の金を原料とし、第1元素群からSn0.1重量%、
第2元素群からCa O,0005、La0.0010
重量%を含有するワイヤーを製造し、同様に測定した。
結果を第2表に合わせて示す。耐熱強度、ボールネック
部強度、ボール接合強度の何れも良好であった。
部強度、ボール接合強度の何れも良好であった。
本発明のボンディングワイヤーは高速ワイヤーボンディ
ングに十分耐え得る機械的強度及び耐熱強度を有し、ボ
ール形成時のボール変形もなく、更に金ボール直上の結
晶粒の粗大化を制御し、ボールネック部のワイヤー強度
の低下を防ぎ、チップ電極との接合性も阻害することな
く安定したボンディングが可能である。
ングに十分耐え得る機械的強度及び耐熱強度を有し、ボ
ール形成時のボール変形もなく、更に金ボール直上の結
晶粒の粗大化を制御し、ボールネック部のワイヤー強度
の低下を防ぎ、チップ電極との接合性も阻害することな
く安定したボンディングが可能である。
この結果、本発明のボンディングワイヤーによれば、多
ビンデバイスでの歩留り向上及び信頼性向上に大いに寄
与することができる。
ビンデバイスでの歩留り向上及び信頼性向上に大いに寄
与することができる。
Claims (2)
- (1)純度99.99重量%以上の高純度金にアルミニ
ウム(Al)、錫(Sn)及びインジウム(In)の元
素群から選ばれる少なくとも1種を0.02〜1.0重
量%を含有せしめた合金線からなるボンディングワイヤ
ー - (2)純度99.99重量%以上の高純度金にアルミニ
ウム(Al)、錫(Sn)及びインジウム(In)の第
1元素群から選ばれる少なくとも1種を0.02〜1.
0重量%と、カルシウム(Ca)、ランタン(La)、
セリウム(Ce)及びユウロピウム(Eu)の第2元素
群から選ばれる少なくとも1種を0.0005〜0.0
05重量%とを含有せしめたことを特徴とするボンディ
ングワイヤー
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5371490A JP2766701B2 (ja) | 1990-03-07 | 1990-03-07 | ボンデイングワイヤー |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5371490A JP2766701B2 (ja) | 1990-03-07 | 1990-03-07 | ボンデイングワイヤー |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03257837A true JPH03257837A (ja) | 1991-11-18 |
JP2766701B2 JP2766701B2 (ja) | 1998-06-18 |
Family
ID=12950505
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5371490A Expired - Fee Related JP2766701B2 (ja) | 1990-03-07 | 1990-03-07 | ボンデイングワイヤー |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2766701B2 (ja) |
-
1990
- 1990-03-07 JP JP5371490A patent/JP2766701B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2766701B2 (ja) | 1998-06-18 |
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---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |